JPH10245683A - 錫合金膜の形成方法およびその錫合金めっき浴 - Google Patents
錫合金膜の形成方法およびその錫合金めっき浴Info
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Abstract
形成方法とその錫合金めっき浴を提供する。 【解決手段】 錫または錫合金めっき浴に、錫と合金を
形成しはんだ膜として機能する粉末を加えて使用し、複
合めっきを行なうものである。
Description
る基板に好適な錫合金膜の形成方法およびその錫合金め
っき浴に関する。
錫−鉛系のはんだ材料が使用され、ペーストあるいは溶
融めっきによって基板上に塗布され、スクリーン印刷法
やソルダーレジストによって基板上の必要とする部分に
のみはんだ膜を形成するものである。
路のファインピッチ化が進み,従来の方法では微細なパ
ターン上に高い精度ではんだ膜を形成するのが困難にな
って来ている。このため無電解めっき法により精度の良
いはんだ膜を形成することが検討されているが、錫およ
び錫合金は自触媒性が低いために置換めっきによること
が中心となっており、厚いはんだ膜の形成が出来ないも
のであった。
てなされたもので、錫と合金を形成し易くかつはんだ材
として機能することのできる粉末を分散添加した錫また
は錫合金めっき浴を使用して、複合めっき法によっては
んだ膜を形成する方法を提供せんとするものである。
対象物に下地めっき膜を形成し、その上にレジスト膜で
パターンを形成し、次にこのレジスト膜の開口部へ錫合
金膜を形成し、レジスト膜剥離後に対応する部分の下地
めっき膜を除去して、意図する微細パターンの錫合金膜
を形成する方法において、上記錫合金膜が、錫と合金を
形成しはんだ膜として機能する粉末を含めた錫または錫
合金めっき浴によって形成されるものとしている。
板に特定し、そこに銅を下地めっきし、さらに上記レジ
スト膜を20μm以上の厚さで形成し、レジスト膜に相
応する厚さの錫合金膜を形成する錫合金膜の形成方法と
している。なお以上および以下の説明において、基板と
はパッケージを含む広義の用語として用いるものであ
る。
金めっき浴を意図し、インジウム、ビスマス、銀および
これらの合金のいずれかを粉末として加えたものとして
いる。
意図し、上記の粉末が、金、銀、パラジウム、白金等の
いずれか貴な金属により覆われているものとしている。
錫合金めっき浴を意図し、このめっき浴にメタンスルホ
ン酸、カルボン酸、2価の錫塩、4価の錫塩、チオ尿
素、ジメチルアミンボランその他の還元剤等を、選択し
て含ませるものとしている。
法では、錫と合金を形成し易くかつはんだ材として機能
することのできる粉末を分散添加した錫または錫合金め
っき浴を使用して、複合めっき法によって錫合金膜をを
形成する。
基板上に銅金属を下地めっきする。そしてレジスト膜を
20μm以上、好ましくは40μm以上に厚く形成し、
基板上にパターンを形成する。そしてレジストの開口部
内の銅金属上に、合金化金属の粉末を充填せしめ錫およ
び錫合金めっきにより、この粉末を固定してバンプ形状
を得る。レジストの剥離とそれに見合う部分の下地除去
により、基板上にはレジストの膜厚に相応する20μm
以上、好ましくは40μm以上に厚く形成したはんだ膜
としての錫合金膜が最終的に形成されることになる。
たは錫合金めっき浴とは、前述したように、錫または錫
合金めっき浴中に錫と合金を形成しはんだ膜として機能
する粉末を含めるものであり、複合めっきを可能とする
ものである。なお以上および以下の説明において、錫ま
たは錫合金めっき浴とは、置換錫、無電解で還元タイプ
の錫さらには電解錫をも含む広い概念の用語として使用
するものである。
んだ膜として機能すること、また形成するはんだ膜の膜
層を厚くすることのできる粉末を選択するものとし、具
体的には、インジウム、ビスマス、銀およびこれらの合
金のいずれかを選択するものである。むろんこれらの金
属の多層構造を意図しても良く、上記金属のいずれか一
種以上を選択し混在させても良い。
場合や、錫めっき膜と組み合わせた場合に3元以上の合
金としたい場合に、置換めっき等の方法で、粉末を他の
物質の膜で被覆する。具体的には上記粉末の表面を、
金、銀、パラジウム、白金等の、粉末金属より貴な金属
のいずれかで置換析出させることで覆うものとする。
ては、錫または錫合金めっきが可能であればどのような
ものでもよく、主にメタンスルホン酸またはカルボン
酸、2価の錫塩または4価の錫塩とジメチルアミンボラ
ンその他の還元剤、チオ尿素等を、選択して含めるもの
である。
き浴中に対象物、例えば基板を浸漬することで成し得る
が、めっき処理の際に超音波による攪拌を加えて、レジ
ストの開口部内へ粉末を均一に充填させるのが好まし
い。また連続処理するには、水平に基板を搬送し、これ
にポンプにて上記の粉末を分散させためっき液を供給す
るようにしてもよい。いずれの場合であっても、めっき
処理によってレジストの開口部内に充填された金属粉末
の間隙を錫または錫合金めっきが埋めることにより意図
するバンプ形状が得られる。
基板として銅により回路パターンが形成された樹脂基板
を用い、40μmの厚さのレジスト膜を施し、このレジ
スト膜の開口部内の銅金属上にはんだ膜を形成した。こ
のはんだ膜は、錫酸カリウム、酒石酸、チオ尿素を主な
組成としかつインジウム粉末を添加した錫合金めっき浴
を使用し、このめっき浴内に上記基板を浸漬しその際に
超音波により攪拌を加えることにより行なった。レジス
トを剥離しそこに対応する下地を除去した後で、回路パ
ターン上に形成されたはんだ膜を観察したところ、置換
錫とインジウム粉による複合めっきが高密度で40μm
の厚さで行なわれていたことが確認できた。
びその錫合金めっき浴は以上説明したごとき内容のもの
なので、錫と合金を形成し易くかつはんだ材として機能
することのできる粉末を分散添加した錫または錫合金め
っき浴を使用して、高い密度で厚い錫合金膜を複合めっ
きできるという効果がある。
Claims (5)
- 【請求項1】 対象物に下地めっき膜を形成し、その上
にレジスト膜でパターンを形成し、次にこのレジスト膜
の開口部へ錫合金膜を形成し、レジスト膜剥離後に対応
する部分の下地めっき膜を除去して、意図する微細パタ
ーンの錫合金膜を形成する方法において、 上記錫合金膜が、錫と合金を形成しはんだ膜として機能
する粉末を含めた錫または錫合金めっき浴によって、形
成されることを特徴とする錫合金膜の形成方法。 - 【請求項2】 対象物が基板であり、そこに銅を下地め
っきし、さらに上記レジスト膜を20μm以上の厚さで
形成し、レジスト膜に相応する厚さの錫合金膜を形成す
るものである、請求項1記載の錫合金膜の形成方法。 - 【請求項3】 インジウム、ビスマス、銀およびこれら
の合金のいずれかを粉末として加えたものである、錫ま
たは錫合金めっき浴。 - 【請求項4】 上記粉末の表面が、金、銀、パラジウ
ム、白金等のいずれか貴な金属により覆われているもの
である請求項3記載の錫合金めっき浴。 - 【請求項5】 メタンスルホン酸、カルボン酸、2価の
錫塩、4価の錫塩、チオ尿素、ジメチルアミンボランそ
の他の還元剤等を、選択して含むものである請求項3ま
たは請求項4のいずれかに記載の錫合金めっき浴。
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JP2008121111A (ja) * | 2007-10-05 | 2008-05-29 | Ses Co Ltd | 無電解めっき方法 |
JP2009275253A (ja) * | 2008-05-13 | 2009-11-26 | Ses Co Ltd | 無電解めっき方法 |
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001034310A1 (en) * | 1999-11-12 | 2001-05-17 | Enthone Inc. | Process for the non-galvanic tin plating of copper or copper alloys |
US6821323B1 (en) | 1999-11-12 | 2004-11-23 | Enthone Inc. | Process for the non-galvanic tin plating of copper or copper alloys |
US8344062B2 (en) | 2004-01-23 | 2013-01-01 | Ormecon Gmbh | Dispersions of intrinsically conductive polymers |
JP2006037227A (ja) * | 2004-06-25 | 2006-02-09 | Ormecon Gmbh | ウィスカ形成傾向の少ないスズ被覆プリント配線基板 |
JP4647412B2 (ja) * | 2004-06-25 | 2011-03-09 | オルメコン・ゲーエムベーハー | ウィスカ形成傾向の少ないスズ被覆プリント配線基板 |
WO2008056537A1 (fr) | 2006-11-10 | 2008-05-15 | S.E.S. Co., Ltd. | Procédé de dépôt autocatalytique |
JP2008121111A (ja) * | 2007-10-05 | 2008-05-29 | Ses Co Ltd | 無電解めっき方法 |
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