JP2000228726A

JP2000228726A - 選択的に決定されるシステム応答ゲイン較正を用いた写真フィルム画像の走査方法

Info

Publication number: JP2000228726A
Application number: JP11368417A
Authority: JP
Inventors: Steven M Bryant; エムブリアントスティーヴン; John T Compton; ティーコンプトンジョン
Original assignee: Eastman Kodak Co
Current assignee: Eastman Kodak Co
Priority date: 1998-12-23
Filing date: 1999-12-24
Publication date: 2000-08-15
Also published as: EP1014690A3; US6249358B1; EP1014690A2

Abstract

(57)【要約】（修正有）【課題】画像走査中に改善されたシステム応答特性を
持つ、画像走査動作中に適用されるゲイン補正係数の調
整のための方法の提供する。【解決手段】ａ．走査システムで走査照明は行われて
いるがフィルムは存在しない状態の画素毎のオープンゲ
ート応答を得るステップと、ｂ．オープンゲート応答に従って、画素毎のオープンゲ
ートゲインプロファイルを作成するステップ、ｃ．走査照明は行われておりフィルムも存在する走査シ
ステムの画素毎のＤｍｉｎ応答を得るステップ、ｄ．Ｄｍｉｎ応答に従って、画素毎のＤｍｉｎゲインプ
ロファイルを作成するステップ、ｅ．オープンゲートとＤｍｉｎゲインプロファイルの選
択された結合から画素毎の複合ゲインプロファイルを作
成するステップ、ｆ．画素毎に、フィルム画像の実際の走査に、複合ゲイ
ンプロファイルを使用することにより、走査システム応
答の画素毎の違いを補正するフィルム走査装置のゲイン
較正を行う方法。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、写真フィルム画像
の走査装置に関し、特に選択的に決定されるシステム応
答ゲイン補正係数の使用に関する。

【０００２】

【従来の技術】可視の素材の電子的表現を発生する典型
的な走査システムでは、素材は、光源により照明され、
レンズにより、画像の輝度に比例した電子的信号を発生
するフォトセンサに投影される。電子的信号は、典型的
には、コンピュータを用いて表示し、扱うためにディジ
タル形式に変換される。例えば、電荷結合素子（ＣＣ
Ｄ）画像センサは、受けた光のエネルギーによる電荷を
蓄積する光検出点（フォトサイト）の配列を有する。あ
る電荷蓄積時間後、フォトサイトの電荷は電荷移動機構
に転送され、電荷は、ＣＣＤから移動され、ある手段に
より、ＣＣＤに投影された画像の電子的表現を形成する
ために、測定される。ＣＣＤの製造バラツキや、走査光
画像経路の中のごみ又は、汚れ、光源の非均一性、又
は、他のバラツキ等の要因のために、個々のフォトサイ
トのシステム応答は、フォトサイト毎に同一ではない。
結果の電子的表現が特定の変動に影響されないように、
フォトサイト毎の変動を補償する方法が、要求されてい
る。

【０００３】光のエネルギーに対するフォトサイトの所
定の配列の応答が、光が無い場合には応答を表すオフセ
ットとして、また、光がある場合にはフォトサイトの効
率を表す比例定数としてモデル化されるなら、源信号か
らオフセットを引き、また、比例定数の逆数を掛けるこ
とにより、フォトサイトは公称応答に正規化される。比
例定数の逆数はゲインと呼ぶ。オフセットとゲインが画
像センサの各フォトサイトに対して決定されるならそし
て、フォトサイトの出力が測定され読み出されるとき
に、これらのオフセットとゲインが対応するフォトサイ
トに対して適用されるなら、全フォトサイトの応答は等
しくなるであろう。

【０００４】典型的には、所定のフォトサイトのシステ
ム応答は、短時間には変化しない。これゆえ、ある理想
的な応答に基づいて、所定のフォトサイトに対してシス
テム応答を調整するのに必要なゲインとオフセット値
は、１回の較正処理で決定され、後にそのフォトサイト
の信号が測定されるときにはいつでも使用できる。典型
的な較正処理は、ある公称ゲインとオフセット値（典型
的には、それぞれ１と０）において、２つの公称信号入
力レベルで（例えば白と黒のカードを使用し又は、完全
な照明又は、無照明を使用して）各フォトサイトのシス
テム応答サンプルを得て、そして、各フォトサイトに対
する必要なゲインとオフセット値を計算する。

