JPH09321603A - 多電源半導体集積回路 - Google Patents
多電源半導体集積回路Info
- Publication number
- JPH09321603A JPH09321603A JP8133373A JP13337396A JPH09321603A JP H09321603 A JPH09321603 A JP H09321603A JP 8133373 A JP8133373 A JP 8133373A JP 13337396 A JP13337396 A JP 13337396A JP H09321603 A JPH09321603 A JP H09321603A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- supply voltage
- input
- semiconductor integrated
- buffer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0021—Modifications of threshold
- H03K19/0027—Modifications of threshold in field effect transistor circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/0185—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
- H03K19/018585—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only programmable
Abstract
(57)【要約】
【課題】 複数の電源電圧を有する多電源半導体集積回
路においても、入力閾値電圧を一定に固定し、TTLレ
ベルにおける入力ノイズマージンを確保することができ
る多電源半導体集積回路を提供する。 【解決手段】 多電源半導体集積回路において、電源電
圧が5Vの場合に閾値電圧が1.5Vになるように設計
された入力バッファ(5VTTLバッファ)3と、電源
電圧が3Vの場合に閾値電圧が1.5Vになるように設
計された入力バッファ(3VTTLバッファ)4を具備
し、入力端子(IN)2は両バッファ3,4の入力に接
続され、両バッファ3,4の出力は次段の切替回路(M
UX)5の二つの入力にそれぞれ接続される。また、切
替端子6は切替回路5の選択制御入力に接続され、切替
回路5の出力端子は内部回路7の入力に接続される。
路においても、入力閾値電圧を一定に固定し、TTLレ
ベルにおける入力ノイズマージンを確保することができ
る多電源半導体集積回路を提供する。 【解決手段】 多電源半導体集積回路において、電源電
圧が5Vの場合に閾値電圧が1.5Vになるように設計
された入力バッファ(5VTTLバッファ)3と、電源
電圧が3Vの場合に閾値電圧が1.5Vになるように設
計された入力バッファ(3VTTLバッファ)4を具備
し、入力端子(IN)2は両バッファ3,4の入力に接
続され、両バッファ3,4の出力は次段の切替回路(M
UX)5の二つの入力にそれぞれ接続される。また、切
替端子6は切替回路5の選択制御入力に接続され、切替
回路5の出力端子は内部回路7の入力に接続される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、二つ以上の電圧電
源を扱える半導体集積回路における入力バッファ回路に
関するものである。
源を扱える半導体集積回路における入力バッファ回路に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の多電源半導体集積回路において
は、特定の入力バッファに専用の電源端子を設け、その
電源端子の電圧を使用状況に応じて、例えば5Vまたは
3Vに設定して使用していた。
は、特定の入力バッファに専用の電源端子を設け、その
電源端子の電圧を使用状況に応じて、例えば5Vまたは
3Vに設定して使用していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の多電源半導体集積回路においては、電源電圧が
5Vである場合と3Vである場合には、入力バッファの
閾値電圧が各電源電圧で変化してしまうため、CMOS
インターフェース(閾値=電源電圧/2)しか対応でき
ないという問題点があった。つまり、CMOS回路にお
いてTTLレベルインターフェースを行う場合、電源電
圧が5Vの時に閾値電圧を1.5V(TTLレベル)に
設定した場合、電源電圧が3Vの場合には閾値電圧が
0.9Vになってしまい、低レベル側のノイズマージン
が確保できない。
た従来の多電源半導体集積回路においては、電源電圧が
5Vである場合と3Vである場合には、入力バッファの
閾値電圧が各電源電圧で変化してしまうため、CMOS
インターフェース(閾値=電源電圧/2)しか対応でき
ないという問題点があった。つまり、CMOS回路にお
いてTTLレベルインターフェースを行う場合、電源電
圧が5Vの時に閾値電圧を1.5V(TTLレベル)に
