JP2749085B2 - 多点測距カメラ - Google Patents
多点測距カメラInfo
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- JP2749085B2 JP2749085B2 JP63314366A JP31436688A JP2749085B2 JP 2749085 B2 JP2749085 B2 JP 2749085B2 JP 63314366 A JP63314366 A JP 63314366A JP 31436688 A JP31436688 A JP 31436688A JP 2749085 B2 JP2749085 B2 JP 2749085B2
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- distance measurement
- distance measuring
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は多点測距カメラ、更に詳しくは、複数の赤外
発光ダイオードより赤外光を被写体に向けて投射し、そ
の被写体からの反射光を受光することにより被写体距離
を自動的に測距して合焦点へレンズ駆動する、所謂アク
ティブ方式の多点測距カメラに関する。
発光ダイオードより赤外光を被写体に向けて投射し、そ
の被写体からの反射光を受光することにより被写体距離
を自動的に測距して合焦点へレンズ駆動する、所謂アク
ティブ方式の多点測距カメラに関する。
[従来の技術] 従来、カメラ等の自動合焦システムは、大きく分けて
2つの方式が採用されている。その1つは、被写体の輝
度分布情報に基づいて測距を行なうパッシブ方式で、他
の1つは、被写体に対し赤外光や超音波などのビームを
投射し、その反射信号に基づいて測距を行なうアクティ
ブ方式である。
2つの方式が採用されている。その1つは、被写体の輝
度分布情報に基づいて測距を行なうパッシブ方式で、他
の1つは、被写体に対し赤外光や超音波などのビームを
投射し、その反射信号に基づいて測距を行なうアクティ
ブ方式である。
このうち、投光レンズを通して被写体に向け赤外光を
投射し、投光レンズから一定の距離、つまり基線長だけ
離れて設けられた受光レンズを介して半導体位置検出装
置に被写体からの反射光を受光し、その入射位置によっ
て被写体距離を測定する、所謂赤外投光アクティブ式三
角測距方式によるオートフォーカス(以下、AFと略記す
る)装置は、簡単な構成で実現できるので、多くの製品
に採用されている。
投射し、投光レンズから一定の距離、つまり基線長だけ
離れて設けられた受光レンズを介して半導体位置検出装
置に被写体からの反射光を受光し、その入射位置によっ
て被写体距離を測定する、所謂赤外投光アクティブ式三
角測距方式によるオートフォーカス(以下、AFと略記す
る)装置は、簡単な構成で実現できるので、多くの製品
に採用されている。
ところが、この方式にて撮影を行なう場合、投光した
方向に主要被写体が存在しない場合、AF装置は他の被写
体あるいは背景つまり∞に合焦してしまって主要被写体
に対してはピンボケ写真となってしまう(以下、これを
中抜けという)。
方向に主要被写体が存在しない場合、AF装置は他の被写
体あるいは背景つまり∞に合焦してしまって主要被写体
に対してはピンボケ写真となってしまう(以下、これを
中抜けという)。
従って、構図によってはファインダ内に設けられた赤
外光の投光方向を示す測距枠に予じめ被写体に入れて測
距を行ない、その後にフレーミング設定しなおして撮影
する、所謂フォーカスロックと呼称される操作を必要と
した。
外光の投光方向を示す測距枠に予じめ被写体に入れて測
距を行ない、その後にフレーミング設定しなおして撮影
する、所謂フォーカスロックと呼称される操作を必要と
した。
そこで、測距用の投光信号を複数にして、ファインダ
内の複数の測距位置を測距する、広視野AF、あるいは多
点測距と呼称される写真技術が提唱され、これによっ
て、フォーカスロックのような煩雑な操作を無用にする
試みがなされている。
内の複数の測距位置を測距する、広視野AF、あるいは多
点測距と呼称される写真技術が提唱され、これによっ
て、フォーカスロックのような煩雑な操作を無用にする
試みがなされている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、このような多点測距技術を用いた赤外
投光アクティブ式三角測距方式によるAF装置を組込んだ
AFカメラの場合、1回の測距にも必ず何程かの有限な測
距時間が必要なため、撮影画枠内の複数の測距位置につ
きその測距点を多くすればする程、その測距に必要な時
間が長くなってしまう。つまり、カメラのレリーズタイ
ムラグが長くなるから、微妙なシャッタチャンスを逃が
してしまう虞が生ずることになってしまう。
投光アクティブ式三角測距方式によるAF装置を組込んだ
AFカメラの場合、1回の測距にも必ず何程かの有限な測
距時間が必要なため、撮影画枠内の複数の測距位置につ