【０００５】オフセット補正は、光の無いときにも起こ
る避けられない小信号を補正するために、従来の走査装
置でも、使用されている。オフセット補正値は、ダーク
オフセット補償として参照される。”ゼロ基準”即ち無
光の時はゼロ信号となるように、オフセット補正値は、
画像走査装置から得られた信号の画素毎に減算される。

【０００６】ゲイン補正は、画素毎の走査装置の光応答
の避けられない変動を補正するために走査装置で使用さ
れている。典型的には、ゲインは、反射型走査装置の場
合には単一の白又は、灰色画像から、また透過型走査装
置の場合にはフィルムの透明な又は最小密度（Ｄｍｉ
ｎ）部分の、オフセット補正された信号の（比例的な意
味での）逆数である。システムは直線で、すなわち、オ
フセット補正された信号と照明レベルの間の非例は全照
明レベルと同じで、応答するとする。そして、各オフセ
ット補正された画素にその関連したゲインを掛けること
で全画素応答を共通の値に正規化する。

【０００７】較正時に画素毎にゲインとオフセットを決
定し、後の走査時に、システム応答の画素毎のバラツキ
を補正するためにこれらのゲインとオフセットを使用す
る概念と利用は、従来技術で知られている。例えば、Ｂ
ｅａｕｌｉｅｕ他の米国特許番号ＵＳ５５６３７２３で
は、画素毎のゲインとオフセットを決定するアプローチ
が記載されている。ネガフィルム走査装置の場合には、
画素毎のゲインを決定するためにフィルム無しの（いわ
ゆる２オープンゲート”状態の）操作データを集めるこ
とは通常行われる。フィルムのＤｍｉｎを通して走査デ
ータを集めることで画素毎のゲインを決定することは、
走査される目的の素材からの最大光の望ましい”白カー
ド”状態に近いが、ゲイン決定処理には、選択されたＤ
ｍｉｎ領域に傷、ごみ、かぶった又は、露光された領域
やたの不完全性が残る。これにより結果のゲイン値が正
しく無くなり、従って結果の電子画像に劣化を生じる。
オープンゲートゲインの決定はこれらの不完全性の問題
を避ける。しかし、オープンゲートとＤｍｉｎの間の照
明の差は、考慮しなければならない。Ｄｍｉｎ走査と同
じ平均信号を得るために、これは、照明レベル又は、オ
ープンゲート走査の露光（積算）時間を下げることによ
り行われる。オープンゲート状態を使用して画素毎のゲ
インを決定する概念は、オープンゲートゲイン補正係数
を決定する方法を記載した上述の米国特許番号ＵＳ５５
６３７２３に依っても、示されているように、従来技術
で良く知られている。

【０００８】ネガフィルム走査装置のオープンゲート較
正は、典型的には、照明源のエッジに向かって見られる
照明の一般的な落ち込みのような、システム応答が大規
模な非均一性を有するときに効果がある。しかし、照明
源に、狭く急峻な非均一性がある場合には、同様には補
正されず、続く走査画像に、線として現れる。そのよう
な狭く急峻な非均一性を起こすものは、照明源のフィル
ム端におけるごみ粒子又は、散光器のフィルム端におけ
る小黒粒である。オープンゲートで得られたゲイン補正
係数がオープンゲート走査データに使用されると、結果
は走査を通して均一な応答となるであろう。同様に、Ｄ
ｍｉｎを通して得られたゲイン補正係数が画像走査デー
タに適用されると、全ての画像密度に亘って、非常に均
一なフォトサイトの応答となる。これは、Ｄｍｉｎゲイ
ン補正係数を得る間に、フィルムのＤｍｉｎ領域には局
部的な不完全性は検出されなかったと仮定する。Ｄｍｉ
ｎ走査間に、そのような局部的な不完全性が検出された
ときには、画像フレーム領域のフィルムに線が存在しな
くとも画像走査データから再生された結果の画像に線が
現れるという効果を、Ｄｍｉｎゲイン補正係数に及ぼ
す。しかし、Ｄｍｉｎゲイン補正係数よりも、オープン
ゲートゲイン補正係数が画像に適用されたなら、髪の毛
やごみ粒子等の変則的なものから生ずる光学的画像経路
の狭い、急峻な非均一性が、結果の画像データから適切
に補正されず、そのような画像データから生ずる画像に
線が現れるということがわかる。オープンゲートゲイン
とＤｍｉｎゲインを比較すると、Ｄｍｉｎゲインは狭
い、急峻な照明が非均一な領域で相対的に低ピークを有
する。純粋なゲインとオフセットのモデルにより正確に
記述されない、オープンゲートゲイン補正係数とＤｍｉ
ｎゲイン補正係数の間の差がある。

【０００９】フィルム透過走査システムでは、実際に画
像操作をしたときには、（画素毎のゲインとオフセット
を決定するには理想的な）いわゆる”オープンゲート”
状態と”フィルム存在”状態の間のシステム応答特性に
はある差があることが分かっている。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、これ
らの差を考慮し、画像走査中に改善されたシステム応答
特性を提供する、画像走査動作中に適用されるゲイン補
正係数の調整のための方法を提供することである。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、この目
的は、走査システム応答の画素毎の違いを補正するフィ
ルム走査装置のゲイン較正を行う方法であって、ａ．走査システムで走査照明は行われているがフィルム
は存在しない走査システムの画素毎のオープンゲート応
答を得るステップと、ｂ．前記オープンゲート応答に従って、画素毎のオープ
ンゲートゲインプロファイルを作成するステップと、ｃ．走査システムで走査照明は行われておりフィルムも
存在する走査システムの画素毎のＤｍｉｎ応答を得るス
テップと、ｄ．前記Ｄｍｉｎ応答に従って、画素毎のＤｍｉｎゲイ
ンプロファイルを作成するステップと、ｅ．前記オープンゲートとＤｍｉｎゲインプロファイル
の選択された結合から画素毎の複合ゲインプロファイル
を作成するステップと、ｆ．画素毎に、フィルム画像の実際の操作に、複合ゲイ
ンプロファイルを使用するステップとからなることによ
り達成される。

【００１２】好適な形では、複合ゲインプロファイル
は、第１に、画素又は画素の範囲に対して選択されたＤ
ｍｉｎゲインプロファイルの値と共にオープンゲートプ
ロファイルの中の値から選択される。その中では、Ｄｍ
ｉｎゲイン補正は更に正確な走査出力応答を与える。本
発明の他の好適な形では、１つ又はそれ以上の画素の複
合ゲインプロファイルの値は、オープンゲートとＤｍｉ
ｎゲインプロファイルの値に比例している。

【００１３】

【発明の実施の形態】図１は、本発明のゲイン決定方法
が好適に実行され得る、ＣＣＤに基づいた線状の透過
（又は、フィルム）走査装置の典型的な回路配置を示
す。この特定の配置では、システム応答の画素毎の変動
を補正するためのゲインとオフセット係数の適用は、マ
イクロプロセッサ１８により、Ａ／Ｄ変換器１７により
集められたディジタルデータに対して行われる。他の走
査システムではＡ／Ｄ変換器の前のアナログ信号にゲイ
ンとオフセットが適用され（米国特許番号５，５６３，
７２３参照）又は、特別のハードウェアにより、Ａ／Ｄ
変換器の出力ディジタル信号にゲインとオフセットが適
用される。本発明は、これらのどの配置と共にでも実施
できるが、図１示す、単純な走査システムを用いて説明
できる。

【００１４】図１では、光源１０は、走査される線状領
域１３に比較的均一に光源を与えるディフューザ１１に
光りを供給する。走査されるフィルム１２は、レンズ１
４の焦点のある点に配置されている。線状画像センサ１
５はレンズの焦点の他の点に配置されている。増幅器１
６は、画像センサから来る信号を信号強度を増加させ、
Ａ／Ｄ変換器１７は、増幅器のアナログ出力をディジタ
ルデータに変換する。Ａ／Ｄ変換器からのディジタルデ
ータは、マイクロプロセッサ１８により読まれ、更なる
処理のために、メモリ装置１９へ配置される。画像セン
サからの信号をクロッキングし、及び、Ａ／Ｄ変換器を
画像センサの信号に同期化するタイミング及び、制御手
段はこの図には示されていない。しかし、当業者には理
解できるので本発明の記載では必要無い。

【００１５】図１では、画素毎のシステム応答の変動が
発生する場所が多くある。照明源（光源１０とディフュ
−ザ１１の組合せ）は、完全に均一ではない。たしか
に、実際には照明源は、ディフュ−ザの両端では中央よ
り光りの強度が落ちる。更に、ディフュ−ザの不完全性
（ディフュ−ザのフィルム端に埋めこまれた黒い粒子、
ディフュ−ザの本体内の散光させる物質の分布の非均一
性、ごみ、ほこり、又は、ディフュ−ザのフィルム端に
集まる繊維）は、局部的な照明に、システムみ画素毎の
変動を与える、非均一性を与える。画像センサ１５それ
自身は、典型的には、黒信号レベル（光が無いか又は、
黒状態を表す信号レベル）と光への応答の両方で画素毎
の変動を有する。これらの変動は共に結びついて、画素
毎の基準で、黒信号レベルの変動を補正するオフセット
と、照明の変動と画素応答を補正するゲインを与えるこ
とにより測定され且つ補償され得るシステム応答を形成
する。

【００１６】図２は、データテーブル２２の走査された
画像の画素値からデータテーブル２３の中の補正された
画像の画素値を確立する、データテーブル２０と２１の
中のゲインとオフセットの画素毎の基準での適用の概略
を示す。画素値、ゲイン及び、オフセットのこれらのテ
ーブルは、メモリ１９に蓄積される（図１）。順次に処
理する画素を選択し（Ｎから１ブロック２４から２
８）、オフセットとゲイン値を与え（−及び、Ｘの円で
示される）、及び、結果を画素ごとに蓄積する（１から
Ｎブロック２９）処理は、知られた方法のソフトウェア
プログラムの制御の下で行われる。オフセット値は、典
型的には、照明を切り（シャッタ又は、電子的に光源を
切り）、走査データを集めることで決定される。画素値
の黒い点をゼロと等しくするために、これらの非ゼロ値
は、後続の画素値の組から減算される。ゲイン値は、照
明源をオンして走査し、走査データを集め、オフセット
を与えることにより決定される。ゲインは、各画素に対
して、オフセット補正された走査データの逆数をとるこ
とで決定されるので、各画素に対するオフセット補正さ
れたデータの線２９ａ上のテーブル２０からの関連する
ゲインを用いた乗算は、各画素に対して等しくなり、そ
の結果のシステム応答は単一になる。

【００１７】照明レベルの減少、画像センサの累積時間
の減少、出力増幅器のゲインの減少、又は、Ａ／Ｄ変換
器からのデータを圧定数で割る等の多くの方法を用い
て、信号レベルをＤｍｉｎ状態を近似する信号レベル又
は、他の任意の信号レベル状態に調整することで、ゲイ
ン値は、フィルムの無い状態で（いわゆるオープンゲー
ト状態で）集めた走査データで決定される。図３（Ａ）
は、（１つ又はそれ以上のＤｍｉｎ走査データ又は、あ
る任意の信号レベルと矛盾の無い上述の方法で正規化さ
れた）オープンゲート走査データから得られたゲインの
組３０を示す。この図では、狭く、急峻な非均一性３２
が示されている。これは、光ディフューザ又は、照明源
からの光路に付着したごみの粒又は、繊維などの、照明
源の光に対する障害物に依っている。ゲイン値は、最小
密度フィルムの存在（Ｄｍｉｎ状態）で集めた走査デー
タでも決定できる。フィルムのＤｍｉｎ領域は、典型的
には、アドバンスドフォトグラフィックシステム（ＡＰ
Ｓ）フィルムの先頭部及び、最後部に存在する。図３
（Ｂ）は、（図３（Ａ）に示す同じ照明条件で）（必要
なら図３Ａに示す同じ信号レベルに正規化された）Ｄｍ
ｉｎ走査データから得られたゲインの組３０’を示す。
この図３（Ｂ）では、図３（Ａ）の非均一性３０に対応
する照明の非均一性３２’と、走査データが集められる
フィルムのＤｍｉｎ領域の局部的な不完全性による、新
しい問題３４が存在する。この後者の不完全性は、フィ
ルム上の傷、ごみ、マークである。フィルムの存在が走
査システムの特性を変えるので、Ｄｍｉｎ非均一性３
２’は、オープンゲート非均一性３２よりも実際には小
さい。一方、広範囲な照明の非均一性は一般に、オープ
ンゲートとＤｍｉｎゲインの間で同じである。オープン
ゲートゲインが画像走査システム応答の変動の補正に使
用されるなら、３２’と３２の差は、補正された結果の
画像に線を表す補正の誤差を示すものである。これゆ
え、オープンゲートゲイン単独では補正の誤差を導く。

