JPH07226843A - 画像読み取り装置 - Google Patents

画像読み取り装置

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JPH07226843A
JPH07226843A JP6190225A JP19022594A JPH07226843A JP H07226843 A JPH07226843 A JP H07226843A JP 6190225 A JP6190225 A JP 6190225A JP 19022594 A JP19022594 A JP 19022594A JP H07226843 A JPH07226843 A JP H07226843A
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signal
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coefficient
edge
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JP6190225A
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Inventor
Soichi Ueda
壮一 上田
Itsuhito Hokoi
逸人 鉾井
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/40Picture signal circuits
    • H04N1/409Edge or detail enhancement; Noise or error suppression
    • H04N1/4092Edge or detail enhancement

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  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
  • Picture Signal Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 画像のエッジ部分を選択的に強調し、原稿の
荒れやノイズに対する強調を抑制する。それにより、滑
らかで、めりはりのある画像を得る。 【構成】 照明41の光に照射された原稿42からの透
過光はCCDラインセンサ43に入射し、電気信号に変
換されゲインコントロールアンプ59、A/D変換器4
4、CCD信号処理部45を介してエッジ強調部46に
入力される。演算部47において、比較係数入力部48
より入力された比較係数と、強調係数入力部49より入
力された強調係数に基づいて、入力信号に対して選択的
にエッジ強調が行われ、平均化処理回路50、DPI変
換部51、LUT52を介してFIFOメモリに記憶さ
れる。また、CPU54は、ROM55、RAM56の
記憶データに基づいて各部の制御を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、原稿の画像を読み取る
画像読み取り装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の画像読み取り装置の一例の構成を
図5に示す。図5において、フィルム3は、光源1から
出射され、照明光学系2により集光された光により照明
され、その透過光はテレセントリック結像光学系4によ
り集光され、テレセントリック結像光学系4の焦点位置
に設けられた絞り5を介して、半透明膜6に入射する。
【0003】半透明膜6に入射した光は、そこで一部が
透過し、一部が反射され、透過した光は画像読み取り用
撮像素子7に結像する。一方、半透明膜6で反射された
光は、それが結像する位置から所定の距離だけずらして
設置されたアンシャープネス用撮像素子8に入射する。
したがって、アンシャープネス用撮像素子8からはボケ
た画像に対応する信号が出力される。
【0004】画像読み取り用撮像素子7から出力される
信号(図6の(A))と、アンシャープネス用撮像素子
8から出力される信号(図6の(B))は、減算器12
に入力され、そこで、画像読み取り用撮像素子7より出
力される信号から、アンシャープネス用撮像素子8より
出力される信号が減算され、減算された信号(図9の
(C))はゲインコントロールアンプ22に出力され
る。
【0005】また、絞り5の絞り値が絞り値検出器9に
より検出され、絞り値検出器9の出力は補正回路23に
入力される。補正回路23は、絞り値が変化しても、一
定のボケを生じさせるようなゲインコントロールアンプ
22のゲインを、絞り値に対応させて予め記憶し、それ
を用いて、ゲインを絞り値に対応する値に制御させる補
正信号を生成し、ゲインコントロールアンプ22に出力
する。
【0006】ゲインコントロールアンプ22は、補正回
路23からの補正信号に制御されて、入力信号を所定の
大きさに増幅し(図6の(D))、それを加算器13の
入力端子に出力する。また、画像読み取り用撮像素子7
から出力された信号も加算器13の他方の入力端子に直
接入力されている。ゲインコントロールアンプ22から
の出力信号と、画像読み取り用撮像素子7からの出力信
号は、そこで加算され(図6の(E))、出力される。
【0007】加算器13から出力される信号は、フィル
ム3の画像の輪郭が強調された画像信号である。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
画像読み取り装置は、読み取った画像に対応する、画像
読み取り用撮像素子からの出力信号の全ての部分に対し
て、一様に輪郭強調を行う。そのため、例えば、画像読
み取り装置の内部の電気回路から発生するノイズとCC
Dの暗部でのノイズや、フィルムの感光粒子、原稿のあ
み点などによる原稿の荒れに対しても輪郭強調を行うと
いう問題があった。
【0009】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
ものであり、原稿の荒れや、ノイズに対するエッジ強調
を抑制し、画像の比較的良質な部分に対して、選択的に
エッジ強調を行うことができるようにするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の画像読み取り装
置は、原稿に光を照射する照射手段(例えば、図1の照
明41)と、複数の素子からなり、原稿からの光が入射
すると、光の光量に対応する信号を出力する光電変換手
段(例えば、図1のCCDラインセンサ43)と、CC
Dラインセンサ43の素子とそれに隣接する素子との出
力信号の差量に基づいて、エッジ強調を行うか否かを判
定する判定手段(例えば、図3の比較器77)と、比較
器77の判定結果に対応して、CCDラインセンサ43
から出力された信号に対して、エッジ強調を行うエッジ
強調手段(例えば、図1のエッジ強調部46)とを備え
ることを特徴とする。
【0011】また、比較器77は、CCDラインセンサ
43から出力された信号の差量の大きさが、所定の基準
値より大きい場合はエッジ強調を行い、所定の基準値よ
り小さい場合はエッジ強調を行わないようにすることが
できる。
【0012】
【作用】上記構成の画像読み取り装置においては、原稿
は、照明41により光を照射され、CCDラインセンサ
43は、入射した光の光量に対応する信号を出力し、比
較器77は、CCDラインセンサ43の素子とその隣合
う素子との出力信号の差量に基づいて、エッジ強調を行
うか否かを判定する。また、エッジ強調部46は、比較
器77がエッジ強調を行うと判定したときは、CCDラ
インセンサ43から出力された信号に対して、エッジ強
調を行い、比較器77がエッジ強調を行わないと判定し
たときは、CCDラインセンサ43から出力された信号
に対して、エッジ強調を行わない。
【0013】従って、画像読み取り装置の電気回路のノ
イズとCCDの暗部のノイズや、原稿の荒れなどの部分
に対するエッジ強調を抑制し、原稿の比較的良質な部分
に対して、選択的にエッジ強調を行うことができる。
【0014】
【実施例】図1は、画像読み取り装置の一実施例の構成
を示す図である。画像読み取り装置は、光を出射する照
明41と、原稿42に照射され、それを透過または反射
した光を受光し、受光量に対応した信号を出力するCC
Dラインセンサ43と、CCDラインセンサ43から出
力された信号のレベルを所定の大きさに増幅し、出力す
るゲインコントロールアンプ59と、ゲインコントロー
ルアンプ59から出力された信号をデジタル信号に変換
し、CCD信号処理部45へ出力するA/D変換器44
と、A/D変換器44から出力された信号に対して、暗
電流補正やシェーディング補正を行うCCD信号処理部
45とを有している。
【0015】また、画像読み取り装置は、CCD信号処
理部45から入力される信号に対するエッジ強調を行う
エッジ強調部46を備え、エッジ強調部46において
は、比較係数入力部48から入力されたエッジ強調を行
うか否かを判定するための比較係数T0と、強調係数入