きその測距点を多くすればする程、その測距に必要な時
間が長くなってしまう。つまり、カメラのレリーズタイ
ムラグが長くなるから、微妙なシャッタチャンスを逃が
してしまう虞が生ずることになってしまう。
そこで、本発明の目的は、上述の問題点を解消し、中
抜け現象を防止するために多点測距を行ないながら、レ
リーズタイムラグが短い多点測距カメラを提供するにあ
る。
抜け現象を防止するために多点測距を行ないながら、レ
リーズタイムラグが短い多点測距カメラを提供するにあ
る。
[課題を解決するための手段および作用] 本発明による多点測距カメラは、 撮影画枠内の複数の測距ポイントに向けて測距用光を
投光する投光手段と、上記測距用光の被写体からの反射
光を受光し、それぞれ測距ポイント毎に光電変換信号を
出力する受光手段と、上記受光手段の出力信号を、上記
投光手段の投光動作の度に積分する積分手段と、この積
分手段の出力信号に基づいて測距を行う測距手段と、上
記投光手段によって各測距ポイントに向けて上記測距用
光を投光し、上記複数の測距ポイントの全てを測距する
場合と、この結果に基づいて測距ポイントを選択し、続
いてこの選択した測距ポイントに向けて上記測距用光を
投光し、上記選択した測距ポイントを測距する場合と
で、上記投光手段による投光回数を切り換える切換手段
とを具備し、上記選択した測距ポイントに向けての投光
回数は、上記複数の測距ポイントに向けての投光回数よ
りも多いことを特徴とし、また、上記複数の測距ポイン
トの全てを測距する場合には、上記投光手段による各測
距ポイントへの投光を順次行うことを特徴とする。
投光する投光手段と、上記測距用光の被写体からの反射
光を受光し、それぞれ測距ポイント毎に光電変換信号を
出力する受光手段と、上記受光手段の出力信号を、上記
投光手段の投光動作の度に積分する積分手段と、この積
分手段の出力信号に基づいて測距を行う測距手段と、上
記投光手段によって各測距ポイントに向けて上記測距用
光を投光し、上記複数の測距ポイントの全てを測距する
場合と、この結果に基づいて測距ポイントを選択し、続
いてこの選択した測距ポイントに向けて上記測距用光を
投光し、上記選択した測距ポイントを測距する場合と
で、上記投光手段による投光回数を切り換える切換手段
とを具備し、上記選択した測距ポイントに向けての投光
回数は、上記複数の測距ポイントに向けての投光回数よ
りも多いことを特徴とし、また、上記複数の測距ポイン
トの全てを測距する場合には、上記投光手段による各測
距ポイントへの投光を順次行うことを特徴とする。
[実 施 例] まず、本発明の具体的な実施例を説明するに先立ち、
本発明の多点測距カメラの概要と、その測距モード並び
に測距時間について第2〜4図を用いて説明する。
本発明の多点測距カメラの概要と、その測距モード並び
に測距時間について第2〜4図を用いて説明する。
第2図は、本発明の概要を示すブロック系統図であ
る。図においてCPUが内蔵された制御手段7は、レリー
ズスイッチ13の入力を受け付けて測距,測光,露出,フ
ィルム巻上げ・巻戻しといった一連のカメラシーケンス
を制御する。測距手段14は、上記制御手段7に内蔵され
たCPUから測距開始信号S1と測距ポイント設定信号S2と
を受信すると、同設定信号S2で設定された測距ポイント
の測距を開始し、測距結果を測距データS4として上記CP
Uに返送する。すると、CPUはこの測距データに基づき合
焦用レンズの繰り出し量を決定し、ドライバ10を介して
モータ11を駆動して合焦用レンズを合焦点に駆動する。
また、本発明の特徴として測距モード切換信号S3があ
り、これにより測距手段14の後述する測距モードを切換
えることができるようになっている。
る。図においてCPUが内蔵された制御手段7は、レリー
ズスイッチ13の入力を受け付けて測距,測光,露出,フ
ィルム巻上げ・巻戻しといった一連のカメラシーケンス
を制御する。測距手段14は、上記制御手段7に内蔵され
たCPUから測距開始信号S1と測距ポイント設定信号S2と
を受信すると、同設定信号S2で設定された測距ポイント
の測距を開始し、測距結果を測距データS4として上記CP
Uに返送する。すると、CPUはこの測距データに基づき合
焦用レンズの繰り出し量を決定し、ドライバ10を介して
モータ11を駆動して合焦用レンズを合焦点に駆動する。
また、本発明の特徴として測距モード切換信号S3があ
り、これにより測距手段14の後述する測距モードを切換
えることができるようになっている。
第3図は、ファインダ視野枠の構成図で、第4図
(A),(B)は、上記第3図中の各測距ポイントを測
距するに要する測距時間を示す線図である。第3図に示
す如く、ファインダ視野枠56c内の画面に対し、測距枠5
6d,56e,56fにより測距ポイントA,B,Cの各点の測距を行
なうと、測距ポイントB,Cの場合、背景56aに合焦するの
で無限遠の測距結果を示すのに対し、測距ポイントAの
場合、主要被写体56bに合焦するのでより近距離の測距
結果を示すことになり、これによって、測距ポインタA
に主要被写体56bが存在すると考えることができる。
(A),(B)は、上記第3図中の各測距ポイントを測
距するに要する測距時間を示す線図である。第3図に示
す如く、ファインダ視野枠56c内の画面に対し、測距枠5
6d,56e,56fにより測距ポイントA,B,Cの各点の測距を行
なうと、測距ポイントB,Cの場合、背景56aに合焦するの
で無限遠の測距結果を示すのに対し、測距ポイントAの
場合、主要被写体56bに合焦するのでより近距離の測距
結果を示すことになり、これによって、測距ポインタA
に主要被写体56bが存在すると考えることができる。
この場合、測距ポイントA,B,Cのどこに主要被写体が
存在するかを求めるために、その都度、レンズ繰り出し
量を決定するに必要な精度での測距(以下、第1測距モ
ードと呼称する)を行なえば、測距時間が長くなり、従
ってレリーズタイムラグも長くなるから非常に無駄であ
る。
存在するかを求めるために、その都度、レンズ繰り出し
量を決定するに必要な精度での測距(以下、第1測距モ
ードと呼称する)を行なえば、測距時間が長くなり、従
ってレリーズタイムラグも長くなるから非常に無駄であ
る。
即ち、第1測距モードにおける1点測距に要する測距
時間をt1とすれば、上述の3点測距に要する全測距時
間、つまりレリーズタイムラグt3は、第4図(A)に示
すように、 t3=3×t1 だけかかることになる。
時間をt1とすれば、上述の3点測距に要する全測距時
間、つまりレリーズタイムラグt3は、第4図(A)に示
すように、 t3=3×t1 だけかかることになる。
しかしながら、レンズ繰り出し量を決定する上記第1
測距モードによる程の測距精度はなくても、測距ポイン
トA,B,Cのいずれの距離が一番至近寄りかということを
概略検出することができ、なおかつ、その1点測距に要
する測距時間が第1測距モードによる測距時間t1に比
し、十分短かい時間t2の第2測距モードを用意すれば全
測距時間、つまりレリーズタイムラグは、第4図
(A),(B)の比較に見るように、短かくすることが
可能となる。
測距モードによる程の測距精度はなくても、測距ポイン
トA,B,Cのいずれの距離が一番至近寄りかということを
概略検出することができ、なおかつ、その1点測距に要
する測距時間が第1測距モードによる測距時間t1に比
し、十分短かい時間t2の第2測距モードを用意すれば全
測距時間、つまりレリーズタイムラグは、第4図
(A),(B)の比較に見るように、短かくすることが
可能となる。
即ち、第2測距モードにおける1点測距に要する測距
時間をt2とすれば、上述のように、測距ポイントA,B,C
の何れの距離が一番至近かを第2測距モードで測距し、
一番至近の測距ポイントに対してのみ第1測距モードで
再度測距した場合の全測距時間t4は、 t4=3×t2+t1 となる。従って、全測距時間t3,t4の間に t4<t3 の関係が成立するためには、測距ポイントが3点の場
合、 であれば、このような測距モードは有効となることが分
る。
時間をt2とすれば、上述のように、測距ポイントA,B,C
の何れの距離が一番至近かを第2測距モードで測距し、
一番至近の測距ポイントに対してのみ第1測距モードで
再度測距した場合の全測距時間t4は、 t4=3×t2+t1 となる。従って、全測距時間t3,t4の間に t4<t3 の関係が成立するためには、測距ポイントが3点の場
合、 であれば、このような測距モードは有効となることが分
る。
例えば、第1測距モードにおける1点測距に要する測
距時間t1が60msecであり、第2測距モードにおける1点
測距に要する測距時間t2が20msecであれば、全測距時間
t3,t4はそれぞれt3=180msec、t4=120msecとなり、こ
れによって40msecのレリーズタイムラグが縮減されるこ
とになる。
距時間t1が60msecであり、第2測距モードにおける1点
測距に要する測距時間t2が20msecであれば、全測距時間
t3,t4はそれぞれt3=180msec、t4=120msecとなり、こ
れによって40msecのレリーズタイムラグが縮減されるこ
とになる。
この場合、測距ポイントが多ければ多い程、このレリ
ーズタイムラグが縮減されるタイムラグ対策の効果は大
きくなる。つまり、各測距モードにおける1点測距に要
する測距時間t1とt2の差をΔtとすると、レリーズタイ
ムラグ対策効果は、n点測距のとき n・t1−(nt2+t1) =n(t1−t2)+t1 =n・Δt−t1 となる。
ーズタイムラグが縮減されるタイムラグ対策の効果は大
きくなる。つまり、各測距モードにおける1点測距に要
する測距時間t1とt2の差をΔtとすると、レリーズタイ
ムラグ対策効果は、n点測距のとき n・t1−(nt2+t1) =n(t1−t2)+t1 =n・Δt−t1 となる。
ところで、第2測距モードで各測距ポイントを1点測
距したときの測距データが皆、同じ場合もあり得る。こ
のような場合、もう一度、距離分解能の高い第1測距モ
ードで各測距ポイントを測距するのは、タイムラグが長
くなるばかりである。そこで、このような場合には本発
