JPH07153869A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH07153869A JPH07153869A JP5300274A JP30027493A JPH07153869A JP H07153869 A JPH07153869 A JP H07153869A JP 5300274 A JP5300274 A JP 5300274A JP 30027493 A JP30027493 A JP 30027493A JP H07153869 A JPH07153869 A JP H07153869A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ground
- hole
- electrically connected
- layer
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/13—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the shape
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49811—Additional leads joined to the metallisation on the insulating substrate, e.g. pins, bumps, wires, flat leads
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49838—Geometry or layout
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/50—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor for integrated circuit devices, e.g. power bus, number of leads
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/49105—Connecting at different heights
- H01L2224/49109—Connecting at different heights outside the semiconductor or solid-state body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01023—Vanadium [V]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01029—Copper [Cu]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/013—Alloys
- H01L2924/014—Solder alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/1515—Shape
- H01L2924/15153—Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/1517—Multilayer substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15312—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a pin array, e.g. PGA
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1532—Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/161—Cap
- H01L2924/1615—Shape
- H01L2924/16195—Flat cap [not enclosing an internal cavity]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/30107—Inductance
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0296—Conductive pattern lay-out details not covered by sub groups H05K1/02 - H05K1/0295
- H05K1/0298—Multilayer circuits
Abstract
線板パッケージに関し、動作周波数の高周波化にともな
つて発生し易くなるノイズを抑えることを目的とする。 【構成】 半導体素子12及び多層プリント配線板13
Aを有する。配線板13Aは、底面に、電源ランド電極
25,グランドランド電極26,信号ランド電極27を
有する。更に配線板13Aの底面に、電極25,26,
27を囲むように、帯状のグランドパターン60を有
し、且つこのグランドパターンの部位に、第2のグラン
ドスルーホール64を多数有して構成する。
Description
多層プリント配線基板を有する半導体装置に関する。
い、これに使用される半導体装置の動作周波数は数10
MHzから数100MHzと高くなってきている。
導体装置は、ノイズを発生し易くなる。ノイズは、電源
系配線に付随するインダクタンスが原因でトランジスタ
のスイッチング時の過度的な電流変化にともなって生ず
る。
響を与えるため、最小限に抑える必要がある。
層(平面導体層)のうち実効的に電流が流れる領域が拡
大すると、上記の電源系配線に付随するインダクタンス
が低減される。このため、ノイズを低減するには、ベタ