設定した場合、電源電圧が3Vの場合には閾値電圧が
0.9Vになってしまい、低レベル側のノイズマージン
が確保できない。
【0004】本発明は、上記問題点を除去し、複数の電
源電圧を有する多電源半導体集積回路においても、入力
閾値電圧を一定に固定し、TTLレベルにおける入力ノ
イズマージンを確保することができる多電源半導体集積
回路を提供することを目的とする。
源電圧を有する多電源半導体集積回路においても、入力
閾値電圧を一定に固定し、TTLレベルにおける入力ノ
イズマージンを確保することができる多電源半導体集積
回路を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、 〔1〕多電源半導体集積回路において、複数の電源電圧
に設定可能な電源と、この電源に接続される入力バッフ
ァと、この入力バッファの閾値電圧を前記電源電圧によ
らず、一定にする切替手段とを設ける。
成するために、 〔1〕多電源半導体集積回路において、複数の電源電圧
に設定可能な電源と、この電源に接続される入力バッフ
ァと、この入力バッファの閾値電圧を前記電源電圧によ
らず、一定にする切替手段とを設ける。
【0006】このように構成したので、複数の電源電圧
を有する多電源半導体集積回路においても、入力閾値電
圧を一定に固定し、TTLレベルにおける入力ノイズマ
ージンを確保することができる。 〔2〕上記〔1〕記載の多電源半導体集積回路におい
て、前記切替手段は、異なる電源電圧に対応するための
切替端子を具備し、第1の電源の入力バッファと第2の
電源の入力バッファを切り替えるようにしたものであ
る。
を有する多電源半導体集積回路においても、入力閾値電
圧を一定に固定し、TTLレベルにおける入力ノイズマ
ージンを確保することができる。 〔2〕上記〔1〕記載の多電源半導体集積回路におい
て、前記切替手段は、異なる電源電圧に対応するための
切替端子を具備し、第1の電源の入力バッファと第2の
電源の入力バッファを切り替えるようにしたものであ
る。
【0007】したがって、例えば、電源電圧が5Vの場
合でも、電源電圧が3Vの場合でも入力閾値電圧を1.
5Vに固定できるため、TTLレベルにおける入力ノイ
ズマージンを確保できる。 〔3〕上記〔1〕記載の多電源半導体集積回路におい
て、前記切替手段は、異なる電源電圧に対応するための
切替端子を具備し、一つの入力バッファのトランジスタ
の比率を切り替えるようにしたものである。
合でも、電源電圧が3Vの場合でも入力閾値電圧を1.
5Vに固定できるため、TTLレベルにおける入力ノイ
ズマージンを確保できる。 〔3〕上記〔1〕記載の多電源半導体集積回路におい
て、前記切替手段は、異なる電源電圧に対応するための
切替端子を具備し、一つの入力バッファのトランジスタ
の比率を切り替えるようにしたものである。
【0008】したがって、例えば、電源電圧が5Vの場
合には切替端子により、5VTTLバッファが構成さ
れ、電源電圧が3Vの場合には切替端子により、3VT
TLバッファが構成される。このことによって、電源電
圧にかかわらず所望の入力閾値電圧(TTLレベル=
1.5V)を得ることができる。 〔4〕上記〔1〕記載の多電源半導体集積回路におい
て、前記切替手段は、電源電圧を検出する電源電圧判定
回路により、第1の電源の入力バッファと第2の電源の
入力バッファを切り替えるようにしたものである。
合には切替端子により、5VTTLバッファが構成さ
れ、電源電圧が3Vの場合には切替端子により、3VT
TLバッファが構成される。このことによって、電源電
圧にかかわらず所望の入力閾値電圧(TTLレベル=
1.5V)を得ることができる。 〔4〕上記〔1〕記載の多電源半導体集積回路におい
て、前記切替手段は、電源電圧を検出する電源電圧判定
回路により、第1の電源の入力バッファと第2の電源の
入力バッファを切り替えるようにしたものである。
【0009】したがって、例えば、電源電圧判定回路が
電源電圧を判定し、電源電圧を5Vと判定した場合に
は、5VTTLバッファが選択され、電源電圧を3Vと
判定した場合には3VTTLバッファが選択されること
によって、それぞれの電源電圧に対応するTTLバッフ
ァを選択することにより、所望の入力閾値電圧を得るこ
とができる。
電源電圧を判定し、電源電圧を5Vと判定した場合に
は、5VTTLバッファが選択され、電源電圧を3Vと
判定した場合には3VTTLバッファが選択されること
によって、それぞれの電源電圧に対応するTTLバッフ
ァを選択することにより、所望の入力閾値電圧を得るこ
とができる。
【0010】〔5〕上記〔1〕記載の多電源半導体集積
回路において、前記切替手段は、電源電圧を検出する電
源電圧判定回路により、一つの入力バッファのトランジ
スタの比率を切り替えるようにしたものである。したが
って、例えば、電源電圧判定回路が電源電圧を判定し、
5Vと判定した場合においても、3Vの時と判定した場
合においても、入力閾値電圧を1.5Vに固定できるた
め、TTLレベルにおける入力マージンを確保できる。
回路において、前記切替手段は、電源電圧を検出する電
