JPH07249718A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPH07249718A
JPH07249718A JP6038510A JP3851094A JPH07249718A JP H07249718 A JPH07249718 A JP H07249718A JP 6038510 A JP6038510 A JP 6038510A JP 3851094 A JP3851094 A JP 3851094A JP H07249718 A JPH07249718 A JP H07249718A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
package
metal
semiconductor device
coating agent
joint
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP6038510A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahiro Yamamoto
隆浩 山本
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH07249718A publication Critical patent/JPH07249718A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • H01L2924/1815Shape

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は半導体装置に関し、パッケージと金
属部品との接合に、シリコーン接着剤を用いても熱履歴
後の熱衝撃試験に対して接合部の引張強度の低下の少な
い半導体装置を実現することを目的とする。 【構成】 気密封止され、且つ表面を不活性金属で被覆
されたパッケージ1に金属部品5を接合してなる半導体
装置において、前記接合部は、パッケージ1表面の不活
性金属面にシリコーン接着剤4を用いて金属部品5を接
着し、その接合部の外周をシリコーンコート剤6でコー
ティングして成るように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に関する。詳
しくは、メタルシールパッケージのAuめっき部に放熱
フィン等の金属部品を接合し、その接合部をシリコーン
コート剤でコーティングして熱履歴後の熱衝撃試験に対
する強度劣化を少なくした半導体装置に関する。
【0002】近年、高速、高出力のICを収容するメタ
ルシールパッケージにおいては高放熱性が要求されるよ
うになってきており、それに伴って放熱フィンの接着面
積も増加している。そしてこの接着には、接着剤による
パッケージに発生する応力が小さく、且つ十分な機械的
強度を有することが必要であるため、現在ではヤング率
が低いという利点を有するシリコーン接着剤が用いられ
ている。しかし、メタルパッケージにシリコーン接着剤
を用いた場合には熱履歴後の熱衝撃試験に弱く、この対
策が重要な課題となっている。
【0003】
【従来の技術】図1に従来の放熱フィンを有するメタル
シールパッケージを示す。これは同図に示すように、メ
タルシールパッケージ1の金属板2の表面にはAuめっ
き3が施され、その上にシリコーン接着剤4を用いて放
熱フィン5が接着固定されている。なお放熱フィン5に
は通常アルミニウムが用いられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の放熱フィン
付メタルシールパッケージでは、放熱フィン5をメタル
シールパッケージ1から引きはがすときの引張強度は、
150℃で100時間保持し、更に200〜250℃で
3分間保持の熱履歴を加えた後において30〜50kgf
であったものが、その熱履歴後に0℃と100℃を各5
分周期で100回繰返す熱衝撃試験では、著しい強度劣
化を起こしその引張強度は殆んど0となってしまう。
【0005】一方、金属板の代りにセラミックを用いた
ガラスシールパッケージの場合は上記条件の試験後も殆
んど強度劣化を起さない。従ってメタルシールパッケー
ジと冷却フィンとの接着が強度劣化を起すのは金属板上
のAuめっきが不活性であるためと考えられる。
【0006】本発明は、パッケージと金属部品との接合
に、シリコーン接着剤を用いても熱衝撃試験に対して接
合部の引張強度の低下の少ない半導体装置を実現しよう
とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置に於
いては、気密封止され、且つ表面を不活性金属で被覆さ
れたパッケージ1に金属部品5を接合してなる半導体装
置において、前記接合部は、パッケージ1表面の不活性
金属面にシリコーン接着剤4を用いて金属部品5を接着
し、その接合部の外周をシリコーンコート剤6でコーテ
ィングして成ることを特徴とする。
【0008】また、それに加えて、前記パッケージ1の
前記金属部品5を接合する領域の外周に、シリコーンコ
ート剤6の流出を阻止するシリコーンコート剤溜り7を
設けたことを特徴とする。
【0009】この構成を採ることにより、パッケージと
金属部品との接合に、シリコーン接着剤を用いても熱履
歴後の熱衝撃試験に対して引張強度の低下の少ない半導
体装置が得られる。
【0010】
【作用】本発明では図1の如くメタルシールパッケージ
1のメタルキャップ2の表面に施されたAuめっき部3
に放熱フィン(金属部品)5をシリコーン接着剤4で接
合し、その接合部外周をシリコーンコート剤でコーティ
ングしたことによって、熱衝撃試験時の水が接着面に浸
入して強度劣化を起させるのを防止することが可能とな
る。
【0011】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例を示す図で、一
部開切して断面を示している。本実施例は同図に示すよ
うに、メタルシールパッケージ1の金属板2の表面に不
活性金属であるAuめっき3が施され、その上にシリコ
ーン接着剤4を用いて放熱フィン(金属部品)5が接着
固定されていることは図3で説明した従来例と同様であ
り、本実施例の要点は、さらに接合部の外周をシリコー
ンコート剤6でコーティングしたことである。
【0012】このように構成された本実施例は表1に示
すように熱履歴と熱衝撃試験後のフィン引張強度は向上
する。なお、熱履歴は、150℃で100時間保持後、
200〜250℃で3分間保持しその熱履歴後の熱衝撃
試験は0℃及び100℃を各5分周期で100回繰返し
た。また比較のため従来例の試験結果も示した。試料数
はそれぞれ5個とした。
【0013】
【表1】
【0014】本実施例の熱衝撃試験に対する引張強度の
低下を防止できる理由は次のように考えられる。一般
に、Auめっき表面は不活性であり、シリコーン接着剤
とAuめっき表面との水素結合、及び他の化学反応が生
じにくい。そのために熱履歴がシリコーン接着剤に作用
するとそれを硬化させてしまうことによって、シリコー
ン接着剤とAuめっき面との接着力が低下する。そこへ
熱衝撃試験時に使用する水が浸入することによって、著
しい強度劣化を引き起こすと考えられている。そこで本
実施例のシリコーンコーティング剤は、シリコーン接着
剤よりも、Auめっき面との濡れ性が良好であり、また
水素結合を生じさせるOH基も多く存在していると考え
られるため、水の浸入を防止することが可能となる。
【0015】図2は本発明の第2の実施例を示す図で、
一部を開切して断面を示している。本実施例は、基本的
には第1の実施例と同様であり、異なるところは、パッ
ケージ1の放熱フィン(金属部品)5を接合する領域の
外周に凹状のシリコーンコート剤溜り7を設けたことで
ある。
【0016】このように構成された本実施例は、第1の
実施例と同様な作用・効果を有する上、シリコーンコー
ト剤溜り7により、接合部にコーティングしたシリコー
ンコート剤6が、パッケージ表面に流れ出すのを防止す
ることができる。
【0017】
【発明の効果】本発明に依れば、メタルシールパッケー
ジのAuめっき部に金属部品をシリコーン接着剤で接着
し、その接合部外周をシリコーンコート剤でコーティン
グすることによって、熱履歴と熱衝撃試験の二重作用に
対して金属部品の引張強度の低下を大幅に改善し、十分
な機械的強度を保持することが可能となる。これにより
高速、高出力のICを収納したメタルシールパッケージ
において、放熱フィンを接着したときの信頼性向上に寄
与することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す図である。
【図2】本発明の第2の実施例を示す図である。
【図3】従来の放熱フィンを有するメタルシールパッケ
ージを示す図である。
【符号の説明】
1…パッケージ 2…金属板 3…Auめっき 4…シリコーン接着剤 5…放熱フィン 6…シリコーンコート剤 7…シリコーンコート剤溜り

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 気密封止され、且つ表面を不活性金属で
    被覆されたパッケージ(1)に金属部品(5)を接合し
    てなる半導体装置において、 前記接合部は、パッケージ(1)表面の不活性金属面に
    シリコーン接着剤(4)を用いて金属部品(5)を接着
    し、その接合部の外周をシリコーンコート剤(6)でコ
    ーティングして成ることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記パッケージ(1)の前記金属部品
    (5)を接合する領域の外周に、シリコーンコート剤
    (6)の流出を阻止するシリコーンコート剤溜り(7)
    を設けたことを特徴とする請求項1の半導体装置。
JP6038510A 1994-03-09 1994-03-09 半導体装置 Withdrawn JPH07249718A (ja)

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JP6038510A JPH07249718A (ja) 1994-03-09 1994-03-09 半導体装置

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JPH07249718A true JPH07249718A (ja) 1995-09-26

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009256428A (ja) * 2008-04-15 2009-11-05 Shin Etsu Chem Co Ltd 熱伝導性シリコーン組成物及び接着構造体並びに半導体装置
CN108257927A (zh) * 2018-01-17 2018-07-06 庄清梅 一种半导体存储器件

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JP2009256428A (ja) * 2008-04-15 2009-11-05 Shin Etsu Chem Co Ltd 熱伝導性シリコーン組成物及び接着構造体並びに半導体装置
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