明では従来の経験則、つまり主要被写体は画面の中央に
ある確率が80%以上であるという統計結果を導入して、
中央の1点のみを第1測距モードで測距するようにし、
これによって、レリーズタイムラグの延長を防止してい
る。
距したときの測距データが皆、同じ場合もあり得る。こ
のような場合、もう一度、距離分解能の高い第1測距モ
ードで各測距ポイントを測距するのは、タイムラグが長
くなるばかりである。そこで、このような場合には本発
明では従来の経験則、つまり主要被写体は画面の中央に
ある確率が80%以上であるという統計結果を導入して、
中央の1点のみを第1測距モードで測距するようにし、
これによって、レリーズタイムラグの延長を防止してい
る。
次に、本発明の具体的な実施例について説明する。ま
ず、多点測距の基本となる、1点測距を行なうアクティ
ブ式三角測距方式のAFを搭載したカメラについて説明す
る。
ず、多点測距の基本となる、1点測距を行なうアクティ
ブ式三角測距方式のAFを搭載したカメラについて説明す
る。
第1図は、本発明に係る自動露出カメラの要部の構成
を示すブロック図であって、IRED(赤外発光ダイオー
ド)1で発光した光は、投光レンズ2で集光されて被写
体3に向けて照射され、その反射光は受光レンズ4によ
り半導体からなる周知の位置検出装置(以下、PSDと略
記する)5上に結像される。このPSD5は、その結像位置
に応じて光電流I1およびI2が分流され、この分流する光
電流I1およびI2はAF用IC6に供給される。このAF用IC6
は、IRED制御用トランジスタ1Aを介し上記IRED1をパル
ス駆動すると共に、上記PSD5からの光電流I1,I2に基づ
く測距データおよび反射光強度データをCPUが内蔵され
た制御手段7に供給する。
を示すブロック図であって、IRED(赤外発光ダイオー
ド)1で発光した光は、投光レンズ2で集光されて被写
体3に向けて照射され、その反射光は受光レンズ4によ
り半導体からなる周知の位置検出装置(以下、PSDと略
記する)5上に結像される。このPSD5は、その結像位置
に応じて光電流I1およびI2が分流され、この分流する光
電流I1およびI2はAF用IC6に供給される。このAF用IC6
は、IRED制御用トランジスタ1Aを介し上記IRED1をパル
ス駆動すると共に、上記PSD5からの光電流I1,I2に基づ
く測距データおよび反射光強度データをCPUが内蔵され
た制御手段7に供給する。
一方、被写体の明るさを電気信号に変換する露出制御
(以下、EEと略記する)用受光素子8は、EE用IC9と組
み合わされて適正露出を制御する。また上記制御手段7
は、カメラ全体のシーケンスをつかさどりシャッタの開
口時間や、ピント調節用のレンズを駆動するための演算
等も行なうものである。制御手段7の出力は、ドライバ
10によってシャッタやフィルム巻き上げレンズ繰出しを
行なう動力源となるモータ11を駆動する。
(以下、EEと略記する)用受光素子8は、EE用IC9と組
み合わされて適正露出を制御する。また上記制御手段7
は、カメラ全体のシーケンスをつかさどりシャッタの開
口時間や、ピント調節用のレンズを駆動するための演算
等も行なうものである。制御手段7の出力は、ドライバ
10によってシャッタやフィルム巻き上げレンズ繰出しを
行なう動力源となるモータ11を駆動する。
ここで、上記PSD5によって被写体距離を測る赤外光ア
クティブ式三角測距方式の動作原理について述べる。受
光レンズ4の光軸をPSD5の中心線に一致せしめて、これ
を原点としたとき、反射光入射位置をx,投光レンズ2と
受光レンズ4との主点間距離、即ち、基線長をs、受光
レンズ4の焦点距離をfとすれば、被写体距離lは l=s・f/x ………(1) で与えられる。
クティブ式三角測距方式の動作原理について述べる。受
光レンズ4の光軸をPSD5の中心線に一致せしめて、これ
を原点としたとき、反射光入射位置をx,投光レンズ2と
受光レンズ4との主点間距離、即ち、基線長をs、受光
レンズ4の焦点距離をfとすれば、被写体距離lは l=s・f/x ………(1) で与えられる。
PSD5で発生する光電流I1,I2は、共に入射光強度に比
例するが、光電流比I1/I2は入射光強度には依存せず、
入射光位置xのみで決定される。PSD5の全長をtとすれ
ば となる。上式に(1)式を代入すれば となるから、PSD5の光電流I1/I2が求まれば、被写体距
離lが一義的に決定されることになる。
例するが、光電流比I1/I2は入射光強度には依存せず、
入射光位置xのみで決定される。PSD5の全長をtとすれ
ば となる。上式に(1)式を代入すれば となるから、PSD5の光電流I1/I2が求まれば、被写体距
離lが一義的に決定されることになる。
上記第1図ではアクティブ式三角測距方式の測距原理
の説明を簡単にするために、単純な一点測距を行う構成
としているが、これを三点測距に応用したときの、測距
手段14の光学系等の構成を第5図に示す。
の説明を簡単にするために、単純な一点測距を行う構成
としているが、これを三点測距に応用したときの、測距
手段14の光学系等の構成を第5図に示す。
第5図において、3個のIRED41a,41b,41cに対して3
個のPSD44a,44b,44cが用いられていて、3個のIRED41a,
41b,41cからの各測距用赤外ビーム47a,47b,47cは投光レ
ンズ42により被写体に向かい、被写体で反射された各ビ
ームは受光レンズ43により3個のPSD44a,44b,44cのうち
の対応するPSDに入射するようになっている。なお、こ
の第5図では、全体の構成を理解しやすいように、投光
レンズ42と受光レンズ43とを横方向に並べているが、実
際には、第5図に示した横方向の配置を縦方向の配置に
換えて、すなわち投光レンズ42と受光レンズ43を縦配置
にして、3個のIRED41a,41b,41cからの赤外ビームを、
前記第3図に示したファインダ内視野枠56cの測距枠56
d,56e,56fにそれぞれ対応させる必要がある。
個のPSD44a,44b,44cが用いられていて、3個のIRED41a,
41b,41cからの各測距用赤外ビーム47a,47b,47cは投光レ
ンズ42により被写体に向かい、被写体で反射された各ビ
ームは受光レンズ43により3個のPSD44a,44b,44cのうち
の対応するPSDに入射するようになっている。なお、こ
の第5図では、全体の構成を理解しやすいように、投光
レンズ42と受光レンズ43とを横方向に並べているが、実
際には、第5図に示した横方向の配置を縦方向の配置に
換えて、すなわち投光レンズ42と受光レンズ43を縦配置
にして、3個のIRED41a,41b,41cからの赤外ビームを、
前記第3図に示したファインダ内視野枠56cの測距枠56
d,56e,56fにそれぞれ対応させる必要がある。
この測距手段14における光学系の具体的な構成例とし
て、中央のIRED41bからの赤外ビーム47bに対する左右の
IRED41a,41cからの赤外ビーム47a,47cのなす角αは約7
゜に決められており、IRED41a,41b,41cの間隔をg1,投光
レンズ42の焦点距離をfa1とすると、 tanα=g1/fa1 を満足するように設計されている。
て、中央のIRED41bからの赤外ビーム47bに対する左右の
IRED41a,41cからの赤外ビーム47a,47cのなす角αは約7
゜に決められており、IRED41a,41b,41cの間隔をg1,投光
レンズ42の焦点距離をfa1とすると、 tanα=g1/fa1 を満足するように設計されている。
また上記PSD44a,44b,44cの間隔をg2,受光レンズ43の
焦点距離をfa2とすると、fa1=fa2にしたとき、g1=g2
に設定される。
焦点距離をfa2とすると、fa1=fa2にしたとき、g1=g2
に設定される。
PSDを3個に分離した理由は、一点測距時に他の方向
からの入射光の影響を極力小さくして、S/Nの向上を測
るためである。
からの入射光の影響を極力小さくして、S/Nの向上を測
るためである。
第6図は、上記3個のIREDおよび3個のPSDが接続さ
れたAF用IC6の具体的な電気回路図である。
れたAF用IC6の具体的な電気回路図である。
第6図において、PSD44aからの光電流I1,I2は、それ
ぞれ前段増幅器52a,53aで電圧信号V1およびV2、即ちPSD
44aへの入射光位置に応じた電圧に変換されたのち、チ
ャンネル切換スイッチ54a,55aにそれぞれ供給される。
このチャンネル切換スイッチ54a,55aは切換回路67aを介
して後記するチャンネル切換回路60からのチャンネル切
換信号で制御されるようになっている。
ぞれ前段増幅器52a,53aで電圧信号V1およびV2、即ちPSD
44aへの入射光位置に応じた電圧に変換されたのち、チ
ャンネル切換スイッチ54a,55aにそれぞれ供給される。
このチャンネル切換スイッチ54a,55aは切換回路67aを介
して後記するチャンネル切換回路60からのチャンネル切
換信号で制御されるようになっている。
他のPSD44bおよびPSD44cに関してもそれぞれ上記回路
と同様に構成されている。第6図中、PSD44bに関する回
路には末尾がbの符号を、PSD44cに関する回路には末尾
がcの符号を付して示してある。
と同様に構成されている。第6図中、PSD44bに関する回
路には末尾がbの符号を、PSD44cに関する回路には末尾
がcの符号を付して示してある。
また、この3個のPSD44a,44b,44cに関するそれぞれの
回路は、切換回路67a,67b,67cにデコーダ68からの切換
信号が送られて選択的に切換制御される。デコーダ68は
3個のIRED41a,41b,41cをパルス発光させるためのドラ
イバ69に発振器65からの一定周波数の駆動パルス信号a
を送るようになっており、また制御手段7(第1図参
照)からの切換指令に応じて、ドライバ69に対して一点
測距と三点測距の切換制御を、また、測距ポイント設定
信号S2(第2図参照)に応じて測距ポイントの設定を、
それぞれ行い、また上記切換回路67a,67b,67cに対して
3つのPSD回路の切換制御を行っている。つまり、三点
測距時のAFシーケンスは、共通のICで測距演算を行うた