のグランド層において実効的に電流が流れる領域を拡大
させることが有効である。
d Array )型プリント配線板パッケージ10を示す。
と、半導体素子12と、多層プリント配線板13と、蓋
14とを有する。
5,ベタのグランド層16(図8参照)、信号用配線パ
ターン層17を有し、且つ、電源スルーホール18,グ
ランドスルーホール19,信号スルーホール20を有
し、中央に開口21を有し、且つ開口21の周囲の段部
22上にワイヤーボンディング用のインナーパターン2
3を有する。
に、電源スルーホール18と電気的に接続された電源ラ
ンド電極25,グランドスルーホール19と電気的に接
続されたグランドランド電極26,及び信号スルーホー
ル20と電気的に接続された信号ランド電極27を、千
鳥足状に配してなる。
を、ソケット30のピン31に突き当てて実装される。
に蓋14の周囲の部分に千鳥足状に配されている。図示
の便宜上、一部については図示を省略してある。図6
中、ハッチングを付したものがグランドランド電極26
であり、略均一に分散させて配してある。
ドスルーホール19)を略均一に分散させて配すること
により、グランドの強化を図ってノイズを抑えていた。
において、グランド層16のうち、実効的に電流が流れ
る領域である実効電流領域40は、図8中、クロスハッ
チングで示す比較的狭い領域に限られていた。
ンスを十分に低減させることが困難であり、半導体装置
の動作周波数が数10MHzから数100MHzと高く
なってくると、ノイズを十分に抑えることが困難となっ
てきている。
体装置を提供することを目的とする。
体素子と、電源層、グランド層、信号用配線パターン層
を内部に有し、且つ該電源層と電気的に接続された電源
スルーホール、該グランド層と電気的に接続された第1
のグランドスルーホール、及び該信号用配線パターン層
と電気的に接続された信号スルーホールを有し、且つ底
面に上記電極スルーホールと電気的に接続された電源ラ
ンド電極、上記第1のグランドスルーホールと電気的に
接続されたグランドランド電極、及び上記信号スルーホ
ールと電気的に接続された信号ランド電極を有し、上記
半導体素子が電気的に接続されている基板を有する半導
体装置において、上記基板を、その底面の所定部位に、
グランドパターンを有し、且つ、該グランドパターンの
部位に、上記グランド層と電気的に接続された第2のグ
ランドスルーホールを複数有する構成としたものであ
る。
層、グランド層、信号用配線パターン層を内部に有し、
且つ該電源層と電気的に接続された電源スルーホール、
該グランド層と電気的に接続された第1のグランドスル
ーホール、及び該信号用配線パターン層と電気的に接続
された信号スルーホールを有し、且つ底面に上記電極ス
ルーホールと電気的に接続された電源ボール電極、上記
第1のグランドスルーホールと電気的に接続された第1
のグランドボール電極、及び上記信号スルーホールと電
気的に接続された信号ボール電極を有し、上記半導体素
子が電気的に接続されている基板を有する半導体装置に
おいて、上記基板を、その底面の所定部位に、グランド
パターンを有し、且つ、該グランドパターンの部位に、
上記グランド層と電気的に接続された第2のグランドス
ルーホールを複数有し、且つ、該グランドパターンの部
位に第2のグランドボール電極を複数有する構成とした
ものである。
層、グランド層、信号用配線パターン層を内部に有し、
且つ該電源層と電気的に接続された電源スルーホール、
該グランド層と電気的に接続された第1のグランドスル
ーホール、及び該信号用配線パターン層と電気的に接続
された信号スルーホールを有し、且つ底面に上記電極ス
ルーホールと電気的に固定された電源ピン電極、上記第
1のグランドスルーホールと電気的に固定された第1の
グランドピン電極、及び上記信号スルーホールに固定さ
れた信号ピン電極を有し、上記半導体素子が電気的に接
続されている基板を有する半導体装置において、上記基
板を、その底面の所定部位に、グランドパターンを有
し、且つ、該グランドパターンの部位に、上記グランド
層と電気的に接続された第2のグランドスルーホールを
複数有し、且つ、該第2のスルーホールに固定された第
2のグランドピン電極を有する構成としたものである。
ターンは、上記電源ランド電極、グランドランド電極、
信号ランド電極が配されている領域より外側の領域に、
上記基板の周囲に沿って帯状に形成してあり、4つの辺
部を有し、上記第2のグランドスルーホールは、上記辺
部に沿って並んだ構成としたものである。
ターンは、上記電源ボール電極、グランドボール電極、
信号ボール電極が配されている領域より外側の領域に、
上記基板の周囲に沿って帯状に形成してあり、4つの辺
部を有し、上記第2のグランドスルーホールは、上記辺
部に沿って並んだ構成としたものである。
ターンは、上記電源ピン電極、グランドピン電極、信号
ピン電極が配されている領域より外側の領域に、上記基
板の周囲に沿って帯状に形成してあり、4つの辺部を有
し、上記第2のグランドスルーホールは、上記辺部に沿
って並んだ構成としたものである。
のうちいずれか一項の第2のグランドスルーホールを、
上記辺部のうち、中央部分に、他の部分に比べて密に設
けた構成としたものである。
グランドパターンを設け、このグランドパターンの部位
に第2のグランドスルーホールを設けた構成は、第2の
グランドスルーホールを数多く形成し易くするように作
用すると共に、基板内部のグランド層のうち、実効的に
電流が流れる領域を拡大するように作用する。
ばソケットに固定して実装するときに多少の位置ずれが
あっても、接触不良を起きにくくするように作用する。
パターンを、電源ランド電極、グランドランド電極及び
信号ランド電極等が配されている領域より外側の領域
に、基板の周囲に沿って形成した構成は、グランドパタ
ーンが合理的に配されるように作用し、且つ第2のグラ
