JPH0617878B2 - びん口部の欠陥検出方法 - Google Patents
びん口部の欠陥検出方法Info
- Publication number
- JPH0617878B2 JPH0617878B2 JP62149133A JP14913387A JPH0617878B2 JP H0617878 B2 JPH0617878 B2 JP H0617878B2 JP 62149133 A JP62149133 A JP 62149133A JP 14913387 A JP14913387 A JP 14913387A JP H0617878 B2 JPH0617878 B2 JP H0617878B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bottle
- defect
- bottle mouth
- peripheral edge
- outer peripheral
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
本発明は、びんの製造時にその口部の特に外周縁の表面
部分に発生した泡や欠けやすじ等の欠陥を光学的に検出
する方法に関する。
部分に発生した泡や欠けやすじ等の欠陥を光学的に検出
する方法に関する。
従来、この種の欠陥検出方法として、特公昭４３−１１
７１５号公報に開示されているように、びんを回転させ
ながら、その口部の天面に、２個の投光器からの光線を
斜め上から照射し、その反射光を、びん口部の上方に設
置した光電変換手段で検出し、その出力信号から欠陥の
有無を検出するものが知られている。
７１５号公報に開示されているように、びんを回転させ
ながら、その口部の天面に、２個の投光器からの光線を
斜め上から照射し、その反射光を、びん口部の上方に設
置した光電変換手段で検出し、その出力信号から欠陥の
有無を検出するものが知られている。
しかし、この方法は、びん口部の天面の欠陥検出を意図
したもので、２個の投光器を、びん口部の天面の検査点
と同じ垂直面（検査点上に垂直に立てた垂直面）に配置
し、びん口部の天面に欠陥がないときは反射光は光電変
換手段から外れ、欠陥があるとき、そこで光が乱反射さ
れて光電変換手段に入光することによって欠陥の有無を
検出するもので、びん口部の天面のフラットな部分に生
ずる傷の検出ならまだしも、びん口部の密閉性の問題か
ら重要な欠陥である、口部の外周縁の特に表面部分に発
生する小さな浅い泡等の欠陥に対しては、Ｓ／Ｎ比の問
題から十分に対応できなかった。すなわち、びん口部の
外周縁は円くなっているため、欠陥がなくともそこから
の反射光が光電変換手段に入光し、Ｓ／Ｎ比を悪くして
いた。口部の外周縁の特に表面部分に発生する浅い泡や
欠け，すじ等の欠陥は、小さくとも、封入後に液漏れや
内容物の変化などを発生させるため、天面の欠陥に比べ
てより重大な欠陥である。 そこで、本発明の目的は、びん口部の外周縁の特に表面
部分に発生した小さく浅い泡等の欠陥の検出を意図し、
このような欠陥を精度良く検出できる方法を提供するこ
とである。
したもので、２個の投光器を、びん口部の天面の検査点
と同じ垂直面（検査点上に垂直に立てた垂直面）に配置
し、びん口部の天面に欠陥がないときは反射光は光電変
換手段から外れ、欠陥があるとき、そこで光が乱反射さ
れて光電変換手段に入光することによって欠陥の有無を
検出するもので、びん口部の天面のフラットな部分に生
ずる傷の検出ならまだしも、びん口部の密閉性の問題か
ら重要な欠陥である、口部の外周縁の特に表面部分に発
生する小さな浅い泡等の欠陥に対しては、Ｓ／Ｎ比の問
題から十分に対応できなかった。すなわち、びん口部の
外周縁は円くなっているため、欠陥がなくともそこから
の反射光が光電変換手段に入光し、Ｓ／Ｎ比を悪くして
いた。口部の外周縁の特に表面部分に発生する浅い泡や
欠け，すじ等の欠陥は、小さくとも、封入後に液漏れや
内容物の変化などを発生させるため、天面の欠陥に比べ
てより重大な欠陥である。 そこで、本発明の目的は、びん口部の外周縁の特に表面
部分に発生した小さく浅い泡等の欠陥の検出を意図し、
このような欠陥を精度良く検出できる方法を提供するこ
