JPH07321828A - 電子装置 - Google Patents

電子装置

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JPH07321828A
JPH07321828A JP6106982A JP10698294A JPH07321828A JP H07321828 A JPH07321828 A JP H07321828A JP 6106982 A JP6106982 A JP 6106982A JP 10698294 A JP10698294 A JP 10698294A JP H07321828 A JPH07321828 A JP H07321828A
Authority
JP
Japan
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bus line
stub
electronic device
series
resistor
Prior art date
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Pending
Application number
JP6106982A
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English (en)
Inventor
Masao Taguchi
眞男 田口
Satoshi Eto
聡 江渡
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Priority to ITMI951033A priority patent/IT1274537B/it
Priority to US08/445,099 priority patent/US5955889A/en
Priority to KR1019950012667A priority patent/KR0155033B1/ko
Publication of JPH07321828A publication Critical patent/JPH07321828A/ja
Priority to US09/541,699 priority patent/US6384671B1/en
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Abstract

(57)【要約】 【目的】バス線を介して信号の伝送が行われる電子装置
に関し、スタブにおいて発生するリンギングを抑制する
と共に、伝送信号の遅延を抑制し、伝送周波数を高め、
高速化を図る。 【構成】バス線1と、スタブ10、31〜34との間
に、直列に接続された抵抗41〜45を含む、高域通過
(ハイパス)フィルタ特性を有するインピーダンス回路
47〜51を接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、バス線を介して信号の
伝送が行われる電子装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の電子装置として、例え
ば、図26にその要部を示すようなものが知られてい
る。
【0003】この電子装置は、一般にマザーボードと呼
ばれるプリント基板に構成されるものであり、図26
中、1はマザーボードに形成されたデータ伝送路をなす
バス線、2、3はバス線1を終端する終端抵抗、4は終
端電圧VTTを供給するVTT電圧線である。
【0004】また、5はMPU(microprocessor uni
t)を実装するパッケージ、6はパッケージ5に実装さ
れたMPUであり、このMPU6において、7はデータ
入出力端子、8はデータ出力回路、9はデータ入力回路
である。
【0005】また、10はパッケージ5内に設けられて
いるバス線1の分岐路をなす信号配線であり、バス線1
に対してスタブ(stub)と呼ばれるものである。
【0006】また、11〜14は所定のコネクタを介し
てマザーボードに装着されるメモリ・モジュールであ
り、15〜18はメモリ・モジュール11〜14に実装
されているSDRAM(Synchronous DRAM[dynam
ic random access memory])である。
【0007】また、これらSDRAM15〜18におい
て、19〜22はデータ入出力端子、23〜26はデー
タ出力回路、27〜30はデータ入力回路である。
【0008】また、31〜34はメモリ・モジュール1
1〜14に形成されているバス線1の分岐路をなす信号
配線であり、これら信号配線31〜34も、バス線1に
対してスタブと呼ばれる。
【0009】この電子装置において、例えば、MPU6
のデータ出力回路8からスタブ10を介してバス線1に
データDQを示す信号が出力された場合、この出力され
た信号はバス線1を終端抵抗2、3に向かって伝播す
る。
【0010】そして、その一部は、分岐点36〜39で
分岐し、スタブ31〜34に入り、これらスタブ31〜
34をSDRAM15〜18のデータ入出力端子19〜
22に向かって伝播する。
【0011】これらスタブ31〜34をデータ入出力端
子19〜22に向かって伝播する信号は、スタブ31〜
34の先端が電気的に開放端とされていることから、ス
タブ31〜34の先端部で完全反射し、スタブ31〜3
4を再びバス線1に向かって伝播していくことになる。
【0012】ここに、バス線1の特性インピーダンス
は、通常、50Ωであるが、このバス線1をスタブ31
〜34側から見ると、50Ω/2=25Ωの線路に見え
ることになる。
【0013】他方、スタブ31〜34の特性インピーダ
ンスは、メモリ・モジュール11〜14が、いわゆる、
SIMM(single in-line memory module)の場合、通
常、75〜125Ωであることから、スタブ31〜34
と、バス線1とは、インピーダンス整合が取られていな
いことになる。
【0014】このため、スタブ31〜34の先端で反射
し、スタブ31〜34をバス線1に向かって伝播してき
た信号の一部はバス線1に伝播し、一部は分岐点36〜
39で反射してしまい、以下、スタブ31〜34の先端
と分岐点36〜39との間で反射が繰り返され、スタブ
31〜34においては、伝送信号に振動、いわゆる、リ
ンギングが発生してしまう。
【0015】かかるリンギングは、伝送周波数が高くな
るほど、激しくなり、また、スタブ31〜34が長くな
ると、低い伝送周波数でも発生するので、図26に示す
電子装置では、伝送周波数を高めることができないとい
う問題点があった。
【0016】そこで、また、従来、図27に示すような
電子装置が提案されている。この電子装置は、バス線1
と、スタブ10、31〜34との間に抵抗41〜45を
挿入し、これら抵抗41〜45によって、スタブ10、
31〜34の部分で発生するリンギングを吸収し、信号
波形の改善を行い、伝送周波数を高めることを可能にす
るというものである。
【0017】なお、この例では、抵抗41はマザーボー
ドに実装され、抵抗42〜45はメモリ・モジュール1
1〜14に実装されている。
【0018】ここに、特に、抵抗41〜45の抵抗値を
S、バス線1の特性インピーダンスをZ0、スタブ31
〜34の特性インピーダンスをZ1とした場合、Z1=R
S+Z0/2とする場合には、抵抗42〜45をマッチン
グ抵抗として機能させ、スタブ31〜34とバス線1と
の間のインピーダンス整合を図ることができる。
【0019】即ち、このようにする場合には、スタブ3
1〜34の先端(開放端)で反射し、スタブ31〜34
をバス線1に向かって伝播してきた信号の分岐点35〜
39における反射をなくし、信号波形の歪みを最小限に
することができる。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】前述したように、バス
線1の特性インピーダンスZ0は、通常、50Ω、スタ
ブ31〜34の特性インピーダンスZ1は、通常、75
〜125Ωであることからすると、抵抗42〜45をマ
ッチング抵抗として機能させる場合、抵抗42〜45の
抵抗値RSは、50〜100Ωが最適値となる。
【0021】他方、スタブ31〜34に、それぞれ、複
数の、例えば、2個のSDRAMが接続されると、スタ
ブ31〜34から見た負荷デバイスの入力容量は、10
pFとなる。
【0022】このような場合、抵抗42〜45と、2個
のSDRAMの入力容量とで、高域遮断(ハイカット)
フィルタが構成されてしまい、例えば、図28に示すよ
うに、伝送信号の高周波数成分が失われ、伝送信号が鈍
り、遅延が発生してしまうという問題点があった。
【0023】なお、図28は、終端電圧VTTを1.65
V、終端抵抗2、3の抵抗値RTTを50Ω、抵抗41〜
45の抵抗値RSを65Ωとした場合を示しており、特
に、図28AはMPU6がSDRAM15に対してデー
タDQの書込みを行う場合におけるスタブ31の先端、
即ち、SDRAM15のデータ入出力端子19における
信号波形を示している。
【0024】また、図28BはMPU6がSDRAM1
5からデータDQを読み出す場合におけるスタブ10の
先端、即ち、MPU6のデータ入出力端子7における信
号波形を示している。
【0025】本発明は、かかる点に鑑み、バス線を介し
て信号の伝送が行われる電子装置であって、スタブにお
いて発生するリンギングを抑制すると共に、伝送信号の
遅延を抑制し、伝送周波数を高め、高速化を図ることが
できるようにした電子装置を提供することを目的とす
る。
【0026】
【課題を解決するための手段】本発明による電子装置
は、終端抵抗により終端されたバス線と、このバス線の
分岐路をなす複数のスタブと、これら複数のスタブに信
号入出力端子を接続された複数の半導体装置とを有して
なる電子装置を改良するものであり、バス線と、複数の
スタブのうち、リンギングの発生を抑制する必要のある
スタブとの間には、直列に接続された抵抗を含む、高域
通過(ハイパス)フィルタ特性を有するインピーダンス
回路を接続するというものである。
【0027】
【作用】本発明においては、バス線と、リンギングの発
生を抑制する必要のあるスタブとの間には、直列に接続
された抵抗を含むインピーダンス回路が接続されるの
で、この抵抗によって、リンギングの発生が抑制され
る。
【0028】また、バス線とリンギングの発生を抑制す
る必要のあるスタブとの間に接続されるインピーダンス
回路は、高域通過フィルタ特性を有するものとされてい
るので、バス線とリンギングの発生を抑制する必要のあ
るスタブとの間に直列に接続された抵抗と負荷デバイス
とで高域遮断フィルタが構成される場合であっても、伝
送信号の高周波数成分の減衰が抑制され、伝送信号が鈍
ることによる遅延を抑制することができる。
【0029】このように、本発明によれば、リンギング
の発生を抑制する必要のあるスタブにおけるリンギング
の発生を抑制することができると共に、伝送信号の高周
波数成分の減衰を抑制し、伝送信号が鈍ることによる遅
延を抑制することができるので、伝送周波数を高め、高
速化を図ることができる。
【0030】
【実施例】以下、図1〜図25を参照して、本発明の第
1実施例〜第16実施例について説明する。なお、図
1、図5、図8、図10、図13〜図25において、図
27に対応する部分には同一符号を付し、その重複説明
は省略する。
【0031】第1実施例・・図1〜図4 図1は本発明の第1実施例の要部を示す回路図であり、
本発明の第1実施例は、図27に示す抵抗41〜45の
代わりに、インピーダンス回路47〜51を接続し、そ
の他については、図27に示す従来の電子装置と同様に
構成したものである。
【0032】なお、この第1実施例では、インピーダン
ス回路47はマザーボードに実装され、インピーダンス
回路48〜51はメモリ・モジュール11〜14に実装
されている。
【0033】これらインピーダンス回路47〜51は、
回路的には、抵抗41〜45にキャパシタ52〜56を
並列に接続してなるものであり、例えば、図2に概略的
断面図を示すような一体化されたインピーダンス素子と
して構成することができる。
【0034】図2中、58、59は電極、60、61は
絶縁体層、62は抵抗体層、63は誘電体層であり、こ
のインピーダンス素子を、例えば、インピーダンス回路
48に使用する場合には、抵抗体層62は抵抗42を構
成し、誘電体層63はキャパシタ53を構成することに
なる。
【0035】このインピーダンス素子は、電極58、5
9の下端部58A、59Aを配線に半田付けすることに
よりマザーボード又はメモリ・モジュール11〜14に
実装され、図3は、例えば、インピーダンス回路48と
して実装した部分を示している。65はコネクタに接続
される部分の配線である。
【0036】なお、電極58、59は、例えば、亜鉛で
構成することができ、絶縁体層60、61は、例えば、
アルミナ・セラミックで構成することができ、抵抗体層
62は、例えば、カーボンで構成することができ、誘電
体層63は、例えば、チタン酸バリウム、酸化チタン、
ストロンチウム・チタン酸化物、ジルコン酸チタン鉛で
構成することができる。
【0037】ここに、バス線1には、コネクタ部分の寄
生容量や、SDRAM15〜18の入力容量が負荷とし
て接続されているため、バス線1は特性インピーダンス
(純抵抗)に対して、ややキャパシティブな特性を示
す。
【0038】そこで、この負荷容量をCLとし、例え
ば、抵抗42の抵抗値をRS、キャパシタ53の容量値
をCP、終端抵抗2、3の抵抗値をRTTとする場合に、
TT/RS=(CL/CP-1なる関係が成立する場合に
は、例えば、スタブ31の開放端に信号源を接続した場
合、この信号源の信号を忠実に終端抵抗2、3まで伝送
することができる。
【0039】抵抗分割比(RTT/RS)と、容量分割比
(CL/CP)の逆数(CL/CP-1が等しければ、分岐
点36の通過信号の周波数に依らず、信号レベルが分圧
されるためである。
【0040】このように、バス線1に負荷容量CLが寄
生する以上、少なくとも、抵抗42〜45には、並列に
キャパシタ53〜56を接続することが、伝送信号の高
周波成分を減衰させず、高速な信号伝送を行う上で、重
要であり、これらキャパシタ53〜56が無い場合に
は、伝送信号の高周波成分が減衰し、高速な信号伝送が
不可能となる。
【0041】ここに、図4は、終端電圧VTTを1.65
V、終端抵抗2、3の抵抗値RTTを50Ω、抵抗41〜
45を65Ω、キャパシタ52〜56を30pF、スタ
ブ31〜34から見た負荷デバイスの入力容量を10p
Fとした場合における伝送波形を示しており、特に、図
4Aは、MPU6がSDRAM15に対してデータDQ
の書込みを行う場合におけるスタブ31の先端、即ち、
SDRAM15のデータ入出力端子19における信号波
形を示している。
【0042】また、図4Bは、MPU6がSDRAM1
5からデータDQを読み出す場合におけるスタブ10の
先端、即ち、MPU6のデータ入出力端子7における信
号波形を示している。
【0043】このように、この第1実施例によれば、ス
タブ10、31〜34とバス線1との間には、抵抗41
〜45が接続されているので、スタブ10、31〜34
で発生するリンギングを抑制することができる。
【0044】また、抵抗41〜45には、キャパシタ5
2〜56が並列に接続され、インピーダンス回路47〜
51は、高域通過フィルタ特性を有するように構成され
ているので、伝送信号の高周波数成分の減衰が抑制さ
れ、伝送信号が鈍ることによる遅延を抑制することがで
きる。
【0045】したがって、この第1実施例によれば、図
27に示す従来の電子装置以上に、伝送周波数を高め、
高速化を図ることができる。
【0046】なお、この第1実施例は、終端抵抗2、3
の抵抗値RTT=25〜75Ω、抵抗41〜45の抵抗値
S=25〜100Ω、キャパシタ52〜56の容量値
=10〜50pFの範囲で適用することが好適である。
【0047】また、バス線1により伝送される信号の基
本成分周波数をf[Hz]、スタブ10、31〜34の
長さをd[m]とした場合、f×dが、5×106を越え
る場合には、インピーダンス回路47〜51の効果は減
少するので、f×dが、5×106以下の範囲で適用する
ことが好適である。
【0048】第2実施例・・図5〜図7 図5は本発明の第2実施例の要部を示す回路図であり、
本発明の第2実施例は、図1に示すインピーダンス回路
47〜51の代わりに、回路構成の異なるインピーダン
ス回路68〜72を接続し、その他については、図1に
示す第1実施例と同様に構成したものである。
【0049】これらインピーダンス回路68〜72は、
回路的には、それぞれ、キャパシタ52〜56に直列に
抵抗73〜77を接続し、その他については、図1に示
すインピーダンス回路47〜51と同様に構成したもの
である。
【0050】なお、抵抗73〜77は、キャパシタ52
〜56を設けることにより発生するオーバーシュート及
びアンダーシュートを抑制するためのダンピング用の抵
抗である。
【0051】これらインピーダンス回路68〜72は、
例えば、図6に概略的断面図を示すような一体化された
インピーダンス素子として構成することができる。
【0052】図6中、125、126は電極、127、
128は絶縁体層、129、130は抵抗体層、131
は誘電体層であり、このインピーダンス素子を、たとえ
ば、インピーダンス回路69として使用する場合には、
抵抗体層129は抵抗42を構成し、抵抗体層130は
ダンピング用の抵抗74を構成し、誘電体層131はキ
ャパシタ53を構成することになる。
【0053】このインピーダンス素子は、電極125、
126の下端部125A、126Aを配線に半田付けす
ることにより、マザーボード又はメモリ・モジュール1
1〜14に実装される。
【0054】なお、電極125、126は、例えば、亜
鉛で構成することができ、絶縁体層127、128は、
例えば、アルミナ・セラミックで構成することができ、
抵抗体層129、130は、例えば、カーボンで構成す
ることができ、誘電体層131は、例えば、チタン酸バ
リウム、酸化チタン、ストロンチウム・チタン酸化物、
ジルコン酸チタン鉛で構成することができる。
【0055】ここに、第1実施例の項で説明したよう
に、バス線1に負荷容量CLが寄生する以上、少なくと
も、抵抗42〜45に並列にキャパシタ53〜56を接
続することが、伝送信号の高周波成分を減衰させず、高
速な信号伝送を行う上で、重要であり、これらキャパシ
タ53〜56が無い場合には、伝送信号の高周波成分が
減衰し、高速な信号伝送が不可能となる。
【0056】しかし、更に細部について考察すると、ス
タブ31〜34が接続されるコネクタ部分には寄生イン
ダクタンスが生じ、このため、キャパシタ53〜56を
設けるようにすると、寄生インダクタンスと、キャパシ
タ53〜56のそれぞれとの間で直列共振が生じ、寄生
インダクタンスの大きさによっては、伝送信号に無視で
きないオーバーシュートが発生してしまう場合がある。
【0057】この第2実施例において、キャパシタ53
〜56に直列に接続したダンピング抵抗74〜77は、
寄生インダクタンスと、キャパシタ53〜56のそれぞ
れとの間で生じる直列共振により発生する伝送信号のオ
ーバシュートをダンピングするというものである。
【0058】ここに、図7は、終端電圧VTTを1.65
V、終端抵抗2、3の抵抗値RTTを50Ω、抵抗41〜
45を65Ω、キャパシタ52〜56を30pF、抵抗
73〜77の抵抗値を10Ω、スタブ31〜34から見
た負荷デバイスの入力容量を10pFとした場合におけ
る伝送波形を示しており、特に、図7Aは、MPU6が
SDRAM15に対してデータDQの書込みを行う場合
におけるスタブ31の先端、即ち、SDRAM15のデ
ータ入出力端子19における信号波形を示している。
【0059】また、図7Bは、MPU6がSDRAM1
5からデータDQを読み出す場合におけるスタブ10の
先端、即ち、MPU6のデータ入出力端子7における信
号波形を示している。
【0060】このように、この第2実施例によれば、ス
タブ10、31〜34とバス線1との間には、抵抗41
〜45が接続されているので、スタブ10、31〜34
で発生するリンギングを抑制することができる。
【0061】また、インピーダンス回路68〜72は、
キャパシタ52〜56を設け、高域通過フィルタ特性を
有するように構成されているので、伝送信号の高周波数
成分の減衰が抑制され、伝送信号が鈍ることによる遅延
を抑制することができる。
【0062】また、キャパシタ52〜56に抵抗73〜
77が直列に接続されているので、これらキャパシタ5
2〜56を設けることにより発生するオーバーシュート
を抑制することができる。
【0063】したがって、この第2実施例によれば、第
1実施例以上に、伝送周波数を高め、高速化を図ること
ができる。
【0064】また、通常、バス線系では、あまり高速に
電圧変化するドライバを使用すると、伝送信号の高速変
化分、即ち、高周波数成分が、バス線の寄生インダクタ
ンスと寄生容量とからなるLC共振部に共振エネルギー
を与えてしまい、信号波形が乱れてしまうため、ある程
度、電圧変化の制限されたドライバを使用しなければな
らない。
【0065】これに対して、この第2実施例によれば、
無制限に高速なドライバを使用しても、ダンピング用の
抵抗73〜77の抵抗値を調節することによって、バス
線1に最適な信号を供給することができるので、ドライ
バの性能に制約を設ける必要がないという格別の効果を
得ることができる。
【0066】また、同じく、伝送信号の波形をダンピン
グ用の抵抗73〜77で調整することができることか
ら、LSI(MPU6、SDRAM15〜18)を製造
した後において、マザーボードもしくはメモリ・モジュ
ール11〜14の配線上で、伝送信号が最適な波形とな
るように調整することができるが、これは、LSIを使
用する上で、きわめて実用的な利点であると言える。
【0067】なお、インピーダンス回路68〜72の接
続方向を逆にすることもできるが、バス線1の寄生容量
は増加させないほうが良く、この点からすれば、図5に
示すような方向に接続することが好適である。
【0068】また、この第2実施例は、終端抵抗2、3
の抵抗値RTT=25〜75Ω、抵抗41〜45の抵抗値
S=25〜100Ω、キャパシタ52〜56の容量値
=10〜50pF、抵抗73〜77の抵抗値=5〜20
Ωの範囲で適用することが好適である。
【0069】また、バス線1により伝送される信号の基
本成分周波数をf[Hz]、スタブ10、31〜34の
長さをd[m]とした場合、f×dが、5×106を越え
る場合には、インピーダンス回路68〜72の効果は減
少するので、f×dが、5×106以下の範囲で適用する
ことが好適である。
【0070】第3実施例・・図8、図9 図8は本発明の第3実施例の要部を示す回路図であり、
本発明の第3実施例は、図1に示すインピーダンス回路
47〜51の代わりに、回路構成の異なるインピーダン
ス回路82〜86を接続し、その他については、図1に
示す第1実施例と同様に構成したものである。
【0071】これらインピーダンス回路82〜86は、
回路的には、それぞれ、キャパシタ52〜56を、抵抗
41〜45のスタブ10、31〜34側の一部分87〜
91に並列に接続してなるものである。
【0072】なお、この第3実施例においては、抵抗4
1〜45のスタブ10、31〜34側の一部分87〜9
1は55Ω、抵抗41〜45のバス線1側の一部分95
〜99は10Ωとしている。
【0073】ここに、インピーダンス回路82〜86
は、例えば、図9に概略的断面図を示すような一体化さ
れたインピーダンス素子として構成することができる。
【0074】図9中、133〜135は電極、136、
137は絶縁体層、138は抵抗体層、139は誘電体
層であり、このインピーダンス素子を、例えば、インピ
ーダンス回路83に使用する場合には、抵抗体層138
は抵抗42を構成し、誘電体層139はキャパシタ53
を構成することになる。
【0075】このインピーダンス素子は、電極133、
134の下端部133A、134Aを配線に半田付けす
ることにより、マザーボード又はメモリ・モジュール1
1〜14に実装される。
【0076】なお、電極133〜135は、例えば、亜
鉛で構成することができ、絶縁体層136、137は、
例えば、アルミナ・セラミックで構成することができ、
抵抗体層138は、例えば、カーボンで構成することが
でき、誘電体層139は、例えば、チタン酸バリウム、
酸化チタン、ストロンチウム・チタン酸化物、ジルコン
酸チタン鉛で構成することができる。
【0077】このように、この第3実施例によれば、ス
タブ10、31〜34とバス線1との間には、抵抗41
〜45が接続されているので、スタブ10、31〜34
で発生するリンギングを抑制することができる。
【0078】また、インピーダンス回路82〜86は、
キャパシタ52〜56を抵抗41〜45の一部分87〜
91に並列に接続し、高域通過フィルタ特性を有するよ
うに構成されているので、伝送信号の高周波数成分の減
衰が抑制され、伝送信号が鈍ることによる遅延を抑制す
ることができる。
【0079】また、抵抗41〜45のバス線1側の一部
分95〜99には、キャパシタ52〜56が並列に接続
されていないので、これら抵抗41〜45のバス線1側
の一部分95〜99により、キャパシタ52〜56を設
けることにより発生するオーバーシュート及びアンダー
シュートが抑制される。
【0080】したがって、この第3実施例によれば、第
2実施例の場合と同様に、第1実施例以上に、伝送周波
数を高め、高速化を図ることができる。
【0081】なお、インピーダンス回路82〜86の接
続方向を逆にすることもできるが、バス線1の寄生容量
は増加させないほうが良く、この点からすれば、図8に
示すような方向に接続することが好適である。
【0082】また、この第3実施例は、終端抵抗2、3
の抵抗値RTT=25〜75Ω、抵抗41〜45の抵抗値
S=25〜100Ω、キャパシタ52〜56の容量値
=10〜50pFの範囲で適用することが好適である。
【0083】また、バス線1により伝送される信号の基
本成分周波数をf[Hz]、スタブ10、31〜34の
長さをd[m]とした場合、f×dが、5×106を越え
る場合には、インピーダンス回路82〜86の効果は減
少するので、f×dが、5×106以下の範囲で適用する
ことが好適である。
【0084】第4実施例・・図10〜図12 図10は本発明の第4実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第4実施例は、図1に示すインピーダンス
回路47〜51の代わりに、回路構成の異なるインピー
ダンス回路101〜105を接続し、その他について
は、図1に示す第1実施例と同様に構成したものであ
る。
【0085】これらインピーダンス回路101〜105
は、回路的には、それぞれ、抵抗41〜45と、抵抗1
06〜110との間に、分布定数回路を構成するような
キャパシタ111〜115を設けたものであり、例え
ば、インピーダンス回路101は、等価的には、図11
に示すようになる。
【0086】これらインピーダンス回路101〜105
は、例えば、図12に概略的断面図を示すような一体化
されたインピーダンス素子として構成することができ
る。
【0087】図12中、141、142は電極、143
は絶縁体層、144、145は抵抗体層、146は誘電
体層であり、このインピーダンス素子を、例えば、イン
ピーダンス回路102に使用する場合には、抵抗体層1
44は抵抗42を構成し、抵抗体層145はダンピング
用の抵抗107を構成し、誘電体層146はキャパシタ
112を構成することになる。
【0088】このインピーダンス素子は、電極141、
142の下端部141A、142Aを配線に半田付けす
ることにより、マザーボード又はメモリ・モジュール1
1〜14に実装される。
【0089】なお、電極141、142は、例えば、亜
鉛で構成することができ、絶縁体層143は、例えば、
アルミナ・セラミックで構成することができ、抵抗体層
144、145は、例えば、カーボンで構成することが
でき、誘電体層146は、例えば、チタン酸バリウム、
酸化チタン、ストロンチウム・チタン酸化物、ジルコン
酸チタン鉛で構成することができる。
【0090】このように、この第4実施例によれば、ス
タブ10、31〜34とバス線1との間には、抵抗41
〜45が接続されているので、スタブ10、31〜34
で発生するリンギングを抑制することができる。
【0091】また、インピーダンス回路101〜105
は、それぞれ、抵抗41〜45と、抵抗106〜110
との間に、分布定数回路を構成するようなキャパシタ1
11〜115を設け、高域通過フィルタ特性を示すよう
に構成されているので、伝送信号の高周波数成分の減衰
が抑制され、伝送信号が鈍ることによる遅延を抑制する
ことができる。
【0092】また、抵抗106〜110が設けられてい
るので、キャパシタ111〜115を設けることにより
発生するオーバーシュート及びアンダーシュートは、こ
れら抵抗106〜110により抑制される。
【0093】したがって、この第4実施例によれば、第
2実施例の場合と同様に、第1実施例以上に、伝送周波
数を高め、高速化を図ることができる。
【0094】なお、インピーダンス回路101〜105
の接続方向を逆にすることもできるが、バス線1の寄生
容量は増加させないほうが良く、この点からすれば、図
10に示すような方向に接続することが好適である。
【0095】また、バス線1により伝送される信号の基
本成分周波数をf[Hz]、スタブ10、31〜34の
長さをd[m]とした場合、f×dが、5×106を越え
る場合には、インピーダンス回路101〜105の効果
は減少するので、、f×dが、5×106以下の範囲で適
用することが好適である。
【0096】第5実施例・・図13 図13は本発明の第5実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第5実施例は、インピーダンス回路47を
パッケージ5に搭載し、その他については、図1に示す
第1実施例と同様に構成したものである。
【0097】この第5実施例によっても、第1実施例と
同様に、伝送周波数を高め、高速化を図ることができ
る。
【0098】第6実施例・・図14 図14は本発明の第6実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第6実施例は、インピーダンス回路68を
パッケージ5に搭載し、その他については、図5に示す
第2実施例と同様に構成したものである。
【0099】この第5実施例によっても、第2実施例と
同様に、伝送周波数を高め、高速化を図ることができ
る。
【0100】第7実施例・・図15 図15は本発明の第7実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第7実施例は、インピーダンス回路82を
パッケージ5に搭載し、その他については、図8に示す
第3実施例と同様に構成したものである。
【0101】この第7実施例によっても、第3実施例と
同様に、伝送周波数を高め、高速化を図ることができ
る。
【0102】第8実施例・・図16 図16は本発明の第8実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第8実施例は、インピーダンス回路101
をパッケージ5に搭載し、その他については、図10に
示す第4実施例と同様に構成したものである。
【0103】この第8実施例によっても、第4実施例と
同様に、伝送周波数を高め、高速化を図ることができ
る。
【0104】第9実施例・・図17 図17は本発明の第9実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第9実施例は、インピーダンス回路47を
MPU6に搭載し、その他については、図1に示す第1
実施例と同様に構成したものである。
【0105】この第9実施例においては、MPU6の出
力信号をインピーダンス回路47で変形させた波形とし
てバス線1に乗せることになるが、このようにする場合
には、MPU6の本来の出力である矩形波ではなく、よ
り加速された出力信号がバス線1に与えられ、出力信号
が送信先の入力端子に届いたとき、本来の矩形波とな
る。
【0106】この第9実施例によっても、第1実施例と
同様に、伝送周波数を高め、高速化を図ることができ
る。
【0107】第10実施例・・図18 図18は本発明の第10実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第10実施例は、インピーダンス回路68
をMPU6に搭載し、その他については、図5に示す第
2実施例と同様に構成したものである。
【0108】この第10実施例においては、MPU6の
出力信号をインピーダンス回路68で変形させた波形と
してバス線1に乗せることになるが、このようにする場
合には、MPU6の本来の出力である矩形波ではなく、
より加速された出力信号がバス線1に与えられ、出力信
号が送信先の入力端子に届いたとき、本来の矩形波とな
る。
【0109】この第10実施例によっても、第2実施例
と同様に、伝送周波数を高め、高速化を図ることができ
る。
【0110】第11実施例・・図19 図19は本発明の第11実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第11実施例は、インピーダンス回路82
をMPU6に搭載し、その他については、図8に示す第
3実施例と同様に構成したものである。
【0111】この第11実施例においては、MPU6の
出力信号をインピーダンス回路82で変形させた波形と
してバス線1に乗せることになるが、このようにする場
合には、MPU6の本来の出力である矩形波ではなく、
より加速された出力信号がバス線1に与えられ、出力信
号が送信先の入力端子に届いたとき、本来の矩形波とな
る。
【0112】この第11実施例によっても、第3実施例
と同様に、伝送周波数を高め、高速化を図ることができ
る。
【0113】第12実施例・・図20 図20は本発明の第12実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第12実施例は、インピーダンス回路10
1をMPU6に搭載し、その他については、図10に示
す第4実施例と同様に構成したものである。
【0114】この第12実施例においては、MPU6の
出力信号をインピーダンス回路101で変形させた波形
としてバス線1に乗せることになるが、このようにする
場合には、MPU6の本来の出力である矩形波ではな
く、より加速された出力信号がバス線1に与えられ、出
力信号が送信先の入力端子に届いたとき、本来の矩形波
となる。
【0115】この第12実施例によっても、第4実施例
と同様に、伝送周波数を高め、高速化を図ることができ
る。
【0116】第13実施例・・図21 図21は本発明の第13実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第13実施例は、インピーダンス回路47
を設けず、スタブ10をバス線1に直接に接続し、その
他については、図1に示す第1実施例と同様に構成した
ものである。
【0117】この第13実施例においては、スタブ10
が3cm以下であれば、第1実施例と同様に、伝送周波
数を高め、高速化を図ることができる。したがって、第
1実施例は、スタブ10が3cm以上の場合に特に有効
である。
【0118】第14実施例・・図22 図22は本発明の第14実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第14実施例は、インピーダンス回路68
を設けず、スタブ10をバス線1に直接に接続し、その
他については、図5に示す第2実施例と同様に構成した
ものである。
【0119】この第14実施例においては、スタブ10
が3cm以下であれば、第2実施例と同様に、伝送周波
数を高め、高速化を図ることができる。したがって、第
2実施例は、スタブ10が3cm以上の場合に特に有効
である。
【0120】第15実施例・・図23 図23は本発明の第15実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第15実施例は、インピーダンス回路82
を設けず、スタブ10をバス線1に直接に接続し、その
他については、図8に示す第3実施例と同様に構成した
ものである。
【0121】この第15実施例においては、スタブ10
が3cm以下であれば、第3実施例と同様に、伝送周波
数を高め、高速化を図ることができる。したがって、第
3実施例は、スタブ10が3cm以上の場合に特に有効
である。
【0122】第16実施例・・図24 図24は本発明の第16実施例の要部を示す回路図であ
り、本発明の第16実施例は、インピーダンス回路10
1を設けず、スタブ10をバス線1に直接に接続し、そ
の他については、図10に示す第4実施例と同様に構成
したものである。
【0123】この第16実施例においては、スタブ10
が3cm以下であれば、第4実施例と同様に、伝送周波
数を高め、高速化を図ることができる。したがって、第
4実施例は、スタブ10が3cm以上の場合に特に有効
である。
【0124】図2などに示すインピーダンス素子の他の
適用例・・図25 図25は図2、図6、図9及び図12に示すインピーダ
ンス素子の他の適用例を示す図であり、図25中、11
7はマザーボードに形成されたアドレス(ADD)用の
バス線である。
【0125】また、118はメモリ・モジュール11に
実装されたドライバ、119はメモリ・モジュール11
に実装された図2、図6、図9又は図12に示すインピ
ーダンス素子である。
【0126】また、120はメモリ・モジュール11に
形成されたアドレス信号用の配線、121〜123はS
DRAM15とともにメモリ・モジュール11に実装さ
れたSDRAMである。
【0127】ここに、アドレス信号用の配線120に
は、リンギングを抑制するための抵抗は必要とされる
が、高域通過フィルタ特性を有する素子は、必ずしも、
必要とはされない。
【0128】しかし、第1実施例〜第16実施例におい
て、データ信号用のスタブに使用するインピーダンス素
子を、リンギング抑制用の素子としてアドレス信号用の
配線120に使用することは可能であり、このようにす
る場合には、部品管理の容易性、製造工程の簡略化によ
る価格の低減化を図ることができる。
【0129】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、バス線
と、リンギングの発生を抑制する必要のあるスタブとの
間には、直列に接続された抵抗を含む、高域通過フィル
タ特性を有するインピーダンス回路を接続するという構
成を採用したことにより、リンギングの発生を抑制する
必要のあるスタブにおけるリンギングの発生を抑制する
ことができると共に、伝送信号の高周波数成分の減衰を
抑制し、伝送信号が鈍ることによる遅延を抑制すること
ができるので、伝送周波数を高め、高速化を図ることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の要部を示す回路図であ
る。
【図2】本発明の第1実施例が設けるインピーダンス回
路の構成例を示す概略的断面図である。
【図3】図2に示すインピーダンス素子の実装例を示す
概略的斜視図である。
【図4】本発明の第1実施例の効果を説明するための波
形図である。
【図5】本発明の第2実施例の要部を示す回路図であ
る。
【図6】本発明の第2実施例が設けるインピーダンス回
路の構成例を示す概略的断面図である。
【図7】本発明の第2実施例の効果を説明するための波
形図である。
【図8】本発明の第3実施例の要部を示す回路図であ
る。
【図9】本発明の第3実施例が設けるインピーダンス回
路の構成例を示す概略的断面図である。
【図10】本発明の第4実施例の要部を示す回路図であ
る。
【図11】本発明の第4実施例が設けるインピーダンス
回路の等価回路を示す図である。
【図12】本発明の第4実施例が設けるインピーダンス
回路の構成例を示す概略的断面図である。
【図13】本発明の第5実施例の要部を示す回路図であ
る。
【図14】本発明の第6実施例の要部を示す回路図であ
る。
【図15】本発明の第7実施例の要部を示す回路図であ
る。
【図16】本発明の第8実施例の要部を示す回路図であ
る。
【図17】本発明の第9実施例の要部を示す回路図であ
る。
【図18】本発明の第10実施例の要部を示す回路図で
ある。
【図19】本発明の第11実施例の要部を示す回路図で
ある。
【図20】本発明の第12実施例の要部を示す回路図で
ある。
【図21】本発明の第13実施例の要部を示す回路図で
ある。
【図22】本発明の第14実施例の要部を示す回路図で
ある。
【図23】本発明の第15実施例の要部を示す回路図で
ある。
【図24】本発明の第16実施例の要部を示す回路図で
ある。
【図25】図2、図6、図9及び図12に示すインピー
ダンス素子の他の適用例を示す図である。
【図26】従来の電子装置の一例の要部を示す回路図で
ある。
【図27】従来の電子装置の他の例の要部を示す回路図
である。
【図28】図27に示す従来の電子装置が有している問
題点を説明するための波形図である。
【符号の説明】
47〜51 インピーダンス回路 68〜72 インピーダンス回路 82〜86 インピーダンス回路 101〜105 インピーダンス回路

Claims (24)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】終端抵抗により終端されたバス線と、この
    バス線の分岐路をなす複数のスタブと、これら複数のス
    タブに信号入出力端子を接続された複数の半導体装置と
    を有してなる電子装置において、前記バス線と、前記複
    数のスタブのうち、リンギングの発生を抑制する必要の
    あるスタブとの間には、直列に接続された抵抗を含む、
    高域通過フィルタ特性を有するインピーダンス回路が接
    続されていることを特徴とする電子装置。
  2. 【請求項2】前記バス線と前記リンギングの発生を抑制
    する必要のあるスタブとの間に直列に接続された抵抗の
    抵抗値は、前記リンギングの発生を抑制する必要のある
    スタブと前記バス線との間のインピーダンス整合を図る
    ことができる抵抗値とされていることを特徴とする請求
    項1記載の電子装置。
  3. 【請求項3】前記インピーダンス回路は、前記バス線と
    前記リンギングの発生を抑制する必要のあるスタブとの
    間に直列に接続された抵抗に、キャパシタを並列接続し
    て構成されていることを特徴とする請求項1又は2記載
    の電子装置。
  4. 【請求項4】前記インピーダンス回路は、前記バス線と
    前記リンギングの発生を抑制する必要のあるスタブとの
    間に直列に接続された抵抗に、キャパシタとダンピング
    用の抵抗との直列回路を並列接続して構成されているこ
    とを特徴とする請求項1又は2記載の電子装置。
  5. 【請求項5】前記インピーダンス回路は、前記バス線と
    前記リンギングの発生を抑制する必要のあるスタブとの
    間に直列に接続された抵抗の一部分に、キャパシタを並
    列接続して構成されていることを特徴とする請求項1又
    は2記載の電子装置。
  6. 【請求項6】前記インピーダンス回路は、一端を前記バ
    ス線に接続され、他端を電気的に開放とされた抵抗を設
    けると共に、この抵抗と、前記バス線と前記リンギング
    の発生を抑制する必要のあるスタブとの間に直列に接続
    された抵抗との間に、分布定数回路を構成するキャパシ
    タを設けて構成されていることを特徴とする請求項1又
    は2記載の電子装置。
  7. 【請求項7】前記インピーダンス回路は、一体化された
    素子として構成されていることを特徴とする請求項1、
    2、3、4、5又は6記載の電子装置。
  8. 【請求項8】前記バス線により伝送される信号の基本成
    分周波数をf[Hz]、前記リンギングの発生を抑制す
    る必要のあるスタブの長さをd[m]とした場合、f×
    dは、5×106以下であることを特徴とする請求項
    1、2、3、4、5、6又は7記載の電子装置。
  9. 【請求項9】前記終端抵抗の抵抗値は、25〜75Ω、
    前記バス線と前記リンギングの発生を抑制する必要のあ
    るスタブとの間に直列に接続された抵抗の抵抗値は、2
    5〜100Ω、前記キャパシタの容量値は、10〜50
    pFであることを特徴とする請求項3、4、5、6、7
    又は8記載の電子装置。
  10. 【請求項10】前記終端抵抗の抵抗値は、25〜75
    Ω、前記バス線と前記リンギングの発生を抑制する必要
    のあるスタブとの間に直列に接続された抵抗の抵抗値
    は、25〜100Ω、前記キャパシタの容量値は、10
    〜50pF、前記ダンピング用の抵抗の抵抗値は、5〜
    20Ωであることを特徴とする請求項4記載の電子装
    置。
  11. 【請求項11】前記終端抵抗の抵抗値は、25〜75
    Ω、前記バス線と前記リンギングの発生を抑制する必要
    のあるスタブとの間に直列に接続された抵抗の抵抗値
    は、25〜100Ω、前記キャパシタの容量値は、10
    〜50pF、前記バス線と前記リンギングの発生を抑制
    する必要のあるスタブとの間に直列に接続された抵抗の
    うち、前記キャパシタが並列に接続されていない部分の
    抵抗値は、5〜20Ωであることを特徴とする請求項5
    記載の電子装置。
  12. 【請求項12】前記インピーダンス回路と同一の回路構
    成を有するインピーダンス回路が、前記バス線と異なる
    バス線を介して伝送される信号を前記半導体装置に伝送
    するドライバの出力側に接続されていることを特徴とす
    る請求項1、2、3、4、5、6、7、8、9、10又
    は11記載の電子装置。
  13. 【請求項13】終端抵抗により終端されたバス線が形成
    されてなる基板に接続される電子装置であって、前記バ
    ス線との接続部と、前記バス線の分岐路をなすスタブ
    と、このスタブに信号入出力端子を接続された半導体装
    置とを有すると共に、前記バス線との接続部と、前記ス
    タブとの間には、直列に接続された抵抗を含む、高域通
    過フィルタ特性を有するインピーダンス回路を接続し、
    このインピーダンス回路を介して、前記スタブが前記バ
    ス線に接続されるように構成されていることを特徴とす
    る電子装置。
  14. 【請求項14】前記バス線との接続部と前記スタブとの
    間に直列に接続された抵抗の抵抗値は、前記スタブと前
    記バス線との間のインピーダンス整合を図ることができ
    る抵抗値とされていることを特徴とする請求項13記載
    の電子装置。
  15. 【請求項15】前記インピーダンス回路は、前記バス線
    との接続部と前記スタブとの間に直列に接続された抵抗
    に、キャパシタを並列接続して構成されていることを特
    徴とする請求項13又は14記載の電子装置。
  16. 【請求項16】前記インピーダンス回路は、前記バス線
    との接続部と前記スタブとの間に直列に接続された抵抗
    に、キャパシタとダンピング用の抵抗との直列回路を並
    列接続して構成されていることを特徴とする請求項13
    又は14記載の電子装置。
  17. 【請求項17】前記インピーダンス回路は、前記バス線
    との接続部と前記スタブとの間に直列に接続された抵抗
    の一部分に、キャパシタを並列接続して構成されている
    ことを特徴とする請求項13又は14記載の電子装置。
  18. 【請求項18】前記インピーダンス回路は、一端を前記
    バス線との接続部に接続され、他端を電気的に開放とさ
    れた抵抗を設けると共に、この抵抗と、前記バス線との
    接続部と前記スタブとの間に直列に接続された抵抗との
    間に、分布定数回路を構成するキャパシタを設けて構成
    されていることを特徴とする請求項13又は14記載の
    電子装置。
  19. 【請求項19】前記インピーダンス回路は、一体化され
    た素子として構成されていることを特徴とする請求項1
    3、14、15、16、17又は18記載の電子装置。
  20. 【請求項20】前記バス線により伝送される信号の基本
    成分周波数をf[Hz]、前記スタブの長さをd[m]
    とした場合、f×dは、5×106以下であることを特
    徴とする請求項13、14、15、16、17、18又
    は19記載の電子装置。
  21. 【請求項21】前記バス線との接続部と前記スタブとの
    間に直列に接続された抵抗の抵抗値は、25〜100
    Ω、前記キャパシタの容量値は、10〜50pFである
    ことを特徴とする請求項15、16、17、18、19
    又は20記載の電子装置。
  22. 【請求項22】前記バス線との接続部と前記スタブとの
    間に直列に接続された抵抗の抵抗値は、25〜100
    Ω、前記キャパシタの容量値は、10〜50pF、前記
    ダンピング用の抵抗の抵抗値は、5〜20Ωであること
    を特徴とする請求項16記載の電子装置。
  23. 【請求項23】前記バス線との接続部と前記スタブとの
    間に直列に接続された抵抗の抵抗値は、25〜100
    Ω、前記キャパシタの容量値は、10〜50pF、前記
    バス線との接続部と前記スタブとの間に直列に接続され
    た抵抗のうち、前記キャパシタが並列に接続されていな
    い部分の抵抗値は、5〜20Ωであることを特徴とする
    請求項17記載の電子装置。
  24. 【請求項24】終端抵抗により終端されたバス線が形成
    されている基板に接続される電子装置であって、前記バ
    ス線の分岐路をなすスタブと、このスタブに信号入出力
    端子を接続され、この信号入出力端子と出力回路部との
    間に、直列に接続された抵抗を含む、高域通過フィルタ
    特性を有するインピーダンス回路を接続してなる半導体
    装置とを含んで構成されていることを特徴とする電子装
    置。
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ITMI951033A IT1274537B (it) 1994-05-20 1995-05-19 Apparato a circuito elettronico per trasmettere segnali attraverso un bus e dispositivo a semiconduttore per generare una predeterminata tensione stabile
US08/445,099 US5955889A (en) 1994-05-20 1995-05-19 Electronic circuit apparatus for transmitting signals through a bus and semiconductor device for generating a predetermined stable voltage
KR1019950012667A KR0155033B1 (ko) 1994-05-20 1995-05-20 버스를 통하여 신호를 전송하기 위한 전자회로 장치 및 소정의 안정전압을 발생하기 위한 반도체 장치
US09/541,699 US6384671B1 (en) 1994-05-20 2000-04-03 Electronic circuit apparatus for transmitting signals through a bus and semiconductor device for generating a predetermined stable voltage

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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002176329A (ja) * 2000-12-07 2002-06-21 Maspro Denkoh Corp ハイパスフィルタ
JP2003142646A (ja) * 2001-09-10 2003-05-16 Samsung Electronics Co Ltd メモリモジュール用印刷回路基板及びメモリモジュール
KR100465010B1 (ko) * 2001-07-26 2005-01-13 엘피다 메모리, 아이엔씨. 메모리 모듈
WO2006004711A1 (en) * 2004-06-30 2006-01-12 Intel Corporation High speed memory modules utilizing on-pin capacitors
WO2006012290A2 (en) * 2004-06-30 2006-02-02 Intel Corporation High speed memory modules utilizing on-trace capacitors
DE19900337B4 (de) * 1998-01-09 2006-08-10 Advantest Corp. Differenzsignalübertragungsschaltung
KR100659218B1 (ko) * 1998-09-03 2006-12-20 소니 일렉트로닉스 인코포레이티드 임피던스 격리 확장 회로를 이용한 장치 제어 시스템용 감축마이크로프로세서 기기 및 방법
JP2007201697A (ja) * 2006-01-25 2007-08-09 Auto Network Gijutsu Kenkyusho:Kk 分岐コネクタ
KR100943861B1 (ko) * 2008-06-12 2010-02-24 주식회사 하이닉스반도체 임피던스 매칭된 양방향 멀티 드롭 버스 시스템, 그를이용한 메모리 시스템 및 메모리 모듈
JP2012104942A (ja) * 2010-11-08 2012-05-31 Hitachi Ltd 信号伝送システムおよび半導体回路
KR101402027B1 (ko) * 2011-11-03 2014-06-02 씨 메이슨 크리스토퍼 임피던스 매칭을 위한 고주파 솔리드 스테이트 스위칭
JP2014155155A (ja) * 2013-02-13 2014-08-25 Canon Inc プリント回路板及びプリント配線板
JP6151466B1 (ja) * 2014-06-12 2017-06-21 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated 不均一インターフェーストポロジを有するソース同期データ送信
US11996904B2 (en) 2018-02-15 2024-05-28 Mitsubishi Electric Corporation Bus system and communication apparatus

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19900337B4 (de) * 1998-01-09 2006-08-10 Advantest Corp. Differenzsignalübertragungsschaltung
KR100659218B1 (ko) * 1998-09-03 2006-12-20 소니 일렉트로닉스 인코포레이티드 임피던스 격리 확장 회로를 이용한 장치 제어 시스템용 감축마이크로프로세서 기기 및 방법
JP2002176329A (ja) * 2000-12-07 2002-06-21 Maspro Denkoh Corp ハイパスフィルタ
KR100465010B1 (ko) * 2001-07-26 2005-01-13 엘피다 메모리, 아이엔씨. 메모리 모듈
JP2003142646A (ja) * 2001-09-10 2003-05-16 Samsung Electronics Co Ltd メモリモジュール用印刷回路基板及びメモリモジュール
US7336098B2 (en) 2004-06-30 2008-02-26 Intel Corporation High speed memory modules utilizing on-pin capacitors
WO2006012290A2 (en) * 2004-06-30 2006-02-02 Intel Corporation High speed memory modules utilizing on-trace capacitors
GB2430521A (en) * 2004-06-30 2007-03-28 Intel Corp High speed memory modules utilizing on-trace capacitors
WO2006004711A1 (en) * 2004-06-30 2006-01-12 Intel Corporation High speed memory modules utilizing on-pin capacitors
GB2430521B (en) * 2004-06-30 2008-05-07 Intel Corp High speed memory modules utilizing on-trace capacitors
KR100957875B1 (ko) * 2004-06-30 2010-05-13 인텔 코오퍼레이션 온 트레이스 커패시터를 이용하는 고속 메모리 모듈
WO2006012290A3 (en) * 2004-06-30 2006-04-06 Intel Corp High speed memory modules utilizing on-trace capacitors
JP2007201697A (ja) * 2006-01-25 2007-08-09 Auto Network Gijutsu Kenkyusho:Kk 分岐コネクタ
US8195855B2 (en) 2008-06-12 2012-06-05 Hynix Semiconductor Inc. Bi-directional multi-drop bus memory system
KR100943861B1 (ko) * 2008-06-12 2010-02-24 주식회사 하이닉스반도체 임피던스 매칭된 양방향 멀티 드롭 버스 시스템, 그를이용한 메모리 시스템 및 메모리 모듈
JP2012104942A (ja) * 2010-11-08 2012-05-31 Hitachi Ltd 信号伝送システムおよび半導体回路
US8988160B2 (en) 2010-11-08 2015-03-24 Hitachi, Ltd. Data transmission system and semiconductor circuit
KR101402027B1 (ko) * 2011-11-03 2014-06-02 씨 메이슨 크리스토퍼 임피던스 매칭을 위한 고주파 솔리드 스테이트 스위칭
JP2014155155A (ja) * 2013-02-13 2014-08-25 Canon Inc プリント回路板及びプリント配線板
JP6151466B1 (ja) * 2014-06-12 2017-06-21 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated 不均一インターフェーストポロジを有するソース同期データ送信
JP2017519324A (ja) * 2014-06-12 2017-07-13 クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated 不均一インターフェーストポロジを有するソース同期データ送信
US9773542B2 (en) 2014-06-12 2017-09-26 Qualcomm Incorporated Source-synchronous data transmission with non-uniform interface topology
US11996904B2 (en) 2018-02-15 2024-05-28 Mitsubishi Electric Corporation Bus system and communication apparatus

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