JP2005031274A - 画像記録装置及び画像記録方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することのできる画像記録装置及び画像記録方法を得る。
【解決手段】PWB(プリント配線板)150に予め設けられた複数の位置決め穴150Aの各々の位置を示す位置情報をカメラ164により取得し、当該位置情報に基づいて各々位置決め穴150Aの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、当該コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した座標点の変形前の画像における画素情報を上記任意点の画素情報として適用することにより変形後の画像を示す画像情報を生成し、生成した画像情報に基づいて変形後の画像を記録ヘッド162によりPWB150に記録する。
【選択図】 図1
【解決手段】PWB(プリント配線板)150に予め設けられた複数の位置決め穴150Aの各々の位置を示す位置情報をカメラ164により取得し、当該位置情報に基づいて各々位置決め穴150Aの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、当該コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した座標点の変形前の画像における画素情報を上記任意点の画素情報として適用することにより変形後の画像を示す画像情報を生成し、生成した画像情報に基づいて変形後の画像を記録ヘッド162によりPWB150に記録する。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像記録装置及び画像記録方法に係り、特に、プリント配線板、フラット・パネル・ディスプレイの基板等の基板に対する画像記録に好適な画像記録装置及び画像記録方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、プリント配線板(以下、「PWB」という。)やフラット・パネル・ディスプレイ(以下、「FPD」という。)の基板に所定のパターンを記録する装置として、マスクを用いた面露光装置が広く用いられてきた。
【0003】
しかしながら、PWBに記録されるパターン(配線パターン)は、部品実装の高密度化に伴って高精細化が進み、マスクの伸縮や主として加熱した状態で行われるプレス工程で生じる基板の伸縮に伴う記録位置ずれの問題が顕在化している。例えば、多層プリント配線板の場合、基板に設けられたスルーホール等の穴と、各層のパターンとの位置合わせが高精度に行えないため、PWBを高密度化することができないことが問題となる。
【0004】
また、FPDにおいても、高生産性を目的とした基板サイズの大型化が進み、加熱処理前後における基板の伸縮量の増大やマスク自身の伸縮に伴う描画位置ずれの問題が顕在化してきている。例えば、カラーフィルタパターンを記録する際には、R(赤)、G(緑)、B(青)の各色の記録位置ずれが問題となる。
【0005】
このような問題を解消するための技術として、従来、マスクを使用せずに記録媒体に対して直接パターンを記録する技術(以下、「第1従来技術」という。)があった(例えば、特許文献1参照。)。
【0006】
この第1従来技術によれば、記録クロックパルスの周波数と記録ステージの送り速度、及び記録開始タイミングを制御することで、記録位置ずれを補正することができる。
【0007】
また、従来、光ビームを主走査方向に走査させつつPWBを副走査方向に移動させると共に、光ビームを描画データに基づいて変調させることによりPWBに対して複数の面付パターンの記録を行う技術であって、PWBの面付位置決め情報を測定し、ベクトルデータからビットマップデータに変換する際に、上記面付位置決め情報に基づいて記録位置ずれを補正する技術(以下、「第2従来技術」という。)もあった(例えば、特許文献2参照。)。
【0008】
【特許文献1】
特許第3200020号公報
【特許文献2】
特開2000−122303公報
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、PWB、FPD基板等の基板の伸縮量は等方ではないため、長方形の形状で伸縮したり、平行四辺形の形状に歪むだけでなく、任意形状に歪むので、上記第1従来技術では、記録パターンの高精細化が進むにつれて充分に記録位置ずれを補正することができない、という問題点があった。
【0010】
また、上記第2従来技術では、面付パターンの位置情報を補正しているだけで、上記のような基板の任意形状の歪みには対応できない、という問題点があった。
【0011】
本発明は上記問題点を解消するためになされたものであり、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することのできる画像記録装置及び画像記録方法を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1記載の画像記録装置は、画像情報により示される画像が記録される記録媒体の変形に応じて当該画像を変形させて前記記録媒体に記録する画像記録装置であって、前記記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得する取得手段と、前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出する導出手段と、前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算する演算手段と、前記演算手段により演算された前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を生成する生成手段と、前記生成手段により生成された画像情報に基づいて前記変形後の画像を前記記録媒体に記録する記録手段と、を備えている。
【0013】
ここで、本発明の画像変形の原理について、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、ここでは、一例として図9に示すように、画像が記録される記録媒体に歪みが生じていないと想定した場合(変形前)の記録媒体における複数(同図では4つ)の基準マークの位置が点S00、S10、S11、S01で示される位置であり、変形後の各基準マークの位置が点P00、P10、P11、P01で示される位置である場合について説明する。
【0014】
まず、点S00、S10、S11、S01を角点として構成される四角形を、点P00、P10、P11、P01を角点とする四角形に変形する既存の変形手法(ここでは、FFD(Free Form Deformation)法)について説明する。なお、ここで用いる各点Pij(i=0,1、j=0,1)は「コントロールポイント」と呼ばれている。
【0015】
図9に示すように、変形前の画像における任意点の座標(u,v)(ここで、0≦u≦1,0≦v≦1)に対応する変形後の画像の座標S(u,v)は、FFD法により、次の(1)式によって求めることができる。なお、このとき、変形前の座標系におけるX座標とY座標は、各辺の長さにおいて正規化を行っている。
【0016】
【数1】
【0017】
ここで、B0(u)=1−u、B1(u)=uであり、(1)式は(2)式のように展開される。
【0018】
【数2】
【0019】
このような既存の変形処理手法を利用して、変形前の座標空間内における長方形とされた画像を、変形後の座標空間内における四角形(変形四角形)とされた画像に変換することが可能である。
【0020】
具体的には、座標S(u,v)の画素データとして、変形前の画像における座標(u,v)の画素データを適用すればよい。ここで、座標S(u,v)は小数点以下の値を持つことになるが、四捨五入を行うことによって最も近い座標を得ることができる。また、必要に応じて、着目座標の近傍の複数点の画素データから線形補間処理等の補間処理によって、当該着目画素の画素データを得る場合もある。なお、以上のような画素データの導出処理は、「最近隣内挿処理」と呼ばれている。
【0021】
しかしながら、以上のようなFFD法では、uとvの値を変化させることによって全ての画素についての変換処理が可能であるが、この手法を本発明に適用した場合には、変形後の座標系における任意画素を直接指定することができず不都合である。
【0022】