ンドスルーホールが基板の周囲に沿うように作用する。
第2のグランドスルーホールが基板の周囲に沿って並ん
だ構成は、実効電流領域を効果的に拡げるように作用す
る。
を、上記辺部のうち中央部分を密に設けた構成は、実効
電流領域を更に効果的に拡げるように作用する。
なるLGA型プリント配線板パッケージ50を示す。
で示してある。
応する部分には同一符号を付す。
部図示を省略してある。
3Aを除いて、図6及び図7のパッケージ10と同じで
あり、パッケージ10と同じ大きさである。
Cu製のヒートスプレッダ11の中央に接着してある。
に半導体素子12が位置するようにして、エポキシ接着
剤52によって、ヒートスプレッダ11上に接着固定し
てある。
の間に、ワイヤ28が張ってある。
覆われている。
る。
ン、55は半田である。
り、図6及び図7中、電極25,26,27が配されて
いる領域より外側の空いている空き領域29の部分に、
多層プリント配線板13Aの全周に亘って形成してあ
る。
-1〜61-4と、4つのコーナ部62 -1〜62-4とを有す
る。
であり、夫々多数の第2のグランドスルーホール64よ
りなり、夫々上記の辺部61-1〜61-4に形成してあ
る。
は、グランド層16と電気的に接続されており、且つ開
口の全周に亘る部分で、グランドベタ層60と電気的に
接続されている。
1-1のうちの中央部61-1a の密配置部63-1a と、辺
部61-1のうちコーナ部62-1,62-2寄りの部分61
-1b,61-1c の粗配置部63-1b ,63-1c とよりな
る。
ンドスルーホール64は、4列9行で密に並んでいる。
第2のグランドスルーホール64は、一列おき、一行お
きの4列8行で千鳥足状に粗に並んでいる。
-4も、上記のグランドスルーホール群63-1と同じく、
各辺部61-2〜61-4の中央部の密配置部63-2a 〜6
3-4 a と、コーナ部寄りの部分の粗配置部63-2b 〜6
3-4b ,63-2C 〜63-4Cとを有する構成である。
-4についてみると、グランドパターン60が各第2のグ
ランドスルーホール64に対するランド電極として機能
する。
ール64について一のランド電極を設ける必要がなく、
然して、第2のグランドスルーホール64は、前記の第
1のグランドスルーホール19のように一のスルーホー
ル毎に一のランド電極を設けた構成に比べて高い密度で
配置される。
比較的狭いけれども第2のグランドスルーホール64は
数多く形成されている。
ン32を有する。
ち、パッケージ50を取り付けたときに、グランドパタ
ーン60のうち第2のグランドスルーホール64の個所
からずれた部位に対応する部位に複数設けてある。
6,27をピン31と接触させて、且つグランドパター
ン60をピン32と接触させて、ソケット30Aに固定
されて実装され、この状態で動作される。
について説明する。
9に加えて、第2のグランドスルーホール64が設けら
れていることにより、第2には、第2のグランドスルー
ホール64が数多く設けられていることにより、第3に
は、第2のグランドスルーホール64がパッケージ50
の各辺の中央部分の方がコーナ側の部分より高い密度で
設けられていることによって、グランドパターン16の
うち実効的に電流が流れる領域が従来に比べて拡大し、
図3にクロスハッチングを付して示すように、グランド
パターン16の略全面が実効電流領域70となる。
小さく抑えられる。
てみると、パッケージ50がソケット30Aに対して多
少位置ずれしていても、グランドパターン60はピン3
2に確実に接触する。
BGA(Ball Grid Array )及びPGA(Pin Grid Arr
ay)のものにも適用しうる。 〔第2実施例〕図4は本発明の第2実施例によるBGA
型プリント配線板パッケージ80を示す。
分には同一構成部分には同一符号を付し、その説明は省
略する。
プリント配線板13Bとを有する。
ホール18の隣りの部位に設けてある。
第1のグランドスルーホール19の隣りの部位に設けて
ある。
ーホール20の隣りの部位に設けてある。
グランドパターン60の部位であって且つ、第2のグラ
ンドスルーホール64の隣りの部位に、多数設けてあ
る。
極81〜84が取り付けられている部分以外の部分に形
成してある。
ルダレジスト膜85をボール電極が取り付けられる予定
の部分だけが欠けた所定のパターンで形成し、次いで、
ソルダレジスト膜85が欠けている部分にボール電極を
取り付ける手順によって取り付けられる。
パッケージ50と同じく、グランド層の略全面が実効電
流領域となり、ノイズが効果的に抑制された特性を有す
る。 〔第3実施例〕図5は本発明の第3実施例になるPGA
型プリント配線板パッケージ90を示す。
分には同一符号を付し、その説明は省略する。
プリント配線板13Cとを有する。
ール18に差込まれて、半田95により半田付けされて
固定してある。
1のグランドスルーホール19に差込まれて半田付けさ
れて固定してある。
ール20に差込まれて半田付けされて固定してある。
ランドパターン60の部位において、第2のグランドス
ルーホール64に差込まれて半田付けされて、多数設け
てある。
96を、各スルーホールを避けた所定のパターンで形成
し、次いで、ピン電極91〜94を各スルーホール1
8,19,20,64に差し込み、最後に一括して半田
付けする手順によって固定される。
パッケージ50と同じく、グランド層の略全面が実効電
流領域となり、ノイズが効果的に抑制された特性を有す
る。
2及び請求項3の発明によれば、基板内部のグランド層
の略全面を、実効的に電流が流れる領域とすることが出
来、これによって、動作周波数が数10MHzから数1
00MHzと高い場合に発生し易いノイズを効果的に抑
えることが出来る。
ると、半導体装置とソケットとの間に多少の位置ずれが
ある場合であっても、グランドパターンとソケットのピ
ンとの電気的接続を確実にとることが出来る。
れば、第2のグランドスルーホールが基板の周囲に沿っ
て並んでいるため、グランド層のうち実効的に電流が流
れる領域を効果的に拡大することが出来、その分ノイズ
の発生を抑制することが出来る。
ち実効的に電流が流れる領域を更に効果的に拡大するこ
とが出来、その分ノイズの発生を抑制することが出来
る。
線板パッケージの底面図である。
域を説明する図である。
線板パッケージの断面図である。
線板パッケージの断面図である。
る。
域を説明する図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 半導体素子(12)と、 電源層(15)、グランド層(16)、信号用配線パタ
ーン層(17)を内部に有し、且つ該電源層と電気的に
接続された電源スルーホール(18)、該グランド層と
電気的に接続された第1のグランドスルーホール(1
9)、及び該信号用配線パターン層と電気的に接続され
た信号スルーホール(20)を有し、且つ底面(24)
に上記電極スルーホールと電気的に接続された電源ラン
ド電極(25)、上記第1のグランドスルーホールと電
気的に接続されたグランドランド電極(26)、及び上
記信号スルーホールと電気的に接続された信号ランド電
極(27)を有し、上記半導体素子が電気的に接続され
ている基板(13A)を有する半導体装置において、 上記基板(13A)を、 その底面の所定部位に、グランドパターン(60)を有
し、 且つ、該グランドパターンの部位に、上記グランド層と
電気的に接続された第2のグランドスルーホール(6
4)を複数有する構成としたことを特徴とする半導体装
置。 - 【請求項2】 半導体素子(12)と、 電源層(15)、グランド層(16)、信号用配線パタ
ーン層(17)を内部に有し、且つ該電源層と電気的に
接続された電源スルーホール(18)、該グランド層と
電気的に接続された第1のグランドスルーホール(1
9)、及び該信号用配線パターン層と電気的に接続され
た信号スルーホール(20)を有し、且つ底面(24)
に上記電極スルーホールと電気的に接続された電源ボー
ル電極(81)、上記第1のグランドスルーホールと電
気的に接続された第1のグランドボール電極(82)、
及び上記信号スルーホールと電気的に接続された信号ボ
ール電極(83)を有し、上記半導体素子が電気的に接
続されている基板(13B)を有する半導体装置におい
て、 上記基板(13B)を、 その底面の所定部位に、グランドパターン(60)を有
し、 且つ、該グランドパターンの部位に、上記グランド層と
電気的に接続された第2のグランドスルーホール(6
4)を複数有し、且つ、該グランドパターンの部位に第
2のグランドボール電極(84)を複数有する構成とし
たことを特徴とする半導体装置。 - 【請求項3】 半導体素子(12)と、 電源層(15)、グランド層(16)、信号用配線パタ
ーン層(17)を内部に有し、且つ該電源層と電気的に
接続された電源スルーホール(18)、該グランド層と
電気的に接続された第1のグランドスルーホール(1
9)、及び該信号用配線パターン層と電気的に接続され
た信号スルーホール(20)を有し、且つ底面(24)
に上記電極スルーホールと電気的に固定された電源ピン
電極(91)、上記第1のグランドスルーホールと電気
的に固定された第1のグランドピン電極(92)、及び
上記信号スルーホールに固定された信号ピン電極(9
3)を有し、上記半導体素子が電気的に接続されている
基板(13C)を有する半導体装置において、 上記基板(13C)を、 その底面の所定部位に、グランドパターンを有し、 且つ、該グランドパターンの部位に、上記グランド層と
電気的に接続された第2のグランドスルーホール(6
4)を複数有し、且つ、該第2のスルーホールに固定さ
れた第2のグランドピン電極(94)を有する構成とし
たことを特徴とする半導体装置。 - 【請求項4】 請求項1のグランドパターン(60)
は、上記電源ランド電極、グランドランド電極、信号ラ
ンド電極が配されている領域より外側の領域(29)
に、上記基板の周囲に沿って帯状に形成してあり、4つ
の辺部(61-1〜61-4)を有し、 上記第2のグランドスルーホール(64)は、上記辺部
に沿って並んだ構成としたことを特徴とする半導体装
置。 - 【請求項5】 請求項2のグランドパターン(60)
は、上記電源ボール電極、グランドボール電極、信号ボ
ール電極が配されている領域より外側の領域(29)
に、上記基板の周囲に沿って帯状に形成してあり、4つ
の辺部(61-1〜61-4)を有し、 上記第2のグランドスルーホール(64)は、上記辺部
に沿って並んだ構成としたことを特徴とする半導体装
置。 - 【請求項6】 請求項3のグランドパターン(60)
は、上記電源ピン電極、グランドピン電極、信号ピン電
極が配されている領域より外側の領域(29)に、上記
基板の周囲に沿って帯状に形成してあり、4つの辺部
(61-1〜61-4)を有し、 上記第2のグランドスルーホール(64)は、上記辺部
に沿って並んだ構成としたことを特徴とする半導体装
置。 - 【請求項7】 請求項4乃至請求項6のうちいずれか一
項の第2のグランドスルーホール(64)を、上記辺部
のうち、中央部分に、他の部分に比べて密に設けた構成
としたことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30027493A JP3287673B2 (ja) | 1993-11-30 | 1993-11-30 | 半導体装置 |
