JPH10325754A - 走査モノクロメータ - Google Patents

走査モノクロメータ

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JPH10325754A
JPH10325754A JP10169284A JP16928498A JPH10325754A JP H10325754 A JPH10325754 A JP H10325754A JP 10169284 A JP10169284 A JP 10169284A JP 16928498 A JP16928498 A JP 16928498A JP H10325754 A JPH10325754 A JP H10325754A
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light beam
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monochromator
optical fiber
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Kenneth R Wildnauer
ケネス・リチャーズ・ウイルドナウア
James R Stimple
ジェイムズ・ロイ・スチンプル
John D Knight
ジョン・ダグラス・ナイト
Joseph N West
ジョゼフ・エヌ・ウエスト
Barry G Broome
バリー・ジー・ブルーム
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Abstract

(57)【要約】 【課題】モノクロメータの精度を高める。 【解決手段】入力光ビームを分散するための第1の回折
格子と該第1の回折格子を回転する手段とを備え、第1
段出力光ビームを与えるための第1段モノクロメータ
と、前記第1段出力光ビームを分散するための第2の回
折格子と該第2の回折格子を回転する手段とを備え、該
第2の回折格子により前記第1段出力光ビームを再結合
して第2段出力光ビーム与えるための第2段モノクロメ
ータの間に,前記第1段出力光ビームの偏光成分を回転
して前記第2の回折格子に入力せしめ、前記第2段出力
光ビームを前記入力光ビームの偏光に依存しないように
するための偏光回転手段を設けた。また、前記第2段出
力光ビームを入力して,該第2段出力光ビームの所定の
部分を濾波して通過せしめ、選択度を高めて該走査モノ
クロメータの隣接ダイナミック・レンジを広げるための
出力アパーチャが備えられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の技術分野】本発明は、光学分光分析器に関する
ものであり、とりわけ、光ファイバ入力と光ファイバ出
力を備えた走査モノクロメータを利用し、偏光に反応せ
ず、感度が高く、ダイナミック・レンジの広い分光分析
を可能にする技術に関するものである。
【0002】
【従来技術とその問題点】分光分析器は、レーザ、発光
ダイオード(LED)、及び、他の光源からの出力光ビ
ームの分析に利用される。分光分析器は、とりわけ、光
搬送波に、単一で、分光的に純粋な波長が備わっている
ことを確かめることが望ましい、光遠隔通信の光源を分
析するのに有効である。分光分析器の場合、低周波に用
いられるスペクトル分析器のように、光の強さが、所定
の波長範囲における波長の関数として表示される。分光
分析器の重要なパラメータには、波長範囲、波長及び振
幅の確度、分解能、測定速度、偏光依存度、感度、及
び、ダイナミック・レンジが含まれる。ここで用いられ
るダイナミック・レンジは、「隣接(close−i
n)」ダイナミック・レンジを表しており、大振幅信号
から0.5〜1.0ナノメートルの波長だけ隔てられた
小振幅の光信号を測定する計器の能力に関する尺度であ
る。このパラメータは、DFBレーザのようなレーザの
スペクル純度を分析する上において特に重要である。
【0003】分光分析器に関する先行技術の技法には、
マイケルソン干渉計、ファブリー・ペロー干渉計、及
び、入力光ビームの空間分散についてプリズムまたは回
折格子を利用するモノクロメータが含まれている。マイ
ケルソン干渉計は、不十分なダイナミック・レンジ及び
低速動作を特徴とする。ファブリー・ペロー干渉計は、
分解能が高いが、光共振器のマルチ・モード性によって
生じる問題を有している。
【0004】回折格子を備えたモノクロメータの場合、
分析すべき入力光ビームは、平行化され、回折格子に向
けられる。異なる波長が異なる角度で回折されるので、
光ビームは、回折格子によって空間的に分散する。回折
格子は、回転し、分散光ビームは、スリット越しに走査
される。スリットを通過する光を検出して、波長の関数
として振幅を表す出力信号が送り出される。スリットの
幅、入力イメージのサイズ、システムのFナンバー、及
び、回折格子の分散によって、モノクロメータの分解能
が設定される。
【0005】分光分析器に、回折格子を備えた単段モノ
クロメータが用いられてきた。単段モノクロメータは、
比較的低コストで、高感度であるが、比較的ダイナミッ
ク・レンジが狭い。さらに、単段モノクロメータは、出
力光ファイバを備えており、この光ファイバのアパーチ
ャが、観測可能な光帯域幅を制限する。単段モノクロメ
ータに固有のもう1つの問題は、出力光検出器の有効ア
パーチャは、最大分解能帯域幅と同じでなければならな
いということである。検出器が大きくなると、検出器の
出力における迷光パワー及びノイズ量が増大する。最後
に、単段モノクロメータに生じる固有の時間分散は、観
測可能な変調の帯域幅を制限する。
【0006】回折格子を備えた2段モノクロメータによ
って、単段モノクロメータの欠点のいくつかが解消され
たが、他の問題が生じることになった。2段モノクロメ
ータには、第1のモノクロメータと直列をなす第2のモ
ノクロメータが含まれている。2段モノクロメータは、
比較的広いダイナミック・レンジをもたらすが、単段モ
ノクロメータに比べて10dB〜15dB感度が低くな
る。さらに、第1と第2の段における回折格子間の正確
な同期が困難であり、段間の光結合も困難になる可能性
がある。例えば、段間の結合に光ファイバを用いる場
合、分解能の帯域幅が、光ファイバによって制限され
る。さらに、2段モノクロメータは、比較的複雑であ
り、高価である。
【0007】回折格子の効率は、入射光の偏りによって
決まる。結果として、回折された光ビームの振幅は、振
幅は一定しているが、偏りの異なる入力光ビームに関し
て変動する可能性がある。従って、分光分析器は、偏光
感度を抑えるか、あるいは、排除する補償技法を必要と
する。先行技術による補償技法には、偏光スクランブリ
ングを施すこと、及び、入力光ビームを2つの偏光に空
間的に分離し、各偏光を利得の異なる増幅器に印加して
別個に分析することが含まれた。
【0008】先行技術の1つでは、入力光ビームは、回
折格子によって決まるs及びp偏光に対し45゜の配向
をなす、2つの空間的に分離した直線偏光に分離され
る。この結果、両方のビームに関する平均効率が得られ
る。先行技術による既知の偏光補償技法は、全て、光ビ
ームを出力光ファイバに結合する場合に加わる複雑さ及
び困難さを含めて、1つ以上の欠点を備えている。
【0009】モノクロメータの走査に関連したもう1つ
の問題は、出力光ビームを光ファイバに結合するのが困
難という点である。とりわけ、回折格子の走査に関連し
た機械的公差によって、回折格子の回転時に、出力ビー
ムにふらつきが生じ、従って、出力ビーム位置は、波長
の関数として変化する。先行技術によるシステムの1つ
では、選択された波長範囲の変更時には、手動による機
械的調整が必要になる。先行技術によるもう1つのシス
テムでは、波長範囲の変更時に、ユーザが機械的調整ル
ーチンを開始しなければならない。いずれの場合にも、
測定の波長パラメータを変更する毎に、アライメントが
必要になる。
【0010】米国特許第3749498号明細書(19
73)に開示された走査モノクロメータは入力光ビーム
を形成するための入力スリットを有する光源と第1の回
折格子を有する第1段モノクロメータ、第2の回折格子
を有する第2段モノクロメータを備えている。
【0011】特開昭57−69221号公報に開示され
たモノクロメータは2段構成で、2つの回折格子と該回
折格子を回転させるための手段を備えている。
【0012】
【発明の目的】本発明の一般的な目的は、改良された分
光分析器を提供することにある。
【0013】本発明のもう1つの目的は、改良されたモ
ノクロメータを提供することにある。
【0014】本発明のもう1つの目的は、単一回折格子
を利用した二重通過型走査モノクロメータを提供するこ
とにある。
【0015】本発明のさらにもう1つの目的は、入力光
ビームの偏りには比較的反応を示さない走査モノクロメ
ータを提供することにある。
【0016】本発明のもう1つの目的は、回折格子の回
転時に、出力光ファイバが自動的に出力光ビームのトラ
ッキングを行うようにした、走査モノクロメータを提供
することにある。
【0017】本発明のさらにもう1つの目的は、ダイナ
ミック・レンジが広く、感度の高い走査モノクロメータ
を提供することにある。
【0018】本発明のさらにもう1つの目的は、製造し
やすく、低コストな分光分析器を提供することにある。
【0019】
【発明の概要】本発明によれば、光ビームを分析するた
めの方法及び装置において、以上の及びその他の目的及
び利点が達成される。本発明による二重通過型走査モノ
クロメータは、入力光ビームを発生するための手段と、
分散軸に沿って入力光ビームを回折し、空間的に分散し
た光ビームを発生する回折格子と、分散光ビームの選択
部分を通過させて、濾波された光ビームを発生するため
のスリットと、回折格子を回転させて、分散光ビームが
分散軸に沿って走査されるようにするための手段と、濾
波された光ビームを回折格子に向け、濾波された光ビー
ムが、回折格子によって再結合されて、出力光ビームが
発生するようにするための手段と、出力光ビームを受け
るための出力アパーチャから構成される。入力光ビーム
を発生する手段は、入力光ファイバから構成するのが望
ましい。出力アパーチャは、出力光ファイバから構成す
るのが望ましい。
【0020】分光分析器として動作する場合、出力光フ
ァイバは、出力光ビームを出力電気信号に変換する光検
出器に接続される。出力電気信号は、回折格子の回転と
同期して、波長の関数として光振幅の表示を行う。代替
案として、二重通過型走査モノクロメータを光フィルタ
として利用することも可能である。この場合、出力光ビ
ームは、ユーザが必要とする用途に合わせて出力コネク
タに結合される。
【0021】二重通過型走査モノクロメータには、一般
に、回折格子に対する入射前に、入射光ビームを平行化
して、分散光ビームの焦点をスリットまたはその近くに
合わせ、また、回折格子に対する入射前に、濾波された
光ビームを平行化して、出力光ファイバの入力端または
その近くに出力光ビームの焦点を合わせるための光手段
が含まれている。光手段は、単一レンズで構成するのが
望ましい。分析すべき光ビームは、二重通過型走査モノ
クロメータにおいて4回レンズを通過する。代替案とし
て、光手段は、光ビームの焦点を合わせ、その平行化を
行うための単一凹面鏡または2つ以上の凹面鏡で構成す
るか、あるいは、異なるレンズ構成で構成することも可
能である。
【0022】本発明の望ましい実施例の場合、入力光ビ
ーム及び分散光ビームは、レンズの光軸の両側に第1の
等距離だけ変位し、濾波された光ビーム及び出力光ビー
ムは、レンズの光軸の両側に第2の等距離だけ変位す
る。入力光ビーム、分散光ビーム、濾波された光ビー
ム、及び、出力光ビームの中心光線は、同一平面内に位
置するのが望ましい。
【0023】本発明の重要な特徴によれば、二重通過型
走査モノクロメータには、分散光ビームまたは濾波され
た光ビームの偏光成分を約90度回転させる手段が含ま
れていることが望ましい。回折格子によって生じる、モ
ノクロメータを通る光の偏光成分は、回折格子に対する
光ビームの最初の入射時後、及び、回折格子に対する光
ビームの第2の入射前に、90゜回転する。光ビームの
偏光成分が回転することによって、回折格子の効率が、
入射光ビームの偏りに応じて変動することになる。結果
として、出力光ビームの振幅は、入射光ビームの振幅と
はほぼ無関係になる。2段モノクロメータの第1段と第
2段の間において、偏光成分を約90゜回転させる手段
を利用し、回折格子の偏光依存性を補償することができ
る。
【0024】本発明のもう1つの特徴によれば、二重通
過型走査モノクロメータには、出力光ファイバまたは他
の出力アパーチャと出力光ビームの間で相対運動を生じ
させ、出力アパーチャが、回折格子の回転時に、出力光
ビームとアライメントのとれた状態に保たれるようにす
る手段を備えることが望ましい。相対運動を生じさせる
手段は、出力光ビームに垂直な平面において出力光ファ
イバを並進させ、回折格子の回転時に、出力光ビームの
トラッキングを行う手段から構成することが望ましい。
並進手段は、たわみ板と線形アクチュエータを利用し
て、並進を制御する微細位置決めアセンブリから構成す
ることが望ましい。微細位置決めアセンブリは、回折格
子の位置の関数として出力光ビームのふらつきを生じさ
せる可能性のある、光路における機械的公差及び非対称
性を補償する。出力光ファイバを並進させる手段は、走
査モノクロメータのいずれにおいて利用することができ
る。
【0025】回折格子を回転させる手段は、回折格子に
しっかり固定されて、回転軸を形成する駆動シャフト
と、回転軸まわりで駆動シャフトを回転させるモータか
ら構成するのが望ましい。本発明のもう1つの特徴によ
れば、モノクロメータには、直接駆動シャフトに接続さ
れて、駆動シャフトの回転位置を検知する手段と、検知
された回転位置及び掃引信号に応答し、モータの制御を
行うフィードバック手段が含まれている。検知手段は、
高分解能のシャフト角度エンコーダから構成するのが望
ましい。直接接続されたシャフト角度エンコーダを利用
することによって、ギヤ・ドライブに関連した位置エラ
ーが解消される。モータは、駆動シャフトに直接接続し
て、高速走査を可能にすることが望ましい。回折格子及
び直接接続されたシャフト角度エンコーダの直接駆動を
走査モノクロメータに利用することによって、走査速度
を増し、位置エラーを減少させることが可能になる。
【0026】本発明のもう1つの特徴によれば、二重通
過型走査モノクロメータには、出力光ファイバまたは他
の出力アパーチャと出力光ビームの間における相対変位
を生じさせて、光検出器の出力電気信号が該モノクロメ
ータの迷光及び光検出器によって発生する電気的ノイズ
だけを表すようにする手段を設けることが望ましい。出
力アパーチャは、光チョッピング手順の一部として、出
力光ビームに対して変位させられる。
【0027】本発明のもう1つの特徴によれば、出力ア
パーチャを備えたモノクロメータの出力光ビームを正確
に検出するための方法が得られる。該方法は、出力アパ
ーチャと出力光ビームのアライメントを正確にとって、
モノクロメータの出力を検出し、第1の測定値が得られ
るようにするステップと、出力アパーチャを出力光ビー
ムに対して変位させ、出力光ビームが出力アパーチャに
はもはや入射しないようにするステップと、出力アパー
チャを出力光ビームから変位させて、モノクロメータの
出力を検出し、第2の測定値が得られるようにするステ
ップと、第1の測定値から第2の測定値を引いて、出力
光ビームの正確な測定値が得られるようにするステップ
から構成される。光チョッピング技法は、任意の走査モ
ノクロメータに利用することが可能である。
【0028】本発明のさらにもう1つの特徴によれば、
回転回折格子及び出力アパーチャを備えたモノクロメー
タの出力光ビームをインターセプトする方法が得られ
る。この方法は、回折格子の回転時に、出力アパーチャ
に対する出力光ビームの位置を測定して、校正値が得ら
れるようにするステップと、この校正値に応答して、出
力アパーチャと出力光ビームの間に相対運動を生じさ
せ、出力光ビームと出力アパーチャが、回折格子の回転
中、アライメントのとれた状態に保たれるようにするス
テップから構成される。
【0029】
【実施例の詳細な説明】図1には、本発明による二重通
過型走査モノクロメータが絵画図法で示されている。図
2には、該モノクロメータの望ましい実施例が示されて
いる。入力光ファイバ10は、レンズ14を介して入力
光ビーム12を回折格子16に導く。入力光ファイバ1
0は、システムの入力スリットまたはアパーチャの働き
をする。回折格子16は、入力光ビーム12を回折し
て、空間的に分散した光ビーム20が得られるようにす
る。回折格子16は、周知のように、異なる角度で、異
なる波長の回折を行うので、入力光ビーム12は、空間
的に分離されて、その成分波長が得られることになる。
【0030】空間的に分散した光ビーム20が、レンズ
14を通過し、ミラー22に反射されて、モノクロメー
タの分解能を決めるスリット24を備えた窓板23に送
られる。分散した光ビーム20は、レンズ14によっ
て、スリット14の面に焦点が合わせられる。スリット
24は、分散した光ビーム20の選択部分を通過させ
る。後述のように、幅の異なるスリット24を利用する
ことによって、異なる分解能が得られる。スリット24
は、分散した光ビームに対する空間フィルタの働きを
し、濾波された光ビーム30を発生する。スリット24
において、入力光ビームの波長の分散と時間の分散の両
方が生じる。
【0031】濾波された光ビーム30は、ミラー26を
介して反射し、半波長板32及びレンズ14を介して、
回折格子16に送られる。濾波された光ビーム30は、
回折格子16に入射する前に、レンズ14によって平行
化される。濾波された光ビーム30は、回折格子16に
送られ、時間分散と波長分散が、両方とも、回折格子に
よって収縮し、出力光ビーム36が形成される。出力光
ビーム36は、ミラー40によって反射され、出力光フ
ァイバ42の入力端に送られる。出力光ファイバ42
は、二次、すなわち、出力アパーチャとして、光にさら
に濾波を施す働きをする。出力光ビーム36は、光ファ
イバ42によって光検出器46に送られ、出力電気信号
に変換される。出力電気信号は、増幅器48によって増
幅される。
【0032】二重通過型モノクロメータは、出力光ファ
イバを利用するのが望ましいが、二重通過型モノクロメ
ータは、光ファイバ42の入力端と同じ位置に取り付け
られた小形検出器で構成することが可能である。代替案
として、光ファイバ42の入力端と同じ位置に、スリッ
トまたはピン・ホール・アパーチャを備えた大形検出器
を取り付けることも可能である。
【0033】回折格子16は、回転軸50のまわりで回
転し、スリット24に対する空間的に分散した光ビーム
20の走査が行えるようにする。回転軸50は、走査方
向が、分散軸と同じになるように選択される。スリット
24を通る光は、入力光ビーム12の選択波長範囲の走
査を行う。スリット24の幅は、システムの分解能を決
めることになる。狭いスリットを用いることによって、
入力光ビームの狭い波長帯域が、選択される。しかしな
がら、狭いスリットを通る光のパワーは小さく、弱い光
ビームの場合、検出器の感度レベル未満になる可能性が
ある。スリットを広くすると、通過する光のパワーが大
きくなる。しかし、分散光ビームの選択部分が増すの
で、波長の分解能が低下する。
【0034】図1に示すモノクロメータは、光ビームが
回折格子16に2回入射し、レンズを4回通過するの
で、二重通過型モノクロメータとしての特徴を示してい
る。最初に通過するのは、回折格子16に入射する入力
光ビーム12と、スリット24に入射する空間的に分散
した光ビーム20である。スリット24を通る光は、実
際上、最初の通過における出力である。2回目に通過す
るのは、回折格子16に入射する濾波された光ビーム3
0と、出力光ファイバ42に入射する出力光ビーム36
である。ミラー22は、分散光ビーム20に対して、4
0.3゜の配向が施されており、ミラー26は、濾波さ
れた光ビーム30に対して、49.7゜の配向が施され
ている。ミラー22及び26の機能は、2回目の回折格
子通過のために、光の方向を逆にし、光ビーム30を光
ビーム20からオフセットさせることである。半波長板
によって生じる光路長の変化に対処するため、ミラー2
2及び26を45゜以外の角度に配置し、光ビームがわ
ずかに角度をつけて、スリット24に当たり、反射が阻
止され、また、第2の通過の物理的光路長が増すように
する。スリット24を形成する窓板23が、ミラー22
と26の間に配置されるが、もちろん、他の構成を用い
ることも可能である。
【0035】回折格子16の分散面に対するミラー22
と26の配向のため、光ビームが回折格子16に入射す
る2回目には、光ビームをさらに分散させるのではな
く、最初の通過時に生じた時間分散及び波長分散を、両
方とも、収縮させるように、光ビームの方向づけが行わ
れる。時間分散及び波長分散の収縮は、回折格子が繰り
返し動作可能になることから明らかになる。従って、多
くの波長からなる白色光によって回折格子を照射する
と、該光は、回折格子によってさまざまな角度で回折ま
たは拡散される。同じ光が、回折格子によって回折され
るのと同じ角度で反射される場合、その光は、回折格子
によって再結合され、もとの白色光になる。従って、回
折された光は、最初の通過時に、回折格子16によって
空間的に拡散し、2回目の通過時に回折格子によって空
間的に再結合される。システムに収差がなければ、その
光は、もとの入力スポット・サイズに結像する。光ファ
イバ42の入力端において、出力光ビーム36は、定位
置にとどまり、モノクロメータに生じる空間分散及び走
査にもかかわらず、空間的に再結合される。
【0036】図5には、図1のモノクロメータの各種光
ビームの相対位置が示されている。X軸とY軸は、レン
ズ14の光軸54に対して垂直な方向を表している。図
5に示すX−Y座標系の原点が、レンズの軸54であ
る。図5に示すスポットは、各光ビームの中心光線を表
していることが分かる。入力光ビーム12は、レンズの
軸54の一方の側において距離Aだけ変位し、分散光ビ
ーム20は、レンズの軸54のもう一方の側において等
しい距離Aだけ変位する。同様に、濾波された光ビーム
30は、レンズの軸54の一方の側において距離Bだけ
変位し、出力光ビーム36は、レンズの軸54のもう一
方の側において距離Bだけ変位する。望ましい実施例の
場合、距離Aは、1.1ミリメートル、距離Bは、4.
3ミリメートルである。4つの光ビームが、図5に示す
線形構成による異なるパターンをなすように、二重通過
型モノクロメータを構成することができるのは明らかで
ある。例えば、4つの光ビームを正方形または平行四辺
形のコーナに位置決めすることが可能である。
【0037】図5において、ライン56は、分散軸を表
している。入力光ビーム12の異なる波長成分は、回折
格子16によって分散軸56に沿って空間的に分散され
る。また、回折格子16が軸50のまわりを回転する
と、分散光ビーム20は、分散軸56に沿って移動し、
スリット24越しに走査される。光ビーム20は、軸5
6に沿って空間的に分散し、分散軸56に沿って走査を
受けるが、出力光ビーム36は、上述のように、2回目
の通過時における回折格子16による光ビーム成分の再
結合の結果、一定の位置を保つことになる。
【0038】図1の二重通過型モノクロメータにおい
て、レンズ14は、回折格子16に対する入射前に、入
力光ビーム12を平行化し、分散光ビーム20の焦点を
スリット24またはその近くに合わせ、回折格子16に
対する入射前に、濾波された光ビーム30を平行化し、
出力光ビーム36の焦点を出力ファイバ42の入力端ま
たはその近くに合わせる。従って、分析すべき光は、モ
ノクロメータを横切る際、レンズを4回通過し、平行化
及び焦点合わせ機能は、単一レンズによって実施され
る。平行化及び焦点合わせ機能は、明らかに、単一の凹
面鏡または2つ以上の凹面鏡によって実施することがで
きるのが有利である。代替案として、凹面回折格子を利
用することも可能である。凹面回折格子の場合、平行化
及び焦点合わせ光装置は不要である。
【0039】出力光ビーム36の焦点が、光ファイバ4
2の入力端に合わせられる。光ファイバ42は、二重通
過型モノクロメータの2回目の通過に関して、アパーチ
ャの働きをする。モノクロメータの1つの例では、光フ
ァイバ42は、コアの直径が62.5マイクロメートル
である。本発明の範囲内において、直径の異なる出力光
ファイバを用いることが可能である。スリット24は、
二重通過型モノクロメータの最初の通過に関して、アパ
ーチャの働きをする。光ファイバ42のスリット24及
びアパーチャは、共に、2極フィルタと等価な光装置を
形成し、選択性が増すことになる。
【0040】本発明の二重通過型モノクロメータ及び単
段モノクロメータによって得られる選択性の比較が、図
6に示されている。出力振幅は、モノクロメータの光入
力の波長の関数として作図されている。曲線85は、先
行技術による単段モノクロメータを表している。曲線8
6は、本発明の二重通過型モノクロメータを表してい
る。二重通過型モノクロメータの選択性が増すと、「隣
接」ダイナミック・レンジが広くなる。
【0041】本発明のモノクロメータ構成の利点は、光
ファイバ42によって形成される出力アパーチャが、ス
リット24の異なる幅に対して一定に保たれる点であ
る。従って、光検出器46は、極めて小さい入力アパー
チャ、及び、極めて低いノイズ・レベルを備えることが
できる。光検出器46のアパーチャは、モノクロメータ
の分解能設定を変えても一定に保たれる。
【0042】図1を再度参照すると、半波長板32は、
回折格子によって決まる、濾波された光ビーム30の偏
光成分を90゜回転させる。半波長板32の目的は、回
折格子16が、一般に、それに入射する光の偏りに応じ
て変動する効率を有しているという事実を補償すること
にある。これに関して、効率は、入射波の強さに対する
回折波の強さを表している。偏光を補償しなければ、出
力光ビーム36の強さは、入力光ビーム10の強さが一
定であったとしても、入力光ビーム10の偏りの関数と
して変動する。
【0043】最初の通過と第2の通過の間において、モ
ノクロメータを通る光の偏光成分を90゜回転させるこ
とによって、偏光は、最初の通過と第2の通過時におけ
る効率が異なるように回折される。回折格子16からの
最初の回折時に、垂直方向において偏った光は、s偏光
に関するある効率で回折され、水平方向において偏った
光は、p偏光に関するある効率で回折される。入力光ビ
ームには、垂直方向と水平方向に偏った成分(いずれ
も、ゼロの可能性がある)があるのは明らかである。光
ビームが半波長板32を通過した後、垂直成分は、回転
すると、水平成分になり、水平成分は、回転すると、垂
直成分になる。回折格子16からの第2の回折時には、
半波長板32による回転のため、光がp方向に向けられ
るので、もとの垂直成分は、p偏光に関する効率で回折
される。同様に、もとの水平成分は、s偏光に関する効
率で回折される。従って、任意の入力偏光について、モ
ノクロメータの最終光出力は、回折格子のs偏光に関す
る効率とp偏光に関する効率の積の関数である。
【0044】半波長板32については、図1に示され、
上述のところであるが、光の偏光成分を90゜回転させ
ることの可能な光素子を利用することができる。偏光の
回転に適した光素子の例には、フレネル菱面体、ファラ
デー回転子、無彩色半波長板または遅延器等がある。半
波長板は、回折格子のラインに対して45゜をなすよう
にアライメントのとられた主軸を備えている。このアラ
イメントは、図示のように、偏光成分を90゜回転させ
ることができる。
【0045】偏光成分を90゜回転させるための光装置
の一般的な要件は、次の通りである。光装置は、関係す
る波長範囲にわたって、偏光成分を約90゜回転させな
ければならない。偏光回転装置は、回折格子16に対し
て最初に入射する、分析すべき光ビームと、回折格子に
対して2回目に入射する光ビームの間の光路内に配置さ
れる。従って、偏光回転装置は、原理的に、分散光ビー
ム20の光路または濾波された光ビーム30の光路内に
配置することができる。
【0046】偏光回転装置は、図12に示す2段モノク
ロメータにおける偏光依存性を低下させ、あるいは、解
消させるために用いることも可能である。この場合、偏
光回転装置250は、第1段モノクロメータ252の回
折格子と、第2段モノクロメータ254の回折格子の間
における光路内に配置される。光ビームは、偏光を保存
するバルク光素子(偏光回転装置250を除く)、また
は、偏光を保存する光ファイバによって、第1段モノク
ロメータ252から第2段モノクロメータ254に光的
に結合しなければならない。本発明のもう1つの特徴に
よれば、図12に示す2段モノクロメータには、出力光
ファイバ256が設けられている。出力光ファイバ25
6は、図1に示された、上述の出力光ファイバ42と同
様に、第2段モノクロメータ254の出力アパーチャと
して機能する。偏光回転装置250及び出力光ファイバ
256は、2段モノクロメータの場合、別個に利用する
こともできるし、あるいは、組み合わせて利用すること
もできる。
【0047】上述のように、スリット24越しに分散光
ビームを走査したとしても、出力光ビーム36は、光フ
ァイバ42の入力端において定位置にとどまることにな
る。出力光ビームは、理想のシステムの場合、一定のま
まであるが、回折格子16が回転すると、回折格子16
の機械的ミスアライメント及びシステムにおけるわずか
な非対称性といった機械的エラーによって、出力光ビー
ムが少し移動することになる。出力光ファイバのアパー
チャが小さいので、出力光ビーム36が移動すると、出
力光ファイバは出力光ビームをインターセプトできなく
なる。出力光ビーム36と光ファイバ42のミスアライ
メントによって、測定エラーが生じることになるのは、
明らかである。
【0048】本発明のもう1つの特徴によれば、本発明
の二重通過型走査モノクロメータには、光ファイバ42
の縦軸に垂直で、かつ、出力光ビーム36に対して垂直
な平面において光ファイバ42を並進させるための手段
が設けられている。図1には、並進面の概略が、X及び
Y方向で示されている。光ファイバ42は、回折格子1
6の回転時に、並進して、出力光ビーム36のトラッキ
ングを行う。トラッキングは、回折格子16の走査時
に、自動的に行われ、出力光ビーム36は、光ファイバ
42の入力端との一定のアライメントがとれた状態に保
たれる。トラッキングのための望ましい技法及び光ファ
イバを並進させるための微細位置決めアセンブリについ
ては、詳細に後述することになる。光ファイバ42を並
進させて、出力光ビーム36のトラッキングを行うこと
が望ましいが、モノクロメータにおける光素子を並進ま
たは回転させて、出力光ビームが、回折格子の回転時
に、出力アパーチャとアライメントとれた状態に保たれ
るようにすることによって、トラッキングを行うことも
可能である。
【0049】本発明による二重通過型走査モノクロメー
タの望ましい実施例が、図2に示されている。図3に
は、明確にするため、入力端の拡大図が示されている。
図4には、光素子と光ビームだけを表した入力端の拡大
図が示されている。モノクロメータの光素子は、機械加
工されたハウジング60に取り付けられている。入力端
61は、入力光ファイバ10、ミラー22、26、及
び、40、及び、半波長板32を取り付けることができ
るようになっている。入力光コネクタ62によって、分
析すべき光源の取付が可能になっている。出力光ファイ
バ42は、ハウジング60の入力端61に接続されてい
る。レンズ14は、ハウジング60の中心部分64に配
置され、回折格子16は、ハウジング60の一部65に
取り付けられる。入力端61及びハウジング部分65
は、カバーを外して、示されている。
【0050】上述のように、スリット24は、システム
の分解能を設定する。異なるシステム分解能を得るた
め、異なるスリットを選択することが可能である。ディ
スク68には、複数のスリット24が、半径方向に形成
される。望ましい実施例の場合、11レンジのスリット
は、幅が7.5マイクロメートル〜1.8ミリメートル
まである。ディスク68は、駆動シャフト70によって
モータ72に取り付けられる。モータ72は、ディスク
68を回転させ、所望の幅のスリットをビーム経路に配
置する。シャフト角度エンコーダ74が、ディスク68
の回転位置を検知し、光ビームに対する選択されたスリ
ット24の正確な位置決めを確保するため、サーボ・ル
ープにおいてこの位置情報が利用される。
【0051】シャフト70には、ディスク76も取り付
けられている。ミラー40と出力光ファイバ42の間の
光路には、ディスク76の一部が配置される。モノクロ
メータの通常の動作時には、出力光ビーム36は、ディ
スク76のアパーチャを通過するので、ディスク76に
よって影響されることはない。ディスク76は、零位モ
ードにおいて利用される。零位モードの場合、ディスク
76は、モータ72によって回転し、光は、出力光ファ
イバ42に達しないように遮断される。また、光を遮断
するため、ディスク68も回転する。この状態におい
て、ゼロ光入力に対応する光検出器46及び増幅器48
の電気出力レベルが決定され、検出器の電子回路におけ
る電子ドリフトの補償のため用いられる。
【0052】出力光ファイバ42の位置決めを可能にす
るため、ハウジング60の入力端61には、微細位置決
めアセンブリ80が取り付けられる。上述のように、回
折格子16の回転時、出力光ファイバ42は、出力光ビ
ーム36と出力光ファイバ42の正確なアライメントを
確保するため、出力光ビーム36に垂直な平面内を移動
する。出力光ファイバは、アダプタ82によって、微細
位置決めアセンブリ80に取り付けられる。微細位置決
めアセンブリ80については、詳細に後述する。
【0053】入力光ビーム12が放出される入力光ファ
イバ10の先端は、分析を受ける光源に向かう反射を減
少させるため、通常は約6.0゜といったわずかな斜角
がつけられている。入力光ビーム12は、縦軸に対して
ある角度で光ファイバ10から放出され、光ファイバ1
0は、レンズの軸に対してある角度で取り付けられる。
光ファイバ10は、支持のため、ガラス製毛細管84に
取り付けられる。
【0054】回折格子16は、軸50のまわりを回転す
るように、駆動シャフト88にしっかり固定される。駆
動モータ90は、ギヤ・トレーンを介在させずに、駆動
シャフト88に直接接続される。モータ90は、ハウジ
ング部分65に取り付けられている。ハウジング部分6
5には、高分解能のインクリメンタル光シャフト角度エ
ンコーダ92が取り付けられており、駆動シャフト88
には、エンコーダ・ディスクが直接取り付けられてい
る。エンコーダ92は、シャフト88の回転位置を検知
する。回折格子16の駆動シャフト88にエンコーダ9
2を直接取り付けることによって、ギヤ・トレーンの遊
び、潤滑材の厚さ、及び、摩耗に関連した位置エラー
が、解消される。シャフト88にモータ90を直接取り
付けることによって、ギヤ・トレーンの遊び及び摩耗に
起因する制御問題が緩和され、動作速度が改善される。
回折格子16の高速走査及び確度の高い位置決めを可能
にするモータ90及びエンコーダ92の働きについて
は、後述する。
【0055】レンズ14は、動作波長範囲について、モ
ノクロメータにおける光ビームの焦点合わせ及び平行化
を行う。望ましい実施例の場合、モノクロメータは、1
250〜1600ナノメートルの範囲にわたって動作
し、600〜1700ナノメートルの範囲では、低下し
た性能パラメータで動作する。望ましいレンズ14は、
3つの異なるガラス・タイプを用いた色消しトリプレッ
トであり、広い波長範囲にわたって所望の性能が得られ
るように、軸外れ動作について補償が施される。レンズ
14は、回折が制限されており、望ましい実施例の場
合、焦点距離が150ミリメートルで、露出アパーチャ
は36.1ミリメートルである。
【0056】レンズ14の焦点距離は、温度の関数とし
て変化する。これは、主として、温度によってレンズの
ガラスの屈折率が変化するためである。この効果を補償
し、レンズの焦点を所望の焦点面に保持するには、温度
変化時に、焦点面に対して物理的にレンズを移動させる
ことが必要になる。望ましいレンズの場合、約15マイ
クロメートル/゜Cの割合で、焦点距離が温度によって
増すことになる。焦点面からレンズまでの距離における
アルミニウム・フレームの熱膨張は、この効果を補償す
るのに不十分である。従って、レンズは、焦点面から適
切に距離を延ばした位置において、フレームに取り付け
られた、アンバーで作られた管に取り付けられる。
【0057】ミラー22、26、及び、40は、動作波
長範囲にわたって反射率がほぼ一定した、高品質の表面
を備える必要がある。望ましいコーティングは、金であ
る。半波長板32は、動作波長範囲にわたって、偏光成
分をほぼ一定して90゜回転させるか、あるいは、18
0゜遅延させるのに必要である。望ましい半波長板は、
動作波長範囲にわたって所望の180゜だけ遅延させる
ため、互いにサンドイッチ構造をなす石英とMgF2
ら構成された、厚さ2.1ミリメートルの化合物による
ゼロ次遅延器(retarder) である。さらに、半波長板3
2には、反射を最小限に抑え、波長応答の共振を阻止す
るため、波長範囲にわたる反射防止コーティングが施さ
れている。
【0058】図7Aには、回折格子掃引及び位置検知シ
ステムのブロック図が、示されている。上述のように、
駆動モータ90及びエンコーダ92は、ギア・トレーン
に関連した機械的エラーを減少させるため、回折格子1
6の駆動シャフト88に直接結合されている。直接駆動
構造は、高速始動及び停止、及び、高速走査のため、高
トルク・モータを必要とする。望ましい実施例の場合、
駆動モータ90は、永久磁石回転子と巻線形固定子から
成る、フレーム無しのブラシレス直流トルク・モータか
ら構成される。永久磁石の回転子はサマリウム・コバル
ト磁石を利用し、回折格子16を保持するシャフト88
に直接取り付けられる。モータは、直径が60.3ミリ
メートル、厚さが約17ミリメートルで、20ニュート
ン・センチメートルの連続トルクを発生することが可能
である。モータは、米国National Semic
onductor社から入手可能なLM628型移動制
御集積回路を利用して、22KHzのパルス幅変調で駆
動される。
【0059】直接駆動構成の場合、回折格子16の角位
置を検知するための高分解能装置も必要とする。望まし
い実施例の場合、補間器102と共に、回転ディスクに
9000のラインを備えた、正弦波出力インクリメンタ
ル光シャフト角エンコーダを利用することによって、高
分解能が得られるようになっている。代替案として、リ
ゾルバまたは他の高分解能角度フィードバック装置を用
いることも可能である。エンコーダ92は、シャフトの
1回転につき230万4千カウントを発生する、エンコ
ーダ出力のゼロ・クロス間の補間を用いている。補間器
102及びエンコーダ92は、回折格子の位置をデジタ
ル表示する。回折格子の位置情報は、検出器の電気出力
と共に、デジタル信号プロセッサによって、光のスペク
トルを表示するために利用される。回折格子の位置は、
駆動モータ90を制御するため、サーボ・ループでも利
用される。デジタル掃引のプロフィルが、移動プロフィ
ル発生器103によって発生する。移動プロフィル発生
器103の出力及び検知された回折格子の位置は、総和
装置104に入力され、所望の回折格子位置と実際の回
折格子位置とのエラーを表したエラー信号が発生する。
エラー信号は、増幅器106及びループ補償フィルタ1
07を介してモータに送られる。移動プロフィル発生器
103、総和装置104、増幅器106、及び、ループ
補償フィルタ107は、全て、LM628移動制御集積
回路においてデジタル方式で実現される。
【0060】図7Bには、エンコーダ92及び補間器1
02のブロック図が示されている。発光ダイオード10
8は、駆動シャフト88に取り付けられたディスク11
0のスリットに光ビームを送り込む。ディスク110
は、回折格子の位置をコード化するため、9000の半
径方向スリットを備えていることが望ましい。ディスク
110のスリットを通る光は、それぞれ、光検出器から
成る、Aチャネル検出器112及びBチャネル検出器1
14によって検出される。検出器112及び114の出
力は、90゜位相のずれた正弦波である。各エンコーダ
・チャネル出力毎に、シャフトの1回転について900
0サイクルの正弦波が生じる。A検出器112の出力
は、増幅器116を介してアナログ・デジタル変換器1
18に送られる。B検出器114の出力は、増幅器12
0を介してアナログ・デジタル変換器122に送られ
る。
【0061】Aチャネル及びBチャネルの各ゼロ・クロ
ス毎に、位置カウンタ124が(Aチャネル及びBチャ
ネルの相対位相に従って)インクリメントまたはデクリ
メントし、大まかな位置情報が得られる。アナログ・デ
ジタル変換器118及び122のMSB出力は、A及び
B信号のゼロ・クロス時にカウンタ124をインクリメ
ントまたはデクリメントさせるため、タイミング及び制
御装置128に入力される。補間によって、正弦波信号
のゼロ・クロス間における追加位置情報が得られる。各
ゼロクロス間において、角度は、Arc−tan(A/
B)の関数である。A検出器112及びB検出器114
の正弦波出力は、それぞれ、アナログ・デジタル変換器
118及び122によってデジタル化される。アナログ
・デジタル変換器118及び122の出力は、ROM1
26に入力される。ROM126の出力は、Arc−t
an(A/B)の値である。ラッチ140に記憶される
ROM126の出力は、位置カウンタ124によって組
み合わせられて、回折格子の位置に関する補間情報が生
じる。ROMの出力には、LM628制御ICが必要と
する入力フォーマットに整合するように、フォーマット
変換(並列から2つの位相直列に)も施される。
【0062】補間には、A検出器112及びB検出器1
14からの信号が一定の振幅を保つことを保証する、エ
ンコーダ92のための振幅レベリング・ループが含まれ
ている。レベリング・モードにおいて、関数(A2 +B
21/2 を記憶するセクションにアドレス指定するた
め、タイミング及び制御装置128からの制御信号が、
ROM126に加えられる。レベリング・モードにおい
て、入力信号の振幅を表すROM出力が、デジタル・ア
ナログ変換器130を介して、増幅器132に供給され
る。増幅器132は、発光ダイオード108に駆動電流
を供給するトランジスタ134に制御を加える。LED
108の駆動電流は、検出器112及び114の出力が
小さくなると、電流が増すように、あるいは、その逆に
なるように、サーボ・ループで制御される。結果とし
て、LEDの効率が、時間、温度、及び、経時によって
変化したとしても、エンコーダ92の正弦及び余弦ピー
ク振幅は、一定に維持される。
【0063】上述のように、エンコーダ92のディスク
110には、位置コード化のために複数のスリットが設
けられている。さらに、ディスク110には、基準位置
を設定するための単一指標スリットが含まれている。絶
対位置を決めるため、エンコーダは、基準位置と同期し
なければならない。ディスク110の指標スリットを通
る光は、指標検出器142によって検出される。指標検
出器142の出力は、増幅器144及びコンパレータ1
46に通され、タイミング及び制御装置128に対する
指標パルスを発生する。
【0064】回折格子16は、散乱及び反射を最小限に
抑え、出力方向におけるアノマリーを最小限に抑えるよ
うに選択される。平面回折格子の場合、望ましい回折格
子16は、溝が回転軸50に対して平行になる、平行溝
構造を備えている。各種溝構造を利用することが可能で
あるが、600〜1700ナノメートルの波長範囲にお
ける動作の場合、900/ミリメートルの溝を備えた回
折格子が望ましい。この波長範囲に関する標準的な溝プ
ロフィルを利用することが可能であるが、さらに効率を
高める場合、望ましいプロフィルは、非対称性である。
回折格子は、一般に、動作波長範囲において反射性のコ
ーティングを施した、光的にフラットなブランクとして
製作される。望ましいコーティングは、金である。
【0065】出力光ビーム36に対して出力光ファイバ
42の位置決めを行う微細位置決めアセンブリ80は、
単一平面内における移動のための二軸微細位置決め段で
ある。上述のように、微細位置決めアセンブリ80は、
回折格子16の走査時における光ファイバ42との効率
の良い結合を確保するため、焦点を合わせた出力光ビー
ム36のトラッキングを行う。この用途の場合、微細位
置決め段80は、下記の要件を満たす必要がある。出力
光ファイバ42は、数十マイクロメートル内にある出力
光ビーム36の焦点面に保持しなければならない。この
意味するところは、光ファイバの軸に垂直なX及びY方
向における並進時に、光ファイバの軸に沿ったZ方向の
移動は、ほとんどないか、あるいは、全くないようにし
なければならないということである。微細位置決めアセ
ンブリは、サブミクロンの分解能をもたらし、円滑に動
作しなければならない。転動体のざらつき、スライド部
材の摩擦、ネジまたはギヤの遊びがないようにしなけれ
ばならない。さらに、アセンブリは、配向の変化に対し
て耐性を有し、振動及び環境による外乱に対して比較的
反応を示さないものでなければならない。微細位置決め
アセンブリ80は、X及びY方向における動程が、約±
200マイクロメートルで、応答時間が速くなければな
らない。
【0066】図8A及び図8Bには、望ましい微細位置
決めアセンブリ80が示されている。微細位置決めアセ
ンブリの主要コンポーネントは、二軸たわみ板150で
ある。たわみ板150は、通常、アルミニウムのような
金属から機械加工され、固定セクション152、中間セ
クション154、及び、可動カラー156を備えてい
る。
【0067】たわみ板150は、Z軸の移動を制限する
ため、8ミリメートル以上の厚さを備えていることが望
ましい。固定セクション152は、モノクロメータ(図
2及び3参照)のハウジング60に取り付けられてお
り、動作時には、固定されたままである。カラー156
は、光ファイバ・アダプタ82に対する取り付けに合わ
せた寸法になっており、光ビーム42が通る開口部15
8を備えている。カラー156は、後述のようにX及び
Y方向に移動可能である。中間セクション154は、た
わみ材160、162、163、及び、164によって
固定セクション152に取り付けられている。たわみ材
160は、ビーム166によってたわみ材162に相互
接続されている。たわみ材163は、ビーム168によ
ってたわみ材164に相互接続されている。たわみ材1
60及び163は、直円たわみ材であり、たわみ材16
2及び164は、ビームたわみ材である。固定セクショ
ン152と中間セクション154との間におけるたわみ
構成によって、固定セクション152に対する中間セク
ション154のX方向における移動が可能になる。
【0068】可動カラー156が、たわみ材170、1
71、172、及び、173によって中間セクション1
54に取り付けられている。たわみ材170及び171
は、ビーム174によって相互接続され、たわみ材17
2及び173は、ビーム176によって相互接続され
る。たわみ材170及び172は、直円たわみ材であ
り、たわみ材171及び173は、ビームたわみ材であ
る。たわみ材170、171、172、及び、173に
よって、中間セクション154に対するカラー156の
Y方向における移動が可能になる。
【0069】線形アクチュエータ180またはボイス・
コイル・モータは、固定セクション152と中間セクシ
ョン154の間に取り付けられる。線形アクチュエータ
180によって、固定セクション152に対する中間セ
クション154のX方向における移動が生じる。線形ア
クチュエータ182は、中間セクション154とカラー
156の間に取り付けられる。線形アクチュエータ18
2によって、中間セクション154に対するカラー15
6のY方向における移動が生じる。線形アクチュエータ
180及び182は、ラウドスピーカに用いられるボイ
ス・コイルと同様のものである。望ましい線形アクチュ
エータは、電流を加えると、半径方向の固定磁界内で移
動するワイヤのコイルから構成される。固定磁界は、ア
クチュエータ・ハウジングのネオジウム・鉄・ホウ素に
よる磁石によって発生する。アクチュエータは、1.6
7ニュートンの連続した力を発生することができる。
【0070】カラー156の位置を正確に制御するた
め、カラー156の位置が検知され、検知した位置は、
サーボ制御ループに伝えられる。微細位置決めアセンブ
リ80の場合、X方向の位置は、ビームたわみ材162
の両側に固定されたひずみゲージ190a及び190b
によって検知される。カラー156のY方向は、ビーム
たわみ材171の両側に固定されたひずみゲージ192
a及び192bによって検知される。ひずみゲージは、
それぞれのビームたわみ材にしっかり結合されており、
たわみ材の曲げに応答して、抵抗が変化する。各ひずみ
ゲージの抵抗の変化は、カラー156の位置を表してい
る。
【0071】図9には、微細位置決めアセンブリ80の
1つの軸に関する制御ループのブロック図が示されてい
る。同様の制御ループは、各移動方向毎に用いられ、位
置検知装置202からループ補償フィルタ210に至る
帰還手段を備えている。位置検知装置202は、位置出
力を総和装置204に与える。位置検知装置には、1つ
の移動方向に関するひずみゲージが含まれており、詳細
に後述することにする。所望の位置は、デジタル信号プ
ロセッサからデジタル・アナログ変換器(DAC)20
6にデジタル形式で入力される。DAC206のアナロ
グ出力は、総和装置204に入力される。総和装置20
4の出力は、1つの方向におけるカラー156の所望の
位置と実際の位置の間の差を表したエラー信号である。
エラー信号は、エラー増幅器208を介してループ補償
フィルタ210に送られる。二軸たわみ板150は、い
くつかのQの高い共振を生じる。ループ補償フィルタ2
10には、ツインT形ノッチ・フィルタ及び楕円形低域
フィルタが含まれている。楕円形フィルタ応答及びツイ
ンT形フィルタ応答におけるゼロは、それぞれ、たわみ
材応答における900Hz及び2.2KHzのピークを
減衰させるように、位置決めされる。ループ補償フィル
タ210の出力は、線形アクチュエータ180に作動信
号を加えるパルス幅変調駆動装置212に入力される。
線形アクチュエータ180は、さらに、中間セクション
154を固定セクションに対して移動させ、エラー信号
を減少させる。同じ構成の制御ループを利用して、線形
アクチュエータ182の制御が行われる。線形アクチュ
エータ182の制御信号は、ひずみゲージ192a及び
192bから導き出される。
【0072】図10には、位置検知装置202が示され
ている。ひずみゲージ190a及び190bは、ブリッ
ジ回路をなすように接続されている。たわみ材の移動に
よって、ブリッジに不均衡が生じる。ひずみゲージ19
0aは、正の電圧源と負の電圧源の間の電流源220に
直列に接続されている。ひずみゲージ190bは、正の
電圧源と負の電圧源の間の電流源222に直列に接続さ
れている。電流源220及び222は、精密に整合が施
され、温度の変動に応じて、精密にトラッキングを行
う。ひずみゲージ190a及び190bは、ひずみゲー
ジ増幅器224の反転入力及び非反転入力に接続されて
いる。電圧供給ループ226は、ひずみゲージ増幅器2
24のコモン・モード電圧をゼロに維持し、これによっ
て、ひずみゲージ増幅器224におけるコモン・モード
利得によるエラーが除去されることになる。中間セクシ
ョン154の移動によって、たわみ材162が曲がる結
果になると、一方のひずみゲージの抵抗が増し、もう一
方のひずみゲージの抵抗は減少するので、ブリッジ回路
に不均衡が生じ、ひずみゲージ増幅器224から出力が
生じることになる。
【0073】出力光ビーム36のトラッキングは、下記
のように実施される。計器の初期校正時に、出力光ビー
ム36の位置は、モノクロメータに対する同調可能な波
長入力を利用して、波長の関数として測定される。各入
力波長は、軸50のまわりにおける回折格子16の異な
る回転位置に対応する。光ファイバ42と出力光ビーム
36の間において正確なアライメントが得られるように
するための、微細位置決めアセンブリ80のX及びY方
向における並進は、回折格子16の各回転位置毎に、R
OMに記憶される。計器の動作中における回折格子の位
置は、図7A及び図7Bに示すように、また、上述のよ
うに発生する。回折格子16による走査時には、位置情
報を利用して、必要なX及びY並進を記憶するROMに
アドレス指定する。この情報は、適当な時点において、
X及びY目標位置のDACにロードされる。従って、走
査時、光ファイバ42は、自動的に出力光ビーム36の
トラッキングを行う。
【0074】微細位置決めアセンブリ80を有効に利用
して、光チョッピングを行うことによって、長い掃引時
におけるダイナミック・レンジが増し、感度が安定す
る。電気的ノイズ及び迷光が存在する場合、直流光電流
の検出には、光検出器46が必要になる。電気ノイズ
は、光検出器46及び増幅器48において発生する。迷
光は、モノクロメータ内における望ましくない反射及び
散乱によって生じる。例えば、入射光ビーム12の一部
は、レンズを通過せずに、反射される可能性がある。
【0075】一般にノイズと呼ばれる、望ましくないエ
ネルギは、検出システムに固有のものである。光検出シ
ステムの場合、ノイズは、電気的の場合と、光的な場合
の両方があり得る。光検出器の出力のサンプリングを行
うと、信号+ノイズが生じる。これは、信号パワー及び
ノイズ・パワーが同等の大きさである場合、重大な問題
になる可能性がある。通常、電気的ノイズ成分は、ラン
ダムであり、平均値はゼロである。周知のように、信号
+ノイズの平均化は、ノイズ成分が有効にゼロに平均化
されるように行われる。しかし、通常、直流ドリフトと
呼ばれる極めて低い周波数の電気的ノイズは、極めて長
い平均化時間を必要とする。信号が周期的にインターラ
プトまたはブロックされ、ノイズまたはドリフトの測定
が行われる、チョッピングまたは同期検出を利用して、
低周波数の電気的ノイズが除去されてきた。ノイズは、
信号に極めて近い時間に測定されるので、ドリフトは、
有効に除去される。先行技術による分光分析器は、通
常、独立した機械的コンポーネントを利用して、光ビー
ムのチョッピングまたは周期的インターラプトを行う。
このため、システムのコスト及び複雑さが増すことにな
る。さらに、チョッピングは、ノイズの電気的部分だけ
しか除去しない。上述の迷光は、検出器がブロックされ
る従来のチョッピングでは除去されない。
【0076】本発明の特徴によれば、微細位置決めアセ
ンブリ80を利用して、光ファイバ42が出力光ビーム
から外される。これは、微細位置決めアセンブリ80を
付勢し、光ファイバ42を一方またはもう一方に移動さ
せて、もはや出力光ビーム36をインターセプトしなく
なるようにすることによって、行われる。光ファイバ4
2は、モノクロメータの分散軸に垂直な方向に移動する
のが望ましい。モノクロメータの迷光が、光ファイバ4
2のわずかな偏向に対してほぼ均一であると仮定する
と、光検出器46の出力は、迷光L+電気的ノイズNを
表すことになる。光ファイバ42及び出力光ビーム36
のアライメントがとれると、光検出器46は、信号S+
迷光L+電気的ノイズNを表す出力を発生する。光ファ
イバが出力光ビームから変位する時に測定される迷光と
電気的ノイズ成分が、光ファイバと光ビームのアライメ
ントをとって、迷光Lと電気的ノイズNの両方が有効に
除去され、信号Sの正確な測定が行われた時の測定値か
ら引かれる。チョッピング時に、光検出器がブロックさ
れるので、従来のチョッピング技法では、測定値から迷
光成分は除去されない。結果として、上述の技法によっ
て、信号Sのより正確な測定値が得られることになる。
本発明で使用する光チョッピング技法は、40秒を超え
る掃引のように、比較的掃引時間を長くして利用される
のが普通である。
【0077】本発明で使用する光チョッピング技法は、
微細位置決めアセンブリ80を付勢して、光ファイバ4
2を移動させ、出力光ビーム36とのアライメントがと
れなくなるようにして、実施されるのが望ましい。しか
し、光チョッピング技法は、モノクロメータの任意の光
素子を変位させて、出力光ビーム36と光ファイバ42
とのアライメントがとれなくなるようにして、実施する
ことも可能であるのは明らかである。
【0078】二重通過型走査モノクロメータによって得
られる分光分析器の構成が、図11、図11A、図11
B、図11C、図11Dに示されている。図11Aに示
すスペクトル240は、典型的な光スペクトル表示であ
る。スペクトル240は、水平軸における波長の関数と
しての、垂直軸における振幅のプロットである。この振
幅は、増幅器48の出力である。波長情報は、図7A及
び図7Bに示す回折格子制御ループの位置出力から得ら
れる。回折格子の位置情報を利用することによって、ス
ペクトル240は、走査の開始に関するタイミングに依
存した分光分析器の場合よりも正確になる。波長情報
は、回折格子16の走査時における速度の変動とは無関
係である。
【0079】本発明の二重通過型走査モノクロメータ
は、先行技術によるモノクロメータ構成との比較におい
て、いくつかの利点を提供するものである。開示のモノ
クロメータの場合、出力光ファイバは、分解能の帯域幅
を制限しない。光出力は、入力光ビームの偏りに対し
て、比較的反応を示さない。分散光ビームを再結合する
ので、回折格子によって生じる時間分散が解消される。
ユーザは、出力光ビームとのアライメントを維持するた
めに出力光ファイバの調整を行う必要がない。光出力
は、内部的に利用可能な、同じ波長スパン及び範囲をも
たらす。低ノイズの小形光検出器が、利用される。二重
通過型走査モノクロメータは、単段モノクロメータの感
度と、2段縦続モノクロメータの隣接ダイナミック・レ
ンジとを与える。同期の問題が、解消され、2段モノク
ロメータに関連して追加される光装置が、排除される。
モノクロメータの設計が、先行技術のモノクロメータに
比べて、丈夫で、コンパクトになる。単一光検出器及び
関連電子装置が、利用される。
【0080】以上、本発明の望ましい実施例とみなされ
るものについて例示し、解説してきたが、当該技術の熟
練者には明らかなように、さまざまな変更及び修正を加
えることが可能である。
【0081】
【発明の効果】本発明の効果は、前記「発明の目的」の
項に記載の各目的が達成されたことから明らかである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の二重通過型走査モノクロメ
ータの絵画的ブロック図である。
【図2】本発明の一実施例の二重通過型走査モノクロメ
ータのカバー除去後の平面図である。
【図3】本発明の一実施例の二重通過型走査モノクロメ
ータの入力端の拡大平面図である。
【図4】本発明の一実施例の二重通過型走査モノクロメ
ータの入力端における光ビームと光学部品の拡大平面図
である。
【図5】本発明の一実施例の二重通過型走査モノクロメ
ータの入力端におけるレンズ軸に対する各種光ビームの
位置を示す図である。
【図6】従来技術による単段モノクロメータと本発明の
一実施例の二重通過型走査モノクロメータのそれぞれの
出力振幅を波長に対してプロットしたグラフである。
【図7A】回折格子の位置検知および位置制御を説明す
るためのブロック図である。
【図7B】回折格子の位置検知および位置制御を説明す
るためのブロック図である。
【図8A】本発明の一実施例の二重通過型走査モノクロ
メータの出力光ファイバの位置決めのための微細位置決
めアセンブリの正面図である。
【図8B】本発明の一実施例の二重通過型走査モノクロ
メータの出力光ファイバの位置決めのための微細位置決
めアセンブリの斜視図である。
【図9】図8Aと図8Bの微細位置決めアセンブリの一
つの軸に対するサーボループのブロック図である。
【図10】前記微細位置決めアセンブリに使用するひず
みゲージ増幅器の概略ブロック図である。
【図11】本発明の一実施例の二重通過型走査モノクロ
メータを用いた分光分析装置の制御パネルと表示スクリ
ーンの配置を示す図である。
【図11A】本発明の一実施例の二重通過型走査モノク
ロメータを用いた分光分析装置の表示スクリーンを示す
図である。
【図11B】本発明の一実施例の二重通過型走査モノク
ロメータを用いた分光分析装置の制御パネルを示す図で
ある。
【図11C】本発明の一実施例の二重通過型走査モノク
ロメータを用いた分光分析装置の制御パネルを示す図で
ある。
【図11D】本発明の一実施例の二重通過型走査モノク
ロメータを用いた分光分析装置の制御パネルを示す図で
ある。
【図12】偏光回転装置と出力光ファイバを備えた2段
モノクロメータのブロック図である。
【符号の説明】
10:入力光ファイバ; 12:入力光ビーム; 1
4:レンズ;16:回折格子; 22、26、40:ミ
ラー; 23:窓板; 24:スリット; 32:半波
長板; 42:出力光ファイバ; 46:光検出器;
48:増幅器; 62:入力コネクタ; 68:デイス
ク(スリット24を備える) 80:微細位置決めアセンブリ; 84:ガラス製毛細
管; 88:駆動シャフト; 90:駆動モータ; 9
2:角度エンコーダ
フロントページの続き (72)発明者 ジョン・ダグラス・ナイト アメリカ合衆国 カリフォルニア州サン タ・ローザ, カチー・リー・ウエイ 4694 (72)発明者 ジョゼフ・エヌ・ウエスト アメリカ合衆国 カリフォルニア州ペタラ マ, スタドラ・レイン 510 (72)発明者 バリー・ジー・ブルーム アメリカ合衆国 カリフォルニア州グレン ドラ, ピー・オー・ボックス 864

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】後記(イ)〜(ホ)を含む走査モノクロメ
    ータ: (イ)入力光ビームを導入する手段,(ロ)前記入力光
    ビームを分散するための第1の回折格子と該第1の回折
    格子を回転する手段とを備え、第1段出力光ビームを与
    えるための第1段モノクロメータ,(ハ)前記第1段出
    力光ビームを分散するための第2の回折格子と該第2の
    回折格子を回転する手段とを備え、該第2の回折格子に
    より前記第1段出力光ビームを再結合して第2段出力光
    ビーム与えるための第2段モノクロメータ,および
    (ニ)前記第1段出力光ビームの偏光成分を回転して前
    記第2の回折格子に入力せしめ、前記第2段出力光ビー
    ムを前記入力光ビームの偏光に依存しないようにするた
    めの偏光回転手段(ホ)前記第2段出力光ビームを入力
    して,該第2段出力光ビームの所定の部分を濾波して通
    過せしめ、選択度を高めて該走査モノクロメータの隣接
    ダイナミック・レンジを広げるための出力アパーチャ。
  2. 【請求項2】前記出力アパーチャが出力光ファイバを含
    むものである請求項1に記載の走査モノクロメータ。
  3. 【請求項3】前記偏光回転手段が前記第1段出力光ビー
    ムの偏光成分を90°回転するものであることを特徴と
    する請求項1あるいは請求項2のいずれかに記載の走査
    モノクロメータ。
  4. 【請求項4】前記偏光回転手段が半波長板を備えること
    を特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載の走
    査モノクロメータ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108106729A (zh) * 2017-12-01 2018-06-01 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种双光栅共ccd光谱仪
JP2021152535A (ja) * 2020-03-13 2021-09-30 オプトス ピーエルシー 光学構成要素マウント、光学構成要素の温度依存性移動を提供するための装置、及び、光学機器

Families Citing this family (93)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3322712B2 (ja) * 1993-01-14 2002-09-09 松下電器産業株式会社 光チューナの起動方法及び光チューナ
JP2806747B2 (ja) * 1993-06-21 1998-09-30 大日本スクリーン製造株式会社 顕微測光装置における反射光測定方法
US5532818A (en) * 1993-12-27 1996-07-02 Advantest Corporation Difference dispersive double-path monochromator having wavelength-independent imaging point
US5488240A (en) * 1993-12-27 1996-01-30 Hlousek; Louis Apparatus and method for rotating an optical element using a moving coil in a constant magnetic field
DE19532611C2 (de) * 1994-12-26 2001-12-06 Advantest Corp Doppelwegmonochromator in Differenzdispersionsanordnung
US5574444A (en) * 1995-02-14 1996-11-12 Mitsubishi Caterpillar Forklift America Inc. Method and apparatus for decoding signals containing encoded information
US6058357A (en) * 1995-02-24 2000-05-02 Light Source Acquisition Company Color measurement system including a digital color sensor and a host computer in communication with the color sensor
US5608521A (en) * 1995-09-18 1997-03-04 Trw Inc. Polarization compensated imaging spectrometer
US5673109A (en) * 1996-07-10 1997-09-30 Ohmeda Inc. System and method for increasing the efficiency of a raman gas analysis system
FR2754054B1 (fr) * 1996-10-02 1998-12-18 Photonetics Analyseur de spectre optique et procede d'analyse de spectre correspondant
US6028656A (en) * 1996-10-09 2000-02-22 Cambridge Research & Instrumentation Inc. Optical polarization switch and method of using same
US6097859A (en) 1998-02-12 2000-08-01 The Regents Of The University Of California Multi-wavelength cross-connect optical switch
US5796479A (en) * 1997-03-27 1998-08-18 Hewlett-Packard Company Signal monitoring apparatus for wavelength division multiplexed optical telecommunication networks
US6002232A (en) 1997-08-15 1999-12-14 Iowa State University Research Foundation, Inc. Robust vibration suppression methods and systems
US5835210A (en) * 1997-09-10 1998-11-10 Cymber, Inc. Multi-pass spectrometer
CA2238544A1 (en) * 1998-05-05 1999-11-05 Jds Fitel Inc. Custom optical filters
US6177992B1 (en) * 1998-09-25 2001-01-23 Hewlett-Packard Company Low insertion loss optical monochromator
DE19845701A1 (de) * 1998-10-05 2000-04-06 Palme Dieter Anordnungen zur Überwachung der Performance von DWDM-Mehrwellenlängensystemen
US6107769A (en) * 1998-12-29 2000-08-22 Schneider Automation Inc. Positional-based motion controller with a bias latch
EP1106979B1 (de) * 1999-08-11 2001-11-14 Acterna Eningen GmbH Anordnung zur gleichzeitigen Analyse mehrerer optischer Leitungen
JP2001108522A (ja) * 1999-10-07 2001-04-20 Hamamatsu Photonics Kk 波長可変光出力装置
DE19955759A1 (de) * 1999-11-20 2001-05-23 Colour Control Farbmestechnik Spektrometer mit mikromechanischem Spiegel
JP2001183233A (ja) * 1999-12-27 2001-07-06 Advantest Corp 分光器および分光方法
US6636306B2 (en) 2000-01-07 2003-10-21 Exfo Electro-Optical Engineering Inc. Optical spectrum analyzer
US6498872B2 (en) 2000-02-17 2002-12-24 Jds Uniphase Inc. Optical configuration for a dynamic gain equalizer and a configurable add/drop multiplexer
US20040196556A1 (en) * 2000-06-02 2004-10-07 Cappiello Gregory G. Diffraction grating for wavelength division multiplexing/demultiplexing devices
US6577786B1 (en) * 2000-06-02 2003-06-10 Digital Lightwave, Inc. Device and method for optical performance monitoring in an optical communications network
EP1236981A1 (de) * 2000-10-11 2002-09-04 Acterna Eningen GmbH Optisches Spektrometer mit variabler Bandbreite
US6795459B2 (en) 2000-10-18 2004-09-21 Fibera, Inc. Light frequency locker
US6597452B1 (en) * 2000-11-17 2003-07-22 Jobin Yvon, Inc. Compact littrow-type scanning spectrometer
US6678445B2 (en) 2000-12-04 2004-01-13 Jds Uniphase Corporation Dynamic gain flattening filter
JP2002190642A (ja) * 2000-12-21 2002-07-05 Ando Electric Co Ltd 波長可変光源
JP2005500513A (ja) * 2000-12-29 2005-01-06 クロマジェン インコーポレーティッド ハイスループットの蛍光の検出のためのスキャニング分光光度計
EP1255096B1 (de) * 2001-02-02 2004-12-15 Acterna Germany GmbH Monochromator und optischer Spektrumanalysator mit mehreren Messpfaden
US6654127B2 (en) * 2001-03-01 2003-11-25 Carl Zeiss Ophthalmic Systems, Inc. Optical delay line
US6625346B2 (en) 2001-03-19 2003-09-23 Capella Photonics, Inc. Reconfigurable optical add-drop multiplexers with servo control and dynamic spectral power management capabilities
US6510003B2 (en) 2001-04-18 2003-01-21 Jds Uniphase Inc. Cylindrical polarization diversity assembly
US20030020926A1 (en) * 2001-05-15 2003-01-30 Nicolae Miron Tunable band pass optical filter unit with a tunable band pass interferometer
US7495765B2 (en) * 2001-05-17 2009-02-24 Thorlabs Gmbh Fiber polarimeter, the use thereof, as well as polarimetric method
US6816260B2 (en) * 2001-05-17 2004-11-09 Thorlabs Gmbh Fiber polarimeter, the use thereof, as well as polarimetric method
US7463828B2 (en) * 2001-06-01 2008-12-09 John Moon Optical channel monitor
US7253897B2 (en) 2001-06-01 2007-08-07 Cidra Corporation Optical spectrum analyzer
EP1421421A4 (en) * 2001-07-20 2005-10-05 Essex Corp METHOD AND DEVICE FOR OPTICAL SIGNAL PROCESSING USING AN OPTICAL TERMINATED DELAYING LINE
US6646740B2 (en) 2001-09-19 2003-11-11 Agilent Technologies, Inc. Optical monochromators having time dispersion correction
JP4009818B2 (ja) * 2001-10-31 2007-11-21 横河電機株式会社 分光器及びそれを用いた光スペクトラムアナライザ
KR100445905B1 (ko) * 2001-12-13 2004-08-25 한국전자통신연구원 다중파장 광 전송 시스템에서 광 신호 성능 측정 장치 및그 방법
US6983090B2 (en) * 2002-03-21 2006-01-03 Jds Uniphase Inc. High resolution tunable optical filter
US7027688B2 (en) * 2002-05-14 2006-04-11 Wildnauer Kenneth R Tunable optical filter based on a physically-deformable diffractive element
US6930776B2 (en) * 2002-07-25 2005-08-16 Exfo Electro-Optical Engineering Inc. High optical rejection optical spectrum analyzer/monochromator
DE10304551A1 (de) * 2003-02-04 2004-08-12 Mann + Hummel Gmbh Stellelement mit Lageerkennung
EP1498707B1 (de) * 2003-07-14 2009-11-11 Tecan Trading AG Schlitzblende in einem Monochromator
US7035505B2 (en) * 2003-07-23 2006-04-25 Jds Uniphase Corporation Optical performance monitor
US7130505B2 (en) * 2003-07-23 2006-10-31 Jds Uniphase Corporation Optical performance monitor
US20050078911A1 (en) * 2003-10-14 2005-04-14 Mikes Thomas L. System and method for using a concentric spectrometer to multiplex or demultiplex optical signals
US7209230B2 (en) 2004-06-18 2007-04-24 Luckoff Display Corporation Hand-held spectra-reflectometer
CN100442031C (zh) * 2004-09-14 2008-12-10 财团法人工业技术研究院 消除极化相关性的光谱测量装置及其方法
WO2006037373A1 (en) * 2004-10-01 2006-04-13 Agilent Technologies, Inc. Optical spectrum analysis
US7483134B2 (en) * 2005-02-10 2009-01-27 Unity Scientific, Llc Scanning monochromator with direct drive grating
US7233394B2 (en) 2005-06-20 2007-06-19 Luckoff Display Corporation Compact spectrometer
US7961316B2 (en) * 2006-06-07 2011-06-14 Optoplex Corporation Optical spectrum analyzer with continuously rotating tunable filter
US7599074B2 (en) * 2006-06-19 2009-10-06 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Grating angle magnification enhanced angular sensor and scanner
US8000568B2 (en) * 2006-11-07 2011-08-16 Olympus Corporation Beam steering element and associated methods for mixed manifold fiberoptic switches
US7720329B2 (en) * 2006-11-07 2010-05-18 Olympus Corporation Segmented prism element and associated methods for manifold fiberoptic switches
US7873246B2 (en) * 2006-11-07 2011-01-18 Olympus Corporation Beam steering element and associated methods for manifold fiberoptic switches and monitoring
US7769255B2 (en) * 2006-11-07 2010-08-03 Olympus Corporation High port count instantiated wavelength selective switch
US8131123B2 (en) 2006-11-07 2012-03-06 Olympus Corporation Beam steering element and associated methods for manifold fiberoptic switches and monitoring
US7702194B2 (en) * 2006-11-07 2010-04-20 Olympus Corporation Beam steering element and associated methods for manifold fiberoptic switches
US7817274B2 (en) 2007-10-05 2010-10-19 Jingyun Zhang Compact spectrometer
US8345226B2 (en) 2007-11-30 2013-01-01 Jingyun Zhang Spectrometers miniaturized for working with cellular phones and other portable electronic devices
US8190025B2 (en) * 2008-02-28 2012-05-29 Olympus Corporation Wavelength selective switch having distinct planes of operation
US20100014082A1 (en) * 2008-07-18 2010-01-21 Eberhard Loecklin Angle limiting reflector and optical dispersive device including the same
JP2011179979A (ja) * 2010-03-01 2011-09-15 Furukawa Electric Co Ltd:The ダブルパスモノクロメータ、波長選択光スイッチ、および光チャンネルモニタ
CN103370651A (zh) 2010-12-10 2013-10-23 Nkt光子学有限公司 用于荧光测量系统的宽带光源的声光可调滤波器(aotf)
US8461514B1 (en) * 2011-02-03 2013-06-11 Robert Rickenbach Optical spectrum modulated position sensor having a controller with at least one fiber optic line
US8885159B1 (en) * 2011-05-13 2014-11-11 Optoplex Corporation Optical spectrum analyzer actuated by voice coil
US9395245B2 (en) * 2013-03-15 2016-07-19 Westco Scientific Instruments, Inc. Data knitting tandem dispersive range monochromator
US9404799B2 (en) * 2013-03-15 2016-08-02 Westco Scientific Instruments, Inc. Tandem dispersive range monochromator
US9689744B2 (en) * 2013-07-17 2017-06-27 Massachusetts Institute Of Technology Visible-infrared plane grating imaging spectrometer
JP6387610B2 (ja) * 2013-12-27 2018-09-12 ミツミ電機株式会社 生体情報測定装置
US20150346102A1 (en) * 2014-06-03 2015-12-03 Innovative Photonic Solutions, Inc. Compact Raman Probe Integrated with Wavelength Stabilized Diode Laser Source
CH709896A2 (de) * 2014-07-18 2016-01-29 Tecan Trading Ag Monochromator mit schwingungsarm bewegbaren optischen Elementen.
CN104964744B (zh) * 2015-07-01 2017-06-20 天津市德力电子仪器有限公司 一种光纤通信用高分辨率光栅光谱仪结构
JP6538585B2 (ja) * 2016-02-17 2019-07-03 株式会社東芝 変調信号生成装置および無線装置
US10048205B2 (en) 2016-04-14 2018-08-14 Saudi Arabian Oil Company Characterizing petroleum product contamination using fluorescence signal
US10281401B2 (en) 2016-04-14 2019-05-07 Saudi Arabian Oil Company Opto-mechanical part for parabolic mirror fine rotation and on-axis linear positioning
US10215635B2 (en) 2017-01-26 2019-02-26 Westco Scientific Instruments, Inc Data blending multiple dispersive range monochromator
US11650296B2 (en) 2018-02-16 2023-05-16 Xiaotian Steve Yao Optical sensing based on wavelength division multiplexed (WDM) light at different wavelengths in light detection and ranging LiDAR systems
JP2019174151A (ja) * 2018-03-27 2019-10-10 株式会社島津製作所 分光器
CN108981914B (zh) * 2018-05-22 2020-12-01 中国电子科技集团公司第四十一研究所 Offner双路结构成像光谱仪及方法
JP7129061B2 (ja) * 2018-10-23 2022-09-01 国立大学法人埼玉大学 光学特性測定装置
KR20210072123A (ko) * 2018-11-07 2021-06-16 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 도파관 계측을 위한 방법들 및 장치
CN113091906A (zh) * 2021-04-14 2021-07-09 北京理工大学 共用探测器的切尼特纳光谱仪及方法
US20220390281A1 (en) * 2021-06-04 2022-12-08 Viavi Solutions Inc. Providing polarization diversity and reducing polarization dependent loss (pdl) in a grating-based optical spectrum analyzer (osa)

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3069967A (en) * 1959-12-07 1962-12-25 John U White Apparatus employing stationary optical means and diffraction grating
FR1595001A (ja) * 1968-12-11 1970-06-08
JPS5039693Y1 (ja) * 1970-02-25 1975-11-14
US3775010A (en) * 1972-02-29 1973-11-27 Cary Instruments Assymmetric double pass grating monochromator
DE2225870A1 (de) * 1972-05-27 1973-12-06 Konrad Dr Hoffmann Gittermonochromator, insbesonders fuer die farbmetrik
US3936191A (en) * 1974-03-22 1976-02-03 Varian Associates Optical arrangement for double-passing Ebert monochromator and for coupling double monochromator systems
US4211486A (en) * 1978-03-20 1980-07-08 Altex Scientific, Inc. Spectrophotometer
DK156381A (da) * 1980-04-08 1981-10-09 Instruments Sa Monokromator
JPS5769221A (en) * 1980-10-16 1982-04-27 Shimadzu Corp Spectroscope
US4540282A (en) * 1983-03-21 1985-09-10 Isaac Landa Apparatus for optically analyzing a sample
IT1178827B (it) * 1984-01-20 1987-09-16 Cselt Centro Studi Lab Telecom Monocromatore con ricostruzione delle immagini
US4664522A (en) * 1984-08-24 1987-05-12 Guided Wave, Inc. Optical waveguide spectrum analyzer and method
CA1306632C (en) * 1986-12-01 1992-08-25 Hironobu Kobayashi Spectroscope apparatus and reaction apparatus using the same
JPH0827212B2 (ja) * 1987-11-09 1996-03-21 大塚電子株式会社 分光器
US4995724A (en) * 1988-08-18 1991-02-26 Anritsu Corporation Optical spectrum analyzer with high performance measurement function
US4969739A (en) * 1989-01-09 1990-11-13 Nirsystems Incorporated Spectrometer with direct drive high speed oscillating grating

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108106729A (zh) * 2017-12-01 2018-06-01 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种双光栅共ccd光谱仪
JP2021152535A (ja) * 2020-03-13 2021-09-30 オプトス ピーエルシー 光学構成要素マウント、光学構成要素の温度依存性移動を提供するための装置、及び、光学機器
US11747584B2 (en) 2020-03-13 2023-09-05 Optos Plc Optical component mount

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JP2004251916A (ja) 2004-09-09
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US5359409A (en) 1994-10-25
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EP0540966B1 (en) 1997-02-12
JPH0650813A (ja) 1994-02-25
DE69217447D1 (de) 1997-03-27

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