めに時分割で行われるようになっており、IRED41aの発
光時はPSD44aの出力のみが処理され、IRED41bの発光時
はPSD44bの出力のみが処理され、IRED41cの発光時はPSD
44cの出力のみが処理されるようになっている。
回路は、切換回路67a,67b,67cにデコーダ68からの切換
信号が送られて選択的に切換制御される。デコーダ68は
3個のIRED41a,41b,41cをパルス発光させるためのドラ
イバ69に発振器65からの一定周波数の駆動パルス信号a
を送るようになっており、また制御手段7(第1図参
照)からの切換指令に応じて、ドライバ69に対して一点
測距と三点測距の切換制御を、また、測距ポイント設定
信号S2(第2図参照)に応じて測距ポイントの設定を、
それぞれ行い、また上記切換回路67a,67b,67cに対して
3つのPSD回路の切換制御を行っている。つまり、三点
測距時のAFシーケンスは、共通のICで測距演算を行うた
めに時分割で行われるようになっており、IRED41aの発
光時はPSD44aの出力のみが処理され、IRED41bの発光時
はPSD44bの出力のみが処理され、IRED41cの発光時はPSD
44cの出力のみが処理されるようになっている。
上記3つのPSD44a,44b,44cの各回路に関しては、上記
電圧信号V1,V2の何れかがチャンネル切換信号の論理レ
ベルに応じて時分割的にバンドパスフィルタ(以下、BP
Fと略記する)56に供給される。BPF56は発振器65から発
せられる駆動パルス信号の周波数と同じ周波数成分のみ
を選択的に通過させるもので、各PSDの光電流から背景
光を除去して有効な被写体反射光のみを光電変換した信
号成分bを通過させる。積分スイッチ57はBPF56のフィ
ルタ出力信号bを積分タイミングパルス回路70からの信
号eに同期して積分器58に供給する。積分器58の積分出
力V1は比較器59に入力されて基準電圧Vrefと比較され、
比較器59の出力信号cは、D型フリップフロップ等で構
成されるチャンネル切換回路60に供給され、同回路60か
ら出力されるチャンネル切換信号dが上記切換回路67a,
67b,67cに送られることによって、上記各PSD回路におけ
る2つのチャンネル切換スイッチ、例えばPSD44aの回路
に関してはチャンネル切換スイッチ54a,55aが制御され
る。また、上記チャンネル切換回路60からのチャンネル
切換信号dは正積分回数カウンタ62の入力パルスを制御
するアンドゲート61および積分タイミングパルス回路70
にもそれぞれ供給される。上記正積分回数カウンタ62
は、シフトレジスタを兼用していて、チャンネル切換回
路60からのチャンネル切換信号dが“H"レベルとなって
ゲート61が開き、チャンネル切換スイッチ54a,54b,54c
がオンしているときの正積分時の同期積分回数をカウン
トするもので、AF動作終了後、内蔵シフトレジスタより
第1図に示す制御手段7のCPUに測距データを転送す
る。また、プリセットカウンタ等で構成される全積分回
数カウンタ63は、後述するように同期積分の全回数、即
ち、積分タイミングパルス回路70からのタイミングパル
スeをカウントし、設定回数に達するとAF処理を終了す
る終了回路64に、計数信号を供給する。
電圧信号V1,V2の何れかがチャンネル切換信号の論理レ
ベルに応じて時分割的にバンドパスフィルタ(以下、BP
Fと略記する)56に供給される。BPF56は発振器65から発
せられる駆動パルス信号の周波数と同じ周波数成分のみ
を選択的に通過させるもので、各PSDの光電流から背景
光を除去して有効な被写体反射光のみを光電変換した信
号成分bを通過させる。積分スイッチ57はBPF56のフィ
ルタ出力信号bを積分タイミングパルス回路70からの信
号eに同期して積分器58に供給する。積分器58の積分出
力V1は比較器59に入力されて基準電圧Vrefと比較され、
比較器59の出力信号cは、D型フリップフロップ等で構
成されるチャンネル切換回路60に供給され、同回路60か
ら出力されるチャンネル切換信号dが上記切換回路67a,
67b,67cに送られることによって、上記各PSD回路におけ
る2つのチャンネル切換スイッチ、例えばPSD44aの回路
に関してはチャンネル切換スイッチ54a,55aが制御され
る。また、上記チャンネル切換回路60からのチャンネル
切換信号dは正積分回数カウンタ62の入力パルスを制御
するアンドゲート61および積分タイミングパルス回路70
にもそれぞれ供給される。上記正積分回数カウンタ62
は、シフトレジスタを兼用していて、チャンネル切換回
路60からのチャンネル切換信号dが“H"レベルとなって
ゲート61が開き、チャンネル切換スイッチ54a,54b,54c
がオンしているときの正積分時の同期積分回数をカウン
トするもので、AF動作終了後、内蔵シフトレジスタより
第1図に示す制御手段7のCPUに測距データを転送す
る。また、プリセットカウンタ等で構成される全積分回
数カウンタ63は、後述するように同期積分の全回数、即
