JPH1038509A - 電気マイクロメータ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 オフセットを高速に決定し、電気マイクロメ
ータを用いて測定を行うための段取りに要する時間の短
縮をはかること。 【解決手段】 測定信号１３がＡ／Ｄ変換器４でＡ／Ｄ
変換不可能な範囲となるような外部入力信号１０を、電
気マイクロメータ６に入力した場合、制御手段５２は、
予め定められた増幅データ１７を、可変増幅器１に設定
する。可変増幅器１は、増幅データ１７により、測定信
号１３がＡ／Ｄ変換器４でＡ／Ｄ変換可能となるよう
に、外部入力信号１０を減衰させる。測定信号１３をＡ
／Ｄ変換して生成された測定データ１４を、演算手段５
１に取り込み、該測定データ１４と増幅データ１７を用
いて、１回の演算で、測定時に用いるオフセットデータ
１６を決定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、電気マイクロメ
ータに関し、特にオフセットにより広い範囲を測定する
ことが可能な電気マイクロメータに関する。

【０００２】

【従来の技術】図７は、従来技術による電気マイクロメ
ータの構成例を示すブロック図である。従来、この種の
電気マイクロメータは、寸法計測において、広い範囲を
測定する目的で用いられている。

【０００３】図７において、増幅器７は、外部入力信号
１０を、ある固定された増幅率で増幅する。オフセット
生成器２は、オフセットデータ１６に基づいて、オフセ
ット１５を作り出す。加算器３は、増幅信号１２からオ
フセット１５を減算し、測定信号１３を作り出す。Ａ／
Ｄ変換器４は、測定信号１３をＡ／Ｄ変換し、測定デー
タ１４を作り出す。

【０００４】ＣＰＵ８は、比較手段５３と、演算手段５
４と、記憶手段５５と、制御手段５６から成っている。
比較手段５３は、測定データ１４と、該比較手段５３に
予め定められた測定可能範囲の上限および下限とを比較
する。演算手段５４は、比較手段５３の比較結果を受け
て、オフセットデータ１６を演算する。また、演算手段
５４は、通常は、測定データ１４を演算し、測定結果を
得る。記憶手段５５は、オフセットデータ１６を記憶す
る。制御手段５６は、オフセットデータ１６をオフセッ
ト生成器２に設定する。

【０００５】次に、上記構成による電気マイクロメータ
の動作を説明する。図８は、従来技術による電気マイク
ロメータの動作例を示すフローチャートである。測定信
号１３がＡ／Ｄ変換器４でＡ／Ｄ変換不可能な範囲とな
るような外部入力信号１０を、電気マイクロメータ９に
入力した場合、演算手段５４は正しい測定データ１４を
得られず、測定結果を正しく得ることができない。そこ
で、増幅信号１２からオフセット１５を減算することに
より、Ａ／Ｄ変換器４でＡ／Ｄ変換可能な測定信号とす
る必要がある。

【０００６】使用者が、電気マイクロメータ９の電源
（図示略）を投入すると、電気マイクロメータ９の処理
は、図８に示すステップＳ１１に進む。ステップＳ１１
では、制御手段５６は、記憶手段５５よりオフセットデ
ータ１６を読み込み、オフセット生成器２に設定する。
これにより、オフセット生成器２は、該オフセットデー
タ１６に基づいて、オフセット２を作り出す。

【０００７】次に、使用者が本装置（電気マイクロメー
タ９）に接続された機械的測定部（図示略）を用いて測
定を行うと、該測定値に比例する外部入力信号１０が、
増幅器７に供給され、電気マイクロメータ９の処理は、
ステップＳ１２へ進む。ステップＳ１２では、該測定値
に比例する外部入力信号１０が、増幅器７に供給され
る。増幅器７は、上記固定の増幅率で、該外部入力信号
１０を増幅し、増幅信号１２を出力する。加算器３は、
該増幅信号１２からオフセット１５を減算し、該減算結
果（＝測定信号１３）を出力する。Ａ／Ｄ変換器４は、
該測定信号１３をＡ／Ｄ変換し、測定データ１４を生成
する。

【０００８】次に、電気マイクロメータ９の処理は、ス
テップＳ１３へ進む。ステップＳ１３では、比較手段５
３は、測定データ１４を取込み、該測定データ１４が、
予め定められた測定可能範囲の下限よりも大きいか否か
を判断する。この判断結果が「ＮＯ」の場合、すなわ
ち、測定データ１４が測定可能範囲の下限よりも小さい
場合、比較手段５３は、演算手段５４にシフトダウン演
算指令を出す。

【０００９】ステップＳ１４では、シフトダウン演算指
令を受けた演算手段５４は、記憶手段５５から、オフセ
ットデータ１６を読み込む。ステップＳ１５では、演算
手段５４は、読み込んだオフセットデータ１６を、定め
られたシフトダウン値だけシフトダウンする。ステップ
Ｓ１６では、演算手段５４は、シフトダウンしたオフセ
ットデータ１６を、再び記憶手段５５に書込む。この
後、電気マイクロメータ９の処理は、ステップＳ１１へ
戻る。

【００１０】一方、ステップＳ１３の判断結果が「ＹＥ
Ｓ」の場合、すなわち、測定データ１４が測定可能範囲
の下限よりも大きい場合には、ステップＳ１７へ進む。
ステップＳ１７では、比較手段５３は、測定データ１４
が、予め定められた測定可能範囲の上限よりも小さいか
否かを判断する。この判断結果が「ＮＯ」の場合、すな
わち、測定データ１４が測定可能範囲の上限よりも大き
い場合、比較手段５３は、演算手段５４にシフトアップ
演算指令を出す。

【００１１】ステップＳ１８では、シフトアップ演算指
令を受けた演算手段５４は、記憶手段５５から、オフセ
ットデータ１６を読み込む。ステップＳ１９では、演算
手段５４は、読み込んだオフセットデータ１６を、定め
られたシフトアップ値だけシフトアップする。ステップ
Ｓ２０では、演算手段５４は、シフトアップしたオフセ
ットデータ１６を、再び記憶手段５５に書込む。この
後、電気マイクロメータ９の処理は、ステップＳ１１へ
戻る。

【００１２】ステップＳ１１〜Ｓ２０の動作は、測定デ
ータ１４が、予め定められた測定可能範囲の上限と下限
の間に入るまで繰り返され、その結果、オフセットデー
タ１６が決定される。オフセットデータ１６が決定する
と、オフセット生成器２は、該オフセットデータ１６に
基づいて、オフセット１５を作り出す。加算器３は、増
幅信号１２からオフセット１５を減算し、測定信号１３
を出力する。Ａ／Ｄ変換器４は、該測定信号１３をＡ／
Ｄ変換し、測定データ１４を生成する。演算手段５４
は、比較手段５３を介して、測定データ１４を取得し、
該測定データ１４に基づいて、測定結果を演算する。以
上の処理により、正しい測定結果が得られる。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の電気マイクロメータにおいては、オフセットデータ
を決定する際、測定データが、予め定められた測定可能
範囲の上限と下限の間に入るまで、比較手段による比
較、および、演算手段によるオフセットデータのシフト
アップまたはシフトダウンを繰返すため、該オフセット
データが決定されるまでに時間がかかる。この結果、電
気マイクロメータを用いて測定を行うための段取りに要
する時間が増大する、という課題があった。

【００１４】本発明の目的は、オフセットデータを高速
に決定し、電気マイクロメータを用いて測定を行うため
の段取りに要する時間の短縮をはかることにある。

【００１５】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
測定値に比例する外部入力信号１０を、増幅データ１７
により減衰させ、増幅信号１２を生成する可変増幅手段
と、オフセットデータ１６により、オフセット１５を作
り出すオフセット生成手段と、前記増幅信号１２と前記
オフセット１５により、測定信号１３を生成する加算手
段と、前記測定信号１３を測定データ１４に変換するＡ
／Ｄ変換手段と、前記測定データ１４の変化量に基づい
て、前記測定値の変化量を演算する演算手段５１と、前
記増幅データ１７を前記可変増幅手段に設定し、前記オ
フセットデータ１６を前記オフセット生成手段に設定す
る制御手段５２とから構成され、前記演算手段５１は、
前記制御手段５２が所定の増幅データ１７および所定の
オフセットデータ１６を設定することにより得られる測
定データ１４と、該所定の増幅データ１７より、測定時
のオフセットデータ１６を決定することを特徴とする。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の電気マイクロメ
ータにおいて、前記加算手段は、前記増幅信号１２から
前記オフセット１５を減算することで、前記測定信号１
３を生成し、前記制御手段５２は、前記所定の増幅デー
タ１７として、前記Ａ／Ｄ変換手段の最大入力値を前記
外部入力信号１０の最大値で除算した値を、前記可変増
幅手段に設定し、前記所定のオフセットデータとし
て、”０”を前記オフセット生成手段に設定し、前記演
算手段５１は、前記制御手段５２が前記所定の増幅デー
タ１７および前記所定のオフセットデータ１６を設定す
ることにより得られる測定データ１４を、該所定の増幅
データ１７で除算し、該除算結果を、前記オフセットデ
ータ１６の増加に対する前記測定データ１４の増加の割
合でさらに除算し、前記制御手段５２は、前記測定時の
オフセットデータ１６として、前記演算手段５１による
最終的な除算結果を、前記オフセット生成手段に設定
し、前記測定時の増幅データ１７として、”１”を、前
記可変増幅手段に設定することを特徴とする。請求項３
記載の発明は、請求項１または請求項２記載の電気マイ
クロメータにおいて、前記オフセット生成手段は、オフ
セット生成用基準信号１８を生成する基準信号生成回路
２５と、前記オフセット生成用基準信号１８に、前記オ
フセットデータ１６を乗算する乗算手段と、前記乗算手
段の乗算結果を２倍し、さらに符号を反転することによ
り、２倍の反転信号１９を生成する２倍反転増幅手段
と、前記反転信号１９と、前記オフセット生成用基準信
号１８とを加算し、前記オフセット１５を生成する加算
手段とから構成されることを特徴とする。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施形態について説明する。図１は、この発明の一実
施形態による電気マイクロメータの構成例を示すブロッ
ク図である。この図において、図７の各部に対応する部
分には同一の符号を付け、その説明を省略する。

【００１７】図１において、外部入力信号１０は、本装
置（電気マイクロメータ６）に接続された機械的測定部
（図示略）の測定値に比例する電気信号であり、その電
圧の上限および下限は、該機械的測定部の仕様（測定範
囲）により決定される。本実施形態では、一例として、
外部入力信号１０は、±１００〔Ｖ〕の範囲で変化する
ものとする。

【００１８】可変増幅器１は、外部入力信号１０を、増
幅データ１７により決定される増幅率で増幅する。オフ
セット生成器２は、オフセットデータ１６に基づいて、
オフセット１５を作り出す。加算器３は、増幅信号１２
からオフセット１５を減算し、測定信号１３を作り出
す。Ａ／Ｄ変換器４は、測定信号１３をＡ／Ｄ変換し、
測定データ１４を作り出す。本実施形態では、Ａ／Ｄ変
換器４は、一例として、１２ビットの出力を有し、−１
０〜＋１０〔Ｖ〕の電気信号を、−２０４８〜＋２０４
７のデジタル信号に変換する。

【００１９】ＣＰＵ５は、演算手段５１と、制御手段５
２から成っている。演算手段５１は、測定データ１４と
増幅データ１７から、オフセットデータ１６を演算す
る。また、演算手段５１は、通常は、測定データ１４を
演算し、測定結果を得る。制御手段５２は、増幅データ
１７を可変増幅器１に設定し、オフセットデータ１６を
オフセット生成器２に設定する。

【００２０】図２〜図４は、本実施形態による可変増幅
器１の構成例を示す回路図である。図２に示す例では、
可変増幅器１は乗算器２０により構成されている。この
回路では、乗算器２０は、外部入力信号１０に、増幅デ
ータ１７を乗算し、増幅信号１２を生成する。

【００２１】図３に示す例では、可変増幅器１は、ＯＰ
アンプ２１を用いた非反転増幅回路により構成されてい
る。この回路では、増幅データ１７により、ＯＰアンプ
２１による非反転増幅回路の増幅率を切り替え、増幅信
号１２を生成する。

【００２２】図４に示す例では、可変増幅器１は、抵抗
分圧回路により構成されている。この回路では、抵抗分
圧した信号と抵抗分圧しない信号を、増幅データ１７に
より切り替えている。なお、この図に示す抵抗分圧回路
では、抵抗分圧した信号と抵抗分圧しない信号とを切り
替えているが、抵抗分圧した２つの信号を切り替えるよ
うな回路としても良い。

【００２３】図５は、本実施形態によるオフセット生成
器２の構成例を示すブロック図である。この図に示す例
では、オフセット生成器２は、基準信号生成回路２５
と、乗算器２２と、２倍反転増幅回路２３と、加算器２
４により構成されている。基準信号生成回路２５は、オ
フセット生成用基準信号１８を生成する。乗算器２２
は、オフセット生成用基準信号１８に、オフセットデー
タ１６を乗算する。２倍反転増幅器２３は、乗算器２２
の乗算結果を２倍し、さらに符号を反転することによ
り、２倍の反転信号１９を生成する。加算器２４は、反
転信号１９とオフセット用基準信号１８とを加算し、オ
フセット１５を生成する。図５のブロック図では、オフ
セット生成用基準信号１８と反転信号１９とを加算する
ことで、正負両方のオフセット１５を生成することがで
きる。

【００２４】次に、上記構成による電気マイクロメータ
の動作について説明する。図６は、本実施形態による電
気マイクロメータの動作例を示すフローチャートであ
る。使用者が、電気マイクロメータ６の電源（図示略）
を投入すると、まず、制御手段５２は、増幅データ１７
およびオフセットデータ１６を初期設定する。本実施形
態では、一例として、増幅データ１７は”１”に、オフ
セットデータ１６は、オフセット１５を”０”にする
（以下、「０のオフセット１５を生成する」と表現す
る）ための値に初期設定される。これにより、オフセッ
ト生成器２は、該オフセットデータ１６に基づいて、０
のオフセット１５を作り出す。

【００２５】次に、使用者が本装置（電気マイクロメー
タ６）に接続された機械的測定部（図示略）を用いて測
定を行うと、該測定値に比例する外部入力信号１０が、
可変増幅器１に供給される。ここでは、一例として、上
記外部入力信号１０を１００〔Ｖ〕とする。可変増幅器
１は、増幅データ１７（ここでは、”１”）に基づい
て、該外部入力信号１０を増幅し、増幅信号１２を出力
する。ここでは、一例として、外部入力信号１０が１０
０〔Ｖ〕であるので、増幅信号１２は、１００〔Ｖ〕×
１＝１００〔Ｖ〕となる。

【００２６】加算器３は、該増幅信号１２から、オフセ
ット１５（ここでは、”０”）を減算し、該減算結果
（＝測定信号１３）を出力する。ここでは、一例とし
て、増幅信号１２が１００〔Ｖ〕であるので、測定信号
１３は、１００〔Ｖ〕−０＝１００〔Ｖ〕となる。

