JPH07163871A - 窒素酸化物用吸着材および排気ガス浄化用触媒 - Google Patents

窒素酸化物用吸着材および排気ガス浄化用触媒

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JPH07163871A
JPH07163871A JP6223702A JP22370294A JPH07163871A JP H07163871 A JPH07163871 A JP H07163871A JP 6223702 A JP6223702 A JP 6223702A JP 22370294 A JP22370294 A JP 22370294A JP H07163871 A JPH07163871 A JP H07163871A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 窒素酸化物(NO)に対して優れた吸着能を
発揮する吸着材およびそれを用いた排気ガス浄化用触媒
を提供する。 【構成】 吸着材は、平均結晶子径DがD<500Åで
ある酸化物系セラミックス、例えばCeO2 より構成さ
れる。触媒は、例えばCeO2 とゼオライトとから構成
され、そのCeO2 の含有量Cは10重量%≦C≦80
重量%に設定される。ゼオライトは炭化水素(HC)を
吸着し、そのHCはCeO2 により活性CHOに酸化さ
れる。活性CHOはCeO2 に吸着されたNOを還元す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は窒素酸化物用吸着材およ
び排気ガス浄化用触媒に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、酸化物系セラミックス、例えば複
酸化物よりなる窒素酸化物用吸着材が知られている(例
えば、特開平2−258058号公報参照)。
【0003】また複酸化物とゼオライトとよりなる排気
ガス浄化用触媒も公知である(例えば、特開平2−29
3050号公報参照)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】一般に、前記複酸化物
は複数の結晶子が集合した多結晶粒子であるが、従来の
複酸化物は、その製造過程において高温焼成(例えば、
900℃)されているため、それら結晶子の平均結晶子
径DがD≧500Åと大きい。したがって、従来の複酸
化物はその比表面積が小さく、また微細孔も未発達であ
ることから、窒素酸化物との接触確率が低く、特に、酸
素過剰雰囲気下において、単位重量当りの窒素酸化物吸
着率が低い、という問題がある。
【0005】また従来の触媒における複酸化物も前記同
様の構造を有するので、窒素酸化物浄化能は低くなる。
【0006】本発明は前記に鑑み、特定の平均結晶子径
Dを有する酸化物系セラミックスよりなり、窒素酸化物
に対して優れた吸着能を発揮し得る前記吸着材を提供す
ることを第1の目的とする。
【0007】また本発明は、前記吸着材を必須構成要素
とし、広い排気ガス温度範囲において窒素酸化物に対し
浄化能を発揮し得る前記触媒を提供することを第2の目
的とする。
【0008】さらに本発明は、前記吸着材を必須構成要
素とし、広い排気ガス温度範囲において窒素酸化物に対
し優れた浄化能を発揮し得ると共に良好な耐熱劣化性を
備えた前記触媒を提供することを第3の目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係る窒素酸化物
用吸着材は、平均結晶子径DがD<500Åである酸化
物系セラミックスよりなることを特徴とする。
【0010】前記吸着材において、酸化物系セラミック
スにはランタノイド酸化物、例えばCeO2 や複酸化
物、例えばペロブスカイト型構造を有するLaCoO3
が含まれる。
【0011】本発明に係る排気ガス浄化用触媒は、平均
結晶子径DがD<500Åである酸化物系セラミックス
とゼオライトとからなり、前記酸化物系セラミックスは
ランタノイド酸化物であって、そのランタノイド酸化物
の含有量Cが10重量%≦C≦80重量%であることを
特徴とする。
【0012】また触媒には、酸化物系セラミックスとし
て、ランタノイド酸化物にZr,LaおよびSiから選
択される少なくとも一種の改質用元素を保有させた改質
ランタノイド酸化物を用いたものも含まれ、その改質ラ
ンタノイド酸化物の含有量Cは10重量%≦C≦80重
量%に設定される。
【0013】さらに触媒には、酸化物系セラミックスと
して複酸化物を用いたものも含まれ、その複酸化物の含
有量Cは20重量%≦C≦80重量%に設定される。
【0014】さらにまた触媒には、酸化物系セラミック
スとしてランタノイド酸化物および複酸化物の混合物を
用いたものも含まれ、その混合物の含有量Cは20重量
%≦C≦80重量%に設定される。この場合、ランタノ
イド酸化物の含有量C1 はC 1 ≧10重量%であり、ま
た複酸化物の含有量C2 はC2 ≧10重量%であること
が必要である。
【0015】また触媒には、ゼオライトにAgを担持さ
せたものも含まれ、そのAgの担持量CAは1重量%≦
CA≦10重量%に設定される。
【0016】さらに触媒には、ゼオライトとして、未改
質ゼオライトに脱Al処理を施して得られた耐熱性改質
ゼオライトを用いたものも含まれる。
【0017】
【作用】前記吸着材において、酸化物系セラミックスの
平均結晶子径Dを前記のように設定すると、その酸化物
系セラミックスの比表面積を拡張し、また微細孔も発達
させることが可能であるから、酸化物系セラミックスと
窒素酸化物(NOx)との接触確率を高めて、酸素過剰
雰囲気下においても、単位重量当りのNOx吸着率を向
上させることができる。
【0018】また前記触媒において、前記酸化物系セラ
ミックスとゼオライトとを組合せると、排気ガス中の炭
化水素(HC)がゼオライトに吸着され、またNOxが
酸化物系セラミックスに吸着される。またゼオライトは
比較的弱い酸化剤として機能するので、ゼオライトに吸
着されて活性化されたHCを部分的に酸化するため活性
CHOが生ずる。
【0019】この活性CHOが、酸化物系セラミックス
に吸着されて活性化されたNOxを還元してN2 、CO
2 およびH2 Oに転化し、これによりNOxの浄化が達
成される。この場合、活性CHOは、飽和HCよりも不
飽和HCから生じ易く、また遊離NOxは吸着されたN
Oxに比べて活性が低い。
【0020】前記のようなHCおよびNOxの吸着、H
Cの部分的酸化による活性CHOの生成およびその活性
CHOによるNOxの還元は、排気ガスの低温域から高
温域において現出するので、触媒の活性温度範囲が拡張
される。
【0021】さらに酸化物系セラミックスとして、Zr
または、ZrおよびLaを保有する改質ランタノイド酸
化物を用いた未使用触媒(製造後、排気ガスの浄化に供
されていないもの)においては、その改質ランタノイド
酸化物の格子欠陥が増えてNOx吸着可能な活性点が増
加するので、NOx浄化率が未改質のランタノイド酸化
物を用いた場合よりも向上する。
【0022】一方、ランタノイド酸化物は複数の結晶子
が集合した多結晶粒子であることから、それが高温環境
下に曝されると、その平均結晶子径が大きくなってNO
x吸着可能な活性点が減少する傾向がある。
【0023】ところが、少なくとも一種の改質用元素を
保有する改質ランタノイド酸化物は高温下に曝されて
も、Zr等によってその平均結晶子径の増加が抑制され
る。これにより、改質ランタノイド酸化物を用いた触媒
は良好な耐熱劣化性を備える。
【0024】さらにまたゼオライトにAgを担持させる
と、ゼオライトにおける不飽和HCの吸着量が増加し、
これにより活性CHOの生成量を増して、特に低温側に
おけるNOx浄化率を向上させることができる。
【0025】またゼオライトとして、脱Al処理による
改質ゼオライトを用いると、その改質ゼオライトは、未
改質のものに比べて結晶性が向上し、また熱分解生成物
の発生が抑制されているので約1000℃の耐熱温度を
有し、これにより触媒の耐熱性を向上させることができ
る。その上、改質ゼオライトは未改質のものに比べてH
C吸着能が高く、また広い排気ガス温度範囲において優
れたHC吸着能を発揮する。
【0026】ただし、前記触媒において、ランタノイド
酸化物または改質ランタノイド酸化物の含有量CがC<
10重量%になるか、複酸化物の含有量CがC<20重
量%になるか、混合物の含有量CがC<20重量%で、
且つそのランタノイド酸化物および複酸化物の含有量C
1 ,C2 がC1 ,C2 <10重量%になると、それらに
よるNOx吸着率が低下し、その結果、NOx浄化率も
低下する。
【0027】一方、ランタノイド酸化物、改質ランタノ
イド酸化物、複酸化物および混合物の含有量Cがそれぞ
れC>80重量%になると、ゼオライト量が減少するた
め、そのゼオライトによるHC吸着率が低下し、その結
果、NOx浄化率も低下する。
【0028】またAg担持量CAにおいて、CA<1重
量%では不飽和HCの吸着量増加効果が乏しく、一方、
CA>10重量%に設定しても顕著な効果は得られな
い。
【0029】
【実施例】
A.窒素酸化物用吸着材 図1において、窒素酸化物(NOx、実施例ではNO)
用吸着材を構成する酸化物系セラミックス1は複数の結
晶子2が集合した多結晶粒子であり、その平均結晶子径
DはD<500Åに設定される。
【0030】このような酸化物系セラミックスには、ラ
ンタノイド酸化物、改質ランタノイド酸化物および複酸
化物が含まれる。ランタノイド酸化物としてはCe
2 、Pr6 11、Tb4 7 等が用いられ、このラン
タノイド酸化物はNO吸着能、HCに対する比較的弱い
酸化能および酸素貯蔵能を有する。
【0031】改質ランタノイド酸化物は、前記ランタノ
イド酸化物にZr、LaおよびSiから選択される少な
くとも一種の改質用元素を保有させたものである。ここ
で、保有とは、ランタノイド酸化物に改質用元素を機械
的、物理的或は化学的に担持させた状態および/または
ランタノイド酸化物と改質用元素の酸化物とが複酸化物
を構成している状態をいう。
【0032】Zr、またはZrおよびLaを保有する改
質ランタノイド酸化物においては、その格子欠陥が増え
てNOx吸着可能な活性点が増加する。また少なくとも
一種の改質用元素を保有する改質ランタノイド酸化物は
高温下に曝されても、Zr等によって、その平均結晶子
径の増加が抑制される。
【0033】複酸化物としては、LaCoO3 、LaM
nO3 、La0.8 Sr0.2 CoO3等のペロブスカイト
型構造を有するものの外に、La1.5 Sr0.5 Cu
4 、YBa2 Cu3 7 、Mn2 ZrO5 等も用いら
れ、この複酸化物はNO吸着能およびHCに対する比較
的弱い酸化能を有する。
【0034】ランタノイド酸化物の製造に当っては、炭
酸塩、シュウ酸塩、硝酸塩等の種々の塩を、酸素存在下
において加熱する。希土類元素を含まない純粋なランタ
ノイド酸化物を得る場合には、加熱後のランタノイド酸
化物を硝酸にて洗浄する。
【0035】平均結晶子径Dの制御は、前記製造過程に
おける加熱温度を調節することによって行われる。例え
ば平均結晶子径DがD=20ÅのCeO2 を得る場合に
は、硝酸塩を約200℃に加熱する。また製造後のCe
2 に熱処理を施すことによっても、その平均結晶子径
Dを制御することができ、例えば、D=20ÅのCeO
2 に700℃、20時間の熱処理を施すと、D=300
ÅのCeO2 が得られる。
【0036】改質ランタノイド酸化物の製造に当って
は、一般的には共沈法または含浸法が適用されるが、そ
の他の方法を適用してもよい。
【0037】共沈法においては、(a) ランタノイド
の硝酸塩、例えばCe(NO3 3 と、Zr(NO3
4若しくはLa(NO3 3 またはケイ酸(例えばH4
SiO4 )とを水(ケイ酸の場合は、その溶解促進のた
め熱水)に溶解して溶解液を調製する、(b) 溶解液
にNH4 OHを添加して加水分解することにより懸濁液
を調製する、(c) 懸濁液を蒸発乾固して固形分を得
る、(d) 固形分に、大気下、600℃、1時間の焼
成処理を施す、といった手段が採用される。
【0038】含浸法においては、(a) ZrO(NO
3 2 若しくはLa(NO3 3 またはケイ酸(例えば
4 SiO4 )を水(ケイ酸の場合は、その溶解促進の
ため熱水)に溶解して溶解液を調製する、(b) 溶解
液にランタノイド酸化物粉末、例えばCeO2 粉末を分
散させて懸濁液を調製する、(c) 懸濁液を蒸発乾固
して固形分を得る、(d) 固形分に、大気下、600
℃、1時間の焼成処理を施す、といった手段が採用され
る。
【0039】ランタノイド酸化物に、例えば二種の改質
用元素を保有させる場合には、共沈法および含浸法が併
用される。
【0040】前記方法により得られる改質ランタノイド
酸化物は、改質用元素を担持したランタノイド酸化物
と、改質用元素の酸化物およびランタノイド酸化物より
なる複酸化物との混合物である。
【0041】改質ランタノイド酸化物における改質用元
素の含有量は、Zrが単独で用いられる場合には3〜1
0重量%が適当であり、またLa,Siがそれぞれ単独
で用いられる場合には1〜10重量%が適当である。二
種以上の改質用元素を用いる場合、それらの合計含有量
は2〜20重量%が適当である。改質用元素の含有量が
少なくては前記のような改質効果が得られず、一方、過
剰になると、ランタノイド酸化物の特性が損なわれるか
らである。
【0042】複酸化物の製造に当っては次のような方法
が実施される。即ち、(a)複数の酢酸塩を所定の割合
で純水に溶解する。(b)溶解液にアルカリ溶液(例え
ば、NaOH溶液)を滴下してpH≧9にすると共に加
水分解を行って沈澱物を得る。(c)沈澱物を濾別し、
その沈澱物を純水で洗浄した後150℃にて乾燥してケ
ークを得る。(d)ケークに電気炉中、空気存在下にお
いて分解、焼成処理を施す。
【0043】例えば、LaCoO3 を製造する場合、酢
酸塩としては、La(OCOCH33 およびCo(O
COCH3 2 が用いられ、焼成温度は700℃に、焼
成時間は5時間にそれぞれ設定される。
【0044】結晶子径D(hkl) の算出にはシェラー式、
即ち、D(hkl) =0.9λ/(β1/2 ・cos θ)を用い
た。ここで、hklはミラー指数、λは特性X線の波長
(Å)、β1/2 は(hkl)面の半価幅(ラジアン)、
θはX線反射角度である。したがって、酸化物系セラミ
ックスのX線回折図より(hkl)面、例えばCeO2
では(111)面の半価幅β1/2 を測定することによっ
て各結晶子のD(111) を算出し、それらから平均結晶子
径Dを求めた。
【0045】B.排気ガス浄化用触媒 触媒は、基本的には酸化物系セラミックスとゼオライト
とから構成される。
【0046】酸化物系セラミックスとしてランタノイド
酸化物または改質ランタノイド酸化物を用いた場合に
は、その含有量Cは10重量%≦C≦80重量%に設定
される。また複酸化物を用いた場合には、その含有量C
は20重量%≦C≦80重量%に設定される。さらにラ
ンタノイド酸化物および複酸化物の混合物を用いた場合
には、その混合物の含有量Cは20重量%≦C≦80重
量%に設定され、且つランタノイド酸化物および複酸化
物の含有量C1 ,C2 はC1 ,C2 ≧10重量%に設定
される。
【0047】ゼオライトとしては、ZSM−5ゼオライ
ト、モルデナイト等が用いられる。ゼオライトは未改質
のものでもよいが、脱Al処理による改質ゼオライトは
1000℃程度の耐熱温度を有し、また広い排気ガス温
度範囲において優れたHC吸着能を発揮する。
【0048】脱Al処理としては、酸処理、スチーム処
理または沸騰水処理の少なくとも一つの処理が適用され
る。
【0049】酸処理は次のような手順で行われる。
(a)未改質ゼオライトを、水を入れた処理槽中に投入
して12規定のHClを徐々に加え、また溶液を加熱し
て90℃で、且つ5規定のHCl溶液にする。(b)こ
の温度下に未改質ゼオライトを20時間保持し、同時に
HCl溶液を攪拌する。この場合、処理槽に冷却塔を付
設してHCl溶液の濃度を5規定に維持する。(c)5
規定のHCl溶液を室温まで冷却する。(d)このよう
にして得られた改質ゼオライトを濾別して、pH4以上
になるまで純水で洗浄し、次いで400℃にて、24時
間乾燥する。
【0050】他の酸処理では、0.5〜5NのHCl溶
液を70〜90℃に昇温し、そのHCl溶液中に未改質
ゼオライトを投入して1〜20時間攪拌する、といった
方法が採用される。
【0051】また沸騰水処理では、未改質ゼオライトに
含水処理を施し、その含水状態の未改質ゼオライト周り
の雰囲気温度を550〜600℃まで昇温し、その高温
雰囲気下に未改質ゼオライトを4時間程度保持する、と
いった方法が採用される。
【0052】さらにスチーム処理では、未改質ゼオライ
トを、10%程度の水分を含む750〜900℃の雰囲
気下に10〜20時間保持する、といった方法が採用さ
れる。
【0053】これら酸処理、沸騰水処理およびスチーム
処理は、単独または2以上組合わせて適用され、また必
要に応じて繰返される。これにより改質ゼオライトが得
られ、そのSiO2 /Al2 3 モル比MrはMr=3
6〜800が適当である。
【0054】またゼオライトとしては、ゼオライトにA
gを担持させたものも用いられ、そのAgの担持量CA
は1重量%≦CA≦10重量%に設定される。このAg
担持ゼオライトは不飽和HCに対する吸着能が高く、ま
たその不飽和HCからはNO還元能の高い活性CHOが
生成され易いので、NO浄化率を向上させる上で有効で
ある。ゼオライトに対するAgの担持法としては含浸担
持法、イオン交換法等が適用される。
【0055】〔実施例1〕ランタノイド酸化物であるC
eO2 のNO吸着能について次のようなテストを行っ
た。
【0056】先ず、テスト用ガスとして、体積比率で、
10%O2 、10%CO2 、1200ppm C3 6 、1
000ppm CO、1200ppm NO、500ppm H2
10%H2 Oおよび残部N2 よりなるガスを調製した。
また平均結晶子径Dを異にする複数のCeO2 を調製し
た。
【0057】NO吸着テストは、前記テスト用ガスを、
20gのCeO2 ペレットを充填した常圧固定床反応管
内に流量25000ml/min で流通させると共にテスト
用ガスの温度を常温〜400℃まで15℃/min で昇温
させ、この間におけるCeO 2 1g当りのNO吸着量
(ml)を求めることによって行われた。
【0058】表1は、CeO2 の例1〜7の平均結晶子
径DとNO吸着量を示す。
【0059】
【表1】 図2は、表1に基づいてCeO2 の平均結晶子径DとN
O吸着量との関係をプロットしたものである。図中、点
1〜7は例1〜7にそれぞれ対応する。この各点と各例
の関係は以後同じである。
【0060】図2より、CeO2 の平均結晶子径DをD
<500Åに設定した例1〜6は、D≧500Åである
例7に比べて優れたNO吸着能を有することが判る。C
eO 2 の平均結晶子径Dは好ましくはD≦300Åであ
る。
【0061】またCeO2 の例1および例7を用い、前
記NO吸着テストにおいて、テスト用ガスの温度を常温
〜500℃まで15℃/min で昇温させ、この間のNO
吸着率を測定したところ、図3の結果を得た。
【0062】図3において、NO吸着率がマイナスの値
をとる領域は、CeO2 に吸着されたNOが離脱してい
ることを示し、したがってNOの離脱温度は約400℃
であることが判る。
【0063】このことから、CeO2 の例1と、ガス温
度300〜500℃でNO還元能を発揮する触媒、例え
ばAl2 3 にPtを担持させた触媒とを組合せること
により、CeO2 のNO濃縮能を有効に利用した排気ガ
ス浄化用触媒を構成することが可能である。
【0064】〔実施例2〕実施例に係る排気ガス浄化用
触媒は、平均結晶子径DがD<500ÅであるCeO2
と、ゼオライトとから構成され、CeO2 の含有量Cは
10重量%≦C≦80重量%に設定された。
【0065】ゼオライトとしては、SiO2 /Al2
3 モル比MrがMr=30の未改質H型ZSM−5ゼオ
ライトおよびそのゼオライトに前記脱Al処理を施して
得られたMr=36(脱Al率12%)の改質H型ZS
M−5ゼオライトを用いた。
【0066】触媒の製造は次のような方法で行われた。
先ず、所定の平均結晶子径Dを有するCeO2 と、前記
ゼオライトとを所定の重量比率で配合し、その配合物5
0gと、直径10mmのアルミナボール100gと、シリ
カゾル(SiO2 量は20重量%)25gと、水50g
とをボールミルに投入して12時間以上混合し、次いで
混合物を150℃にて乾燥し、その後400℃で20時
間焼成してペレット状触媒を得た。
【0067】また比較のため、Pt/Al2 3 触媒を
次のような方法で製造した。先ず、Al2 3 として市
販の活性Al2 3 50gと、前記同様のアルミナボー
ル100gと、前記同様のシリカゾル25gと、水50
gとをボールミルに投入して12時間以上混合し、次い
で混合物を150℃にて乾燥し、その後400℃で20
時間焼成してペレットを得た。そのペレットを90mlの
塩化白金酸溶液(Pt濃度0.35%)に20時間浸漬
してペレットに塩化白金酸を含浸担持させ、次いでその
ペレットを濾別し、その後純水による洗浄、150℃に
て乾燥、600℃で1時間の焼成を順次行って、触媒P
t/Al2 3 を得た。この触媒におけるPt担持量は
0.53重量%であった。
【0068】NO浄化テストは、前記と同一組成のテス
ト用ガスを、20gの触媒を充填した常圧固定床反応管
内に流量25000ml/min で流通させると共にテスト
用ガスの温度を常温〜約570℃まで15℃/min で昇
温させ、この間のNO浄化率を測定することによって行
われた。
【0069】表2は、各種触媒の組成を示す。この場
合、CeO2 の平均結晶子径DはD=21Åである。表
中、「改質ZSM−5」は改質H型ZSM−5ゼオライ
トを意味し、これは以後同じである。
【0070】
【表2】 図4は、前記NO浄化テストにおける各触媒の例1〜8
のCeO2 含有量と最大NO浄化率との関係を示す。こ
のNO浄化テストにおいては、最大NO浄化率が25%
以上である場合を良とし、したがって図4よりCeO2
の含有量Cは、例2〜6の如く、10重量%≦C≦80
重量%に設定される。
【0071】表3は、各種触媒の組成、CeO2 の平均
結晶子径Dおよび各温度におけるNO浄化率を示す。表
3には表2に挙げた例1,3〜5,8も含まれている。
表中、「未改質ZSM−5」は未改質Na型ZSM−5
ゼオライトを意味し、これは以後同じである。
【0072】
【表3】 図5は、触媒の例4,12〜14のガス温度とNO浄化
率との関係を示す。
【0073】表3,図5より、実施例に係る触媒の例3
〜5,9〜12は比較例に係る触媒の例1,8,13,
14に比べて各温度におけるNO浄化率が高いことが判
る。
【0074】図6は、触媒の例4におけるガス温度とH
CおよびNO浄化率との関係を示す。図6において、H
Cの浄化は、主として改質H型ZSM−5ゼオライトに
よるHCの吸着に起因するもので、したがって広いガス
温度範囲において前記ゼオライトによるHCの吸着、そ
の部分酸化による活性CHOの生成が行われており、そ
の結果、NO浄化率がガス温度の上昇に伴い増加する。
【0075】図7は、触媒の例14におけるガス温度と
HCおよびNO浄化率との関係を示す。図7のガス温度
約250〜約300℃におけるHCの浄化はPt/Al
2 3 触媒によるHCの吸着、その部分酸化に起因する
ものであり、その結果、NO浄化率は向上するが、ガス
温度が約300℃を越えると、HCの完全酸化、即ちH
C→H2 O+CO2 の化学反応が主として進行するた
め、部分酸化反応の減退に伴い活性CHOの生成が極端
に減少し、その結果、NO浄化率は低下する。
【0076】〔実施例3〕実施例に係る排気ガス浄化用
触媒の一例は、平均結晶子径DがD<500ÅであるL
aCoO3 とゼオライトとから構成され、LaCoO3
の含有量Cは20重量%≦C≦80重量%に設定され
た。
【0077】また触媒の他例は、前記触媒におけるLa
CoO3 にPtを担持させたものであり、この場合Pt
の担持量CAは0.01重量%≦CA≦0.5重量%に
設定された。Ptは排気ガス温度約250〜約350℃
において、HCの部分酸化を促進する作用を有する。P
tの担持量CAがCA<0.01重量%では前記作用を
得ることができず、一方、CA>0.5重量%ではHC
の完全酸化反応が進行する。
【0078】LaCoO3 に対するPtの担持法として
は、LaCoO3 を塩化白金酸溶液に浸漬し、次いで6
00℃で焼成するか、またはLaCoO3 の原料酸化物
中に白金塩を加え、次いで焼成する、といった方法を挙
げることができる。本実施例では、前者により0.03
重量%のPtを担持させたLaCoO3 を用いた。
【0079】実施例2の改質H型ZSM−5ゼオライト
および未改質H型ZSM−5ゼオライトと、LaCoO
3 と、Pt/LaCoO3 とを用い、実施例2と同様の
方法により各種ペレット状触媒を製造し、それら触媒に
ついて実施例2と同様のNO浄化テストを行った。
【0080】表4は、各種触媒の組成を示す。この場
合、LaCoO3 の平均結晶子径DはD=490Åであ
る。
【0081】
【表4】 図8は、前記NO浄化テストにおける各触媒の例1〜1
0のLaCoO3 含有量と最大NO浄化率との関係を示
す。このNO浄化テストにおいては、最大NO浄化率が
20%以上である場合を良とし、したがって図8よりL
aCoO3 の含有量Cは、例3〜8の如く、20重量%
≦C≦80重量%に設定される。
【0082】表5は、各種触媒の組成および各温度にお
けるNO浄化率を示す。表5には表4に挙げた例5も含
まれ、また比較のため前記触媒Pt/Al2 3 も例1
3として含まれている。
【0083】
【表5】 図9は、触媒の例5,11〜13のガス温度とNO浄化
率との関係を示す。
【0084】表5,図9より、実施例に係る触媒の例5
〜12は比較例に係る触媒の例13に比べて各温度にお
けるNO浄化率が高いことが判る。
【0085】図10は、触媒の例11におけるガス温度
とHCおよびNO浄化率との関係を示す。比較のため、
例13(Pt/Al2 3 )のHCおよびNO浄化率も
挙げてある。
【0086】図10より触媒の例11では広いガス温度
範囲において改質H型ZSM−5ゼオライトによるHC
の吸着、その部分酸化による活性CHOの生成が行われ
ており、その結果、NO浄化率がガス温度の上昇に伴い
増加することが判る。
【0087】〔実施例4〕実施例に係る排気ガス浄化用
触媒の一例は、平均結晶子径DがD<500ÅであるC
eO2 および同様の平均結晶子径Dを持つLaCoO3
の混合物と、ゼオライトとから構成され、混合物の含有
量Cは20重量%≦C≦80重量%に設定され、またC
eO2 およびLaCoO3 の含有量C1 ,C2 はC1
2 ≧10重量%に設定された。
【0088】また触媒の他例は、前記触媒におけるLa
CoO3 に、実施例3と同様にPtを担持させたもので
あり、この場合Ptの担持量CAは、実施例3と同様に
0.01重量%≦CA≦0.5重量%に設定された。
【0089】実施例2の改質H型ZSM−5ゼオライト
と、CeO2 と、LaCoO3 と、Pt/LaCoO3
とを用い、実施例2と同様の方法により各種ペレット状
触媒を製造し、それら触媒について実施例2と同様のN
O浄化テストを行った。
【0090】表6は、各種触媒の組成および最大NO浄
化率を示し、また図11は表6の組成をグラフ化したも
のである。この場合、CeO2 の平均結晶子径DはD=
21Åであり、またLaCoO3 のそれDはD=490
Åである。
【0091】
【表6】 このNO浄化テストにおいては、最大NO浄化率が40
%以上である場合を良とし、したがって表6,図11よ
り、例1〜9の如く、混合物の含有量Cは、20重量%
≦C≦80重量%に、またCeO2 の含有量C1 はC1
≧10重量%に、さらにLaCoO3 の含有量C2 はC
2 ≧10重量%にそれぞれ設定される。
【0092】図12は、触媒の例1と例1aのガス温度
とNO浄化率との関係を示す。その例1aにおいては、
例1と同量のLaCoO3 に0.03重量%のPtを担
持させたPt/LaCoO3 が用いられている。
【0093】図12から明らかなように、触媒の例1a
のようにPt/LaCoO3 を用いると、例1に比べて
最大NO浄化率が低温側へ移行し、したがって低温側で
のNO浄化能を向上させることができる。
【0094】図13は、触媒の例1におけるガス温度と
HCおよびNO浄化率との関係を示す。比較のため、前
記触媒Pt/Al2 3 のHCおよびNO浄化率も挙げ
てある。
【0095】図13より、触媒の例1では広いガス温度
範囲において改質H型ZSM−5ゼオライトによるHC
の吸着、その部分酸化による活性CHOの生成が行われ
ており、その結果、NO浄化率が触媒Pt/Al2 3
を用いた場合よりも増加することが判る。
【0096】〔実施例5〕実施例に係る排気ガス浄化用
触媒は、平均結晶子径DがD<500ÅであるCeO2
と、Agを担持したゼオライトとから構成され、CeO
2 の含有量Cは10重量%≦C≦80重量%に、またA
gの担持量CAは1重量%≦CA≦10重量%にそれぞ
れ設定された。
【0097】ゼオライトに対するAgの担持法としては
イオン交換法を適用した。例えば、改質H型ZSM−5
ゼオライト50gを0.2mol /リットルの硝酸銀溶液
に投入して50℃にて18時間攪拌し、次いで濾別、水
洗、400℃で24時間の焼成を順次行うことによっ
て、Ag担持量CAがCA=2.2重量%の改質H型Z
SM−5ゼオライトを得ることができる。
【0098】実施例2の改質H型ZSM−5ゼオライト
および未改質H型ZSM−5ゼオライトにそれぞれAg
を担持させたものと、Agを担持させてない改質H型Z
SM−5ゼオライトと、CeO2 とを用い、実施例2と
同様の方法により各種ペレット状触媒を製造し、それら
触媒について実施例2と同様のNO浄化テストを行っ
た。
【0099】表7は、各種触媒の組成、CeO2 の平均
結晶子径Dおよび各温度におけるNO浄化率を示す。
【0100】
【表7】 表7より、実施例に係る触媒の例1〜3および例5は比
較例に係る触媒の例4に比べて各温度におけるNO浄化
率が高いことが判る。
【0101】図14は、触媒の例1,2,5のガス温度
とNO浄化率との関係を示す。例1,2は、Agの担持
に伴いガス温度400℃と500℃の間で最大NO浄化
率を示し、一方、例5はガス温度の上昇に伴いNO浄化
率が向上している。したがって例1,2と例5とを組合
せることによって、広いガス温度範囲においてNO浄化
能を発揮する触媒を構成することができる。
【0102】図15は、触媒の例1におけるガス温度と
HCおよびNO浄化率との関係を示す。比較のため、前
記触媒Pt/Al2 3 のHCおよびNO浄化率も挙げ
てある。
【0103】図15より、触媒の例1では広いガス温度
範囲においてAg担持改質H型ZSM−5ゼオライトに
よるHCの吸着、その部分酸化による活性CHOの生成
が行われており、その結果、NO浄化率が触媒Pt/A
2 3 を用いた場合よりも増加することが判る。
【0104】〔実施例6〕実施例に係る排気ガス浄化用
触媒の一例は、平均結晶子径DがD<500Åでをある
LaCoO3 と、実施例5と同様にAgを担持したゼオ
ライトとから構成される。LaCoO3 の含有量Cは2
0重量%≦C≦80重量%に、またAgの担持量CAは
実施例5と同様に1重量%≦CA≦10重量%にそれぞ
れ設定された。
【0105】また触媒の他例は、前記触媒におけるLa
CoO3 に実施例3と同様にPtを担持させたものであ
り、この場合Ptの担持量CAは実施例3と同様に0.
01重量%≦CA≦0.5重量%に設定された。
【0106】実施例2の改質H型ZSM−5ゼオライト
および未改質H型ZSM−5ゼオライトにそれぞれAg
を担持させたものと、Agを担持させてない改質H型Z
SM−5ゼオライトと、LaCoO3 と、0.03重量
%のPtを担持したPt/LaCoO3 とを用い、実施
例2と同様の方法により各種ペレット状触媒を製造し、
それら触媒について実施例2と同様のNO浄化テストを
行った。
【0107】表8は、各種触媒の組成および各温度にお
けるNO浄化率を示す。この場合、LaCoO3 の平均
結晶子径DはD=490Åである。
【0108】
【表8】 表8より、Agを担持した改質H型ZSM−5ゼオライ
トを用いた実施例に係る触媒の例1,2は、Agを持た
ない触媒の例4に比べて各温度におけるNO浄化率が高
いことが判る。未改質H型ZSM−5ゼオライトにAg
を担持させた触媒の例3は、その特性が例1,2に比べ
て劣る。
【0109】図16は、触媒の例1〜4のガス温度とN
O浄化率との関係を示す。例1〜3は、Agの担持に伴
いガス温度400℃と500℃の間で最大NO浄化率を
示し、一方、例4はガス温度の上昇に伴いNO浄化率が
向上している。したがって例1〜3と例4とを組合せる
ことによって、広いガス温度範囲においてNO浄化能を
発揮する触媒を構成することができる。
【0110】図17は、触媒の例1におけるAg担持量
と最大NO浄化率との関係を示す。図17から明らかな
ように、Agの担持量CAを1重量%≦CA≦10重量
%に設定することによって、NO浄化能を向上させるこ
とができる。
【0111】図18は、触媒の例1におけるガス温度と
HCおよびNO浄化率との関係を示す。比較のため、前
記触媒Pt/Al2 3 のHCおよびNO浄化率も挙げ
てある。
【0112】図18より、触媒の例1では広いガス温度
範囲においてAg担持改質H型ZSM−5ゼオライトに
よるHCの吸着、その部分酸化による活性CHOの生成
が行われており、その結果、NO浄化率が触媒Pt/A
2 3 を用いた場合よりも増加することが判る。
【0113】〔実施例7〕実施例に係る排気ガス浄化用
触媒の一例は、平均結晶子径DがD<500ÅであるC
eO2 および同様の平均結晶子径Dを持つLaCoO3
の混合物と、実施例5と同様にAgを担持したゼオライ
トとから構成される。混合物の含有量Cは20重量%≦
C≦80重量%に設定され、またCeO2 およびLaC
oO3 の含有量C1 ,C2 はC1 ,C2 ≧10重量%に
設定され、さらにAgの担持量CAは実施例5と同様に
1重量%≦CA≦10重量%に設定された。
【0114】また触媒の他例は、前記触媒におけるLa
CoO3 に、実施例3と同様にPtを担持させたもので
あり、この場合Ptの担持量CAは、実施例3と同様に
0.01重量%≦CA≦0.5重量%に設定された。
【0115】実施例2の改質H型ZSM−5ゼオライト
および未改質H型ZSM−5ゼオライトにそれぞれAg
を担持させたものと、Agを担持させてない改質H型Z
SM−5ゼオライトと、CeO2 と、LaCoO3 と、
0.03重量%のPtを担持したPt/LaCoO3
を用い、実施例2と同様の方法により各種ペレット状触
媒を製造し、それら触媒について実施例2と同様のNO
浄化テストを行った。
【0116】表9は、各種触媒の組成および各温度にお
けるNO浄化率を示す。この場合、LaCoO3 の平均
結晶子径DはD=490Åである。
【0117】
【表9】 図19は、触媒の例1,2,5におけるガス温度とNO
浄化率との関係を示す。表9,図19より、触媒の例1
は触媒の例5に比べて、Agの担持に伴いNO浄化率が
向上することが判る。また触媒の例1,2を比較する
と、Ptの担持に伴い最大NO浄化率が低温側へ移行す
る。
【0118】表9において、触媒の例2,3を比較する
と、CeO2 の平均結晶子径DがNO浄化率に影響を与
えていることが明らかであり、例3は未改質H型ZSM
−5ゼオライトを用いた例4よりも特性が低下する。
【0119】図20は、触媒の例1におけるガス温度と
HCおよびNO浄化率との関係を示す。比較のため、前
記触媒Pt/Al2 3 のHCおよびNO浄化率も挙げ
てある。
【0120】図20より、触媒の例1では広いガス温度
範囲においてAg担持改質H型ZSM−5ゼオライトに
よるHCの吸着、その部分酸化による活性CHOの生成
が行われており、その結果、NO浄化率が触媒Pt/A
2 3 を用いた場合よりも増加することが判る。
【0121】〔実施例8〕 A.改質用元素を保有する改質CeO2 の製造 Ce(NO3 3 およびZr(NO3 4 を用い、前記
共沈法の適用下で、Zrを保有する改質CeO2 を製造
した。
【0122】またCe(NO3 3 およびZr(N
3 4 を用い、前記共沈法の適用下で、Zrを保有す
るCeO2 を製造し、次いでそのCeO2 を用い、また
La(NO3 3 を用いて前記含浸法の適用下で、Zr
およびLaを保有する改質CeO 2 を製造した。
【0123】さらに、La(NO3 3 およびCeO2
粉末を用い、前記含浸法の適用下で、Laを保有する2
種の改質CeO2 を製造した。
【0124】さらにまた、Ce(NO3 3 およびケイ
酸を用い、前記共沈法の適用下で、Siを保有する改質
CeO2 を製造した。
【0125】比較のためCe(NO3 3 およびBa
(NO3 2 を用い、前記共沈法の適用下で、Baを保
有する改質CeO2 を製造した。 B.改質ZSM−5ゼオライトの製造 (a) SiO2 /Al2 3 モル比Mr=30の未改
質ZSM−5ゼオライト500gを室温下の5N HC
l溶液中に投入し、次いでそのHCl溶液を90℃に昇
温し、その温度下で12時間攪拌を行ってスラリー状物
を得た。 (b) 冷却後、スラリー状物を濾過し、次いで濾液の
pHがpH≧4になるまで固形分を純水にて洗浄した。 (c) 固形分に、大気中、130℃、5時間の条件で
乾燥処理を施し、次いで乾燥後の固形分に、大気中、4
00℃、12時間の焼成処理を施して塊状の改質ZSM
−5ゼオライトを得た。 (d) 塊状改質ZSM−5ゼオライトに粉砕処理を施
して粉末状改質ZSM−5ゼオライトを得た。この改質
ZSM−5ゼオライトのSiO2 /Al2 3 モル比M
rはMr=39であり、したがって脱Alが発生してい
ることが判る。また改質ZSM−5ゼオライトの耐熱温
度は1000℃であった。 C.触媒の製造 改質CeO2 120g、改質ZSM−5ゼオライト60
g、20%シリカゾル100gおよび純水360gと、
アルミナボールとをポットに投入して、12時間の湿式
粉砕を行ってスラリー状触媒を調製した。この場合、改
質CeO2 含有量CはC≒67重量%である。
【0126】このスラリー状触媒に直径25.5mm、長
さ60mm、400セル/in2 、6ミルのコージエライ
ト製ハニカム支持体を浸漬し、次いでそのハニカム支持
体をスラリー状触媒より取出して過剰分をエア噴射によ
り除去し、その後ハニカム支持体を150℃の加熱下に
1時間保持してスラリー状触媒を乾燥し、さらにハニカ
ム支持体に、電気炉を用いて大気中、400℃、12時
間の条件で焼成処理を施して、触媒をハニカム支持体に
保持させた。この場合、ハニカム支持体における触媒の
保持量は152g/リットルであった。 D.排気ガス想定NO浄化テスト テスト用ガスとして、体積比率で、10%CO2 、0.
05%H2 、0.08%C3 6 、0.08%NO、
0.1%CO、10%O2 、10%H2 Oおよび残部N
2 よりなるガスを調製した。
【0127】NO浄化テストは、触媒を保持するハニカ
ム支持体を固定床流通式反応装置に設置し、次いでその
装置内にテスト用ガスを空間速度S.V.=5×104
-1で流通させ、またテスト用ガスの温度を所定の昇温
速度で50℃宛上昇させると共にその温度下に保持す
る、つまり50℃間隔の定常状態を現出させ、その温度
におけるNO浄化率を測定することによって行われた。
【0128】表10は、未使用触媒の例1〜7に関する
改質CeO2 におけるCeO2 の平均結晶子径D、改質
用元素、改質CeO2 における改質用元素の重量比率お
よび各測定温度におけるNO浄化率を示す。表10に
は、未改質のCeO2 を用い、改質CeO2 を用いなか
った触媒の例8に関するデータも掲載されている。
【0129】
【表10】 表10より、実施例に係る触媒の例1〜5は、比較例に
係る触媒の例6,7に比べて優れたNO浄化率を有する
ことが判る。また未使用状態においては、Zr、または
ZrおよびLaを保有する改質CeO2 を用いた触媒の
例1,2は未改質のCeO2 を用いた触媒の例8に比べ
てNO浄化率が高くなるが、LaのみまたはSiのみを
保有する改質CeO2 を用いた触媒の例3〜5は触媒の
例8と略同等のNO浄化特性を示す。
【0130】次に、未使用触媒の例1〜5,8に、大気
中、700℃、20時間の熱劣化処理を施し、その後、
それら触媒の例1〜5,8を用いて前記と同一条件にて
NO浄化テストを行ったところ、表11の結果を得た。
【0131】
【表11】 表11より、実施例に係る触媒の例1〜5は、熱劣化処
理後において、触媒の例8に比べNO浄化率が大幅に高
く、したがって優れた耐熱劣化性を有することが判る。
このNO浄化率の差は、改質CeO2 と未改質のCeO
2 との物性差に起因する。なお、表10,11を比較す
ると、前記熱劣化処理によりCeO2 の平均結晶子径D
が大きくなることが判る。
【0132】
【発明の効果】請求項1〜3記載の発明によれば、平均
結晶子径Dを前記のように特定された酸化物系セラミッ
クスよりなり、窒素酸化物に対して優れた吸着能を発揮
し得る吸着材を提供することができる。
【0133】また請求項4〜17記載の発明によれば、
前記吸着材を必須構成要素とし、広い排気ガス温度範囲
において窒素酸化物に対し浄化能を発揮し得る触媒を提
供することができる。これら触媒において、請求項6〜
11記載の発明によれば、触媒の耐熱劣化性を大幅に向
上させることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】酸化物系セラミックスの説明図である。
