JPH11138394A - ウェーハの加工方法及びその装置 - Google Patents

ウェーハの加工方法及びその装置

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JPH11138394A
JPH11138394A JP9313398A JP31339897A JPH11138394A JP H11138394 A JPH11138394 A JP H11138394A JP 9313398 A JP9313398 A JP 9313398A JP 31339897 A JP31339897 A JP 31339897A JP H11138394 A JPH11138394 A JP H11138394A
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wafer
processing
abrasive grains
fixed abrasive
grinding
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JP9313398A
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Katsuo Honda
勝男 本田
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
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  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】平面研削や裏面研削等のウェーハ加工を効率良
く行うことができるウェーハの加工方法及びその装置を
提供する。 【解決手段】本発明は、研削工程とラッピング工程を分
けることなく、ウェーハ16をカップ型砥石28で研削
加工しながら遊離砥粒を供給してラッピング加工する。
また、本発明は、カップ型砥石28によるウェーハ16
の加工時に、その研削抵抗を監視し、加工抵抗が所定値
を超えた時に遊離砥粒を供給する。更に、本発明は、ス
パークアウトの開始時の直前又は所定時間前、若しくは
スパークアウトと同時又は所定時間経過後に遊離砥粒を
供給して研削加工する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はウェーハの加工方法
及びその装置に係り、特に半導体ウェーハを切断した後
に行う平面研削方法及びその装置、半導体ウェーハの切
断と同時に行う平面研削方法及びその装置、及び半導体
ウェーハの裏面研削方法及びその装置等のウェーハの加
工方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ウェーハの平面研削は、固定砥粒
を用いた研削盤で研削加工した後、遊離砥粒を用いた装
置や研磨盤でラッピングやポリッシング加工している。
即ち、固定砥粒加工工程では、固定砥粒(研削砥石)で
ウェーハを所定の取り代分だけ平面研削し、前記遊離砥
粒加工工程では、ウェーハの研削面に遊離砥粒を供給し
てウェーハの研削面をラッピングやポリッシング加工し
ている。
【0003】一方、従来のウェーハ裏面研削は、固定砥
粒によって粗研、精研、仕上げ、及びスパークアウトの
順で行われている。また、固定砥粒のドレッシング作業
は、ウェーハの加工終了後、独立してスティックか、ボ
ード或いはロータリドレス等を使用して行われている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のウェーハ平面研削方法は、固定砥粒による加工のみ
のため、研削能率は高いものの装置の振動や刃先の状況
(凹凸等)により、研削加工後のウェーハ表面に研削条
痕や加工歪層が残ってしまう。このため、固定砥粒加工
工程の後に遊離砥粒加工工程を独立して実施しているの
で、時間がかかり効率が悪いという欠点がある。
【0005】また、前記従来のウェーハ裏面研削方法も
同様に、固定砥粒による加工のみのため、その加工後の
ウェーハ表面に研削条痕や加工歪層が残ってしまう。ま
た、固定砥粒が目詰まりを起こし易いために、ロータリ
