JPH1038550A - 電気マイクロメータ - Google Patents

電気マイクロメータ

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JPH1038550A
JPH1038550A JP19909396A JP19909396A JPH1038550A JP H1038550 A JPH1038550 A JP H1038550A JP 19909396 A JP19909396 A JP 19909396A JP 19909396 A JP19909396 A JP 19909396A JP H1038550 A JPH1038550 A JP H1038550A
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JP19909396A
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Katsufumi Miyaji
勝文 宮司
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Ando Electric Co Ltd
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Ando Electric Co Ltd
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 構成が簡単で、製造コストの低い電気マイク
ロメータを提供する。 【解決手段】 加算器3が被測定入力信号と、当該被測
定入力信号の値を変換するための加算信号Saddとを加
算し、比較器4が加算器3の出力と予め設定される基準
値とを比較し、データ処理器5が加算器3の出力の値を
基準値まで変化させるとともに測定入力信号の値を演算
する。この基準値は上限基準電圧VRupであり、データ処
理器5は加算器3の出力の値が上限基準電圧VRupに達
するまで、加算信号Saddの値を予め設定される所定の値
ずつ増加させ、または基準値は下限基準値であり、デー
タ処理器5は加算器3の出力の値が下限基準値に達する
まで、加算信号Saddの値を予め設定される所定の値ず
つ減少させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、外部からの電気
信号によって寸法を計測する電気マイクロメータに関す
る。
【0002】
【従来の技術】外部信号から測定結果を得ることで寸法
計測を行うものとして、電気マイクロメータがある。図
9は、従来技術による電気マイクロメータの構成の一例
を示すブロック図である。
【0003】図9において、入力信号Siは増幅器101
によって所定の増幅率で増幅された後、加算器103に
入力される。この加算器103には、この他にオフセッ
ト信号Soffも入力される。
【0004】加算器103の出力信号は、A/D変換器
108によってディジタル変換され、データ処理器10
5に入力される。このデータ処理器105は、比較部5
4と演算部51、ならびに記憶部52および制御部53
等から構成されており、制御部53がデータ処理器10
5を構成する各部を制御して測定動作を行う。
【0005】比較部54は、A/D変換器108が出力
する測定データDmeasと、別に入力される比較基準によ
って規定される測定可能範囲の上限および下限とを比較
する。
【0006】演算部51は、比較部54による比較結果
に基づいて、後述するオフセットデータDoffの値を増
減させる。また演算部51は、測定データDmeasを予め
設定された演算式に基づいて演算し、測定結果を得る。
【0007】記憶部52は、オフセットデータDoff
記憶し、また必要に応じて読み出して制御部53に渡
す。制御部53は、このオフセットデータDoffをオフセ
ット生成器107に設定し、オフセット生成器107は
これに基づいてオフセット信号S offを出力する。
【0008】図10は、従来の電気マイクロメータにお
ける処理の手順を示すフローチャートである。図9に示
す構成において、データ処理器105に制御信号Scnt1
が入力されると(ステップSt1)処理を開始し、正し
い測定結果が得られるようなオフセットデータDoff
設定するための動作を行う。
【0009】即ち制御部53は、記憶部52よりオフセ
ットデータDoffを読込み、オフセット生成器107に
