JPH0580647B2

JPH0580647B2 -

Info

Publication number: JPH0580647B2
Application number: JP59000813A
Authority: JP
Inventors: Yukio Ogawa; Hideo Ko
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1984-01-09
Filing date: 1984-01-09
Publication date: 1993-11-09
Also published as: JPS60144711A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、発光素子から被写体に投光された光
の反射光を、該発光素子から一定基線長だけ離れ
た受光素子により検出して、被写体までの距離を
測距する、いわゆるアクテイブタイプの自動焦点
（以降、AFと略す。）カメラにおいて、特に測距
範囲を広くして広視野測距が可能なAFカメラに
関するものである。

従来のAFカメラでは、第１図に示すように、
カメラのフアインダ内の視野枠６ａのほぼ中央部
に、主被写体をとらえるための測距視野マーク７
ａが設けられており、それはカメラに対して固定
されたものであり、このことは主被写体を必ず、
その測距視野マーク７ａ内にとらえなくてはなら
ないもので、画面構成を撮影者の意図に反して固
定するものであつた。

即ち第２図において、従来のAFカメラのAF機
構は投光レンズ１ａと受光レンズ２ａを一定基線
長だけ離して配置し、それぞれの焦点位置に発光
素子３ａ（たとえば赤外発光素子（iRED））と受
光素子（PSD）４ａを配設したものであり、こ
のようなAF機構を用いれば、投光レンズ１ａの
投光軸上にある被写体５ａを測距することは可能
であるが、撮影者から同じ距離上にあつて、投光
軸上から左右に少し離れた位置にある被写体５
aLもしくは５aRなどは、投光画角外にあるため
測距されないことになる。つまり、フアインダ内
の測距視野マーク７ａの大きさが投光画角に相当
しており、測距視野マーク７ａからずれた被写体
は測距できない機構であつた。

そこで、これを補つて画面構成を変えないで、
しかも投光軸上からずれた被写体５aLもしくは
５aRでも、ピントの合つた写真を撮ることがで
きるようにした、いわゆるプリフオーカスの可能
なカメラがいくつか提案され、実施されている。
しかしながら、これらのカメラは、たとえばセル
フ機構と連動するようにして、カメラをセルフモ
ードに設定してから、主被写体に測距視野マーク
を合わせて測距を行い、測距完了後にフアインダ
のフレーミングを変えて（つまり、カメラの向き
を変えて）、撮影を行うようになつていたり、レ
リーズボタンの第１ストロークにて測距し、レリ
ーズボタンを第１ストロークの状態に保持し続け
たままカメラの向きを変えて、第２ストロークに
てレリーズを行うようになつていたりしたため、
非常に操作がわずらわしく、またそのために撮影
ミスを起こしやすいといつた欠点を有していた。

これを改良するものとして、第３図に示すよう
なAF機構が提案されている。これは、受光素子
を複数個３ａ，３aR，３aL用いて、それぞれの
発光素子の光軸が投光レンズ１ａの主点で交錯す
るように配置して、該発光素子３ａ，３aR，３
aLを時系列的に順次点燈させ、それによつて得
られる複数個（この場合、３個）の測距情報から
測距値を決定するものである。即ち、発光素子３
ａ，３aR，３aLから、投光レンズ１ａを介して
投光された光は、それぞれ、撮影者から同一距離
にある３つの被写体５ａ，５aR，５aLで反射さ
れ、各々の反射光は受光レンズ２ａを通つて、受
光素子４ａにより検出され、演算されることによ
つて、３個の測距情報が得られる。

以上のような原理を用いて、いわゆる広視野測
距が可能なAF機構をカメラに組込んだ場合には、
発光素子を１個だけ用いた従来のAF機構に比べ
て、発光素子を複数個分だけ順次時系列的に点燈
させるため、従来に比べて消費電流が多くなつて
しまうといつた欠点を有していた。また、常時、
広視野測距を行うと、画面内に不特定多数の被写
体を含んだような場合には、目標の被写体に常に
ピントが合うとは限らず、したがつてピントボケ
の写真を撮つてしまう恐れがあるといつた欠点も
あつた。

本発明は、上記の欠点を解消するためになされ
たもので、特定の被写体だけを、フアインダ内の
測距視野マークに捉えて測距する単一視野AFモ
ードと、画面内の比較的広範囲を測距可能にする
広視野AFモードとを任意に選択可能にして、目
標の被写体に対するピントボケのない写真が撮れ
るようにすることを目的とする。