【図2】CeO2 の平均結晶子径DとNO吸着量との関
係を示すグラフである。
【図3】ガス温度とNO吸着率との関係を示すグラフで
ある。
【図4】CeO2 含有量と最大NO浄化率との関係を示
すグラフである。
【図5】ガス温度とNO浄化率との関係を示す第1例の
グラフである。
【図6】ガス温度とHCおよびNO浄化率との関係を示
す第1例のグラフである。
【図7】ガス温度とHCおよびNO浄化率との関係を示
す第2例のグラフである。
【図8】LaCoO3 含有量と最大NO浄化率との関係
を示すグラフである。
【図9】ガス温度とNO浄化率との関係を示す第2例の
グラフである。
【図10】ガス温度とHCおよびNO浄化率との関係を
示す第3例のグラフである。
【図11】触媒構成要素の含有量を示すグラフである。
【図12】ガス温度とNO浄化率との関係を示す第3例
のグラフである。
【図13】ガス温度とHCおよびNO浄化率との関係を
示す第4例のグラフである。
【図14】ガス温度とNO浄化率との関係を示す第4例
のグラフである。
【図15】ガス温度とHCおよびNO浄化率との関係を
示す第5例のグラフである。
【図16】ガス温度とNO浄化率との関係を示す第5例
のグラフである。
【図17】Ag担持量と最大NO浄化率との関係を示す
グラフである。
【図18】ガス温度とHCおよびNO浄化率との関係を
示す第6例のグラフである。
【図19】ガス温度とNO浄化率との関係を示す第6例
のグラフである。
【図20】ガス温度とHCおよびNO浄化率との関係を
示す第7例のグラフである。
【符号の説明】
1 酸化物系セラミックス 2 結晶子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B01D 53/81 53/86 ZAB 53/94 B01J 29/06 ZAB A 29/42 ZAB A B01D 53/36 102 H 102 D (72)発明者 藤澤 義和 埼玉県和光市中央1丁目4番1号 株式会 社本田技術研究所内

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 平均結晶子径DがD<500Åである酸
    化物系セラミックスよりなることを特徴とする窒素酸化
    物用吸着材。
  2. 【請求項2】 前記酸化物系セラミックスはランタノイ
    ド酸化物である、請求項1記載の窒素酸化物用吸着材。
  3. 【請求項3】 前記ランタノイド酸化物はCeO2 であ
    る、請求項2記載の窒素酸化物用吸着材。
  4. 【請求項4】 平均結晶子径DがD<500Åである酸
    化物系セラミックスとゼオライトとからなり、前記酸化
    物系セラミックスはランタノイド酸化物であって、その
    ランタノイド酸化物の含有量Cが10重量%≦C≦80
    重量%であることを特徴とする排気ガス浄化用触媒。
  5. 【請求項5】 前記ランタノイド酸化物はCeO2 であ
    る、請求項4記載の排気ガス浄化用触媒。
  6. 【請求項6】 平均結晶子径DがD<500Åである酸
    化物系セラミックスとゼオライトとからなり、前記酸化
    物系セラミックスは、ランタノイド酸化物にZr、La
    およびSiから選択される少なくとも一種の改質用元素
    を保有させた改質ランタノイド酸化物であって、その改
    質ランタノイド酸化物の含有量Cが10重量%≦C≦8
    0重量%であることを特徴とする排気ガス浄化用触媒。
  7. 【請求項7】 前記改質用元素はZrである、請求項6
    記載の排気ガス浄化用触媒。
  8. 【請求項8】 前記改質用元素はZrおよびLaであ
    る、請求項6記載の排気ガス浄化用触媒。
  9. 【請求項9】 前記改質用元素はLaである、請求項6
    記載の排気ガス浄化用触媒。
  10. 【請求項10】 前記改質用元素はSiである、請求項
    6記載の排気ガス浄化用触媒。
  11. 【請求項11】 前記ランタノイド酸化物はCeO2
    ある、請求項6,7,8,9または10記載の排気ガス
    浄化用触媒。
  12. 【請求項12】 平均結晶子径DがD<500Åである
    酸化物系セラミックスとゼオライトとからなり、前記酸
    化物系セラミックスは複酸化物であって、その複酸化物
    の含有量Cが20重量%≦C≦80重量%であることを
    特徴とする排気ガス浄化用触媒。
  13. 【請求項13】 前記複酸化物はペロブスカイト型構造
    を有する、請求項12記載の排気ガス浄化用触媒。
  14. 【請求項14】 平均結晶子径DがD<500Åである
    酸化物系セラミックスとゼオライトとからなり、前記酸
    化物系セラミックスはランタノイド酸化物および複酸化
    物の混合物であって、その混合物の含有量Cが20重量
    %≦C≦80重量%であり、前記ランタノイド酸化物の
    含有量C1 はC1 ≧10重量%に、また前記複酸化物の
    含有量C2 はC2 ≧10重量%にそれぞれ設定されてい
    ることを特徴とする排気ガス浄化用触媒。
  15. 【請求項15】 前記ランタノイド酸化物はCeO2
    あり、また前記複酸化物はペロブスカイト型構造を有す
    る、請求項14記載の排気ガス浄化用触媒。
  16. 【請求項16】 前記ゼオライトはAgを担持してお
    り、そのAgの担持量CAが1重量%≦CA≦10重量
    %である、請求項4,5,6,7,8,9,10,1
    1,12,13,14または15記載の排気ガス浄化用
    触媒。
  17. 【請求項17】 前記ゼオライトは、未改質ゼオライト
    に脱Al処理を施して得られた耐熱性改質ゼオライトで
    ある、請求項4,5,6,7,8,9,10,11,1
    2,13,14,15または16記載の排気ガス浄化用
    触媒。
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