力部49より入力されたエッジ強調の度合いを決めるた
めの強調係数Kに基づいて、演算部47が、CCD信号
処理部45から入力される信号に対して、エッジ強調を
行うようになされている。
【0016】画像読み取り装置はさらに、演算部47よ
り出力された信号を滑らかに平均化する平均化処理部5
0と、平均化処理部50から入力された信号を所定の解
像度の信号に変換するDPI変換部51と、DPI変換
部51から入力された信号のホワイトバランスを調整し
たり、信号レベルの諧調を変化させたり、ネガポジ変換
を行ったりするLUT(ルックアップテーブル)52を
備え、LUT52から出力された信号は、画像データと
してFIFOメモリ53に記憶され、CPU54は、R
OM55に記憶されているシステムプログラムや、RA
M56に記憶されているアプリケーションプログラムに
従って、画像読み取り装置の動作を制御するようになさ
れている。さらに、FIFOメモリ53に記憶されてい
るデータやRAM56に記憶されているデータは、イン
タフェース57を介してホストコンピュータ58により
読み書きされるようになされている。
【0017】次に、その動作を説明する。まず、使用者
は比較係数T0として、所定の値を比較係数入力部48
より入力し、同様に、強調係数Kとして、所定の値を強
調係数入力部49より入力する。
【0018】照明41から出射された光は、原稿42に
照射され、その透過または反射光は、CCDラインセン
サ43に入射する。CCDラインセンサ43は入射した
光の光量に対応した信号を発生し、その信号は、ゲイン
コントロールアンプ59に入力され、入力信号はそこで
所定の大きさに増幅される。増幅された信号は、A/D
変換器44により、デジタルの信号とされ、CCD信号
処理部45に入力される。CCD信号処理部45は、入
力された信号に対して、暗電流補正、およびシェーディ
ング補正を行い、補正された信号はエッジ強調部46の
演算部47に入力される。
【0019】エッジ強調部46における詳細な動作は後
述するが、エッジ強調部46の演算部47に入力された
信号は、そこでまず、所定の演算が行われる。次に演算
結果と比較係数T0との比較が行われ、その結果エッジ
強調を行うと判定された場合は、強調係数Kを用いた演
算が行われ、エッジ強調を行わないと判定された場合
は、入力された信号をそのまま出力する。
【0020】出力された信号は、平均化処理部50へ入
力される。平均化処理部50においては、原稿面の所定
の微小部分の輝度値に対応する、CCDラインセンサ4
3の所定の1つの素子61(図2)から発生される信号
のレベルを、その隣接する2つの素子から発生される信
号のレベルの平均値で置き換えるという処理を、CCD
ラインセンサ43の素子61の数に対応した回数だけ行
う。この処理を原稿面の全領域について行うことによっ
て、画像の荒れ、電気回路のノイズまたはモアレ縞など
の発生を抑制することができる。
【0021】平均化処理部50から出力された信号は、
DPI変換部51に入力され、DPI変換部51におい
て、入力された信号に対する間引きまたは直線補間など
の処理を行い、所定の解像度の信号に変換し、LUT5
2へ出力する。LUT52はDPI変換部51より入力
された信号に対して、信号レベルの諧調を変化させたり
(例えば、10段階に設定された信号レベルの諧調を5
段階にしたり)、または、ネガポジ変換(例えば、信号
レベルの極性を反転する)を行い、それをFIFOメモ
リ53へ出力する。
【0022】LUT52より出力された信号は、FIF
Oメモリ53において画像データとして一時的に記憶さ
れ、記憶された画像データは、CPU54により読み出
されて処理される。またはホストコンピュータ58によ
りインタフェース57を介して読み出されて処理され
る。ここで、CPU54は、本装置の全ての回路部の制
御を司る。
【0023】次に、図1のエッジ強調部46の詳細につ
いて説明する。図3は、図1のエッジ強調部46のう
ち、特に演算部47の詳細な構成を示す図である。演算
部47はCCD信号処理部45から入力された信号を順
次記憶するレジスタ71,72,73と、レジスタ73
に記憶されている信号と、レジスタ71に記憶されてい
る信号を加算し、加算値の符号をマイナスにして出力す
る加算符号器74と、レジスタ72に記憶されている信
号を2倍にして出力する加算器(乗算器)75と、加算
符号器74から出力された信号と、加算器75から出力
された信号を加算する加算器76とを有している。
【0024】また、演算部47は、比較係数入力部48
