JPH09229818A - マイクロミラー式画像形成装置及びその管理方法 - Google Patents

マイクロミラー式画像形成装置及びその管理方法

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JPH09229818A
JPH09229818A JP4126696A JP4126696A JPH09229818A JP H09229818 A JPH09229818 A JP H09229818A JP 4126696 A JP4126696 A JP 4126696A JP 4126696 A JP4126696 A JP 4126696A JP H09229818 A JPH09229818 A JP H09229818A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 各マイクロミラーの動作状況をモニタして、
欠陥マイクロミラーの検出や反射率等を測定する。 【解決手段】 デジタルマイクロミラー装置10には、
マイクロミラーがマトリクスに配置されている。各マイ
クロミラーは、ミラー駆動データに応じて有効反射状態
と無効反射状態に変位する。有効反射状態のときには、
反射したスポット光が画像形成光路32に入り、印画紙
34を露光する。無効反射状態のときには、反射したス
ポット光が除去光路27に入る。この除去光路27に
は、スポット光を測光する受光素子29が配置されてい
る。マイクロミラーを1個ずつ無効反射状態にセット
し、その反射光を受光素子29で測定することで、マイ
クロミラーの欠陥の有無や反射率を調べる。全てのマイ
クロミラーを同時に無効反射状態にセットし、受光素子
の出力を調べることで、光源の光量の適否を調べる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロミラー装
置を内蔵したプリンタやプロジェクタ等のマイクロミラ
ー式画像形成装置と、その動作状況を管理するための方
法に関する。更に詳しくは、マイクロミラーが無効反射
状態のときの反射光を測定して、マイクロミラーの欠陥
を検査したり、照明光の照度や反射率のバラツキを測定
するための方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】最近、サイズが極めて小さいマイクロミ
ラーをラインまたはマトリクスに配列し、各マイクロミ
ラーの傾斜角を制御して入射光を偏向するミラー方式の
空間光変調器が提案されている。このミラー方式の空間
光変調器は、液晶等に比べて減光率が小さく、また開口
率が比較的に大きいという利点がある。
【0003】ミラー方式の空間光変調器としては、静電
気力でマイクロミラーを傾斜させるデジタルマイクロミ
ラー装置(DMD)や、微小なピエゾ素子でマイクロミ
ラーを傾斜させるピエゾ式マイクロミラー装置(AM
A)等がある。これらのマイクロミラー装置は画像形成
機能を備えているため、プロジェクタやプリンタへの利
用が考えられている。なお、デジタルマイクロミラー装
置の原理や応用例については、月刊誌「O plus
E」の1994年10月号の第90頁〜第94頁に記載
されている。
【0004】例えば、デジタルマイクロミラー装置で
は、複数のマイクロミラーがライン又はエリアに配置さ
れている。各マイクロミラーは、電源がOFFのときに
水平状態となっており、メモリセルに書き込んだ1ビッ
トのミラー駆動データの値に応じて、垂直線に対して+
θだけ傾いた有効反射状態と、ーθだけ傾いた無効反射
状態とに変位する。
【0005】このデジタルマイクロミラー装置を使用し
たマイクロミラー式画像形成装置では、デジタルマイク
ロミラー装置が光源からの平行光で斜めに照明されてい
る。マイクロミラーが有効反射状態にセットされると、
反射されたスポット光が画像形成光路に入射する。この
画像形成光路には、投影レンズが配置されており、1ラ
イン分又は1フレーム分のスポット光が感光記録媒体又
はスクリーンに投影される。
【0006】マイクロミラーが無効反射状態にセットさ
れている場合には、反射されたスポット光は、画像形成
に利用されないものであり、除去光路に入る。この除去
光路に入ったスポット光は、例えば光吸収部材で吸収さ
れる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】デジタルマイクロミラ
ー装置により、高品質な画像を安定して形成するために
