JPH06160483A - 基板検査装置 - Google Patents

基板検査装置

Info

Publication number
JPH06160483A
JPH06160483A JP4350073A JP35007392A JPH06160483A JP H06160483 A JPH06160483 A JP H06160483A JP 4350073 A JP4350073 A JP 4350073A JP 35007392 A JP35007392 A JP 35007392A JP H06160483 A JPH06160483 A JP H06160483A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
board
probe pin
inspection
work transfer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4350073A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0827334B2 (ja
Inventor
Yoshio Dan
良雄 段
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Seiko Co Ltd
Original Assignee
Nitto Seiko Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Seiko Co Ltd filed Critical Nitto Seiko Co Ltd
Priority to JP4350073A priority Critical patent/JPH0827334B2/ja
Publication of JPH06160483A publication Critical patent/JPH06160483A/ja
Publication of JPH0827334B2 publication Critical patent/JPH0827334B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 回路パターンが印刷された基板に装着された
電子部品あるいは回路パターンの不良の有無検出を基板
に損傷を与えることなく行う基板検査装置を提供する。 【構成】 前進後退自在な昇降ヘッド81には直立して
ガイドスリーブが固定された基板押さえが一体に移動す
るように取付けられている。また、この昇降ヘッドには
所定検査を行う導電ワイヤ84が取付けられたプローブ
ピン取付け台85が前進駆動源により基板押さえに対し
て前進可能に取付けられている。しかも、前記導電ワイ
ヤ84はガイドスリーブに挿通自在に案内されており、
前進駆動源により導電ワイヤがガイドスリーブおよび基
板押さえから突出するように構成されている。 【効果】 基板の下方からの作業で基板が反り返るよう
なことがあっても、その反り返りは基板押さえに阻止さ
れ、導電ワイヤの折損あるいは基板の損傷なく、所定の
検査を正確に行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、各種電子部品が装着さ
れる基板に印刷された回路パターンの電気特性等を検査
する基板検査装置特に回路パターンに当接するプローブ
ピンを改良した基板検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】最近、各種機械の制御装置はコンパクト
化をはかるため、各電子部品、1C部品を基板上で接続
するに際して配線図を回路パターンとして印刷した基板
が数多く利用されている。この基板では、各電子部品の
装着前、または装着後にその耐電圧試験、導通試験等の
各種の試験を行って不良基板を排除したり、この基板上
装着されたIC部品の機能試験等を行って不良回路パタ
ーン、不良部品を排除する必要が生じている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】そのため、基板の回路
パターンに当接するプローブピンが直立して取付けられ
た昇降自在なプローブピン取付け台を持つ検査装置が開
発されている。この検査装置では、プローブピンがプロ
ーブピン取付け台の昇降にともなって一体に移動し、そ
の先端が基板の回路パターンに当接するように構成され
ている。しかも、このプローブピンは僅かな間隙を隔て
て配置された回路パターンに当接する関係で、極めて細
く形成されているため、同様の検査が基板の両側から行
われると、基板が一方側に大きく反り返り、この反り返
りによりこれに当接しているプローブピンが折損した
り、あるいは基板が損傷を受ける等の欠点が生じてい
る。
【0004】本発明は、上記欠点の除去を目的として発
明されたもので、印刷された回路パターンに一定押圧力
で当接するプローブピンを持つ基板検査装置を提供する
ものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】印刷された回路パターン
を持つ基板が載置されるワーク移載台を水平方向に往復
移動させる移動手段が配置され、しかもこのワーク移載
台の移動路近くに位置して、往復駆動源の作動により前
進後退する移動台が配置されている。この移動台にはワ
ーク移載台上の基板に当接するプローブピンが直立して
取付けられたプローブピン取付け台とプローブピンの先
端付近で基板に当接する基板押さえとを有する検査ユニ
ットが配置されている。前記基板押さえは移動台に一体
に取付けられており、しかもプローブピン取付け台は移
動台側に取付けられた前進駆動源により移動台に対して
前進可能に構成されている。
【0006】一方、前記基板押さえには所定検査位置に
対応して複数本のガイドスリーブがその先端を僅かに引
っ込んで位置するように固定されており、さらにこのガ
イドスリーブには前記プローブピンが挿通自在に案内さ
れ、その先端が基板押さえよりも引っ込んだ位置となる
ように配置されている。
【0007】
【作用】この装置では、ワーク移載台に載置された基板
が検査位置に位置すると、往復駆動源の作動により移動
台が前進して基板押さえとプローブピン取付け台とが前
進し、基板押さえが基板に当接する直前で停止する。そ
の後、前進駆動源が作動し、プローブピン取付け台が基
板押さえに対して前進する。そのため、プローブピンの
先端がガイドスリーブに案内されて前進し、その先端が
基板の回路パターンの所定の位置に当接し、所定の検査
を行うことができる。しかも、基板の下方から同様な検
査が行われて基板が反り返るようなことになっても、基
板は直ちに基板押さえに当接し、それ以上の反り返りが
防止され、プローブピンの損傷も皆無となり、確実な検
査が可能となる。
【0008】
【実施例】以下、実施例を図面に基づいて説明する。図
1ないし図3において、1は基板検査装置であり、基台
2に直立して固定されたコラム3を有し、このコラム3
にはその中間位置で水平に延びる移動手段の一例の直交
座標型のXYテーブル4が固定されている。このXYテ
ーブル4は、XY平面上で移動するワーク移載台41を
有しており、2個のモータ42,モータ43の駆動によ
りワーク移載台41をワークセット位置から水平方向に
所定距離離れて位置する後記検査ユニット8の下方まで
移動させ、ワーク移載台41上の基板5の中心が後記す
る位置決め機構7の回転台7aの中心に一致するように
構成されている。前記ワーク移載台41は中央部に基板
5を水平に載置して着脱自在に固定するように構成され
ており、ワーク移載台41がワークセット位置にある
時、作業者が手作業で基板を供給したり、取出したりす
るように構成されている。
【0009】また、前記コラム3には、ワークセット位
置から水平方向に所定距離離れた位置でかつワーク移載
台41の移動路の上方に位置して検査ユニット8が配置
されている。この検査ユニット8は直立する方向に延び
る2本のリニアガイド82を有しており、これらリニア
ガイド82には軸受台83を介して移動台の一例の昇降