とである。
本発明の欠陥検出方法は、基本的には、従来と同様に、
びんを検査位置で回転させながら、一対の投光器からの
光線をびんの口部に照射し、その反射光を、びん口部の
上方に配置した光電変換手段で検出する方法ではある
が、次の及びのような具体的構成を採用することに
より、上記の目的を達成したものである。すなわち、 びん口部の外周縁の一点Ｐを通る水平な接線Ａ−Ａに
対し、前記一対の投光器をびん口部の外方に位置させ、
それらの光軸Ｏ1、Ｏ2が、接線Ａ−Ａと水平方向に所定
の鋭角α1、α2をなすとともに、垂直方向には８〜18度
の角度をなして上記一点Ｐで交差する関係としたこと、 光電変換手段としてＣＣＤイメージセンサを用い、そ
の走査方向が上記接線Ａ−Ａとほぼ直交し、しかもその
視野が上記一点Ｐを含んでびん口部の外周縁及び内周縁
の内外両方へ横断する関係としたことを特徴とする。
びんを検査位置で回転させながら、一対の投光器からの
光線をびんの口部に照射し、その反射光を、びん口部の
上方に配置した光電変換手段で検出する方法ではある
が、次の及びのような具体的構成を採用することに
より、上記の目的を達成したものである。すなわち、 びん口部の外周縁の一点Ｐを通る水平な接線Ａ−Ａに
対し、前記一対の投光器をびん口部の外方に位置させ、
それらの光軸Ｏ1、Ｏ2が、接線Ａ−Ａと水平方向に所定
の鋭角α1、α2をなすとともに、垂直方向には８〜18度
の角度をなして上記一点Ｐで交差する関係としたこと、 光電変換手段としてＣＣＤイメージセンサを用い、そ
の走査方向が上記接線Ａ−Ａとほぼ直交し、しかもその
視野が上記一点Ｐを含んでびん口部の外周縁及び内周縁
の内外両方へ横断する関係としたことを特徴とする。
このような方法によると、投光器からの光線はびん口部
の外周縁を反射するが、その外周縁の接線Ａ−Ａに対す
る垂直方向の入射角度が８〜18度と小さいため、びん口
部の外周縁が円くなっていても、そこからの反射光は、
欠陥がない場合はＣＣＤイメージセンサに入光せず、欠
陥があると乱反射によってその一部がＣＣＤイメージセ
ンサに入光し、欠陥がない部分とで入光光量に大きな差
が生じる。垂直方向の入射角度は、びん口部の外周縁の
表面部分の欠陥の検出を意図して８〜18度としてあるた
め、びん口部の品質上影響を与えない外周縁の深い欠陥
は除かれ、品質上重大な欠陥である浅いところの目的と
する欠陥を正確に検出することができる。 びんの口部への光線の投光は、一対の投光器によって両
側から互いに光軸が交差するように行われるため、欠陥
部分の反斜面がどちらに向いていてもその検知が可能で
ある。 その場合、一対の投光器をびん口部の外方に位置させ、
それらの光軸Ｏ1、Ｏ2が、接線Ａ−Ａと水平方向の入射
角度α1、α2は比較的大きくして、両投光器からの光線
が、びん口部の外周縁の一点Ｐに、なるべく小さいスポ
ットとなって照射されるようにする。これに対して、光
軸Ｏ1、Ｏ2が接線Ａ−Ａとなす垂直方向の入射角度
β1、β2は、８〜18度と小さくして、一点Ｐからの正反
射光のみをＣＣＤイメージセンサに確実に入光させ、Ｓ
／Ｎ比の向上を図る。
の外周縁を反射するが、その外周縁の接線Ａ−Ａに対す
る垂直方向の入射角度が８〜18度と小さいため、びん口
部の外周縁が円くなっていても、そこからの反射光は、
欠陥がない場合はＣＣＤイメージセンサに入光せず、欠
陥があると乱反射によってその一部がＣＣＤイメージセ
ンサに入光し、欠陥がない部分とで入光光量に大きな差
が生じる。垂直方向の入射角度は、びん口部の外周縁の
表面部分の欠陥の検出を意図して８〜18度としてあるた
め、びん口部の品質上影響を与えない外周縁の深い欠陥
は除かれ、品質上重大な欠陥である浅いところの目的と
する欠陥を正確に検出することができる。 びんの口部への光線の投光は、一対の投光器によって両
側から互いに光軸が交差するように行われるため、欠陥
部分の反斜面がどちらに向いていてもその検知が可能で
ある。 その場合、一対の投光器をびん口部の外方に位置させ、
それらの光軸Ｏ1、Ｏ2が、接線Ａ−Ａと水平方向の入射
角度α1、α2は比較的大きくして、両投光器からの光線
が、びん口部の外周縁の一点Ｐに、なるべく小さいスポ