ードレス等のドレッシング用砥石で頻繁にドレッシング
を行わなければならず、稼働率が悪いという欠点があ
る。更に、前記ウェーハ裏面研削方法では、目詰まり等
の不具合により加工中に研削抵抗が急激に増大した場合
には、そのウェーハが不良品になるという欠点がある。
【0006】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、平面研削や裏面研削等のウェーハ加工を効率
良く行うことができるウェーハの加工方法及びその装置
を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決する為の手段】本発明は、前記目的を達成
するために、固定砥粒とウェーハとを押しつけると共に
相対的に回転させて、固定砥粒でウェーハに切込みを与
えながらウェーハの表面を所定の寸法に加工するウェー
ハの加工方法及びその装置において、ウェーハを固定砥
粒で加工しながら必要な時期に、遊離砥粒供給装置から
遊離砥粒を供給して加工して、固定砥粒と遊離砥粒とで
複合加工することを特徴とする。
【0008】請求項1、9記載の発明によれば、ウェー
ハの表面を固定砥粒で研削加工しながら、遊離砥粒供給
装置から遊離砥粒を供給してラッピング加工したので、
即ち、研削工程とラッピング工程を分けることなく、こ
の2つの工程を同時に実施したので、ウェーハ平面研削
加工を効率良く行うことができる。請求項2記載の発明
によれば、ウェーハの固定砥粒による加工時に、その加
工抵抗を監視し、加工抵抗が所定値を超えた時に遊離砥
粒を供給している。加工抵抗が増大する理由の一つは、
固定砥粒が目詰まりを起こすことが原因とされているた
め、このような場合に遊離砥粒を供給すると、即ち、固
定砥粒よりも粒度の小さい遊離砥粒を供給すると、この
遊離砥粒が固定砥粒のドレッシング砥石として機能す
る。これにより、固定砥粒の切れ味が戻り、研削抵抗が
元の正常な抵抗値に復帰するので、ウェーハが不良品に
ならない。また、本発明は、固定砥粒の加工中に固定砥
粒をドレッシングすることができるので、装置の連続運
転が可能となり、これによって、稼働率及び加工能率が
向上する。
【0009】請求項3記載の発明によれば、ウェーハの
表面を固定砥粒によって粗研、精研していき、そして、
スパークアウトの開始時の直前又は所定時間前に遊離砥
粒を供給して研削加工している。このように加工するこ
とにより、取り代の多い時期には加工能率の高い固定砥
粒による加工を行い、ほとんど仕上がった段階で遊離砥
粒によるラッピング加工を行い、研削条痕や加工歪層の
無い鏡面加工ができる。また、加工時間の短いスパーク
アウト中にのみ遊離砥粒を供給すれば、再使用できない
遊離砥粒の使用量を節約することができる。
【0010】請求項4記載の発明によれば、ウェーハの
表面を固定砥粒によって粗研、精研していき、そして、
スパークアウトの開始時と同時又は所定時間経過後に遊
離砥粒を供給して研削加工している。この場合にも、研
削条痕や加工歪層の無い鏡面加工ができると共に、遊離
砥粒の使用量を節約することができる。請求項5記載の
発明によれば、ウェーハの表面を固定砥粒で加工しなが
ら、導電性の砥粒を電気泳動現象により固定砥粒に付着
させてラッピング加工している。これによって、研削工
程とラッピング工程とを同時に実施することができるの
で、ウェーハ平面研削加工を効率良く行うことができ
る。また、導電性の砥粒に過負荷がかかり、負荷が磁力
を上回れば、その砥粒が固定砥粒から脱落するので、前
記過負荷による研磨条痕の発生を防止することができ、
これによって、鏡面を得ることができる。
【0011】請求項6記載の発明によれば、ウェーハの
固定砥粒による加工時に、その加工抵抗を監視し、加工
抵抗が所定値を超えた時に、導電性の砥粒を電気泳動に
より前記固定砥粒に付着させて加工する。これにより、
研削抵抗が元の正常な抵抗値に復帰してウェーハがラッ
ピング加工される。請求項7記載の発明によれば、ウェ
ーハの表面を固定砥粒によって粗研、精研していき、そ
して、スパークアウトの開始時の直前又は所定時間前
に、導電性の砥粒を電気泳動現象により前記固定砥粒に
付着させて研削加工する。このように、加工時間の短い
スパークアウト中にのみ電気泳動研磨すれば、研削条痕