により入力された比較係数T0を記憶し、出力する比較
係数出力部78と、加算器76から出力される信号の絶
対値と比較係数出力部78から出力される比較係数T0
との大小を比較し、比較した結果に対応する信号を出力
する比較器77と、強調係数入力部49により入力され
た強調係数Kを記憶し、出力する強調係数出力部81
と、強調係数Kとして0を出力する0出力部80とを備
えている。
【0025】さらに、演算部47は、比較器77から出
力される制御信号により制御され、強調係数として、0
出力部80から出力された信号、または強調係数出力部
81から出力された信号のいずれかを選択するセレクタ
79と、加算器76から出力された信号と、セレクタ7
9から出力された信号を乗算する乗算器82と、乗算器
82から出力された信号とレジスタ72から出力された
信号を加算し、加算した結果を出力する加算器83とを
備えている。
【0026】次に、その動作について説明する。比較係
数入力部48より入力された比較係数T0は、比較係数
出力部78に記憶される。同様に、強調係数入力部49
より入力された強調係数Kは、強調係数出力部81に記
憶される。また、0出力部80には、予め強調係数Kと
して0を記憶させておく。比較係数出力部78、強調係
数出力部81または0出力部80に記憶された情報に対
応する信号は、必要に応じて出力されるようになされて
いる。
【0027】演算部47の動作を説明する。CCD信号
処理部45から出力された信号(CCDラインセンサ4
3の1画素の情報に対応する信号)が、例えば、CPU
54から出力される画像入力クロック信号に同期して、
演算部47に入力されると、これに同期して、レジスタ
73にそれまで記憶されていた信号が加算符号器74に
出力される。そして、レジスタ72にそれまで記憶され
ていた信号がレジスタ73に転送され、さらに、レジス
タ71にそれまで記憶されていた信号がレジスタ72に
転送される。そして、CCD信号処理部45から入力さ
れた信号が、レジスタ71に入力され、そこで記憶され
る。このようにして、CCDラインセンサ43の連続す
る3個の画素の信号が、レジスタ73,72,71に、
それぞれ、順次ラッチされる。
【0028】ここで、レジスタ71,72,73に記憶
されている信号をそれぞれa,b,cとして演算処理を
説明する。レジスタ73に記憶されている信号aと、レ
ジスタ71に記憶されている信号cとは、加算符号器7
4に入力され、そこで加算され、さらに、マイナス符号
が付加され、信号(−(a+c))が加算器76へ出力
される。また、レジスタ72に記憶されている信号bは
加算器75に入力され、そこで信号b同士が加算され、
信号(2×b)が加算器76へ出力される。
【0029】さらに、加算器76においては、加算符号
器74から送られてきた信号(−(a+c))と、加算
器75から送られてきた信号(2×b)とが加算され、
信号(2×b+(−(a+c))=P)が出力される。
【0030】次に、加算器76から出力された信号
(P)は、比較器77および乗算器82に入力される。
まず、比較器77に入力された信号(P)の信号レベル
の絶対値と、比較係数出力部78から入力された比較係
数T0に対応する信号(T0)の信号レベルとが比較され
る。信号(P)の絶対値が、信号(T0)より小さい場
合は、例えば0に対応する信号がセレクタ79へ出力さ
れ、信号(P)の絶対値が、信号(T0)より大きい場
合は、例えば1に対応する信号がセレクタ79へ出力さ
れる。
【0031】比較器77から出力された信号は、セレク
タ79に入力され、セレクタ79は比較器77から出力
された信号に対応して、出力端子SW2と、入力端子S
W0またはSW1とを接続するようになされている
【0032】比較器77からセレクタ79に入力された
信号が0に対応する信号である場合、出力端子SW2と
入力端子SW0とが接続される。そして、0出力部80
から、入力端子SW0、出力端子SW2を介して強調係
数K1=0となる信号が乗算器82へ出力される。
【0033】これに対して、比較器77からセレクタ7
9に入力された信号が1に対応する信号である場合は、
出力端子SW2と入力端子SW1とが接続される。そし
て、強調係数出力部81から、入力端子SW1、出力端
子SW2を介して強調係数K1=Kとなる信号が乗算器
82へ出力される。
【0034】加算器76から出力された信号(P)と、
セレクタ79から出力された信号K1とが、乗算器82
へ入力され、そこで乗算される(P×K1=P1)。乗算
された結果に対応する信号(P1)は、加算器83へ出
力される。
