JPH1048835A - プリント配線板の製造装置及び製造方法 - Google Patents

プリント配線板の製造装置及び製造方法

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JPH1048835A
JPH1048835A JP8224446A JP22444696A JPH1048835A JP H1048835 A JPH1048835 A JP H1048835A JP 8224446 A JP8224446 A JP 8224446A JP 22444696 A JP22444696 A JP 22444696A JP H1048835 A JPH1048835 A JP H1048835A
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substrate
printed wiring
wiring board
via hole
piece
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JP8224446A
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Yoshitaka Ono
嘉隆 小野
Yasuji Hiramatsu
靖二 平松
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Ibiden Co Ltd
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Ibiden Co Ltd
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 フォトマスクを使用することなくバイアホー
ルを適正に形成し得るプリント配線板の製造装置及び製
造方法を提供する。 【解決手段】 画像測定装置Sにより基板10の配線パ
ッドP1を測定し(S16)、配線パッドP1上に形成
するバイアホールの座標情報を読み込み(S18)、測
定した配線パッドP1に基づき読み込んだバイアホール
の座標情報からX方向のずれ量及びY方向のずれ量を算
出する(S20、S22)。そして、算出されたずれ量
を補正するよう露光用レーザー60及び基板10を載置
するテーブル70を制御し、基板上に塗布された感光性
樹脂14、16を配線パターンのデータに基づき感光さ
せる(S26)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板の
製造装置及び製造方法に関し、特に、フォト・エッチン
グによるプリント基板の製造方法において、フォトマス
クを用いず、レーザスキャナにより露光して、感光性樹
脂を感光させてパターンを形成するプリント配線板の製
造装置及び製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、プリント配線板のフォト・エッチ
ングは、パターンを描画したフォトマスクを用いて行っ
ていた。このフォト・エッチングについて、図13を参
照して説明する。まず、工程(A)において、基板11
0に配線パッド112を形成した後、工程(B)におい
て、該基板110に感光性樹脂130を均一に塗布す
る。そして、工程(C)において、該基板110上に、
バイアホール用の黒点152が描画されたフォトマスク
150を、当該黒点152が配線パッド112と適合す
るよう位置合わせして載置する。そして、紫外線等を照
射し、感光性樹脂130を残す部分、即ち、黒点152
の下方以外の部分を露光する。その後、フォトマスク1
50を外して、工程(D)に示すように、該感光性樹脂
130の未硬化の黒点152の下方の部分を溶剤で除去
することによってバイアホール用の孔130aを形成す
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】現在、多層プリント配
線板においては、基板内の集積率を高める必要からファ
インピッチ化が進み、バイアホールは80〜100μm
に形成されている。バイアホールを形成するための上記
フォトマスクは、樹脂製の透明フィルムから成り熱膨張
係数が大きい。また、樹脂から成る基板に熱を加える
と、架橋反応が進み収縮し、他方、水洗いの際に吸湿し
膨張する。このため、図13の工程(E)に示すよう
に、該基板110上にフォトマスク150を載置した際
に、フォトマスク150の黒点152が配線パッド11
2と適合しなくなることがある。
【0004】特にプリント配線板をワークシート上に多
面取りする場合、例えば、加工の完了した1枚のワーク
シートを裁断して8個のプリント配線板を取る際には、
位置合わせ用のマークの着けられた位置の近傍では、フ
ォトマスク150の黒点152が配線パッド112と適
合しているが、該位置合わせ用マークから遠い位置では
適合しなくなる。適合しない場合には、工程(F)に示
すように、配線パッド112が、バイアホール用の開口
130aにて開放されなくなり、後に形成する上層の配
線との接続が取れなくなる。ここで、標準的な多層プリ
ント配線板は、上下6層から成り、1層当たり約200
個のバイアホールが設けられ、該多層プリント配線板に
は、合計1200個程度のバイアホールが形成される。
この1200個のバイアホールの内の1つでも未開口の
場合には、当該多層プリント配線板が不良品として扱わ
れるため、該バイアホールの位置不良が、歩留りを下
げ、多層プリント配線板の製造コストを押し上げてい
た。
【0005】本発明は、上述した課題を解決するために
なされたものであり、その目的とするところは、フォト
マスクを使用することなくバイアホールを適正に形成し
得るプリント配線板の製造装置及び製造方法を提供する
ことにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め請求項1では、露光用レーザーと、基板を光学的に測
定する画像測定装置と、プリント配線板を載置して位置
を変位させるテーブルと、を有するプリント配線板の製
造装置において、基板に設けられるバイアホール位置に
関するデータを保持するデータ保持手段と、前記画像測
定装置により基板のバイアホール位置に形成されている
特定の配線パッドを測定する測定手段と、前記測定手段
にて測定された配線パッドの位置に基づき、前記データ
保持手段に保持されているバイアホール位置とのずれを
算出するずれ算出手段と、前記ずれ算出手段にて算出さ
れたずれ量を補正するよう前記露光用レーザー及び前記
テーブルを制御して、前記基板上に塗布された感光性樹
脂を感光させる制御手段と、を備えたことを技術的特徴
とする。なお、ここで配線パッドとは、バイアホール上
の導体部と接続されるバイアホールの底部に設けられて
いる種々の配線部を意味する。
【0007】また、請求項2では請求項1において、前
記制御手段が、基板上に塗布された感光性樹脂の感光を
製品の各ピース単体で行うことを技術的特徴とする。
【0008】また、上記の目的を達成するため請求項3
では、基板上に形成されるパターンのデータであって、
基準マークの位置に関する情報を含むデータを保持する
ステップと、画像測定装置により前記基板の基準マーク
を測定するステップと、測定された基準マークの位置に
基づき、保持してある基準マークの位置とのずれを算出
するステップと、算出されたずれ量を補正するよう露光
用レーザー及び基板を載置するテーブルを制御し、前記
基板上に塗布された感光性樹脂を前記パターンのデータ
に基づき感光させるステップと、を備えることを技術的
特徴とする。
【0009】更に、上記の目的を達成するため請求項4
では、基板上に形成されるパターンのデータであって、
2点以上の基準マークの位置に関する情報を含むデータ
を保持するステップと、画像測定装置により前記基板の
2点以上の基準マークを測定するステップと、測定され
た基準マークの位置に基づき、保持してある基準マーク
の位置とのずれ量及び基板の収縮量を算出するステップ
と、算出されたずれ量及び基板の収縮量を補正するよう
露光用レーザー及び基板を載置するテーブルを制御し、
前記基板上に塗布された感光性樹脂を感光させるステッ
プと、を備えることを技術的特徴とする。
【0010】また、請求項5では、請求項3又は4にお
いて、基板上に塗布された感光性樹脂の感光を製品の各
ピース単体で行うことを技術的特徴とする。
【0011】また、請求項6では、請求項3又は4にお
いて、前記基準マークとしてバイアホールの形成される
配線パッドを用いることを技術的特徴とする。
【0012】請求項1のプリント配線板の製造装置で
は、測定手段が画像測定装置により基板のバイアホール
位置に形成されている特定の配線パッドを測定し、算出
手段が、測定された配線パッドの位置に基づき、データ
保持手段に保持されているバイアホール位置とのずれを
算出する。そして、制御手段が、算出されたずれ量を補
正するよう露光用レーザー及びテーブルを制御して、基
板上に塗布された感光性樹脂を感光させる。即ち、配線
パッド上に形成されるバイアホールを、該配線パッドの
位置を測定して当該位置に補正して形成するため、正確
な位置に設けることが可能となる。
【0013】請求項2のプリント配線板の製造装置で
は、制御手段が、基板上に塗布された感光性樹脂の感光
を製品の各ピース単体で行うため、位置誤差が小さくな
り、正確にバイアホールを形成することができる。
【0014】請求項3のプリント配線板の製造方法で
は、画像測定装置により基板の基準マークを測定し、測
定された基準マークの位置に基づき、保持してある基準
マークの位置とのずれを算出する。そして、算出された
ずれ量を補正するように露光用レーザー及び基板を載置
するテーブルを制御し、基板上に塗布された感光性樹脂
をパターンデータに基づき感光させる。即ち、基板に形
成された基準マークの位置を測定し、当該位置に基づき
補正することで、バイアホールを正確な位置に設けるこ
とが可能となる。
【0015】請求項4のプリント配線板の製造方法で
は、画像測定装置により基板の2点以上の基準マークを
測定し、測定した基準マークの位置に基づき、保持して
ある基準マークの位置とのずれ量及び基板の収縮量を算
出する。そして、算出されたずれ量及び基板の収縮量を
補正するよう露光用レーザー及び基板を載置するテーブ
ルを制御し、基板上に塗布された感光性樹脂を感光させ
る。基板に形成された1点以上の基準マークの位置を測
定してずれ量を求め補正し、また、2点以上の基準マー
クの位置から基板の収縮量を求め補正するため、バイア
ホールを適正に設けることが可能となる。
【0016】請求項5のプリント配線板の製造方法で
は、基板上に塗布された感光性樹脂の感光を製品の各ピ
ース単体に行うため、位置誤差が小さくなり、正確にバ
イアホールを形成することができる。
【0017】請求項6のプリント配線板の製造方法で
は、該基準マークとして配線パッドの位置を測定し、配
線パッドに形成されるバイアホールを当該位置に補正し
て形成するため、バイアホールを正確な位置に設けるこ
とが可能となる。また、配線パッドとは別に基準マーク
を設ける必要がない。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体化した実施態
様について図を参照して説明する。図1は、レーザーを
露光して、感光性樹脂を感光させてパターンを形成する
本発明の第1実施態様に係るプリント配線板の製造装置
を示している。この製造装置は、レーザー光を走査する
レーザー装置60と、プリント配線板の多面取り用ワー
クシートWを載置し、該ワークシートWの位置調整する
と共に、副走査(Y方向)方向に送るX−Y/θテーブ
ル70と、該レーザー装置60及びテーブル70を制御
する制御装置50から成る。
【0019】制御装置50は、該ワークシート上のパタ
ーンデータ(基準となるバイアホールの位置(座標)、
直径情報を含む)を入力するための入力部52と、ワー
クシート上の基準位置となる配線パッドPの位置を測定
する光学測定装置Sと、入力されたデータを保持する記
憶部56と、光学測定装置Sにて測定されたパッドPの
位置を該記憶部56に保持されたデータ上の位置と比較
して位置のずれ量を算出する演算部58と、演算部58
にて演算されたずれ量を補正するようにレーザー装置6
0及びテーブル70を制御する制御部54と、から構成
されている。
【0020】レーザー装置60は、360nmのレーザー
光を発射するレーザー発振器62と、レーザーの光路を
遮断するシャッターの役割を果たす音響光学素子64
と、レンズL1と、反射鏡M1と、レンズL2と、反射
鏡M2と、レンズL3と、モータ68にて回動されレー
ザー光をスキャンするポリゴンミラー66と、f−θレ
ンズL4とから構成されている。なお、X−Y/θテー
ブル70は、図示しないモータにより、X(副走査)方
向及びY(走査)方向に駆動されるように構成されてい
る。
【0021】ここで、該プリント配線板の製造装置に
て、レーザー光の照射されるワークシートWの平面視を
図2(A)に示す。ワークシートWには、多層プリント
配線板となる8個のピースn1〜n8が形成される。そ
のぞれのピースn1〜n8には、図2(B)にて拡大し
て示す配線パッドPと配線パターンhとが形成されてい
る。
【0022】引き続き、本発明の第1実施態様に係るプ
リント配線板の製造装置を用いる多層プリント配線板の
製造方法について、図3〜図6を参照して説明する。こ
こで、図3、図4、図5は、多層プリント配線板の製造
工程を示し、図6は、プリント配線板の製造装置による
処理を示している。
【0023】まず、工程(A)で示す、厚さ1mのガラ
スエポキシ又はBT(ビスマレイミドトリアジン)から
成る基板10の両面に18μmの銅箔12がラミネート
されて成る銅張積層板10aを出発材料とし、工程
(B)に示ようにその銅箔12を常法に従いパターン状
にエッチングすることにより、基板10の両面に内層銅
パターン14a、14bを形成する。
【0024】ここで、感光性接着剤溶剤(層間樹脂絶縁
材)を用意する。まず、DMDG(ジメチルグリコール
ジメチルエーテル)に溶解したクレゾールノボラック型
エポキシ樹脂(日本化薬製:分子量2500)の25%
アクリル化物を70重量部、ポリエーテルスルフォン
(PES)30重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成
製:商品名2E4MZ−CN)4重量部、感光性モノマ
ーであるカプロラクトン変成トリス(アクロキシエチ
ル)イソシアヌレート(東亜合成製:商品名アロニック
スM325)10重量部、光開始剤としてのベンゾフェ
ノン(関東化学製)5重量部、光増感剤としてのミヒラ
ーケトン(関東化学製)0.5重量部、さらにこの混合
物に対してエポキシ樹脂粒子の平均粒径5.5μmを3
5重量部、平均粒径0.5μmのものを5重量部を混合
した後、さらにNMPを添加しなから混合し、ホモディ
スパー攪拌機で粘度2000cps に調整し、続いて3本
口一ルで混練して得る。
【0025】そして、絶縁材を用意する。この絶縁材と
しては、クレゾールノボラックエポキシ樹脂の25%ア
クリル化物(日本化薬製)70重量%、ポリエーテルス
ルホン(三井東圧製)25重量%、ベンゾフェノン4重
量%、ミヒラーケトン0.4重量%およびイミダゾール
系硬化剤を混合した後、ノルマルメチルピロリドン(N
MP)を添加しなからホモディスパ攪拌機で粘度30P
a・Sに調整し、さらに3本ロールで混練して得る。
【0026】工程(B)に示す基板10を水洗いし、乾
燥した後、その基板10を酸性脱脂してソフトエッチン
グして、塩化パラジウムと有機酸からなる触媒溶液で処
理して、Pd触媒を付与し、活性化を行い、無電解めっ
き浴にてめっきを施し、銅導電体とバイアホールパッド
の表面にNi−P−Cu合金の厚さ2.5μmの凹凸層
(粗化面)を形成する。
【0027】そして、水洗いし、その基板をホウふっ化
スズーチオ尿素液からなる無電解スズめっき浴に50°
Cで1時間浸漬し、Ni−Cu−P合金粗化面の表面に
厚さ0.3μmのスズ置換めっき層を形成する。
【0028】工程(C)に示すように、当該基板10の
両面に、上述したように製造した感光性接着剤をロール
コータを用いて塗布して、水平状態で20分間放置して
から、60°Cで30分の乾操を行い厚さ60μmの接
着剤層16を形成する。
【0029】これを塗布して乾操させ、工程(D)に示
すように、前述の感光性接着剤を更に塗布して絶縁材層
18、接着剤層16の2層を形成する。
【0030】接着剤層16の形成された基板10を図1
に示すプリント配線板の製造装置のX−Y/θテーブル
70に載直し、以下、バイアホール用の開口部を形成す
るため、該開口形成部を除きレーザーを照射する。ここ
で、感光性絶縁材層18及び接着剤層16は、透光性な
ので下層の配線パターン(バイアホールと接続する配線
パッドP1)をターゲットとして基板10の大きさを画
像測定装置Sにより光学的に測定する。また、その測定
結果から下層配線パターン(バイアホールが接続する配
線パッドP1)の実際の位置が設計値からどれだけずれ
ているかを演算部28で計算し、これから形成しようと
するバイアホールの位置をずれに合わせて補正し、その
座標を演算して求める。なお、バイアホール位置、直径
の補正データは、上述したように記憶部58に格納され
ている。
【0031】この制御部54における上記処理につい
て、図10(A)の説明図及び図6のフローチャートを
参照して説明する。ここでは、図2(A)に示すワーク
シートWの各ピースn1〜n8毎に、それぞれ測定を行
うと共にレーザー光を照射して行く。まず、作業対象の
ピースをn1へ初期化する(S12、S14)。そし
て、光学測定装置Sにより、該ピースn1の図10
(A)に示す配線パッドP1の位置を測定する(S1
6)。その後、該配線パッドP1上に形成するバイアホ
ール位置、直径のデータを読み込み(S18)、該パッ
ドP1とバイアホールの基準位置T1との違いから、該
ピースn1のX方向のずれ量x1と、Y方向のずれ量y
1とを算出する(S20、S22)。
【0032】その後、ずれ量x1とずれ量y1とを補正
するようにテーブル70にてワークシートWの位置を調
整する(S24)。引き続き、制御部54は、ピースn
1の露光パターンを記憶部58から読み出して、そのデ
ータに基づいて、レーザー発振器62、ポリゴンミラー
66、音響光学素子64、X−Y/θテーブル70を駆
動させ、レーザー光線(360nm)を照射して、バイ
アホール非形成領域をスキャニングする(S26)。レ
ーザー光線が照射された部分は硬化すると共に、図3の
工程(E)に示すように音響光学素子64にてレーザー
光が遮られて部分(バイアホール形成部)18aは、未
硬化のまま残る。
【0033】その後、図6に示すステップ28にて、ピ
ースn8について作業を完了したかを判断するが、ここ
では当該判断がNoとなり、ステップ14に戻り、作業
対象をピースn2にする。各ピースについて作業を繰り
返し、ピースn8までの作業が完了すると(S28がY
es)、このワークシートWに対するレーザー照射処理
を完了する。
【0034】第1実施態様では、レーザのスキャニング
を製品の各ピース毎に行うため、ピース毎のバイアホー
ル用開口のずれ量が小さくなると共に、位置合わせをし
た上記パッドP1から最も離れた位置にあるパッドにお
いても、ずれ量を最小に止めることが可能となる。即
ち、ワークシート単位でスキャニングを行うと位置合わ
せを行ったピース(例えばn1)から離れた位置にある
ピース(例えばn8)では、ずれ量が大きくなるが、本
実施態様ではずれ量を最小にできる。
【0035】ここで、上述したレーザーを絶縁材層1
8、接着剤層16に照射した後、図4の工程(F)に示
すように、基板をDMTG溶液でスプレー現像すること
により、感光性絶縁材層18及び接着剤層16に100
μmφのバイアホールとなる開口20を形成する。さら
に、当該基板10を超高圧水銀灯にて3000mj/cm
2 で露光し、100°Cで1時間、その後150°Cで
5時間加熱処理することにより、フォトマスクフィルム
に相当する寸法精度に優れた開口(バイアホール形成相
開口)20を有する厚さ50μmの樹脂層間絶縁層22
を形成する。なお、バイアホールとなる開口20には、
スズメッキ層を部分的に露出させる。
【0036】開口20の形成された基板10を、クロム
酸に1分間浸漬し、樹脂層間絶縁層22中のエポキシ樹
脂粒子を溶解して、工程(G)に示すように当該樹脂層
間絶縁層22の表面を粗化し、その後、中和溶液(シプ
レイ社製)に浸漬した後に水洗いする。この粗面化処理
を行った基板にパラジウム触媒(アトテック製)を付与
することにより、樹脂層間絶縁層22及びバイアホール
用開口20に触媒核を付ける。
【0037】工程(H)に示すように上記の触媒核付与
の処理を終えた基板20の両面に、液状レジストをロー
ルコーターを用いて塗布し、60°Cで30分の乾燥を
行い厚さ30μmレジスト層24を形成する。
【0038】なお、この液状レジストは、DMDGに溶
解させたクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化
薬製:商品名EOCN−103S)のエポキシ基25%
をアクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子量40
00)、PES(分子量17000)、イミダゾール硬
化剤(四国化成製:商品名2PMHZ−PW)、感光性
モノマーであるアクリル系イソシアネート(東亜合成
製:商品名アロニックスM215)、光開始剤としての
ペンゾフェノン(関東化学製)、光増感剤としてのミヒ
ラーケトン(関東化学製)を以下の組成でNMPを用い
て混合して、ホモディスバー攪拌機で枯度3000cps
に調整し、続いて3本ロールで混練して得る。 樹脂組成物;感光性エポキシ/PES/M215/BP
/MK/イミダゾール=70/30/10/5/0.5
/5
【0039】引き続き、レジスト層24の形成された基
板10を再び図1に示すプリント配線板の製造装置のX
−Y/θテーブル70に載置する。該レジスト層24か
ら導体回路パターン部を除去するため、図6及び図10
(A)を参照して上述した接着剤層16のバイアホール
用開口の形成と同様にして、レジスト層24の非除去部
分にレーザーを照射する。この際に、レジススト層は透
光性なので、下層のバイアホール形成用の孔から露出す
る内層導体パッド14aをターゲットとして基板の大き
さを画像測定装置により光学的に測定し、その測定結果
からバイアホールの実際の位置が設計値からどれだけず
れているかを計算し、これから形成しようとするパター
ンの位置をずれに合わせて補正し、内装パッド14a上
の導体回路パターン部24aを除きレーザーを照射する
(工程(I)参照)。このレーザのスキャニングは、精
度を高めるため、当該処理においても各ピース毎に行
う。
【0040】次に、図5の工程(J)に示すようにレジ
スト層24をDMTGで溶解現像し、基板上に導体回路
パターン部26aの抜けたメッキ用レジストを形成し、
更に、超高圧水銀灯にて6000mj/cm2 で露光し、1
00°Cで1時間、その後、150°Cで3時間の加熱
処理を行い、層間絶縁層22の上に永久レジスト26を
形成する。
【0041】上記永久レジスト26の形成された基板
に、予めめっき前処理(具体的には硫酸処理等及び触媒
核の活性化)を施し、その後、無電解銅めっき浴による
無電解めっきによって、工程(K)に示すように、レジ
スト非形成部に厚さ15μm程度の無電解銅めっき28
を析出させて、外層銅パターン30、バイアホール32
を形成することにより、アディティブ法による導体層を
形成する。
【0042】このアディティブ法により形成した導体層
30、32を、ベルトサンダーにて#600のベルト研
磨紙を用いて片面を研磨する。このとき、永久レジスト
26の表層とバイアホール32の銅の最上面とが揃うま
で研磨を行う。その後、ベルトサンダーによる傷を取り
除くためバフ研磨を行う(バフのみの研磨でもよい)。
そして、他方の面も同様に研磨して、工程(L)に示す
ように両面のフラットなプリント基板を形成する。
【0043】そして、前述の工程を繰り返すことによ
り、アディティブ法による導体層を更にもう一層形成す
る。このように配線層をビルドアップして行くことによ
り6層の多層プリント配線板を形成する。
【0044】引き続き、本発明の第2実施態様のプリン
ト配線板の製造装置による処理について図7のフローチ
ャート及び図10(B)の説明図を参照して説明する。
図6を参照して上述した実施態様では、レーザのスキャ
ニングを各ピース毎に行っていたが、この第2実施態様
においては、レーザのスキャニングを2個のピースつづ
行う。この第2実施態様のプリント配線板の製造装置の
機械的構成については、図1を参照して上述した第1実
施態様とほぼ同様であるため、図示及び説明を省略す
る。また、図6のフローチャートを参照して上述した第
1実施態様と同じ処理については、同一のステップ番号
を用いると共に詳細な説明を省略する。
【0045】この制御部54における処理について説明
する。ここでは、図2(A)に示すワークシートWの各
ピースn1〜n8につして2ピースつづレーザー光を照
射して行く。まず、作業対象のピースをn1に初期化す
る(S12、S14)。そして、光学測定装置Sによ
り、該ピースn1の図10(B)に示す配線パッドP1
の位置を測定する(S16)。その後、該配線パッドP
1上に形成するバイアホール位置、直径のデータを読み
込み(S18)、該パッドP1とバイアホールの基準位
置T1との違いから、該ピースn1のX方向のずれ量x
1と、Y方向のずれ量y1とを算出する(S20、S2
2)。
【0046】その後、処理を行っているピースがn2、
n4、n6、n8のいずれかであるかを判断する(S3
0)。ここでは、処理対処のピースがn1であるためス
テップ30の判断がNoとなり、ステップ14に戻り、
処理対象をピースn2として該ピースn2について、測
定を行いX方向のずれ量x2と、Y方向のずれ量y2と
を算出する(S16〜S22)。そして、ステップ30
での処理を行っているピースがn2、n4、n6、n8
のいずれかであるかの判断がYesとなり、ステップ3
2へ進み、引き続き、制御部54は、ピースn1の露光
パターンとピースn2の露光パターンとを記憶部58か
ら読み出して、この露光パターンの相対位置を上記X方
向のずれ量x1、x2と、Y方向のずれ量y1、y2と
を補正した後、レーザースキャニングを行うためのデー
タに展開する(S32)。このレーザースキャニングの
データに基づいて、レーザー発振器62、ポリゴンミラ
ー66、音響光学素子64、X−Y/θテーブル70を
駆動させて、レーザー光線(360nm)を照射して、
バイアホール非形成領域をスキャニングする(S3
4)。
【0047】その後、図7に示すステップ36にて、ピ
ースn8について作業を完了したかを判断するが、ここ
では当該判断がNoとなり、ステップ14に戻り、作業
対象をピースn3にする。各ピースについて作業を繰り
返し、ピースn8までの作業が完了すると(S36がY
es)、このレーザー照射処理を完了する。
【0048】第2実施態様では、レーザのスキャニング
を2ピースづつ行うため、レーザースキャニングを行う
時間を短縮できる。なお、この実施態様においては、ス
キャニングを2個つづ行ったが、スキャニングを4個の
ピースについて、或いは、ワークシートWの全てのピー
ス同時に行うこともできる。
【0049】この第2実施態様では、2個のピースにつ
いてそれぞれずれ量を求め、これを補正するようにレー
ザースキャニングを行ったが、処理の簡略化のため、2
個のピースの内の一方のピース(例えばピースn1)に
ついてのみずれ量を測定し、該ずれ量を補正して、2個
のピースに対してレーザースキャニングを行うことも可
能である。
【0050】引き続き、本発明の第3実施態様のプリン
ト配線板の製造装置による処理について図8のフローチ
ャート及び図11(C)の説明図を参照して説明する。
図6を参照して上述した第1、第2実施態様では、配線
パターンの位置ずれのみに対応させていたが、この第3
実施態様においては、基板10の収縮に対しても対応さ
せる。
【0051】第3実施態様のプリント配線板の製造装置
による処理について説明する。まず、作業対象のピース
をn1に初期化する(S12、S14)。そして、光学
測定装置Sにより、該ピースn1の図11(C)に示す
2点の配線パッドP1及び配線パッドP2の位置を測定
する(S16)。その後、該配線パッドP1、P2上に
形成するバイアホール位置、直径のデータを読み込み
(S18)、該パッドP1とバイアホールの基準位置T
1との違いから、該ピースn1のX方向のずれ量x1
と、Y方向のずれ量y1とを算出する(S20、S2
2)。そして、実際に測定した配線パッドP1から配線
パッドP2までの距離d1と、配線パッドP1、P2に
形成するバイアホールの中心位置T1からT2までの距
離d2とを比較し、該ピースn1の収縮(膨張)率を算
出する(S40)。更に、測定した配線パッドP1位置
と配線パッドP2位置との相対的変移量から、該配線パ
ッドP1位置を中心に、該ピースn1がどれだけ回転し
ているか(図中θで示す)を算出する(S42)。その
後、該位置ずれ量x1、y1、収縮率、回転量を補正す
るように、ピースn1の露光パターンを補正した後、レ
ーザースキャニングを行うためのビットマップデータに
展開し(S44)、このレーザースキャニングのデータ
に基づいて、レーザー発振器62、ポリゴンミラー6
6、音響光学素子64、X−Y/θテーブル70を駆動
させて、レーザー光線(360nm)を照射して、バイ
アホール非形成領域をスキャニングする(S46)。
【0052】その後、図8に示すステップ48にて、ピ
ースn8について作業を完了したかを判断するが、ここ
では当該判断がNoとなり、ステップ14に戻り、作業
対象をピースn2にする。各ピースについて作業を繰り
返し、ピースn8までの作業が完了すると(S48がY
es)、このレーザー照射処理を完了する。
【0053】第3実施態様では、位置のずれだけでな
く、収縮率及び回転量を補正するため、ピース内の全て
のバイアホールを正確に形成することができる。即ち、
基板の加熱による収縮、或いは、洗浄時の吸湿膨張等に
より、基板の一部のみが大きく歪むことがあり、又、該
歪みにより各々のピースが時計方向、反時計方向に回転
することがあるが、この第3実施態様では、歪みに対応
させて各ピース毎に正確にバイアホールを形成すること
が可能となる。
【0054】引き続き、本発明の第4実施態様のプリン
ト配線板の製造装置による処理について図9のフローチ
ャート及び図11(D)の説明図を参照して説明する。
図8を参照して上述した第3実施態様では、各ピース毎
に、位置のずれ量、収縮率及び回転量を補正し、レーザ
ースキャニングを行ったが、この第4実施態様において
は、各ピース毎に、位置のずれ量、収縮率及び回転量を
補正した後、全てのピースn1〜n8を同時にレーザー
スキャニングを行う。
【0055】第3実施態様のプリント配線板の製造装置
による処理について説明する。まず、作業対象のピース
をn1に初期化する(S12、S14)。そして、第3
実施態様と同様にして、位置のずれ量、収縮率及び回転
量を補正し、レーザースキャニングを行うためのデータ
に展開する(S44)。その後、ステップ50にて、ピ
ースn8についてデータの展開作業を完了したかを判断
するが、ここでは当該判断がNoとなり、ステップ14
に戻り、作業対象をピースn2にする。各ピースについ
て作業を繰り返し、ピースn8までの作業が完了すると
(S50がYes)、ピースn1〜ピースn8までのレ
ーザースキャン用のデータを1枚のワークシートW用に
合成し(S52)、該ワークシートWに対して一括して
レーザー照射を行う(S54)。
【0056】第4実施態様では、位置のずれだけでな
く、収縮率及び回転量を補正するため、ピース内の全て
のバイアホールを正確に形成することができる。また、
ワークシートWに対して一括してレーザー照射を行うた
め、露光処理を短時間で完了することが可能となる。
【0057】引き続き、本発明の第5実施態様のプリン
ト配線板の製造装置による処理について図12の説明図
を参照して説明する。上述した第1〜第4実施態様で
は、各ピースに設けられた配線パッドPの位置を測定し
たが、この第5実施態様においては、位置合わせ用の基
準マークG1、G2が各ピースn1〜n8に設けられて
いる。そして、この基準マークG1、G2の位置を測定
して、ピースのずれ量を算出し、レーザースキャンを行
うよう構成されている。
【0058】
【効果】以上記述したように請求項1のプリント配線板
の製造装置では、配線パッド上に形成されるバイアホー
ルを、該配線パッドの位置を測定して当該位置に補正し
て形成するため、正確な位置に設けることが可能とな
る。
【0059】請求項2のプリント配線板の製造装置で
は、基板上に塗布された感光性樹脂の感光を製品の各ピ
ース単体で行うため、位置誤差が小さくなり、正確にバ
イアホールを形成することができる。
【0060】請求項3のプリント配線板の製造方法で
は、基板に形成された基準マークの位置を測定し、当該
位置に基づき補正することで、バイアホールを正確な位
置に設けることが可能となる。
【0061】請求項4のプリント配線板の製造方法で
は、基板に形成された1点以上の基準マークの位置を測
定して得られたずれ量を補正し、また、2点以上の基準
マークの位置から得られた基板の収縮量に対応させ補正
するため、位置ずれのみでなく基板の収縮、膨張に対応
させてバイアホールを適正に設けることが可能となる。
【0062】請求項5のプリント配線板の製造方法で
は、基板上に塗布された感光性樹脂の感光を製品の各ピ
ース単体で行うため、位置誤差が小さくなり、正確にバ
イアホールを形成することができる。
【0063】請求項6のプリント配線板の製造方法で
は、該基準マークとして配線パッドの位置を測定し、配
線パッドに形成されるバイアホールを当該位置に補正し
て形成するため、バイアホールを正確な位置に設けるこ
とが可能となる。また、配線パッドとは別に基準マーク
を設ける必要がない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施態様に係るプリント配線板の
製造装置の構成図である。
【図2】図2(A)はワークシートの平面図であり、図
2(B)は配線パッドの拡大図である。
【図3】第1実施態様に係るプリント配線板の製造工程
図である。
【図4】第1実施態様に係るプリント配線板の製造工程
図である。
【図5】第1実施態様に係るプリント配線板の製造工程
図である。
【図6】本発明の第1実施態様に係るプリント配線板の
製造装置による処理を示すフローチャートである。
【図7】本発明の第2実施態様に係るプリント配線板の
製造装置による処理を示すフローチャートである。
【図8】本発明の第3実施態様に係るプリント配線板の
製造装置による処理を示すフローチャートである。
【図9】本発明の第4実施態様に係るプリント配線板の
製造装置による処理を示すフローチャートである。
【図10】図10(A)は、第1実施態様に係るプリン
ト配線板の製造装置による処理を示す説明図であり、図
10(B)は、本発明の第2実施態様に係るプリント配
線板の製造装置による処理を示す説明図である。
【図11】図11(C)は、第3実施態様に係るプリン
ト配線板の製造装置による処理を示す説明図であり、図
11(D)は、本発明の第4実施態様に係るプリント配
線板の製造装置による処理を示す説明図である。
【図12】本発明の第5実施態様に係るプリント配線板
の製造装置による処理を示す説明図である。
【図13】従来技術に係るプリント配線板のフォトッチ
ングの工程図である。
【符号の説明】
10 基板 14a 配線パッド 16 接着剤(感光性樹脂) 18 絶縁材層(感光性樹脂) 24 レジスト層(感光性樹脂) 50 制御装置 60 レーザー装置 70 X−Y/θテーブル P、P1、P2 配線パッド T1、T1 目標位置 S 光学測定装置 n1、n2、n3 ピース W ワークシート

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 露光用レーザーと、基板を光学的に測定
    する画像測定装置と、プリント配線板を載置して位置を
    変位させるテーブルと、を有するプリント配線板の製造
    装置において、 基板に設けられるバイアホール位置に関するデータを保
    持するデータ保持手段と、 前記画像測定装置により基板のバイアホール位置に形成
    されている特定の配線パッドを測定する測定手段と、 前記測定手段にて測定された配線パッドの位置に基づ
    き、前記データ保持手段に保持されているバイアホール
    位置とのずれを算出するずれ算出手段と、 前記ずれ算出手段にて算出されたずれ量を補正するよう
    前記露光用レーザー及び前記テーブルを制御して、前記
    基板上に塗布された感光性樹脂を感光させる制御手段
    と、を備えたことを特徴とするプリント配線板の製造装
    置。
  2. 【請求項2】 前記制御手段が、基板上に塗布された感
    光性樹脂の感光を製品の各ピース単体で行うことを特徴
    とする請求項1のプリント配線板の製造装置。
  3. 【請求項3】 基板上に形成されるパターンのデータで
    あって、基準マークの位置に関する情報を含むデータを
    保持するステップと、 画像測定装置により前記基板の基準マークを測定するス
    テップと、 測定された基準マークの位置に基づき、保持してある基
    準マークの位置とのずれを算出するステップと、 算出されたずれ量を補正するよう露光用レーザー及び基
    板を載置するテーブルを制御し、前記基板上に塗布され
    た感光性樹脂を前記パターンのデータに基づき感光させ
    るステップと、を備えることを特徴とするプリント配線
    板の製造方法。
  4. 【請求項4】 基板上に形成されるパターンのデータで
    あって、2点以上の基準マークの位置に関する情報を含
    むデータを保持するステップと、 画像測定装置により前記基板の2点以上の基準マークを
    測定するステップと、 測定された基準マークの位置に基づき、保持してある基
    準マークの位置とのずれ量及び基板の収縮量を算出する
    ステップと、 算出されたずれ量及び基板の収縮量を補正するよう露光
    用レーザー及び基板を載置するテーブルを制御し、前記
    基板上に塗布された感光性樹脂を感光させるステップ
    と、を備えることを特徴とするプリント配線板の製造方
    法。
  5. 【請求項5】 基板上に塗布された感光性樹脂の感光を
    製品の各ピース単体で行うことを特徴とする請求項3又
    は4のプリント配線板の製造装置。
  6. 【請求項6】 前記基準マークとしてバイアホールの形
    成される配線パッドを用いることを特徴とする請求項3
    又は4のプリント配線板の製造装置。
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