JPH10185829A - 透明平面体表面の欠陥検査方法及びその装置 - Google Patents
透明平面体表面の欠陥検査方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH10185829A JPH10185829A JP34084396A JP34084396A JPH10185829A JP H10185829 A JPH10185829 A JP H10185829A JP 34084396 A JP34084396 A JP 34084396A JP 34084396 A JP34084396 A JP 34084396A JP H10185829 A JPH10185829 A JP H10185829A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ガラス板等の透明平面体表面の凹凸欠陥を正
確に検出することができる欠陥検査装置を提供する。 【解決手段】 検査容器4に収容された液状体10の表
面に検査対象とする透明平面体5を載置し、検査容器4
の透明窓4aから投光部2により帯状の照明光aを透明
平面体5の表面に全反射臨界角より大きな入射角度で照
射したとき、表面に凹凸欠陥がないときは照明光aは全
反射されるが、凹凸欠陥があると全反射条件が変化して
照明光aが透明平面体5を透過するので、透過光cを受
光部3で検出すると表面欠陥を検出することができる。
確に検出することができる欠陥検査装置を提供する。 【解決手段】 検査容器4に収容された液状体10の表
面に検査対象とする透明平面体5を載置し、検査容器4
の透明窓4aから投光部2により帯状の照明光aを透明
平面体5の表面に全反射臨界角より大きな入射角度で照
射したとき、表面に凹凸欠陥がないときは照明光aは全
反射されるが、凹凸欠陥があると全反射条件が変化して
照明光aが透明平面体5を透過するので、透過光cを受
光部3で検出すると表面欠陥を検出することができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガラス板等の透明
平面体の表面に生じた傷や打痕等の欠陥を検出する透明
平面体表面の欠陥検査方法及びその装置に関するもので
ある。
平面体の表面に生じた傷や打痕等の欠陥を検出する透明
平面体表面の欠陥検査方法及びその装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】ガラス板や樹脂板等の透明平面体の表面
に生じた傷等の欠陥検査を行うための欠陥検査方法とし
て、図4に示すような平滑表面に生じた凹凸欠陥による
光の乱反射をカメラで撮像する方法が知られている。
に生じた傷等の欠陥検査を行うための欠陥検査方法とし
て、図4に示すような平滑表面に生じた凹凸欠陥による
光の乱反射をカメラで撮像する方法が知られている。
【0003】図4に示すように、ガラス板等の透明平面
体21の表面の法線方向にカメラ22を配設すると共
に、表面を浅い角度で照明する光源23を配設して検査
装置を構成する。透明平面体21の表面に傷等の欠陥が
ないときは、光源23からの照明光は入射角と反射角と
が等しい関係で反射してカメラ22に入射しないため、
カメラ22が撮像した画像は全面暗部となる。透明平面
体21の表面に凹凸欠陥が存在すると、照明光は乱反射
するのでカメラ22方向にも乱反射光の一部が入射し、
カメラ22の画像に明部が撮像され、欠陥が検出でき
る。
体21の表面の法線方向にカメラ22を配設すると共
に、表面を浅い角度で照明する光源23を配設して検査
装置を構成する。透明平面体21の表面に傷等の欠陥が
ないときは、光源23からの照明光は入射角と反射角と
が等しい関係で反射してカメラ22に入射しないため、
カメラ22が撮像した画像は全面暗部となる。透明平面
体21の表面に凹凸欠陥が存在すると、照明光は乱反射
するのでカメラ22方向にも乱反射光の一部が入射し、
カメラ22の画像に明部が撮像され、欠陥が検出でき
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来構成になる欠陥検査装置では、透明平面体21の表面
欠陥が形成する角度により、表面欠陥があるにもかかわ
らず乱反射光がカメラ方向に向かわない場合があり、確
実に欠陥を検出できない問題点があった。
来構成になる欠陥検査装置では、透明平面体21の表面
欠陥が形成する角度により、表面欠陥があるにもかかわ
らず乱反射光がカメラ方向に向かわない場合があり、確
実に欠陥を検出できない問題点があった。
【0005】本発明は、従来技術に係る問題点を解決す
べく創案されたもので、透明平面体の表面に生じた凹凸
欠陥が形成する角度にかかわらず表面欠陥が検出できる
透明平面体表面の欠陥検出方法及びその装置を提供する
ことを目的とする。
べく創案されたもので、透明平面体の表面に生じた凹凸
欠陥が形成する角度にかかわらず表面欠陥が検出できる
透明平面体表面の欠陥検出方法及びその装置を提供する
ことを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本願の第1発明に係る透
明平面体表面の欠陥検査方法は、検査対象とする透明平
面体の屈折率より大きな屈折率を有する媒体に接するよ
うに前記透明平面体を配置し、前記媒体を通して前記透
明平面体の表面に全反射臨界角より大きな入射角度で照
明光を入射させ、表面欠陥によって前記照明光の全反射
条件が変化することにより前記透明平面体を透過した前
記照明光を検出することにより、前記透明平面体表面の
凹凸欠陥の有無を検査することを特徴とする。前記媒体
としては、透明平面体の屈折率より大きな屈折率を有す
る液状体を用いると好適である。
明平面体表面の欠陥検査方法は、検査対象とする透明平
面体の屈折率より大きな屈折率を有する媒体に接するよ
うに前記透明平面体を配置し、前記媒体を通して前記透
明平面体の表面に全反射臨界角より大きな入射角度で照
明光を入射させ、表面欠陥によって前記照明光の全反射
条件が変化することにより前記透明平面体を透過した前
記照明光を検出することにより、前記透明平面体表面の
凹凸欠陥の有無を検査することを特徴とする。前記媒体
としては、透明平面体の屈折率より大きな屈折率を有す
る液状体を用いると好適である。
【0007】上記検査方法によれば、透明平面体の前記
媒体に接した表面に対して全反射臨界角より大きな入射
角度で照明光を入射させると、透明平面体の表面が平滑
であれば照明光は全反射して透明平面体を透過しない。
しかし、透明平面体の表面に凹凸欠陥があると全反射条
件が崩れて照明光が透明平面体を透過するので、この透
過光の有無を検出すると透明平面体の表面欠陥の有無を
検査することができる。
媒体に接した表面に対して全反射臨界角より大きな入射
角度で照明光を入射させると、透明平面体の表面が平滑
であれば照明光は全反射して透明平面体を透過しない。
しかし、透明平面体の表面に凹凸欠陥があると全反射条
件が崩れて照明光が透明平面体を透過するので、この透
過光の有無を検出すると透明平面体の表面欠陥の有無を
検査することができる。
【0008】また、本願の第2発明に係る透明平面体表
面の欠陥検査装置は、検査対象とする透明平面体の屈折
率より大きな屈折率を有する液状体を収容する検査容器
と、前記液状体の表面に密着させた状態に配置した前記
透明平面体に対し、前記液状体の側から全反射臨界角よ
り大きな入射角度で照明光を入射させる照明光照射手段
と、表面欠陥によって前記照明光の全反射条件が変化す
ることにより前記透明平面体を透過した前記照明光を検
出する透過光検出手段と、前記照明光照射手段及び透過
光検出手段と前記透明平面体との間の相対位置を変化さ
せて透明平面体表面への照明光照射位置を移動させる照
射位置移動手段とを具備してなることを特徴とする。
面の欠陥検査装置は、検査対象とする透明平面体の屈折
率より大きな屈折率を有する液状体を収容する検査容器
と、前記液状体の表面に密着させた状態に配置した前記
透明平面体に対し、前記液状体の側から全反射臨界角よ
り大きな入射角度で照明光を入射させる照明光照射手段
と、表面欠陥によって前記照明光の全反射条件が変化す
ることにより前記透明平面体を透過した前記照明光を検
出する透過光検出手段と、前記照明光照射手段及び透過
光検出手段と前記透明平面体との間の相対位置を変化さ
せて透明平面体表面への照明光照射位置を移動させる照
射位置移動手段とを具備してなることを特徴とする。
【0009】上記構成によれば、検査対象となる透明平
面体は、この透明平面体の屈折率より大きな屈折率を有
する液状体の表面に密着させた状態に配置されるので、
前記液状体の側から照明光照射手段により透明平面体表
面に全反射臨界角より大きな入射角度で照明光を照射す
ると、透明平面体表面に凹凸欠陥がないときには照明光
は全反射されるが、凹凸欠陥があると、凹凸により全反
射条件が変わるため照明光は透明平面体中を透過する。
従って、この透過光を透過光検出手段によって検出する
ことにより欠陥が検出でき、照射位置移動手段により透
明平面体もしくは照明光照射手段及び透過光検出手段を
移動させれば、透明平面体の表面全面について欠陥検査
を行うことができる。
面体は、この透明平面体の屈折率より大きな屈折率を有
する液状体の表面に密着させた状態に配置されるので、
前記液状体の側から照明光照射手段により透明平面体表
面に全反射臨界角より大きな入射角度で照明光を照射す
ると、透明平面体表面に凹凸欠陥がないときには照明光
は全反射されるが、凹凸欠陥があると、凹凸により全反
射条件が変わるため照明光は透明平面体中を透過する。
従って、この透過光を透過光検出手段によって検出する
ことにより欠陥が検出でき、照射位置移動手段により透
明平面体もしくは照明光照射手段及び透過光検出手段を
移動させれば、透明平面体の表面全面について欠陥検査
を行うことができる。
【0010】また、上記構成は、照明光照射手段が透明
平面体表面に対して帯状光を照射し、照射位置移動手段
が前記帯状光と交差する方向に照射位置を移動させるこ
とを特徴として構成すれば、透明平面体表面の全面に対
して容易に欠陥検査を実施することができる。
平面体表面に対して帯状光を照射し、照射位置移動手段
が前記帯状光と交差する方向に照射位置を移動させるこ
とを特徴として構成すれば、透明平面体表面の全面に対
して容易に欠陥検査を実施することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の一実施形態について説明し、本発明の理解に供する。
尚、以下に示す実施形態は本発明を具体化した一例であ
って、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
の一実施形態について説明し、本発明の理解に供する。
尚、以下に示す実施形態は本発明を具体化した一例であ
って、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
【0012】ここに、図1は本発明の一実施形態に係る
透明平面体表面の欠陥検査装置の構成を示す模式図、図
2は図1に示す構成を立体的に示した斜視図である。
透明平面体表面の欠陥検査装置の構成を示す模式図、図
2は図1に示す構成を立体的に示した斜視図である。
【0013】図1、図2において、欠陥検査装置は、検
査対象とする透明平面体5の屈折率より大きな屈折率を
有する液状体10を収容した検査容器4と、この検査容
器4の底部に設けられた透明窓4aから照明光aを照射
する投光部(照明光照射手段)2と、前記透明平面体5
を透過した透過光cを検出する受光部(透過光検出手
段)3とを備えて構成されている。尚、前記透明平面体
5は照射位置移動手段により図示矢印方向に移動するよ
うに構成されている。前記照射位置移動手段の具体的な
図示は省略しているが、透明平面体5の対向側面を保持
して図示矢印方向に搬送する機構を採用することができ
る。
査対象とする透明平面体5の屈折率より大きな屈折率を
有する液状体10を収容した検査容器4と、この検査容
器4の底部に設けられた透明窓4aから照明光aを照射
する投光部(照明光照射手段)2と、前記透明平面体5
を透過した透過光cを検出する受光部(透過光検出手
段)3とを備えて構成されている。尚、前記透明平面体
5は照射位置移動手段により図示矢印方向に移動するよ
うに構成されている。前記照射位置移動手段の具体的な
図示は省略しているが、透明平面体5の対向側面を保持
して図示矢印方向に搬送する機構を採用することができ
る。
【0014】前記検査容器4に収容される液状体10
は、検査対象とする透明平面体5の屈折率より大きな屈
折率を有する液体(例えばグリセリン)、ペースト状、
ゲル状のものが採用でき、表面に載置されるガラス板、
樹脂板等の透明平面体5の表面と空気層を介在させるこ
となく密着できるものである。
は、検査対象とする透明平面体5の屈折率より大きな屈
折率を有する液体(例えばグリセリン)、ペースト状、
ゲル状のものが採用でき、表面に載置されるガラス板、
樹脂板等の透明平面体5の表面と空気層を介在させるこ
となく密着できるものである。
【0015】前記投光部2は、光源6からの光をレンズ
7、8で集光して、透明平面体5の液状体10に密着す
る表面に対して透明平面体5の全反射角となる入射角度
で、図2に示すように、帯状の照明光aを透明平面体5
の表面に投光する。帯状の照明光aは、例えば、アパー
チャ型蛍光灯のように所定方向に集中する光を照射する
光源6からの光をレンズ7、8としてシリンドリカルレ
ンズを用いて集光することによって実現できる。更に、
全反射角より小さい角度、即ち透明平面体5を透過する
角度で入射する光が投光されないように、遮光板9を設
けて全反射角より小さい角度光の照射を遮断している。
7、8で集光して、透明平面体5の液状体10に密着す
る表面に対して透明平面体5の全反射角となる入射角度
で、図2に示すように、帯状の照明光aを透明平面体5
の表面に投光する。帯状の照明光aは、例えば、アパー
チャ型蛍光灯のように所定方向に集中する光を照射する
光源6からの光をレンズ7、8としてシリンドリカルレ
ンズを用いて集光することによって実現できる。更に、
全反射角より小さい角度、即ち透明平面体5を透過する
角度で入射する光が投光されないように、遮光板9を設
けて全反射角より小さい角度光の照射を遮断している。
【0016】また、前記受光部3は、帯状の照明光aに
対応させるために、シリンドリカルレンズからなる集光
レンズ11と、ラインセンサを用いた受光センサ12と
を備えて構成されており、前記照明光aの帯状の照射ラ
インと同一方向に前記集光レンズ11及び受光センサ1
2の長手方向を一致させて配設されている。
対応させるために、シリンドリカルレンズからなる集光
レンズ11と、ラインセンサを用いた受光センサ12と
を備えて構成されており、前記照明光aの帯状の照射ラ
インと同一方向に前記集光レンズ11及び受光センサ1
2の長手方向を一致させて配設されている。
【0017】上記構成になる透明平面体表面の欠陥検査
装置1による表面欠陥検出の動作について、図3を参照
して説明する。図3(a)(b)は、上記構成における
透明平面体5の表面欠陥検出の原理を説明する説明図で
ある。
装置1による表面欠陥検出の動作について、図3を参照
して説明する。図3(a)(b)は、上記構成における
透明平面体5の表面欠陥検出の原理を説明する説明図で
ある。
【0018】上記したように、透明平面体5は、透明平
面体5の屈折率より大きな屈折率を有する液状体10に
密着しているので、液体10の側から照明光aを全反射
臨界角Pよりやや大きな全反射角θ1 〜θ2 で入射させ
ると、図3(a)に示すように照明光aは透明平面体5
の表面で全反射される。前記臨界角Pは屈折率の大きな
物質と屈折率の小さい物質とが接する境界面に対して、
屈折率の大きい物質の側から照明光aを入射させたと
き、屈折率の小さい物質側に光が透過せず、全反射とな
る臨界の角度で、法線Oからの角度として示される。こ
の臨界角Pより大きな角度で入射させた照明光aは全て
反射されて反射光bとなり、透明平面体5を透過する光
は存在しない。従って、受光部3は透過光cを検出しな
い。
面体5の屈折率より大きな屈折率を有する液状体10に
密着しているので、液体10の側から照明光aを全反射
臨界角Pよりやや大きな全反射角θ1 〜θ2 で入射させ
ると、図3(a)に示すように照明光aは透明平面体5
の表面で全反射される。前記臨界角Pは屈折率の大きな
物質と屈折率の小さい物質とが接する境界面に対して、
屈折率の大きい物質の側から照明光aを入射させたと
き、屈折率の小さい物質側に光が透過せず、全反射とな
る臨界の角度で、法線Oからの角度として示される。こ
の臨界角Pより大きな角度で入射させた照明光aは全て
反射されて反射光bとなり、透明平面体5を透過する光
は存在しない。従って、受光部3は透過光cを検出しな
い。
【0019】しかし、透明平面体5の表面に、図3
(b)に示すように凹凸欠陥(図示は凹欠陥)がある
と、照明光aの透明平面体5への入射角度は臨界角Pよ
りやや大きい全反射角度θ1 〜θ2 なので、凹凸欠陥に
よる表面角度の変化により全反射条件が崩れやすく、欠
陥による表面角度の変化で照明光aは透明平面体5を透
過することになる。従って、透明平面体5を透過した透
過光cの有無を検出することにより、透明平面体5の表
面欠陥の有無を検査することができる。
(b)に示すように凹凸欠陥(図示は凹欠陥)がある
と、照明光aの透明平面体5への入射角度は臨界角Pよ
りやや大きい全反射角度θ1 〜θ2 なので、凹凸欠陥に
よる表面角度の変化により全反射条件が崩れやすく、欠
陥による表面角度の変化で照明光aは透明平面体5を透
過することになる。従って、透明平面体5を透過した透
過光cの有無を検出することにより、透明平面体5の表
面欠陥の有無を検査することができる。
【0020】また、照明光aは、レンズ8の集光角度の
範囲で異なる入射角度θ1 〜θ2 で入射するので、欠陥
が形成する不規則な形状でも透過角度となる範囲が広
く、欠陥の検出もれがなくなる。
範囲で異なる入射角度θ1 〜θ2 で入射するので、欠陥
が形成する不規則な形状でも透過角度となる範囲が広
く、欠陥の検出もれがなくなる。
【0021】前記投光部2が照射する照明光aは、図2
に示すように透明平面体5の幅をカバーできる長さの帯
状光なので、透明平面体5を前記帯状光に交差する図示
矢印方向に移動させ、投光部2と受光部3との間を通過
させると、帯状に照射する照明光aは、透明平面体5の
表面に欠陥がないときは全て全反射され、欠陥がある
と、欠陥部分の照明光aは全反射せずに透明平面体5中
を透過し、透過光cが受光部3で検出され、透明平面体
5の表面全体の欠陥検査を行うことができる。
に示すように透明平面体5の幅をカバーできる長さの帯
状光なので、透明平面体5を前記帯状光に交差する図示
矢印方向に移動させ、投光部2と受光部3との間を通過
させると、帯状に照射する照明光aは、透明平面体5の
表面に欠陥がないときは全て全反射され、欠陥がある
と、欠陥部分の照明光aは全反射せずに透明平面体5中
を透過し、透過光cが受光部3で検出され、透明平面体
5の表面全体の欠陥検査を行うことができる。
【0022】尚、前記受光部3は、シリンドリカルレン
ズとラインセンサによる帯状の光検出手段でなく、任意
領域の透過光cを検出する面状の光センサで構成するこ
ともできる。また、本実施形態では、照射位置移動手段
は透明平面体5を移動させるように構成しているが、検
査容器4の底面全面を透明に形成し、透明平面体5を所
定位置に保持して、照射位置移動手段が投光部2及び受
光部3を移動させるように構成することもできる。さら
に、透明平面体の屈折率より大きな屈折率を有する媒体
として、透明固体を用い、この透明固体表面に透明平面
体を密着させて欠陥検査を行うこともできる。
ズとラインセンサによる帯状の光検出手段でなく、任意
領域の透過光cを検出する面状の光センサで構成するこ
ともできる。また、本実施形態では、照射位置移動手段
は透明平面体5を移動させるように構成しているが、検
査容器4の底面全面を透明に形成し、透明平面体5を所
定位置に保持して、照射位置移動手段が投光部2及び受
光部3を移動させるように構成することもできる。さら
に、透明平面体の屈折率より大きな屈折率を有する媒体
として、透明固体を用い、この透明固体表面に透明平面
体を密着させて欠陥検査を行うこともできる。
【0023】
【発明の効果】以上の説明の通り本願の第1発明に係る
透明平面体表面の欠陥検査方法によれば、透明平面体の
表面に凹凸欠陥があると全反射条件が崩れて照明光が透
明平面体を透過するので、この透過光の有無を検出する
と透明平面体の表面欠陥の有無を正確に検査することが
できる。
透明平面体表面の欠陥検査方法によれば、透明平面体の
表面に凹凸欠陥があると全反射条件が崩れて照明光が透
明平面体を透過するので、この透過光の有無を検出する
と透明平面体の表面欠陥の有無を正確に検査することが
できる。
【0024】また、本願の第2発明に係る透明平面体表
面の欠陥検査装置によれば、透明平面体の表面欠陥を正
確に検出できると共に、照射位置移動手段により透明平
面体の表面全面についての欠陥検査を円滑に行うことが
できる。
面の欠陥検査装置によれば、透明平面体の表面欠陥を正
確に検出できると共に、照射位置移動手段により透明平
面体の表面全面についての欠陥検査を円滑に行うことが
できる。
【図1】本発明の一実施形態に係る透明平面体表面の欠
陥検査装置の構成を示す模式図である。
陥検査装置の構成を示す模式図である。
【図2】図1に示す構成を立体的に表示した斜視図であ
る。
る。
【図3】欠陥による照明光の方向の変化を説明する説明
図で、欠陥のない状態(a)と欠陥のある状態(b)を
示す図である。
図で、欠陥のない状態(a)と欠陥のある状態(b)を
示す図である。
【図4】従来技術に係る欠陥検査装置の概略構成を示す
模式図である。
模式図である。
2 投光部(照明光照射手段) 3 受光部(透過光検出手段) 4 検査容器 5 透明平面体 10 媒体(液状体)
Claims (4)
- 【請求項1】 検査対象とする透明平面体の屈折率より
大きな屈折率を有する媒体に接するように前記透明平面
体を配置し、前記媒体を通して前記透明平面体の表面に
全反射臨界角より大きな入射角度で照明光を入射させ、
表面欠陥によって前記照明光の全反射条件が変化するこ
とにより前記透明平面体を透過した前記照明光を検出す
ることにより、前記透明平面体表面の凹凸欠陥の有無を
検査することを特徴とする透明平面体表面の欠陥検査方
法。 - 【請求項2】 媒体は透明平面体の屈折率より大きな屈
折率を有する液状体である請求項1記載の透明平面体表
面の欠陥検査方法。 - 【請求項3】 検査対象とする透明平面体の屈折率より
大きな屈折率を有する液状体を収容する検査容器と、前
記液状体の表面に密着させた状態に配置した前記透明平
面体に対し、前記液状体の側から全反射臨界角より大き
な入射角度で照明光を入射させる照明光照射手段と、表
面欠陥により前記照明光の全反射条件が変化することに
より前記透明平面体を透過した前記照明光を検出する透
過光検出手段と、前記照明光照射手段及び透過光検出手
段と前記透明平面体との間の相対位置を変化させて透明
平面体表面への照明光照射位置を移動させる照射位置移
動手段とを具備してなることを特徴とする透明平面体表
面の欠陥検査装置。 - 【請求項4】 照明光照射手段が透明平面体表面に対し
て帯状光を照射し、照射位置移動手段が前記帯状光と交
差する方向に照射位置を移動させることを特徴とする請
求項3記載の透明平面体表面の欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34084396A JPH10185829A (ja) | 1996-12-20 | 1996-12-20 | 透明平面体表面の欠陥検査方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34084396A JPH10185829A (ja) | 1996-12-20 | 1996-12-20 | 透明平面体表面の欠陥検査方法及びその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10185829A true JPH10185829A (ja) | 1998-07-14 |
Family
ID=18340822
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34084396A Pending JPH10185829A (ja) | 1996-12-20 | 1996-12-20 | 透明平面体表面の欠陥検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10185829A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004309481A (ja) * | 2003-04-04 | 2004-11-04 | Carl-Zeiss-Stiftung | 透明材料中の欠陥の検出方法及び装置 |
JP2007180203A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
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- 1996-12-20 JP JP34084396A patent/JPH10185829A/ja active Pending
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