ットとなって照射されるようにする。これに対して、光
軸Ｏ1、Ｏ2が接線Ａ−Ａとなす垂直方向の入射角度
β1、β2は、８〜18度と小さくして、一点Ｐからの正反
射光のみをＣＣＤイメージセンサに確実に入光させ、Ｓ
／Ｎ比の向上を図る。
次に本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する。 第１図及び第２図において、びん１は従来公知のように
１個ずつ検査位置へ搬送され、この位置で回転体２によ
り回転されながら、その口部３の天面４の外周縁７の一
点Ｐへ一対いの投光器５・６から同時に光線を照射され
る。これら投光器５・６の光軸Ｏ1、Ｏ2は一点Ｐで互い
に交差し、しかもその交差点Ｐを通る水平な接線Ａ−Ａ
に対して水平方向に所定の鋭角α1、α2をなすととも
に、該接線Ａ−Ａに対して垂直方向に所定の鋭角β1、
β2（α1、α2より小さく、後記のように８〜18度とす
る）をなす関係になっている。そして、これら投光器５
・６による投光範囲Ｂは、第３図においてハッチングで
表すように平面的には交差点Ｐの周りの所要範囲を含む
菱形をなし、しかも第４図に示すように天面４の外周縁
７よりやや下側の部分をも含む広さになっている。 天面４の上方には、従来公知のＣＣＤカメラ８が入光口
を下向きにして架設されている。このＣＣＤカメラ８に
内蔵されたＣＣＤリニアイメージセンサ９の視野、つま
り第３図に示すようにその走査範囲Ｃは、交差点Ｐにお
いて接線Ａ−Ａと直交し、しかも投光範囲Ｂの最も幅の
広い部分より両側へはみ出る長さになっている。 従って、両投光器５・６からの光線は回転するびんの１
の口部３を反射するが、その水平方向の入射角度α1、
α2が鋭角であるとともに、垂直方向の入射角度β1、β
2も鋭角（８〜18度）であるため、口部３の外周縁７を
反射した光は、その反射した面が通常の円みをもって連
続していて欠陥による凹凸がない場合は、ＣＣＤカメラ
８の入光口から外れるため、このような反射光はリニア
イメージセンサ９によって検知されない。ところが、口
部３の天面４または外周縁７に欠陥による凹凸がある
と、投光器５・６からの光はそこで乱反射されるため、
その反射光の一部がＣＣＤカメラ８の入光口からリニア
イメージセンサ９に入光し、該リニアイメージセンサ９
は、欠陥に対応する位置のエレメントが他のエレメント
うよりも電圧が高くなるため、その電圧を公知の方法で
電気的に処理することにより欠陥の有無を精度良く検出
できる。 また、びん１の口部３への光線の投光は、一対の投光器
５・６によって欠陥を口部３の円周方向の両側からしか
も斜め上方より照射するような態様で行われるため、欠
陥の反射面がいずれの方向に向いていても、その検知は
可能である。 ところで、リニアイメージセンサ９による欠陥検出のＳ
／Ｎ比は、両投光器５・６の光軸Ｏ1、Ｏ2の水平方向の
入射角度α1、α2及び垂直方向の入射角度β1、β2によ
って左右されること、以上の説明から明らかである。 そこで、本発明者らは、Ｓ／Ｎ比の高い入射角度α1、
α2及び入射角度β1、β2を見出すために、次のような
実験を行った。 第５図に示すように欠陥10が口部３の天面４にあるびん
１を選び、第６図に示すようにその天面４のほぼ真上か
らその外周縁７に向けてレーザー発振器11からのレーザ
ー光線12をやや斜めに照射する、この場合、びん１の中
心線との入射角γが約３度、天面４との反射角δが約10
度になるように設定し、その反射光をスクリーン13上に
投影した。そして、欠陥10からの反射光線の角度、つま
りその反射点よりスクリーン13上に下ろした垂線となす
角度（散乱角度）θ2またはθ3を測定した。このような
測定を、びん口部の外周縁の表面部分に欠陥10のある多
数のびん１について行ったところ、第７図のグラフに示
すような結果を得た。この結果から散乱角度θ2及びθ3
は平均すると約30度になった。 従って、両投光器５・６の光軸Ｏ1、Ｏ2の水平方向の入
射角度α1、α2を約60度にすると、欠陥10を精度良く検
出できる。 次に、水平方向の入射角度α1、α2を約60度に固定し、
垂直方向の入射角度β1、β2例えば５，10，20，30，50