【0035】さらに、レジスタ72から出力された信号
(b)と、乗算器82から出力された信号(P1)は加
算器83に入力され、そこで加算される(b+P1
1)。加算された結果の信号(b1)は、平均化処理部
50へ出力される。
【0036】このように、比較器77から出力される信
号が、0に対応する信号である場合、即ち、|P|<T
0の場合は強調係数K1=0とされ、P1=P×K1=0と
なり、b1=b+P1=b+0=bとなって、加算器83
からは、bに対応する信号が出力される。従って、|P
|<T0の場合はエッジ強調は行われない。
【0037】CCD信号処理部45から次の信号が演算
部47に入力されると、上述した場合と同様の演算が行
われ、演算結果の信号(b1)が、平均化処理部50へ
出力される。このような演算を、CCDラインセンサ4
3に設置された素子61の数に対応する所定の回数だけ
繰り返し行うことにより、CCDラインセンサ43によ
り受光される原稿の画像の、主走査方向の1ライン分の
画像に対応する信号のエッジ強調を行うことができる。
【0038】さらに、原稿42を副走査方向に所定の距
離だけ移動させ、そこで、CCDラインセンサ43が受
光する1ライン分の画像に対応する信号に対して、同様
にエッジ強調を行い、次に、原稿42を副走査方向に所
定の距離だけ移動させ、同様にエッジ強調を行うという
処理を繰り返し行うことにより、原稿42の画像の全て
の部分に対して、エッジ強調を行うことができる。
【0039】図4は、エッジ強調の処理方法を説明する
ためのフローチャートである。まず、ステップS1にお
いて、使用者によって、入力された比較係数T0と強調
係数Kとが比較係数出力部78と強調係数出力部81と
に記憶される。その後、ステップS2へ進む。
【0040】ステップS2において、原稿42の画像の
主走査方向に隣接した3つの部分の輝度に対応する、C
CDラインセンサ43の素子61から出力される信号を
入力し、ステップS3へ進む。ここで、それらの信号レ
ベルを前述のように信号a,b,cとする。この信号
a,b,cの取り込みは、レジスタ73,72,71に
より行われる。
【0041】ステップS3において、ステップS2にお
いて入力された信号a,b,cを用いて、信号P(=2
×b−(a+c))を算出する。この演算は、加算符号
器74、加算器75,76により行われる。次に、ステ
ップS4へ進む。
【0042】ステップS4において、比較係数T0がス
テップS3で算出された信号Pより小さいか否かが判定
される。この判定は比較器77で行われる。比較係数T
0がステップS3で算出された信号Pと等しいか、それ
より小さいと判定された場合(ステップS4のYES)
は、ステップS5へ進む。ステップS5において、強調
係数K1にステップS1で入力された強調係数Kを設定
する。この設定は、セレクタ79の出力端子SW2と入
力端子SW1とを接続することにより行われる。次に、
ステップS7へ進む。
【0043】ステップS4において、比較係数T0がス
テップS3で算出された信号Pより大きいと判定された
場合(ステップS4のNO)は、ステップS6へ進む。
ステップS6において、強調係数K1に0を設定する。
この設定は、セレクタ79の出力端子SW2と入力端子
SW0とを接続することにより行われる。次に、ステッ
プS7へ進む。
【0044】ステップS7において、信号Pと強調係数
1とを乗算する。乗算結果を信号P1とし、ステップS
8へ進む。この乗算は乗算器82で行われる。
【0045】ステップS8において、ステップS2にお
いて得られた信号bと、ステップS7において得られた
信号P1とを加算する。加算結果を信号b1とし、ステッ
プS9へ進む。この加算は加算器83で行われる。
【0046】ステップS9において、ステップS8にお
いて算出した信号b1を出力し、ステップS10へ進
む。
【0047】ステップS10において、CCDラインセ
ンサ43の全ての素子61から出力される信号に対し
て、上記処理を行ったか否かを判定し、全ての素子61
から出力される信号に対して、上記処理を行っていない
と判定された場合はステップS2以下の処理を繰り返
し、全ての素子61から出力される信号に対して、上記
処理を行ったと判定された場合は処理を終了する。
【0048】ここで、前述の信号a,b,c、強調係数
K、比較係数T0に、具体的な数値を用いて説明する。
信号a=0、b=1、c=10で、比較係数T0を5、
強調係数Kを1とした場合を説明する。
【0049】この数値でエッジ強調演算を行うと、信号
P(=2×b−(a+c))は−8となり、比較係数T