すなわち、本発明では、画像記録の都合上、変形後の画像における各画素を指定して当該画素の画素データを得るようにしたいが、FFD法では、変形前の画像の座標値に基づいて変形後の画像の画素データを求めているため、FFD法をそのまま適用することは困難である。なお、このような問題は、FFD法に限らず、変形前の画像の座標値に基づいて変形後の画像の画素データを求めるタイプのあらゆる画像変形手法において生じる問題である。
【0023】
そこで、本発明では、一例として図10に示すように、変形後の画像の座標から変形前の画像の座標変換にFFD法を用いるものとする。これにより、変形後の座標系側でuとvを任意に決定することができ、それらに対応する変形前の座標系の座標をS(u,v)として求めることができる。この変換の向きの入れ替えにより、厳密には画像の変形処理に誤差が生じることになる。但し、この際の変形量の大きさが画像寸法に対して十分に小さい場合は当該誤差が無視できる程度まで小さくなることがわかっており、本発明のように記録媒体の変形を変形処理の対象とする場合には、実害は少ない。
【0024】
しかしながら、このままでは、座標変換前の四角形が変形四角形であり、座標変換後の四角形が長方形であるため、(1)式に設定するべきP00、P01、P10、P11の各座標を予め知ることができない。
【0025】
そこで、本発明では、一例として次のようにPij((1)式におけるコントロールポイント)の座標を求める。まず、図11に示すように、座標変換前の座標4点が長方形となるようにS00、S01、S10、S11を設定し、これらが座標変換された先をD00、D01、D10、D11と仮定する。このようにすれば、Dijの各点をコントロールポイントとして(1)式を適用可能となる。
【0026】
【数3】
【0027】
この式が成立している条件では図10のP00→S00、P01→S01、P10→S10、P11→S11の関係も成立しているため、以下の(4)式から(7)式が成立する。ここで、Pij[x]は点PijのX座標を長方形S00S01S11S10のX方向長さで正規化した値を示し、Pij[y]は点PijのY座標を長方形S00S01S11S10のY方向長さで正規化した値を示す。
【0028】
【数4】
【0029】
また、これらの(4)式〜(7)式を展開すると、Pij各点の座標は既知であるため、前出の(2)式から次のように変形される。ここで、an、bn、cn、dnは定数である。
【0030】
【数5】
【0031】
ここで、行列Mを次の(12)式のように定義する。
【0032】
【数6】
【0033】
この行列Mを用いて上記(8)式〜(11)式を整理すると次の(13)式に示される行列式となる。
【0034】
【数7】
【0035】
そして、上記(13)式から次の(14)式が得られ、この行列式から、Dijの各々の座標を求める。なお、(14)式においてinv(M)は行列Mの逆行列である。
【0036】
【数8】
【0037】
ここで得られたDijが本発明における座標変換に用いるコントロールポイント座標であり、これを(3)式に適用すれば変形後の座標から変形前の座標への座標変換が実現できる。
【0038】
また、処理を更に簡略化するために、Pij、Sij間とSij、Dij間の相対的な位置関係を同じとみなすこともできる。この場合、以下の(15)式によりDijを求めることが可能となる。但し、ここでは計算上の誤差が生じるため、画像変形処理の精度を落とさないためには前出の演算を用いる方がよい。
【0039】
【数9】
【0040】
以上の原理に基づき、請求項1に記載の画像記録装置では、まず、記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報が取得手段によって取得される。
【0041】
なお、上記基準マークには、基準位置を示す穴、溝、記号、文字、図形等を含めることができる。また、上記取得手段には、上記基準マークの位置を撮影により検出する撮影装置や、上記基準マークの位置を光を利用して検出するフォト・インタラプタ等のセンサを含めることができる。更に、上記記録媒体には、PWB及びFPD基板が含まれる。
【0042】
ここで、本発明では、上記位置情報に基づいて各々上記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報が導出手段によって導出され、当該コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点が演算手段によって演算され、生成手段により、当該座標点の変形前の画像における画素情報が上記任意点の画素情報として適用されることにより変形後の画像を示す画像情報が生成される。
【0043】
そして、本発明では、記録手段によって、生成手段により生成された画像情報に基づいて上記変形後の画像が記録媒体に記録される。
【0044】
このように、請求項1に記載の画像記録装置によれば、記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を生成し、生成した画像情報に基づいて前記変形後の画像を前記記録媒体に記録しているので、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【0045】
なお、本発明の演算手段による座標点の演算は、前述したFFD法の他、コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算するタイプのあらゆる画像変形手法を適用することができる。
【0046】
また、本発明は、請求項2に記載の発明のように、前記基準マークを、前記記録媒体に対して画像記録の際の位置決め用に予め設けられたものとすることが好ましい。これによって、基準マークを設けるための新たな手段を要することなく、本発明を簡易かつ低コストに実現することができる。
【0047】
また、本発明の前記演算手段は、請求項3に記載の発明のように、FFD法により前記変形前の画像の座標点を演算することが好ましい。すなわち、FFD法による(1)式は、vを固定値とした場合、uによる一次関数であることが分かる。従って、vを決定すれば、初期値(開始点)及び増分(uの増分に対応する増分)も容易に求めることができる。これを用いることにより、その後の演算を単純な加算演算とすることができ、演算処理の高速化を図ることができる。
【0048】
一方、上記目的を達成するために、請求項4記載の画像記録方法は、画像情報により示される画像が記録される記録媒体の変形に応じて当該画像を変形させて前記記録媒体に記録する画像記録方法であって、前記記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を生成し、生成した画像情報に基づいて前記変形後の画像を前記記録媒体に記録するものである。
【0049】
従って、請求項4に記載の画像記録方法によれば、請求項1記載の発明と同様に作用するので、請求項1記載の発明と同様に、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【0050】
【発明の実施の形態】
図1には、本実施の形態に係るフラットベッドタイプの画像記録装置100が示されている。
【0051】
画像記録装置100は、4本の脚部154に支持された厚い板状の設置台156を備え、ステージ移動方向に沿って延びた2本のガイド158を介して、平板状のステージ152を備えている。ステージ152は、PWB(プリント配線板)150を表面に吸着して保持する機能を有している。
【0052】
ステージ152は、その長手方向がステージ移動方向とされ、ガイド158に案内されて、往復移動(走査)可能に支持されている。なお、この画像記録装置100には、ステージ152をガイド158に沿って駆動するための図示しない駆動装置が設けられており、走査方向での所望の倍率に対応した移動速度(走査速度)となるように、後述するステージ制御部112(図5も参照。)によって駆動制御される。
【0053】
設置台156の中央部には、ステージ152の移動経路を跨ぐようにコ字状のゲート160が設けられている。コ字状のゲート160の端部の各々は、設置台156の両側面に固定されている。このゲート160を挟んで一方の側には記録ヘッド162が設けられ、他方の側にはPWB150の先端及び後端と、PWB150に予め設けられている平面視円形状の複数(本実施の形態では、4個)の位置決め穴150Aの位置とを検知するための複数(本実施の形態では、3台)のカメラ164が設けられている。
【0054】
図2に示される如く、記録ヘッド162は、複数の記録素子ユニット166を備えており、所定のタイミングでそれぞれの記録素子ユニット166から照射される複数の光ビームを前記ステージ152上のPWB150へ照射すると同時にステージ152を移動する(走査する)ことで、PWB150を露光するようになっている。
