JPH06109484A - 信号処理方法及びそれを用いたエンコーダ - Google Patents

信号処理方法及びそれを用いたエンコーダ

Info

Publication number
JPH06109484A
JPH06109484A JP4286854A JP28685492A JPH06109484A JP H06109484 A JPH06109484 A JP H06109484A JP 4286854 A JP4286854 A JP 4286854A JP 28685492 A JP28685492 A JP 28685492A JP H06109484 A JPH06109484 A JP H06109484A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
scale
light receiving
signal
receiving elements
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4286854A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3170902B2 (ja
Inventor
Masahiko Igaki
正彦 井垣
Kenichi Kataoka
健一 片岡
Katsuhiro Fujii
克広 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=17709892&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JPH06109484(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP28685492A priority Critical patent/JP3170902B2/ja
Priority to EP93115725A priority patent/EP0591832B2/en
Priority to DE69318922T priority patent/DE69318922T3/de
Publication of JPH06109484A publication Critical patent/JPH06109484A/ja
Priority to US08/308,965 priority patent/US5483059A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3170902B2 publication Critical patent/JP3170902B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/36Forming the light into pulses
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/347Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Transform (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 移動体の移動情報を高精度に検出することが
できる信号処理方法及びそれを用いたエンコーダを得る
こと。 【構成】 一定周期のV溝を有する格子より成る第1ス
ケールに光照射手段から光束を照射し、該第1スケール
で光変調した光束を一定周期のV溝を有する格子より成
る第2スケールに入射させ、該第2スケールで光変調し
た光束を複数の受光素子を有する受光手段で受光し、該
受光手段からの信号を用いて該第1スケールと第2スケ
ールとの相対的な変位情報を検出する際、該受光手段の
複数の受光素子からの出力信号の和信号に応じてコンパ
レート・レベルを設定して変位信号を得ていること。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は信号処理方法及びそれを
用いたエンコーダーに関し、例えば円筒状物体の外周面
又は内周面上に又は平板面上にV溝を有する格子を複数
個、周期的に設けた光学スケールを有する移動体に光束
を入射させ、該光学スケールを介した光束を利用するこ
とにより、該移動体の移動情報を検出するようにしたロ
ータリーエンコーダやリニアエンコーダ等に好適なもの
である。
【0002】
【従来の技術】従来よりフロッピーディスクの駆動等の
コンピューター機器、プリンター等の事務機器、あるい
はNC工作機械、更にはVTRのキャプステンモーター
や回転ドラム等の回転機構の回転速度や回転速度の変動
量又は直線移動物体の変動量を検出する為の手段として
光電的なロータリーエンコーダーやリニアエンコーダが
利用されてきている。
【0003】図23は特開昭61−10716号公報や
特開平1−176914号公報で提案されている所謂ト
ルボット干渉を利用したロータリーエンコーダーの要部
概略図である。
【0004】同図において1は半導体レーザであり、波
長λの可干渉性光束を発する。2は半導体レーザ1から
の発散光束を平行光束に変換するコリメーターレンズ系
であり、半導体レーザ1とコリメーターレンズ系2とで
光照射手段LRが構成されている。3は円筒状の内周面
に複数のV溝を周期的に設けた透光性の格子部を有した
光学スケールであり、矢印に示す方向に回転している。
【0005】光学スケール3は透光性の光学材料より成
っている。光学スケール3を挟んで光照射手段LRと対
向する位置には、受光手段4を構成する3つのフォトデ
ィテクタ4a,4b,4cが配置されている。そして各
フォトディテクタの出力は信号処理回路5に接続されて
いる。信号処理回路5はパルスのカウント回路、回転方
向の判別回路、信号内挿処理回路等を有している。
【0006】同図のロータリーエンコーダーは光照射手
段LRからの光束を光学スケール3の一領域3aに入射
させ、該光学スケール3で光変調(回折)した光束を更
に光学スケール3の他の領域3bに入射させて光変調
(偏向)させている。そして光学スケール3から射出し
た複数(3つ)の光束を受光手段4で受光し、該受光手
段4からの出力信号を利用して光学スケール3の回転情
報を検出している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで従来のロータ
リーエンコーダでは信号処理回路5は受光手段4からの
出力信号SA,SCを図24に示すように外部基準電位
V1で任意のコンパレート・レベルに設定することによ
り、所望の2値化信号CA,CCを得ている。
【0008】しかしながら、レーザ光源の経時的な発光
強度の低下による光量変動、外部温度変化によるレーザ
光源の発光強度の変化そして光学スケール3に付着した
塵、汚れ等による光学スケール3の光透過率の変化等に
より受光手段4からの出力信号にはDCレベル、信号振
幅の変動が生じる場合があった。
【0009】この結果、図25(A),(B)に示すよ
うに出力信号SA,SCを外部基準電位V1で任意の一
定コンパレート・レベルにより所望の2値化信号CA,
CCを得る際にはデューティが変化してくるという問題
点があった。
【0010】本発明は受光手段から得られる複数の信号
を信号処理回路で適切に処理することにより、光源から
の光束の発光強度の経時的な変化や外部温度変化に伴う
発光強度の変化そして光学スケールの汚れ等による光学
特性(光透過率)の変化があっても、信頼性の高い2値
化信号が得られ、移動体の移動情報を高精度に検出する
ことができる信号処理方法及びそれを用いたエンコーダ
の提供を目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の信号処理方法は (1−イ)一定周期の格子を有する第1スケールに光照
射手段から光束を照射し、該第1スケールで光変調した
光束を一定周期の格子を有する第2スケールに入射さ
せ、該第2スケールで光変調した光束を複数の受光素子
を有する受光手段で受光し、該受光手段からの信号を用
いて該第1スケールと第2スケールとの相対的な変位情
報を検出する際、該受光手段の複数の受光素子からの出
力信号の和信号に応じてコンパレート・レベルを設定し
て変位記号を得ていることを特徴としている。
【0012】(1−ロ)相対移動物体に設けられる一定
周期の格子を有する光学スケールのうちの第1スケール
に光照射手段から光束を照射し、該第1スケールで光変
調した光束を該光学スケールのうちの第2スケールに入
射させ、該第2スケールで光変調した光束を複数の受光
素子を有する受光手段で受光し、該受光手段からの信号
を用いて該移動体の変位情報を検出する際、該受光手段
の複数の受光素子からの出力信号の和信号に応じてコン
パレート・レベルを設定して変位信号を得ていることを
特徴としている。
【0013】特に(1−イ),(1−ロ)において、前
記受光手段は3つの受光素子を有しており、該3つの受
光素子からの出力信号の和信号を利用してコンパレート
・レベルを設定していることを特徴としている。
【0014】(1−ハ)一定周期の格子を有する第1ス
ケールに光照射手段からの光束を照射し、該第1スケー
ルで光変調された光束を一定周期の格子を有する該第2
スケールに入射させ、該第2スケールで光変調された光
束を複数の受光素子を有する受光手段で受光し、該受光
手段からの信号を用いて信号処理部により該第1スケー
ルと第2スケールとの相対移動情報を検出する際、該信
号処理部は該受光手段の複数の受光素子からの出力信号
の和信号を検出し、該和信号に基づいてコンパレート・
レベルを設定していることを特徴としている。
【0015】(1−ニ)相対移動物体に設けられる一定
周期の格子より成る光学スケールを設けた移動体の該光
学スケールのうちの第1スケールに光照射手段からの光
束を照射し、該第1スケールで光変調された光束を該光
学スケールのうちの第2スケールに入射させ、該第2ス
ケールで光変調された光束を複数の受光素子を有する受
光手段で受光し、該受光手段からの信号を用いて信号処
理部により該移動体の移動情報を検出する際、該信号処
理部は該受光手段の複数の受光素子からの出力信号の和
信号を検出し、該和信号に基づいてコンパレート・レベ
ルを設定していることを特徴としている。
【0016】特に(1−ハ),(1−ニ)において、前
記受光手段は3つの受光素子を有しており、該3つの受
光素子からの出力信号の和信号を用いてコンパレート・
レベルを設定していることを特徴としている。
【0017】
【実施例】図1は本発明の実施例1の要部断面図、図2
は図1の回転体6(光学スケール3)の回転情報検出用
の各要素に関するA−A´の要部断面図、図3は図1の
光学スケール3の要部斜視図である。図4,図7は図1
の受光手段から得られる信号波形の説明図、図5,図6
は図1の信号処理回路における信号処理方法の回路説明
図である。
【0018】本実施例ではエンコーダとしてタルボット
型のロータリーエンコーダを用いたときを示している
が、他の型のロータリーエンコーダやリニアエンコーダ
にも同様に適用可能である。
【0019】図中LRは光照射手段であり、半導体レー
ザ1とレンズ2とを有している。3は光学スケールであ
り、円筒部材3cの内周面又は外周面に格子ピッチPの
一定周期で複数の格子(格子部)3dを設けた構成より
成っている。光学スケール3は透光性の光学材料例えば
プラスチックより成り、回転体6の一部として設けられ
ており、回転体6と一体的に回転軸6aを中心に回転し
ている。
【0020】格子3dは図2、図3に示すように光学ス
ケール3の矢印3fで示す回転方向に対して垂直方向
(回転軸6a方向)に長い、互いに逆方向に傾けた2つ
の傾斜面を有するV溝(V溝部)と円筒状に基づく僅か
に曲率を有した略平面に近い曲面部(以下、「平面部」
と称する)より成っている。
【0021】図3(A),(B)は光学スケール3の格
子の詳細図であり、V溝部30b−1,30b−2と平
面部30aが交互に配列されて格子を形成している。円
筒部材3cの内側面にV溝を等間隔にn個、円周方向に
ピッチPで等間隔に配列している。V溝幅は1/2・
P、又V溝を形成する2つの平面部は各々1/4・Pの
幅を有し、各々の傾斜面はV溝の底部と中心とを結ぶ直
線に対し各々臨界角以上、本実施例ではθ=45°で傾
いている。
【0022】光学スケール3の第1スケール(第1領
域)3aと第2スケール(第2領域)3bの光軸に沿っ
た間隔D(光学スケール内側の直径)は、本実施例では
格子ピッチがP、波長がλとして D=N・P2 /λ (Nは自然数) P=πD/n (nはスリットの総数) を満たすように設定されている。
【0023】このように光学スケール3の直径Dを設定
することにより、光学スケール3の側面の第1領域3a
の格子の像を直接第2領域3bの格子へ投影している。
ここで投影される格子像はフーリエ像と呼ばれるもので
あり、光回折現象に伴う格子の自己結像作用により生じ
る。
【0024】尚、本実施例では光学スケール3の材質を
プラスチックとし、射出成型若しくは圧縮成型等の製法
によって容易に作成することができるようにしている。
【0025】4は受光手段であり、複数の受光素子を有
している。本実施例では光学スケール3で光変調され射
出した3つの光束を各々受光する為の3つのフォトディ
テクタ(受光素子)4a,4b,4cを有している。5
は信号処理回路であり、パルスカウント回路や回転方向
の判別回路そして信号内挿処理回路等を有しており、受
光手段4からの信号を用いて光学スケール3の回転情報
を検出している。
【0026】次に本実施例における光学スケール3(回
転体6)の回転情報の検出方法について説明する。
【0027】半導体レーザ1からの光束はレンズ系2の
位置を調整して収束光に変換され、この収束光束を光学
スケール3の第1スケール(第1領域)3aに入射させ
る。ここで収束光とした理由は、光学スケール3の側面
部は外側面と内側面の曲率差により凹レンズ相当の屈折
力を有する為であり、凹レンズ作用によって光学スケー
ル3内に進入した光は略平行光になる。
【0028】この収束光束は、第1領域3aの格子3d
において図3(A)に示すように、格子部30aに到達
した光線は格子部30aを通過して円筒内に進む。又、
格子部30b−1面に到達した光線は、傾斜面が臨界角
以上に設定されているので、図に示したように全反射し
て30b−2面に向けられ、30b−2面でも全反射す
ることになるので、結局30b−1面へ到達した光線は
光学スケール3の円筒部材の内部に進入することなく、
略入射方向に戻されることになる。同様に30b−2面
に到達した光線も全反射を繰り返して戻される。
【0029】従って第1領域3aにおいてV溝を形成す
る2つの傾斜面30b−1、30b−2の範囲に到達す
る光束は、円筒部材内に進入することなく反射され、格
子部30aに到達した光線のみが円筒部材の内部に進む
ことになる。即ち、第1領域3aにおいてV溝型の格子
3dは透過型の振幅回折格子と同様の作用を有する。こ
の第1領域3aの格子3dで光束は回折され、格子の作
用により0次、±1次、、±2次・・・の回折光が生
じ、0次光及び±1次光の2つ若しくは3つの光束同士
の干渉の結果、第1領域3aの格子のフーリエ像が光学
スケール3の内部に結像される。フーリエ像は格子面よ
り後方に距離Lを基本としてその正の整数倍の位置に繰
り返し結像される。
【0030】本実施例においては3番目(N=3)のフ
ーリエ像が第2領域3bの格子面上に結像されるよう
に、光源波長λ、格子ピッチP、レンズ系2の位置が設
定されている。このフーリエ像の明暗ピッチは第1領域
3a及び第2領域3bの格子3dであるV溝のピッチP
と等しくなる。
【0031】第2領域3bにおいて面30aに入射した
光束は図3(B)に示すように略垂直入射するため直線
透過してフォトディテクタ4cに到達する。又、V溝面
を形成する2つの傾斜面30b−1及び30b−2に到
達した光線は、各々の面に略45°の入射角をもって入
射するためそれぞれ異なる方向に大きく屈折して各々デ
ィテクタ4a及び4bに到達する。
【0032】このように第2領域3bにおいては、入射
光束に対して異なる方向に傾斜した2つの傾斜面、及び
V溝とV溝の間の平面の合計3種の傾き方向の異なる面
により、光束は3つの方向に別れて進み、各々の面に対
応した位置に設けられた各フォトディテクタ4a,4
b,4cに到達する。即ち第2領域3bにおいてV溝格
子は光波波面分割素子として機能する。
【0033】ここで光学スケール3が回転すると各フォ
トディテクタ4a,4b,4cで検出される光量が変化
する。格子の位置とフーリエ像の位置の相対的変位に応
じ、各フォトディテクタに入射する光量バランスが変化
し、その結果、光学スケール3が反時計廻りに回転した
とすると、図4(A)に示すような光学スケール3の回
転に伴う光量変化が得られる。
【0034】ここで横軸は光学スケール3の回転量、縦
軸は受光光量である。信号a,b,cはそれぞれフォト
ディテクタ4a,4b,4cに対応している。尚、逆に
光学スケール3が時計廻りに回転した場合はaは4b、
bは4a、cは4cの出力となる。この違いによって回
転方向を判別することができる。
【0035】尚、図4(A)はフーリエ像のコントラス
トが非常に高く理想に近い場合の理論的な光量変化の様
子を示したものであり、実際にはフーリエ像のコントラ
ストがもっと低い為、図4(B)のように各光量は略正
弦波状に変化する。これらの信号を基に光学スケール3
(回転体6)の回転角度や回転量あるいは回転速度や回
転加速度等の回転情報を得ている。
【0036】次に本実施例において受光手段4の3つの
受光素子4a,4b,4cで得られる信号を用いて信号
処理回路5によりコンパレート・レベルを設定し、変位
信号である2値化信号を得て高精度の移動情報を得る信
号処理方法について説明する。
【0037】図5に示したように各受光素子4a,4
b,4cの受光光量の和は光学スケール3の透過後の全
光量にほぼ等しくなる。従って、この性質を利用すれば
次のように受光光量の和に比例した値を用いて波形整形
が可能になる。
【0038】具体的には、図5の端子T1,T2,T3
での各出力信号を各々抵抗R1,R2,R3,R4を介
して結合し和信号をとり波形整形部に設けた各コンパレ
ータICの基準電位入力部に結合することにより波形整
形後の出力信号のデューティー変動をなくすことが可能
になる。
【0039】以下にその詳細を説明する。
【0040】まず、図中端子T1,T2,T3、TGで
の各出力信号は便宜上T1,T2,T3,TGとしたと
き下記のように表せられる。
【0041】 T1=A・SIN(ωt)+LA (1) T2=A・COS(ωt)+LA (2) T3=−A・(SIN(ωt)+COS(ωt))+2・LA (3) TG=0 (4) ここで、各周波数をω、時間をtとし、AはT1,T2
の出力信号振幅、LAはT1,T2の出力信号のDCレ
ベル、をあらわしている。
【0042】図5,図6の抵抗R1,R2,R3,R4
の抵抗値を等しくすることでT4の値は次式で表され
る。
【0043】 T4=(T1+T2+T3+TG)/4=LA (5) (5)式は各受光素子の受光光量の和が固定スケール透
過後の全光量にほぼ等しくなる性質から導かれる。
【0044】本実施例では図3に示した形状のV溝型の
光学スケール3を用いているので全光量の1/4の値を
コンパレート・レベルとして用いている。
【0045】仮に温度変動等により光源1からの発光光
量が変動したとすると、上式(1)(2)(3)(4)
(5)は次式のようになる。
【0046】 T1’=A’・SIN(ωt)+LA’ (6) T2’=A’・COS(ωt)+LA’ (7) T3’=−A’・(SIN(ωt)+COS(ωt))+2・LA’ (8) TG’=0 (9) このとき、T4での信号出力は T4=(T1’+T2’+T3’+TG’)/4=LA’ (10) (10)式よりえられるT4の値はLA’となり出力信
号T1’,T2’のDC成分に相当する。
【0047】従って、光量の変動が生じた場合には、T
1,T2の出力信号のDC成分変動が生じる。従来例の
ように定電圧値をコンパレート・レベルとする回路構成
では波形整形後の矩形波出力信号のデューティが変動し
てしまう。
【0048】しかし、コンパレート・レベルT4の値も
追従して変化するために波形整形後の矩形波出力信号の
デューティ変動は生じない。
【0049】図6は図5を実現する具体的な回路例であ
る。図中IC1〜IC4は公知のOPアンプ、IC5,
IC6は公知のコンパレータである。以下に、動作説明
を示す。
【0050】OPアンプIC1〜IC3は、電気抵抗R
5〜R7で決まる電流・電圧変換係数を持つ電流・電圧
変換器を構成しており、OPアンプIC4はバッファー
を構成している。又、コンパレータIC5,IC6は、
抵抗R8〜R10,R11〜R13によってヒステリシ
ス特性を持つコンパレータを構成している。
【0051】受光素子4a〜4cに不図示の光学スリッ
トによって光学的に光量変調された光線が入射される
と、入射光量に応じて光電流が流れる。
【0052】ここで、各周波数をω、時間tとし、受光
素子4a〜4cで検出された光電流ia〜icを ia=I・Sin ωt+Io (11) ib=I・Cos ωt+Io (12) ic=−I・(Sin ωt+Cos ωt)+2・Io (13) とすれば、 T1=Vr−R5・(I・Sin ωt+I0) (14) T2=Vr−R6・(I・Cos ωt+I0) (15) T3=Vr−R7・(−I・(Sin ωt+Cos ωt)+2・I0) (16) となる。
【0053】ここで、抵抗R5〜R7をRとし、抵抗R
1〜R4を同じ抵抗値とすればT4の電圧は、 T4=(T1+T2+T3+T7)/4 =Vr−R・Io (17) となる。
【0054】(17)式より、T4の電圧がT1,T2
のDC成分となることは明らかであり、ゆえに、図5を
用いた説明と同様に、コンパレータIC5,IC6の負
入力であるT1,T2のDC成分であるT4が、常にコ
ンパレータ・レベルになる為、T5,T6には、光源1
からの発光光量の変動に影響されない安定したデューテ
ィー比の矩形波波形が得られる。
【0055】図7,図8は本発明の効果を従来の出力信
号と比較してわかりやすく説明する為の図である。
【0056】図7(A)は3つの受光素子4a,4b,
4c,からの出力信号SA,SB,SCが規則正しく出
力されている理想のとき、図7(B)はコンパレート・
レベルV1により同図(A)の信号より2値化信号C
A,CBを得たときの信号を示している。
【0057】図8(A)は従来の信号処理回路での出力
信号SA、コンパレート・レベルLA、及び2値化信号
CAを示している。図8(B)は本発明の信号処理回路
での出力信号SA、コンパレート・レベルLA、及び2
値化信号CAを示している。
【0058】図8(A)ではコンパレート・レベルが固
定であるために2値化信号CAのデューティーが変動し
てしまい、最悪の場合、パルスを発生できなくなる可能
性がある。しかし、本発明によれば図8(B)のように
コンパレート・レベルLAが出力信号の変動に追従する
ためデューティーが変動することがなくなり、パルスが
抜けるような事態も回避でき、常に矩形波出力信号CA
が得られる。
【0059】図9は本発明の実施例2の要部概略図であ
る。本実施例はエンコーダとしてリニアエンコーダに適
用した場合を示している。
【0060】図中81は発光素子であり、集光作用をす
るレンズ部81a(コリメーターレンズ)を有してい
る。82は第1スケールとしての固定スケールであり、
格子状の光透過部と光遮光部とを等間隔で周期的にピッ
チPで設けている。83は第2スケールとしての可動ス
ケールであり、V溝を有する格子より成り固定スケール
82と対向配置すると共に不図示の被測定物に取り付け
られている。84a,84b,84cは各々受光素子で
あり、後述する可動スケール83の各領域からの光束を
各々受光している。85は増幅回路、86は波形整形回
路であり、増幅回路85からの出力信号を波形整形して
いる。87は方向判別カウンタであり、波形整形回路8
6からの2つの所定の位相差を有した出力信号を用いて
可動スケール83の移動方向を判別している。
【0061】本実施例において3つの受光素子84a,
84b,84cで得られた信号の信号処理方法は前述し
た実施例1(図5,図6で示す回路)と同じである。
【0062】図10(A),(B)は図9に示す可動ス
ケール83の斜視図と光束の進行方向の断面図である。
可動スケール83はガラス若しくはプラスチック成形よ
り成る平行平板状の透明材料から成り、同図に示す如く
発光素子81からの光束の入射面上に、該可動スケール
の可動方向Dに対して垂直方向に固定スケール82の格
子ピッチPと等しい間隔で設けたV型溝31と可動方向
Dに対して水平方向にピッチPと等しい間隔で設けた平
面光透過部32とから構成されている。
【0063】V型溝32を形成する2つの傾斜面83
a,83cの裏面である平面83dに対する角度θは各
々45度、平面光透過部83bは平面83dと平行とな
っている。
【0064】本実施例では発光素子81からの平行光束
のうち固定スケール82の透過部を通過した光束を可動
スケール83に入射させている。そして可動スケール8
3のV型溝31と平面光透過部32を通過した光束を、
図11,図12に示すように各々屈折及び単に通過させ
て各々の受光素子84a,84b,84c面上に入射さ
せている。
【0065】このとき本実施例では受光素子84a,8
4cからの出力信号に90度の位相差がつくように図1
0に示すようにV型溝31をピッチPの1/2の幅で、
かつ2つの傾斜面83a,83cの幅が等しく各々P/
4となるようにし、又、平面光透過部32をピッチPの
1/2の幅となるように設定している。
【0066】本実施例では可動スケール83に空間的に
強度分布が一様な平行光束を垂直に入射させ、入射光束
を可動スケール83の3つの領域83a,83b,83
cで3方向に分割している。このうち傾斜面83a,8
3cの傾きによって決定される方向に射出した光束を各
々受光素子84a,84cに入射させ、又、平面光透過
部83bに垂直入射した光束を受光素子84bに入射さ
せている。そして受光素子84a,84cからの所定の
位相差を有した2つの出力信号を2値化し、所定の位相
差を有した2値化信号を用いて可動スケール83の移動
量及び移動方向等の変位状態を検出している。
【0067】このとき本実施例は受光素子4a,4cか
らの出力信号の他に受光素子4bからの出力信号の全体
として3つの出力信号の和を波形整形回路86での基準
信号として用いることにより実施例1と同様の効果を得
ている。
【0068】次に本実施例において、可動スケール83
と固定スケール82との相対的位置の違いにより、発光
素子81から射出した光束の各受光素子84a,84
b,84cへの入射状態について図13〜図16に代表
的な4つの状態を例にとり説明する。
【0069】図13は固定スケール82の光透過部82
aが可動スケール83の平面光透過部83bと重なった
場合である。固定スケール82の光透過部82aを通過
した平行光束は全て可動スケール83の平面光透過部8
3bを通過し受光素子84bに入射する。このとき受光
素子84a,84cには光束は入射しない。
【0070】図14は固定スケール82の光透過部82
aが可動スケール83の平面光透過部83bの半分の領
域と傾斜面83aに重なった場合である。固定スケール
82の光透過部82aを通過した光束は、その1/2が
平面光透過部83bに入射し、残りの1/2が傾斜面8
3aに入射する。その結果、可動スケール83からの射
出光束は受光素子84a,84bに入射する。このとき
受光素子84cには光束は入射しない。
【0071】図15は固定スケール82の光透過部82
aが可動スケール83のV型溝の両傾斜面83a,83
cに重なった場合である。固定スケール82の光透過部
82aを通過した光束は、その1/2が傾斜面83aに
入射し、残りの1/2が傾斜面83cに入射し、この結
果、2つの受光素子84a,84cに各々等しく光束が
入射する。このとき受光素子84bには光束は入射しな
い。
【0072】図16は固定スケール82の光透過部82
aが可動スケール83の平面光透過部83bの半分の領
域と傾斜面83cに重なった場合である。固定スケール
82の光透過部82aを通過した光束はその1/2が平
面光透過部83bに入射し、残りの1/2が傾斜面83
cに入射し、この結果、受光素子84b,84cに光束
が入射する。このとき受光素子84aには光束は入射し
ない。
【0073】次に図13〜図16に示した固定スケール
82と可動スケール83との相対的位置を連続的に変化
させたときの各受光素子84a,84b,84cで受光
される光量変化を図17(A),(B)に示す。
【0074】同図(A)は図13〜図16に相当する概
略図、同図(B)はそのときの各受光素子で受光される
光量変化を横軸を可動スケールの変化量をとり示してい
る。9A,9Cは受光素子94a,94cで受光される
光量の相対的変位を示しており、両方の位相関係は90
度ずれたものとなっている。
【0075】図18(A)は本実施例において固定スケ
ール82と可動スケール83の相対的位置を連続的に変
位させたときの各受光素子からの出力信号S、即ち図5
の信号処理回路上のT1,T2,T3での信号Sを図1
7(B)と同様に示したものである。
【0076】同図においては発光素子81からの出射光
が平行光束であり、固定スケール82の透過部からの出
射光が回折されなく、又、可動スケール83の各入射面
と射出面で光量損失がないものと仮定した場合の出力信
号S(SA,SB,SC)を示している。
【0077】又、図18(B)は同図(A)において前
述の各仮定が成り立たない実際に組立てた場合の各受光
素子84a,84b,84cからの出力信号の波形を示
している。
【0078】図18(A),(B)に示すように、いず
れの場合も受光素子84a,84cからの出力信号は互
いに90度の位相差を有している。
【0079】本実施例における可動スケール83のV型
溝の傾斜面83a,83cは図10に示す45度の傾斜
角度に限定されるものではなく、傾斜面83a,83c
に入射した光束が容易に2方向に分離し、2つの受光素
子に入射する角度であれば何度であっても良い。
【0080】但し、あまり傾斜角度θが小さいと光束の
分離角度が小さくなり受光素子を可動スケールから遠く
離した位置に配置しなければならなくなり、装置全体が
大型化してくるので良くない。又、傾斜角度θが大きす
ぎると傾斜面83a,83cで屈折した光束が底面であ
る面dにおいて全反射してくるので、全反射しない程度
の角度に設定する必要がある。
【0081】この他、全反射しなくても傾斜角度が大き
いと面83dでの光量損失が増加するので、好ましくは
傾斜角度θを 30 < θ < 60 の範囲内に設定するのが良い。
【0082】本実施例においては、図10(B)に示す
ように可動スケール83の光入射面を前述のピッチを有
するV型溝31(傾斜面83a,83cの幅を1/4
P)と平面光透過部32(その幅を1/2P)で構成
し、2つの受光素子84a,84cからの出力信号に9
0度の位相差を付与した場合を示したが、V型溝と平面
光透過部を1ピッチ内に任意の幅で設けることにより、
0度から180 度の範囲内で任意の位相差を付与すること
ができる。
【0083】図19は(A)はV型溝の幅を2/3P、
平面光透過部の幅を1/3Pとし、2つの受光素子から
の出力信号に120 度の位相差を付与する場合の一実施例
の概略図である。このときV型溝の2つの傾斜面の幅は
1/3P、又、固定スケールの光透過部と光遮光部の幅
は各々1/2Pである。
【0084】図19(B),(C)はこのとき得られる
各受光素子からの出力信号を図18(A),(B)と同
様に示したものであり、同図に示すように3つの受光素
子からは互いに120 度の位相差を有した出力信号11
A,11B,11Cが得られる。
【0085】これよりコンパレート・レベルLAにより
3組の2値化信号を得ている。本実施例においても図6
と同様に示した図20に示す信号処理回路によりコンパ
レート・レベルLAを各受光素子からの和信号に比例し
た値に設定し、実施例1と同様の信号処理を行ってい
る。
【0086】又、通常エンコーダの出力信号としては、
変位情報を得るために複数相の出力信号を用いている。
しかし、速度検出、あるいは変位方向判別を必要としな
い変位検出等では1相のみの矩形波出力信号だけでよい
場合がある。この場合にも本発明の効果を図26
(A),(B)に示す様な回路構成により得ることが可
能である。
【0087】図26(A)は1相出力信号を得るための
信号処理回路の概略図である。図中主だった部品は図5
と同様であるので詳しい説明は省略する。
【0088】図26では1相出力信号でよいのでフォト
ディテクタからの信号の4a,4b,4cのうちの1つ
をコンパレータICC1に導き、一方各フォトディテク
タからの信号の和信号をコンパレータICC1の基準電
位端子に接続する構成になっている。尚、先の実施例の
図5にない部品として新たに抵抗R20,R21が設け
られているがこれは説明のための例として4cからの信
号から1相の矩形波信号を得ようとした場合にレベル調
整の目的で設けられたものである。
【0089】図26(B)では本実施例での具体的な回
路例を示している。これらの構成部品についても先の実
施例の図6の構成とほぼ共通なので説明を省略する。新
たな部品として上述の抵抗R20,R21が設けられて
いる。尚、T8が新たに設けられているが説明のための
ポイントを示すに過ぎない。
【0090】以上本発明では4a,4b,4cのいずれ
か1つの受光素子を用いることにより図27(A)のよ
うな1相のみの矩形波信号(T8における出力信号)を
得ることが可能である。そして、4a,4b,4cから
の出力信号の和信号によってコンパレートレベルを前述
のように得、これを用いて2値化信号図27(B)を得
る(T5における出力信号)。
【0091】図26では4cの出力信号を用いている
が、他の受光素子からの出力信号を用いても本発明の効
果に変わりはない。
【0092】一般に図10(B)に示す形状においてピ
ッチPにおけるV型溝の幅aと平面光透過部の幅bに対
する2つの受光素子からの出力信号の位相差δとの関係
【0093】
【数1】 となる。
【0094】尚、このとき固定スケール82の光透過部
と光遮光部の幅はいずれも各々1/2Pである。
【0095】以上の各実施例において可動スケールと固
定スケールとの配置を交換し、発光素子81側に可動ス
ケールを配置し、受光素子側に固定スケールを配置して
も本発明の目的を同様に達成することができる。
【0096】図21は本発明をロータリーエンコーダに
適用したときの実施例3の概略図、図22は本発明をリ
ニアエンコーダに適用したときの実施例4の概略図であ
る。
【0097】図21,図22において81は発光素子、
82は固定スケール、83は可動スケールであり、例え
ば図10(A),(B)に示す形成より構成されてい
る。84a,84b,84cは各々受光素子である。
【0098】可動スケール83は被測定物体に各々取り
付けられている。固定スケール82の透過部と可動スケ
ール83のV型溝を通過した光束を受光素子84a,8
4cで所定の位相差を付与した状態で受光することによ
り、被測定物体の変位方向及び変位量等を検出してい
る。
【0099】このとき、3つの受光素子84a,84
b,84cで得られた信号の信号処理方法は前述した実
施例1と同じである。尚、以上の実施例ではV溝として
透過型のものを示したが反射型のものであっても同様に
適用可能である。
【0100】
【発明の効果】本発明によれば以上のように、受光手段
から得られる複数の信号を信号処理回路で適切に処理す
ることにより、即ちコンパレート・レベルを検出信号の
変動に追従させることにより光源からの光束の発光強度
の経時的な変化や外部温度変化に伴う発光強度の変化そ
して光学スケールの汚れ等による光学特性(例えば光透
過率)の変化があっても波形整形処理後のデューティー
の変動がなく信頼性の高い2値化信号が得られ、移動体
の移動情報を高精度に検出することができる信号処理方
法及びそれを用いたエンコーダを達成することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例1の要部断面図
【図2】 図1の要部平面図
【図3】 図1の一部分の拡大説明図
【図4】 図1の受光手段からの出力信号波形の説明
【図5】 図1の信号処理回路による信号処理方法の
回路説明図
【図6】 図1の信号処理回路による信号処理方法の
回路説明図
【図7】 図1の受光手段からの出力信号の処理を示
す説明図
【図8】 図1の受光手段からの出力信号の処理を示
す説明図
【図9】 本発明の実施例2の要部断面図
【図10】 図9の一部分の説明図
【図11】 図9の一部分の光束の光路説明図
【図12】 図9の一部分の光束の光路説明図
【図13】 図9の一部分の光束の光路説明図
【図14】 図9の一部分の光束の光路説明図
【図15】 図9の一部分の光束の光路説明図
【図16】 図9の一部分の光束の光路説明図
【図17】 図9における固定スケールと可動スケール
と相対移動させたときの光路図と受光素子からの出力信
号の説明図
【図18】 図9の受光素子からの出力信号の説明図
【図19】 図9の受光素子からの出力信号の説明図
【図20】 図9の信号処理回路の説明図
【図21】 本発明の実施例3の要部概略図
【図22】 本発明の実施例4の要部概略図
【図23】 従来のロータリーエンコーダの要部概略図
【図24】 図23の受光手段からの出力信号の説明図
【図25】 図23の受光手段からの出力信号の説明図
【図26】 1相出力信号を得る場合の回路図
【図27】 図26における出力信号の説明図
【符号の説明】
LR 光照射手段 1,81 半導体レーザ 2 レンズ 3 光学スケール 3a,82 第1スケール 3b,83 第2スケール 3c 円筒部材 3d 格子 4,84 受光手段 4a,4b,4c,84a,84b,84c 受光素
子 6 回転体 6a 回転軸 15 支持板 5 信号処理回路 30b−1,30b−2 V溝 30a 平面部

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一定周期の格子を有する第1スケールに
    光照射手段から光束を照射し、該第1スケールで光変調
    した光束を一定周期の格子を有する第2スケールに入射
    させ、該第2スケールで光変調した光束を複数の受光素
    子を有する受光手段で受光し、該受光手段からの信号を
    用いて該第1スケールと第2スケールとの相対的な変位
    情報を検出する際、該受光手段の複数の受光素子からの
    出力信号の和信号に応じてコンパレート・レベルを設定
    して変位信号を得ていることを特徴とする信号処理方
    法。
  2. 【請求項2】 相対移動物体に設けられる一定周期の格
    子を有する光学スケールのうちの第1スケールに光照射
    手段から光束を照射し、該第1スケールで光変調した光
    束を該光学スケールのうちの第2スケールに入射させ、
    該第2スケールで光変調した光束を複数の受光素子を有
    する受光手段で受光し、該受光手段からの信号を用いて
    該移動体の変位情報を検出する際、該受光手段の複数の
    受光素子からの出力信号の和信号に応じてコンパレート
    ・レベルを設定して変位信号を得ていることを特徴とす
    る信号処理方法。
  3. 【請求項3】 前記受光手段は3つの受光素子を有して
    おり、該3つの受光素子からの出力信号の和信号を利用
    してコンパレート・レベルを設定していることを特徴と
    する請求項1又は2の信号処理方法。
  4. 【請求項4】 一定周期の格子を有する第1スケールに
    光照射手段からの光束を照射し、該第1スケールで光変
    調された光束を一定周期の格子を有する第2スケールに
    入射させ、該第2スケールで光変調された光束を複数の
    受光素子を有する受光手段で受光し、該受光手段からの
    信号を用いて信号処理部により該第1スケールと第2ス
    ケールとの相対移動情報を検出する際、該信号処理部は
    該受光手段の複数の受光素子からの出力信号の和信号を
    検出し、該和信号に基づいてコンパレート・レベルを設
    定していることを特徴とするエンコーダ。
  5. 【請求項5】 相対移動物体に設けられる一定周期の格
    子より成る光学スケールを設けた移動体の該光学スケー
    ルのうちの第1スケールに光照射手段からの光束を照射
    し、該第1スケールで光変調された光束を該光学スケー
    ルのうちの第2スケールに入射させ、該第2スケールで
    光変調された光束を複数の受光素子を有する受光手段で
    受光し、該受光手段からの信号を用いて信号処理部によ
    り該移動体の移動情報を検出する際、該信号処理部は該
    受光手段の複数の受光素子からの出力信号の和信号を検
    出し、該和信号に基づいてコンパレート・レベルを設定
    していることを特徴とするエンコーダ。
  6. 【請求項6】 前記受光手段は3つの受光素子を有して
    おり、該3つの受光素子からの出力信号の和信号を用い
    てコンパレート・レベルを設定していることを特徴とす
    る請求項4又は5のエンコーダ。
  7. 【請求項7】 前記格子はV溝構成を有する請求項1〜
    6の信号処理方法又はエンコーダ。
JP28685492A 1992-09-30 1992-09-30 信号処理方法及びそれを用いたエンコーダ Expired - Fee Related JP3170902B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28685492A JP3170902B2 (ja) 1992-09-30 1992-09-30 信号処理方法及びそれを用いたエンコーダ
EP93115725A EP0591832B2 (en) 1992-09-30 1993-09-29 Signal processing method and displacement information measuring device
DE69318922T DE69318922T3 (de) 1992-09-30 1993-09-29 Verfahren und Gerät zum Messen der Verschiebung eines Gegenstands mittels Signalverarbeitung
US08/308,965 US5483059A (en) 1992-09-30 1994-09-20 Signal processing method using comparator level adjustment in a displacement measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28685492A JP3170902B2 (ja) 1992-09-30 1992-09-30 信号処理方法及びそれを用いたエンコーダ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06109484A true JPH06109484A (ja) 1994-04-19
JP3170902B2 JP3170902B2 (ja) 2001-05-28

Family

ID=17709892

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28685492A Expired - Fee Related JP3170902B2 (ja) 1992-09-30 1992-09-30 信号処理方法及びそれを用いたエンコーダ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5483059A (ja)
EP (1) EP0591832B2 (ja)
JP (1) JP3170902B2 (ja)
DE (1) DE69318922T3 (ja)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2818800B2 (ja) * 1994-02-23 1998-10-30 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 位置に依存する信号を発生する装置
DE19652563A1 (de) 1996-12-17 1998-06-18 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Lichtelektrische Positionsmeßeinrichtung
US6654128B2 (en) 1997-06-30 2003-11-25 Canon Kabushiki Kaisha Displacement information detecting apparatus
US5936236A (en) * 1997-11-26 1999-08-10 Renco Encoders, Inc. Method for generating a synthetic reference signal for comparison with scanning signals of a position measuring device
CA2236772C (en) * 1998-06-02 2003-07-29 Ching Shun Wang Focusing-type calculating means
DE19852665A1 (de) 1998-11-16 2000-05-25 Corrsys Korrelatorsysteme Gmbh Verfahren zur Erzeugung eines trägerfrequenz-modulierten Signals
US6194708B1 (en) * 1999-06-09 2001-02-27 Ching Shun Wang Focus-type encode device
US6803560B1 (en) * 1999-06-10 2004-10-12 Canon Kabushiki Kaisha Optical encoder
JP4724282B2 (ja) * 1999-10-12 2011-07-13 キヤノン株式会社 回転角検出装置
JP4428781B2 (ja) 1999-12-28 2010-03-10 キヤノン株式会社 光学式ロータリエンコーダ及びモータ制御装置
US6396052B1 (en) 2000-04-07 2002-05-28 Lexmark International, Inc. High precision analog encoder system
JP4726168B2 (ja) 2000-04-17 2011-07-20 キヤノン株式会社 光学スケール及び光学式エンコーダ
DE10339366A1 (de) 2003-08-27 2005-03-24 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Regelung einer Lichtquelle eines Positionsmessgerätes
JP4174420B2 (ja) * 2003-12-15 2008-10-29 キヤノン株式会社 光偏向器
JP4908764B2 (ja) * 2005-02-04 2012-04-04 キヤノン株式会社 光学式エンコーダ
JP4928206B2 (ja) * 2006-09-22 2012-05-09 キヤノン株式会社 エンコーダ
CN101187670B (zh) * 2006-11-24 2011-12-07 安华高科技Ecbuip(新加坡)私人有限公司 具有污染物检测功能的光学编码器
JP5184905B2 (ja) * 2007-03-23 2013-04-17 キヤノン株式会社 揺動体装置、光偏向器、光偏向器を用いた画像形成装置
JP2009122383A (ja) * 2007-11-14 2009-06-04 Canon Inc 揺動体装置の製造方法、該製造方法により製造された揺動体装置によって構成される光偏向器及び光学機器
JP2009163198A (ja) * 2007-12-10 2009-07-23 Canon Inc 揺動体装置の製造方法、光偏向器、画像形成装置
TWI585372B (zh) * 2016-02-05 2017-06-01 曾信得 光學掃描式導光編碼器
TWI633282B (zh) * 2016-04-15 2018-08-21 曾信得 正向對焦掃描式導光編碼器
US11425972B2 (en) 2018-03-12 2022-08-30 Ykk Corporation Stopper and slide fastener comprising same

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2054135B (en) * 1979-07-19 1984-03-14 Burroughs Corp Photo-electric displacement transducer
IT1144232B (it) * 1981-06-15 1986-10-29 Olivetti & Co Spa Trasduttore ottico
JPH0758206B2 (ja) * 1984-03-30 1995-06-21 株式会社日立製作所 モワレ縞を用いた位置検出装置
JPS60230017A (ja) * 1984-04-27 1985-11-15 Tokyo Keiki Co Ltd 光電型変位量検出装置
JPS6110716A (ja) * 1984-06-26 1986-01-18 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 光電式エンコ−ダ
JPS6156912A (ja) * 1984-08-28 1986-03-22 Sharp Corp 光電式ロ−タリ−エンコ−ダ
JPS62157523A (ja) * 1985-12-28 1987-07-13 Aisin Warner Ltd 光式ロ−タリエンコ−ダ
JP2503561B2 (ja) * 1988-01-05 1996-06-05 株式会社ニコン レ―ザ―干渉式エンコ―ダ
US5057686A (en) * 1988-10-12 1991-10-15 Mitutoyo Corporation Self-stabilizing photoelectric displacement detector
JPH0625675B2 (ja) * 1989-08-30 1994-04-06 オ−クマ株式会社 平均化回折モアレ位置検出器
US5124548A (en) * 1990-05-03 1992-06-23 Canon Kabushiki Kaisha Encoder for detecting relative displacement having first and second scales and a light receiving device

Also Published As

Publication number Publication date
DE69318922D1 (de) 1998-07-09
DE69318922T3 (de) 2003-06-18
EP0591832B2 (en) 2002-12-18
EP0591832A1 (en) 1994-04-13
JP3170902B2 (ja) 2001-05-28
DE69318922T2 (de) 1998-11-19
US5483059A (en) 1996-01-09
EP0591832B1 (en) 1998-06-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3170902B2 (ja) 信号処理方法及びそれを用いたエンコーダ
JP2862417B2 (ja) 変位測定装置及び方法
US3598493A (en) Optical graduated rule of transparent material
JPH0132450B2 (ja)
JPH087082B2 (ja) 光学式エンコーダ
JPH063167A (ja) エンコーダー
JP3832874B2 (ja) 光学スケール及びそれを用いたロータリーエンコーダ
JP3641316B2 (ja) 光学式エンコーダ
JPS6023282B2 (ja) 相対変位測定装置
JPH048724B2 (ja)
EP0489399B1 (en) Displacement detector
JPH05256666A (ja) ロータリーエンコーダー
EP0486050A2 (en) Method and apparatus for measuring displacement
JP3459755B2 (ja) 変位情報測定装置
JP3294684B2 (ja) 光電型エンコーダ
JPH0599638A (ja) 測角装置
JP3116535B2 (ja) ロータリーエンコーダー及びエンコーダー
JP2810521B2 (ja) ロータリーエンコーダ及びこれを用いた装置
JP2000121388A (ja) 光学式エンコーダ
JP2810524B2 (ja) 回転検出計
JPH02304313A (ja) 光学式変位計
JP3208830B2 (ja) エンコーダー及びエンコーダー用の光学装置
JP2021179417A (ja) 光学式エンコーダ及び制御装置
JPS6129718A (ja) 光電式透過型エンコ−ダ
JPH05256665A (ja) エンコーダー

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080323

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090323

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100323

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100323

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110323

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120323

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees