JPH1070359A - 半導体装置の実装方法及び実装構造 - Google Patents
半導体装置の実装方法及び実装構造Info
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- JPH1070359A JPH1070359A JP9144056A JP14405697A JPH1070359A JP H1070359 A JPH1070359 A JP H1070359A JP 9144056 A JP9144056 A JP 9144056A JP 14405697 A JP14405697 A JP 14405697A JP H1070359 A JPH1070359 A JP H1070359A
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- solder
- cream
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3421—Leaded components
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
- H05K3/3485—Applying solder paste, slurry or powder
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- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】半導体装置の実装工程において、端子へのはん
だクリームの塗布時にはんだブリッジが発生することが
なく、またリフローによりはんだクリームがリードの奥
に引き込まれることもない半導体装置の表面実装構造を
得る。 【解決手段】端子に塗布するはんだクリームの幅W1
と、端子の幅Wとの関係をW>W1≧0.6Wに設定す
る。また、端子に塗布するはんだクリームの量が、端子
の内側よりも外側の方が多くなるように塗布する。 【効果】はんだブリッジが発生しないため、その除去の
ために多くの時間をかける必要がなく、はんだクリーム
の付着状態の検査も容易になり、生産性の向上に貢献で
きる。
だクリームの塗布時にはんだブリッジが発生することが
なく、またリフローによりはんだクリームがリードの奥
に引き込まれることもない半導体装置の表面実装構造を
得る。 【解決手段】端子に塗布するはんだクリームの幅W1
と、端子の幅Wとの関係をW>W1≧0.6Wに設定す
る。また、端子に塗布するはんだクリームの量が、端子
の内側よりも外側の方が多くなるように塗布する。 【効果】はんだブリッジが発生しないため、その除去の
ために多くの時間をかける必要がなく、はんだクリーム
の付着状態の検査も容易になり、生産性の向上に貢献で
きる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の実装
構造に係り、さらに詳しくは、プリント基板等に設けた
端子に半導体装置のリードを接続するためのはんだクリ
ームの塗布位置の改良に関するものである。
構造に係り、さらに詳しくは、プリント基板等に設けた
端子に半導体装置のリードを接続するためのはんだクリ
ームの塗布位置の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体装置をプリント基板等に取り付け
る場合、従来は半導体装置のリードをプリント基板等の
端子に設けたスルーホールに挿通してはんだ付けしてい
たが、最近は電子機器の小形化、薄形化等の要請から、
プリント基板等の表面に半導体装置を載置して、リード
を直接端子に接続する表面実装方式が増加している。
る場合、従来は半導体装置のリードをプリント基板等の
端子に設けたスルーホールに挿通してはんだ付けしてい
たが、最近は電子機器の小形化、薄形化等の要請から、
プリント基板等の表面に半導体装置を載置して、リード
を直接端子に接続する表面実装方式が増加している。
【0003】特に最近は、客先の仕様に応じて製造する
分野が拡大しており、高機能化によるI/0 端子の増大に
伴って半導体装置はますます多リード化する傾向にあ
る。例えば、外径28mm×28mm、厚さ3.6mmの半導
体装置において、リードの数は160本、各リードの幅
が30μm、間隔が650μm程度のものが実用されてお
り、したがって、この半導体装置のリードが接続される
プリント基板等の端子もこれに整合するものでなければ
ならない。
分野が拡大しており、高機能化によるI/0 端子の増大に
伴って半導体装置はますます多リード化する傾向にあ
る。例えば、外径28mm×28mm、厚さ3.6mmの半導
体装置において、リードの数は160本、各リードの幅
が30μm、間隔が650μm程度のものが実用されてお
り、したがって、この半導体装置のリードが接続される
プリント基板等の端子もこれに整合するものでなければ
ならない。
【0004】図6はこのような実装構造の一例を拡大し
て示したもので、(a)は正面図、(b)は側面図、
(c)は平面図である。図において、1はプリント基板
等、2はプリント基板等の表面に形成された導電パター
ンの如き端子、11はプリント基板等1に実装される半
導体装置、12はそのリードである。3ははんだの微粉
末とフラックスとをねり合わせてなるいわゆるはんだク
リームで、例えば図7に示すように、端子2の寸法、形
状に整合した窓8を有するマスク7を用い、端子2の表
面にスキージにより印刷したものである(以下塗布とい
う)。
て示したもので、(a)は正面図、(b)は側面図、
(c)は平面図である。図において、1はプリント基板
等、2はプリント基板等の表面に形成された導電パター
ンの如き端子、11はプリント基板等1に実装される半
導体装置、12はそのリードである。3ははんだの微粉
末とフラックスとをねり合わせてなるいわゆるはんだク
リームで、例えば図7に示すように、端子2の寸法、形
状に整合した窓8を有するマスク7を用い、端子2の表
面にスキージにより印刷したものである(以下塗布とい
う)。
【0005】このようにして、各端子2にはんだクリー
ム3を塗布したのち、半導体装置11をプリント基板等
1の上に載置してリード12を端子2にそれぞれ当接
し、リフロー装置によりリフローすれば、リード12と
端子2はそれぞれ接続され、半導体装置11はプリント
基板等1に実装される。
ム3を塗布したのち、半導体装置11をプリント基板等
1の上に載置してリード12を端子2にそれぞれ当接
し、リフロー装置によりリフローすれば、リード12と
端子2はそれぞれ接続され、半導体装置11はプリント
基板等1に実装される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記のような半導体装
置の実装構造においてはマスク7の窓8の寸法、形状
は、端子2の寸法、形状と全く同じに形成されており、
一方、端子2の幅及び間隔はますます狭くなっているた
め、マスク7を利用してはんだクリームを塗布する際、
に8示すようにはんだクリーム3が隣接する端子2間を
橋絡するいわゆるはんだブリッジ4が発生しやすい。は
んだブリッジ4が発生したときは、手作業によりこれを
除去しているので、外観検査及びはんだクリーム3の修
正に多くの時間と人手がかかるばかりでなく、はんだク
リーム3の修正によって二次的不良が発生することもあ
る。
置の実装構造においてはマスク7の窓8の寸法、形状
は、端子2の寸法、形状と全く同じに形成されており、
一方、端子2の幅及び間隔はますます狭くなっているた
め、マスク7を利用してはんだクリームを塗布する際、
に8示すようにはんだクリーム3が隣接する端子2間を
橋絡するいわゆるはんだブリッジ4が発生しやすい。は
んだブリッジ4が発生したときは、手作業によりこれを
除去しているので、外観検査及びはんだクリーム3の修
正に多くの時間と人手がかかるばかりでなく、はんだク
リーム3の修正によって二次的不良が発生することもあ
る。
【0007】また、リフロー装置によってリード12を
端子2に接続すると、図9に示すように、はんだは外端
部5には裾を引かず、外部から見難いリード12の奥の
方(内側)6に引き込まれるため、外観検査によっては
んだ付けの良否を判定することが困難であった。
端子2に接続すると、図9に示すように、はんだは外端
部5には裾を引かず、外部から見難いリード12の奥の
方(内側)6に引き込まれるため、外観検査によっては
んだ付けの良否を判定することが困難であった。
【0008】本発明は上記の問題点を解決すべくなされ
たもので、端子へのはんだクリームの塗布時にはんだブ
リッジが発生することがなく、またリフローによりはん
だクリームがリードの奥に引き込まれることもない半導
体装置の表面実装構造を得ることを目的としたものであ
る。
たもので、端子へのはんだクリームの塗布時にはんだブ
リッジが発生することがなく、またリフローによりはん
だクリームがリードの奥に引き込まれることもない半導
体装置の表面実装構造を得ることを目的としたものであ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するために、プリント基板等の端子に塗布するはん
だクリームの幅を端子の幅より狭くした。
達成するために、プリント基板等の端子に塗布するはん
だクリームの幅を端子の幅より狭くした。
【0010】また、プリント基板等の端子に塗布するは
んだクリームの量を端子の内側は少なく外側は多くし
た。
んだクリームの量を端子の内側は少なく外側は多くし
た。
【0011】さらに、はんだクリームの幅を端子の幅よ
り狭くすると共に、はんだクリームの量を端子の内側は
少なく外側は多くしたものである。
り狭くすると共に、はんだクリームの量を端子の内側は
少なく外側は多くしたものである。
【0012】
【作用】はんだクリームの幅を端子の幅より狭くするこ
とによりはんだブリッジの発生を防止する。
とによりはんだブリッジの発生を防止する。
【0013】また、はんだクリームの量を端子の内側は
少なく外側は多くすることにより、リフロー時のはんだ
クリームの内側への引込みを防止する。
少なく外側は多くすることにより、リフロー時のはんだ
クリームの内側への引込みを防止する。
【0014】さらに、両者を組み合せることにより、は
んだブリッジの発生を防止すると共に、リフロー時のは
んだクリームの内側への引込みを防止することができ
る。
んだブリッジの発生を防止すると共に、リフロー時のは
んだクリームの内側への引込みを防止することができ
る。
【0015】
【発明の実施の形態】図1は本発明実施例の平面図であ
る。本実施例においては、はんだクリーム3の塗布長l
1 を端子2の長さlに対しl≠lとし、その幅W1
を端子の幅Wに対してW1 <Wとしたものである。実
施例でははんだクリーム3の幅W1を0.6〜0.9W
とした。
る。本実施例においては、はんだクリーム3の塗布長l
1 を端子2の長さlに対しl≠lとし、その幅W1
を端子の幅Wに対してW1 <Wとしたものである。実
施例でははんだクリーム3の幅W1を0.6〜0.9W
とした。
【0016】図5ははんだクリーム3の幅W1 とリー
ド12の付着強度との関係を示す線図で、端子2に接続
したリード12に引張力を与えてその付着強度を試験し
たものである。図から明らかなように、W1 /Wが1
〜0.7までは6kg/mm2以上の付着強度を有し、0.
6で約4kg/mm2 となるが、0.5になると2kg/mm
2 と急に低下する。したがって、W1 /Wがほぼ
0.6〜0.9の範囲であれば、信頼性を失うことなく
実用に耐えうることがわかった。
ド12の付着強度との関係を示す線図で、端子2に接続
したリード12に引張力を与えてその付着強度を試験し
たものである。図から明らかなように、W1 /Wが1
〜0.7までは6kg/mm2以上の付着強度を有し、0.
6で約4kg/mm2 となるが、0.5になると2kg/mm
2 と急に低下する。したがって、W1 /Wがほぼ
0.6〜0.9の範囲であれば、信頼性を失うことなく
実用に耐えうることがわかった。
【0017】また、W1 /Wが0.5〜1.0窓を有
するマスクを使用してそれぞれはんだクリーム3を印刷
したところ、はんだブリッジ4の発生はおおむね表1の
通りであった。
するマスクを使用してそれぞれはんだクリーム3を印刷
したところ、はんだブリッジ4の発生はおおむね表1の
通りであった。
【0018】
【表1】
【0019】図2は本発明の別の実施例を示すもので、
(a)図の実施例は、はんだクリーム3の幅W1 は端
子2の幅Wと同じでW 1 ≠Wであるが、端子2の半導
体装置11が載置される側(以下内側という)の端部に
ははんだクリーム3を塗布せず、反対側(以下外側とい
う)は端子2からはみ出してはんだクリーム2を塗布し
たものである。換言すれば、端子2とほぼ同じ長さで同
じ幅のはんだクリーム3を、端子2に対して外側にずら
せて塗布したものである。
(a)図の実施例は、はんだクリーム3の幅W1 は端
子2の幅Wと同じでW 1 ≠Wであるが、端子2の半導
体装置11が載置される側(以下内側という)の端部に
ははんだクリーム3を塗布せず、反対側(以下外側とい
う)は端子2からはみ出してはんだクリーム2を塗布し
たものである。換言すれば、端子2とほぼ同じ長さで同
じ幅のはんだクリーム3を、端子2に対して外側にずら
せて塗布したものである。
【0020】実施例では、はんだクリーム3を塗布しな
い部分の端子2の長さl2 と、端子2からはみ出した
部分のはんだクリーム3の長さl3 を、端子2の長さ
lに対してそれぞれ0.1〜0.41とした。この場
合、l2 =l3 とする必要はなく、適宜変更するこ
とができる。
い部分の端子2の長さl2 と、端子2からはみ出した
部分のはんだクリーム3の長さl3 を、端子2の長さ
lに対してそれぞれ0.1〜0.41とした。この場
合、l2 =l3 とする必要はなく、適宜変更するこ
とができる。
【0021】(b)図の実施例は、端子2とほぼ同じ幅
のはんだクリーム3を、長さ方向に3つに分割(3a,
3b,3c)し、各はんだクリーム3a,3b,3cを
適宜間隔で塗布すると共に、外側のはんだクリーム3c
を端子2からはみ出して塗布したものである。なお、上
記の実施例では、はんだクリーム3を3つに分割した場
合を示したが、2つに分割してもよく、あるいは4つ以
上に分割してもよい。
のはんだクリーム3を、長さ方向に3つに分割(3a,
3b,3c)し、各はんだクリーム3a,3b,3cを
適宜間隔で塗布すると共に、外側のはんだクリーム3c
を端子2からはみ出して塗布したものである。なお、上
記の実施例では、はんだクリーム3を3つに分割した場
合を示したが、2つに分割してもよく、あるいは4つ以
上に分割してもよい。
【0022】また、(C)図の実施例は、はんだクリー
ム3を内側は端子2の幅より狭く、外側は広くかつ外側
にはみ出すように塗布したものであり、さらに(d)図
の実施例は(c)図の実施例のはんだクリーム3を分割
したものである。
ム3を内側は端子2の幅より狭く、外側は広くかつ外側
にはみ出すように塗布したものであり、さらに(d)図
の実施例は(c)図の実施例のはんだクリーム3を分割
したものである。
【0023】上記図3(a)〜(d)に示した実施例に
おいては、はんだクリーム3を内側は小量に、外側は多
量に塗布したので、図4に示すようにリフローの際はん
だクリーム3が内側に引き込まれることはほとんどな
く、また先端部は充分裾を引くことができる。
おいては、はんだクリーム3を内側は小量に、外側は多
量に塗布したので、図4に示すようにリフローの際はん
だクリーム3が内側に引き込まれることはほとんどな
く、また先端部は充分裾を引くことができる。
【0024】内側のはんだクリーム3を塗布しない部分
の長さl2 を種々変えて実験した結果は、表2の通り
である。
の長さl2 を種々変えて実験した結果は、表2の通り
である。
【0025】
【表2】
【0026】図3は本発明のさらに別の実施例の平面図
で、(a)図の実施例は図1と図2(a)の実施例を組
み合せたもの、(b)図の実施例は図1と図2(b)の
実施例を組み合わせたもので、これらによれば、はんだ
クリーム3を塗布した際のはんだブリッジの発生を防止
できるばかりでなく、リフロー時のはんだクリームの内
側への引込みを防止することができる。
で、(a)図の実施例は図1と図2(a)の実施例を組
み合せたもの、(b)図の実施例は図1と図2(b)の
実施例を組み合わせたもので、これらによれば、はんだ
クリーム3を塗布した際のはんだブリッジの発生を防止
できるばかりでなく、リフロー時のはんだクリームの内
側への引込みを防止することができる。
【0027】以上の説明から明らかなように、図1の実
施例は端子2の幅Wとはんだクリーム3の幅W1 との
関係をW>W1 ≧0.6Wに設定したことにより、は
んだクリーム3を塗布した際にはんだプリッジ4の発生
を防止することができるので、端子間隔の狭いプリント
基板等1に半導体装置11を実装する場合に実施して、
特に有効である。
施例は端子2の幅Wとはんだクリーム3の幅W1 との
関係をW>W1 ≧0.6Wに設定したことにより、は
んだクリーム3を塗布した際にはんだプリッジ4の発生
を防止することができるので、端子間隔の狭いプリント
基板等1に半導体装置11を実装する場合に実施して、
特に有効である。
【0028】また、図2の実施例は、はんだクリーム3
の幅は端子2の幅とほぼ同じであるが、はんだクリーム
3の塗布量を内側は少なく外側は多くしたので、リフロ
ー時にはんだクリーム3が内側に引き込まれることがな
く、また外側端部には充分裾を引かせることができる。
したがって、端子間隔の比較的広い場合に実施して特に
有効である。
の幅は端子2の幅とほぼ同じであるが、はんだクリーム
3の塗布量を内側は少なく外側は多くしたので、リフロ
ー時にはんだクリーム3が内側に引き込まれることがな
く、また外側端部には充分裾を引かせることができる。
したがって、端子間隔の比較的広い場合に実施して特に
有効である。
【0029】さらに、図3の実施例は、端子2の幅Wと
はんだクリーム3の幅W1 との関係をW>W1 ≧
0.6Wに設定すると共に、はんだクリーム3の塗布量
を内側は少なく、外側は多くしたので、はんだクリーム
3を塗布した際はんだブリッジの発生を防止するばかり
でなく、リフロー時にはんだクリーム3が内側に引き込
まれるのを防止し、外側端部には充分裾を引かせること
ができる。したがって、本実施例は、半導体装置を各種
の寸法、形状の端子を有するプリント基板等に実装する
場合に実施してきわめて有効である。
はんだクリーム3の幅W1 との関係をW>W1 ≧
0.6Wに設定すると共に、はんだクリーム3の塗布量
を内側は少なく、外側は多くしたので、はんだクリーム
3を塗布した際はんだブリッジの発生を防止するばかり
でなく、リフロー時にはんだクリーム3が内側に引き込
まれるのを防止し、外側端部には充分裾を引かせること
ができる。したがって、本実施例は、半導体装置を各種
の寸法、形状の端子を有するプリント基板等に実装する
場合に実施してきわめて有効である。
【0030】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は端子に塗布するはんだクリームの幅W1 と端子の幅
Wとの関係をW>W1 ≧0.6Wに設定し、またはん
だクリームの塗布量を内側は少なく外側は多くし、さら
にはこれらを組み合わせるようにしたので、はんだクリ
ームを塗布する際はんだブリッジが発生するおそれがな
く、またリフロー時にはんだクリームの引込みを生ずる
こともない。
は端子に塗布するはんだクリームの幅W1 と端子の幅
Wとの関係をW>W1 ≧0.6Wに設定し、またはん
だクリームの塗布量を内側は少なく外側は多くし、さら
にはこれらを組み合わせるようにしたので、はんだクリ
ームを塗布する際はんだブリッジが発生するおそれがな
く、またリフロー時にはんだクリームの引込みを生ずる
こともない。
【0031】このためはんだブリッジの除去のために多
くの時間をかける必要がなく、はんだクリームの付着状
態の検査も容易になる等、生産性の向上に大きく貢献す
ることができる。
くの時間をかける必要がなく、はんだクリームの付着状
態の検査も容易になる等、生産性の向上に大きく貢献す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)〜(d)はいずれも本発明実施例の平面
図。
図。
【図2】(a)〜(d)はいずれも本発明実施例の平面
図。
図。
【図3】(a)、(b)はいずれも本発明実施例の平面
図。
図。
【図4】その作用説明図。
【図5】本発明に係るはんだクリームの幅と端子の幅と
の関係と、付着強度との関係を示す線図。
の関係と、付着強度との関係を示す線図。
【図6】表面実装構造を説明するためのもので、(a)
は正面図、(b)は側面図、(C)は平面図。
は正面図、(b)は側面図、(C)は平面図。
【図7】端子とマスクとの関係を示す斜視図。
【図8】はんだブリッジの発生状態を示す平面図。
【図9】従来のリフロー後の状態を示す側面図である。
1…プリント基板等 2…端子 3…はんだクリーム 4…はんだブリッジ 6…引込み 7…マスク 8…窓 11…半導体装置 12…リード
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成9年6月30日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0009
【補正方法】変更
【補正内容】
【0009】
【課題を解決するための手段】本願発明の半導体装置の
表面実装方法は、基板に設けられた多数の端子の表面に
はんだクリームを印刷等によって塗布し、前記プリント
基板等に載置した半導体装置のリードを前記端子に直接
接続する表面実装構造において、前記プリント基板等の
端子に塗布するはんだクリームの幅W1と該端子の幅W
との関係をW>W1≧0.6Wに設定し、前記プリント
基板等の端子に塗布するはんだクリームの量を、該端子
の内側は少なく外側は多くしたことを特徴とする。
表面実装方法は、基板に設けられた多数の端子の表面に
はんだクリームを印刷等によって塗布し、前記プリント
基板等に載置した半導体装置のリードを前記端子に直接
接続する表面実装構造において、前記プリント基板等の
端子に塗布するはんだクリームの幅W1と該端子の幅W
との関係をW>W1≧0.6Wに設定し、前記プリント
基板等の端子に塗布するはんだクリームの量を、該端子
の内側は少なく外側は多くしたことを特徴とする。
Claims (3)
- 【請求項1】プリント基板等に設けられた多数の端子の
表面にはんだクリームを印刷等によって塗布し、前記プ
リント基板等に載置した半導体装置のリードを前記端子
に直接接続する表面実装構造において前記プリント基板
等の端子に塗布するはんだクリームの幅1 と該端子の
幅Wとの関係をW>W1 ≧0.6Wに設定したことを
特徴とする半導体装置の表面実装構造。 - 【請求項2】プリント基板等に設けられた多数の端子の
表面にはんだクリームを印刷等によって塗布し、前記プ
リント基板等に載置した半導体装置のリードを前記端子
に直接接続する表面実装構造において、前記プリント基
板等の端子に塗布するはんだクリームの量を、該端子の
内側は少なく外側は多くしたことを特徴とする半導体装
置の表面実装構造。 - 【請求項3】前記はんだクリームの幅W1 と前記端子
の幅Wとの関係をW>W1 ≧0.6Wに設定したこと
を特徴とする請求項2記載の半導体装置の表面実装構
造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9144056A JP2924856B2 (ja) | 1997-06-02 | 1997-06-02 | 半導体装置の実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9144056A JP2924856B2 (ja) | 1997-06-02 | 1997-06-02 | 半導体装置の実装方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63112615A Division JP2832716B2 (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 | 半導体装置の実装方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1070359A true JPH1070359A (ja) | 1998-03-10 |
JP2924856B2 JP2924856B2 (ja) | 1999-07-26 |
Family
ID=15353295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9144056A Expired - Lifetime JP2924856B2 (ja) | 1997-06-02 | 1997-06-02 | 半導体装置の実装方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2924856B2 (ja) |
Cited By (2)
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- 1997-06-02 JP JP9144056A patent/JP2924856B2/ja not_active Expired - Lifetime
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