【００２７】Ａ／Ｄ変換器４は、該測定信号１３をＡ／
Ｄ変換し、測定データ１４を生成する。ここでは、一例
として、Ａ／Ｄ変換器４の入力電圧の範囲が、上述した
ように、±１０〔Ｖ〕であるのに対して、測定信号１３
は１００〔Ｖ〕であるので、Ａ／Ｄ変換器１４は、Ａ／
Ｄ変換不可能である。このように、測定信号１３がＡ／
Ｄ変換不可能な場合、演算手段５１は、そのことを、制
御手段５２に通知する。これにより、電気マイクロメー
タ６の動作は、図６に示すステップＳ１へ進む。

【００２８】ステップＳ１では、制御手段５２は、予め
定められた増幅データ１７を、可変増幅器１に設定す
る。本実施例では、この増幅データ１７は、測定信号１
３がＡ／Ｄ変換器１４でＡ／Ｄ変換可能となるような増
幅データとする。ここでは、一例として、外部入力信号
１０の範囲が±１００〔Ｖ〕であり、Ａ／Ｄ変換器１４
の入力電圧の範囲が±１０〔Ｖ〕であるので、該増幅デ
ータ１７を１０／１００＝１／１０とする。これによ
り、可変増幅器１は、該増幅データ１７を用いて、外部
入力信号１０をＡ／Ｄ変換可能となるように減衰させ、
増幅信号１２を生成する。ここでは、一例として、外部
入力信号１０が１００〔Ｖ〕であり、増幅データ１７が
１／１０であるので、増幅信号１２は、１００〔Ｖ〕×
（１／１０）＝１０〔Ｖ〕となる。

【００２９】ステップＳ２では、制御手段５２は、オフ
セットデータ１６を、オフセット生成器２に設定する。
本実施例では、このオフセットデータ１６は、０のオフ
セット１５を生成するためのオフセットデータとする。

【００３０】オフセット生成器２は、ステップＳ２で設
定されたオフセットデータ１６より、０のオフセット１
５を作り出す。加算器３は、増幅信号１２から０のオフ
セット１５を減算し、測定信号１３を作り出す。ここで
は、一例として、増幅信号１２が１０〔Ｖ〕であり、オ
フセット１５が”０”であるので、測定信号１３は、１
０〔Ｖ〕−０＝１０〔Ｖ〕となる。Ａ／Ｄ変換器４は、
該測定信号１３を、測定データ１４にＡ／Ｄ変換する。
ここでは、一例として、測定信号１３が１０〔Ｖ〕であ
るので、測定データ１４は、該１０〔Ｖ〕をＡ／Ｄ変換
して、”２０４７”となる。

【００３１】ステップＳ４では、演算手段５１は、測定
データ１４を取込み、増幅データ１７を用いてオフセッ
トデータ１６を演算する。ここでは、一例として、以下
の演算を行う。 （オフセットデータ１６）＝（測定データ１４）÷（増
幅データ１７）÷（オフセットの幅） ここで、「オフセットの幅」とは、オフセットデータ１
６の増加に対する測定データ１４の増加の割合のことで
あり、本実施形態では、一例として、オフセットデータ
１６を”１”増やすと、測定データ１４は”１００”増
えるとして、該「オフセットの幅」を”１００（＝１０
０／１）”とする。これにより、一例として、測定デー
タ１４は”２０４７”であり、増幅データ１７は”１／
１０”であり、オフセットの幅は”１００”であるの
で、オフセットデータ１６は、２０４７÷（１／１０）
÷１００＝２０４．７となる。この演算は、繰返すこと
なく１回で終了し、従来例と比較して、オフセットの決
定に要する処理が短縮される。

【００３２】ステップＳ５では、制御手段５２は、ステ
ップＳ４で演算されたオフセットデータ１６を、オフセ
ット生成器２に設定する。ここでは、一例として、オフ
セットデータ１６として、上記演算結果である”２０
４．７”が設定される。ステップＳ６では、制御手段５
２は、測定を行うための増幅データ１７を、可変増幅器
１に設定する。ここでは、一例として、増幅データ１７
を元の値、すなわち、”１”に戻すものとする。

【００３３】オフセットデータ１６および増幅データ１
７が決定すると、オフセット生成器２は、該オフセット
データ１６に基づいて、オフセット１５を作り出す。こ
こでは、オフセットデータ１６が”２０４．７”である
ので、オフセット１５は”１００”となる。

【００３４】ここで、オフセットデータ１６とオフセッ
ト１５との比が、２０４．７：１００である理由を述べ
る。先に「オフセットの幅」を説明する際に述べたよう
に、オフセットデータ１６と測定データ１４との比は、
１：１００である。一方、Ａ／Ｄ変換器４は、＋１０
〔Ｖ〕を”２０４７”に変換するので、測定信号１３と
測定データ１４との比は、１０：２０４７＝１００：２
０４７０である。加算器３は、（増幅信号１２）−（オ
フセット１５）＝（測定信号１３）を演算するだけなの
で、入出力間において増幅・減衰は行われておらず、オ
フセット１５と測定信号１３との比は、１：１である。
すなわち、測定信号１３と測定データ１４との比が、上
述したように、１００：２０４７０であるならば、オフ
セット１５と測定データ１４との比も、１００：２０４
７０ということになる。以上の比率をまとめると、 （オフセットデータ１６）：（測定データ１４） ＝１：１００ ＝２０４．７：２０４７０ であり、 （オフセット１５）：（測定データ１４） ＝１００：２０４７０ であるので、 （オフセットデータ１６）：（オフセット１５） ＝２０４．７：１００ となる。故に、オフセットデータ１６が”２０４．７”
に設定されると、オフセット１５は”１００”となる。

【００３５】可変増幅器１は、増幅データ１７に基づい
て、外部入力信号１０を増幅し、増幅信号１２を出力す
る。ここでは、一例として、増幅データ１７は”１”に
戻っているので、増幅信号１２は、１００〔Ｖ〕×１＝
１００〔Ｖ〕となる。加算器３は、該増幅信号１２から
オフセット１５を減算し、測定信号１３を出力する。こ
こでは、一例として、増幅信号１２は１００〔Ｖ〕であ
り、オフセット１５は”１００”であるので、測定信号
１３は、１００〔Ｖ〕−１００＝０〔Ｖ〕となる。

【００３６】Ａ／Ｄ変換器４は、該測定信号１３をＡ／
Ｄ変換し、測定データ１４を生成する。ここでは、一例
として、測定信号１３は０〔Ｖ〕であるので、測定デー
タ１４は”０”となる。演算手段５１は、該測定データ
１４（”０”）を、基準測定値として取得する。以上の
動作により、機械的測定部（本装置に接続された機械的
測定部：図示略）の現在の測定値に対応する外部入力信
号１０（１００〔Ｖ〕）がＡ／Ｄ変換器４の変換範囲
（±１０〔Ｖ〕）を超えていたとしても、該測定値を基
準測定値とすることができる。以後、この基準測定値を
用いることで、該基準測定値に対する測定値の変位を、
該変位に対応する測定信号１３の変位がＡ／Ｄ変換器４
の変換範囲（±１０〔Ｖ〕）に収まる範囲内で、測定す
ることができる。

【００３７】以上、この発明の実施形態を図面を参照し
て詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限ら
れるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の
設計の変更等があってもこの発明に含まれる。

【００３８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明による電気
マイクロメータは、オフセットデータを高速に決定する
ため、電気マイクロメータを用いて測定を行うための段
取りに要する時間が短縮できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】 この発明の一実施形態による電気マイクロメ
ータの構成例を示すブロック図である。

【図２】 可変増幅器１の一構成例を示す回路図であ
る。

【図３】 可変増幅器１の一構成例を示す回路図であ
る。

【図４】 可変増幅器１の一構成例を示す回路図であ
る。

【図５】 オフセット生成器２の一構成例を示すブロッ
ク図である。

【図６】 同実施形態による電気マイクロメータの動作
例を示すフローチャートである。

【図７】 従来技術による電気マイクロメータの構成例
を示すブロック図である。

【図８】 従来技術による電気マイクロメータの動作例
を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１……可変増幅器、 ２……オフセット生成器、 ３，
２４……加算器、４……Ａ／Ｄ変換器、 ５……ＣＰ
Ｕ、 ６……電気マイクロメータ、１０……外部入力信
号、 １２……増幅信号、 １３……測定信号、１４…
…測定データ、 １５……オフセット、１６……オフセ
ットデータ、 １７……増幅データ、１８……オフセッ
ト生成用基準信号、 １９……反転信号、２０，２２…
…乗算器、 ２１……ＯＰアンプ、２３……２倍反転増
幅器、 ２５……基準信号生成回路、５１……演算手
段、 ５２……制御手段

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 測定値に比例する外部入力信号１０を、
   増幅データ１７により減衰させ、増幅信号１２を生成す
   る可変増幅手段と、 オフセットデータ１６により、オフセット１５を作り出
   すオフセット生成手段と、 前記増幅信号１２と前記オフセット１５により、測定信
   号１３を生成する加算手段と、 前記測定信号１３を測定データ１４に変換するＡ／Ｄ変
   換手段と、 前記測定データ１４の変化量に基づいて、前記測定値の
   変化量を演算する演算手段５１と、 前記増幅データ１７を前記可変増幅手段に設定し、前記
   オフセットデータ１６を前記オフセット生成手段に設定
   する制御手段５２とから構成され、 前記演算手段５１は、前記制御手段５２が所定の増幅デ
   ータ１７および所定のオフセットデータ１６を設定する
   ことにより得られる測定データ１４と、該所定の増幅デ
   ータ１７より、測定時のオフセットデータ１６を決定す
   ることを特徴とする電気マイクロメータ。
2. 【請求項２】 請求項１記載の電気マイクロメータにお
   いて、 前記加算手段は、前記増幅信号１２から前記オフセット
   １５を減算することで、前記測定信号１３を生成し、 前記制御手段５２は、前記所定の増幅データ１７とし
   て、前記Ａ／Ｄ変換手段の最大入力値を前記外部入力信
   号１０の最大値で除算した値を、前記可変増幅手段に設
   定し、前記所定のオフセットデータとして、”０”を前
   記オフセット生成手段に設定し、 前記演算手段５１は、前記制御手段５２が前記所定の増
   幅データ１７および前記所定のオフセットデータ１６を
   設定することにより得られる測定データ１４を、該所定
   の増幅データ１７で除算し、該除算結果を、前記オフセ
   ットデータ１６の増加に対する前記測定データ１４の増
   加の割合でさらに除算し、 前記制御手段５２は、前記測定時のオフセットデータ１
   ６として、前記演算手段５１による最終的な除算結果
   を、前記オフセット生成手段に設定し、前記測定時の増
   幅データ１７として、”１”を、前記可変増幅手段に設
   定することを特徴とする電気マイクロメータ。
3. 【請求項３】 請求項１または請求項２記載の電気マイ
   クロメータにおいて、 前記オフセット生成手段は、 オフセット生成用基準信号１８を生成する基準信号生成
   回路２５と、 前記オフセット生成用基準信号１８に、前記オフセット
   データ１６を乗算する乗算手段と、 前記乗算手段の乗算結果を２倍し、さらに符号を反転す
   ることにより、２倍の反転信号１９を生成する２倍反転
   増幅手段と、 前記反転信号１９と、前記オフセット生成用基準信号１
   ８とを加算し、前記オフセット１５を生成する加算手段
   とから構成されることを特徴とする電気マイクロメー
   タ。