は、使用前又は一定期間毎に、各マイクロミラーの動作
状況を管理することが必要になる。この管理項目として
は、例えば、故障した欠陥マイクロミラーの検出,各マ
イクロミラーの反射率やそのバラツキの測定,照明光量
の測定等がある。
【0008】本発明は、光学系の構造を複雑化すること
なく、マイクロミラーの動作状況を調べることができる
ようにしたマイクロミラー式画像形成装置及びその管理
方法を提供することを目的とするものである。
【0009】本発明は、マイクロミラーの動作状況に応
じて、所定の補正・修正を施すことで、高品質な画像を
安定して形成することができるようにしたマイクロミラ
ー式画像形成装置及びその管理方法を提供することを目
的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明では、複数のマイクロミラーを
配列したマイクロミラー装置と、このマイクロミラー装
置に光を照射する光源とを備え、各マイクロミラーは画
像形成光路に向けて光を反射する有効反射状態と、除去
光路に向けて光を反射する無効反射状態とに変位可能で
あるマイクロミラー式画像形成装置において、除去光路
に測光部を配置して、無効反射状態のマイクロミラーで
反射された光を測定するようにしたものである。
【0011】請求項2記載の発明では、マイクロミラー
からの反射光を拡散する拡散部材と、この拡散部材の背
後に配置した1個の受光素子とから測光部を構成したも
のである。
【0012】請求項3記載の発明では、結像光学系と、
入射光を光電変換する複数のピクセルを有し、結像光学
系の結像面に配置されたイメージセンサーとから測光部
を構成したものである。
【0013】請求項4記載の発明では、複数のマイクロ
ミラーを配列したマイクロミラー装置と、このマイクロ
ミラー装置に光を照射する光源とを備え、各マイクロミ
ラーは画像形成光路に向けて光を反射する有効反射状態
と、除去光路に向けて光を反射する無効反射状態とに変
位可能であるマイクロミラー式画像形成装置に対して、
マイクロミラーの全てを無効反射状態にセットし、これ
らのマイクロミラーで反射された光を除去光路に配置し
た測光部で測光し、得られた測光値が基準値と一致する
ように、マイクロミラー装置へ照射する光の強度を調整
するようにしたものである。
【0014】請求項5記載の発明では、複数のマイクロ
ミラーを配列したマイクロミラー装置と、このマイクロ
ミラー装置に光を照射する光源とを備え、各マイクロミ
ラーは画像形成光路に向けて光を反射する有効反射状態
と、除去光路に向けて光を反射する無効反射状態とに変
位可能であるマイクロミラー式画像形成装置に対して、
マイクロミラーを有効反射状態と無効反射状態との間で
変位させ、除去光路に配置した測光部でマイクロミラー
からの反射光を個別に測光し、反射光の変化の状態から
マイクロミラーの欠陥(故障)を検出するようにしたも
のである。
【0015】請求項6記載の発明では、複数のマイクロ
ミラーを配列したマイクロミラー装置と、このマイクロ
ミラー装置に光を照射する光源とを備え、各マイクロミ
ラーは画像形成光路に向けて光を反射する有効反射状態
と、除去光路に向けて光を反射する無効反射状態とに変
位可能であるマイクロミラー式画像形成装置に対して、
各マイクロミラーを無効反射状態にセットし、除去光路
に配置した測光部で各マイクロミラーからの反射光を個
別に測光して、各マイクロミラーの反射率のバラツキを
求めるようにしたものである。
【0016】
【作用】除去光路で形成される画像は、画像形成光路で
形成される画像に対して完全なネガ像になっている。こ
のネガ像をモニタすることで、マイクロミラーの動作状
況を知ることができる。この除去光路は、画像形成に使
われないので、なんら制約を受けることなく、測光部を
自由に配置することができる。
【0017】マイクロミラーの作動状況の検査は、プリ
ントの前又は所定期間毎に行われる。光源の経時変化に
対しては、マイクロミラーの全てを無効反射状態にセッ
トし、これらのマイクロミラーで反射された光を測光部
で測光する。得られた測光値が基準値と一致するよう
に、マイクロミラー装置へ照射する光の強度を調整す
る。この調整は、光源の発光強度を調整する他に、光源
とマイクロミラー装置とを結ぶ照明光路に、所望の透過
率を持ったNDフイルタを出し入れすることで行うこと
ができる。
【0018】マイクロミラーの欠陥検出では、マイクロ
ミラーを有効反射状態と無効反射状態との間で変位さ
せ、マイクロミラーからの反射光を測光部で個別に測光
する。マイクロミラーの変位に応じて、測光部の出力が
変化するはずであるから、この変化の有無を調べること
で,マイクロミラーの故障を検出することができる。
【0019】マイクロミラーの故障が検出された場合
に、通常の露光の他に、補助露光を行う。この補助露光
では、まず欠陥マイクロミラーの位置に正常なマイクロ
ミラーが来るように、マイクロミラー装置を1画素分だ
け移動させる。次に、この正常なマイクロミラーだけを
駆動して露光する。こうして、欠陥マイクロミラーで記
録される画素がハードコピー上で白くなるのを防止す
る。
【0020】各マイクロミラーの反射率にバラツキがあ
ると、所望の階調を表現することができない。反射率又
はこれに関連したデータを測定する場合には、各マイク
ロミラーを無効反射状態にセットし、除去光路に配置し
た測光部で各マイクロミラーからの反射光を個別に測光
する。反射率が高いほど、測光値が大きくなる。
【0021】各測光値の平均値又は最小値を基準値と
し、各マイロクミラー毎に基準値との差を求めれば、反
射率のバラツキが得られる。このバラツキに応じた値を
画像データに加減算して画像データを修正する。修正さ
れた画像データの値に応じた個数のミラー駆動データを
作成し、これで対応するマイクロミラーを駆動する。各
マイクロミラーは、その反射率に応じて、1個の画素を
形成する際の有効反射状態の時間が補正される。
【0022】
【発明の実施の形態】デジタルマイクロミラー装置を示
す図1において、微小なマイクロミラー2がマトリクス
に配置されている。各マイクロミラー2は、その中央に
位置するポスト3を介して、スターティックRAM(S
RAM)4に揺動自在に保持されている。また、各マイ
クロミラー2は四角形をしており、その一辺の長さが例
えば16μmであり、導電性を有するアルミ等の金属薄
膜で作られている。
【0023】ポスト3の両側には、アドレス電極5,6
が形成されており、これらのアドレス電極5,6とマイ
クロミラー2との間に発生する静電気力で、マイクロミ
ラー2が傾斜する。すなわち、ポスト3とアドレス電極
5,6とを通る対角線上にある角2a又は2bが、SR
AM4のシリコン基板4aの上面に接触するようにマイ
クロミラー2が傾く。なお、実際には、もう一方の対角
線上の2個の角が、ネジリヒンジを介して一対の支持ポ
ストに中空保持されている。なお、マイクロミラー2,
ポスト3等の各要素は、周知の集積化技術によって作製
される。
【0024】図2に示すように、各マイクロミラー2
は、SRAM4の各メモリセル8上に配置されている。
このメモリセル8は、2個のトランジスタを有するフリ
ップフロップで構成され、1ビットのデータを記憶す
る。このフリップフロップは、駆動状態では一方のトラ
ンジスタがONで、他方のトランジスタがOFFであ
る。このON・OFF状態は、パルス(入力データ)に
よって反転する。
【0025】フリップフロップを構成する各トランジス
タに、アドレス電極5,6が接続されている。したがっ
て、アドレス電極5,6は一方が+で、他方が−となる
が、どちらが+になるかはメモリセル8に書き込んだミ
ラー駆動データによって決まる。マイクロミラー2に所
定のバイアス電圧を印加すると、マイクロミラー2とア
ドレス電極5,6との間に静電気力によってどちらか一
方へ傾く。
【0026】電源がOFF状態では、2個のトランジス
タのいずれもOFFであるから、アドレス電極5,6に
は電圧が印加されない。また、マイクロミラー2にもバ
イアス電圧が印加されない。このために、マイクロミラ
ー2は、図2(A)に示すように水平な状態にある。ま
た、メモリセル8にミラー駆動データを書き込んであっ
ても、マイクロミラー2にバイアス電圧を印加しない場
合は水平な状態となっっている。
【0027】SRAM4のメモリセル8に「0」のミラ
ー駆動データを書き込むと、アドレス電極5が+とな
り、アドレス電極6が−となる。マイクロミラー2に+
のバイアス電圧を印加すると、アドレス電極5とマイク
ロミラー2との間に反発力が発生し、アドレス電極6と
マイクロミラー2との間に吸引力が発生する。これらの
静電気力により、図2(B)に示すように、マイクロミ
ラー2は角2bがシリコン基板4aに接触するまで傾
く。このときのマイクロミラー2の傾斜角度はーθとな
る。
【0028】SRAM4のメモリセル8に「1」のミラ
ー駆動データを書き込むと、アドレス電極5が−とな
り、アドレス電極6が+となる。マイクロミラー2は、
図2(C)に示すように+θだけ傾く。したがって、マ
イクロミラー2は、ミラー駆動データの値に応じて+θ
と−θとの間で傾くことになる。
【0029】マイクロミラー2は、水平状態と、2つの
傾斜状態とを持っているが、画像形成時には2つの傾斜
状態が使用され、その一方の傾斜状態のときに、マイク
ロミラーからのスポット光を取り出して画像を形成す
る。例えば、マイクロミラー2が+θのときに、マイク
ロミラー2で反射されたスポット光を、画像形成光路に
入れて感光材料やスクリーンに投影する。そして、−θ
のときに、スポット光を除去光路に入れる。この場合に
は、+θのときには反射光が画像形成に利用される有効
反射状態となり、ーθのときには、反射光が画像形成に
利用されない無効反射状態となる。
【0030】1個のマイクロミラー2は1個の画素を形
成するから、このマイクロミラーが有効反射状態となる
連続時間又は回数を変えることで、画素の階調を表現す
ることができる。例えば、「1」のミラー駆動データを
画像データに応じた個数だけ発生し、このシリアルなミ
ラー駆動データをメモリセル8に書き込むことで、有効
反射状態の回数を変えることができる。
【0031】図3は、面露光に用いるデジタルマイクロ
ミラー装置を示すものである。多数のマイクロミラー1
0aがマトリクスに配列されている。図1に示すよう
に、各マイクロミラー10aの間には僅かな隙間がある
が、便宜上、各マイクロミラー10aをくっつけた状態
で描いてある。
【0032】図4は、デジタルマイクロミラー装置を用
いたデジタルカラープリンタを示すものである。デジタ
ルマイクロミラー装置10を照明する光源として、多数
の赤色LEDを基板上にマトリクスに形成して面発光す
る赤色LED装置11と、同様な構成の緑色LED装置
12及び青色LED装置13とが用いられている。な
お、光源としては、白色光を放出する白色光源と、赤
色,緑色,青色のカラーフイルタをセクタに配置したフ
イルタターレットとを用いてもよい。
【0033】赤色LED装置11からの赤色光は、緑色
光を反射するダイクロイックミラー14と、青色光を反
射するダイクロイックミラー15とを透過する。この赤
色光は、レンズ16で平行光とされてから、デジタルマ
イクロミラー装置10に入射する。緑色LED装置12
からの緑色光は、ダイクロイックミラー14で反射され
てから、ダイクロイックミラー15,レンズ16を経て
デジタルマイクロミラー装置10に入射する。青色LE
D装置12からの青色光は、ダイクロイックミラー15
で反射されてデジタルマイクロミラー装置10に入射す
る。なお、バランスフイルタ17は、照明光のシェーデ
イング補正を行う。
【0034】LEDドライバ18は、コントローラ20
で制御されており、赤色露光時に赤色LED装置11だ
けを発光させ、緑色露光時には緑色LED装置12だけ
を発光させ、青色露光時には青色LED装置13だけを
発光させる。これらのLED装置11〜13の発光輝度
は、駆動パルスのデューティ比を変えることで調節する
ことができる。
【0035】赤色画像メモリ21,緑色画像メモリ2
2,青色画像メモリ23には、1フレーム分の3色画像
データが書き込まれており、露光する色に対応した画像
メモリが読み出される。例えば、赤色露光時には、赤色
画像メモリ21が読み出されてデータ変換回路24に送
られ、各赤色画像データがミラー駆動データに変換され
る。データ書込み制御回路25は、書込みタイミング信
号に同期して、ミラー駆動データをデジタルマイクロミ
ラー装置10のSRAMに書き込む。
【0036】マイクロミラー10aは、「0」のミラー
駆動データによってーθだけ傾斜したときには無効反射
状態となり、その反射光が除去光路27に入射する。こ
の除去光路27には、拡散箱28と受光素子29とが配
置されている。拡散箱28は、内面を反射面に仕上げた
筒と、その両端に固定した拡散板とから構成されてお
り、全てのマイクロミラーからの光が受光素子29に入
るようにする。なお、拡散箱の代わりに拡散板を用いて
もよい。更に、受光素子29の受光面が広いため、全て
のマイクロミラーからの光を受光することが可能であれ
ば、拡散箱28は不要である。更に、拡散箱28の代わ
りに集光レンズを用いてもよい。
【0037】受光素子29は、マイクロミラー10aが
無効反射状態の時のスポット光を測定し、測光値をコン