0は信号Pの絶対値より小さくなる。従って、強調係数
1に値K(ここでは、1)が設定され、信号b1(=b
+P×K1)は−7となる。このように信号b(ここで
は、1)が、信号b1(ここでは、−7)で置き換えら
れ、強調されたことになる。
【0050】次に、a,b,c,kは同じで、比較係数
0を20に設定した場合を説明する。同様にエッジ強
調演算を行うと、信号Pは−8となり、比較係数T0
信号Pの絶対値より大きくなる。従って、強調係数K1
に値0が設定され、信号b1は1となり、強調されず、
元のデータそのままとなる。
【0051】このように、CCDラインセンサ43の出
力信号が同じでも、比較係数T0の値を使用者が所定の
値に設定することにより、エッジ強調を行わせたり、ま
たはエッジ強調を行わせないようにすることができる。
比較係数T0を小さい値に設定することにより、CCD
ラインセンサ43から出力される信号の比較的小さなエ
ッジ部分からも強調を行うことができる。また、比較係
数T0を大きい値に設定することにより、CCDライン
センサ43から出力される信号の比較的大きなエッジ部
分のみに、エッジ強調を行うようにすることができる。
【0052】また、強調係数Kを1より大きな値に設定
することにより、エッジ強調の度合いを大きくすること
ができるし、強調係数Kを1より小さな値に設定するこ
とにより、エッジ強調の度合を小さくすることができ
る。
【0053】上記実施例においては、CCDラインセン
サ43の主走査方向に並んだ隣接する3つの素子からそ
れぞれ出力される信号の信号レベルに基づいて、その中
央の素子から出力される信号の信号レベルを補正するこ
とにより、エッジ強調処理を行うようにしたが、CCD
ラインセンサ43の主走査方向に並んだ隣接する5つの
素子から出力される信号の出力信号に基づいて、その中
央の素子から出力される信号の信号レベルを補正するこ
とにより、エッジ強調処理を行うようにすることもでき
る。
【0054】勿論、この場合、図3に示した演算部47
のレジスタの数を5にするなど、その構成を変更しなけ
ればならないが、基本的には演算部47の構成と同様で
あるので、その図示および説明は省略する。
【0055】CCDラインセンサ43の主走査方向に並
んだ隣接する5つの素子から出力される信号の信号レベ
ルをそれぞれa,b,c,d,eとする。その場合、中
央の素子から出力される信号に対する補正値は、中央の
素子から出力される信号の信号レベルcを4倍した値
(4×c)から、その両側に隣接する4つの素子からの
出力信号の信号レベルの和(a+b+d+e)を減算し
た値となる。従って、中央の素子から出力される信号の
信号レベルに対する補正値をP(5)とすると、補正値P
(5)は、 P(5)=4×c−(a+b+d+e) により表される。
【0056】また、上述したように、主走査方向に並ん
だ隣接する3つの素子から出力される信号の信号レベル
をそれぞれa,b,cとする。その場合、中央の素子か
ら出力される信号に対する補正値Pは、中央の素子から
出力される信号の信号レベル(b)を2倍した値(2×
b)から、その両側に隣接する2つの素子から出力され
る信号の信号レベルの和(a+c)を減算した値とな
る。従って、中央の素子から出力される信号の信号レベ
ル(b)に対する補正値をPとすると、補正値Pは、 P=2×b−(a+c) により表される。
【0057】ここで、CCDラインセンサ43の隣接す
るN(Nは自然数)個の素子からの出力信号に基づい
て、その中央の素子からの出力信号の信号レベルを補正
する場合、この素子数Nをウインドウサイズと定義す
る。
【0058】ウインドウサイズが5のときの補正値P
(5)は、ウインドウサイズが3のときの補正値Pと比較
して、略2倍になる。即ち、ウィンドウサイズを3から
5にすると、実質的な強度の度合いは2倍となる。
【0059】また、画像読み取りモードとして、Fas
tスキャンモード、Normalスキャンモード、およ
びHQ(High Quality)スキャンモードの
3種類のモードを設定することができる。HQスキャン
モードにおいては、図1のゲインコントロールアンプ5
9によるアナログゲインを最小に設定する。そして、そ
の状態でCCDラインセンサ43の積分時間(蓄積時
間)をコントロールすることにより、露出補正を行う。
【0060】また、Normalスキャンモードにおい
ては、ゲインコントロールアンプ59によりアナログゲ
インを、それにより設定可能なアナログゲインの最小値
(例えば、1段階目)と最大値(例えば、8段階目)の
差に対応する大きさの2割程度の大きさ(例えば、3段
階目)に設定する。その状態で、CCDラインセンサ4
3の積分時間をコントロールすることにより、露出補正
を行う。
【0061】これに対して、Fastスキャンモードに
おいては、まず、スキャンスピードが所定のスピードに
優先的に設定される。そして、CCDラインセンサ43
の積分時間を一定時間に固定する。そして、計8段階の
アナログゲインが設定可能なゲインコントロールアンプ
59とLUT52により露出補正を行う。このため、ゲ
インコントロールアンプ59により、アナログゲインが
比較的大きな値に設定される場合があり得る。その場
合、ゲインコントロールアンプ59より出力される電気
的な信号のレベルにおいて、Normalスキャンモー
ド、またはHQスキャンモードと比較して、S/N比が
悪化する可能性がある。
【0062】従って、Fastスキャンモードの場合、
他のモードに比較して、エッジ強調度合いを調節するた
めのパラメータ(強調度(強調係数K)、比較係数
0)の値を小さくする必要がある。
【0063】これらのことを考慮して、エッジ強調度合
いを調節するパラメータである強調度、比較係数T0
およびウィンドウサイズの組み合わせにより、エッジ強
調度合いとして、1から5までの5つのレベルを設定す
ることができる。ここで、強調度は0から7までの8種
類が定義され、強調係数Kに対応している。即ち、強調
度0,1,2,3,4,5,6,7は、強調係数Kの値
-5,2-4,2-3,2-2,2-1,20,21,22にそれ
ぞれ対応付けられている。従って、強調度0の場合、実
際には、それに対応する強調係数Kの値2-5が、上述し
た図4のフローチャートのステップS1において設定さ
れ、ステップS2以降の処理が実行されることになる。
【0064】例えば、強調度を上述したように8種類と
し、比較係数T0を0から255までの256種類と
し、さらにウィンドウサイズを3または5の2種類とす
る。そして、Fastスキャンモードの場合、エッジ強
調度合い1を、例えば強調度=0、比較係数T0=25
5、ウィンドウサイズ=3と規定することができる。同
様に、エッジ強調度合い2を、例えば強調度=2、比較
係数T0=0、ウィンドウサイズ=3と規定することが
できる。また、エッジ強調度合い3を、例えば強調度=
1、比較係数T0=0、ウィンドウサイズ=5と規定す
ることができる。
【0065】同様に、エッジ強調度合い4を、例えば強
調度=2、比較係数T0=0、ウィンドウサイズ=5と
規定することができる。また、エッジ強調度合い5を、
例えば強調度=3、比較係数T0=0、ウィンドウサイ
ズ=5と規定することができる。
【0066】また、Normalスキャンモード、また
はHQスキャンモードの場合、エッジ強調度合い1を、
例えば強調度=0、比較係数T0=255、ウィンドウ
サイズ=3と規定することができる。同様に、エッジ強
調度合い2を、例えば強調度=3、比較係数T0=0、
ウィンドウサイズ=3と規定することができる。また、
エッジ強調度合い3を、例えば強調度=2、比較係数T
0=0、ウィンドウサイズ=5と規定することができ
る。
【0067】同様に、エッジ強調度合い4を、例えば強
調度=3、比較係数T0=0、ウィンドウサイズ=5と
規定することができる。また、エッジ強調度合い5を、
例えば強調度=4、比較係数T0=0、ウィンドウサイ
ズ=5と規定することができる。
【0068】このようにして設定されたパラメータの値
を、例えばROM55に予め記憶させておき、それをC
PU54が読み出すようにすることにより、使用者がス
キャンモードとエッジ強調度合いを図示せぬ操作釦によ
り指定すると、CPU54が自動的に強調係数K、およ
び比較係数T0を設定するようにすることができる。
【0069】即ち、使用者がFastスキャンモード、
Normalスキャンモード、またはHQスキャンモー
ドのうちのいずれかを、操作釦を操作することにより指
定し、次に、エッジ強調度合い1乃至5のうちのいずれ
かを、操作釦を操作することにより指定する。
【0070】操作釦の操作により指定された、スキャン
モードの種類とエッジ強調度合いより、CPU54は所
定のアプリケーションプログラムに従って、それらに対
応する強調度、比較係数T0、およびウィンドウサイズ
をROM55より読み出すことができる。また、上述し
たように、強調度は強調係数Kと所定の相関関係を有す
るから、CPU54はその相関関係に基づいて、強調度
を強調係数Kに変換する。そして、演算部47の比較係
数出力部78に比較係数T0をセットし、強調係数出力
部81に強調係数Kをセットする。その結果、図4のフ
ローチャートに示したような処理が実行され、所定のス
キャンモードおよびエッジ強調度合いによるエッジ強調
が行われる。
【0071】従って、使用者は、簡単な操作で、所定の
スキャンモードおよびエッジ強調度合いに対応するエッ
ジ強調を実施することができる。
【0072】なお、上記実施例においては、使用者は操
作釦を操作することにより、5種類のエッジ強調度合い
を指定することが可能であるが、アプリケーションプロ
グラムを変更することにより、5種類以外のエッジ強調
度合いを指定するようにすることも可能である。
【0073】また、操作釦により、強調度、比較係数T
0、またはウィンドウサイズに対応する具体的な数値を
入力するようにし、それぞれ任意の値を指定するように
することもできる。
【0074】また、上記実施例のエッジ強調処理は、主
走査方向に並んだ素子の隣接する素子の信号に対しての
み説明したが、副走査方向に隣接した素子に対しても、
また、3×3,5×5などの空間的な素子の並びに対し
ても行えることは当然である。また、ラインセンサでな
く2次元センサを用いた装置に対しても実施可能であ
る。
【0075】
【発明の効果】以上のように、本発明の画像読み取り装
置によれば、判定手段の判定結果に対応して、エッジ強
調手段により光電変換手段から出力された信号に対し
て、エッジ強調を行うようにしたので、画像の比較的良
質な部分に対して選択的にエッジ強調を行うことがで
き、原稿の荒れやノイズに対するエッジ強調を抑制する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の画像読み取り装置の一実施例の構成を
示すブロック図である。
【図2】図1に示したCCDラインセンサ43の構成を
示す図である。
【図3】図1に示したエッジ強調部46の詳細な構成を
示すブロック図である。
【図4】図3で示したエッジ強調部46の処理手順を説
明するためのフローチャートである。
【図5】従来の画像読み取り装置の一例の構成を示す図
である。
【図6】従来の画像読み取り装置の各所の信号波形図で
ある。
【符号の説明】
1 光源 2 照明光学系 3 フィルム 4 テレセントリック結像光学系 5 絞り 6 半透明膜 7 画像読み取り用撮像素子 8 アンシャープネス用撮像素子 9 絞り値検出器 12 減算器 13 加算器 22 ゲインコントロールアンプ 23 補正回路 41 照明 42 原稿 43 CCDラインセンサ 44 A/D変換器 45 CCD信号処理部 46 エッジ強調部 47 演算部 48 比較係数入力部 49 強調係数入力部 50 平均化処理部 51 DPI変換部 52 LUT 53 FIFOメモリ 54 CPU 55 ROM 56 RAM 57 インタフェース 58 ホストコンピュータ 59 ゲインコントロールアンプ 61 素子 71,72,73 レジスタ 74 加算符号器 75,76,83 加算器 77 比較器 78 比較係数出力部 79 セレクタ 80 0出力器 81 強調係数出力部 82 乗算器

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 原稿に光を照射する照射手段と、 複数の領域に分割され、前記原稿からの光が入射する
    と、前記光の光量に対応する信号を出力する光電変換手
    段と、 前記光電変換手段の前記複数の領域の内の1領域と該1
    領域に隣接する領域との出力信号の差量に基づいて、エ
    ッジ強調を行うか否かを判定する判定手段と、 前記判定手段の判定結果に対応して、前記光電変換手段
    から出力された信号に対して、エッジ強調を行うエッジ
    強調手段とを備えることを特徴とする画像読み取り装
    置。
  2. 【請求項2】 前記判定手段は、前記光電変換手段から
    出力された信号の前記差量の大きさが、所定の基準値よ
    り大きい場合はエッジ強調を行い、所定の基準値より小
    さい場合はエッジ強調を行わないと判定することを特徴
    とする請求項1に記載の画像読み取り装置。
JP6190225A 1993-12-13 1994-08-12 画像読み取り装置 Pending JPH07226843A (ja)

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JP31138293 1993-12-13
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