設定する(ステップSt2)。これによりオフセット生
成器107は、オフセット信号Soffを作り出す。
【0010】加算器103は、増幅器101によって増
幅された入力信号Siとオフセット信号Soffとを加算
し、A/D変換器108は加算器103の出力をディジ
タル変換して測定データDmeasをデータ処理器105に
供給する。
【0011】データ処理器105は測定データDmeas
取り込み(ステップSt3)、比較部54によって比較
基準と比較する。この比較の結果、測定データDmeas
測定可能範囲の下限より小さい場合(ステップSt
4)、比較部54は演算部51にオフセットデータD
offの減少指令を出す。
【0012】減少指令を受けた演算部51は、記憶部5
2よりオフセットデータDoffを読み出し(ステップS
t5)、減少指令によって示される値をオフセットデー
タDof fから減じ(ステップSt6)、このオフセット
データDoffを再び記憶部52に書き込む(ステップS
t7)。
【0013】一方測定データDmeasが測定可能範囲の上
限より大きい場合(ステップSt8)、比較部54は演
算部51にオフセットデータDoffの増加指令を出す。
増加指令を受けた演算部51は、記憶部52よりオフセ
ットデータDoffを読み出し(ステップSt9)、増加
指令によって示される値をオフセットデータDof fに加
え(ステップSt10)、このオフセットデータDoff
を再び記憶部52に書き込む(ステップSt11)。
【0014】こうして、オフセットデータDoffが記憶
部52に書き込まれると、制御部53は再び記憶部52
からオフセットデータDoffを読み出し、オフセット生成
器107に設定する。
【0015】データ処理器105は、以上の動作を繰り
返し、測定データDmeasを比較基準によって規定される
測定可能範囲の上限と下限との間に収束させ、これによ
って最終的なオフセットデータDoffが決定される。
【0016】このオフセットデータDoffがオフセット
生成器107に供給され、オフセット信号Soffが出力さ
れることで、A/D変換器108には有効にディジタル
変換可能な信号が得られるようになる。
【0017】次に、データ処理器105に制御信号S
cnt2が入力されると(ステップSt12)、データ処理
器105は測定結果を得るための動作を行う。まず、デ
ータ処理器105は測定データDmeasを読み込み(ステ
ップSt13)、予め記憶部52に記憶された演算式に
基づいて演算を行う(ステップSt14)。この演算結
果が測定結果となる。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した電
気マイクロメータでは、測定結果を得る際に、オフセッ
トを決定する処理と、測定結果を得るための処理とが必
要であり、このため電気マイクロメータの制御が2段階
となっていた。
【0019】また、測定データを得るためにA/D変換
器が必要であるが、このA/D変換器は回路構成が複
雑、且つ高価であり、電気マイクロメータのコストを上
げる要因になっていた。
【0020】この発明は、このような背景の下になされ
たもので、構成が簡単で、製造コストの低い電気マイク
ロメータを提供することを目的としている。
【0021】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項1に記載の発明にあっては、被測定入力
信号と、当該被測定入力信号の値を変換するための加算
信号とを加算する加算手段と、前記加算手段の出力と予
め設定される基準値とを比較する比較手段と、前記加算
手段の出力の値を前記基準値まで変化させるとともに前
記測定入力信号の値を演算する処理手段とを具備するこ
とを特徴とする。また、請求項2に記載の発明にあって
は、請求項1に記載の電気マイクロメータでは、前記基
準値は上限基準値であり、前記処理手段は前記加算手段
の出力の値が前記上限基準値に達するまで、前記加算信
号の値を予め設定される所定の値ずつ増加させることを
特徴とする。また、請求項3に記載の発明にあっては、
請求項1に記載の電気マイクロメータでは、前記基準値
は下限基準値であり、前記処理手段は前記加算手段の出
力の値が前記下限基準値に達するまで、前記加算信号の
値を予め設定される所定の値ずつ減少させることを特徴
とする。
【0022】また、請求項4に記載の発明にあっては、
被測定入力信号と、当該被測定入力信号の値を変換する
ための加算信号とを加算する加算手段と、前記加算手段
の出力と予め設定される上限基準値ならびに下限基準値
とを比較する比較手段と、前記加算手段の出力の値を前
記上限基準値と前記下限基準値との間の値に収束するま
で前記加算信号の値を予め設定される所定の値ずつ増減
させるとともに前記測定入力信号の値を演算する処理手
段とを具備することを特徴とする。また、請求項5に記
載の発明にあっては、請求項2ないし請求項4の何れか
に記載の電気マイクロメータでは、前記上限基準値ある
いは前記下限基準値の大きさが、測定単位に相当する電
圧値の1/2と等しいことを特徴とする。
【0023】また、請求項6に記載の発明にあっては、
請求項4に記載の電気マイクロメータでは、前記上限基
準値と前記下限基準値の差が測定単位に相当する電圧値
と等しいことを特徴とする。また、請求項7に記載の発
明にあっては、請求項4に記載の電気マイクロメータで
は、前記比較器は、前記加算器の出力の値と前記上限基
準値とを比較するとともに前記加算器の出力の値と前記
下限基準値とを比較して、比較信号として上限比較信号
と下限比較信号とを出力し、前記処理手段は、前記上限
比較信号の状態と前記下限比較信号の状態とに基づいて
前記比較信号の異常あるいは前記比較手段の異常を検出
することを特徴とする。
【0024】この発明によれば、加算手段が被測定入力
信号と、当該被測定入力信号の値を変換するための加算
信号とを加算し、比較手段が加算手段の出力と予め設定
される基準値とを比較し、処理手段が加算手段の出力の
値を基準値まで変化させるとともに測定入力信号の値を
演算する。この基準値は上限基準値であり、処理手段は
加算手段の出力の値が上限基準値に達するまで、加算信
号の値を予め設定される所定の値ずつ増加させ、または
基準値は下限基準値であり、処理手段は加算手段の出力
の値が下限基準値に達するまで、加算信号の値を予め設
定される所定の値ずつ減少させる。あるいは加算手段が
被測定入力信号と、当該被測定入力信号の値を変換する
ための加算信号とを加算し、比較手段が加算手段の出力
と予め設定される上限基準値ならびに下限基準値とを比
較し、処理手段が加算手段の出力の値を上限基準値と下
限基準値との間の値に収束するまで加算信号の値を予め
設定される所定の値ずつ増減させるとともに測定入力信
号の値を演算する。
【0025】
【発明の実施の形態】以下に本発明について説明する。
図1は、本発明の一実施の形態にかかる電気マイクロメ
ータ6の構成を示すブロック図である。図1において、
1は入力信号Siを所定の増幅率で増幅する増幅器であ
る。
【0026】3は加算器であり、増幅器1が出力する信
号Si'と後述する加算信号Saddとを加算する。また、
4は比較器である。図2は比較器4の詳細な構成を示す
回路図である。図2に示すように、比較器4は一例とし
て差動増幅器41から構成されており、加算器3の出力
と別に入力される上限基準電圧VRupとを比較し、この比
較結果である比較信号Scompをデータ処理器5に供給す
る。なおこの上限基準電圧VRupの値は、一例として測定
単位に相当する電圧値の1/2の大きさに設定される。
【0027】上述のデータ処理器5(図1参照)は、判
定部10と演算部11、ならびに記憶部12および制御
部13等から構成されており、制御部13がデータ処理
器5を構成する各部を制御して測定動作を行う。
【0028】判定部10は、比較信号Scompが如何なる
状態であるかを判定する。また演算部11は、判定部1
0の判定結果に基づいて加算データDaddを演算すると
ともに、さらにこの加算データDaddに基づいて測定結
果を演算する。
【0029】記憶部12は、演算部11が出力する加算
データDaddを記憶する。制御部13は、記憶部12に
記憶されている加算データDaddを読み出し、加算信号生
成器2に設定する。加算信号生成器2は、この加算デー
タDaddに基づいて加算信号Sa ddを生成し、加算器3に
供給する。
【0030】図3は、加算信号生成器2の構成例を示す
ブロック図である。図3に示すように、加算信号生成器
2は、基準信号源21と乗算回路22、および加算回路
23ならびに2倍反転増幅回路24とから構成されてい
る。
【0031】基準信号源21は、加算信号生成用基準信
号を乗算器22と加算器23とに供給する。乗算器22
は、基準信号源21から供給される加算信号生成用基準
信号と加算データDaddとを乗算し、2倍反転増幅回路
24に供給する。
【0032】2倍反転増幅回路24は、乗算回路22の
出力信号に基づいて、2倍の反転信号を生成し、加算回
路23に供給する。こうして加算回路23は、加算信号
生成用基準信号と2倍反転増幅回路24の出力信号とを
加算し、加算信号Saddを出力する。
【0033】なお図3に示す構成例では、加算信号生成
用基準信号と2倍反転増幅回路24の出力信号とを加算
することで、正負両方の加算信号Saddを作り出すことが
できる。
【0034】以下に、本実施の形態による動作を説明す
る。図4は、比較信号Scompの各状態によって、判定部
10から出力される判定結果を示す図である。また図5
は、本実施の形態における処理の手順を示すフローチャ
ートである。本実施の形態では、データ処理器5に制御
信号Scntが入力されると(ステップSa1)、制御部1
3はまず最小の加算データDaddを加算信号生成器2に
設定し(ステップSa2)、加算信号生成器2はこれに
基づいて加算信号Saddを作り出す。
【0035】加算器3は、加算信号Saddと増幅器1が出
力する信号Si'とを加算して比較器4に供給し、これに
よって比較器4からは比較信号Scompが出力される。デ
ータ処理部5はこの比較信号Scompを取り込み(ステッ
プSa3)、判定部10が図4に示す表に基づいて、取
り込んだ比較信号Scompが上限基準電圧VRu pより大き
いか否かを判定する(ステップSa4)。
【0036】ステップSa4においてデータ処理部5
は、比較信号Scompが上限基準電圧V Rupより小さい場
合には、まず記憶部12から加算データDaddを読み出
し(ステップSa5)、次にこの加算データDaddを増
加させ(ステップSa6)、この加算データDaddを再び
記憶部12に書き込む(ステップSa7)。
【0037】この後データ処理部5は、増加させた加算
データDaddを加算信号生成器2に設定し(ステップS
a8)、ステップSa3の処理に戻る。なお制御部13
は、予め設定される測定単位によって決定される値ずつ
加算データDaddを増加させる。また記憶部12には、
増加前の加算データDaddと増加後の加算データDadd
が記憶される。
【0038】一方上述のステップSa4において、比較
信号Scompが上限基準電圧VRupより大きい場合には、
記憶部12から、上述した増加前の加算データDaddを読
み出し(ステップSa9)、演算部11によって予め設
定された演算式に基づいて演算する(ステップSa1
0)。この演算によって、測定結果が得られる。
【0039】即ちこの実施の形態では、入力信号の値を
測定可能な範囲の値に変換する処理のみで、測定値を得
ることができる。なおこの実施の形態では、図1あるい
は図2に示す上限基準電圧VRupの代わりに下限基準電
圧を用いても、上述同様の比較信号Scompが得られる。
【0040】図6は比較器4の別の構成を示す回路図で
ある。図5に示す構成では、例として比較器4は差動増
幅器41aと差動増幅器41bの2つを有している。こ
の差動増幅器41aの非反転入力端子と差動増幅器41
bの反転入力端子とに、加算器3の出力が入力される。
【0041】また、差動増幅器41aの反転入力端子に
は上限基準電圧VRupが入力され、差動増幅器41bの非
反転入力端子には下限基準電圧VRlwが入力されてい
る。即ち、差動増幅器41aは上限基準電圧VRupと加算
器3の出力とを比較して上限比較信号Scompuを出力
し、差動増幅器41bは下限基準電圧VRlwと加算器3
の出力とを比較して下限比較信号Scomplを出力し、これ
らが比較信号Scompとしてデータ処理器5に供給され
る。
【0042】図7は、比較信号Scompの各状態によっ
て、判定部10から出力される判定結果を示す図であ
る。図7に示すように本実施の形態では、加算器3の出
力が下限基準電圧VRlwよりも小さい場合には下限比較
信号Scomplが“H”(ハイレベル)、上限比較信号S
compuが“L”(ローレベル)となる。一方、加算器3
の出力が上限基準電圧VR upより大きい場合には上限比
較信号Scompuが“H”、下限比較信号Scomplが“L”
となる。また上限基準電圧VRupと下限基準電圧VRlw
は、その差が測定単位に相当する電圧値と等しくなるよ
うに設定される。
【0043】図8は、本実施の形態において図6に示す
比較器4を用いた場合の処理の手順を示すフローチャー
トである。図8において、まずデータ処理器5に制御信
号Scntが入力されると(ステップSb1)、制御部13
は加算データDaddを加算信号生成器2に設定し(ステ
ップSb2)、これによって加算信号生成器2からは加
算信号Saddが出力される。さらに加算器3は信号Si'
と加算信号Saddとを加算して比較器4に供給し、比較器
4において上限比較信号Scompuと下限比較信号Scompl
とが作り出される。
【0044】次に、データ処理部5は上限比較信号S
compuと下限比較信号Scomplと(比較信号Scomp)を取
り込む(ステップSb3)。ここでデータ処理部5は判
定部10によって、上限比較信号Scompuと下限比較信
号Scomplの両方が“H”であるか否かを確認し(ステ
ップSb4)、両方が“H”であれば異常が発生したと
判断して処理を終了する。
【0045】この後、データ処理部5は下限比較信号S
complが“H”であるか否かを確認する(ステップSb
5)。ここで下限比較信号Scomplが“H”であった場合
には、まず記憶部12から加算データDaddを読み出
し、(ステップSb6)、次にこの加算データDaddを増
加させ(ステップSb7)、この加算データDaddを再
び記憶部12に書き込む(ステップSb8)。この後デ
ータ処理部5は、ステップSb2の処理に戻る。
【0046】ステップSb5において下限比較信号S
complが“H”でなかった場合、データ処理部5は上限比
較信号Scompuが“H”であるか否かを確認する(ステッ
プSb9)。
【0047】ここで下限比較信号Scompuが“H”であ
った場合には、まず記憶部12から加算データDadd
読み出し、(ステップSb10)、次にこの加算データ
addを減少させ(ステップSb11)、この加算データ
addを再び記憶部12に書き込む(ステップSb1
2)。この後データ処理部5は、ステップSb2の処理
に戻る。
【0048】なお、上述のステップSb7あるいはSb
11において増加あるいは減少する加算データDadd
値は、予め測定単位によって決定される。データ処理部
5が上述の処理を繰り返すことで、加算器3の出力は上
限基準電圧VRupと下限基準電圧VRlwとの間に収束す
る。従って、ステップSb5において下限比較信号S
complが“L”となり、ステップSb9においても上限比
較信号Scompulが“L”となる。
【0049】ここでデータ処理部5は記憶部12から加
算データDaddを読み出し(ステップSb13)、この加
算データDaddをあらかじめ定められた演算式に従って
演算する(ステップSb14)。これにより、測定結果
が得られる。
【0050】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、加算手段が被測定入力信号と、当該被測定入力信号
の値を変換するための加算信号とを加算し、比較手段が
前記加算手段の出力と予め設定される基準値とを比較
し、処理手段が前記加算手段の出力の値を前記基準値ま
で変化させるとともに前記測定入力信号の値を演算す
る。この前記基準値は上限基準値であり、前記処理手段
は前記加算手段の出力の値が前記上限基準値に達するま
で、前記加算信号の値を予め設定される所定の値ずつ増
加させ、または前記基準値は下限基準値であり、前記処
理手段は前記加算手段の出力の値が前記下限基準値に達
するまで、前記加算信号の値を予め設定される所定の値
ずつ減少させる。
【0051】あるいは加算手段が被測定入力信号と、当
該被測定入力信号の値を変換するための加算信号とを加
算し、比較手段が前記加算手段の出力と予め設定される
上限基準値ならびに下限基準値とを比較し、処理手段が
前記加算手段の出力の値を前記上限基準値と前記下限基
準値との間の値に収束するまで前記加算信号の値を予め
設定される所定の値ずつ増減させるとともに前記測定入
力信号の値を演算するので、構成が簡単で、製造コスト
の低い電気マイクロメータが実現可能であるという効果
が得られる。
【0052】即ち本発明による電気マイクロメータは、
加算データより加算信号を作り出す加算信号生成器を設
け、測定結果を求める演算に加算データを使用するた
め、電気マイクロメータの制御が1段階にできる。
【0053】また、増幅器により増幅された信号と加算
信号とを加算器で加算した結果作り出される信号を、あ
らかじめ定められた基準電圧と比較する比較器を設けた
ため、A/D変換器が不要になり、安価に装置が構成で
きる。
【0054】さらに、予め定められた2つの基準と加算
器の出力とを比較する回路構成の比較器を使用した場
合、2つの比較結果から、加算器の出力あるいは比較器
の異常を検出できるという効果をも有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施の形態にかかる電気マイクロ
メータ6の構成を示すブロック図である。
【図2】 同実施の形態における、比較器4の詳細な構
成を示す回路図である。
【図3】 同実施の形態における、加算信号生成器2の
構成例を示すブロック図である。
【図4】 同実施の形態における、比較信号Scompの各
状態によって、判定部10から出力される判定結果を示
す図である。
【図5】 同実施の形態における、処理の手順を示すフ
ローチャートである。
【図6】 本発明における、比較器4の別の構成を示す
回路図である。
【図7】 図6に示す構成における、比較信号Scomp
各状態によって、判定部10から出力される判定結果を
示す図である。
【図8】 本発明において、図6に示す比較器4を用い
た場合の処理の手順を示すフローチャートである。
【図9】 従来技術による電気マイクロメータの構成の
一例を示すブロック図である。
【図10】 従来の電気マイクロメータにおける、処理
の手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
3 加算器(加算手段) 4 比較器(比較手段) 5 データ処理器(処理手段) Sadd 加算信号 VRup 上限基準電圧(上限基準値) VRlw 下限基準電圧(下限基準値)

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定入力信号と、当該被測定入力信号
    の値を変換するための加算信号(Sadd)とを加算する加
    算手段(3)と、 前記加算手段の出力と予め設定される基準値とを比較す
    る比較手段(4)と、 前記加算手段の出力の値を前記基準値まで変化させると
    ともに前記測定入力信号の値を演算する処理手段(5)と
    を具備することを特徴とする電気マイクロメータ。
  2. 【請求項2】 前記基準値は上限基準値(VRup)であ
    り、 前記処理手段は前記加算手段の出力の値が前記上限基準
    値に達するまで、前記加算信号の値を予め設定される所
    定の値ずつ増加させることを特徴とする請求項1に記載
    の電気マイクロメータ。
  3. 【請求項3】 前記基準値は下限基準値(VRlw)であ
    り、 前記処理手段は前記加算手段の出力の値が前記下限基準
    値に達するまで、前記加算信号の値を予め設定される所
    定の値ずつ減少させることを特徴とする請求項1に記載
    の電気マイクロメータ。
  4. 【請求項4】 被測定入力信号と、当該被測定入力信号
    の値を変換するための加算信号とを加算する加算手段
    と、 前記加算手段の出力と予め設定される上限基準値ならび
    に下限基準値とを比較する比較手段と、 前記加算手段の出力の値を前記上限基準値と前記下限基
    準値との間の値に収束するまで前記加算信号の値を予め
    設定される所定の値ずつ増減させるとともに前記測定入
    力信号の値を演算する処理手段とを具備することを特徴
    とする電気マイクロメータ。
  5. 【請求項5】 前記上限基準値あるいは前記下限基準値
    の大きさが、測定単位に相当する電圧値の1/2と等し
    いことを特徴とする請求項2ないし請求項4の何れかに
    記載の電気マイクロメータ。
  6. 【請求項6】 前記上限基準値と前記下限基準値の差が
    測定単位に相当する電圧値と等しいことを特徴とする請
    求項4に記載の電気マイクロメータ。
  7. 【請求項7】 前記比較器は、 前記加算器の出力の値と前記上限基準値とを比較すると
    ともに前記加算器の出力の値と前記下限基準値とを比較
    して、比較信号として上限比較信号と下限比較信号とを
    出力し、 前記処理手段は、 前記上限比較信号の状態と前記下限比較信号の状態とに
    基づいて前記比較信号の異常あるいは前記比較手段の異
    常を検出することを特徴とする請求項4に記載の電気マ
    イクロメータ。
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