【００１８】Ｄｍｉｎ（ＡＰＳフィルムの先頭部）を通
して走査により得られたゲインは、局所的な、狭い、急
峻な非均一性（例えば、図３（Ｂ）の３２’）を補正す
るが、図３Ｂの３４で示されるように、ゲインを決定す
るのに使用するフィルムの画像領域ではない一部分のみ
の局所的なきず、ごみ、マーク又は、他の不完全性によ
り、結果のゲイン補正された画像に線を生じる可能性が
ある。これゆえ、Ｄｍｉｎで得られたゲインも補正に誤
差を生じる。しかし、特にオープンゲートゲインの狭
い、急峻な非均一性の付近で、オープンゲートゲインに
誤差がある領域のみでＤｍｉｎで得られたゲインを使用
することはできる。この場合、所定のライン走査に対す
る画素毎のゲイン値は、広範囲な照明プログラムファイ
ルと、画像走査装置の画素毎の非均一性を得るために、
主に、オープンゲート走査により得られる。オープンゲ
ートゲイン値は、狭い、急峻な照明源の汚染（例えば、
照明ディフューザにつけられたごみ、小さな粒）による
ところが大きい非均一な領域の中のＤｍｉｎで得られた
ゲイン値により置きかえられる。このように、オープン
ゲートとＤｍｉｎゲインプロファイルの適切な選択され
た組合わせからの複合ゲインプロファイルを得ることに
より、更に正確なＤｍｉｎゲインが、狭い照明源の不具
合を最適に調整するために、オープンゲートとＤｍｉｎ
な間の差が最大の画素領域で使用される。そして、オー
プンゲートゲインは、Ｄｍｉｎゲインが得られるフィル
ムのＤｍｉｎ部分のごみ、傷及び、他の局所的な不完全
性のおそれを最小にするために、走査のいたるところで
使用される。

【００１９】オープンゲートとＤｍｉｎゲインは、平均
的に同一であるように、正規化されることが好ましい。
これは、例えば、各画素のオープンゲートゲインを全オ
ープンゲートゲインの平均値で割り、全Ｄｍｉｎゲイン
の平均の結果で乗算することにより達成される。図３Ｃ
は、そのような複合ゲインの組を示す。この図は、複合
ゲインプロファイルのオープンゲートゲイン値（ＯＧ）
で調整された広い画素範囲と、複合ゲインプロファイル
のＤｍｉｎゲイン値（Ｄｍｉｎ）で調整された狭い画素
範囲を示す。

【００２０】オープンゲートとＤｍｉｎゲインデータの
いずれかの選択から得られた複合ゲインデータの組が記
述された実施例として記載された発明は、画素毎の複合
ゲインプロファイル値を構成するオープンゲートとＤｍ
ｉｎゲイン値の総計を比例させるのに使用する画素毎の
変数ＫによってオープンゲートとＤｍｉｎゲインを、以
下のように、比例的に混合することにより複合ゲインプ
ロファイルを確立することに関して、更に広く考えられ
る。

【００２１】Ｇ＝ＫＧ_DM＋（１−Ｋ）Ｇ_OG （１）ここで、Ｇは複合ゲイン値、Ｇ_OGはオープンゲートゲイ
ン、Ｇ_DMはＤｍｉｎゲインであり、且つ、Ｋは、複合ゲ
インへの画素毎の２つのゲイン値Ｇ_OGとＧ_DMの比例的な
貢献度を決定するゼロから１の決定値を有する決定でき
る比例係数である。

【００２２】２つのゲインの組を比例的に結合するこの
方法は、図４に概略が示されており、示されたブロック
は図２の同様なブロックと等価な目的で動作する。デー
タテーブル２０の出力ゲインとデータテーブル２２のＤ
ｍｉｎゲインは、乗算器４２と４４にそれぞれ入力す
る。比例的なＫ係数のデータテーブル４０は、乗算器４
４への直接の入力され、乗算器４２に与えられる変数
（１−Ｋ）を得るために減算器４６に与えられる。２つ
の乗算器の出力は、４８で加算され、複合ゲインテーブ
ル４９のための複合ゲイン値を生成する。

【００２３】比例係数Ｋの組は、様々な方法で得られ
る。例えば、オープンゲートゲインの組は、図５（Ａ）
に示すように組Ｋを生成するために、識別機能５０によ
って動作されることができる。識別機能は、オープンゲ
ートプロファイルの中の、狭い，急峻な、比均一性を識
別する広域通過フィルタでもよい。かわりに、両オープ
ンゲートゲインとＤｍｉｎゲインは、図５（Ｂ）に示す
ように組Ｋを生成するために、識別機能５２によって、
共に動作されることができる。この場合の識別機能５２
は、オープンゲートとＤｍｉｎゲインの間の変化のレー
トを比較する。（全プロファイル及び、点３２と３２’
で）変化のレートが実質的に同一の場合には、オープン
ゲートとＤｍｉｎゲインの間の差はＫを与え、変化のレ
ートが実質的に違うの場合（Ｄｍｉｎデータの点３４
と、オープンゲートデータの対応する乱されていない
点）には、オープンゲートデータから排他的に選択され
るためにＫはゼロに設定される。

【００２４】図６（Ａ）から６（Ｄ）は、図５（Ａ）の
機能５０で有益ないくつかの識別機能の利用例を示す。
ここで、識別機能は、比例係数Ｋの組を得るために、オ
ープンゲートゲインでのみ動作する。図中、閉じた箱
は、アルゴリズム的な処理を表し、開いた葉及び、は、
メモリに蓄積されたデータを示す。図６（Ａ）は、テー
ブル２０のオープンゲートゲインにより動作する高域通
過フィルタ６０を示す。ここでは、高域通過フィルタ線
形又は、非線形の機能であり、急峻さの所定の基準に合
うゲイン値の変動を検出すると理解される。高域通過フ
ィルタの結果は、ゲインブロック６１で得られ、最大出
力値は１に等しい。ゲインブロック６１の結果は、負値
を除くためにブロック６２でゼロにクリップされる。こ
の場合、高域通過の意味で最も急峻な非均一性は、排他
的にＤｍｉｎゲインを選択するであろう。広い非均一性
は、排他的にオープンゲートゲインを選択するであろ
う。これらの両極端の間の非均一性は、Ｄｍｉｎとオー
プンゲートゲインの両方の部分を選択するであろう。こ
れは、オープンゲートで得られたゲインとＤｍｉｎで得
られたゲインの間のスムーズな遷移を補償する。

【００２５】図６（Ｂ）は、最大出力値が１より大きく
なるようにゲインが設定されているゲインブロック６
１’が変更されている高域通過フィルタ６０を示す。ブ
ロック６１’からの出力は、負値を除くためにブロック
６２’でゼロにクリップされ、最大出力値は１に等し
い。この実施例では、最も急峻な非均一性ゲイン補正で
はなく、更なる急峻な非均一性ゲイン補正が、Ｄｍｉｎ
ゲインから選択される。図６（Ｃ）では、大きな値は１
にクリップされるクリップブロック６２’’の前で負値
を除去するために、ゲインブロック６１’の出力の絶対
値をとることにより、図６（Ｂ）の処理は更に修正され
る。これは、高域通過フィルタの出力の負値に対してＤ
ｍｉｎ値を選択する傾向にあるという効果を有する。こ
れは、そのような負値は急峻な非均一性と広いゲインプ
ロファイルの間の遷移領域で良く起こるので、また、そ
のような遷移領域は、Ｄｍｉｎゲインにより良く補正で
きることが分かっているので、有益である。図６（Ｄ）
は、図６（Ｃ）の変更を示す。ここでは、ブロック６
２’の最大＝１及び、最小＝０クリップ処理の前に、ブ
ロック６３の絶対値処理の結果から、高域なオフセット
がブロックク６４で減算される。これは、効果を有す
る。オープンゲートゲインが排他的に選択される領域を
増加し、また、排他的にオープンゲートゲインから、排
他的に急峻なＤｍｉｎへ遷移を行う。

【００２６】図７は、ステップ毎に、コンピュータで、
示されたステップの好適なプログラムにより、オフセッ
トとゲインを決定する処理を示す。ステップ７０では、
照明をオフして走査することにより、各画素のオフセッ
ト値が決定される。ステップ７１では、最大の走査され
たシステム出力値が、好ましくは照明無しに、そして、
照明と画像センサの間にフィルムが無しで決定される。
ステップ７２では、オープンゲートプロファイルが、各
画素に対してオープンゲートデータからオフセットデー
タを減算することにより決定される。結果は、好ましい
範囲にスケーリングすることにより正規化され、正規化
された結果は、オープンゲートゲインデータを得るため
に逆数が取られる。ステップ７３では、先頭部のような
フィルムのＤｍｉｎ領域を走査することによりＤｍｉｎ
データが、画素ごとに集められる。ステップ７４では、
ステップ７２でオープンゲートプロファイルが決定され
たのと同じ方法で、Ｄｍｉｎゲインプロファイルが決定
される。ステップ７５では、前述の１つの識別機能が適
用される。これは、例えば、ステップ７２で得られたオ
ープンゲートゲインデータを、出力が１よりも大きな値
にスケーリングされた好適な高域通過フィルタを通すこ
とにより、図６Ｃの識別機能を用いて行われる。高域通
過出力の絶対値が取られ、好ましいゲインセレクタＫを
得るために絶対値は、１にクリップされる。ステップ７
６は、図４に示すように、式（１）を適用して、望まし
い複合ゲインプロファイルの組を構成する。一旦、ステ
ップ７６で、複合ゲインプロファイルの組が決定される
と、ステップ７７は、望ましい改善された画像走査結果
を得るために、通常の画像走査中に、オフセットと得ら
れた複合ゲインプ値を適用するように動作する。図６
（Ｃ）の識別機能が記述されているが、図６（Ａ）から
６（Ｄ）で示すどの識別機能でもステップ７５で使用で
きる。ここまでの説明では、比例係数Ｋの組を決定する
ためにオープンゲートゲインで動作する又は、Ｋを決定
するためにオープンゲートゲインＤｍｉｎゲインで結合
して動作する識別機能を扱ったが、Ｋを決定する他の手
段もまた使用できる。例えば、比例係数Ｋは、走査が中
央の画素から外側の画素に移動するにつれて、Ｄｍｉｎ
ゲインを大きくし、オープンゲートゲインを強い策する
ように選択できる。こうする理由は、中央の画素を通り
抜ける光線は、外側の画素を通り抜ける光線よりもフィ
ルムの薄いところを抜けるということである。関係する
光の角度を考慮すると、このようであることが分かる。
これゆえ、フィルムの密度は光を低下させる。これは、
フィルムのあるときの方が、オープンゲート状態よりも
大きい。この場合には、比例係数Ｋは、画素位置の関数
である。

【００２７】ここまでの説明では、第１に、オープンゲ
ートとＤｍｉｎゲインを結合する比例係数を扱った。オ
ープンゲートとＤｍｉｎゲインを結合する他の方法も考
えられる。例えば、システムへフィルムを入れると、走
査システムとフィルム面の間の反射でフレア状態を悪化
させる。そして、フレア状態がある画素いちで繰り返さ
れると、それらの画素位置でＤｍｉｎゲインから排他的
に選択することは優位である。オープンゲートゲイン
は、他で選択され得るか、又は、オープンゲートとＤｍ
ｉｎゲインは、他の画素位置で結合され得る。

【００２８】ゲインは、本質的に、オフセット補償され
たオープンゲート又は、Ｄｍｉｎ信号の逆数であるの
で、これらのすべての技術は、ゲインのように、オフセ
ット補償されたオープンゲート及び、Ｄｍｉｎ信号に等
しく適用できる。本調整技術はネガフィルム走査装置い
ついて、説明したが、技術は、ポジ透明走査装置又は、
編者印刷走査装置等の他の形式の画像走査装置にも適用
できる。

【００２９】本発明は、特定の実施例を用いて説明した
が、本発明の範囲内の派生例や変形例にも効果がある。

【００３０】

【発明の効果】本発明によれば、画像走査中に改善され
たシステム応答特性を提供する、画像走査動作中に適用
されるゲイン補正係数の調整のための方法を提供するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を実施するのに利用できるライン画像走
査装置に基づいたＣＣＤのブロック図である。

【図２】走査装置システム応答の画素毎の変動を補正す
るために、図１の装置から得られた生の画素値にオフセ
ットとゲインを与える概略図である。

【図３】（Ａ）はフィルムが無い場合の走査により得ら
れたゲイン（ＯＧゲイン）、（Ｂ）は最小密度フィルム
を通して走査により得られたゲイン（Ｄｍｉｎゲイ
ン）、（Ｃ）はもともとのゲインよりも良い補正が得ら
れるＯＧゲインとＤｍｉｎゲインの複合ゲイン（複合ゲ
イン）を示す。

【図４】複合ゲインの組を得るために、オープンゲート
ゲインとＤｍｉｎゲインを比例的に結合させる方法の概
略図である。

【図５】図４のオープンゲートゲインとＤｍｉｎゲイン
を結合するのに使用する画素毎の比例Ｋを決定する方法
であって、（Ａ）は、オープンゲートゲインから得られ
たＫ、（Ｂ）はオープンゲートゲインとＤｍｉｎゲイン
から得られたＫを示す図である。

【図６】図５（Ａ）の機能を区別するある候補を示すブ
ロック図であって、（Ａ）は高域通過フィルタ、（Ｂ）
はクリップを伴う高域通過フィルタ、（Ｃ）は絶対値及
びクリップを伴う高域通過フィルタ、（Ｄ）は絶対値、
オフセット及びクリップを伴う高域通過フィルタを示す
図である。

【図７】オープンゲートゲイン、Ｄｍｉｎゲイン、複合
ゲインの組の決定及び、複合ゲインの組の適用の処理を
示すフローチャートを示す図。

【符号の説明】

１０光源１１ディフューザ１２フィルム１３線状領域１４レンズ１５線状画像センサ１６増幅器１７Ａ／Ｄ変換器１８マイクロプロセッサ１９メモリ装置２０，２１、２２、２３データテーブル２４から２８Ｎから１ブロック２９１からＮブロック４２，４４乗算器４８加算器４６減算器４９複合ゲインテーブル５０、５２識別機能６０高域通過フィルタ６１ゲインブロック６２ブロック６１’ ゲインブロック６２’ブロック６２’’ クリップブロック６４ブロック

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】走査システム応答の画素毎の違いを補正
するフィルム走査装置のゲイン較正を行う方法であっ
て、ａ．走査システムで走査照明は行われているがフィルム
は存在しない走査システムの画素毎のオープンゲート応
答を得るステップと、ｂ．前記オープンゲート応答に従って、画素毎のオープ
ンゲートゲインプロファイルを作成するステップと、ｃ．走査システムで走査照明は行われておりフィルムも
存在する走査システムの画素毎のＤｍｉｎ応答を得るス
テップと、ｄ．前記Ｄｍｉｎ応答に従って、画素毎のＤｍｉｎゲイ
ンプロファイルを作成するステップと、ｅ．前記オープンゲートとＤｍｉｎゲインプロファイル
の選択された結合から画素毎の複合ゲインプロファイル
を作成するステップと、ｆ．画素毎に、フィルム画像の実際の操作に、複合ゲイ
ンプロファイルを使用するステップとからなる方法。
【請求項２】複合ゲインは、Ｇ＝ＫＧ_DM＋（１−Ｋ）Ｇ_OGに基づき、ここで、Ｇは複合ゲイン、Ｇ_OGはオープンゲートゲイ
ン、Ｇ_DMはＤｍｉｎゲイン及び、Ｋはオープンゲートと
Ｄｍｉｎゲイン値の間を選択し、Ｋは０から１の範囲か
ら選択可能な値であり、画素毎のオープンゲートゲインとＤｍｉｎゲインの合計
に比例させることにより決定される請求項１記載のフィ
ルム走査装置。
【請求項３】Ｋ係数は、高域通過フィルタの最大出力
が１となるように出力結果をスケーリングし、負の数が
ないようにスケーリング動作の結果をゼロにクリップす
る出力結果を生じる高域通過フィルタと共に、オープン
ゲートゲインで動作することにより決定される請求項２
記載のフィルム走査装置。
【請求項４】Ｋ係数は、高域通過フィルタの最大出力
が１より大きくなるように出力結果をスケーリングし、
スケーリング動作の結果をゼロ及び、１にクリップする
出力結果を生じる高域通過フィルタと共に、オープンゲ
ートゲインで動作することにより決定される請求項２記
載のフィルム走査装置。
【請求項５】Ｋ係数は、高域通過フィルタの最大出力
が１より大きくなるように出力結果をスケーリングし、
スケーリング動作の結果の絶対値をとり、絶対値動作の
結果を１にクリップする出力結果を生じる高域通過フィ
ルタと共に、オープンゲートゲインで動作することによ
り決定される請求項２記載のフィルム走査装置。
【請求項６】Ｋ係数は、高域通過フィルタの最大出力
が１より大きくなるように出力結果をスケーリングし、
スケーリング動作の結果の絶対値をとり、絶対値動作の
結果からオフセット値を減算し、減算動作の結果をゼロ
及び、１にクリップする出力結果を生じる高域通過フィ
ルタと共に、オープンゲートゲインで動作することによ
り決定される請求項２記載のフィルム走査装置。