トローラ20に送る。なお、マイクロミラー10aが水
平状態のときに反射されたスポット光は、光吸収板30
で吸収される。
【0038】ミラー駆動データが「1」の場合には、マ
イクロミラー10aは+θだけ傾斜した有効反射状態と
なり、スポット状の反射光は画像形成光路32に入る。
この画像形成光路32には、投影レンズ33が配置され
ており、スポット光を感光記録材料例えば印画紙34に
投影する。
【0039】印画紙34は、搬送ローラ対35にニップ
されて、供給ロール36から1コマ分ずつ間欠的に引き
出され、巻取りロール37に送られる。そして、印画紙
34の停止中に、3色の画像が面順次で記録される。搬
送ローラ35を回転させるためのパルスモータ38は、
ドライバ39を介してコントローラ20によって回転が
制御される。
【0040】次に、上記デジタルカラープリンタの作用
について説明する。電源が投入されると、コントローラ
20は、データ書込み制御回路25にデジタルマイクロ
ミラー装置10をクリアすることを指示する。データ書
込み制御回路25は、デジタルマイクロミラー装置10
のSRAMに「0」を書き込み、各マイクロミラー10
aを図2(B)に示すように、ーθだけ傾斜させて無効
反射状態にする。
【0041】次に、コントローラ20は、LEDドライ
バ18を介して赤色LED装置11を発光させてデジタ
ルマイクロミラー装置10の全面を照明する。この際
に、SRAMの各メモリセル8には「0」が書き込まれ
ており、各マイクロミラー10aは無効反射状態になっ
ているから、各マイクロミラー10aで反射された赤色
スポット光が除去光路27に向けて反射される。
【0042】コントローラ20は、赤色画像メモリ41
から、1フレーム分の赤色画像データを読み出してデー
タ変換回路24に送る。このデータ変換回路24は、各
画像データをNビットのミラー駆動データに変換する。
このミラー駆動データは、画像データの値に応じた個数
の「1」を含んでおり、各画素毎に最上位ビットを取り
出してデータ書込み制御回路25に送る。そして、第1
番目の書込みタイミング信号に同期して、デジタルマイ
クロミラー装置10のSRAMに1フレーム分のミラー
駆動データを書き込む。
【0043】マイクロミラー10aは、「1」のミラー
駆動データが与えられている場合に有効反射状態とな
り、入射した赤色光をスポット光として画像形成光路3
2に向けて反射する。この赤色スポット光は、投影レン
ズ33によって印画紙34に投影される。これにより、
印画紙34には、1フレーム分の赤色スポット光が入射
して、第1回の露光が行われる。なお、「0」のミラー
駆動データが与えられているマイクロミラー10aは無
効反射状態であるから、反射した赤色スポット光が除去
光路27に入る。
【0044】次に、データ変換回路24は、各ミラー駆
動データの上位から2番目のビットを取り出してデータ
書込み制御回路25に送る。このデータ書込み制御回路
25は、第2番目の書込みタイミング信号によって、1
フレーム分のミラー駆動データをデジタルマイクロミラ
ー装置10に書き込む。この書込みにより、有効反射状
態となったマイクロミラー10aからの赤色スポット光
により第2回目の露光が行われる。
【0045】こうして複数回の露光が行われるが、Nビ
ット目のミラー駆動データの最下位ビットが「0」とな
るようにデータ変換されているから、全てのマイクロミ
ラー10aは無効反射状態にセットされる。こうして、
各マイクロミラー10aは、Nビットの赤色用のミラー
駆動データにより、最大(Nー1)回分の露光が行わ
れ、N階調の画像を記録する。
【0046】赤色露光が終了すると、コントローラ20
は、LEDドライバ18を介して、赤色LED装置11
を消灯し、代わりに緑色LED装置12を点灯させる。
次に、コントローラ20は、緑色画像メモリ22から1
フレーム分の緑色画像データを読み出してデータ変換回
路24に送る。このデータ変換回路24は、1フレーム
分の緑色画像データをNビットのミラー駆動データに変
換する。そして、各画素の最上位ビットを取り出してデ
ータ書込み制御回路25に送り、第1番目の書込みタイ
ミング信号でデジタルマイクロミラー装置10に書き込
む。各マイクロミラー10aは、対応するミラー駆動デ
ータに応じて傾斜が変わり、緑色スポット光を印画紙3
4に向けて反射する。赤色露光と同様にして、緑色光に
より(Nー1)回の露光が行われ、各マイクロミラー1
0aは緑色画像データに応じた露光量を印画紙34に与
える。
【0047】緑色露光が終了すると、青色画像データに
よる青色画像が印画紙34にプリントされる。この3色
面順次露光によって、印画紙34にはフルカラー画像が
プリントされる。このプリント後に、コントローラ20
は、ドライバ39を介してパルスモータ38を回転さ
せ、印画紙34を1コマ分矢線方向に搬送する。
【0048】ここで、ポジーポジ方式の印画紙を用いる
場合には、ポジ画像の画像データを用いてデジタルマイ
クロミラー装置を駆動する。ネガ・ポジ反転する通常の
印画紙を用いる場合には、ネガ像に反転した画像データ
が用いられる。
【0049】次に、デジタルマイクロミラー装置の作動
状況の管理について説明する。マイクロミラーは、使用
中の衝撃等によって故障したり、光源の発光強度が経時
変化したりする。そこで、プリント前、又は一定期間毎
に、マイクロミラーの動作状況をモニタして、適正な対
策を施すのがよい。このモニタは、キーボードを操作し
てマニュアルで行う他に、自動的に行われるようにして
もよい。
【0050】図6は故障した欠陥マイクロミラーの検出
方法を示すものである。まず、任意のLED装置例えば
赤色LED装置11を発光させてから、LED全てのメ
モリセルにミラー駆動データ「1」を書き込んで、有効
反射状態にセットする。次に、1個のマイクロミラーの
アドレスを指定して、対応するメモリセルにミラー駆動
データ「1」を書き込む。
【0051】アドレス指定したマイクロミラーが正常な
場合には、ミラー駆動データの書込みによって、有効反
射状態から無効反射状態に変わるため、このマイクロミ
ラーからのスポット光だけが除去光路27に入る。この
スポット光は、拡散箱28で拡散されてから受光素子2
7に入射する。コントローラ20は受光素子27で測定
した測光値を取り込む。
【0052】次に、動作チェックされたマイクロミラー
に駆動データ「0」を割り当てて、再び有効反射状態に
セットする。この状態での測光値をコントローラ20に
取り込む。この2回の測定で得た測光値を比較し、第1
回目の方が大きいときに、アドレス指定したマイクロミ
ラーが正常であるとを判断する。
【0053】第1番目のマイクロミラーの欠陥検出が終
了すると、第2番目のマイクロミラーを作動させて受光
素子29で測定する。こうして全てのマイクロミラーを
1個ずつチェックする。
【0054】このように、有効反射状態と無効反射状態
の両方で測光し、受光素子の出力信号の変化から欠陥マ
イクロミラーを検出するものであるから、無効反射状態
のままで止まっている欠陥マイクロミラーが存在してい
ても、アドレス指定した特定のマイクロミラーの欠陥の
有無を正しく測定することができる。この欠陥マイクロ
ミラーの有無及び位置は、ディスプレイ40に表示され
る。なお、欠陥マイクロミラーは常に水平状態に維持さ
れる構造をしている場合には、指定されたマイクロミラ
ーが無効反射状態にセットされているときにのみ測光す
ればよい。
【0055】欠陥マイクロミラーが検出された場合に
は、画素ずらしの手法で補正する。すなわち、通常の露
光をしてから、デジタルマイクロミラー装置を1個のマ
イクロミラーのサイズ分だけ移動させ、正常なマイクロ
ミラーを欠陥マイクロミラーの位置にセットする。この
状態で、正常なマイクロミラーだけを駆動して2回目の
露光をする。こうすると、ハードコピィ上で白抜けとな
るのを防止することができる。なお、プロジェクタの場
合には、殆ど目立たないから、前述した画素ずらしをし
なくてもよい。
【0056】また、2回の測定で得た測定値の差から、
アドレス指定したマイクロミラーについて、その反射率
に関連したデータを得ることができる。そして、全ての
マイクロミラーのデータのうち、最小値又は平均値を標
準値とする。次に、標準値と各マイクロミラーのデータ
との差を求めれば、反射率のバラツキが得られる。この
反射率のバラツキを反射率データとし、この反射率デー
タと補正データとの関係を特定してテーブル化してお
き、このテーブルを参照して反射率データから補正デー
タを求める。画像データを用いてプリントする際に、各
マイクロミラー毎に、画像データに補正データを加算し
て画像データを修正する。
【0057】あるいは、1個の画素を記録する場合に、
予備記録と本記録とに分け、予備記録では各マイクロミ
ラーの補正データを用いてデジテルマイクロミラー装置
を駆動し、そして本記録では画像データでデジタルマイ
クロミラー装置を駆動してもよい。
【0058】光源の経時変化を調べる場合には、光源毎
に測定を行う。まず、赤色LED装置11を点灯させて
から、図6に示すように、全てのメモリセルにミラー駆
動データ「0」を書き込んで、全てのマイクロミラーを
無効反射状態にセットする。デジタルマイクロミラー装
置10は、1フレーム分のスポット光を除去光路27に
向けて反射する。この1フレーム分のスポット光は、拡
散箱28で拡散されてから受光素子29に入射する。
【0059】受光素子29で測定された測光値は、マイ
クロコントローラ20に取り込まれる。このマイクロコ
ントローラ20は、最適な照明状態での測光値に相当す
る基準値と、実際の測定で得た測光値とを比較する。も
し、両者が一致しない場合には、マイクロコントローラ
20は、LEDドライバ18に駆動パルスのデューティ
比の変更を指示してから再び測光する。両者が一致する
まで繰り返して、赤色LED装置11の駆動パルスのデ
ューティ比を決定する。
【0060】次に、緑色LED装置12を点灯させ、赤
色LED装置11と同様な手順を実行して駆動パルスの
デューティ比を決定する。最後に、青色LED装置13
の駆動パルスのデューティ比を決定する。プリント時
に、こうして決めた各デューテイ比の駆動パルスで各L
ED装置を駆動し、所期の光量が得られるようにする。
なお、駆動パルスのデューティ比を調節する他に、レン
ズ16の前後に適当な濃度を持ったNDフイルタを出し
入れしてもよい。
【0061】図7に示すように、測光部として、結像レ
ンズ45とイメージエリアセンサー46とを用いてもよ
い。このイメージエリアセンサー46には、入射光を光
電変換するピクセル46aがマトリクスに形成されてい
る。これらのピクセル46aは、各マイクロミラーに対
応しているから、マイクロミラーの欠陥検出や反射率の
測定では、全てのマイクロミラーを同時に駆動して、同
時に測光することができる。
【0062】なお、イメージエリアセンサー46のピク
セル46aの方がマイクロミラーよりも大きい場合、例
えば1個のピクセルが4個のマイクロミラーに対応する
ときには、4個のマイクロミラー毎にグループ化し、こ
のグループ内で1個ずつマイクロミラーを駆動すればよ
い。ピクセル46aの方が小さい場合には、複数のピク
セルをグループ化し、このグループ内のピクセルで測定
した測光値の平均値を用いればよい。
【0063】画像を1ラインずつ記録するラインプリン
タの場合には、図8に示すように、マイクロミラー49
をライン状に配列したデジタルマイクロミラーを用いる
ことができる。また、測光部としてイメージセンサーを
用いる場合には、複数のピクセルをライン状に配列した
イメージラインセンサーを用いる。
【0064】プリント中に、拡散箱28の表面で反射し
た微弱な光がデジタルマイクロミラー装置10に戻る
と、フレアが発生をするおそれがある。このフレアの発
生を防止するには、拡散箱28と受光素子29とからな
る測光部と、光吸収部材とを移動台に取り付けて切り換
え可能とするのがよい。デジタルマイクロミラー装置を
モニタする場合に測光部を除去光路27にセットし、プ
リント中には測光部の代わりに、光吸収部材を除去光路
27にセットする。
【0065】また、デジタルマイクロミラー装置のモニ
タ中に、印画紙が感光されないようにするために、画像
形成光路にシャッタを設け、プリント中以外は印画紙3
4を遮光するのがよい。
【0066】更に、本発明は、プリンタの他に、プロジ
ェクタや画像表示装置,照明装置等の光学機器に利用す
ることができる。また、本発明は、ピエゾ式のマイクロ
ミラー装置を内蔵した光学機器に対しても利用すること
ができる。
【0067】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、不要な反射光を取り出すための除去光路にモニタ
用の測光部を設けたから、画像形成光路中にハーフミラ
ーやビームスプリッタ等の光路分割器を配置して反射光
を取り出すことが不要となる。したがって、本発明は、
除去光路を有効活用することで、光学系を複雑化するこ
となく、マイクロミラー装置をモニタすることができ
る。
【0068】また、マイクロミラーで反射された光を除
去光路に配置した測光部で測光し、得られた測光値が基
準値と一致するように、マイクロミラー装置へ照射する
光の強度を調整するから、画像の明るさを一定に保つこ
とができる。
【0069】更に、マイクロミラーを駆動しながら測光
部で測光するから、マイクロミラーの欠陥を検出するこ
とができる。また、マイクロミラーからの反射光の強さ
を測定することで、マイクロミラーの反射状態を求める
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】デジタルマイクロミラー装置の説明図である。
【図2】マイクロミラーの動作を示す説明図である。
【図3】デジタルマイクロミラー装置の一例を示す説明
的平面図である。
【図4】カラーデジタルプリンタの概略図である。
【図5】マイクロミラーの欠陥検出と反射率の測定を示
すフローチャートである。
【図6】光源の輝度調整を示すフローチャートである。
【図7】イメージリエアセンサーを用いた測光部を示す
斜視図である。
【図8】1列分のマイクロミラーアレイを設けたデジタ
ルマイクロミラー装置の説明図である。
【符号の説明】
2,10a,49 マイクロミラー 4 SRAM 10,48 デジタルマイクロミラー装置 11 赤色LED装置 12 緑色LED装置 13 青色LED装置 32 画像形成光路 27 除去光路 28 拡散箱 29 受光素子 45 結像レンズ 46 イメージエリアセンサー

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のマイクロミラーを配列したマイク
    ロミラー装置と、このマイクロミラー装置に光を照射す
    る光源とを備え、各マイクロミラーは画像形成光路に向
    けて光を反射する有効反射状態と、除去光路に向けて光
    を反射する無効反射状態とに変位可能であるマイクロミ
    ラー式画像形成装置において、 前記無効反射状態のマイクロミラーで反射された光を測
    定するための測光部を除去光路に配置したことを特徴と
    するマイクロミラー式画像形成装置。
  2. 【請求項2】 前記測光部は、マイクロミラーからの光
    を拡散する拡散部材と、この拡散部材の背後に配置され
    た受光素子とからなることを特徴とする請求項1記載の
    マイクロミラー式画像形成装置。
  3. 【請求項3】 前記測光部は、結像光学系と、入射光を
    光電変換する複数のピクセルを有し、結像光学系の結像
    面に配置されたイメージセンサーとからなることを特徴
    とする請求項1記載のマイクロミラー式画像形成装置。
  4. 【請求項4】 複数のマイクロミラーを配列したマイク
    ロミラー装置と、このマイクロミラー装置に光を照射す
    る光源とを備え、各マイクロミラーは画像形成光路に向
    けて光を反射する有効反射状態と、除去光路に向けて光
    を反射する無効反射状態とに変位可能であるマイクロミ
    ラー式画像形成装置に対して、 前記マイクロミラーの全てを無効反射状態にセットし、
    これらのマイクロミラーで反射された光を除去光路に配
    置した測光部で測光し、得られた測光値が基準値と一致
    するように、マイクロミラー装置へ照射する光の強度を
    調整することを特徴とする管理方法。
  5. 【請求項5】 複数のマイクロミラーを配列したマイク
    ロミラー装置と、このマイクロミラー装置に光を照射す
    る光源とを備え、各マイクロミラーは画像形成光路に向
    けて光を反射する有効反射状態と、除去光路に向けて光
    を反射する無効反射状態とに変位可能であるマイクロミ
    ラー式画像形成装置に対して、 前記マイクロミラーを有効反射状態と無効反射状態との
    間で変位させるとともに、除去光路に配置した測光部で
    マイクロミラーからの反射光を個別に測光し、測光部の
    出力信号の変化からマイクロミラーの欠陥の有無を検出
    することを特徴とする管理方法。
  6. 【請求項6】 複数のマイクロミラーを配列したマイク
    ロミラー装置と、このマイクロミラー装置に光を照射す
    る光源とを備え、各マイクロミラーは画像形成光路に向
    けて光を反射する有効反射状態と、除去光路に向けて光
    を反射する無効反射状態とに変位可能であるマイクロミ
    ラー式画像形成装置に対して、 各マイクロミラーを無効反射状態にセットし、除去光路
    に配置した測光部で各マイクロミラーからの反射光を個
    別に測光して、各マイクロミラーの反射率のバラツキを
    求めることを特徴とする管理方法。
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