JPH10223825A - 樹脂パッケージ型半導体装置、およびその製造方法 - Google Patents

樹脂パッケージ型半導体装置、およびその製造方法

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JPH10223825A
JPH10223825A JP2111597A JP2111597A JPH10223825A JP H10223825 A JPH10223825 A JP H10223825A JP 2111597 A JP2111597 A JP 2111597A JP 2111597 A JP2111597 A JP 2111597A JP H10223825 A JPH10223825 A JP H10223825A
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Abstract

(57)【要約】 樹脂パッケージ型半導体装置の小型化を図りつつ、樹脂
パッケージ型半導体装置をプリント基板などに実装した
ときに充分な接合強度が得られるようにする。 【解決手段】半導体チップ2と、この半導体チップ2の
一側面2aに設けられている電極20に一端部11aが
接続され、かつ上記半導体チップ2の上記一側面2aと
対向する領域において上記一側面2aから離反する方向
へ延びる起立部11bを有するリード端子11Aと、こ
のリード端子11Aの上記一端部11aと上記電極20
との接続部分を包み込むように上記半導体チップ2を覆
う封止樹脂6と、を具備する樹脂パッケージ型半導体装
置であって、上記リード端子11Aの起立部11bは、
上記封止樹脂6の外部に突出している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本願発明は、ICやLSIなどの半導体チ
ップをパッケージングした樹脂パッケージ型半導体装
置、およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、樹脂パッケージ型半導体装置の一
例としては、いわゆるCSP(Chip Size Package)と称
されるものがあり、その具体例を図14に示す。同図に
示す樹脂パッケージ型半導体装置Bは、半導体チップ2
eを複数本のリード端子19上にマウントし、これらを
封止樹脂6eによって覆ったものであるが、上記半導体
チップ2eの複数の電極20は下向きに配されており、
金線などのワイヤ4を介して上記リード端子19の上端
部(一端部)19aと接続されている。また、上記リー
ド端子19は、上記上端部19aから下方へ延びる起立
部19bと、この起立部19bの下端から略水平方向に
延びる下端部(他端部)19cとを有しており、この下
端部19cの下面は、上記封止樹脂6eの下面60と面
一となっている。
【0003】このような構成によれば、複数本のリード
端子19を半導体チップ2eの下方領域においてコンパ
クトに纏めているために、全体のサイズ、とくに半導体
装置Aの縦横方向のサイズを、半導体チップ2eの幅サ
イズと比較してさほど大きくならないように、小さくす
ることができる。すなわち、従来では、上記とは異な
り、たとえば図15に示す構成の樹脂パッケージ型半導
体装置Cが存在するが、この半導体装置Cは、複数本の
リード端子19fが半導体チップ2fの幅方向に延びた
かたちで封止樹脂6fの外部に突出しており、全体の幅
寸法Lが大きい。これに対し、上記図14に示す半導体
装置Bでは、リード端子19が封止樹脂6eの外部に半
導体チップ2eの幅方向に延びたかたちで突出していな
いために、その分だけ全体のサイズを小さくすることが
できる。したがって、上記半導体装置Bは、高密度実装
を行う上で有利となる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の樹脂パッケージ型半導体装置Bでは、次のような不
具合を生じていた。
【0005】すなわち、上記樹脂パッケージ型半導体装
置Bでは、リード端子19の全体が封止樹脂6e内に埋
設されており、僅かに下端部19cの下面領域が封止樹
脂6eの外部へ平面的に露出しているに過ぎない。この
ような構成では、上記下端部19cにハンダを付着させ
て、上記半導体装置Bを所望のプリント基板8aに実装
した場合に、上記リード端子19を変形させることが困
難である。このため、従来では、たとえば上記半導体装
置Bの温度変化に原因して上記半導体装置Bの内部に応
力が発生しても、この応力を緩和することができず、半
導体装置Bとプリント基板8aとのハンダ接合部分に、
上記応力が集中して作用する事態を招いていた。その結
果、従来では、半導体装置Bとプリント基板8aとの接
合の確実性、および信頼性が劣るという不具合を生じて
いた。また、上記半導体装置Bでは、プリント基板8a
に機械的な振動や衝撃が作用した場合に、これらの振動
や衝撃を緩和する機能も有していない。したがって、従
来の半導体装置Bでは、振動や衝撃によってダメージを
受け易いという不具合も生じていた。
【0006】さらに、従来では、上記半導体装置Bをプ
リント基板8aにハンダ付けする場合には、リード端子
19の他端部19cの下面領域のみにハンダを付着させ
得るに過ぎない。したがって、従来では、ハンダの接合
強度を大きくすることも困難となっていた。上記半導体
装置Bをプリント基板8aにハンダ付けする場合には、
リード端子19の一部をハンダによって包み込むように
ハンダ付けすることが望まれるが、従来では、そのよう
なハンダ付けは困難であった。
【0007】本願発明は、このような事情のもとで考え
出されたものであって、樹脂パッケージ型半導体装置の
小型化を図りつつ、樹脂パッケージ型半導体装置をプリ
ント基板などに実装したときに充分な接合強度が得られ
るようにすることをその課題としている。
【0008】
【発明の開示】上記の課題を解決するため、本願発明で
は、次の技術的手段を講じている。
【0009】すなわち、本願発明の第1の側面によれ
ば、樹脂パッケージ型半導体装置が提供される。この樹
脂パッケージ型半導体装置は、半導体チップと、この半
導体チップの一側面に設けられている電極に一端部が接
続され、かつ上記半導体チップの上記一側面と対向する
領域において上記一側面から離反する方向へ延びる起立
部を有するリード端子と、このリード端子の上記一端部
と上記電極との接続部分を包み込むように上記半導体チ
ップを覆う封止樹脂と、を具備する樹脂パッケージ型半
導体装置であって、上記リード端子の起立部は、上記封
止樹脂の外部に突出していることに特徴づけられる。
【0010】本願発明においては、本願発明に係る樹脂
パッケージ型半導体装置をプリント基板などの所望部材
に実装するには、封止樹脂の外部に突出しているリード
端子の一部を所望部材にハンダ付けすればよく、リード
端子の起立部が封止樹脂の外部に突出したかたちで樹脂
パッケージ型半導体装置の実装を行うことができる。こ
のような実装構造とすれば、封止樹脂の外部に突出して
いるリード端子の起立部を変形させることが可能とな
る。したがって、本願発明では、樹脂パッケージ型半導
体装置の温度変化に原因してこの樹脂パッケージ型半導
体装置の内部に応力が発生した場合であっても、この応
力を上記リード端子の起立部の変形によって緩和するこ
とが可能となり、上記応力が樹脂パッケージ型半導体装
置と所望部材との接合部分に集中的に作用することを回
避することができる。
【0011】また、本願発明では、封止樹脂の外部に突
出しているリード端子にハンダ付けすることができるた
めに、リード端子に対するハンダ付けの面積を大きくと
ることができ、しかもハンダによって上記リード端子を
包み込むようにすることもできる。したがって、樹脂パ
ッケージ型半導体装置の接合部分の強度を積極的に高め
ることもでき、樹脂パッケージ型半導体装置を所望部材
に実装した場合のこれらの接合の確実性、および信頼性
を高めることができるという優れた効果が得られる。
【0012】さらに、本願発明では、樹脂パッケージ型
半導体装置が実装されているプリント基板などの部材に
機械的な振動や衝撃が作用した場合には、これらの振動
や衝撃を上記リード端子の起立部が緩和する機能をも発
揮する。したがって、振動や衝撃に対する耐久性をも向
上させることができるという効果が得られる。
【0013】本願発明では、リード端子の起立部を封止
樹脂の外部に突出させてはいるものの、上記リード端子
の起立部は、従来のものと同様に、半導体チップの所定
の一側面と対向する領域において上記一側面から離反す
る方向へ延びている。したがって、上記リード端子が半
導体チップの幅方向に大きく嵩張ることを回避すること
ができ、樹脂パッケージ型半導体装置全体の小型化が図
れる。
【0014】本願発明の好ましい実施の形態では、上記
リード端子は、上記半導体チップの上記一側面に略平行
な方向へ延びる他端部を有しており、かつこの他端部と
上記封止樹脂の外表面との間には、隙間が形成されてい
る。
【0015】このような構成によれば、上記リード端子
の他端部をプリント基板などの所望部材の表面に対向さ
せてハンダ付けすることにより、樹脂パッケージ型半導
体装置の面実装を行うことができるが、その際には、上
記リード端子の他端部に対して比較的大きな面積でハン
ダ付けを行うことが可能となる。したがって、樹脂パッ
ケージ型半導体装置とプリント基板などの所望部材との
接合強度を高める上で、一層都合が良いものにできる。
また、上記リード端子の他端部と封止樹脂の外表面との
間には隙間が形成されているために、この隙間内にハン
ダを進入させることによって、上記リード端子をハンダ
によって容易に包み込むこともできる。したがって、上
記リード端子をハンダ付けする際の接合強度をより高め
ることができる。
【0016】本願発明の他の好ましい実施の形態では、
上記リード端子の他端部と上記封止樹脂の外表面との間
の隙間は、0.3mm以上である。
【0017】このような構成によれば、リード端子の他
端部と封止樹脂の外表面との間の隙間にハンダを進入さ
せて、上記リード端子の他端部をハンダによって包み込
むことが確実化される。また、上記構成では、リード端
子の起立部が、封止樹脂の外部に0.3mm以上突出し
ている構造となっており、上記封止樹脂から突出したリ
ード端子の起立部によって、応力の緩和などを確実に行
わせることも可能となる。
【0018】本願発明の第2の側面によれば、樹脂パッ
ケージ型半導体装置の製造方法が提供される。この樹脂
パッケージ型半導体装置の製造方法は、起立状のリード
部を有するリードフレームに、半導体チップをボンディ
ングし、上記リードフレームに対向する上記半導体チッ
プの一側面に設けられている電極と上記リード部の一端
部とを接続する第1の工程と、上記電極と上記リード部
の一端部との接続部分を封止樹脂によって包み込むとと
もに、上記起立状のリード部の一部を上記封止樹脂の外
部へ突出させるように上記半導体チップの樹脂パッケー
ジを行う第2の工程と、を有することに特徴づけられ
る。
【0019】上記樹脂パッケージ型半導体装置の製造方
法によれば、上記リード部をリード端子とする樹脂パッ
ケージ型半導体装置を得ることができ、本願発明の第1
の側面によって提供される樹脂パッケージ型半導体装置
を適切に製造することができる。
【0020】本願発明の好ましい実施の形態では、上記
本願発明の第2の側面によって提供される樹脂パッケー
ジ型半導体装置の製造方法において、上記封止樹脂の外
部に突出している上記リード部の一部が、上記半導体チ
ップの上記一側面と略平行な方向へ延び、かつ上記封止
樹脂の外表面との間に隙間を形成するように、上記リー
ド部をフォーミングする第3の工程を有している。
【0021】このような構成によれば、リード端子が半
導体チップの所定の一側面に略平行な方向へ延びる他端
部を有し、かつこの他端部と封止樹脂の外表面との間に
隙間が形成されている好ましい実施の形態の樹脂パッケ
ージ型半導体装置を適切に製造することができる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本願発明の好ましい実施の
形態について、図面を参照しつつ具体的に説明する。
【0023】図1は、本願発明に係る樹脂パッケージ型
半導体装置の製造方法に使用されるリードフレーム1お
よび半導体チップ2の一例を示す斜視図である。図2
は、図1のII−II断面図である。図3ないし図10(図
8を除く)は、本願発明に係る樹脂パッケージ型半導体
装置の製造方法の一連の作業工程を示す断面図である。
図8は、図7の側面図である。
【0024】まず、本実施形態で使用されるリードフレ
ーム1および半導体チップ2の構成から説明する。図1
および図2において、半導体チップ2は、ICやLSI
などの電子回路を構成するものであり、その全体の概略
形状は偏平な矩形ブロック状に形成されている。この半
導体チップ2の一側面(下面)2aには、パッド状の複
数の電極20が設けられている。また、上記一側面2a
には、樹脂フィルム3が貼着されており、この樹脂フィ
ルム3に形成された複数の窓孔部30のそれぞれの内側
に上記複数の電極20が個々に配置されている。上記樹
脂フィルム3は、半導体チップ2とリードフレーム1と
の絶縁を図るのに役立つ他、半導体チップ2をリードフ
レーム1上にマウントする際の衝撃を緩和するのにも役
立つ。
【0025】上記リードフレーム1は、たとえば銅合金
などの薄肉の金属板をプレス加工して形成されたもので
あり、長尺帯状である。このリードフレーム1は、一定
間隔を隔てて相互に対向する1組のサイドフレーム部1
0,10、これらサイドフレーム部10,10のそれぞ
れの上縁部から上方に起立した複数条のリード部11、
これら複数条のリード部11を互いに繋ぐようにリード
フレーム1の長手方向に延びる一組のタイバー部12,
12、および上記タイバー部12,12どうしならびに
サイドフレーム部10,10どうしを互いに繋ぐ複数条
のクロスフレーム部13を具備して構成されている。上
記各リード部11の上端部(一端部)11aは、リード
フレーム1の幅方向中央部側に屈曲されており、それら
の上面に半導体チップ2を載置可能である。上記各上端
部11aは、半導体チップ2の電極20の配置パターン
に対応している。上記リードフレーム1の長手方向に
は、1個の半導体チップ2に対応する本数のリード部1
1が集合したリード部11の集合グループが、一定間隔
を隔てて多数グループ設けられている。上記サイドフレ
ーム部10,10、タイバー部12,12、およびクロ
スフレーム部13は、リードフレーム1の全体に保形性
をもたせ、上記リード部11の起立保持や位置決め、な
らびにリードフレーム1の長手方向の移送を可能とす
る。
【0026】上記樹脂パッケージ型半導体装置を製造す
るには、まず上記リードフレーム1を長手方向に移送さ
せながら、上記半導体チップ2をチップマウンタなどを
用いて上記リードフレーム1上に供給し、ボンディング
する。この場合、図3に示すように、複数条のリード部
11の上端部11a上に半導体チップ2をボンディング
する。次いで、図4に示すように、上記リードフレーム
1および半導体チップ2を上下反転し、半導体チップ2
の電極20とリード部11の一端部11aとを、金線な
どのワイヤ4を介してワイヤ接続する。
【0027】上記ワイヤ接続が終了した後には、樹脂パ
ッケージ作業を行う。この樹脂パッケージ作業は、図5
および図6に示すように、上下1組の金型5,5aを用
いて行う。これらの金型5,5aは、相互に対向するキ
ャビティ50,50aを有するものであるが、下側の金
型5aにはリードフレーム1の複数条のリード部11を
挿通可能とする2条のスリット51,51が設けられて
いる。本実施形態においては、上記スリット51,51
が、下側の金型5aの厚み方向に貫通した貫通孔として
形成されているが、上記金型5aの厚み寸法をリード部
11の長さよりも大きくした場合には、上記スリット5
1,51を非貫通孔状のスリットとして形成し、このス
リットの一部に上記リード部11が挿入するように構成
してもかまわない。
【0028】半導体チップ2は、上記リード部11が上
記スリット51,51内に挿入することにより、図6に
示すように、金型5,5aのキャビティ50,50a内
に適切に配される。半導体チップ2をキャビティ50,
50a内に配置する場合には、リード部11の一端部1
1aから下方に延びている部分、すなわち起立部11b
の上部も、上記キャビティ50,50a内に一部配され
るように設定する。このような設定状態において、上記
キャビティ50,50a内にエポキシ樹脂などの熱硬化
性樹脂を流入させて、加熱硬化させる。
【0029】上記樹脂パッケージ作業によれば、図7に
示すように、半導体チップ2の全周囲、および電極20
とリード部11の一端部11aとのワイヤ4による接続
部分を封止樹脂6によって覆うことができる。したがっ
て、半導体チップ2およびワイヤ接続部分の保護を上記
封止樹脂6によって適切に行うことができる。また、リ
ード部11の起立部11bは、上記封止樹脂6の下面か
らその下方へ一部突出した状態となる。なお、図6に示
したように、上記リード部11を金型5aのスリット5
1,51に挿入していたときに、上記スリット51に隙
間が存在している場合には、上記スリット51,51内
に樹脂が流入することにより、上記起立部11bの相互
間および表面部には、樹脂6aが付着することとなる。
ただし、この樹脂6aは、次に行われるリード部11a
のフォーミング加工時において、リード部11から簡単
に剥離除去することができ、格段不具合を生じることは
ない。
【0030】リード部11aのフォーミング加工に際し
ては、半導体チップ2および半導体チップ2がボンディ
ングされている複数条のリード部11を、1単位毎に分
離すべくリードフレーム1を長手方向に切断する作業も
行われる。具体的には、リードフレーム1のタイバー部
12,12やサイドフレーム部10,10を半導体チッ
プ2を挟む位置において切断し、またクロスフレーム部
13も除去する。このようなリードフレーム1の切断作
業を行うと、たとえば図8に示すような中間生産物が得
られるが、この中間生産物では、複数条のリード部11
がタイバー部12やクロスフレーム部13によっていま
だ相互に接続されている。また、これらリード部11の
外表面は、樹脂6aによって覆われている。そこで、上
記タイバー部12やサイドフレーム部10を、リード部
11,11どうしの相互間領域sにおいて切断し除去す
る。このような作業によって、複数条のリード部11を
互いに分離させることができ、上記リード部11をリー
ド端子11Aとして形成し、または機能させることがで
きる。また、上記タイバー部12やサイドフレーム部1
0の切断作業によって、リード端子11Aを覆っていた
樹脂6aを適切に除去することもできる。このような作
業工程によれば、図9に示すように、半導体チップ2を
覆う封止樹脂6の下面から複数本のリード端子11Aの
起立部11bが下向きに突出した樹脂パッケージ型半導
体装置Aaが得られる。
【0031】次いで、上記複数本のリード端子11Aに
ついて、さらにフォーミング加工を行う。このフィーミ
ング加工は、リード端子11Aの起立部11bを屈曲加
工し、図10に示すように、複数のリード端子11Aの
下端部(他端部)11cを半導体チップ2の下面2aお
よび封止樹脂6の下面61と略平行な方向に延ばすよう
に行う。また、このフォーミング加工では、リード端子
11Aの起立部11bの一部が封止樹脂6の下方へ突出
し、下端部11cと封止樹脂6の下面61との相互間に
は、隙間Hが形成されるようにする。上記隙間Hの最小
寸法Laは、たとえば0.3mm以上とする。
【0032】上記一連の作業工程によれば、リード端子
11Aの一端部11aと半導体チップ2の電極20との
接続部分を包み込むように半導体チップ2の全体を覆う
封止樹脂6の下面からリード端子11の起立部11bが
突出し、かつこの起立部11bに下端部11cが繋がっ
た形態の樹脂パッケージ型半導体装置Aが得られること
となる。
【0033】上記構成の樹脂パッケージ型半導体装置A
は、たとえば図11に示すように、プリント基板8の表
面にハンダ(クリームハンダ)7を用いて面実装され、
使用される。正気半導体装置Aのハンダ付け作業は、リ
ード端子11Aの下端部11cにハンダ7を付着させて
行われるが、上記下端部11cはプリント基板8の表面
方向に延びていることにより、ハンダ7の接着面積を大
きくとることができる。また、上記下端部11cと封止
樹脂6の下面61との間には隙間Hが形成されているた
めに、ハンダ7を上記下端部11cの上面にも回り込ま
せることができ、リード端子11Aのハンダ付けを確実
なものとすることができる。上記隙間Hの寸法Laが
0.3mm以上であれば、その隙間H内にハンダペース
トを適切に進入させることが可能となる。したがって、
上記半導体装置Aをプリント基板8に実装する際のハン
ダ接合強度を高めることができる。
【0034】さらに、上記樹脂パッケージ型半導体装置
Aは、リード端子11Aの起立部11bが封止樹脂6の
下方に突出したかたちで実装されている。したがって、
上記起立部11bは、変形可能であり、半導体装置Aに
作用する振動や衝撃力を緩和する役割を果たすこととな
る。さらに、半導体チップ2は、その駆動時とその駆動
停止時とでは温度が相違し、この温度変化に伴って上記
半導体装置Aの内部には応力が生ずることとなるが、こ
の応力も上記起立部11bの変形によって吸収緩和され
ることとなる。したがって、上記応力がリード端子11
Aとプリントヘッド基板8とのハンダ接合部分に集中し
て作用することが回避され、上記ハンダ接合部分の強度
を確保でき、接合の信頼性を高めることができる。
【0035】図12および図13は、樹脂パッケージ作
業の他の例を示す断面図である。これらの図に示すよう
に、本願発明では、樹脂パッケージを行うための金型と
しては、上側の金型5b、下側の金型5c、および両サ
イドの金型5d,5eを用いてもかまわない。下側の金
型5cは、図13に示すように、相互に対向するリード
フレーム1のリード部11,11の相互間に配置可能な
凸状部52を具備するものであり、両サイドの金型5
d,5eは、上記凸状部52との相互間において上記リ
ード部11,11をそれぞれ挟み込むためのものであ
る。このような金型を用いる手段によっても、半導体チ
ップ2の周囲を封止樹脂によって適切に覆うことが可能
となり、しかもその封止樹脂の下方にリード部11,1
1を適切に突出させるように形成することができる。た
だし、本願発明に係る樹脂パッケージ型半導体装置の製
造方法における樹脂パッケージ作業は、上記図12およ
び図13に示す金型や、図5および図6に示す金型を用
いる手段に限定されない。
【0036】また、上記実施形態では、図10に示すよ
うに、最終的には、リード端子11Aの他端部11cが
半導体チップ2の下面にほぼ平行な方向へ延びるように
形成された樹脂パッケージ型半導体装置Aを製造してい
るが、本願発明はこれに限定されない。本願発明では、
たとえば図9に示したように、リード端子11Aの他端
部(下端部)を屈曲加工形成していない形態の樹脂パッ
ケージ型半導体装置Aaとして製造するだけであっても
かまわない。図9に示す樹脂パッケージ型半導体装置A
aは、図10に示す樹脂パッケージ型半導体装置Aを製
造するための中間生産物として利用することができる
が、この樹脂パッケージ型半導体装置Aaをそのまま使
用することも理論上可能であり、上記樹脂パッケージ型
半導体装置A,Aaのいずれの場合も本願発明の技術的
範囲に包摂される。
【0037】その他、本願発明に係る樹脂パッケージ型
半導体装置の各部の具体的な構成は、種々に設計変更自
在である。また、本願発明に係る樹脂パッケージ型半導
体装置の製造方法の各作業工程の具体的な構成も種々に
変更自在である。たとえば、リード端子と半導体チップ
の電極との接続は、ワイヤ接続によらず、バンプなどに
よって接続してもかまわない。さらに、半導体チップの
樹脂パッケージは、たとえば封止樹脂によって半導体チ
ップの全面を覆うことなく、たとえば図14に示す従来
例のものと同様に、半導体チップの一部を露出させるよ
うに半導体チップ2を覆ってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本願発明に係る樹脂パッケージ型半導
体装置の製造方法に使用される半導体チップおよびリー
ドフレームの一例を示す斜視図である。
【図2】図1のII−II断面図である。
【図3】本願発明に係る樹脂パッケージ型半導体装置の
製造方法の作業工程を示す断面図である。
【図4】本願発明に係る樹脂パッケージ型半導体装置の
製造方法の作業工程を示す断面図である。
【図5】本願発明に係る樹脂パッケージ型半導体装置の
製造方法の作業工程を示す断面図である。
【図6】本願発明に係る樹脂パッケージ型半導体装置の
製造方法の作業工程を示す断面図である。
【図7】本願発明に係る樹脂パッケージ型半導体装置の
製造方法の作業工程を示す断面図である。
【図8】図7の側面図である。
【図9】本願発明に係る樹脂パッケージ型半導体装置の
製造方法の作業工程を示す断面図である。
【図10】本願発明に係る樹脂パッケージ型半導体装置
の製造方法の作業工程を示す断面図である。
【図11】本願発明に係る樹脂パッケージ型半導体装置
の製造方法の作業工程を示す断面図である。
【図12】樹脂パッケージ作業の他の例を示す断面図で
ある。
【図13】樹脂パッケージ作業の他の例を示す断面図で
ある。
【図14】従来の樹脂パッケージ型半導体装置の一例を
示す断面図である。
【図15】従来の樹脂パッケージ型半導体装置の他の例
を示す断面図である。
【符号の説明】
1 リードフレーム 2 半導体チップ 2a 一側面(半導体チップの) 3 樹脂フィルム 4 ワイヤ 5,5a〜5e 金型 6 封止樹脂 7 ハンダ 8 プリント基板 11 リード部 11a 上端部(一端部) 11b 起立部 11d 下端部(他端部) 11A リード端子 20 電極 H 隙間 A,Aa 樹脂パッケージ型半導体装置

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップと、この半導体チップの一
    側面に設けられている電極に一端部が接続され、かつ上
    記半導体チップの上記一側面と対向する領域において上
    記一側面から離反する方向へ延びる起立部を有するリー
    ド端子と、このリード端子の上記一端部と上記電極との
    接続部分を包み込むように上記半導体チップを覆う封止
    樹脂と、を具備する樹脂パッケージ型半導体装置であっ
    て、 上記リード端子の起立部は、上記封止樹脂の外部に突出
    していることを特徴とする、樹脂パッケージ型半導体装
    置。
  2. 【請求項2】 上記リード端子は、上記半導体チップの
    上記一側面に略平行な方向へ延びる他端部を有してお
    り、かつこの他端部と上記封止樹脂の外表面との間に
    は、隙間が形成されている、請求項1に記載の樹脂パッ
    ケージ型半導体装置。
  3. 【請求項3】 上記リード端子の他端部と上記封止樹脂
    の外表面との間の隙間は、0.3mm以上である、請求
    項2に記載の樹脂パッケージ型半導体装置。
  4. 【請求項4】 起立状のリード部を有するリードフレー
    ムに、半導体チップをボンディングし、上記リードフレ
    ームに対向する上記半導体チップの一側面に設けられて
    いる電極と上記リード部の一端部とを接続する第1の工
    程と、 上記電極と上記リード部の一端部との接続部分を封止樹
    脂によって包み込むとともに、上記起立状のリード部の
    一部を上記封止樹脂の外部へ突出させるように上記半導
    体チップの樹脂パッケージを行う第2の工程と、 を有することを特徴とする、樹脂パッケージ型半導体装
    置の製造方法。
  5. 【請求項5】 上記封止樹脂の外部に突出している上記
    リード部の一部が、上記半導体チップの上記一側面と略
    平行な方向へ延び、かつ上記封止樹脂の外表面との間に
    隙間を形成するように、上記リード部をフォーミングす
    る第3の工程を有している、請求項4に記載の樹脂パッ
    ケージ型半導体装置の製造方法。
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