ち、積分タイミングパルス回路70からのタイミングパル
スeをカウントし、設定回数に達するとAF処理を終了す
る終了回路64に、計数信号を供給する。
この第6図に示したAF用IC6の回路動作について第7
図のタイミングチャートを参考にしながら簡単に述べ
る。AF動作はAF用IC6が制御手段7のCPUより測距開始信
号S1(第2図参照)および基本クロック信号を受けるこ
とにより開始される。今、仮にIRED41a,PSD44aについて
説明すれば、IRED41aがパルス発光を開始すると、被写
体光を受光したPSD44aからの光電流I1,I2を供給された
前段増幅器52a,53aの出力電圧V1,V2の電圧波形V1,V2の
ピーク値の比は、前述のI1/I2に等しくなる。また、測
距開始信号S1を受けると、チャンネル切換回路60,正積
分回数カウンタ62および全積分回数カウンタ63はリセッ
トされる。このとき、チャンネル切換回路60からのチャ
ンネル切換信号dは“L"なので、チャンネル切換スイッ
チ54aがオフ、スイッチ55aがオンとなり、光電流I2に比
例した電圧V2がBPF56に印加される。ここで、積分タイ
ミングパルス回路70よりタイミングパルスeが与えられ
て積分スイッチ57がオンになると、BPF56の出力は光電
流I2に比例した電圧を積分器58に供給する。したがっ
て、積分器58の積分出力VIは、BPF56のフィルタ出力信
号bの正のピークb1で積分(逆積分)が行なわれる。積
分出力VIが基準電圧Vrefより低下すると、比較器59の出
力が“L"から“H"となり、チャンネル切換回路60からの
チャンネル切換信号dは、タイミングパルスe1に同期し
て“L"から“H"となるので、今度はチャンネル切換スイ
ッチ54aがオン、スイッチ55aがオフとなり、BPF56には
光電流I2にかわって光電流I1による電圧V1が入力され
る。このとき、積分タイミングパルス回路70はチャンネ
ル切換スイッチ55aのオンのときに比べ、IRED駆動パル
ス信号aの周波数を半周期遅らせたタイミングパルスe2
を出力するので、BPF56からのフィルタ出力信号bの負
のピークb2で積分(正積分)が行なわれる。このよう
に、積分出力VIが基準電圧Vrefを超えるごとに、基準電
圧Vrefに近づく方向で光電流I1,I2に比例した信号が互
いに逆方向に積分されていく。
図のタイミングチャートを参考にしながら簡単に述べ
る。AF動作はAF用IC6が制御手段7のCPUより測距開始信
号S1(第2図参照)および基本クロック信号を受けるこ
とにより開始される。今、仮にIRED41a,PSD44aについて
説明すれば、IRED41aがパルス発光を開始すると、被写
体光を受光したPSD44aからの光電流I1,I2を供給された
前段増幅器52a,53aの出力電圧V1,V2の電圧波形V1,V2の
ピーク値の比は、前述のI1/I2に等しくなる。また、測
距開始信号S1を受けると、チャンネル切換回路60,正積
分回数カウンタ62および全積分回数カウンタ63はリセッ
トされる。このとき、チャンネル切換回路60からのチャ
ンネル切換信号dは“L"なので、チャンネル切換スイッ
チ54aがオフ、スイッチ55aがオンとなり、光電流I2に比
例した電圧V2がBPF56に印加される。ここで、積分タイ
ミングパルス回路70よりタイミングパルスeが与えられ
て積分スイッチ57がオンになると、BPF56の出力は光電
流I2に比例した電圧を積分器58に供給する。したがっ
て、積分器58の積分出力VIは、BPF56のフィルタ出力信
号bの正のピークb1で積分(逆積分)が行なわれる。積
分出力VIが基準電圧Vrefより低下すると、比較器59の出
力が“L"から“H"となり、チャンネル切換回路60からの
チャンネル切換信号dは、タイミングパルスe1に同期し
て“L"から“H"となるので、今度はチャンネル切換スイ
ッチ54aがオン、スイッチ55aがオフとなり、BPF56には
光電流I2にかわって光電流I1による電圧V1が入力され
る。このとき、積分タイミングパルス回路70はチャンネ
ル切換スイッチ55aのオンのときに比べ、IRED駆動パル
ス信号aの周波数を半周期遅らせたタイミングパルスe2
を出力するので、BPF56からのフィルタ出力信号bの負
のピークb2で積分(正積分)が行なわれる。このよう
に、積分出力VIが基準電圧Vrefを超えるごとに、基準電
圧Vrefに近づく方向で光電流I1,I2に比例した信号が互
いに逆方向に積分されていく。
今、全積分回数をN0とすると、正積分回数NS,逆積分
回数NGとの関係は、 N0=NS+NG ………(3) となる。また正積分回数NSと全積分回数N0との関係は、 NS={I2/(I1+I2)}N0 ……(4) となる。この(4)式に前記(2)式を代入すると、 となる。
回数NGとの関係は、 N0=NS+NG ………(3) となる。また正積分回数NSと全積分回数N0との関係は、 NS={I2/(I1+I2)}N0 ……(4) となる。この(4)式に前記(2)式を代入すると、 となる。
従って、全積分回数カウンタ63においてカウントされ
