JPH07131323A - スタンバイ電流が小さな半導体集積回路 - Google Patents

スタンバイ電流が小さな半導体集積回路

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JPH07131323A
JPH07131323A JP5274134A JP27413493A JPH07131323A JP H07131323 A JPH07131323 A JP H07131323A JP 5274134 A JP5274134 A JP 5274134A JP 27413493 A JP27413493 A JP 27413493A JP H07131323 A JPH07131323 A JP H07131323A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 低電源電圧下でMOS型電界効果トランジス
タを駆動できるとともに、スタンバイ電流を低く押える
ことができる半導体集積回路を提供する。 【構成】 処理すべきデータを保持するフリップフロッ
プ11,12と、MOSトランジスタから形成され論理
演算を行なう論理ゲート回路21,22とに回路区分可
能であり、フリップフロップと論理ゲート回路とにはそ
れぞれに対する電源供給ラインを介して電源が供給され
る。論理ゲート回路への電源供給ラインには、制御信号
に基づき論理ゲート回路への電源の供給または停止を行
なうを電源電流遮断回路素子Q1を有する。電源電流遮
断回路素子Q1が論理ゲートが不活性のとき電源からの
スタンバイ電流を遮断する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はMOSトランジスタから
形成され論理演算を行なう論理ゲート回路を含む半導体
集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、微細加工技術の進展とともに、半
導体集積回路に用いられるMOS型電界効果トランジス
タの素子寸法も極めて微細化されてきている。それとと
もに回路速度性能も向上してきているが、一方で様々な
信頼性上の問題が生じている。例えば、ホットキャリヤ
効果によるトランジスタの劣化現象やTDDBによるゲ
ート絶縁膜の破壊等がある。また、半導体集積回路の集
積度の向上によって消費電力の増大も無視できない問題
となっている。
【0003】そこで、MOS型電界効果トランジスタの
ゲート長が0.5μm以下となる半導体集積回路におい
ては、一般に電源電圧を下げる対策がとられている。さ
らに将来的には、MOS型電界効果トランジスタの微細
化とともに、より一層電源電圧を低電圧化することが避
けられない。
【0004】しかしMOS型電界効果トランジスタの閾
値電圧を変えずに、電源電圧を低電圧化すると、半導体
集積回路の動作速度が低下してしまうという問題があ
る。この原因はMOS型電界効果トランジスタのドレイ
ン電流が概ね下記の式(1)に従うというトランジスタ
動作上の物理現象に起因している。
【0005】ドレイン電流={(ゲート電圧)−(閾値
電圧)}のα乗 ・・ (1) (ただし、αは約2である)上記の式(1)から分かる
ように、閾値電圧を一定として、電源電圧を下げていく
と、印加可能なゲート電圧と閾値電圧の差が小さくな
り、トランジスタの駆動電流がとれなくなってしまうの
である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の半導体
集積回路において、電源電圧を下げたとき動作速度を下
げないためには、MOS型電界効果トランジスタの閾値
電圧を小さくすることである。しかし、従来のMOS型
電界効果トランジスタを用いた半導体集積回路において
閾値電圧を小さくすると、図5に示すように電源側から
接地側に貫通するスタンバイ電流が著しく大きくなると
いう問題があった。この原因は、MOS型電界効果トラ
ンジスタのサブスレショルドリーク電流の成分が無視で
きなくなるためである。この制約のため、通常の半導体
集積回路では閾値電圧の絶対値を、例えば0.4V以下
に下げることは非常に困難であるという問題がある。
【0007】本発明は上記問題に鑑み、低電源電圧下で
MOS型電界効果トランジスタを駆動できるとともに、
スタンバイ電流を低く押えることができる半導体集積回
路を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体集積回路
は、処理すべきデータを保持するデータ保持回路と論理
演算を行なう論理ゲート回路とに回路区分可能であり、
データ保持回路と論理ゲート回路にはそれぞれに対する
電源供給ラインを介して電源が供給される半導体集積回
路において、前記論理ゲート回路への電源供給ラインに
は、制御信号に基づき前記論理ゲート回路への電源の供
給または停止を行なうをスイッチング回路を有する。
【0009】前記スイッチング回路はMOS型電界効果
トランジスタであり、前記制御信号は前記論理ゲート回
路を活性にさせる場合にはMOSトランジスタを導通状
態にさせ、不活性にさせる場合にはMOS型電界効果ト
ランジスタを非導通状態にさせるのが好ましい。また、
MOS型電界効果トランジスタの代わりにバイポーラト
ランジスタを用いてもよい。さらに、前記制御信号に基
づき前記スイッチング回路は、前記データ保持回路がデ
ータを保持した後に、前記論理ゲート回路への電源供給
を停止し、データ保持回路からデータが出力される前
に、前記論理ゲート回路への電源供給を行なうのが好ま
しい。
【0010】
【作用】論理ゲート回路を活性にさせないときは、スイ
ッチング回路を非導通状態にする。非導通状態にされた
スイッチング回路は、不活性な論理ゲート回路を介して
電源からスタンバイ電流が流れることを防止する。
【0011】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1は本発明の半導体装置の第1の実施例
を示すブロック図、図2は図1の実施例における論理ゲ
ート回路を詳細に示す回路図、図3は図1の実施例の動
作を説明するためのタイミングチャートである。半導体
集積回路は一般に非同期の論理ゲート回路とデータ保持
を行なうフリップフロップとからなっているように、本
実施例においても半導体集積回路は、クロック信号CK
に同期して与えられるデータを保持するフリップフロッ
プ11,12(以降、FF11,12と記す)と、カッ
トオフ信号CFに制御される論理ゲート回路21,22
とから構成されている。
【0012】さらに論理ゲート回路21,22は、図2
に示されるように、入力信号を受けるナンドゲートN1
と、ナンドゲートN1の出力を入力するナンドゲートN
2と、ナンドゲートN1,N2の両者に対する共通の電
源供給ラインに挿入され、カトオッフ信号CFにより電
源供給ラインを遮断または接続する電源電流遮断素子Q
1(Nチャネル型MOSトランジスタ)とから構成され
ている。なお、ナンドゲートN1,N2を構成するMO
Sトランジスタの閾値電圧は0.25Vに、電源電流遮
断素子Q1の閾値電圧は0.7Vにそれぞれ設定されて
いる。電源電流遮断素子Q1が電源供給ラインに挿入さ
れているために、ナンドゲートN1,N2を構成するM
OSトランジスタの閾値電圧が0.25Vに下げられて
もスタンバイ電流は極めて小さく抑制される(図5にお
ける比較を参照のこと)。
【0013】次に上述の実施例の動作について図3を参
照して説明する。まず、半導体集積回路が休止している
期間(時刻t1〜t2)、すなわちデータがFF11,1
2に保持されているのみで、論理ゲート回路21,22
が不活性であるとき、電源電流遮断素子Q1はカットオ
フ信号CFにより非導通状態にされている。非導通状態
の電源電流遮断素子Q1により、論理ゲート回路21,
22のスタンバイ電流は非常に小さい量に押えられてい
る。
【0014】時刻t2に、電源電流遮断素子Q1がカッ
トオフ信号CFにより導通状態にされ、半導体集積回路
が活性状態にされると、所定時間後の時刻t3にクロッ
ク信号CKがFF11,12に供給され、FF11,1
2が動作を開始する。また、時刻t4に半導体集積回路
の動作が終了し、データがFF11,12に保持される
と、時刻t5に電源電流遮断素子Q1はカットオフ信号
CFにより再び非導通状態にされ、スタンバイ電流を抑
制する。
【0015】すなわち、論理ゲート回路21,22が活
性状態となった後、データ信号がFF11,12から出
力され論理演算が進行する。しかし、半導体集積回路が
休止状態に遷移するときは、まずクロック信号に同期し
てFF11,12がデータ保持状態となり、次に電源電
流遮断素子Q1の作用により論理ゲート回路21,22
の電源電流がカットオフされる。
【0016】一般に論理ゲート回路は高インピーダンス
になると、電源端子の片側にのみ接続されている場合で
も、内部電位が不安定になり保持していたデータを喪失
してしまう。しかし、本実施例によれば上述の動作によ
り、電源電流を遮断しても全てのデータはFF11,1
2に保持されており、扱っているデータが失われるとい
うことはない。また、本実施例においては図2で示され
るように、2つの論理ゲート回路21,22の組に対し
1つの電源電流遮断素子Q1が割り当てられているが、
各論理ゲート回路21,22にそれぞれ1つずつの電源
電流遮断素子を割り当ててもよい。
【0017】次に本発明の第2の実施例について図4を
参照して説明する。本実施例においては、図1ないし図
3によって示された第1の実施例の電源電流遮断素子Q
1であるNチャネル型MOSトランジスタの代わりにN
PNバイポーラトランジスタQ2を用いている。この場
合、カットオフ信号CFは0V(トランジスタQ2は非
導通状態)または1.2V(トランジスタQ2は導通状
態で論理ゲート回路21,22は活性状態にされる)に
設定される。バイポーラトランジスタQ2の導通抵抗は
MOSトランジスタの導通抵抗よりも低くできるので、
バイポーラトランジスタQ2を電源電流遮断素子として
電源供給ラインに挿入したとしても、論理ゲート回路の
動作に与える影響は、第1の実施例よりは少なくするこ
とができるという利点がある。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、半導体集
積回路の内部構造を論回路部分とデータ保持回路部分と
に区分し、論理回路部分は閾値電圧の低いMOSトラン
ジスタで構成するとともに、論理回路部分への電源供給
ラインに電源電流遮断素子を挿入し、データ保持回路部
分がデータを安定に保持しているときにのみ、電源電流
遮断素子により論理回路部分への電源の供給を遮断する
ことにより、回路の動作は高速であり、かつスタンバイ
電流を極めて低く押えることができる半導体集積回路を
実現できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体装置の第1の実施例を示すブロ
ック図である。
【図2】図1における論理ゲート回路を詳細に示す回路
図である。
【図3】図1の実施例の動作を説明するためのタイミン
グチャートである。
【図4】本発明の半導体装置の第2の実施例を示すブロ
ック図である。
【図5】本発明の半導体装置と従来例との特性の違いを
説明するグラフである。
【符号の説明】
11,12 フリップフロップ(FF) 21,22 論理ゲート回路 N1,N2 ナンドゲート Q1,Q2 電源電流遮断素子

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理すべきデータを保持するデータ保持
    回路と、MOSトランジスタから形成され論理演算を行
    なう論理ゲート回路とに回路区分可能であり、データ保
    持回路と論理ゲート回路にはそれぞれに対する電源供給
    ラインを介して電源が供給される半導体集積回路におい
    て、 前記論理ゲート回路への電源供給ラインには、制御信号
    に基づき前記論理ゲート回路への電源の供給または停止
    を行なうをスイッチング回路を有することを特徴とする
    半導体集積回路。
  2. 【請求項2】 前記スイッチング回路はMOS型電界効
    果トランジスタであり、前記制御信号は前記論理ゲート
    回路を活性にさせる場合にMOSトランジスタを導通状
    態にさせ、不活性にさせる場合にMOS型電界効果トラ
    ンジスタを非導通状態にさせる請求項1記載の半導体集
    積回路。
  3. 【請求項3】 前記スイッチング回路はバイポーラトラ
    ンジスタであり、前記制御信号は前記論理ゲート回路を
    活性にさせる場合にバイポーラトランジスタを導通状態
    にさせ、不活性にさせる場合にバイポーラトランジスタ
    を非導通状態にさせる請求項1記載の半導体集積回路。
  4. 【請求項4】 前記制御信号に基づき前記スイッチング
    回路は、前記データ保持回路がデータを保持した後に、
    前記論理ゲート回路への電源供給を停止し、データ保持
    回路からデータが出力される前に、前記論理ゲート回路
    への電源供給を行なう請求項1ないし3のいずれか1項
    記載の半導体集積回路。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002314393A (ja) * 2001-04-16 2002-10-25 Niigata Seimitsu Kk 低しきい値mosトランジスタの電源スタンバイ回路
EP1195902A3 (en) * 2000-09-27 2003-05-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit with reduced leakage current
JP2005340851A (ja) * 2005-06-27 2005-12-08 Sharp Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2007049752A (ja) * 2006-11-10 2007-02-22 Sony Corp 論理処理回路、半導体デバイス及び論理処理装置
JP2009500959A (ja) * 2005-07-08 2009-01-08 ズィーモス テクノロジー,インコーポレイテッド ソース・トランジスター構成及び制御方法
JP2009200690A (ja) * 2008-02-20 2009-09-03 Renesas Technology Corp 半導体集積回路の設計方法及び半導体集積回路
JP2016082587A (ja) * 2014-10-17 2016-05-16 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、電子部品、および電子機器

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS594328A (ja) * 1982-06-30 1984-01-11 Fujitsu Ltd Mos論理回路
JPH0529551A (ja) * 1991-07-19 1993-02-05 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
JPH05110392A (ja) * 1991-10-16 1993-04-30 Hitachi Ltd 状態保持回路を具備する集積回路
JPH05291929A (ja) * 1992-04-14 1993-11-05 Hitachi Ltd 半導体回路
JPH06296134A (ja) * 1992-09-04 1994-10-21 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 論理マクロの電力消費を減少する方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS594328A (ja) * 1982-06-30 1984-01-11 Fujitsu Ltd Mos論理回路
JPH0529551A (ja) * 1991-07-19 1993-02-05 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
JPH05110392A (ja) * 1991-10-16 1993-04-30 Hitachi Ltd 状態保持回路を具備する集積回路
JPH05291929A (ja) * 1992-04-14 1993-11-05 Hitachi Ltd 半導体回路
JPH06296134A (ja) * 1992-09-04 1994-10-21 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 論理マクロの電力消費を減少する方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1195902A3 (en) * 2000-09-27 2003-05-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit with reduced leakage current
US7088161B2 (en) 2000-09-27 2006-08-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit with reduced leakage current
US7109771B2 (en) 2000-09-27 2006-09-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit with reduced leakage current
JP2002314393A (ja) * 2001-04-16 2002-10-25 Niigata Seimitsu Kk 低しきい値mosトランジスタの電源スタンバイ回路
WO2002087085A1 (en) * 2001-04-16 2002-10-31 Niigata Seimitsu Co., Ltd. Power standby circuit of low-threshold mos transistor
JP2005340851A (ja) * 2005-06-27 2005-12-08 Sharp Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2009500959A (ja) * 2005-07-08 2009-01-08 ズィーモス テクノロジー,インコーポレイテッド ソース・トランジスター構成及び制御方法
JP2007049752A (ja) * 2006-11-10 2007-02-22 Sony Corp 論理処理回路、半導体デバイス及び論理処理装置
JP4535057B2 (ja) * 2006-11-10 2010-09-01 ソニー株式会社 論理処理回路、半導体デバイス及び論理処理装置
JP2009200690A (ja) * 2008-02-20 2009-09-03 Renesas Technology Corp 半導体集積回路の設計方法及び半導体集積回路
JP2016082587A (ja) * 2014-10-17 2016-05-16 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、電子部品、および電子機器

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