と変えはがら、上記のような欠陥10に対するリニアイメ
ージセンサ９のＳ／Ｎ比の変化を調べたところ、第８図
に示すようになった。従って、垂直方向の入射角度
β1、β2を８〜18度程度に選べば、Ｓ／Ｎ比の高い検出
を行えることになる。 なお上記の実施例ではＣＣＤリニアイメージセンサ９で
反射光を検知したが、マトリックス型のＣＣＤイメージ
センサで検知しても良い。
１個ずつ検査位置へ搬送され、この位置で回転体２によ
り回転されながら、その口部３の天面４の外周縁７の一
点Ｐへ一対いの投光器５・６から同時に光線を照射され
る。これら投光器５・６の光軸Ｏ1、Ｏ2は一点Ｐで互い
に交差し、しかもその交差点Ｐを通る水平な接線Ａ−Ａ
に対して水平方向に所定の鋭角α1、α2をなすととも
に、該接線Ａ−Ａに対して垂直方向に所定の鋭角β1、
β2（α1、α2より小さく、後記のように８〜18度とす
る）をなす関係になっている。そして、これら投光器５
・６による投光範囲Ｂは、第３図においてハッチングで
表すように平面的には交差点Ｐの周りの所要範囲を含む
菱形をなし、しかも第４図に示すように天面４の外周縁
７よりやや下側の部分をも含む広さになっている。 天面４の上方には、従来公知のＣＣＤカメラ８が入光口
を下向きにして架設されている。このＣＣＤカメラ８に
内蔵されたＣＣＤリニアイメージセンサ９の視野、つま
り第３図に示すようにその走査範囲Ｃは、交差点Ｐにお
いて接線Ａ−Ａと直交し、しかも投光範囲Ｂの最も幅の
広い部分より両側へはみ出る長さになっている。 従って、両投光器５・６からの光線は回転するびんの１
の口部３を反射するが、その水平方向の入射角度α1、
α2が鋭角であるとともに、垂直方向の入射角度β1、β
2も鋭角（８〜18度）であるため、口部３の外周縁７を
反射した光は、その反射した面が通常の円みをもって連
続していて欠陥による凹凸がない場合は、ＣＣＤカメラ
８の入光口から外れるため、このような反射光はリニア
イメージセンサ９によって検知されない。ところが、口
部３の天面４または外周縁７に欠陥による凹凸がある
と、投光器５・６からの光はそこで乱反射されるため、
その反射光の一部がＣＣＤカメラ８の入光口からリニア
イメージセンサ９に入光し、該リニアイメージセンサ９
は、欠陥に対応する位置のエレメントが他のエレメント
うよりも電圧が高くなるため、その電圧を公知の方法で
電気的に処理することにより欠陥の有無を精度良く検出
できる。 また、びん１の口部３への光線の投光は、一対の投光器
５・６によって欠陥を口部３の円周方向の両側からしか
も斜め上方より照射するような態様で行われるため、欠
陥の反射面がいずれの方向に向いていても、その検知は
可能である。 ところで、リニアイメージセンサ９による欠陥検出のＳ
／Ｎ比は、両投光器５・６の光軸Ｏ1、Ｏ2の水平方向の
入射角度α1、α2及び垂直方向の入射角度β1、β2によ
って左右されること、以上の説明から明らかである。 そこで、本発明者らは、Ｓ／Ｎ比の高い入射角度α1、
α2及び入射角度β1、β2を見出すために、次のような
実験を行った。 第５図に示すように欠陥10が口部３の天面４にあるびん
１を選び、第６図に示すようにその天面４のほぼ真上か
らその外周縁７に向けてレーザー発振器11からのレーザ
ー光線12をやや斜めに照射する、この場合、びん１の中
心線との入射角γが約３度、天面４との反射角δが約10
度になるように設定し、その反射光をスクリーン13上に
投影した。そして、欠陥10からの反射光線の角度、つま
りその反射点よりスクリーン13上に下ろした垂線となす
角度（散乱角度）θ2またはθ3を測定した。このような
測定を、びん口部の外周縁の表面部分に欠陥10のある多
数のびん１について行ったところ、第７図のグラフに示
すような結果を得た。この結果から散乱角度θ2及びθ3
は平均すると約30度になった。 従って、両投光器５・６の光軸Ｏ1、Ｏ2の水平方向の入
射角度α1、α2を約60度にすると、欠陥10を精度良く検
出できる。 次に、水平方向の入射角度α1、α2を約60度に固定し、
垂直方向の入射角度β1、β2例えば５，10，20，30，50
と変えはがら、上記のような欠陥10に対するリニアイメ
ージセンサ９のＳ／Ｎ比の変化を調べたところ、第８図