US08/873,722 US5923540A (en) | 1993-11-30 | 1997-06-12 | Semiconductor unit having semiconductor device and multilayer substrate, in which grounding conductors surround conductors used for signal and power |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30027493A JP3287673B2 (ja) | 1993-11-30 | 1993-11-30 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07153869A true JPH07153869A (ja) | 1995-06-16 |
JP3287673B2 JP3287673B2 (ja) | 2002-06-04 |
Family
ID=17882823
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30027493A Expired - Lifetime JP3287673B2 (ja) | 1993-11-30 | 1993-11-30 | 半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5923540A (ja) |
JP (1) | JP3287673B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7151319B2 (en) | 2003-06-27 | 2006-12-19 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7321485B2 (en) | 1997-04-08 | 2008-01-22 | X2Y Attenuators, Llc | Arrangement for energy conditioning |
US7336468B2 (en) | 1997-04-08 | 2008-02-26 | X2Y Attenuators, Llc | Arrangement for energy conditioning |
US9054094B2 (en) | 1997-04-08 | 2015-06-09 | X2Y Attenuators, Llc | Energy conditioning circuit arrangement for integrated circuit |
US6195268B1 (en) * | 1997-06-09 | 2001-02-27 | Floyd K. Eide | Stacking layers containing enclosed IC chips |
US6058022A (en) * | 1998-01-07 | 2000-05-02 | Sun Microsystems, Inc. | Upgradeable PCB with adaptable RFI suppression structures |
US6297565B1 (en) | 1998-03-31 | 2001-10-02 | Altera Corporation | Compatible IC packages and methods for ensuring migration path |
JP3206561B2 (ja) * | 1998-10-01 | 2001-09-10 | 日本電気株式会社 | 多層配線基板 |
JP3179420B2 (ja) * | 1998-11-10 | 2001-06-25 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
JP3368870B2 (ja) * | 1999-06-25 | 2003-01-20 | 日本電気株式会社 | パッケージ基板及びこれを備えた半導体装置 |
US6407564B1 (en) * | 1999-08-04 | 2002-06-18 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Universal BGA board for failure analysis and method of using |
US6553555B1 (en) * | 1999-08-27 | 2003-04-22 | Dell Products L.P. | Maintaining signal guard bands when routing through a field of obstacles |
GB2377080B (en) * | 2001-09-11 | 2003-05-07 | Sendo Int Ltd | Integrated circuit package and printed circuit board arrangement |
US20040080917A1 (en) * | 2002-10-23 | 2004-04-29 | Steddom Clark Morrison | Integrated microwave package and the process for making the same |
GB2439862A (en) | 2005-03-01 | 2008-01-09 | X2Y Attenuators Llc | Conditioner with coplanar conductors |
US9713258B2 (en) * | 2006-04-27 | 2017-07-18 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit chip packaging |
KR102214509B1 (ko) * | 2014-09-01 | 2021-02-09 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 장치용 테스트 소켓 및 그를 포함하는 테스트 장치 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4498122A (en) * | 1982-12-29 | 1985-02-05 | At&T Bell Laboratories | High-speed, high pin-out LSI chip package |
JPS63272059A (ja) * | 1987-04-30 | 1988-11-09 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体装置および半導体装置を基板に実装した装置 |
JPH0775279B2 (ja) * | 1987-06-25 | 1995-08-09 | イビデン株式会社 | 半導体装置 |
US4922325A (en) * | 1987-10-02 | 1990-05-01 | American Telephone And Telegraph Company | Multilayer ceramic package with high frequency connections |
US4860165A (en) * | 1988-04-27 | 1989-08-22 | Prime Computer, Inc. | Semiconductor chip carrier package |
JPH02125650A (ja) * | 1988-11-04 | 1990-05-14 | Nec Corp | 半導体装置用パッケージ |
JPH02246235A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-02 | Fujitsu Ltd | 集積回路装置 |
JP2995484B2 (ja) * | 1990-04-24 | 1999-12-27 | 日本軽金属株式会社 | 有機フッ素化合物合成用無水フッ化カリウムの製造方法 |
EP0459179B1 (de) * | 1990-05-28 | 1995-04-05 | Siemens Aktiengesellschaft | IC-Gehäuse, bestehend aus drei beschichteten dielektrischen Platten |
US5293072A (en) * | 1990-06-25 | 1994-03-08 | Fujitsu Limited | Semiconductor device having spherical terminals attached to the lead frame embedded within the package body |
JPH0468598A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-04 | Hitachi Ltd | 多層配線回路基板 |
JPH05160292A (ja) * | 1991-06-06 | 1993-06-25 | Toshiba Corp | 多層パッケージ |
JPH04372206A (ja) * | 1991-06-21 | 1992-12-25 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロ波帯ic用パッケージ |
JPH0575313A (ja) * | 1991-09-11 | 1993-03-26 | Oki Electric Ind Co Ltd | 混成集積回路装置 |
CA2089435C (en) * | 1992-02-14 | 1997-12-09 | Kenzi Kobayashi | Semiconductor device |
JP3023265B2 (ja) * | 1992-09-26 | 2000-03-21 | 日本特殊陶業株式会社 | 集積回路用パッケージ本体 |
US5315069A (en) * | 1992-10-02 | 1994-05-24 | Compaq Computer Corp. | Electromagnetic radiation reduction technique using grounded conductive traces circumscribing internal planes of printed circuit boards |
US5450046A (en) * | 1992-10-29 | 1995-09-12 | Nec Corporation | Composite microwave circuit module assembly and its connection structure |
US5338570A (en) * | 1993-02-18 | 1994-08-16 | Westinghouse Electric Corp. | Method for finishing wood slatted articles of furniture |
US5291062A (en) * | 1993-03-01 | 1994-03-01 | Motorola, Inc. | Area array semiconductor device having a lid with functional contacts |
-
1993
- 1993-11-30 JP JP30027493A patent/JP3287673B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-06-12 US US08/873,722 patent/US5923540A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7151319B2 (en) | 2003-06-27 | 2006-12-19 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3287673B2 (ja) | 2002-06-04 |