【0055】
図2及び図3(B)に示すように、記録ヘッド162を構成する記録素子ユニット166は、m行n列(例えば、4行5列)の略マトリクス状に配列されており、これら複数の記録素子ユニット166が走査方向と直交する方向に配列される。本実施の形態では、PWB150の幅との関係で、3行で合計14個の記録素子ユニット166とした。
【0056】
ここで、記録素子ユニット166による露光エリア168は、走査方向を短辺とする矩形状で、且つ、走査方向に対して所定の傾斜角で傾斜しており、図2及び図3(A)に示すように、ステージ152の移動に伴い、PWB150には記録素子ユニット166毎に帯状の露光済み領域170が形成される。
【0057】
記録素子ユニット166の各々は、入射された光ビームを空間光変調素子である図示しないデジタル・マイクロミラー・デバイス(DMD)によって、ドット単位でオン/オフ制御され、PWB150には、二値化されたドットパターン(黒/白)が露光され、この複数のドットパターンによって1画素の濃度を表現するようになっている。
【0058】
図4に示される如く、前述した帯状の露光済み領域170(1つの記録素子ユニット166)は、二次元配列(4×5)された20個のドットによって形成される。
【0059】
前記二次元配列のドットパターンは、走査方向に対して傾斜されていることで、走査方向に並ぶ各ドットが、走査方向と交差する方向に並ぶドット間を通過するようになっており、高解像度化を図ることができる。
【0060】
なお、傾斜角度の調整のばらつきによって、利用しないドットが存在する場合もあり、例えば、図4では、斜線としたドットは利用しないドットとなり、このドットに対応するDMDは、常にオフ状態とする。
【0061】
ところで、本実施の形態に係る画像記録装置100は、多層プリント配線板として構成されるPWB150の各層の配線パターンを記録対象とした装置である。以下、画像記録装置100を用いた当該PWB150の全体的な製造工程を簡単に説明する。
【0062】
まず、PWB150の表面に感光剤を塗布し、当該PWB150を画像記録装置100におけるステージ152上の所定位置(本実施の形態では、図1に示すようにステージ152の略中央の位置)に載置する。これによって当該PWB150は、ステージ152の表面に吸着されて保持される。
【0063】
次に、画像記録装置100により、PWB150の上面に対して配線パターンを示す画像データに基づく走査露光を行うことによって当該PWB150の上面に配線パターンの画像(潜像)を形成する。
【0064】
そして、当該PWB150に対し、不図示の装置によって現像(画像記録装置100による未露光部分の除去)及びエッチングを行う。これにより、多層プリント配線板における1層分が作成できる。
【0065】
次に、作成した1層分のPWB150の配線パターン形成面に対して、2層目を構成する基板を不図示のプレス熱板によりプレスするプレス工程によって積層させる。
【0066】
その後、以上の工程(感光剤の塗布、画像記録装置100による配線パターンの走査露光、現像、エッチング、基板の積層)を必要な層数分だけ繰り返し、最終層(表層)のエッチングが終了した後に所定の仕上げ工程を経て最終的なPWB150が完成する。
【0067】
ここで、前述したように、PWB150の所定位置には複数(本実施の形態では4個)の位置決め穴150Aが設けられているが、これらの位置は、上記プレス工程において生じるPWB150の伸縮により、上記所定位置から任意方向にずれが生じる場合が多い。
【0068】
次に、画像記録装置100の走査露光時の作用を、図5を参照しつつ詳細に説明する。なお、図5は、画像記録装置100におけるPWB150に対する露光制御を行うための機能的なブロック図である。
【0069】
ラスター変換処理部104には、CAM(Computer Aided Manufacturing)ステーションを含んで構成されたデータ作成装置200により作成されたPWB150に露光記録すべき配線パターンを示すベクトルデータが入力される。そして、ラスター変換処理部104では、当該ベクトルデータがラスターデータ(ビットマップデータ)に変換されて、基板歪補正画像処理部106に出力される。
【0070】
また、上記ベクトルデータは画像記録装置100全体の動作を司るコントローラ102にもデータ作成装置200から入力される。そして、コントローラ102では、当該ベクトルデータに基づき、ステージ152をガイド158に沿って移動させるための図示しない駆動装置により、走査方向に対する所望の倍率に対応した移動速度(走査速度)で移動させるための制御をステージ制御部112に対して実行させる。これにより、ステージ152に載置された配線パターン露光前のPWB150は、最下流の位置(図1に示される位置)からステージ移動方向への移動が開始される。
【0071】
一方、複数(本実施の形態では、3台)のカメラ164によるPWB150に対する撮影画像を示す画像データは記録位置情報画像処理部110に順次入力される。そして、記録位置情報画像処理部110では、当該画像データに基づき、ステージ152上に載置されたPWB150の位置決め穴150Aの位置が検出され、当該位置を示す位置情報(本発明の「位置情報」に相当。)が取得されて基板歪補正画像処理部106に入力される。
【0072】
なお、PWB150の位置決め穴150Aの検出は、カメラ164から入力された画像データによって示される画像と、上記プレス工程を経ていない標準的なPWB150に対するカメラ164による撮影によって得られ、かつ記録位置情報画像処理部110に備えられた不図示のメモリに登録しておいた画像データにより示される画像とのパターン・マッチングにより得ることができる。また、上記不図示のメモリに標準的なPWB150における位置決め穴150Aの位置を示す情報を予め記憶しておき、カメラ164から入力された画像データにおける、当該位置決め穴150Aの位置を示す情報により示される位置を含む所定範囲内の領域に対応する画像データから、位置決め穴150Aの形状である円形の画像を抽出することにより検出する方法等を適用することもできる。
【0073】
このようにして得られた位置決め穴150Aの位置は、プレス工程によるPWB150の任意方向の歪みに起因して、歪みが生じていない場合の位置から任意方向にずれている場合が多い。
【0074】
任意方向の歪みが生じたPWB150に対し、ラスター変換処理部104により得られたラスターデータをそのまま用いて各層の配線パターンを形成した場合、結果的に得られるPWB150には、各層毎の配線パターンの相対位置に位置ずれが生じることになる。
【0075】
そこで、基板歪補正画像処理部106では、前述した本発明の画像変形の原理に基づき、一例として図6に示すように、記録位置情報画像処理部110から入力された位置決め穴150Aの実際の位置を示す位置情報に基づいて、PWB150の変形に対応するように上記ラスターデータにより示される配線パターンを示す画像を変形させる。
【0076】
ここで、本実施の形態に係る基板歪補正画像処理部106において行われるラスターデータの変換手順について、図7を参照しつつ詳細に説明する。なお、図7は、当該ラスターデータの変換を行う際に基板歪補正画像処理部106において実行される画像変形処理プログラムの流れを示すフローチャートである。
【0077】
まず、ステップ200では、記録位置情報画像処理部110から入力された位置情報を取得し、次のステップ202では、取得した位置情報により示される4つの位置決め穴150Aの座標位置を、一例として図10に示される点Pijの各々の位置として適用して、コントロールポイントとなる点Dijの各座標を(14)式により導出する。
【0078】
次のステップ204では、上記ステップ202において導出した点Dijの各座標を用いて、(3)式により、変形後の配線パターンを示す画像の任意点(u,v)に対応する変形前の配線パターンを示す画像(すなわち、ラスター変換処理部104から入力されたラスターデータにより示される画像)の座標点S(u,v)を算出し、次のステップ206では、算出した座標点S(u,v)の上記ラスターデータにおける画素データを上記任意点(u,v)の画素データとして不図示の記憶手段に記憶する。
【0079】
そして、次のステップ208では、以上のステップ204及びステップ206の処理を変形後の配線パターン画像の全ての画素について終了したか否かを判定し、否定判定となった場合は上記ステップ204に戻って再びステップ204及びステップ206の処理を行い、肯定判定となった時点で本画像変形処理プログラムを終了する。
【0080】
なお、上記ステップ204〜ステップ208の繰り返し処理を実行する際に、上記ステップ204では、それまでに処理対象としなかった点を上記任意点として適用する。ここで、上記ステップ204〜ステップ208の繰り返し処理において、vを0(零)で固定とし、uを0から1まで徐々に増加させることにより、変形前及び変形後の双方の座標系で、一例として図8に示される点線矢印の軌跡をスキャンすることになる。そして、uの1スキャン毎にvを徐々に増加させることで全面のスキャンを実行することができ、この結果として変形後の配線パターン画像を示すラスターデータを得ることができる。
【0081】
一方、画像記録制御部108では、基板歪補正画像処理部106において得られた変形後のラスターデータが用いられて、最終画像データとなる各記録素子ユニット166のオン/オフデータが生成される。そして、当該オン/オフデータを用い、ステージ152の移動に同期して、記録ヘッド162の各記録素子ユニット166のDMDが制御され、配線パターンの画像記録が実行される。これにより、配線パターンを示す画像がPWB150に露光されることになる。なお、ラスター変換処理部104、基板歪補正画像処理部106、画像記録制御部108、記録位置情報画像処理部110の各々の作動はコントローラ102によって制御される。
【0082】
以上説明したように、本実施の形態では、PWB150に予め設けられた複数の位置決め穴150Aの各々の位置を示す位置情報を取得し、当該位置情報に基づいて各々上記位置決め穴150Aの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、当該コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した座標点の変形前の画像における画素情報を上記任意点の画素情報として適用することにより変形後の画像を示す画像情報を生成し、生成した画像情報に基づいて変形後の画像をPWB150に記録しているので、PWB150が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【0083】
また、本実施の形態では、本発明の基準マークとして、PWB150に対して画像記録の際の位置決め用に予め設けられた位置決め穴150Aを適用しているので、基準マークを設けるための新たな手段を要することなく、本発明を簡易かつ低コストに実現することができる。
【0084】
なお、本実施の形態では、空間光変調素子としてDMDを備えた記録素子ユニット166について説明したがこのような反射型空間光変調素子の他に、透過型空間光変調素子(LCD)を使用することもできる。例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)タイプの空間光変調素子(SLM;Spacial Light Modulator)や、電気光学効果により透過光を変調する光学素子(PLZT素子)や液晶光シャッタ(FLC)等の液晶シャッターアレイなど、MEMSタイプ以外の空間光変調素子を用いることも可能である。なお、MEMSとは、IC製造プロセスを基盤としたマイクロマシニング技術によるマイクロサイズのセンサ、アクチュエータ、そして制御回路を集積化した微細システムの総称であり、MEMSタイプの空間光変調素子とは、静電気力を利用した電気機械動作により駆動される空間光変調素子を意味している。さらに、Grating Light Valve(GLV)を複数ならべて二次元状に構成したものを用いることもできる。これらの反射型空間光変調素子(GLV)や透過型空間光変調素子(LCD)を使用する構成では、上記したレーザの他にランプ等も光源として使用可能である。
【0085】
また、上記の実施の形態における光源としては、合波レーザ光源を複数備えたファイバアレイ光源、1個の発光点を有する単一の半導体レーザから入射されたレーザ光を出射する1本の光ファイバを備えたファイバ光源をアレイ化したファイバアレイ光源、複数の発光点が二次元状に配列された光源(たとえば、LDアレイ、有機ELアレイ等)、等が適用可能である。
【0086】
さらに、本実施の形態の画像記録装置100は、上述したプリント配線板の製造工程におけるドライ・フィルム・レジスト(DFR;Dry Film Resist)の露光の他、液晶表示装置(LCD)の製造工程におけるカラーフィルタの形成、TFTの製造工程におけるDFRの露光、プラズマ・ディスプレイ・パネル(PDP)の製造工程におけるDFRの露光等の用途に好適に用いることができる。
【0087】
また、本実施の形態では、(3)式により、全ての処理対象とする点に対応する座標点S(u,v)の座標を算出する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
【0088】
すなわち、vを固定値とした場合について着目すると、(3)式は、uによる一次関数であることが分かる。従って、vを決定すれば、初期値(開始点)及び増分(uの増分に対応する増分)も容易に求めることができる。これを用いることにより、その後の演算を単純な加算演算とすることができ、演算処理の高速化を図ることができる。
【0089】
また、本実施の形態では、本発明の基準マークとしてPWB150に予め設けられている位置決め穴150Aを適用した場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、本発明の基準マークとして、例えば、前回の配線パターンの記録時に記録しておいた位置決めマーク等を適用する形態とすることもできる。この場合にも、本実施の形態と同様の効果が得られる。
【0090】
また、本実施の形態で説明した画像記録装置100の構成(図1〜図5参照。)は一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において適宜変更可能であることは言うまでもない。
【0091】
更に、本実施の形態において説明した画像記録装置100の走査露光時の処理の流れや画像変形処理(図7参照。)の流れも一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において適宜変更可能であることは言うまでもない。
【0092】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、本発明の画像記録装置及び画像記録方法によれば、記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を生成し、生成した画像情報に基づいて前記変形後の画像を前記記録媒体に記録しているので、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる、という効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態に係る画像記録装置の外観を示す斜視図である。
【図2】実施の形態に係る画像記録装置の記録ヘッドの構成を示す斜視図である。
【図3】(A)はPWBに形成される露光済み領域を示す平面図であり、(B)は各露光ヘッドによる露光エリアの配列を示す図である。
【図4】記録素子ユニットのドット配列状態を示す平面図である。
【図5】実施の形態に係る画像記録装置におけるPWBに対する露光制御を行うための機能的なブロック図である。
【図6】実施の形態に係るラスターデータによって示される配線パターンを示す画像の変形状態の説明に供する平面図である。
【図7】実施の形態に係る画像変形処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図8】実施の形態に係る画像変形処理プログラムにより実行される画像の変形前後の座標系におけるスキャン状態の一例を示す平面図である。
【図9】本発明の原理の説明に供する説明図である。
【図10】本発明の原理の説明に供する他の説明図である。
【図11】本発明の原理の説明に供する他の説明図である。
【符号の説明】
100 画像記録装置
106 基板歪補正画像処理部(導出手段、演算手段、生成手段)
150 PWB(記録媒体)
150A 位置決め穴(基準マーク)
162 記録ヘッド(記録手段)
164 カメラ(取得手段)
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像記録装置及び画像記録方法に係り、特に、プリント配線板、フラット・パネル・ディスプレイの基板等の基板に対する画像記録に好適な画像記録装置及び画像記録方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、プリント配線板(以下、「PWB」という。)やフラット・パネル・ディスプレイ(以下、「FPD」という。)の基板に所定のパターンを記録する装置として、マスクを用いた面露光装置が広く用いられてきた。
【0003】
しかしながら、PWBに記録されるパターン(配線パターン)は、部品実装の高密度化に伴って高精細化が進み、マスクの伸縮や主として加熱した状態で行われるプレス工程で生じる基板の伸縮に伴う記録位置ずれの問題が顕在化している。例えば、多層プリント配線板の場合、基板に設けられたスルーホール等の穴と、各層のパターンとの位置合わせが高精度に行えないため、PWBを高密度化することができないことが問題となる。
【0004】
また、FPDにおいても、高生産性を目的とした基板サイズの大型化が進み、加熱処理前後における基板の伸縮量の増大やマスク自身の伸縮に伴う描画位置ずれの問題が顕在化してきている。例えば、カラーフィルタパターンを記録する際には、R(赤)、G(緑)、B(青)の各色の記録位置ずれが問題となる。
【0005】
このような問題を解消するための技術として、従来、マスクを使用せずに記録媒体に対して直接パターンを記録する技術(以下、「第1従来技術」という。)があった(例えば、特許文献1参照。)。
【0006】
この第1従来技術によれば、記録クロックパルスの周波数と記録ステージの送り速度、及び記録開始タイミングを制御することで、記録位置ずれを補正することができる。
【0007】
また、従来、光ビームを主走査方向に走査させつつPWBを副走査方向に移動させると共に、光ビームを描画データに基づいて変調させることによりPWBに対して複数の面付パターンの記録を行う技術であって、PWBの面付位置決め情報を測定し、ベクトルデータからビットマップデータに変換する際に、上記面付位置決め情報に基づいて記録位置ずれを補正する技術(以下、「第2従来技術」という。)もあった(例えば、特許文献2参照。)。
【0008】
【特許文献1】
特許第3200020号公報
【特許文献2】
特開2000−122303公報
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、PWB、FPD基板等の基板の伸縮量は等方ではないため、長方形の形状で伸縮したり、平行四辺形の形状に歪むだけでなく、任意形状に歪むので、上記第1従来技術では、記録パターンの高精細化が進むにつれて充分に記録位置ずれを補正することができない、という問題点があった。
【0010】
また、上記第2従来技術では、面付パターンの位置情報を補正しているだけで、上記のような基板の任意形状の歪みには対応できない、という問題点があった。
【0011】
本発明は上記問題点を解消するためになされたものであり、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することのできる画像記録装置及び画像記録方法を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1記載の画像記録装置は、画像情報により示される画像が記録される記録媒体の変形に応じて当該画像を変形させて前記記録媒体に記録する画像記録装置であって、前記記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得する取得手段と、前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出する導出手段と、前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算する演算手段と、前記演算手段により演算された前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を生成する生成手段と、前記生成手段により生成された画像情報に基づいて前記変形後の画像を前記記録媒体に記録する記録手段と、を備えている。
【0013】
ここで、本発明の画像変形の原理について、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、ここでは、一例として図9に示すように、画像が記録される記録媒体に歪みが生じていないと想定した場合(変形前)の記録媒体における複数(同図では4つ)の基準マークの位置が点S00、S10、S11、S01で示される位置であり、変形後の各基準マークの位置が点P00、P10、P11、P01で示される位置である場合について説明する。
【0014】
まず、点S00、S10、S11、S01を角点として構成される四角形を、点P00、P10、P11、P01を角点とする四角形に変形する既存の変形手法(ここでは、FFD(Free Form Deformation)法)について説明する。なお、ここで用いる各点Pij(i=0,1、j=0,1)は「コントロールポイント」と呼ばれている。
【0015】
図9に示すように、変形前の画像における任意点の座標(u,v)(ここで、0≦u≦1,0≦v≦1)に対応する変形後の画像の座標S(u,v)は、FFD法により、次の(1)式によって求めることができる。なお、このとき、変形前の座標系におけるX座標とY座標は、各辺の長さにおいて正規化を行っている。
【0016】
【数1】
【0017】
ここで、B0(u)=1−u、B1(u)=uであり、(1)式は(2)式のように展開される。
【0018】
【数2】
【0019】
このような既存の変形処理手法を利用して、変形前の座標空間内における長方形とされた画像を、変形後の座標空間内における四角形(変形四角形)とされた画像に変換することが可能である。
【0020】
具体的には、座標S(u,v)の画素データとして、変形前の画像における座標(u,v)の画素データを適用すればよい。ここで、座標S(u,v)は小数点以下の値を持つことになるが、四捨五入を行うことによって最も近い座標を得ることができる。また、必要に応じて、着目座標の近傍の複数点の画素データから線形補間処理等の補間処理によって、当該着目画素の画素データを得る場合もある。なお、以上のような画素データの導出処理は、「最近隣内挿処理」と呼ばれている。
【0021】
しかしながら、以上のようなFFD法では、uとvの値を変化させることによって全ての画素についての変換処理が可能であるが、この手法を本発明に適用した場合には、変形後の座標系における任意画素を直接指定することができず不都合である。
【0022】
すなわち、本発明では、画像記録の都合上、変形後の画像における各画素を指定して当該画素の画素データを得るようにしたいが、FFD法では、変形前の画像の座標値に基づいて変形後の画像の画素データを求めているため、FFD法をそのまま適用することは困難である。なお、このような問題は、FFD法に限らず、変形前の画像の座標値に基づいて変形後の画像の画素データを求めるタイプのあらゆる画像変形手法において生じる問題である。
【0023】
そこで、本発明では、一例として図10に示すように、変形後の画像の座標から変形前の画像の座標変換にFFD法を用いるものとする。これにより、変形後の座標系側でuとvを任意に決定することができ、それらに対応する変形前の座標系の座標をS(u,v)として求めることができる。この変換の向きの入れ替えにより、厳密には画像の変形処理に誤差が生じることになる。但し、この際の変形量の大きさが画像寸法に対して十分に小さい場合は当該誤差が無視できる程度まで小さくなることがわかっており、本発明のように記録媒体の変形を変形処理の対象とする場合には、実害は少ない。
【0024】
しかしながら、このままでは、座標変換前の四角形が変形四角形であり、座標変換後の四角形が長方形であるため、(1)式に設定するべきP00、P01、P10、P11の各座標を予め知ることができない。
【0025】
そこで、本発明では、一例として次のようにPij((1)式におけるコントロールポイント)の座標を求める。まず、図11に示すように、座標変換前の座標4点が長方形となるようにS00、S01、S10、S11を設定し、これらが座標変換された先をD00、D01、D10、D11と仮定する。このようにすれば、Dijの各点をコントロールポイントとして(1)式を適用可能となる。
【0026】
【数3】
【0027】
この式が成立している条件では図10のP00→S00、P01→S01、P10→S10、P11→S11の関係も成立しているため、以下の(4)式から(7)式が成立する。ここで、Pij[x]は点PijのX座標を長方形S00S01S11S10のX方向長さで正規化した値を示し、Pij[y]は点PijのY座標を長方形S00S01S11S10のY方向長さで正規化した値を示す。
【0028】
【数4】
【0029】
また、これらの(4)式〜(7)式を展開すると、Pij各点の座標は既知であるため、前出の(2)式から次のように変形される。ここで、an、bn、cn、dnは定数である。
【0030】
【数5】
【0031】
ここで、行列Mを次の(12)式のように定義する。
【0032】
【数6】
【0033】
この行列Mを用いて上記(8)式〜(11)式を整理すると次の(13)式に示される行列式となる。
【0034】
【数7】
【0035】
そして、上記(13)式から次の(14)式が得られ、この行列式から、Dijの各々の座標を求める。なお、(14)式においてinv(M)は行列Mの逆行列である。
【0036】
【数8】
【0037】
ここで得られたDijが本発明における座標変換に用いるコントロールポイント座標であり、これを(3)式に適用すれば変形後の座標から変形前の座標への座標変換が実現できる。
【0038】
また、処理を更に簡略化するために、Pij、Sij間とSij、Dij間の相対的な位置関係を同じとみなすこともできる。この場合、以下の(15)式によりDijを求めることが可能となる。但し、ここでは計算上の誤差が生じるため、画像変形処理の精度を落とさないためには前出の演算を用いる方がよい。
【0039】
【数9】
【0040】
以上の原理に基づき、請求項1に記載の画像記録装置では、まず、記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報が取得手段によって取得される。
【0041】
なお、上記基準マークには、基準位置を示す穴、溝、記号、文字、図形等を含めることができる。また、上記取得手段には、上記基準マークの位置を撮影により検出する撮影装置や、上記基準マークの位置を光を利用して検出するフォト・インタラプタ等のセンサを含めることができる。更に、上記記録媒体には、PWB及びFPD基板が含まれる。
【0042】
ここで、本発明では、上記位置情報に基づいて各々上記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報が導出手段によって導出され、当該コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点が演算手段によって演算され、生成手段により、当該座標点の変形前の画像における画素情報が上記任意点の画素情報として適用されることにより変形後の画像を示す画像情報が生成される。
【0043】
そして、本発明では、記録手段によって、生成手段により生成された画像情報に基づいて上記変形後の画像が記録媒体に記録される。
【0044】
このように、請求項1に記載の画像記録装置によれば、記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を生成し、生成した画像情報に基づいて前記変形後の画像を前記記録媒体に記録しているので、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【0045】
なお、本発明の演算手段による座標点の演算は、前述したFFD法の他、コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算するタイプのあらゆる画像変形手法を適用することができる。
【0046】
また、本発明は、請求項2に記載の発明のように、前記基準マークを、前記記録媒体に対して画像記録の際の位置決め用に予め設けられたものとすることが好ましい。これによって、基準マークを設けるための新たな手段を要することなく、本発明を簡易かつ低コストに実現することができる。
【0047】
また、本発明の前記演算手段は、請求項3に記載の発明のように、FFD法により前記変形前の画像の座標点を演算することが好ましい。すなわち、FFD法による(1)式は、vを固定値とした場合、uによる一次関数であることが分かる。従って、vを決定すれば、初期値(開始点)及び増分(uの増分に対応する増分)も容易に求めることができる。これを用いることにより、その後の演算を単純な加算演算とすることができ、演算処理の高速化を図ることができる。
【0048】
一方、上記目的を達成するために、請求項4記載の画像記録方法は、画像情報により示される画像が記録される記録媒体の変形に応じて当該画像を変形させて前記記録媒体に記録する画像記録方法であって、前記記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を生成し、生成した画像情報に基づいて前記変形後の画像を前記記録媒体に記録するものである。
【0049】
従って、請求項4に記載の画像記録方法によれば、請求項1記載の発明と同様に作用するので、請求項1記載の発明と同様に、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【0050】
【発明の実施の形態】
図1には、本実施の形態に係るフラットベッドタイプの画像記録装置100が示されている。
【0051】
画像記録装置100は、4本の脚部154に支持された厚い板状の設置台156を備え、ステージ移動方向に沿って延びた2本のガイド158を介して、平板状のステージ152を備えている。ステージ152は、PWB(プリント配線板)150を表面に吸着して保持する機能を有している。
【0052】
ステージ152は、その長手方向がステージ移動方向とされ、ガイド158に案内されて、往復移動(走査)可能に支持されている。なお、この画像記録装置100には、ステージ152をガイド158に沿って駆動するための図示しない駆動装置が設けられており、走査方向での所望の倍率に対応した移動速度(走査速度)となるように、後述するステージ制御部112(図5も参照。)によって駆動制御される。
【0053】
設置台156の中央部には、ステージ152の移動経路を跨ぐようにコ字状のゲート160が設けられている。コ字状のゲート160の端部の各々は、設置台156の両側面に固定されている。このゲート160を挟んで一方の側には記録ヘッド162が設けられ、他方の側にはPWB150の先端及び後端と、PWB150に予め設けられている平面視円形状の複数(本実施の形態では、4個)の位置決め穴150Aの位置とを検知するための複数(本実施の形態では、3台)のカメラ164が設けられている。
【0054】
図2に示される如く、記録ヘッド162は、複数の記録素子ユニット166を備えており、所定のタイミングでそれぞれの記録素子ユニット166から照射される複数の光ビームを前記ステージ152上のPWB150へ照射すると同時にステージ152を移動する(走査する)ことで、PWB150を露光するようになっている。
【0055】
図2及び図3(B)に示すように、記録ヘッド162を構成する記録素子ユニット166は、m行n列(例えば、4行5列)の略マトリクス状に配列されており、これら複数の記録素子ユニット166が走査方向と直交する方向に配列される。本実施の形態では、PWB150の幅との関係で、3行で合計14個の記録素子ユニット166とした。
【0056】
ここで、記録素子ユニット166による露光エリア168は、走査方向を短辺とする矩形状で、且つ、走査方向に対して所定の傾斜角で傾斜しており、図2及び図3(A)に示すように、ステージ152の移動に伴い、PWB150には記録素子ユニット166毎に帯状の露光済み領域170が形成される。
【0057】
記録素子ユニット166の各々は、入射された光ビームを空間光変調素子である図示しないデジタル・マイクロミラー・デバイス(DMD)によって、ドット単位でオン/オフ制御され、PWB150には、二値化されたドットパターン(黒/白)が露光され、この複数のドットパターンによって1画素の濃度を表現するようになっている。
【0058】
図4に示される如く、前述した帯状の露光済み領域170(1つの記録素子ユニット166)は、二次元配列(4×5)された20個のドットによって形成される。
【0059】
前記二次元配列のドットパターンは、走査方向に対して傾斜されていることで、走査方向に並ぶ各ドットが、走査方向と交差する方向に並ぶドット間を通過するようになっており、高解像度化を図ることができる。
【0060】
なお、傾斜角度の調整のばらつきによって、利用しないドットが存在する場合もあり、例えば、図4では、斜線としたドットは利用しないドットとなり、このドットに対応するDMDは、常にオフ状態とする。
【0061】
ところで、本実施の形態に係る画像記録装置100は、多層プリント配線板として構成されるPWB150の各層の配線パターンを記録対象とした装置である。以下、画像記録装置100を用いた当該PWB150の全体的な製造工程を簡単に説明する。
【0062】
まず、PWB150の表面に感光剤を塗布し、当該PWB150を画像記録装置100におけるステージ152上の所定位置(本実施の形態では、図1に示すようにステージ152の略中央の位置)に載置する。これによって当該PWB150は、ステージ152の表面に吸着されて保持される。
【0063】
次に、画像記録装置100により、PWB150の上面に対して配線パターンを示す画像データに基づく走査露光を行うことによって当該PWB150の上面に配線パターンの画像(潜像)を形成する。
【0064】
そして、当該PWB150に対し、不図示の装置によって現像(画像記録装置100による未露光部分の除去)及びエッチングを行う。これにより、多層プリント配線板における1層分が作成できる。
【0065】
次に、作成した1層分のPWB150の配線パターン形成面に対して、2層目を構成する基板を不図示のプレス熱板によりプレスするプレス工程によって積層させる。
【0066】
その後、以上の工程(感光剤の塗布、画像記録装置100による配線パターンの走査露光、現像、エッチング、基板の積層)を必要な層数分だけ繰り返し、最終層(表層)のエッチングが終了した後に所定の仕上げ工程を経て最終的なPWB150が完成する。
【0067】
ここで、前述したように、PWB150の所定位置には複数(本実施の形態では4個)の位置決め穴150Aが設けられているが、これらの位置は、上記プレス工程において生じるPWB150の伸縮により、上記所定位置から任意方向にずれが生じる場合が多い。
【0068】
次に、画像記録装置100の走査露光時の作用を、図5を参照しつつ詳細に説明する。なお、図5は、画像記録装置100におけるPWB150に対する露光制御を行うための機能的なブロック図である。
【0069】
ラスター変換処理部104には、CAM(Computer Aided Manufacturing)ステーションを含んで構成されたデータ作成装置200により作成されたPWB150に露光記録すべき配線パターンを示すベクトルデータが入力される。そして、ラスター変換処理部104では、当該ベクトルデータがラスターデータ(ビットマップデータ)に変換されて、基板歪補正画像処理部106に出力される。
【0070】
また、上記ベクトルデータは画像記録装置100全体の動作を司るコントローラ102にもデータ作成装置200から入力される。そして、コントローラ102では、当該ベクトルデータに基づき、ステージ152をガイド158に沿って移動させるための図示しない駆動装置により、走査方向に対する所望の倍率に対応した移動速度(走査速度)で移動させるための制御をステージ制御部112に対して実行させる。これにより、ステージ152に載置された配線パターン露光前のPWB150は、最下流の位置(図1に示される位置)からステージ移動方向への移動が開始される。
【0071】
一方、複数(本実施の形態では、3台)のカメラ164によるPWB150に対する撮影画像を示す画像データは記録位置情報画像処理部110に順次入力される。そして、記録位置情報画像処理部110では、当該画像データに基づき、ステージ152上に載置されたPWB150の位置決め穴150Aの位置が検出され、当該位置を示す位置情報(本発明の「位置情報」に相当。)が取得されて基板歪補正画像処理部106に入力される。
【0072】
なお、PWB150の位置決め穴150Aの検出は、カメラ164から入力された画像データによって示される画像と、上記プレス工程を経ていない標準的なPWB150に対するカメラ164による撮影によって得られ、かつ記録位置情報画像処理部110に備えられた不図示のメモリに登録しておいた画像データにより示される画像とのパターン・マッチングにより得ることができる。また、上記不図示のメモリに標準的なPWB150における位置決め穴150Aの位置を示す情報を予め記憶しておき、カメラ164から入力された画像データにおける、当該位置決め穴150Aの位置を示す情報により示される位置を含む所定範囲内の領域に対応する画像データから、位置決め穴150Aの形状である円形の画像を抽出することにより検出する方法等を適用することもできる。
【0073】
このようにして得られた位置決め穴150Aの位置は、プレス工程によるPWB150の任意方向の歪みに起因して、歪みが生じていない場合の位置から任意方向にずれている場合が多い。
【0074】
任意方向の歪みが生じたPWB150に対し、ラスター変換処理部104により得られたラスターデータをそのまま用いて各層の配線パターンを形成した場合、結果的に得られるPWB150には、各層毎の配線パターンの相対位置に位置ずれが生じることになる。
【0075】
そこで、基板歪補正画像処理部106では、前述した本発明の画像変形の原理に基づき、一例として図6に示すように、記録位置情報画像処理部110から入力された位置決め穴150Aの実際の位置を示す位置情報に基づいて、PWB150の変形に対応するように上記ラスターデータにより示される配線パターンを示す画像を変形させる。
【0076】
ここで、本実施の形態に係る基板歪補正画像処理部106において行われるラスターデータの変換手順について、図7を参照しつつ詳細に説明する。なお、図7は、当該ラスターデータの変換を行う際に基板歪補正画像処理部106において実行される画像変形処理プログラムの流れを示すフローチャートである。
【0077】
まず、ステップ200では、記録位置情報画像処理部110から入力された位置情報を取得し、次のステップ202では、取得した位置情報により示される4つの位置決め穴150Aの座標位置を、一例として図10に示される点Pijの各々の位置として適用して、コントロールポイントとなる点Dijの各座標を(14)式により導出する。
【0078】
次のステップ204では、上記ステップ202において導出した点Dijの各座標を用いて、(3)式により、変形後の配線パターンを示す画像の任意点(u,v)に対応する変形前の配線パターンを示す画像(すなわち、ラスター変換処理部104から入力されたラスターデータにより示される画像)の座標点S(u,v)を算出し、次のステップ206では、算出した座標点S(u,v)の上記ラスターデータにおける画素データを上記任意点(u,v)の画素データとして不図示の記憶手段に記憶する。
【0079】
そして、次のステップ208では、以上のステップ204及びステップ206の処理を変形後の配線パターン画像の全ての画素について終了したか否かを判定し、否定判定となった場合は上記ステップ204に戻って再びステップ204及びステップ206の処理を行い、肯定判定となった時点で本画像変形処理プログラムを終了する。
【0080】
なお、上記ステップ204〜ステップ208の繰り返し処理を実行する際に、上記ステップ204では、それまでに処理対象としなかった点を上記任意点として適用する。ここで、上記ステップ204〜ステップ208の繰り返し処理において、vを0(零)で固定とし、uを0から1まで徐々に増加させることにより、変形前及び変形後の双方の座標系で、一例として図8に示される点線矢印の軌跡をスキャンすることになる。そして、uの1スキャン毎にvを徐々に増加させることで全面のスキャンを実行することができ、この結果として変形後の配線パターン画像を示すラスターデータを得ることができる。
【0081】
一方、画像記録制御部108では、基板歪補正画像処理部106において得られた変形後のラスターデータが用いられて、最終画像データとなる各記録素子ユニット166のオン/オフデータが生成される。そして、当該オン/オフデータを用い、ステージ152の移動に同期して、記録ヘッド162の各記録素子ユニット166のDMDが制御され、配線パターンの画像記録が実行される。これにより、配線パターンを示す画像がPWB150に露光されることになる。なお、ラスター変換処理部104、基板歪補正画像処理部106、画像記録制御部108、記録位置情報画像処理部110の各々の作動はコントローラ102によって制御される。
【0082】
以上説明したように、本実施の形態では、PWB150に予め設けられた複数の位置決め穴150Aの各々の位置を示す位置情報を取得し、当該位置情報に基づいて各々上記位置決め穴150Aの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、当該コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した座標点の変形前の画像における画素情報を上記任意点の画素情報として適用することにより変形後の画像を示す画像情報を生成し、生成した画像情報に基づいて変形後の画像をPWB150に記録しているので、PWB150が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる。
【0083】
また、本実施の形態では、本発明の基準マークとして、PWB150に対して画像記録の際の位置決め用に予め設けられた位置決め穴150Aを適用しているので、基準マークを設けるための新たな手段を要することなく、本発明を簡易かつ低コストに実現することができる。
【0084】
なお、本実施の形態では、空間光変調素子としてDMDを備えた記録素子ユニット166について説明したがこのような反射型空間光変調素子の他に、透過型空間光変調素子(LCD)を使用することもできる。例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)タイプの空間光変調素子(SLM;Spacial Light Modulator)や、電気光学効果により透過光を変調する光学素子(PLZT素子)や液晶光シャッタ(FLC)等の液晶シャッターアレイなど、MEMSタイプ以外の空間光変調素子を用いることも可能である。なお、MEMSとは、IC製造プロセスを基盤としたマイクロマシニング技術によるマイクロサイズのセンサ、アクチュエータ、そして制御回路を集積化した微細システムの総称であり、MEMSタイプの空間光変調素子とは、静電気力を利用した電気機械動作により駆動される空間光変調素子を意味している。さらに、Grating Light Valve(GLV)を複数ならべて二次元状に構成したものを用いることもできる。これらの反射型空間光変調素子(GLV)や透過型空間光変調素子(LCD)を使用する構成では、上記したレーザの他にランプ等も光源として使用可能である。
【0085】
また、上記の実施の形態における光源としては、合波レーザ光源を複数備えたファイバアレイ光源、1個の発光点を有する単一の半導体レーザから入射されたレーザ光を出射する1本の光ファイバを備えたファイバ光源をアレイ化したファイバアレイ光源、複数の発光点が二次元状に配列された光源(たとえば、LDアレイ、有機ELアレイ等)、等が適用可能である。
【0086】
さらに、本実施の形態の画像記録装置100は、上述したプリント配線板の製造工程におけるドライ・フィルム・レジスト(DFR;Dry Film Resist)の露光の他、液晶表示装置(LCD)の製造工程におけるカラーフィルタの形成、TFTの製造工程におけるDFRの露光、プラズマ・ディスプレイ・パネル(PDP)の製造工程におけるDFRの露光等の用途に好適に用いることができる。
【0087】
また、本実施の形態では、(3)式により、全ての処理対象とする点に対応する座標点S(u,v)の座標を算出する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
【0088】
すなわち、vを固定値とした場合について着目すると、(3)式は、uによる一次関数であることが分かる。従って、vを決定すれば、初期値(開始点)及び増分(uの増分に対応する増分)も容易に求めることができる。これを用いることにより、その後の演算を単純な加算演算とすることができ、演算処理の高速化を図ることができる。
【0089】
また、本実施の形態では、本発明の基準マークとしてPWB150に予め設けられている位置決め穴150Aを適用した場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、本発明の基準マークとして、例えば、前回の配線パターンの記録時に記録しておいた位置決めマーク等を適用する形態とすることもできる。この場合にも、本実施の形態と同様の効果が得られる。
【0090】
また、本実施の形態で説明した画像記録装置100の構成(図1〜図5参照。)は一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において適宜変更可能であることは言うまでもない。
【0091】
更に、本実施の形態において説明した画像記録装置100の走査露光時の処理の流れや画像変形処理(図7参照。)の流れも一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において適宜変更可能であることは言うまでもない。
【0092】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、本発明の画像記録装置及び画像記録方法によれば、記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、演算した前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を生成し、生成した画像情報に基づいて前記変形後の画像を前記記録媒体に記録しているので、記録媒体が任意形状に歪む場合であっても高精度に画像の記録位置ずれを補正することができる、という効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態に係る画像記録装置の外観を示す斜視図である。
【図2】実施の形態に係る画像記録装置の記録ヘッドの構成を示す斜視図である。
【図3】(A)はPWBに形成される露光済み領域を示す平面図であり、(B)は各露光ヘッドによる露光エリアの配列を示す図である。
【図4】記録素子ユニットのドット配列状態を示す平面図である。
【図5】実施の形態に係る画像記録装置におけるPWBに対する露光制御を行うための機能的なブロック図である。
【図6】実施の形態に係るラスターデータによって示される配線パターンを示す画像の変形状態の説明に供する平面図である。
【図7】実施の形態に係る画像変形処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図8】実施の形態に係る画像変形処理プログラムにより実行される画像の変形前後の座標系におけるスキャン状態の一例を示す平面図である。
【図9】本発明の原理の説明に供する説明図である。
【図10】本発明の原理の説明に供する他の説明図である。
【図11】本発明の原理の説明に供する他の説明図である。
【符号の説明】
100 画像記録装置
106 基板歪補正画像処理部(導出手段、演算手段、生成手段)
150 PWB(記録媒体)
150A 位置決め穴(基準マーク)
162 記録ヘッド(記録手段)
164 カメラ(取得手段)
Claims (4)
- 画像情報により示される画像が記録される記録媒体の変形に応じて当該画像を変形させて前記記録媒体に記録する画像記録装置であって、
前記記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得する取得手段と、
前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出する導出手段と、
前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算する演算手段と、
前記演算手段により演算された前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を生成する生成手段と、
前記生成手段により生成された画像情報に基づいて前記変形後の画像を前記記録媒体に記録する記録手段と、
を備えた画像記録装置。 - 前記基準マークを、前記記録媒体に対して画像記録の際の位置決め用に予め設けられたものとした
請求項1記載の画像記録装置。 - 前記演算手段は、FFD法により前記変形前の画像の座標点を演算する
請求項1又は請求項2記載の画像記録装置。 - 画像情報により示される画像が記録される記録媒体の変形に応じて当該画像を変形させて前記記録媒体に記録する画像記録方法であって、
前記記録媒体に予め設けられた複数の基準マークの各々の位置を示す位置情報を取得し、
前記位置情報に基づいて各々前記複数の基準マークの位置に対応する複数のコントロールポイントの座標を示すコントロールポイント座標情報を導出し、
前記コントロールポイント座標情報に基づいて変形後の画像における任意点に対応する変形前の画像の座標点を演算し、
演算した前記座標点の変形前の画像における画素情報を前記任意点の画素情報として適用することにより前記変形後の画像を示す画像情報を生成し、
生成した画像情報に基づいて前記変形後の画像を前記記録媒体に記録する
画像記録方法。
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