ヘッド81が案内され、往復駆動源の一例の昇降駆動源
(図示せず)の作動により所定ストローク往復移動自在
でしかも最前進位置で所定検査時間停止するように構成
されている。前記昇降ヘッド81の下部には位置決め機
構7の回転台7aが固定されており、この回転台7aは
θ軸モータ7dの駆動によりXY平面と平行にすなわち
θ方向に回転するように構成されている。また、前記回
転台7aにはX軸モータ7eの駆動によりXY平面上の
X方向に往復移動するX軸テーブル台7bが配置されて
おり、さらにこのX軸テーブル台7bにはY軸モータ7
fの駆動によりY方向に往復移動するY軸テーブル台7
cが配置されている。これら回転台7a、X軸テーブル
台7bおよびY軸テーブル台7cを含む位置決め機構7
の中央部には上下方向に貫通する貫通穴部7gが設けら
れており、この貫通穴部7gには昇降ヘッド81に固定
された前進駆動源の小シリンダ86のロッドとこれに連
結された押圧ロッド86とが位置するように構成されて
いる。
【0010】一方、前記Y軸テーブル台7cにはスペー
サロッド87を介して基板押さえ88とガイドスリーブ
取付け台88aとが水平方向に延びるように取付けられ
ている。しかも、前記ガイドスリーブ取付け台88aに
は基板5の回路パターン上の所定の位置に対応するよう
にガイドスリーブ90が直立して固定されており、その
下端は基板押さえ88に設けられた空隙を貫通し、基板
押さえ88よりも僅かに引っ込んで位置するように固定
されている。また、前記ガイドスリーブ取付け台88a
の上側にはスライド軸受91aを介して2本のスライド
ロッド91bが上方に付勢されて案内されており、これ
らスライドロッド91bの上端にはガイドスリーブ取付
け台88aと平行に延びる支持プレート89とプローブ
ピン取付け台85とが固定されている。この支持プレー
ト89には前記押圧ロッド86aの下端が当接するよう
に配置され、またプローブピン取付け台85にはプロー
ブピンの一例の導電ワイヤ84が絶縁ブッシュ84aを
介して固定されている。前記導電ワイヤ84の先端は後
記するガイドスリーブ90に案内されてその先端が同一
面上でしかも基板押さえ88よりも僅かに後退して位置
しており、前記押圧ロッド86aの前進により導電ワイ
ヤ84の先端が基板押さえ88から僅かに突出して基板
5に当接するように構成されている。前記導電ワイヤ8
4の上端は所定検査を行う検査部(図示せず)に接続さ
れており、導電ワイヤ84の下端で検出される電位によ
って検査部で所定の検査を行うように構成されている。
【0011】一方、前記基板検査装置1の制御部(図示
せず)はXYテーブル4のワーク移載台41に基板5が
載置されると、XYテーブル4を駆動してワーク移載台
41を検査ユニット8の下方の検査位置まで移動させる
ように構成されている。また、この制御部は前工程で基
板5に印刷された回路パターンの位置ずれ量、傾き量を
検出するように構成されており、これら位置ずれ量およ
び傾き量をXYテーブル4から検査位置での位置決め完
了信号を受けると、前記位置決め機構7に送って、まず
前記傾き量に応じて順次θ軸モータ7dを駆動して回転
台7aすなわち導電ワイヤ84のθ方向の位置決めを行
い、その後X軸モータ7eおよびY軸モータ7fを駆動
して導電ワイヤ84のXY方向の位置決めを行って位置
決め完了信号を制御部に出力するように構成されてい
る。
【0012】また、前記制御部は、位置決め機構7から
位置決め完了信号が発信されると、昇降駆動源(図示せ
ず)に作動指令信号を発信して昇降駆動源を駆動し、検
査ユニット8からの検査結果を一時記憶して後、この昇
降駆動源からの原位置復帰信号を待って、XYテーブル
4にワークセット位置復帰指令信号を送るように構成さ
れている。
【0013】上記基板検査装置では、所定検査の前工程
で基板5に印刷された回路パターンの位置ずれ量、傾き
量が検出され、制御部で記憶される。その後、XYテー
ブル4のワーク移載台41が所定検査位置まで達する
と、位置決め機構7が前記位置ずれ量および傾き量に応
じて作動し、まず回路パターンの傾き量に応じて回転台
7aを回転させ、X軸テーブル台7bおよびY軸テーブ
ル台7cごと検査ユニット8の導電ワイヤ84を所定角
度回転させる。続いて、回路パターンの位置ずれ量に応
じてX軸モータ7eおよびY軸モータ7fが駆動され、
X軸テーブル台7b、Y軸テーブル台7cを移動させ、
検査ユニット8の中心を基板5上の2個のマーク間の中
心に一致させ、基板5に傾いて印刷された回路パターン
に沿って検査ユニット8の導電ワイヤ84の位置を位置
決めする。この位置決め完了後、昇降駆動源が作動し、
昇降ヘッド81の下降にともなって検査ユニット8が下
降する。この時、図4に示すようにまず基板押さえ88
が基板5に当接する直前の位置で停止し、これと一体の
ガイドスリーブ取付け台88aに取付けられたガイドス
リーブ90もその位置で停止する。その後、小シリンダ
86が作動し、そのロッドに連結された押圧ロッド86
aが位置決め機構7の中央部の貫通穴部7g内を前進
し、プローブピン取付け台85が基板押さえ88に対し
て前進する。そのため、プローブピン取付け台85に一
体に取付けられた導電ワイヤ84がガイドスリーブ90
に対して前進し、その先端がガイドスリーブ90の先端
から突き出し、さらには基板押さえ88からわずかに突
出する。この時、同様の検査が基板5の下方から行われ
て、基板5が前記導電ワイヤ84側に反り返っても、た
だちに基板5が基板押さえ88に当接してその反り返り
が阻止され、導電ワイヤ84の折損あるいは基板5の損
傷を防止して所定の検査を確実に行うことができる。
【0014】また、所定検査が終了すると、その完了信
号によりXYテーブル4がワークセット位置に復動し、
同時に前記検査結果に応じて基板5がワーク移載台41
から取出され、次回の作業に備えることができる。
【0015】なお、実施例ではワーク移載台41はXY
テーブル4に取付けられているが、所定ストロークを持
つシリンダ機構(図示せず)を使用してもよい。また、
ワーク移載台41に基板5を直立して供給するととも
に、移動台を水平方向に往復移動するように構成しても
よい。さらに、ワーク移載台を枠台として、これを両側
から挟むように基板検査装置を配置してもよい。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は基板に対
して前進後退自在な移動台に基板押さえを一体に移動す
るように取付けるとともに、移動台に所定検査を行うプ
ローブピンが取付けられたプローブピン取付け台を基板
押さえに対して前進可能に取付ける一方、基板押さえに
プローブピンを案内するガイドスリーブを配置し、この
ガイドスリーブ内に前記プローブピンを挿通自在に案内
するように構成しているため、同様の検査が基板の反対
側から行われて基板が反り返るようなことがあっても、
基板の反り返りは基板押さえにより阻止され、プローブ
ピンの折損あるいは基板の損傷は皆無となり、所定の検
査を正確に行うことができる等の利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基板検査装置の全体正面図である。
【図2】図1の側面図である。
【図3】本発明に係る検査ユニットの要部拡大正面図で
ある。
【図4】本発明に係る検査ユニットの概略動作説明図で
ある。
【符号の説明】
1 基板検査装置 2 基台 3 コラム 4 XYテーブル 41 ワーク移載台 42,43 モータ 5 基板 7 位置決め機構 7a 回転台 7b X軸テーブル台 7c Y軸テーブル台 7d θ軸モータ 7e X軸モータ 7f Y軸モータ 7g 貫通穴部 8 検査ユニット 81 昇降ヘッド 82 リニアガイド 83 軸受台 84 導電ワイヤ 84a 絶縁ブッシュ 85 プローブピン取付け台 86 小シリンダ 86a 押圧ロッド 87 スペーサロッド 88 基板押さえ 88a ガイドスリーブ取付け台 89 支持プレート 90 ガイドスリーブ 91a スライド軸受 91b スライドロッド 92 ばね

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 印刷された回路パターンを持つ基板が載
    置されるワーク移載台を水平方向に往復移動させる移動
    手段を配置するとともに、このワーク移載台の移動路近
    くに位置して、往復駆動源の作動により前進後退する移
    動台を配置し、この移動台にワーク移載台上の基板に当
    接するプローブピンが直立して取付けられたプローブピ
    ン取付け台とプローブピンの先端付近で基板に当接する
    基板押さえとを有する検査ユニットを配置し、前記移動
    台に基板押さえを一体に移動するように取付けるととも
    にプローブピン取付け台を移動台側に固定された前進駆
    動源により基板押さえに対して前進可能に取付ける一
    方、 前記基板押さえに所定検査位置に対応して複数本のガイ
    ドスリーブをその先端が僅かに引っ込んで位置するよう
    に固定するとともに、このガイドスリーブに前記プロー
    ブピンを挿通自在に案内してその先端を基板押さえより
    も引っ込んだ位置に配置したことを特徴とする基板検査
    装置。
  2. 【請求項2】 プローブピンは導電ワイヤでなることを
    特徴とする請求項1に記載の基板検査装置。
  3. 【請求項3】 移載台に基板を直立して供給する一方、
    移動台を水平方向に往復移動させるように配置したこと
    を特徴とする請求項1に記載の基板検査装置。
JP4350073A 1992-11-13 1992-11-13 基板検査装置 Expired - Lifetime JPH0827334B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4350073A JPH0827334B2 (ja) 1992-11-13 1992-11-13 基板検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4350073A JPH0827334B2 (ja) 1992-11-13 1992-11-13 基板検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06160483A true JPH06160483A (ja) 1994-06-07
JPH0827334B2 JPH0827334B2 (ja) 1996-03-21

Family

ID=18408049

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4350073A Expired - Lifetime JPH0827334B2 (ja) 1992-11-13 1992-11-13 基板検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0827334B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210006285A (ko) * 2019-07-08 2021-01-18 야마하 파인 테크 가부시키가이샤 전기 검사 장치 및 보유 지지 유닛

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55147363A (en) * 1979-05-08 1980-11-17 Toshiba Corp Device for automatically testing wiring bedplate
JPS61294377A (ja) * 1985-06-21 1986-12-25 Yokowo Mfg Co Ltd 回路基板等の検査装置
JPS6275358A (ja) * 1985-09-30 1987-04-07 Yokowo Mfg Co Ltd 回路基板検査装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55147363A (en) * 1979-05-08 1980-11-17 Toshiba Corp Device for automatically testing wiring bedplate
JPS61294377A (ja) * 1985-06-21 1986-12-25 Yokowo Mfg Co Ltd 回路基板等の検査装置
JPS6275358A (ja) * 1985-09-30 1987-04-07 Yokowo Mfg Co Ltd 回路基板検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210006285A (ko) * 2019-07-08 2021-01-18 야마하 파인 테크 가부시키가이샤 전기 검사 장치 및 보유 지지 유닛

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0827334B2 (ja) 1996-03-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100311747B1 (ko) 표면실장기의 인쇄회로기판 이송장치
KR101246299B1 (ko) 자동 납땜장치 및 이를 이용한 납땜방법
CN107015137B (zh) 一种电路板检测装置、系统及方法
JPH1164426A (ja) プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査 装置の組み立てキット
US5682675A (en) Apparatus and method of mounting electronic components
JP2577140B2 (ja) 基板の位置合わせ装置
JPH06118115A (ja) 両面基板検査装置
US6230398B1 (en) Connector manufacturing method
JP2846176B2 (ja) プリント基板検査方法および検査装置
KR102514951B1 (ko) 불량 기판 자동 마킹 시스템
JPH06160483A (ja) 基板検査装置
JP3233011B2 (ja) 基板の位置決め装置
JPH06129831A (ja) 基板検査装置
KR19980064676A (ko) 반도체 디바이스 테스트 장치
JPH09129677A (ja) 電子部品搭載装置
JPH0722171B2 (ja) 基板検査装置
KR100289257B1 (ko) 기판 이송 장치
JPH06230061A (ja) 回路基板検査機の基板矯正方法
JP7399794B2 (ja) 表面実装機
JP2001051008A (ja) 基板検査装置
JPH09326591A (ja) 電子部品実装装置および電子部品実装方法
CN114833035B (zh) 一种多功能点胶机构及其使用方法
JP2548030B2 (ja) コンタクトチェッカ
KR100624143B1 (ko) 인쇄회로기판의 통전검사용 프로브장치
JP2000338161A (ja) 基板検査装置