加えて、本発明は、広視野時には多くの測距点
が存在しフアインダー内に多くの測距視野マーク
が表示され、フアインダー内が見ずらくなること
を防止することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明のカメラ
は、画面内の異なる測定視野における被写体から
の光束をそれぞれ受光し、各視野における被写体
に対して被写体距離に応じた測定信号を求める測
定回路と、該測定回路に対して各測定視野におけ
る前記測定信号を求めさせる第１の信号又は任意
の測定視野を指定し指定された測定視野における
前記測定信号を求めさせる第２の信号を選択的に
供給する切換スイツチ手段と、フアインダー内の
各測定視野に対応する位置に測定視野位置を表示
する表示器と、切換スイツチ手段にて第２の信号
が前記測定回路に供給されている際に前記指定さ
れた測定視野に対応する測定視野位置を前記表示
器にて表示させ、又前記切換スイツチ手段にて第
１の信号が前記測定回路に供給されている際に前
記表示器による全ての測定視野位置の表示を禁止
させる表示制御回路を設けたことを特徴とする。

以下、本発明の実施例について、図面を参照し
ながら説明する。

まず、第４図において、１，２，３，４，５は
同一チツプ上に形成された受光素子で、発光素子
アレイ６を構成しており、７は受光素子（PSD）
である。発光素子アレイ６から投光された光線
は、投光光学系９を通して被写体に到達し、被写
体で反射された該光線は、受光光学系１１を通し
てPSD７により受光される。今、被写体が距離
Ｄ１の位置にある場合において、発光素子１から
投光された光線はPSD７のＡの部分に受光され、
同様に発光素子２，３，４，５から投光された光
線は、それぞれ、PSD７のＢ，Ｃ，Ｄ，Ｅの部
分に受光される。同様にして、被写体距離がＤ
２，Ｄ３，Ｄ４の位置にあるときの、発光素子お
よびPSDの発光および受光位置の関係を求め、
Ｄ１の場合と共に図示すれば、第５図のようにな
る。

第６図は、本発明の一実施例の回路構成図であ
る。同図において、１３はPSD７における受光
位置検出回路、２７は発光素子アレイ６を駆動す
るための発光素子駆動回路、４７は受光位置検出
回路１３より得られた受光位置信号を測距信号に
変換する測距信号変換回路、１０７は複数の測距
信号から最適な測距信号を得るための測距信号評
価回路、１０９は測距制御回路である。

次に、各回路毎にその動作を説明する。

第７図は、受光位置検出回路１３の構成を示す
ものである。同図において、PSD７にはバイア
ス電圧Vcが与えられており、端子７Ａ，７Ｂか
らは光電流IA，IBが出力される。１５はPSD信
号IA，IBの処理回路であり、具体的にはMOSア
ンプ、ハイパス・フイルター、プリ・アンプ、加
算器、減算器、サンプル・ホールド回路、ローパ
ス・フイルター等を含み、光電流IA，IBを入力
とし、信号線２１に、PSD７の受光位置に応じ
た電圧ｋ（IA−IB）／（IA＋IB）（ただし、ｋは
定数）を出力する。１７はＡ／Ｄコンバータであ
り、電圧ｋ（IA−IB）／（IA＋IB）を入力とし、
PSD７上の受光位置に対応したデイジタルの受
光位置信号を、信号線２３，２４，２５に出力す
る。

なお、この場合の信号線２３，２４，２５の各
デイジタル出力とPSD７の受光位置との対応は、
第８図の様に設定されている。

次に、第９図は発光素子駆動回路２７の構成を
示すものであり、同図において、測距制御回路１
０９からの制御信号を、信号線４１，４２，４
３，４４，４５より入力し、それぞれ、駆動回路
３１，３２，３３，３４，３５を介して発光素子
１，２，３，４，５を駆動する。各駆動回路に
は、駆動トランジスタ、定電流回路等が含まれて
おり、不図示の発振回路からの発振周期に従つ
て、各発光素子を点滅させる。

次に、第１０図に測距信号変換回路４７の構成
を示す。同図において、４９は２進数−８進数の
変換回路であり、受光位置検出回路１３から信号
線２３，２４，２５を通して入力されるデイジタ
ルの受光位置信号を、第８図の関係のＡ，Ｂ，
Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈの受光位置信号に変換す
る。５１〜６０は２入力のオア・ゲートで、６１
〜７０は２入力のアンド・ゲート、さらに７１，
７２は５入力のオア・ゲートであり、これらのゲ
ート素子の組合せにより、８つの受光位置信号Ａ
〜Ｈを２つの測距信号に変換して、信号線７３，
７４に出力する。

例えば、測距制御回路１０９からの信号線４３
により発光素子３が選択され、（すなわち、該信
号線４３が“Ｈ”レベルとなる。）この時の被写
体までの距離がＤ２であつたとすると、第１０図
の２進数−８進数の変換回路４９から出力される
受光位置信号は、Ｄとなる（第５図参照）。この
場合、４つのオア・ゲート５１，５３，５６，５
７の出力は“Ｈ”レベルとなり、他の６つのオ
ア・ゲート５２，５４，５５，５８，５９，６０
の出力は“Ｌ”レベルとなる。ここで、仮定条件
により信号線４３は“Ｈ”レベルで、他の４つの
信号線４１，４２，４４，４５は“Ｌ”レベルで
あるため、アンド・ゲート６３の出力のみが
“Ｈ”レベルとなり、他の９つのアンド・ゲート
６１，６２，６４，６５，６６，６７，６８，６
９，７０の出力は“Ｌ”レベルとなる。従つて、
オア・ゲート７１の出力は“Ｈ”レベル、オア・
ゲート７２の出力は“Ｌ”レベルとなる。同様に
して、信号線４１〜４５と信号線２３，２４，２
５に入力される信号によつて、オア・ゲート７
１，７２の出力は決定される。この時のオア・ゲ
ート７１，７２の出力と、第５図に示す被写体ま
での距離との関係を第１１図に示す。

次に、測距信号評価回路１０７の構成を第１２
図に示す。７６，７７，７８，７９，８０はシフ
トレジスタであり、Ｐ入力が“Ｈ”レベルの時
に、それぞれＤ１およびＤ２のデータ入力をとり
込み、クロツク入力Ｔ６，Ｔ７，Ｔ８，Ｔ９，Ｔ
１０により、それぞれＱ出力からデータを転送、
いわゆる２ビツトのパラレルイン・シリアルアウ
ト動作を行なう。８１，８２，８３，８４，８５
は、アンド・ゲートであり、測距制御回路１０９
からの制御信号を乗せる信号線４１，４２，４
３，４４，４５および７５の組合せにより、シフ
トレジスタ７６〜８０へパラレル入力信号を与え
る。信号線４１〜４５および７５のタイミングチ
ヤートを第１３図に示す。このパラレル入力信号
により、シフトレジスタ７６〜８０にはそれぞ
れ、発光素子１，２，３，４，５の光線による測
距信号が格納される。なお、第１２図中に示され
るＴ１〜Ｔ１３の13個の信号は、不図示のタイミ
ング回路で発生されるタイミング信号であり、こ
れらの各タイミング信号と基準クロツク・パルス
（CP）のタイミングチヤートを第１４図に示す。
続いて、８６，８７，８８，８９，９０はアン
ド・ゲートで、それぞれタイミング信号Ｔ１，Ｔ
２，Ｔ３，Ｔ４，Ｔ５が“Ｈ”レベルの時に、シ
フトレジスタ７６〜８０に格納された各々の測距
信号を、オア・ゲート９１を通して順次出力させ
る。次に、９３，９５は、それぞれクロツク入力
Ｔ１１，Ｔ１２に応じて、Ｄ入力からのデータを
とり込む２ビツトのシフトレジスタで、２ビツト
のそれぞれの出力は、デイジタル・コンパレータ
９７に入力される。デイジタル・コンパレータ９
７はシフトレジスタ９３から入力されるデータＢ
（B₁およびB₂）とシフトレジスタ９５から入力さ
れるデータＡ（A₁およびA₂）とを比較し、Ａ＜Ｂ
なる条件が成立するときには、Ａ＜Ｂ端子から
“Ｈ”レベル出力を行う。９９はＤ形のフリツ
プ・フロツプで、デイジタル・コンパレータ９７
のＡ＜Ｂ出力を記憶するものである。１０１，１
０３はアンド・ゲート、１０５はオア・ゲートで
あり、これら３つのゲート素子でもつて、シフト
レジスタ９５のＤ入力に入力信号を与えるための
セレクト・ゲートを構成している。すなわち、フ
リツプ・フロツプ９９のＱ出力が“Ｈ”レベルの
時には、シフトレジスタ９３から転送されるデー
タをシフトレジスタ９５へ入力し、逆に出力が
“Ｈ”レベルの時には、シフトレジスタ９５自身
のデータを入力させる。なお、第１２図におい
て、全てのシフトレジスタおよびフリツプ・フロ
ツプ９９は、不図示のパワーアツプクリア回路に
より、動作開始に先だつて、あらかじめリセツト
されている。

以上の構成により、シフトレジスタ９３は、シ
フトレジスタ７６，７７，７８，７９，８０のデ
ータを順次入力し、シフトレジスタ９５のデータ
と比較され、シフトレジスタ９３のデータが大き
い時のみ、シフトレジスタ９３のデータをシフト
レジスタ９５へ転送し、それ以外の時には、シフ
トレジスタ９５のデータは保持される。従つて、
第１４図のタイミングチヤートの終了時点では、
シフトレジスタ９５には、シフトレジスタ７６，
７７，７８，７９，８０に格納されていた測距信
号のうち、最も大きなデータが格納される。この
場合の最も大きなデータは、第１１図の関係から
明らかなように、最も近い距離Ｄ４を示す測距信
号である。

次に、第１５図に測距制御回路１０９の構成を
示す。１１１，１１２，１１３，１１４，１１
５，１１６はＤ形のフリツプ・フロツプであり、
シフトレジスタを構成している。１１７はノア・
ゲートで、フリツプ・フロツプ１１１〜１１６の
６つのＱ出力を入力とし、全てのＱ出力が“Ｌ”
レベルの時に“Ｈ”出力をフリツプ・フロツプ１
１１のＤ入力に与える。１１９はカウンタで、基
準クロツクパルス（CP）をクロツク入力として
いる。１２１はアンド・ゲートで、フリツプ・フ
ロツプ１１６の出力とカウンタ１１９のＱ４出
力とを入力としており、フリツプ・フロツプ１１
６の出力が“Ｈ”レベルになつている間、カウ
ンタ１１９のＱ４出力を前記のシフトレジスタの
クロツク入力として、出力する。１２３はアン
ド・ゲートであり、カウンタ１１９のＱ２および
Ｑ３出力とインバータ１２５の出力とを入力とす
る。インバータ１２５はカウンタ１１９のＱ４出
力を入力としている。１３１は広視野モードを選
択する為のスイツチである。また、１３２はイン
バータで、スイツチ１３１がオフの時には、抵抗
１３３によつて入力が電源Vccにプルアツプされ
るので、出力は“Ｌ”レベルとなり、逆にスイツ
チ１３１がオンの時には、入力が接地されるので
出力は“Ｈ”レベルとなる。アンド・ゲート１３
４，１３５，１３６，１３７は、それぞれフリツ
プ・フロツプ１１１，１１２，１１４，１１５の
Ｑ出力とインバータ１３２の出力とを入力として
おり、スイツチ１３１がオフの時にはインバータ
１３２の出力が“Ｌ”レベルなので、アンド・ゲ
ート１３４，１３５，１３６，１３７の出力はす
べて“Ｌ”レベルとなるが、スイツチ１３１がオ
ンの時にはインバータ１３２の出力が“Ｈ”レベ
ルとなり、アンド・ゲート１３４，１３５，１３
６，１３７はフリツプ・フロツプ１１１，１１
２，１１４，１１５のＱ出力を通過させる。ま
た、アンド・ゲート１３４，１３５の出力、フリ
ツプ・フロツプ１１３のＱ出力、アンド・ゲート
１３６，１３７の出力は、それぞれ信号線４１，
４２，４３，４４，４５に出力される。カウンタ
１１９とすべてのフリツプ・フロツプは、不図示
のパワーアツプクリア回路により、まずリセツト
され、フリツプ・フロツプのＱ出力はすべて
“Ｌ”レベルとなるので、ノア・ゲート１１７の
出力は“Ｈ”レベルとなる。また、フリツプ・フ
ロツプ１１６の出力は“Ｈ”レベルとなつてい
るので、シフトレジスタにはアンド・ゲート１２
１を通して、カウンタ１１９のＱ４出力がクロツ
ク入力として与えられる。

今、スイツチ１３１がオンの時、すなわち広視
野モードを選択した場合を考えてみる。この時、
インバータ１３２の出力は“Ｈ”レベルとなるた
め、シフトレジスタにクロツク入力Ｂが与えられ
ると、フリツプ・フロツプ１１１のＱ出力が
“Ｈ”レベルとなり、従つて信号線４１は“Ｈ”
レベルとなり発光素子１を駆動して測距動作を開
始する。また、フリツプ・フロツプ１１１のＱ出
力が“Ｈ”レベルなのでノア・ゲート１１７の出
力は“Ｌ”レベルとなる。次にクロツクパルスが
入力されると、フリツプ・フロツプ１１１のＱ出
力は“Ｌ”レベル、フリツプ・フロツプ１１２の
Ｑ出力は“Ｈ”レベルとなるので、信号線４１は
“Ｌ”レベル、信号線４２は“Ｈ”レベルとなり、
発光素子１に代わつて発光素子２が駆動され、測
距視野が変更される。以降、同様にしてクロツク
パルスが入力され続けて、フリツプ・フロツプ１
１６のＱ出力が“Ｈ”レベルになると、信号線暦
４１〜４５はすべて“Ｌ”レベルとなり、逆に
出力は“Ｌ”レベルになるのでアンド・ゲート１
２１の出力は“Ｌ”レベルとなり、シフトレジス
タにはクロツクパルスが入力されなくなる。スイ
ツチ１３１がオンの時のカウンタ１１９の出力Ｑ
２，Ｑ３，Ｑ４、および信号線４１，４２，４
３，４４，４５並びにアンド・ゲート１２３の出
力である信号線７５のタイミングチヤートを第１
６図に示す。

次に、スイツチ１３１がオフの時には、信号線
４１，４２，４４，４５は“Ｌ”レベルのままと
なり、信号線４３のみが“Ｈ”レベルとなつて発
光素子３のみが選択される。さらに、信号線４
１，４２，４４，４５は“Ｌ”レベルを保つてい
るので、第１２図でアンド・ゲート８１，８２，
８３，８４，８５は“Ｌ”レベルのままとなり、
シフトレジスタ７６，７７，７９，８０はパワー
アツプクリア回路によりリセツト状態を保持して
いるため、データとしては“０”が格納されてい
ることになる。すなわち、近距離データ優先、つ
まり大きな数のデータを優先させる測距信号評価
回路１０７では、シフトレジスタ７８に格納され
たデータが最終的な測距信号として、シフトレジ
スタ９５に記憶される。

従つて、以上説明したように、カメラにスイツ
チ１３１を設けておけば、従来の通常の単一視野
AFモードによる撮影と、本発明の広視野AFモー
ドによる撮影とを選択することができる。

次に、測距制御回路１０９の他の実施例（１０
９ａとする）の構成を第１７図に示す。６つのＤ
形のフリツプ・フロツプ１１１〜１１６、ノア・
ゲート１１７、カウンタ１１９、アンド・ゲート
１２３及びインバータ１２５に関しては、第１５
図に示す一実施例の場合と同様なので、説明は省
略する。まず、１５１は広視野AFモードと単一
視野AFモードとを切換えるスイツチであり、オ
フしている時には広視野AFモードとなり、オン
している時は単一視野AFモードとなる。１５５
はインバータであり、その入力は抵抗１５３によ
り電源Vccにプルアツプされている。１５７はオ
ア・ゲート、１５８，１５９はアンド・ゲート
で、これらはセレクト・ゲートを構成している。
１６１は、単一視野AFモードにおいて、測距視
野を撮影者の意志によつて変更する為のスイツチ
である。１６５はインバータで、抵抗１６３によ
つて電源Vccにプルアツプされている。１６７は
公知のチヤタリング吸収回路であり、ｉ端子に入
力された信号のチヤタリングを吸収し、Ｏ端子に
出力する。１６９は液晶装置（LCD）駆動回路
であり、５つのフリツプ・フロツプ１１１〜１１
５の各Ｑ出力を入力とし、インバータ１５５の出
力が“Ｈ”レベルの時に液晶装置（LCD）１７
１を駆動する。１７３はレリーズボタンの第２ス
トロークの押し込みに連動するスイツチであり、
通常はオフであり、第２ストロークまで押し込ま
れるとオンする。１７９は公知の単安定マルチバ
イブレータ（以降、ワンシヨツト回路と称する。）
であり、ｉ入力が“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベル
になると、Ｏ端子から一定時間“Ｈ”レベルの出
力をする。１８０はアンド・ゲートであり、イン
バータ１５５の出力と、ワンシヨツト回路１７９
のＯ出力を入力とする。１８１はオア・ゲート
で、１８２，１８３はアンド・ゲートであり、こ
れら３つのゲートでセレクト・ゲートを構成す
る。同様にして、それぞれ３つのゲート１８５〜
１８７、１８９〜１９１、１９３〜１９５および
１９７〜１９９で、セレクト・ゲートを構成して
いる。すなわち、５つのセレクト・ゲートとな
る。

まず、広視野AFモードの場合から説明する。

広視野AFモードは、スイツチ１５１がオフし
ている状態であり、インバータ１５５の入力は
“Ｈ”レベルとなるので、インバータ１５５の出
力は“Ｌ”レベルとなる。従つて１５７，１５
８，１５９から成るセレクト・ゲートは、アン
ド・ゲート１５９側が選択される。よつて６つの
フリツプ・フロツプ１１１〜１１６から成るシフ
トレジスタのクロツク入力には、カウンタ１１９
のＱ４出力が入力されるので、前述の一実施例と
同様の動作を行なう。一方、インバータ１５５の
出力が“Ｌ”レベルなので、アンド・ゲート１８
０の出力も“Ｌ”レベルになり、前述の５つのセ
レクト・ゲートでは、それぞれアンド・ゲート１
８２，１８６，１９０，１９４，１９８側が選択
され、フリツプ・フロツプ１１１，１１２，１１
３，１１４，１１５のＱ出力が順次“Ｈ”レベル
になるのに応じて、信号線４１，４２，４３，４
４，４５は順次“Ｈ”レベルで出力され、すなわ
ち広視野AFモードとなる。

次に、単一視野AFモードの場合を説明する。

撮影者はまず、スイツチ１５１をオンに設定す
る。すると、インバータ１５５の出力は“Ｈ”レ
ベルとなり、１５７，１５８，１５９から成るセ
レクト・ゲートは、アンド・ゲート１５８側が選
択される。撮影者が測距視野を移動させるために
スイツチ１６１をオンさせると、インバータ１６
５の出力は“Ｈ”レベルになり、チヤタリング吸
収回路１６７を通してアンド・ゲート１５８に
“Ｈ”レベルが入力される。従つて、６つのフリ
ツプ・フロツプ１１１〜１１６のそれぞれにクロ
ツク入力が与えられ、またフリツプ・フロツプ１
１１のＱ出力は“Ｈ”レベルとなる。LCD駆動
回路１６９は、フリツプ・フロツプ１１１のＱ出
力に対応する測距視野マークを、LCD１７１に
よつてフアインダ内に表示せしめる。たとえば、
第１８図に示したように、測距視野マーク８ａ，
８ｂ，８ｃ，８ｄ，８ｅの中のひとつを表示す
る。撮影者は、スイツチ１６１のオン・オフをく
り返し、希望の測距視野マークが選択された時
に、レリーズ・ボタンを第２ストロークまで押し
込み、スイツチ１７３をオンさせる。スイツチ１
７３がオンすると、インバータ１７７の出力は
“Ｈ”レベルとなり、ワンシヨツト回路１７９か
らは一定時間“Ｈ”レベルの出力が出され、アン
ド・ゲート１８０を通して、前述の５つのセレク
ト・ゲート（アンド・ゲート１８３，１８７，１
９１，１９５，１９９側）に出力され、この時に
５つのフリツプ・フロツプ１１１〜１１５のいず
れのＱ出力が“Ｈ”レベルになつているかによつ
て、信号線４１〜４５の内の１つの信号線が
“Ｈ”レベルで出力され、すなわち単一視野AFを
行う。この時の測距結果は測距信号変換回路４７
から出力される。

従つて、カメラにスイツチ１５１および１６１
を設けることにより、スイツチ１５１がオンの時
は単一視野AFモード、オフの時は広視野AFモー
ドと選択することが可能となる。また、単一視野
AFモードの時に、スイツチ１６１を適宜操作す
ることにより、所望の測距視野マークを選択する
ことも可能となる。なお、広視野AFモードの時
は、フアインダ内には測距視野マークは表示され
ない。

以上説明したように、本発明は、発光素子を複
数個配してその中の１個だけを駆動する従来の単
一視野AF方式と、複数個の発光素子を時系列的
に順次制御し、広範囲を測距して複数個の測距情
報を得る広視野AFの両方式が選択可能なように
構成したものであるから、特定の被写体だけが画
面内に入るような場合には広視野AFモードとす
れば良いし、また、主被写体の他に不特定多数の
副被写体が一緒に画面内に含まれるような場合に
は、従来の単一視野AFモードに選択して、主被
写体に測距視野マークを含わせることにより、い
ずれの場合でも被写体にピントの合つた写真が撮
れ、操作性が非常に良くなるといつた利点があ
る。また、単一視野AFモードの場合には、ただ
１個の発光素子を駆動するため、消費電流を少な
くすることができるといつた利点もあり、一方広
視野AFモードでは、主被写体を画面の中央にと
らえなくても良いといつた利点があり、それぞれ
のモードを任意に選択して使用できるので、撮影
者にとつて極めて価値のあるAFカメラとなる。

さらに、本発明は、多点フオーカス検知カメラ
において、異なる測定視野のうち任意の一つの視
野を選択して、その選択視野における被写体に対
してのみ測距を行なわせる任意点選択モードと各
測定視野全てにおける被写体に対してそれぞれ独
立に測距を行なわせる広視野モードとの切換えを
行なうとともに上記のモード切換えに応じて任意
選択モードの時にはフアインダー内の表示器にて
選択された視野位置に測定視野マークを表示さ
せ、一方広視野モードの時には表示器による各測
定視野に対応する全ての測定視野マークの表示を
禁止させたことにより、広視野モードの時に全て
の測定視野表示点選択モード又は広視野モードの
いずれがセツトされているかをフアインダーをの
ぞくだけで確実に認知させるとともに、広視野モ
ード時に各視野点全てを表示させた場合フアイン
ダー内の表示が煩わしくなることを防止すること
ができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、従来のAFカメラのフアインダ内を
示した図、第２図は、従来のAF機構の原理を示
した図、第３図は、発光素子を複数個用いたAF
機構の原理を示した図、第４図は、本発明の一実
施例を示すAF機構の原理を示した図、第５図は、
第４図による発光および受光位置の関係を示す
図、第６図は、本発明の一実施例の回路構成図、
第７図は、第６図における受光位置検出回路の構
成図、第８図は、受光位置検出回路の出力と受光
位置との対応図、第９図は、第６図における発光
素子駆動回路の構成図、第１０図は、第６図にお
ける測距信号変換回路の構成図、第１１図は、測
距信号変換回路の出力と被写体までの距離との関
係を示した図、第１２図は、第６図における測距
信号評価回路の構成図、第１３図および第１４図
は、タイミングチヤート、第１５図は、第６図に
おける測距制御回路の構成図、第１６図は、タイ
ミングチヤートで、第１７図は、測距制御回路の
他の実施例を示す回路図、第１８図は、フアイン
ダ内情報を示している。１，２，３，３ａ，３aR，３aL，４，５……
発光素子、４ａ，７……受光素子、５ａ，５aR，
５aL……被写体、７ａ，８ａ，８ｂ，８ｃ，８
ｄ，８ｅ……測距視野マーク、１０９，１０９ａ
……測距制御回路、１３１，１５１，１６１……
スイツチ。

Claims

【特許請求の範囲】

１画面内の異なる測定視野における被写体から
の光束をそれぞれ受光し、各視野における被写体
に対して被写体距離に応じた測定信号を求める測
定回路と、該測定回路に対して各測定視野におけ
る前記測定信号を求めさせる第１の信号又は任意
の測定視野を指定し指定された測定視野における
前記測定信号を求めさせる第２の信号を選択的に
供給する切換スイツチ手段と、フアインダー内の
各測定視野に対応する位置に測定視野位置を表示
する表示器と、切換スイツチ手段にて第２の信号
が前記測定回路に供給されている際に前記指定さ
れた測定視野に対応する測定視野位置を前記表示
器にて表示させ、又前記切換スイツチ手段にて第
１の信号が前記測定回路に供給されている際に前
記表示器による全ての測定視野位置の表示を禁止
させる表示制御回路を設けたことを特徴とするカ
メラ。