JPH08211165A - パルス持続時間測定装置 - Google Patents
パルス持続時間測定装置Info
- Publication number
- JPH08211165A JPH08211165A JP7280597A JP28059795A JPH08211165A JP H08211165 A JPH08211165 A JP H08211165A JP 7280597 A JP7280597 A JP 7280597A JP 28059795 A JP28059795 A JP 28059795A JP H08211165 A JPH08211165 A JP H08211165A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- clock
- duration
- pulse
- signal
- clock signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/02—Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
- G01R29/027—Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values
- G01R29/0273—Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values the pulse characteristic being duration, i.e. width (indicating that frequency of pulses is above or below a certain limit)
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/02—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
- G01R23/10—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into a train of pulses, which are then counted, i.e. converting the signal into a square wave
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/3193—Tester hardware, i.e. output processing circuits with comparison between actual response and known fault free response
- G01R31/31937—Timing aspects, e.g. measuring propagation delay
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04F—TIME-INTERVAL MEASURING
- G04F10/00—Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 入力信号のパルス持続時間を正確に測定し得
るパルス持続時間測定装置を提供する。 【解決手段】 周期Ｔを有するクロック信号を発生する
クロックユニット１００と、このクロック信号を遅延時
間（（Ｔ／Ｎ）・ｉ）だけ遅延せしめて（ｉは１〜Ｎ−
１の範囲の任意の整数）、Ｎ−１個の遅延されたクロッ
ク信号を供給する時間遅延ブロック２００と、前記入力
パルス信号Ｉの持続時間Ｙの間、前記クロック信号に含
まれたクロックパルスの個数と、遅延された各クロック
信号のブロックパルスの個数とを各々カウントして、カ
ウント値を発生する計数手段３００と、この計数ブロッ
ク３００から供給されたカウント値のうち、最大のカウ
ント値ｎを求めて、この値ｎに基づいて、入力パルス信
号Ｉの持続時間Ｙを求める算術論理ユニット４００とを
含む。
るパルス持続時間測定装置を提供する。 【解決手段】 周期Ｔを有するクロック信号を発生する
クロックユニット１００と、このクロック信号を遅延時
間（（Ｔ／Ｎ）・ｉ）だけ遅延せしめて（ｉは１〜Ｎ−
１の範囲の任意の整数）、Ｎ−１個の遅延されたクロッ
ク信号を供給する時間遅延ブロック２００と、前記入力
パルス信号Ｉの持続時間Ｙの間、前記クロック信号に含
まれたクロックパルスの個数と、遅延された各クロック
信号のブロックパルスの個数とを各々カウントして、カ
ウント値を発生する計数手段３００と、この計数ブロッ
ク３００から供給されたカウント値のうち、最大のカウ
ント値ｎを求めて、この値ｎに基づいて、入力パルス信
号Ｉの持続時間Ｙを求める算術論理ユニット４００とを
含む。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、時間測定装置に関
し、特に、入力信号のパルス持続時間を正確に測定し得
るパルス持続時間測定装置に関する。
し、特に、入力信号のパルス持続時間を正確に測定し得
るパルス持続時間測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、入力パルス信号の持続時間は、
カウンタによって測定される。この入力パルス信号がカ
ウンタのイネーブルポートへ供給され、周期Ｔを有する
クロック信号がカウンタの他ポートへクロックパルス列
の形態にて供給される場合、カウンタは入力パルス信号
の持続時間の間、クロック信号内に含まれたクロックパ
ルスの立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジの個数
を計数する。その後、入力パルス信号の持続時間は、ク
ロックパルス周期とカウントされたクロックパルスの個
数とを掛け算して求められる。前述した方法に於いて
は、測定された入力パルスの持続時間の精度がクロック
パルス周期Ｔによって本質的に制限されるため、測定の
精度や信頼度を増進せしめて、所望の測定精度を得るた
めには、より短いクロックパルス周期のクロック信号を
用いられなければならない。しかし、このような方法に
は、コスト面において非効果的な不都合がある。
カウンタによって測定される。この入力パルス信号がカ
ウンタのイネーブルポートへ供給され、周期Ｔを有する
クロック信号がカウンタの他ポートへクロックパルス列
の形態にて供給される場合、カウンタは入力パルス信号
の持続時間の間、クロック信号内に含まれたクロックパ
ルスの立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジの個数
を計数する。その後、入力パルス信号の持続時間は、ク
ロックパルス周期とカウントされたクロックパルスの個
数とを掛け算して求められる。前述した方法に於いて
は、測定された入力パルスの持続時間の精度がクロック
パルス周期Ｔによって本質的に制限されるため、測定の
精度や信頼度を増進せしめて、所望の測定精度を得るた
めには、より短いクロックパルス周期のクロック信号を
用いられなければならない。しかし、このような方法に
は、コスト面において非効果的な不都合がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、簡単な遅延回路を用いて入力パルス信号の持続時間
を正確に測定し得る改善されたパルス持続時間測定装置
を提供することにある。
は、簡単な遅延回路を用いて入力パルス信号の持続時間
を正確に測定し得る改善されたパルス持続時間測定装置
を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明によれば、入力パルス信号のパルス持続時
間を測定するためのパルス持続時間測定装置であって、
周期（Ｔ）を有するクロック信号をクロックパルス列の
形態にて発生するクロック信号発生手段と、前記クロッ
ク信号を遅延時間（（Ｔ／Ｎ）・ｉ）だけ遅延せしめて
（Ｎは２以上の任意の正の整数で、ｉは１〜Ｎ−１の範
囲の任意の正の整数）、Ｎ−１個の遅延されたクロック
信号を供給する遅延手段と、前記入力パルス信号の持続
時間の間、前記クロック信号に含まれたクロックパルス
の個数と、遅延された各クロック信号のブロックパルス
の個数とを各々カウントして、カウント値を発生する計
数手段と、前記計数手段から供給された前記カウント値
のうち、最大のカウント値を求めると共に、前記最大の
カウント値に基づいて、前記入力パルス信号の持続時間
を計算する持続時間計算手段とを含むことを特徴とす
る。
めに、本発明によれば、入力パルス信号のパルス持続時
間を測定するためのパルス持続時間測定装置であって、
周期（Ｔ）を有するクロック信号をクロックパルス列の
形態にて発生するクロック信号発生手段と、前記クロッ
ク信号を遅延時間（（Ｔ／Ｎ）・ｉ）だけ遅延せしめて
（Ｎは２以上の任意の正の整数で、ｉは１〜Ｎ−１の範
囲の任意の正の整数）、Ｎ−１個の遅延されたクロック
信号を供給する遅延手段と、前記入力パルス信号の持続
時間の間、前記クロック信号に含まれたクロックパルス
の個数と、遅延された各クロック信号のブロックパルス
の個数とを各々カウントして、カウント値を発生する計
数手段と、前記計数手段から供給された前記カウント値
のうち、最大のカウント値を求めると共に、前記最大の
カウント値に基づいて、前記入力パルス信号の持続時間
を計算する持続時間計算手段とを含むことを特徴とす
る。
【０００５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施例につ
いて、図面を参照しながらより詳しく説明する。図１を
参照するに、この図１には、本発明によってパルス持続
時間測定装置のブロック図が示されている。このパルス
持続時間測定装置はクロック（ＣＬＫ）ユニット１００
と、時間遅延ブロック２００と、計数ブロック３００
と、算術論理ユニット（ＡＬＵ）４００とからなる。図
２には、図１に示した各素子から発生された波形のタイ
ミング図が示されている。以下、図２の各タイミング図
を参照して、本発明のパルス持続時間測定装置をより詳
しく述べる。図２Ａに示したように、立ち上がりエッジ
点ｔ0 と立ち下がりエッジ点ｔ17とを有する入力パルス
信号Ｉは、計数ブロック３００及びＡＬＵ４００へ供給
される。ＣＬＫユニット１００は、図２Ｂに示したよう
に、周期Ｔを有するクロック信号をクロックパルス列の
形態にて発生して、時間遅延ブロック２００及び計数ブ
ロック３００へ各々供給する。この時間遅延ブロック２
００には、並列にて接続されたＮ−１個の時間遅延素子
が設けられている。ここで、Ｎは２以上の任意の正の整
数（例えば、６）である。図２Ｃ〜２Ｇには、第１〜第
５時間遅延素子（Ｄ１〜Ｄ５）２０１〜２０５の各々か
ら発生された遅延されたクロック信号のタイミング図
が、一例として示されている。
いて、図面を参照しながらより詳しく説明する。図１を
参照するに、この図１には、本発明によってパルス持続
時間測定装置のブロック図が示されている。このパルス
持続時間測定装置はクロック（ＣＬＫ）ユニット１００
と、時間遅延ブロック２００と、計数ブロック３００
と、算術論理ユニット（ＡＬＵ）４００とからなる。図
２には、図１に示した各素子から発生された波形のタイ
ミング図が示されている。以下、図２の各タイミング図
を参照して、本発明のパルス持続時間測定装置をより詳
しく述べる。図２Ａに示したように、立ち上がりエッジ
点ｔ0 と立ち下がりエッジ点ｔ17とを有する入力パルス
信号Ｉは、計数ブロック３００及びＡＬＵ４００へ供給
される。ＣＬＫユニット１００は、図２Ｂに示したよう
に、周期Ｔを有するクロック信号をクロックパルス列の
形態にて発生して、時間遅延ブロック２００及び計数ブ
ロック３００へ各々供給する。この時間遅延ブロック２
００には、並列にて接続されたＮ−１個の時間遅延素子
が設けられている。ここで、Ｎは２以上の任意の正の整
数（例えば、６）である。図２Ｃ〜２Ｇには、第１〜第
５時間遅延素子（Ｄ１〜Ｄ５）２０１〜２０５の各々か
ら発生された遅延されたクロック信号のタイミング図
が、一例として示されている。
【０００６】最初、図２Ｃに示したように、第１時間遅
延素子（Ｄ１）２０１はクロック信号を遅延時間（Ｔ／
Ｎ）だけ遅延せしめて、遅延された第１クロック信号を
後続する時間遅延素子（即ち、第２時間遅延素子（Ｄ
２）２０２）及び計数ブロック３００へ供給する。ま
た、図２Ｄに示したように、第２時間遅延素子（Ｄ２）
２０２もやはり遅延された第１クロック信号を遅延時間
（Ｔ／Ｎ）だけ遅延せしめて、遅延された第２クロック
信号を第３時間遅延素子（Ｄ３）２０３及び計数ブロッ
ク３００へ供給する。時間遅延素子（Ｄ３〜Ｄ５）２０
３〜２０５も、上記の第１及び第２時間遅延素子（Ｄ１
及びＤ２）２０１及び２０２の動作と同一の働きをす
る。計数ブロック３００には、並列にて接続されたＮ個
（例えば、６個）のカウンタが設けられている。ここ
で、Ｍ番目のカウンタ（ＣM ）は、Ｍ−１番目の時間遅
延素子（ＤM-1 ）に対応する。第１カウンタ（Ｃ１）３
０１はＣＬＫユニット１００からクロック信号を受け取
って、第２〜第６カウンタ（Ｃ２〜Ｃ６）３０２〜３０
６の各々は、対応する時間遅延素子から遅延されたクロ
ック信号を受け取る。入力パルス信号Ｉは、各カウンタ
（Ｃ１〜Ｃ６）３０１〜３０６のイネーブルポートＥへ
供給される。計数ブロック３００は、立ち上がりエッジ
点ｔ0 と立ち下がりエッジ点ｔ17との間、クロック信号
内に含まれたクロックパルスの個数及び遅延されたクロ
ック信号のクロックパルスの個数を各々カウントする。
図２Ｈ〜図２Ｍには、第１〜第６カウンタ（Ｃ１〜Ｃ
６）３０１〜３０６の各々から発生されたカウント値の
タイミング図が示されている。
延素子（Ｄ１）２０１はクロック信号を遅延時間（Ｔ／
Ｎ）だけ遅延せしめて、遅延された第１クロック信号を
後続する時間遅延素子（即ち、第２時間遅延素子（Ｄ
２）２０２）及び計数ブロック３００へ供給する。ま
た、図２Ｄに示したように、第２時間遅延素子（Ｄ２）
２０２もやはり遅延された第１クロック信号を遅延時間
（Ｔ／Ｎ）だけ遅延せしめて、遅延された第２クロック
信号を第３時間遅延素子（Ｄ３）２０３及び計数ブロッ
ク３００へ供給する。時間遅延素子（Ｄ３〜Ｄ５）２０
３〜２０５も、上記の第１及び第２時間遅延素子（Ｄ１
及びＤ２）２０１及び２０２の動作と同一の働きをす
る。計数ブロック３００には、並列にて接続されたＮ個
（例えば、６個）のカウンタが設けられている。ここ
で、Ｍ番目のカウンタ（ＣM ）は、Ｍ−１番目の時間遅
延素子（ＤM-1 ）に対応する。第１カウンタ（Ｃ１）３
０１はＣＬＫユニット１００からクロック信号を受け取
って、第２〜第６カウンタ（Ｃ２〜Ｃ６）３０２〜３０
６の各々は、対応する時間遅延素子から遅延されたクロ
ック信号を受け取る。入力パルス信号Ｉは、各カウンタ
（Ｃ１〜Ｃ６）３０１〜３０６のイネーブルポートＥへ
供給される。計数ブロック３００は、立ち上がりエッジ
点ｔ0 と立ち下がりエッジ点ｔ17との間、クロック信号
内に含まれたクロックパルスの個数及び遅延されたクロ
ック信号のクロックパルスの個数を各々カウントする。
図２Ｈ〜図２Ｍには、第１〜第６カウンタ（Ｃ１〜Ｃ
６）３０１〜３０６の各々から発生されたカウント値の
タイミング図が示されている。
【０００７】各カウンタは、クロックパルスの立ち上が
りエッジにて計数動作を行うと共に、次の立ち上がりエ
ッジが発生されるまで、現カウント値を発生する。より
詳しくは、図２Ｈに示したように、第１カウンタ（Ｃ
１）３０１は、ＣＬＫユニット１００から入力されたク
ロックパルスの第１立ち上がりエッジ点ｔ6 にてカウン
ト値１をカウントすると共に、第２立ち上がりエッジ点
ｔ12の発生まで第１カウント値１を発生する。その後、
入力パルス信号Ｉの立ち下がりエッジ点ｔ17にて、第１
カウンタ（Ｃ１）３０１は計数動作を停止して、出力さ
れたカウント値２を変更することなく保持する。また、
図２Ｉに示したように、第２カウンタ（Ｃ２）３０２
は、第１時間遅延素子（Ｄ１）２０１から入力された遅
延された第１クロック信号のクロックパルスの第１立ち
上がりエッジ点ｔ1 にてカウント値１を、第２立ち上が
りエッジ点ｔ7 にてカウント値２を、第３立ち上がりエ
ッジ点ｔ13にてカウント値３を発生する。第３〜第６カ
ウンタ（Ｃ３〜Ｃ６）３０３〜３０６の動作も、上記の
第１及び第２カウンタ３０１，３０２の動作と同一であ
る。各々のカウンタ（Ｃ１〜Ｃ６）３０１〜３０６から
発生された各カウント値は、ＡＬＵ４００へ供給され
る。
りエッジにて計数動作を行うと共に、次の立ち上がりエ
ッジが発生されるまで、現カウント値を発生する。より
詳しくは、図２Ｈに示したように、第１カウンタ（Ｃ
１）３０１は、ＣＬＫユニット１００から入力されたク
ロックパルスの第１立ち上がりエッジ点ｔ6 にてカウン
ト値１をカウントすると共に、第２立ち上がりエッジ点
ｔ12の発生まで第１カウント値１を発生する。その後、
入力パルス信号Ｉの立ち下がりエッジ点ｔ17にて、第１
カウンタ（Ｃ１）３０１は計数動作を停止して、出力さ
れたカウント値２を変更することなく保持する。また、
図２Ｉに示したように、第２カウンタ（Ｃ２）３０２
は、第１時間遅延素子（Ｄ１）２０１から入力された遅
延された第１クロック信号のクロックパルスの第１立ち
上がりエッジ点ｔ1 にてカウント値１を、第２立ち上が
りエッジ点ｔ7 にてカウント値２を、第３立ち上がりエ
ッジ点ｔ13にてカウント値３を発生する。第３〜第６カ
ウンタ（Ｃ３〜Ｃ６）３０３〜３０６の動作も、上記の
第１及び第２カウンタ３０１，３０２の動作と同一であ
る。各々のカウンタ（Ｃ１〜Ｃ６）３０１〜３０６から
発生された各カウント値は、ＡＬＵ４００へ供給され
る。
【０００８】このＡＬＵ４００は、入力パルス信号Ｉ及
び計数ブロック３００からの各カウント値を受け取る。
図２Ｈ〜図２Ｍに示したように、入力パルス信号Ｉの立
ち下がりエッジ点ｔ17の後に、各カウンタ（Ｃ１〜Ｃ
６）３０１〜３０６から入力されたカウント値は、２種
類の値ｎ及びｎ−１（即ち、３及び２）を有する。この
ＡＬＵ４００は、計数ブロック３００から入力されたカ
ウント値中で最大のカウント値ｎと、この最大のカウン
ト値ｎを供給するカウンタの個数ｐとを検出する。この
ような検出結果に基づいて、本実施例においては、最大
のカウント値ｎは３、カウンタの個数ｐは４である。従
って、ＡＬＵ４００は、入力パルス信号Ｉの持続時間Ｙ
を下式のようにして計算する。 Ｙ ＝ （ｎ−１）・ Ｔ ＋ ｐ ・ Ｔ／Ｎ ＝ （３−１）・ Ｔ ＋ ４ ・ Ｔ／６ ≒ ２．７Ｔ 上記の式から分かるように、本発明のパルス持続時間測
定装置を用いて計算された入力パルス信号Ｉの持続時間
Ｙは、約２．７Ｔで、これは入力パルス信号Ｉの実際の
持続時間と殆ど同一の時間であるが、通常の装置を用い
る場合は持続時間は２Ｔで計算される。上記において、
本発明の好適な実施例について説明したが、本発明の特
許請求の範囲を逸脱することなく、種々の変更を加え得
ることは勿論である。
び計数ブロック３００からの各カウント値を受け取る。
図２Ｈ〜図２Ｍに示したように、入力パルス信号Ｉの立
ち下がりエッジ点ｔ17の後に、各カウンタ（Ｃ１〜Ｃ
６）３０１〜３０６から入力されたカウント値は、２種
類の値ｎ及びｎ−１（即ち、３及び２）を有する。この
ＡＬＵ４００は、計数ブロック３００から入力されたカ
ウント値中で最大のカウント値ｎと、この最大のカウン
ト値ｎを供給するカウンタの個数ｐとを検出する。この
ような検出結果に基づいて、本実施例においては、最大
のカウント値ｎは３、カウンタの個数ｐは４である。従
って、ＡＬＵ４００は、入力パルス信号Ｉの持続時間Ｙ
を下式のようにして計算する。 Ｙ ＝ （ｎ−１）・ Ｔ ＋ ｐ ・ Ｔ／Ｎ ＝ （３−１）・ Ｔ ＋ ４ ・ Ｔ／６ ≒ ２．７Ｔ 上記の式から分かるように、本発明のパルス持続時間測
定装置を用いて計算された入力パルス信号Ｉの持続時間
Ｙは、約２．７Ｔで、これは入力パルス信号Ｉの実際の
持続時間と殆ど同一の時間であるが、通常の装置を用い
る場合は持続時間は２Ｔで計算される。上記において、
本発明の好適な実施例について説明したが、本発明の特
許請求の範囲を逸脱することなく、種々の変更を加え得
ることは勿論である。
【０００９】
【発明の効果】従って、本発明によれば、簡単な遅延回
路を用いて入力パルス信号の持続時間を正確に測定する
事ができる。
路を用いて入力パルス信号の持続時間を正確に測定する
事ができる。
【図１】本発明のパルス持続時間測定装置のブロック図
である。
である。
【図２】Ａは入力パルス信号Ｉ、Ｂは、クロックユニッ
トからの周期Ｔを有するクロック信号、Ｃ〜Ｇは、各時
間遅延素子から発生された遅延されたクロック信号、Ｈ
〜Ｍは、各カウンタから発生されたカウント値の波形を
各々示したタイミング図である。
トからの周期Ｔを有するクロック信号、Ｃ〜Ｇは、各時
間遅延素子から発生された遅延されたクロック信号、Ｈ
〜Ｍは、各カウンタから発生されたカウント値の波形を
各々示したタイミング図である。
１００ クロック（ＣＬＫ）ユニット ２００ 時間遅延ブロック ３００ 計数ブロック ４００ 算術論理ユニット（ＡＬＵ）
Claims (2)
- 【請求項１】 入力パルス信号（Ｉ）のパルス持続時間
を測定するためのパルス持続時間測定装置であって、 周期（Ｔ）を有するクロック信号をクロックパルス列の
形態にて発生するクロック信号発生手段（１００）と、 前記クロック信号を遅延時間（（Ｔ／Ｎ）・ｉ）だけ遅
延せしめて（Ｎは２以上の任意の正の整数で、ｉは１〜
Ｎ−１の範囲の任意の正の整数）、Ｎ−１個の遅延され
たクロック信号を供給する遅延手段（２００）と、 前記入力パルス信号（Ｉ）の持続時間（Ｙ）の間、前記
クロック信号に含まれたクロックパルスの個数と、遅延
された各クロック信号のブロックパルスの個数とを各々
カウントして、カウント値を発生する計数手段（３０
０）と、 前記計数手段から供給された前記カウント値のうち、最
大のカウント値（ｎ）を求めると共に、前記最大のカウ
ント値（ｎ）に基づいて、前記入力パルス信号（Ｉ）の
持続時間（Ｙ）を計算する持続時間計算手段（４００）
とを含むことを特徴とするパルス持続時間測定装置。 - 【請求項２】 前記持続時間計算手段が、前記パルス持
続時間を下記式を用いて求め、 Ｙ ＝ （ｎ−１）・ Ｔ ＋ ｐ ・ Ｔ／Ｎ ここで、ｐが前記計数手段から入力されたカウント値の
うち、前記最大のカウント値（ｎ）の個数であることを
特徴とする請求項１に記載のパルス持続時間測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019940028325A KR100220672B1 (ko) | 1994-10-31 | 1994-10-31 | 병렬구조를 갖는 시간간격 측정기 |
| KR94-28325 | 1994-10-31 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08211165A true JPH08211165A (ja) | 1996-08-20 |
Family
ID=19396661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7280597A Pending JPH08211165A (ja) | 1994-10-31 | 1995-10-27 | パルス持続時間測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5598116A (ja) |
| JP (1) | JPH08211165A (ja) |
| KR (1) | KR100220672B1 (ja) |
| CN (1) | CN1082667C (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004325373A (ja) * | 2003-04-28 | 2004-11-18 | Nec Engineering Ltd | 距離測定装置 |
| JP2005181180A (ja) * | 2003-12-22 | 2005-07-07 | Tdk Corp | レーダ装置 |
| JP2007218857A (ja) * | 2006-02-20 | 2007-08-30 | Fujitsu Ltd | 無線測位装置、無線測位方法および無線測位のためのプログラム |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11281690A (ja) * | 1998-03-30 | 1999-10-15 | Mitsubishi Electric Corp | パルス幅検証装置及びパルス幅検証方法 |
| JP3199027B2 (ja) * | 1998-05-11 | 2001-08-13 | 日本電気株式会社 | デューティ測定回路、データ識別システム、データ信号再生システム、デューティ測定方法、データ識別方法、及びデータ信号再生方法 |
| GB2397709B (en) * | 2003-01-27 | 2005-12-28 | Evangelos Arkas | Period-to-digital converter |
| JP3960271B2 (ja) * | 2003-07-02 | 2007-08-15 | ソニー株式会社 | 位相誤差判定方法、デジタルｐｌｌ装置 |
| US7916135B2 (en) * | 2005-03-08 | 2011-03-29 | Au Optronics Corporation | Timing controller and method of generating timing signals |
| US7227387B1 (en) * | 2005-05-13 | 2007-06-05 | Xilinx, Inc. | Measuring pulse edge delay value relative to a clock using multiple delay devices to address a memory to access the delay value |
| EP1936396A1 (en) * | 2006-12-22 | 2008-06-25 | Nxp B.V. | Integrated circuit with built-in test circuit |
| CN101577792B (zh) * | 2008-05-06 | 2011-01-19 | 通嘉科技股份有限公司 | 操作模式的判断装置及其判断方法 |
| CN102025350B (zh) * | 2009-09-18 | 2013-03-06 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 脉冲衰减环路及延迟测量装置 |
| US8290094B2 (en) * | 2010-01-18 | 2012-10-16 | Infineon Technologies Ag | Methods and systems for measuring data pulses |
| CN103176059B (zh) * | 2011-12-21 | 2016-12-21 | 北京普源精电科技有限公司 | 一种测量脉冲宽度的方法、装置和频率计 |
| AT518870B1 (de) * | 2016-07-29 | 2018-02-15 | Johannes Kepler Univ Linz Institut Fuer Nachrichtentechnik Und Hochfrequenzsysteme | Zeitdiskretes Verfahren zur Bestimmung der Pulsdauerlänge von periodisch gesendeten und empfangenen Pulsen ohne bandbegrenzende Maßnahmen |
| CN109188106A (zh) * | 2018-08-18 | 2019-01-11 | 国营芜湖机械厂 | 一种航空机载设备点火脉冲的脉宽测量电路 |
| CN112764342B (zh) * | 2019-11-01 | 2022-02-18 | 北京一径科技有限公司 | 一种时间测量装置和方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2729422C2 (de) * | 1977-06-29 | 1982-06-24 | Endress U. Hauser Gmbh U. Co, 7867 Maulburg | Schaltungsanordnung zur Impulsbreitenmessung |
| US4197502A (en) * | 1978-10-16 | 1980-04-08 | Motorola, Inc. | Digital signal detector |
| KR950007267B1 (ko) * | 1990-10-16 | 1995-07-07 | 삼성전자주식회사 | 리모콘신호의 펄스폭 측정회로 |
-
1994
- 1994-10-31 KR KR1019940028325A patent/KR100220672B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-10-27 JP JP7280597A patent/JPH08211165A/ja active Pending
- 1995-10-30 US US08/550,332 patent/US5598116A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-10-31 CN CN95118238A patent/CN1082667C/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004325373A (ja) * | 2003-04-28 | 2004-11-18 | Nec Engineering Ltd | 距離測定装置 |
| JP2005181180A (ja) * | 2003-12-22 | 2005-07-07 | Tdk Corp | レーダ装置 |
| US7280069B2 (en) | 2003-12-22 | 2007-10-09 | Tdk Corporation | Range-finding radar apparatus with high-resolution pulse-width calculation unit |
| JP2007218857A (ja) * | 2006-02-20 | 2007-08-30 | Fujitsu Ltd | 無線測位装置、無線測位方法および無線測位のためのプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1122453A (zh) | 1996-05-15 |
| KR960015119A (ko) | 1996-05-22 |
| US5598116A (en) | 1997-01-28 |
| CN1082667C (zh) | 2002-04-10 |
| KR100220672B1 (ko) | 1999-09-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH08211165A (ja) | パルス持続時間測定装置 | |
| JP2539600B2 (ja) | タイミング発生装置 | |
| JPH01164118A (ja) | 時間差測定回路 | |
| JPH06138230A (ja) | 測距装置 | |
| JPH07280857A (ja) | パルス幅測定回路 | |
| JP3271323B2 (ja) | 時間測定回路 | |
| JPH01124773A (ja) | 周波数測定装置 | |
| JP3055225B2 (ja) | 位相差計測装置 | |
| JPH01304365A (ja) | 周波数測定装置 | |
| JP5055016B2 (ja) | 位相差計測回路 | |
| SU836756A1 (ru) | Устройство дл умножени частотыСлЕдОВАНи иМпульСОВ | |
| JPH03102266A (ja) | パルス幅測定器 | |
| JP3164206B2 (ja) | タイムインターバル計測方式 | |
| JP2605895B2 (ja) | トリガ信号発生器 | |
| SU1026097A1 (ru) | Способ измерени мгновенных значений периодических магнитных полей и устройство дл его осуществлени | |
| JP2720556B2 (ja) | 位相差測定方法 | |
| SU1394164A1 (ru) | Измеритель волнового сопротивлени линии задержки | |
| JP2658126B2 (ja) | 入力周波数の発生装置 | |
| SU744997A2 (ru) | Счетчик частоты | |
| JPH06138261A (ja) | 時間間隔測定装置 | |
| JPS6318287A (ja) | 時間計測装置 | |
| JPH059758B2 (ja) | ||
| JPS62180627A (ja) | 音声検出器の動作時間率測定回路 | |
| JPH03159309A (ja) | クロック入力回路およびクロック入力方法 | |
| JPH10132927A (ja) | 時間計測回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041124 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050224 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060124 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060620 |