源電圧判定回路により、一つの入力バッファのトランジ
スタの比率を切り替えるようにしたものである。したが
って、例えば、電源電圧判定回路が電源電圧を判定し、
5Vと判定した場合においても、3Vの時と判定した場
合においても、入力閾値電圧を1.5Vに固定できるた
め、TTLレベルにおける入力マージンを確保できる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の第1
実施例を示す多電源半導体集積回路図である。なお、こ
の図において、便宜上、GND端子と配線は省略してい
る。この図において、1は電源電圧端子(5V/3
V)、2は入力端子(IN)、3は入力バッファ(5V
TTLバッファ)、4は入力バッファ(3VTTLバッ
ファ)、5は切替回路(MUX)、6は切替端子、7は
内部回路、8はVddコア(3V)である。
て図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の第1
実施例を示す多電源半導体集積回路図である。なお、こ
の図において、便宜上、GND端子と配線は省略してい
る。この図において、1は電源電圧端子(5V/3
V)、2は入力端子(IN)、3は入力バッファ(5V
TTLバッファ)、4は入力バッファ(3VTTLバッ
ファ)、5は切替回路(MUX)、6は切替端子、7は
内部回路、8はVddコア(3V)である。
【0012】図1に示すように、電源電圧が5Vの場合
に閾値電圧が1.5Vになるように設計された入力バッ
ファ(5VTTLバッファ)3と、電源電圧が3Vの場
合に閾値電圧が1.5Vになるように設計された入力バ
ッファ(3VTTLバッファ)4を具備し、入力端子
(IN)2は両バッファ3,4の入力に接続され、両バ
ッファ3,4の出力は次段の切替回路(MUX)5の二
つの入力にそれぞれ接続される。また、切替端子6は切
替回路5の選択制御入力に接続され、切替回路5の出力
端子は内部回路7の入力に接続される。
に閾値電圧が1.5Vになるように設計された入力バッ
ファ(5VTTLバッファ)3と、電源電圧が3Vの場
合に閾値電圧が1.5Vになるように設計された入力バ
ッファ(3VTTLバッファ)4を具備し、入力端子
(IN)2は両バッファ3,4の入力に接続され、両バ
ッファ3,4の出力は次段の切替回路(MUX)5の二
つの入力にそれぞれ接続される。また、切替端子6は切
替回路5の選択制御入力に接続され、切替回路5の出力
端子は内部回路7の入力に接続される。
【0013】このように構成したので、電源電圧が5V
の場合には切替端子6により5VTTLバッファ3が選
択され、電源電圧が3Vの場合には切替端子6により3
VTTLバッファ4が選択されることによって、それぞ
れの電源電圧に対応するTTLバッファを選択すること
により、所望の入力閾値電圧を得ることができる。以上
のように、第1実施例によれば、電源電圧が5Vの場合
においても、電源電圧が3Vの場合においても、入力閾
値電圧を1.5Vに固定できるため、TTLレベルにお
ける入力ノイズマージンを確保できる。
の場合には切替端子6により5VTTLバッファ3が選
択され、電源電圧が3Vの場合には切替端子6により3
VTTLバッファ4が選択されることによって、それぞ
れの電源電圧に対応するTTLバッファを選択すること
により、所望の入力閾値電圧を得ることができる。以上
のように、第1実施例によれば、電源電圧が5Vの場合
においても、電源電圧が3Vの場合においても、入力閾
値電圧を1.5Vに固定できるため、TTLレベルにお
ける入力ノイズマージンを確保できる。
【0014】次に、本発明の第2実施例について説明す
る。図2は本発明の第2実施例を示す多電源半導体集積
回路図である。なお、この図において、便宜上、内部回
路のGND端子と配線は省略している。この図におい
て、11は電源電圧端子(5V/3V)、12は入力端
子(IN)、13は入力バッファ、14はP型MOSト
ランジスタ(P1)、15はN型MOSトランジスタ
(N1)、16は第2のN型MOSトランジスタ(N
2)、17は切替端子、18は内部回路、19はVdd
コア(3V)である。
る。図2は本発明の第2実施例を示す多電源半導体集積
回路図である。なお、この図において、便宜上、内部回
路のGND端子と配線は省略している。この図におい
て、11は電源電圧端子(5V/3V)、12は入力端
子(IN)、13は入力バッファ、14はP型MOSト
ランジスタ(P1)、15はN型MOSトランジスタ
(N1)、16は第2のN型MOSトランジスタ(N
2)、17は切替端子、18は内部回路、19はVdd
コア(3V)である。
【0015】図2に示すように、電源電圧端子(5V/
3V)11と入力端子(IN)12及び切替端子17が
入力バッファ13に接続され、入力バッファ13の出力
は内部回路18に接続されている。入力バッファ13は
P型MOSトランジスタ(P1)14が電源電圧端子1
1と出力との間に接続され、出力とGND間に第1のN
型MOSトランジスタ(N1)15と、第2のN型MO
Sトランジスタ(N2)16が並列に配置されている。
P型MOSトランジスタ(P1)14と、第1のN型M