US5923540A (en) | 1999-07-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101218011B1 (ko) | 플립 칩 인터커넥션 패드 레이아웃 반도체 패키지 및 그 생산 방법 | |
JP3111053B2 (ja) | 一次スルー・ホールおよび二次スルー・ホールを有する多層回路板 | |
KR100252731B1 (ko) | 반도체 디바이스 및 반도체 디바이스용 패키지 | |
JP3287673B2 (ja) | 半導体装置 | |
US6888240B2 (en) | High performance, low cost microelectronic circuit package with interposer | |
JP2000307005A (ja) | 半導体集積回路およびプリント配線基板ならびに電子機器 | |
KR100650767B1 (ko) | 패드 재배열 칩과, 그 제조방법 및 패드 재배열 칩을이용한 적층형 패키지 | |
US6528734B2 (en) | Semiconductor device and process for fabricating the same | |
JPH08172143A (ja) | プリント配線板とこれを用いた電子装置 | |
JP2002353365A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0513967A (ja) | 半導体記憶制御装置及びその高密度実装方法 | |
WO1998010630A1 (en) | An integrated circuit package | |
JP4341552B2 (ja) | プリント配線板 | |
US8022513B2 (en) | Packaging substrate structure with electronic components embedded in a cavity of a metal block and method for fabricating the same | |
JPH09223861A (ja) | 半導体集積回路及びプリント配線基板 | |
JP3745176B2 (ja) | プリント配線板 | |
US5691569A (en) | Integrated circuit package that has a plurality of staggered pins | |
JPH03286590A (ja) | セラミック配線基板 | |
US6407460B1 (en) | Multilayer circuit board | |
US6355978B1 (en) | Package for accommodating electronic parts, semiconductor device and method for manufacturing package | |
JP2935356B2 (ja) | 半導体装置および基板ならびに半導体装置の実装構造 | |
JP3008887U (ja) | Icピッチ変換基板 | |
JPH11297885A (ja) | 多層回路基板 | |
JP3386028B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP3645701B2 (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20020226 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080315 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090315 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090315 Year of fee payment: 7 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090315 Year of fee payment: 7 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100315 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100315 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110315 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110315 Year of fee payment: 9 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110315 Year of fee payment: 9 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110315 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120315 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130315 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140315 Year of fee payment: 12 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |