JPH06208978A - ウェーハのスライスベースの剥離方法及びその装置 - Google Patents
ウェーハのスライスベースの剥離方法及びその装置Info
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- JPH06208978A JPH06208978A JP5002867A JP286793A JPH06208978A JP H06208978 A JPH06208978 A JP H06208978A JP 5002867 A JP5002867 A JP 5002867A JP 286793 A JP286793 A JP 286793A JP H06208978 A JPH06208978 A JP H06208978A
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- slice
- semiconductor wafer
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- Processing Of Stones Or Stones Resemblance Materials (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 薬液を使用することなくスライスベースを半
導体ウェーハから短時間で剥離させることができるスラ
イスベースの剥離方法及びその装置を提供する。 【構成】 ウェーハ12を挟持板22、22間で保持し
た後、アーム24を収縮させてウェーハ12を温水槽1
6の温水30中に所定時間(30秒)浸漬して、スライ
スベース28の熱軟化性接着剤を熱軟化させる。そし
て、所定時間経過後、架台34をスライド移動しながら
前記アーム24を伸長して、前記ウェーハ12をハンマ
部18に移送した後、押さえロッド46と押さえ台48
とでウェーハ12を挟持し、剥離用シリンダ42のシリ
ンダロッド50を伸長する。これにより、前記ウェーハ
12のスライスベース28がハンマロッド52で槌打さ
れてウェーハ12から剥離する。即ち、スライスベース
28の熱軟化性接着剤が温水30によって熱軟化されて
いるので、スライスベース28は槌打されるだけでウェ
ーハ12から容易に剥離する。
導体ウェーハから短時間で剥離させることができるスラ
イスベースの剥離方法及びその装置を提供する。 【構成】 ウェーハ12を挟持板22、22間で保持し
た後、アーム24を収縮させてウェーハ12を温水槽1
6の温水30中に所定時間(30秒)浸漬して、スライ
スベース28の熱軟化性接着剤を熱軟化させる。そし
て、所定時間経過後、架台34をスライド移動しながら
前記アーム24を伸長して、前記ウェーハ12をハンマ
部18に移送した後、押さえロッド46と押さえ台48
とでウェーハ12を挟持し、剥離用シリンダ42のシリ
ンダロッド50を伸長する。これにより、前記ウェーハ
12のスライスベース28がハンマロッド52で槌打さ
れてウェーハ12から剥離する。即ち、スライスベース
28の熱軟化性接着剤が温水30によって熱軟化されて
いるので、スライスベース28は槌打されるだけでウェ
ーハ12から容易に剥離する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はウェーハのスライスベー
スの剥離方法及びその装置に係り、特にスライシングマ
シンで切断された半導体ウェーハに接着しているスライ
スベースを剥離させるウェーハのスライスベースの剥離
方法及びその装置に関する。
スの剥離方法及びその装置に係り、特にスライシングマ
シンで切断された半導体ウェーハに接着しているスライ
スベースを剥離させるウェーハのスライスベースの剥離
方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウェーハ材料である円柱状のシリ
コンインゴットには、スライスベースがインゴットの軸
方向に接着されており、インゴットをスライシングマシ
ンで半導体ウェーハに切断する際に、前記スライスベー
スで切り終わり部分の欠損を防止している。
コンインゴットには、スライスベースがインゴットの軸
方向に接着されており、インゴットをスライシングマシ
ンで半導体ウェーハに切断する際に、前記スライスベー
スで切り終わり部分の欠損を防止している。
【0003】従来、半導体ウェーハに接着しているスラ
イスベースは、半導体ウェーハを薬液槽に所定時間浸漬
してスライスベースの接着剤を薬液で溶解させることに
より、半導体ウェーハから剥離される。
イスベースは、半導体ウェーハを薬液槽に所定時間浸漬
してスライスベースの接着剤を薬液で溶解させることに
より、半導体ウェーハから剥離される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ウェーハのスライスベースの剥離方法では、薬液を使用
しているので、この薬液を廃棄する場合に廃液処理を行
わなければならないという欠点がある。また、前記接着
剤が溶解するまで半導体ウェーハを薬液に浸漬しなけれ
ばならないので、時間がかかるという欠点がある。
ウェーハのスライスベースの剥離方法では、薬液を使用
しているので、この薬液を廃棄する場合に廃液処理を行
わなければならないという欠点がある。また、前記接着
剤が溶解するまで半導体ウェーハを薬液に浸漬しなけれ
ばならないので、時間がかかるという欠点がある。
【0005】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、薬液を使用することなくスライスベースを短時
間で剥離させることができるウェーハのスライスベース
の剥離方法及びその装置を提供することを目的とする。
もので、薬液を使用することなくスライスベースを短時
間で剥離させることができるウェーハのスライスベース
の剥離方法及びその装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決する為の手段】本発明の第1発明は、前記
目的を達成する為に、スライシングマシンで切断された
半導体ウェーハを、この半導体ウェーハに接着されてい
るスライスベースの熱軟化性接着材が熱軟化する温度の
温水中に所定時間浸漬し、所定時間経過後、前記半導体
ウェーハを前記温水中から取り出し、前記スライスベー
スを槌打して半導体ウェーハから剥離させることを特徴
としている。
目的を達成する為に、スライシングマシンで切断された
半導体ウェーハを、この半導体ウェーハに接着されてい
るスライスベースの熱軟化性接着材が熱軟化する温度の
温水中に所定時間浸漬し、所定時間経過後、前記半導体
ウェーハを前記温水中から取り出し、前記スライスベー
スを槌打して半導体ウェーハから剥離させることを特徴
としている。
【0007】本発明の第2発明は、スライシングマシン
で切断された半導体ウェーハに接着されているスライス
ベースの熱軟化性接着材を、ヒータによって熱軟化させ
た後、前記スライスベースを半導体ウェーハから剥離さ
せることを特徴としている。本願発明の第3発明は、ス
ライシングマシンで切断された半導体ウェーハが浸漬さ
れると共に、この半導体ウェーハに接着されているスラ
イスベースの熱軟化性接着材が熱軟化する温度の温水が
貯留された温水槽と、前記温水中に所定時間浸漬されて
取り出された前記半導体ウェーハを保持するウェーハ保
持手段と、前記ウェーハ保持手段で保持されたウェーハ
のスライスベースを槌打して半導体ウェーハから剥離さ
せるハンマ手段と、から成ることを特徴としている。
で切断された半導体ウェーハに接着されているスライス
ベースの熱軟化性接着材を、ヒータによって熱軟化させ
た後、前記スライスベースを半導体ウェーハから剥離さ
せることを特徴としている。本願発明の第3発明は、ス
ライシングマシンで切断された半導体ウェーハが浸漬さ
れると共に、この半導体ウェーハに接着されているスラ
イスベースの熱軟化性接着材が熱軟化する温度の温水が
貯留された温水槽と、前記温水中に所定時間浸漬されて
取り出された前記半導体ウェーハを保持するウェーハ保
持手段と、前記ウェーハ保持手段で保持されたウェーハ
のスライスベースを槌打して半導体ウェーハから剥離さ
せるハンマ手段と、から成ることを特徴としている。
【0008】本発明の第4手段は、スライシングマシン
で切断された半導体ウェーハに接着されているスライス
ベースの熱軟化性接着材を熱軟化させるヒータと、前記
熱軟化性接着材が熱軟化した前記半導体ウェーハを保持
するウェーハ保持手段と、前記ウェーハ保持手段で保持
されたウェーハのスライスベースを半導体ウェーハから
剥離させる剥離手段と、から成ることを特徴としてい
る。
で切断された半導体ウェーハに接着されているスライス
ベースの熱軟化性接着材を熱軟化させるヒータと、前記
熱軟化性接着材が熱軟化した前記半導体ウェーハを保持
するウェーハ保持手段と、前記ウェーハ保持手段で保持
されたウェーハのスライスベースを半導体ウェーハから
剥離させる剥離手段と、から成ることを特徴としてい
る。
【0009】
【作用】本発明によれば、スライスベースの熱軟化性接
着材が熱軟化する温度の温水が貯留された温水槽に、半
導体ウェーハを所定時間浸漬し、そして、所定時間経過
後、前記半導体ウェーハを前記温水中から取り出して、
ウェーハ保持手段で保持し、前記スライスベースをハン
マ手段で槌打して半導体ウェーハから剥離させる。
着材が熱軟化する温度の温水が貯留された温水槽に、半
導体ウェーハを所定時間浸漬し、そして、所定時間経過
後、前記半導体ウェーハを前記温水中から取り出して、
ウェーハ保持手段で保持し、前記スライスベースをハン
マ手段で槌打して半導体ウェーハから剥離させる。
【0010】これにより、薬液を使用することなくスラ
イスベースを短時間で剥離させることができる。また、
本発明によれば、ヒータで半導体ウェーハに接着されて
いるスライスベースの熱軟化性接着材を局部的に加熱し
て熱軟化させ、そして、熱軟化性接着材が熱軟化した前
記半導体ウェーハをウェーハ保持手段で保持した後、剥
離手段でスライスベースを半導体ウェーハから引き倒し
て剥離させる。
イスベースを短時間で剥離させることができる。また、
本発明によれば、ヒータで半導体ウェーハに接着されて
いるスライスベースの熱軟化性接着材を局部的に加熱し
て熱軟化させ、そして、熱軟化性接着材が熱軟化した前
記半導体ウェーハをウェーハ保持手段で保持した後、剥
離手段でスライスベースを半導体ウェーハから引き倒し
て剥離させる。
【0011】これにより、薬液を使用することなくスラ
イスベースを短時間で剥離させることができる。
イスベースを短時間で剥離させることができる。
【0012】
【実施例】以下添付図面に従って本発明に係るウェーハ
のスライスベースの剥離方法及びその装置の好ましい実
施例について詳説する。図1は本発明に係るウェーハの
スライスベースの剥離装置10の実施例を示す斜視図で
ある。
のスライスベースの剥離方法及びその装置の好ましい実
施例について詳説する。図1は本発明に係るウェーハの
スライスベースの剥離装置10の実施例を示す斜視図で
ある。
【0013】前記剥離装置10は、ウェーハ12の移動
機構14、温水槽16、及びハンマ部18を有してい
る。前記移動機構14は、搬送装置20から搬送されて
きた切断されたばかりのウェーハ12を挟持する一対の
挟持板22、22を有している。挟持板22、22の図
中左端部には、凹状に折り曲げられたアーム24の先端
部が固着されている。このアーム24は図2に示すよう
に、油圧シリンダ26に伸縮自在に取り付けられてい
る。油圧シリンダ26を作動してアームを収縮させる
と、前記温水槽16に貯留された温水(スライスベース
28をウェーハ12に接着させている熱軟化性接着剤を
熱軟化させる温度、例えば本実施例では、90°Cの温
水とする)30に前記ウェーハ12が挟持板22、22
とともに浸漬される。(図3参照) また、前記油圧シリンダ26の下部は架台32に固定さ
れ、この架台32はレール34上に移動可能に載置され
る。前記レール34は、温水槽16に対して並設されて
いる。このレール34に対して前記架台32が図4に示
す位置にスライド移動され、また前記アーム24が伸長
されると、前記ウェーハ12がハンマ部18に移送され
る。
機構14、温水槽16、及びハンマ部18を有してい
る。前記移動機構14は、搬送装置20から搬送されて
きた切断されたばかりのウェーハ12を挟持する一対の
挟持板22、22を有している。挟持板22、22の図
中左端部には、凹状に折り曲げられたアーム24の先端
部が固着されている。このアーム24は図2に示すよう
に、油圧シリンダ26に伸縮自在に取り付けられてい
る。油圧シリンダ26を作動してアームを収縮させる
と、前記温水槽16に貯留された温水(スライスベース
28をウェーハ12に接着させている熱軟化性接着剤を
熱軟化させる温度、例えば本実施例では、90°Cの温
水とする)30に前記ウェーハ12が挟持板22、22
とともに浸漬される。(図3参照) また、前記油圧シリンダ26の下部は架台32に固定さ
れ、この架台32はレール34上に移動可能に載置され
る。前記レール34は、温水槽16に対して並設されて
いる。このレール34に対して前記架台32が図4に示
す位置にスライド移動され、また前記アーム24が伸長
されると、前記ウェーハ12がハンマ部18に移送され
る。
【0014】一方、前記挟持板22、22の図1中右端
部には段付き状に折り曲げられたアーム36の先端部が
固着されており、このアーム36の基端部はバー38の
軸方向に摺動可能に取り付けられている。バー38は図
2乃至図5に示した油圧シリンダ26に対して並設され
ると共に、前記架台32のスライド移動に連動して架台
32の移動方向と同方向に移動されるようになってい
る。
部には段付き状に折り曲げられたアーム36の先端部が
固着されており、このアーム36の基端部はバー38の
軸方向に摺動可能に取り付けられている。バー38は図
2乃至図5に示した油圧シリンダ26に対して並設され
ると共に、前記架台32のスライド移動に連動して架台
32の移動方向と同方向に移動されるようになってい
る。
【0015】前記ハンマ部18は、ウェーハ12の押さ
え用シリンダ40、スライスベース28の剥離用シリン
ダ42を有している。前記押さえ用シリンダ40は、シ
リンダロッド44を伸長させることにより、ウェーハ1
2を図5に示すように、押さえロッド46と押さえ台4
8とで挟持して保持することができる。また、剥離用シ
リンダ42は、シリンダロッド50を伸長させることに
より、前記ウェーハ12のスライスベース28をハンマ
ロッド52でハンマリングしてウェーハ12から剥離さ
せることができる。剥離された前記スライスベース28
は、ハンマ部18の下方に設置されたバケット54に回
収される。
え用シリンダ40、スライスベース28の剥離用シリン
ダ42を有している。前記押さえ用シリンダ40は、シ
リンダロッド44を伸長させることにより、ウェーハ1
2を図5に示すように、押さえロッド46と押さえ台4
8とで挟持して保持することができる。また、剥離用シ
リンダ42は、シリンダロッド50を伸長させることに
より、前記ウェーハ12のスライスベース28をハンマ
ロッド52でハンマリングしてウェーハ12から剥離さ
せることができる。剥離された前記スライスベース28
は、ハンマ部18の下方に設置されたバケット54に回
収される。
【0016】次に、前記の如く構成されたウェーハのス
ライスベースの剥離装置10の作用について説明する。
先ず、搬送装置20で搬送されてきたウェーハ12を、
図1に示した挟持板22、22間で保持する。ウェーハ
12を保持した後、図3に示すようにアーム24を収縮
させてウェーハ12を温水槽16の温水30中に所定時
間(30秒)浸漬する。これにより、スライスベース2
8の熱軟化性接着剤が熱軟化される。
ライスベースの剥離装置10の作用について説明する。
先ず、搬送装置20で搬送されてきたウェーハ12を、
図1に示した挟持板22、22間で保持する。ウェーハ
12を保持した後、図3に示すようにアーム24を収縮
させてウェーハ12を温水槽16の温水30中に所定時
間(30秒)浸漬する。これにより、スライスベース2
8の熱軟化性接着剤が熱軟化される。
【0017】次に、所定時間経過後、架台32を図4に
示す位置にスライド移動しながら前記アーム24を伸長
して、前記ウェーハ12をハンマ部18に移送する。ハ
ンマ部18にウェーハ12が移送されると、図5に示す
ように押さえロッド46と押さえ台48とでウェーハ1
2を挟持し、そして、剥離用シリンダ42のシリンダロ
ッド50を伸長する。これにより、前記ウェーハ12の
スライスベース28がハンマロッド52で叩かれてウェ
ーハ12から剥離する。即ち、スライスベース28の熱
軟化性接着剤が温水30によって熱軟化されているの
で、スライスベース28は槌打されるだけでウェーハ1
2から容易に剥離する。剥離した前記スライスベース2
8は、バケット54に回収される。
示す位置にスライド移動しながら前記アーム24を伸長
して、前記ウェーハ12をハンマ部18に移送する。ハ
ンマ部18にウェーハ12が移送されると、図5に示す
ように押さえロッド46と押さえ台48とでウェーハ1
2を挟持し、そして、剥離用シリンダ42のシリンダロ
ッド50を伸長する。これにより、前記ウェーハ12の
スライスベース28がハンマロッド52で叩かれてウェ
ーハ12から剥離する。即ち、スライスベース28の熱
軟化性接着剤が温水30によって熱軟化されているの
で、スライスベース28は槌打されるだけでウェーハ1
2から容易に剥離する。剥離した前記スライスベース2
8は、バケット54に回収される。
【0018】このように、本実施例では、温水30でス
ライスベース28の熱軟化性接着剤を熱軟化させた後、
このスライスベース28をハンマロッド52で槌打して
ウェーハ12から剥離させるようにしたので、薬液を使
用することなく、また従来よりも短時間でスライスベー
ス28を剥離させることができる。スライスベース28
が剥離すると、前記架台34を図4に示した位置から更
に右方向にスライド移動させて、スライスベース28が
剥離した前記ウェーハ12を、図1に示した洗浄・乾燥
装置56に搬送する。洗浄・乾燥装置56にウェーハ1
2が搬送されると、搬送ローラ58、58でウェーハ1
2が洗浄ブラシローラ60、60に向けて送り出され、
洗浄ブラシローラ60、60間の通過中にウェーハ12
に付着した切削屑等が払い落とされる。また、ブラシ6
0、60に付着した前記切削屑等は、前記洗浄水噴射部
62のノズル64、64から噴射される洗浄水によって
剥離除去される。
ライスベース28の熱軟化性接着剤を熱軟化させた後、
このスライスベース28をハンマロッド52で槌打して
ウェーハ12から剥離させるようにしたので、薬液を使
用することなく、また従来よりも短時間でスライスベー
ス28を剥離させることができる。スライスベース28
が剥離すると、前記架台34を図4に示した位置から更
に右方向にスライド移動させて、スライスベース28が
剥離した前記ウェーハ12を、図1に示した洗浄・乾燥
装置56に搬送する。洗浄・乾燥装置56にウェーハ1
2が搬送されると、搬送ローラ58、58でウェーハ1
2が洗浄ブラシローラ60、60に向けて送り出され、
洗浄ブラシローラ60、60間の通過中にウェーハ12
に付着した切削屑等が払い落とされる。また、ブラシ6
0、60に付着した前記切削屑等は、前記洗浄水噴射部
62のノズル64、64から噴射される洗浄水によって
剥離除去される。
【0019】そして、切削屑等が払い落とされたウェー
ハ12は、搬送ローラ66でスクレーパ68に向けて送
り出され、スクレーパ68でウェーハ12の表面に付着
した水滴が除去される。そして、水滴が除去されたウェ
ーハ12は、乾燥部70から供給されるエアーによって
乾燥された後、搬送装置72によって図示しない面検装
置に搬送される。
ハ12は、搬送ローラ66でスクレーパ68に向けて送
り出され、スクレーパ68でウェーハ12の表面に付着
した水滴が除去される。そして、水滴が除去されたウェ
ーハ12は、乾燥部70から供給されるエアーによって
乾燥された後、搬送装置72によって図示しない面検装
置に搬送される。
【0020】尚、本実施例では、温水30で熱軟化性接
着剤を熱軟化させるようにしたが、これに限られるもの
ではなく、ヒータで前記熱軟化性接着材を局部的に加熱
して熱軟化させ、そして、熱軟化性接着材が熱軟化した
前記半導体ウェーハをウェーハ保持機構で保持した後、
スライスベースを半導体ウェーハから引き倒して剥離さ
せるようにしても良い。
着剤を熱軟化させるようにしたが、これに限られるもの
ではなく、ヒータで前記熱軟化性接着材を局部的に加熱
して熱軟化させ、そして、熱軟化性接着材が熱軟化した
前記半導体ウェーハをウェーハ保持機構で保持した後、
スライスベースを半導体ウェーハから引き倒して剥離さ
せるようにしても良い。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るウェー
ハのスライスベースの剥離方法及びその装置によれば、
スライスベースの熱軟化性接着材が熱軟化する温度の温
水が貯留された温水槽に、半導体ウェーハを所定時間浸
漬し、そして、所定時間経過後、前記半導体ウェーハを
前記温水中から取り出し、前記ウェーハをウェーハ保持
手段で保持してスライスベースをハンマ手段で槌打して
半導体ウェーハから剥離させるようにしたので、薬液を
使用することなくスライスベースを短時間で剥離させる
ことができる。
ハのスライスベースの剥離方法及びその装置によれば、
スライスベースの熱軟化性接着材が熱軟化する温度の温
水が貯留された温水槽に、半導体ウェーハを所定時間浸
漬し、そして、所定時間経過後、前記半導体ウェーハを
前記温水中から取り出し、前記ウェーハをウェーハ保持
手段で保持してスライスベースをハンマ手段で槌打して
半導体ウェーハから剥離させるようにしたので、薬液を
使用することなくスライスベースを短時間で剥離させる
ことができる。
【0022】また、ヒータで前記熱軟化性接着材を局部
的に加熱して熱軟化させ、熱軟化性接着材が熱軟化した
前記半導体ウェーハをウェーハ保持手段で保持した後、
剥離手段でスライスベースを半導体ウェーハから引き倒
して剥離させても良い。
的に加熱して熱軟化させ、熱軟化性接着材が熱軟化した
前記半導体ウェーハをウェーハ保持手段で保持した後、
剥離手段でスライスベースを半導体ウェーハから引き倒
して剥離させても良い。
【図1】本発明に係るウェーハのスライスベースの剥離
装置の実施例を示す斜視図
装置の実施例を示す斜視図
【図2】本発明に係るウェーハのスライスベースの剥離
装置の作動説明図
装置の作動説明図
【図3】本発明に係るウェーハのスライスベースの剥離
装置の作動説明図
装置の作動説明図
【図4】本発明に係るウェーハのスライスベースの剥離
装置の作動説明図
装置の作動説明図
【図5】本発明に係るウェーハのスライスベースの剥離
装置の作動説明図
装置の作動説明図
10…スライスベースの剥離装置 12…ウェーハ 16…温水槽 18…ハンマ部 22…挟持板 28…スライスベース 30…温水
Claims (4)
- 【請求項1】 スライシングマシンで切断された半導体
ウェーハを、この半導体ウェーハに接着されているスラ
イスベースの熱軟化性接着材が熱軟化する温度の温水中
に所定時間浸漬し、 所定時間経過後、前記半導体ウェーハを前記温水中から
取り出し、前記スライスベースを槌打して半導体ウェー
ハから剥離させることを特徴とするウェーハのスライス
ベースの剥離方法。 - 【請求項2】 スライシングマシンで切断された半導体
ウェーハに接着されているスライスベースの熱軟化性接
着材を、ヒータによって熱軟化させた後、前記スライス
ベースを半導体ウェーハから剥離させることを特徴とす
るウェーハのスライスベースの剥離方法。 - 【請求項3】 スライシングマシンで切断された半導体
ウェーハが浸漬されると共に、この半導体ウェーハに接
着されているスライスベースの熱軟化性接着材が熱軟化
する温度の温水が貯留された温水槽と、 前記温水中に所定時間浸漬されて取り出された前記半導
体ウェーハを保持するウェーハ保持手段と、 前記ウェーハ保持手段で保持されたウェーハのスライス
ベースを槌打して半導体ウェーハから剥離させるハンマ
手段と、 から成ることを特徴とするウェーハのスライスベースの
剥離装置。 - 【請求項4】 スライシングマシンで切断された半導体
ウェーハに接着されているスライスベースの熱軟化性接
着材を熱軟化させるヒータと、 前記熱軟化性接着材が熱軟化した前記半導体ウェーハを
保持するウェーハ保持手段と、 前記ウェーハ保持手段で保持されたウェーハのスライス
ベースを半導体ウェーハから剥離させる剥離手段と、 から成ることを特徴とするウェーハのスライスベースの
剥離装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05002867A JP3119324B2 (ja) | 1993-01-11 | 1993-01-11 | ウェーハのスライスベースの剥離装置 |
US08/167,025 US5427644A (en) | 1993-01-11 | 1993-12-16 | Method of manufacturing semiconductor wafer and system therefor |
DE4400221A DE4400221C2 (de) | 1993-01-11 | 1994-01-05 | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterwafers und Anlage hierfür |
KR1019940000301A KR100197090B1 (ko) | 1993-01-11 | 1994-01-10 | 반도체 웨이퍼의 제조방법 및 그 시스템 |
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