OSトランジスタ(N1)15のゲート入力は、入力
(IN)12に接続され、第2のN型MOSトランジス
タ(N2)16のゲートは切替端子17に接続されてい
る。
3V)11と入力端子(IN)12及び切替端子17が
入力バッファ13に接続され、入力バッファ13の出力
は内部回路18に接続されている。入力バッファ13は
P型MOSトランジスタ(P1)14が電源電圧端子1
1と出力との間に接続され、出力とGND間に第1のN
型MOSトランジスタ(N1)15と、第2のN型MO
Sトランジスタ(N2)16が並列に配置されている。
P型MOSトランジスタ(P1)14と、第1のN型M
OSトランジスタ(N1)15のゲート入力は、入力
(IN)12に接続され、第2のN型MOSトランジス
タ(N2)16のゲートは切替端子17に接続されてい
る。
【0016】このように構成したので、電源電圧が5V
の場合には切替端子17により、第2のN型MOSトラ
ンジスタ(N2)16がオンし、5VTTLバッファが
構成され、電源電圧が3Vの場合には切替端子17によ
り、第2のN型MOSトランジスタ(N2)16がオフ
し、3VTTLバッファが構成される。このことによっ
て、電源電圧にかかわらず所望の入力閾値電圧(TTL
レベル=1.5V)を得ることができる。なお、閾値は
PMOSとNMOSとのデイメンジョンの比で決まる。
の場合には切替端子17により、第2のN型MOSトラ
ンジスタ(N2)16がオンし、5VTTLバッファが
構成され、電源電圧が3Vの場合には切替端子17によ
り、第2のN型MOSトランジスタ(N2)16がオフ
し、3VTTLバッファが構成される。このことによっ
て、電源電圧にかかわらず所望の入力閾値電圧(TTL
レベル=1.5V)を得ることができる。なお、閾値は
PMOSとNMOSとのデイメンジョンの比で決まる。
【0017】第2のN型MOSトランジスタ(N2)1
6がオン、オフすることで、PとNの比が変わる。具体
的には、5VTTLバッファの場合には、PとNの比が
1:3、3VTTLバッファの場合には、PとNの比が
1:1となるように設定する。(ただし、実際には使用
するPとNのトランジスタの特性により、上記比率は多
少変わることになるので、その意味で、上記の値は必ず
しも固定されるものではない。) 以上のように、第2実施例によれば、第1実施例と同様
に、電源電圧が5Vの場合にも、3Vの場合にも入力閾
値電圧を1.5Vに固定できるため、TTLレベルにお
ける入力マージンを確保できる。また、第1実施例より
も構成トランジスタ数を削減できるという効果もある。
6がオン、オフすることで、PとNの比が変わる。具体
的には、5VTTLバッファの場合には、PとNの比が
1:3、3VTTLバッファの場合には、PとNの比が
1:1となるように設定する。(ただし、実際には使用
するPとNのトランジスタの特性により、上記比率は多
少変わることになるので、その意味で、上記の値は必ず
しも固定されるものではない。) 以上のように、第2実施例によれば、第1実施例と同様
に、電源電圧が5Vの場合にも、3Vの場合にも入力閾
値電圧を1.5Vに固定できるため、TTLレベルにお
ける入力マージンを確保できる。また、第1実施例より
も構成トランジスタ数を削減できるという効果もある。
【0018】次に、本発明の第3実施例について説明す
る。図3は本発明の第3実施例を示す多電源半導体集積
回路図である。なお、この図において、便宜上、GND
端子と配線は省略している。また、第1実施例と同じ部
分については同じ符号を付して、それらの説明は省略し
ている。この実施例においては、第1実施例に電源電圧
判定回路21を追加した構成になっている。電源電圧端
子(5V/3V)1は入力バッファ(5VTTLバッフ
ァ)3と、入力バッファ(3VTTLバッファ)4と、
電源電圧判定回路21に接続され、両入力バッファ3,
4の出力は次段の切替回路(MUX)5の二つの入力と
して接続され、更に、内部回路7に接続されている。
る。図3は本発明の第3実施例を示す多電源半導体集積
回路図である。なお、この図において、便宜上、GND
端子と配線は省略している。また、第1実施例と同じ部
分については同じ符号を付して、それらの説明は省略し
ている。この実施例においては、第1実施例に電源電圧
判定回路21を追加した構成になっている。電源電圧端
子(5V/3V)1は入力バッファ(5VTTLバッフ
ァ)3と、入力バッファ(3VTTLバッファ)4と、
電源電圧判定回路21に接続され、両入力バッファ3,
4の出力は次段の切替回路(MUX)5の二つの入力と
して接続され、更に、内部回路7に接続されている。
【0019】このように構成したので、電源電圧判定回
路21が電源電圧を判定し、電源電圧を5Vと判定した
場合には、5VTTLバッファ3が選択され、電源電圧
を3Vと判定した場合には、3VTTLバッファ4が選
択されることによって、それぞれの電源電圧に対応する
TTLバッファを選択することにより、所望の入力閾値
電圧を得ることができる。
路21が電源電圧を判定し、電源電圧を5Vと判定した
場合には、5VTTLバッファ3が選択され、電源電圧
を3Vと判定した場合には、3VTTLバッファ4が選
択されることによって、それぞれの電源電圧に対応する
TTLバッファを選択することにより、所望の入力閾値
電圧を得ることができる。
【0020】次に、本発明の第4実施例について説明す
る。図4は本発明の第4実施例を示す多電源半導体集積
回路図である。なお、この図において、便宜上、内部回
路のGND端子と配線は省略している。また、第2実施
例と同じ部分については同じ符号を付して、それらの説
明は省略している。この実施例においては、第2実施例
に電源電圧判定回路31を追加した構成になっている。
電源電圧端子(5V/3V)11は、入力バッファ13
と、電源電圧判定回路31に接続され、入力バッファ1
3の出力は内部回路18に接続されている。
る。図4は本発明の第4実施例を示す多電源半導体集積
回路図である。なお、この図において、便宜上、内部回
路のGND端子と配線は省略している。また、第2実施
例と同じ部分については同じ符号を付して、それらの説
明は省略している。この実施例においては、第2実施例
に電源電圧判定回路31を追加した構成になっている。
電源電圧端子(5V/3V)11は、入力バッファ13
と、電源電圧判定回路31に接続され、入力バッファ1
3の出力は内部回路18に接続されている。
【0021】そこで、電源電圧判定回路31が電源電圧
を判定し、電源電圧が5Vと判定した場合には、第2の
N型MOSトランジスタ(N2)16がオンし、5VT
TLバッファが構成され、電源電圧判定回路31が電源
電圧を3Vと判定した場合には、第2のN型MOSトラ
ンジスタ(N2)16がオフし、3VTTLバッファが
構成される。このことによって、電源電圧にかかわらず
所望の入力閾値電圧(TTLレベル=1.5V)を得る
ことができる。
を判定し、電源電圧が5Vと判定した場合には、第2の
N型MOSトランジスタ(N2)16がオンし、5VT
TLバッファが構成され、電源電圧判定回路31が電源
電圧を3Vと判定した場合には、第2のN型MOSトラ
ンジスタ(N2)16がオフし、3VTTLバッファが
構成される。このことによって、電源電圧にかかわらず
所望の入力閾値電圧(TTLレベル=1.5V)を得る
ことができる。
【0022】以上のように、第3実施例、第4実施例に
よれば、第1実施例、第2実施例と同様に、電源電圧が
5Vの場合も、3Vの場合も、入力閾値電圧を1.5V
に固定できるため、TTLレベルにおける入力マージン
を確保できる。また、第1実施例、第2実施例では必要
だった切替端子を削除できるという効果もある。なお、
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明
の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、これらを本
発明の範囲から排除するものではない。
よれば、第1実施例、第2実施例と同様に、電源電圧が
5Vの場合も、3Vの場合も、入力閾値電圧を1.5V
に固定できるため、TTLレベルにおける入力マージン
を確保できる。また、第1実施例、第2実施例では必要
だった切替端子を削除できるという効果もある。なお、
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明
の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、これらを本
発明の範囲から排除するものではない。
【0023】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、次のような効果を奏することができる。 〔1〕複数の電源電圧を有する多電源半導体集積回路に
おいても、入力閾値電圧を一定に固定し、TTLレベル
における入力ノイズマージンを確保することができる。
よれば、次のような効果を奏することができる。 〔1〕複数の電源電圧を有する多電源半導体集積回路に
おいても、入力閾値電圧を一定に固定し、TTLレベル
における入力ノイズマージンを確保することができる。
【0024】〔2〕電源電圧が5Vの場合においても、
電源電圧が3Vの場合においても入力閾値電圧を1.5
Vに固定できるため、TTLレベルにおける入力ノイズ
マージンを確保できる。 〔3〕電源電圧が5Vの場合には切替端子により、5V
TTLバッファが構成され、電源電圧が3Vの場合には
切替端子により、3VTTLバッファが構成される。こ
のことによって、電源電圧にかかわらず所望の入力閾値
電圧(TTLレベル=1.5V)を得ることができる。
電源電圧が3Vの場合においても入力閾値電圧を1.5
Vに固定できるため、TTLレベルにおける入力ノイズ
マージンを確保できる。 〔3〕電源電圧が5Vの場合には切替端子により、5V
TTLバッファが構成され、電源電圧が3Vの場合には
切替端子により、3VTTLバッファが構成される。こ
のことによって、電源電圧にかかわらず所望の入力閾値
電圧(TTLレベル=1.5V)を得ることができる。
【0025】〔4〕電源電圧判定回路が電源電圧を判定
し、電源電圧を5Vと判定した時には、5VTTLバッ
ファが選択され、電源電圧を3Vと判定した時には3V
TTLバッファが選択されることによって、それぞれの
電源電圧に対応するTTLバッファを選択することによ
り、所望の入力閾値電圧を得ることができる。 〔5〕電源電圧判定回路が電源電圧を判定し、5Vと判
定した場合においても、3Vと判定した場合において
も、入力閾値電圧を1.5Vに固定できるため、TTL
レベルにおける入力マージンを確保できる。
し、電源電圧を5Vと判定した時には、5VTTLバッ
ファが選択され、電源電圧を3Vと判定した時には3V
TTLバッファが選択されることによって、それぞれの
電源電圧に対応するTTLバッファを選択することによ
り、所望の入力閾値電圧を得ることができる。 〔5〕電源電圧判定回路が電源電圧を判定し、5Vと判
定した場合においても、3Vと判定した場合において
も、入力閾値電圧を1.5Vに固定できるため、TTL
レベルにおける入力マージンを確保できる。
【図1】本発明の第1実施例を示す多電源半導体集積回
路図である。
路図である。
【図2】本発明の第2実施例を示す多電源半導体集積回
路図である。
路図である。
【図3】本発明の第3実施例を示す多電源半導体集積回
路図である。
路図である。
【図4】本発明の第4実施例を示す多電源半導体集積回
路図である。
路図である。
1,11 電源電圧端子(5V/3V) 2,12 入力端子(IN) 3 入力バッファ(5VTTLバッファ) 4 入力バッファ(3VTTLバッファ) 5 切替回路(MUX) 6,17 切替端子 7,18 内部回路 8,19 Vddコア(3V) 13 入力バッファ 14 P型MOSトランジスタ(P1) 15 第1のN型MOSトランジスタ(N1) 16 第2のN型MOSトランジスタ(N2) 21,31 電源電圧判定回路
Claims (5)
- 【請求項1】(a)複数の電源電圧に設定可能な電源
と、(b)該電源に接続される入力バッファと、(c)
該入力バッファの閾値電圧を前記電源電圧によらず、一
定にする切替手段とを具備することを特徴とする多電源
半導体集積回路。 - 【請求項2】 請求項1記載の多電源半導体集積回路に
おいて、前記切替手段は異なる電源電圧に対応するため
の切替端子を具備し、第1の電源の入力バッファと第2
の電源の入力バッファを切り替えることを特徴とする多
電源半導体集積回路。 - 【請求項3】 請求項1記載の多電源半導体集積回路に
おいて、前記切替手段は、異なる電源電圧に対応するた
めの切替端子を具備し、一つの入力バッファのトランジ
スタの比率を切り替えることを特徴とする多電源半導体
集積回路。 - 【請求項4】 請求項1記載の多電源半導体集積回路に
おいて、前記切替手段は、電源電圧を検出する電源電圧
判定回路により、第1の電源の入力バッファと第2の電
源の入力バッファを切り替えることを特徴とする多電源
半導体集積回路。 - 【請求項5】 請求項1記載の多電源半導体集積回路に
おいて、前記切替手段は、電源電圧を検出する電源電圧
判定回路により、一つの入力バッファのトランジスタの
比率を切り替えることを特徴とする多電源半導体集積回
路。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8133373A JPH09321603A (ja) | 1996-05-28 | 1996-05-28 | 多電源半導体集積回路 |
EP97303436A EP0810733A3 (en) | 1996-05-28 | 1997-05-20 | Multi-power IC device |
US08/861,623 US6034550A (en) | 1996-05-28 | 1997-05-22 | Multi-power IC device |
TW086107016A TW399367B (en) | 1996-05-28 | 1997-05-24 | Multiple-power semiconductor integrated circuit |
CN97105525A CN1167372A (zh) | 1996-05-28 | 1997-05-26 | 多电源半导体集成电路 |
KR1019970020743A KR970076811A (ko) | 1996-05-28 | 1997-05-26 | 다전원 반도체 집적회로 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8133373A JPH09321603A (ja) | 1996-05-28 | 1996-05-28 | 多電源半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09321603A true JPH09321603A (ja) | 1997-12-12 |
Family
ID=15103219
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8133373A Withdrawn JPH09321603A (ja) | 1996-05-28 | 1996-05-28 | 多電源半導体集積回路 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6034550A (ja) |
EP (1) | EP0810733A3 (ja) |
JP (1) | JPH09321603A (ja) |
KR (1) | KR970076811A (ja) |
CN (1) | CN1167372A (ja) |
TW (1) | TW399367B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006013166A (ja) * | 2004-06-25 | 2006-01-12 | Sharp Corp | 発光ダイオード駆動回路、及びそれを備えた光送信デバイス、並びに電子機器 |
JP2020511886A (ja) * | 2017-03-21 | 2020-04-16 | ザイリンクス インコーポレイテッドXilinx Incorporated | 回路の選択を可能にする回路および方法 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6380762B1 (en) * | 1997-03-27 | 2002-04-30 | Cypress Semiconductor Corporation | Multi-level programmable voltage control and output buffer with selectable operating voltage |
KR100743624B1 (ko) * | 2004-12-29 | 2007-07-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전력 소모를 줄인 반도체 장치 |
KR100610020B1 (ko) * | 2005-01-13 | 2006-08-08 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치에서의 셀 파워 스위칭 회로와 그에따른 셀 파워 전압 인가방법 |
US7770037B2 (en) * | 2006-04-20 | 2010-08-03 | Advanced Micro Devices, Inc. | Power ok distribution for multi-voltage chips |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR910005609B1 (ko) * | 1988-07-19 | 1991-07-31 | 삼성전자 주식회사 | 복수전압 ic용 입력신호 로직 판별회로 |
JPH07114359B2 (ja) * | 1989-07-28 | 1995-12-06 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
IT1243676B (it) * | 1990-07-19 | 1994-06-21 | Sgs Thomson Microelectronics | Stadio d'ingresso pluricompatibile particolarmente per porte logiche in circuiti integrati |
JP2758259B2 (ja) * | 1990-09-27 | 1998-05-28 | 株式会社東芝 | バッファ回路 |
EP0590326A1 (de) * | 1992-09-29 | 1994-04-06 | Siemens Aktiengesellschaft | CMOS-Eingangsstufe |
US5341045A (en) * | 1992-11-06 | 1994-08-23 | Intel Corporation | Programmable input buffer |
US5430400A (en) * | 1993-08-03 | 1995-07-04 | Schlumberger Technologies Inc. | Driver circuits for IC tester |
KR0130037B1 (ko) * | 1993-12-18 | 1998-04-06 | 김광호 | 동작전압의 변동에 대응 가능한 반도체집적회로의 입력버퍼회로 |
US5477172A (en) * | 1994-12-12 | 1995-12-19 | Advanced Micro Devices, Inc. | Configurable input buffer dependent on supply voltage |
US5668483A (en) * | 1995-06-21 | 1997-09-16 | Micron Quantum Devices, Inc. | CMOS buffer having stable threshold voltage |
KR0157886B1 (ko) * | 1995-07-22 | 1999-03-20 | 문정환 | 반도체 메모리의 입력 버퍼 회로 |