や加工歪層の無い鏡面加工ができると共に、遊離砥粒の
使用量を節約することができる。
【0012】請求項8記載の発明によれば、ウェーハの
表面を固定砥粒によって粗研、精研していき、そして、
スパークアウトの開始時と同時又は所定時間経過後に、
導電性の砥粒を電気泳動により前記固定砥粒に付着させ
て研削加工する。これも同様に、研削条痕や加工歪層の
無い鏡面加工ができると共に、砥粒の消費量や消費電力
を節約することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るウェーハの加工方法及びその装置の好ましい実施の形
態について詳説する。図1は、本発明のウェーハ加工方
法が適用された半導体ウェーハの裏面研削装置10の要
部構造図である。同図に示すウェーハ裏面研削装置10
は、主としてウェーハ回転装置12、砥石回転装置14
から構成される。
【0014】前記ウェーハ回転装置12は、ウェーハ1
6を吸着する吸着テーブル18を有し、この吸着テーブ
ル18は円盤状に形成され、その下面にモータ20の出
力軸22が吸着テーブル18の中心軸と同軸上に取り付
けられている。吸着テーブル18の上面には、図示しな
いバッキングプレートが設けられ、このバッキングプレ
ートにウェーハ16の表面16Aが吸着されている。こ
れにより、ウェーハ16は、吸着テーブル18に吸着保
持されて、吸着テーブル18と共に図上矢印A方向に回
転される。なお、前記モータ20は、研削装置本体24
内に設置され、前記出力軸22は、研削装置本体24に
軸受26を介して回転自在に支持されている。
【0015】前記砥石回転装置14は、カップ型砥石2
8、モータ30、エアシリンダ32、及び遊離砥粒供給
装置34等から構成される。前記カップ型砥石28は、
吸着テーブル18に吸着保持されたウェーハ16の裏面
16Bを研削加工する砥石であり、図3に示す砥石部分
(♯2000)29を下向きにして設けられている。ま
た、図1に示すように、カップ型砥石28は、上面にモ
ータ30の出力軸36がカップ型砥石28の中心軸と同
軸上に取り付けられ、このモータ30の駆動力によって
図1上矢印B方向に回転される。前記モータ30の出力
軸36は、筒状のケーシング38に軸受40、40を介
して回転自在に支持されている。このケーシング38の
側面は、LM(直動)ガイド42が形成されており、こ
のLMガイド42は、研削装置本体24に立設されたコ
ラム44のレール46に上下方向移動自在に嵌合されて
いる。
【0016】前記モータ30の上部には、エアシリンダ
32のピストン33が取り付けられている。このエアシ
リンダ32は、前記コラム44の上部に形成された水平
支持部材46に固定されている。したがって、エアシリ
ンダ32を駆動してピストン33を伸縮動作させると、
前記LMガイド42の作用によってカップ型砥石28
を、ウェーハ16に対して進退移動させることができ
る。よって、カップ型砥石28をウェーハ16の裏面1
6Bに押圧当接させて送り動作させると、ウェーハ16
の裏面16Bがカップ型砥石28で研削される。なお、
前記モータ30には、出力軸36のトルクを検出するト
ルク検出手段が設けられ、このトルク検出手段は、図4
に示すウェーハの研削抵抗検出装置50として機能す
る。この研削抵抗検出装置50で検出されたウェーハの
研削抵抗はCPU52に出力される。
【0017】一方、遊離砥粒供給装置34は図3に示す
ように、遊離砥粒をカップ型砥石28の内側に導くパイ
プ54を有している。このパイプ54は、ブラケット5
6を介してケーシング38に固定され、その供給口58
に、遊離砥粒を供給する図示しないポンプが接続されて
いる。また、前記パイプ54は、カップ型砥石28に接
触しないように折曲形成され、その噴射口60がカップ
型砥石28の内壁面に向けて形成されている。なお、噴
射口60は図2に示すように、所定の間隔をもって2か
所形成されている。また、前記パイプ54は、図2上二
点鎖線で示すウェーハ16の研削領域外に設置されてい
るので、ウェーハ16に接触しない。
【0018】図3に示すように、カップ型砥石28の内
壁には、タンク62が設けられている。このタンク62
は、円板状に形成されると共に外周部が内側に折り曲げ
られて溝部64が形成されている。前記溝部64は、タ
ンク62の外周に沿って形成され、前記パイプ54の噴
射口60から噴射された遊離砥粒が、前記溝部64に溜
められる。溜められた遊離砥粒は、カップ型砥石28の
回転による遠心力で、溝部64から飛散してウェーハ1
6の裏面16Bに供給される。このように、遊離砥粒を
カップ型砥石28の内側から供給することによって、遊
離砥粒をカップ型砥石28の砥石部分29とウェーハ1
6との間に円滑に供給できる。
【0019】図4は、ウェーハ裏面研削装置10の制御
系を示すブロック図である。同図に示すCPU52は、
装置全体を統括制御するもので、スタートボタン66が
押されると、ウェーハ回転装置12、砥石回転装置1
4、及び遊離砥粒供給装置34を制御して、ウェーハ1
6を図5に示す粗研、精研、仕上げ、スパークアウトの
順に研削加工する。
【0020】図4に示す前記CPU52には、RAM6
8が搭載されている。このRAM68には、粗研時の許
容研削抵抗値Ft1、精研時の許容研削抵抗値Ft2、
仕上げ時の許容研削抵抗値Ft3がメモリされている。
これらの許容研削抵抗値Ft1〜Ft3は、研削抵抗の
増大によるウェーハ不良品発生を阻止するための閾値で
ある。CPU52は、研削抵抗検出装置50から出力さ
れてくる実際の研削抵抗値と、RAM68にメモリされ
ている前記許容研削抵抗値Ft1〜Ft3を比較し、実
際の研削抵抗値が許容研削抵抗値Ft1〜Ft3を超え
た時に、遊離砥粒供給装置34を制御して遊離砥粒を研
削中のウェーハ16に供給する。
【0021】また、前記RAM68には、遊離砥粒の供
給開始時間がメモリされている。この供給開始時間は、
スパークアウトの開始時の直前又は所定時間前、若しく
はスパークアウトの開始時と同時又は所定時間経過後に
設定されている。前記CPU52は、スタートボタン6
6が押されると計時し始めるタイマー70からの時間
が、RAM68にメモリされた供給開始時間となった時
に、遊離砥粒供給装置34を制御して遊離砥粒を研削中
のウェーハ16に供給する。
【0022】次に、前記の如く構成されたウェーハの裏
面研削装置10の作用について説明する。図1に示すよ
うに、まず、加工対象のウェーハ16をその表面16A
を下向きにして吸着テーブル18のバッキングプレート
に吸着保持させる。次に、スタートボタン66を押して
ウェーハ16をモータ20で回転させると共に、カップ
型砥石28をモータ30で回転させる。次いで、エアシ
リンダ32のピストン33を伸長させて、カップ型砥石
28の砥石部分29をウェーハ16の裏面16Bに押圧
当接させる。これにより、カップ型砥石28による裏面
研削が開始され、そして、CPU52がウェーハ回転装
置12、砥石回転装置14、及び遊離砥粒供給装置34
を制御して、ウェーハ16を粗研、精研、仕上げ、スパ
ークアウトの順に研削加工する。
【0023】この加工中において、前記CPU52は研
削抵抗検出装置50から出力されてくる研削抵抗を監視
しており、この実際の研削抵抗が図6に示すように粗研
中や精研中や、仕上げ中に許容研削抵抗値Ft1〜Ft
3を超えると、遊離砥粒供給装置34を制御して遊離砥
粒を研削中のウェーハ16に供給する。研削抵抗が増大
する理由の一つは、カップ型砥石28が目詰まりを起こ
すことが原因とされているため、このような場合に遊離
砥粒を供給すると、即ち、カップ型砥石28よりも粒度
の小さい遊離砥粒を供給すると、この遊離砥粒がカップ
型砥石28のドレッシング砥石として機能する。これに
より、カップ型砥石28の切れ味が戻り、研削抵抗が元
の正常な抵抗値に復帰するので、ウェーハが不良品にな
らない。また、遊離砥粒を供給することで、加工中にカ
ップ型砥石28をドレッシングすることができるので、
裏面研削装置10の連続運転が可能となり、これによっ
て、稼働率及び加工能率が向上する。
【0024】ところで、仕上げ工程の終了直前になる
と、CPU52は遊離砥粒供給装置34を制御して遊離
砥粒を研削中のウェーハ16に連続供給し、スパークア
ウト終了まで、即ち研削終了まで遊離砥粒を供給する。
このように、加工時間の短いスパークアウト中にのみ遊
離砥粒を供給すれば、再使用できない遊離砥粒の使用量
を節約することができ、また、ウェーハ16を研削工程
中にラッピング加工することができるので、研削加工を
効率良く行うことができる。なお、本実施の形態では、
仕上げ工程の終了直前に遊離砥粒を供給したが、これに
限られるものではなく、スパークアウトの開始時と同時
又は所定時間経過後に遊離砥粒を供給してて良い。
【0025】スパークアウトが終了すると、CPU52
は、遊離砥粒供給装置34を制御して遊離砥粒の供給を
停止させると共に、モータ20を停止してウェーハ16
の回転を停止させ、そして、モータ30を停止してカッ
プ型砥石28の回転を停止させる。次に、ピストン33
を収縮させてカップ型砥石28をウェーハ16から退避
移動させる。これにより、裏面研削装置10による1枚
のウェーハ研削が終了する。なお、スパークアウトの終
了後に、遊離砥粒に代えて洗浄液をパイプ54からウェ
ーハ16に供給すれば、使用後の遊離砥粒や研削屑をウ
ェーハ16から洗い流すことができる。
【0026】図7は、図1に示したウェーハ裏面研削装
置10のカップ型砥石28に電気泳動装置を設けたカッ
プ型砥石28の平面図である。この電気泳動装置によれ
ば、図8に示すようにカップ型砥石28の下方に電極板
72を設け、この電極板72に電源74の陽極側を接続
し、そして、陰極側を出力軸36に接続している。電極
板72はブラケット73を介してケーシング38(図3
参照)に取り付けられている。この場合、勿論であるが
前記出力軸36、カップ型砥石28、及び砥石部分29
は導電性部材で形成されている。また、使用する遊離砥
粒は、炭酸バリウム溶液が適用されている。これによっ
て、遊離砥粒が供給されると、遊離砥粒は陰極側に、即
ち、砥石部分29に泳動して付着する。なお、メカノケ
ミカル加工装置に適用する場合には、前記遊離砥粒とし
てコロイダルシリカ等を使用すれば良い。
【0027】前記電気泳動装置が適用された裏面研削装
置10によれば、カップ型砥石28で研削しながら、遊
離砥粒をカップ型砥石28の砥石部分29に付着させて
ラッピング加工してもよく、また、研削抵抗が許容抵抗
値を超えた時に、遊離砥粒を供給してウェーハをラッピ
ング加工しても良い。更に、スパークアウトの開始時の
直前又は所定時間前、若しくはスパークアウトと同時又
は所定時間経過後に、遊離砥粒を供給してラッピング加
工しても良い。このように、加工時間の短いスパークア
ウト中にのみ電気泳動研磨すれば、消費電力を節約する
ことができ、且つ、カップ型砥石28による研磨条痕を
無くしてラップ面或いは鏡面を得ることができる。
【0028】なお、本実施の形態は、ウェーハ裏面研削
装置10について説明したが、半導体ウェーハを切断し
た後に行う平面研削装置、半導体ウェーハの切断と同時
に行う平面研削装置に、この加工方法を適用することが
できる。この場合、固定砥粒で研削しながら遊離砥粒を
供給してラッピングすると、ウェーハ平面研削加工を効
率良く行うことができる。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るウェー
ハの加工方法及びその装置によれば、ウェーハの表面を
固定砥粒で研削加工しながら遊離砥粒を供給してラッピ
ング加工したので、ウェーハ平面研削加工を効率良く行
うことができる。また、本発明によれば、ウェーハの固
定砥粒による加工時に、その加工抵抗を監視し、加工抵
抗が所定値を超えた時に遊離砥粒を供給することによ
り、固定砥粒の加工時に固定砥粒をドレッシングするよ
うにしたので、稼働率及び加工能率を向上させることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係るウェーハ加工方法が
適用されたウェーハ裏面研削装置の要部構造図
【図2】図1のウェーハ裏面研削装置に適用されたカッ
プ型砥石の平面図
【図3】図1に示したカップ型砥石等の縦断面図
【図4】図1のウェーハ裏面研削装置の制御系を示すブ
ロック図
【図5】図1のウェーハ裏面研削装置の時間軸に対する
研削工程の遷移図
【図6】図1のウェーハ裏面研削装置の時間軸に対する
研削抵抗の遷移図
【図7】本発明の実施の形態に係る電気泳動研磨が適用
されたカップ型砥石の平面図
【図8】図7に示したカップ型砥石の縦断面図
【符号の説明】
10…ウェーハ裏面研削装置 12…ウェーハ回転装置 14…砥石回転装置 18…吸着テーブル 34…遊離砥粒供給装置 50…研削抵抗検出装置 52…CPU 54…パイプ 68…RAM 72…電極板

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】固定砥粒とウェーハとを押しつけると共に
    相対的に回転させて、固定砥粒でウェーハに切込みを与
    えながらウェーハの表面を所定の寸法に加工するウェー
    ハの加工方法において、 前記ウェーハを前記固定砥粒で加工しながら必要な時期
    に前記遊離砥粒を供給して加工して、固定砥粒と遊離砥
    粒とで複合加工することを特徴とするウェーハの加工方
    法。
  2. 【請求項2】固定砥粒とウェーハとを押しつけると共に
    相対的に回転させて、固定砥粒でウェーハに切込みを与
    えながらウェーハの表面を所定の寸法に加工するウェー
    ハの加工方法において、 前記ウェーハの前記固定砥粒による加工時に、その加工
    抵抗を監視し、該加工抵抗が所定値を超えた時に前記遊
    離砥粒を供給して複合加工することを特徴とするウェー
    ハの加工方法。
  3. 【請求項3】ウェーハの表面を固定砥粒によって粗研、
    精研、スパークアウトの順で加工するウェーハの加工方
    法において、 前記スパークアウトの開始時の直前又は所定時間前に遊
    離砥粒を供給して加工することを特徴とするウェーハの
    加工方法。
  4. 【請求項4】ウェーハの表面を固定砥粒によって粗研、
    精研、スパークアウトの順で加工するウェーハの加工方
    法において、 前記スパークアウトの開始時と同時又は所定時間経過後
    に遊離砥粒を供給して加工することを特徴とするウェー
    ハの加工方法。
  5. 【請求項5】ウェーハの表面を固定砥粒で加工するウェ
    ーハの加工方法において、 前記ウェーハの表面を前記固定砥粒で加工しながら、導
    電性の砥粒を電気泳動により前記固定砥粒に付着させて
    加工することを特徴とするウェーハの加工方法。
  6. 【請求項6】ウェーハの表面を固定砥粒で加工するウェ
    ーハの加工方法において、 前記ウェーハの前記固定砥粒による加工時に、その加工
    抵抗を監視し、該加工抵抗が所定値を超えた時に、導電
    性の砥粒を電気泳動により前記固定砥粒に付着させて加
    工することを特徴とするウェーハの加工方法。
  7. 【請求項7】ウェーハの表面を固定砥粒によって粗研、
    精研、スパークアウトの順で加工するウェーハの加工方
    法において、 前記スパークアウトの開始時の直前又は所定時間前に、
    導電性の砥粒を電気泳動により前記固定砥粒に付着させ
    て加工することを特徴とするウェーハの加工方法。
  8. 【請求項8】ウェーハの表面を固定砥粒によって粗研、
    精研、スパークアウトの順で加工するウェーハの加工方
    法において、 前記スパークアウトの開始時と同時又は所定時間経過後
    に、導電性の砥粒を電気泳動により前記固定砥粒に付着
    させて加工することを特徴とするウェーハの加工方法。
  9. 【請求項9】固定砥粒とウェーハとを押しつけると共に
    相対的に回転させて、固定砥粒でウェーハに切込みを与
    えながらウェーハの表面を所定の寸法に加工するウェー
    ハの加工装置において、 前記加工装置に遊離砥粒供給装置を設け、前記ウェーハ
    を前記固定砥粒で加工しながら必要な時期に、前記遊離
    砥粒供給装置から遊離砥粒を供給することにより、固定
    砥粒と遊離砥粒とで複合加工するウェーハの加工装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012148390A (ja) * 2011-01-21 2012-08-09 Disco Corp 硬質基板の研削方法
CN105216116A (zh) * 2015-09-10 2016-01-06 怀宁县鸿腾矿业开发有限责任公司 一种火烧板加工工艺

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