に示すようになった。従って、垂直方向の入射角度
β1、β2を８〜18度程度に選べば、Ｓ／Ｎ比の高い検出
を行えることになる。 なお上記の実施例ではＣＣＤリニアイメージセンサ９で
反射光を検知したが、マトリックス型のＣＣＤイメージ
センサで検知しても良い。
以上述べたとおり本発明は、びん口部の外周縁の特に表
面部分に発生した小さく浅い泡等の欠陥の検出を意図
し、一対の投光器をびん口部の外方に位置させるととも
に、それらの光軸Ｏ1、Ｏ2が、びん口部の外周縁の一点
Ｐを通る水平な接線Ａ−Ａとなす水平方向の入射角度α
1、α2は比較的大きくして、両投光器からの光線が、び
ん口部の外周縁の一点Ｐに、なるべく小さいスポットと
なって照射されるようにする一方、光軸Ｏ1、Ｏ2が接線
Ａ−Ａとなす垂直方向の入射角度β1、β2を８〜18度と
小さくして、一点Ｐからの正反射光のみをＣＣＤイメー
イセンサに確実に入光するようにしたので、びん口部の
外周縁が円くなっていても、その外周縁子の特に表面部
分に発生する小さく浅い欠陥をＳ／Ｎ比高く正確に検出
できる。 光電変換手段としてＣＣＤイメージセンサを用い、その
走査方向が上記接線Ａ−Ａとほぼ直交し、しかもその視
野が上記一点Ｐを含んでびん口部の外周縁及び内周縁の
内外両方へ横断する関係としたので、びん口部の外周縁
の欠陥が、びん口部の天面まで及んでいても、また外周
縁にはないが天面上にだけ存在する欠陥でも検出でき
る。 びんの口部への光線の投光は、一対の投光器によって両
側から互いに光軸が交差するように行われるため、欠陥
部分の反斜面がどちらに向いていてもその検知が可能で
ある。
面部分に発生した小さく浅い泡等の欠陥の検出を意図
し、一対の投光器をびん口部の外方に位置させるととも
に、それらの光軸Ｏ1、Ｏ2が、びん口部の外周縁の一点
Ｐを通る水平な接線Ａ−Ａとなす水平方向の入射角度α
1、α2は比較的大きくして、両投光器からの光線が、び
ん口部の外周縁の一点Ｐに、なるべく小さいスポットと
なって照射されるようにする一方、光軸Ｏ1、Ｏ2が接線
Ａ−Ａとなす垂直方向の入射角度β1、β2を８〜18度と
小さくして、一点Ｐからの正反射光のみをＣＣＤイメー
イセンサに確実に入光するようにしたので、びん口部の
外周縁が円くなっていても、その外周縁子の特に表面部
分に発生する小さく浅い欠陥をＳ／Ｎ比高く正確に検出
できる。 光電変換手段としてＣＣＤイメージセンサを用い、その
走査方向が上記接線Ａ−Ａとほぼ直交し、しかもその視
野が上記一点Ｐを含んでびん口部の外周縁及び内周縁の
内外両方へ横断する関係としたので、びん口部の外周縁
の欠陥が、びん口部の天面まで及んでいても、また外周
縁にはないが天面上にだけ存在する欠陥でも検出でき
る。 びんの口部への光線の投光は、一対の投光器によって両
側から互いに光軸が交差するように行われるため、欠陥
部分の反斜面がどちらに向いていてもその検知が可能で
ある。
図面は本発明の一実施例を示し、第１図及び第２図はそ
の実施態様の正面図及び平面図、第３図及び第４図は投
光範囲を示す平面図及び正面図、第５図及び第６図は欠
陥による光の散乱角度を測定する実験例の平面図及び側
面図、第７図はその測定結果を示す線グラフ、第８図は
投光入射角度によるＳ／Ｎ比の変化を測定した測定例の
線グラフである。 １……びん、３……口部、４……天面、５・６……投光
器、７……外周縁、９……ＣＣＤリニアイメージセン
サ。
の実施態様の正面図及び平面図、第３図及び第４図は投
光範囲を示す平面図及び正面図、第５図及び第６図は欠
陥による光の散乱角度を測定する実験例の平面図及び側
面図、第７図はその測定結果を示す線グラフ、第８図は
投光入射角度によるＳ／Ｎ比の変化を測定した測定例の
線グラフである。 １……びん、３……口部、４……天面、５・６……投光
器、７……外周縁、９……ＣＣＤリニアイメージセン
サ。
Claims (1)
- 【請求項１】びんを検査位置で回転させながら、一対の
投光器からの光線をびんの口部に照射し、その反射光
を、びん口部の上方に配置した光電変換手段で検出する
びん口部の欠陥検出方法において、 びん口部の外周縁の一点Ｐを通る水平な接線Ａ−Ａに対
し、前記一対の投光器をびん口部の外方に位置させ、そ
れらの光軸Ｏ1、Ｏ2が、接線Ａ−Ａと水平方向に所定の
鋭角α1、α2をなすとともに、垂直方向には８〜18度の
角度をなして上記一点Ｐで交差する関係としたこと、 前記光電変換手段としてＣＣＤイメージセンサを用い、
その走査方向が上記接線Ａ−Ａとほぼ直交し、しかもそ
の視野が上記一点Ｐを含んでびん口部の外周縁及び内周
縁の内外両方へ横断する関係としたことを特徴とするび
ん口部の欠陥検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62149133A JPH0617878B2 (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 | びん口部の欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62149133A JPH0617878B2 (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 | びん口部の欠陥検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63314449A JPS63314449A (ja) | 1988-12-22 |
| JPH0617878B2 true JPH0617878B2 (ja) | 1994-03-09 |
Family
ID=15468460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62149133A Expired - Lifetime JPH0617878B2 (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 | びん口部の欠陥検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0617878B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015036648A (ja) * | 2013-08-13 | 2015-02-23 | 東洋ガラス株式会社 | 合目段差測定装置、および合目段差測定方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0472554A (ja) * | 1990-07-13 | 1992-03-06 | Hajime Sangyo Kk | 透明容器検査装置 |
| JP3989739B2 (ja) * | 2002-01-24 | 2007-10-10 | ユニバーサル製缶株式会社 | 検査装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56126706A (en) * | 1980-03-12 | 1981-10-05 | Mitsubishi Electric Corp | Inspecting device for bottle |
| JPS5720650A (en) * | 1980-07-12 | 1982-02-03 | Suntory Ltd | Inspecting method for annular body |
| JPS60249204A (ja) * | 1984-05-24 | 1985-12-09 | 肇産業株式会社 | 照明装置 |
-
1987
- 1987-06-17 JP JP62149133A patent/JPH0617878B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015036648A (ja) * | 2013-08-13 | 2015-02-23 | 東洋ガラス株式会社 | 合目段差測定装置、および合目段差測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63314449A (ja) | 1988-12-22 |
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