US5801548A (en) * | 1996-04-11 | 1998-09-01 | Xilinx Inc | Configurable performance-optimized programmable logic device |
-
1996
- 1996-05-28 JP JP8133373A patent/JPH09321603A/ja not_active Withdrawn
-
1997
- 1997-05-20 EP EP97303436A patent/EP0810733A3/en not_active Withdrawn
- 1997-05-22 US US08/861,623 patent/US6034550A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-05-24 TW TW086107016A patent/TW399367B/zh not_active IP Right Cessation
- 1997-05-26 KR KR1019970020743A patent/KR970076811A/ko not_active Application Discontinuation
- 1997-05-26 CN CN97105525A patent/CN1167372A/zh active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006013166A (ja) * | 2004-06-25 | 2006-01-12 | Sharp Corp | 発光ダイオード駆動回路、及びそれを備えた光送信デバイス、並びに電子機器 |
JP2020511886A (ja) * | 2017-03-21 | 2020-04-16 | ザイリンクス インコーポレイテッドXilinx Incorporated | 回路の選択を可能にする回路および方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0810733A2 (en) | 1997-12-03 |
US6034550A (en) | 2000-03-07 |
KR970076811A (ko) | 1997-12-12 |
TW399367B (en) | 2000-07-21 |
CN1167372A (zh) | 1997-12-10 |
EP0810733A3 (en) | 1998-08-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7145364B2 (en) | Self-bypassing voltage level translator circuit | |
US7304458B2 (en) | Regulator circuit | |
US6759876B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
JPH0338873A (ja) | 集積回路 | |
JP3686174B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH09321603A (ja) | 多電源半導体集積回路 | |
US6426658B1 (en) | Buffers with reduced voltage input/output signals | |
JPH0677804A (ja) | 出力回路 | |
JP3551926B2 (ja) | バッファ回路 | |
JP2601223B2 (ja) | 同時双方向入出力バッファ | |
JPH10135818A (ja) | 入力回路 | |
JPH0431205B2 (ja) | ||
JP4205392B2 (ja) | 信号生成回路及び信号生成回路を備えた半導体装置 | |
JPH05284000A (ja) | デジタル信号出力段回路 | |
JPH1051296A (ja) | 論理回路 | |
JPH0355912A (ja) | ヒステリシス回路 | |
JP2855796B2 (ja) | 半導体出力回路 | |
JP3612991B2 (ja) | 出力バッファ回路 | |
JP2803633B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
JP3123599B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
US6225828B1 (en) | Decoder for saving power consumption in semiconductor device | |
JPH05315939A (ja) | 入力バッファ回路 | |
JPH04344394A (ja) | バス出力回路 | |
JPH0864707A (ja) | バイポーラcmos複合論理回路 | |
JPH05206832A (ja) | 出力バッファ回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030805 |