る全積分回数N0は、終了回路64により一定に保たれるか
ら正積分回数カウンタ62においてカウントされる正積分
回数NSより被写体距離lが求められることになる。
る全積分回数N0は、終了回路64により一定に保たれるか
ら正積分回数カウンタ62においてカウントされる正積分
回数NSより被写体距離lが求められることになる。
第8図と第9図は、上記実施例によって得られる測距
データNSの被写体距離lの逆数に対する関係を示す線図
で、第8図は理論値を、第9図は理論値に回路ノイズが
重畳された場合をそれぞれ示す図である。
データNSの被写体距離lの逆数に対する関係を示す線図
で、第8図は理論値を、第9図は理論値に回路ノイズが
重畳された場合をそれぞれ示す図である。
第8図から明らかなように、上記実施例によって得ら
れる測距データNSの理論値は至近端と無限遠端における
測距値を結ぶ直線l1となる。しかしながら、実際の回路
にはノイズがあるので第9図に示すように理論的な2本
の直線l2,l3あるいはl4,l5で形成され、ある幅 を有する帯状のグラフとなる。今、全積分回数N0が N01>N02 で示される全積分回数N01,N02につき、それぞれの距離
分解能を示す は、第9図に示すように、 となる。つまり、積分回数N0が大きい程、つまり測距時
間が長い程、距離分解能は高くなる。
れる測距データNSの理論値は至近端と無限遠端における
測距値を結ぶ直線l1となる。しかしながら、実際の回路
にはノイズがあるので第9図に示すように理論的な2本
の直線l2,l3あるいはl4,l5で形成され、ある幅 を有する帯状のグラフとなる。今、全積分回数N0が N01>N02 で示される全積分回数N01,N02につき、それぞれの距離
分解能を示す は、第9図に示すように、 となる。つまり、積分回数N0が大きい程、つまり測距時
間が長い程、距離分解能は高くなる。
このようにこの実施例に示したAF回路では、全積分回
数N0を切換えることにより、第1測距モードと第2測距
モードを切換えることができる。即ち、上記第6図に示
す終了回路64をCPUからの測距モード切換信号S3(第2
図参照)で制御することにより全積分回数N0を、例えば
第1測距モードでは64回に、また第2測距モードでは16
回に切換えることができ、これによって測距時間を第1
測距モードにおける測距時間の1/4にする第2測距モー
ドが実現できる。
数N0を切換えることにより、第1測距モードと第2測距
モードを切換えることができる。即ち、上記第6図に示
す終了回路64をCPUからの測距モード切換信号S3(第2
図参照)で制御することにより全積分回数N0を、例えば
第1測距モードでは64回に、また第2測距モードでは16
回に切換えることができ、これによって測距時間を第1
測距モードにおける測距時間の1/4にする第2測距モー
ドが実現できる。
第10図は、カウンタ63と終了回路64(第6図参照)の
一例を示す回路図である。図において、カウンタ63は7
個のD型フリップフロップ回路(以下、DF/Fと略記す
る)15〜21の継続接続で形成され、各DF/F15〜21は、そ
の出力端がD入力端に接続されてバイナリカウンタと
して作動する。そこで、このカウンタ63の入力端T1に積
分タイミングパルス回路70(第6図参照)から出力され
るタイミングパルスeが供給されると、各DF/F15〜21の
Q出力端から20〜26に重み付けされた2進信号が得られ
る。従って、タイミングパルスeの16個目のパルスに応
動してDF/F19のQ出力端から端子T2にアクティブ“H"の
計数信号S16が出力され、また、タイミングパルスeの6
4個目のパルスに応動してDF/F21のQ出力端から端子T3
にアクティブ“H"の計数信号S64が出力されることにな
る。
一例を示す回路図である。図において、カウンタ63は7
個のD型フリップフロップ回路(以下、DF/Fと略記す
る)15〜21の継続接続で形成され、各DF/F15〜21は、そ
の出力端がD入力端に接続されてバイナリカウンタと
して作動する。そこで、このカウンタ63の入力端T1に積
分タイミングパルス回路70(第6図参照)から出力され
るタイミングパルスeが供給されると、各DF/F15〜21の
Q出力端から20〜26に重み付けされた2進信号が得られ
る。従って、タイミングパルスeの16個目のパルスに応
動してDF/F19のQ出力端から端子T2にアクティブ“H"の
計数信号S16が出力され、また、タイミングパルスeの6
4個目のパルスに応動してDF/F21のQ出力端から端子T3
にアクティブ“H"の計数信号S64が出力されることにな
る。
終了回路64は、3個のナンドゲート22,23,24とインバ
ータ25とで構成され、制御手段7(第1図,第2図参
照)に内蔵されたCPUから端子T4に印加された測距モー
ド切換信号S3(第2図参照)の論理レベルに応動して上
記計数信号S16あるいはS64の何れかを選択し、出力端子
T5より終了信号として出力するようになっている。即
ち、測距モード切換信号S3の論理レベルが“H"のとき、
ナンドゲート23がアクティブとなり、ナンドゲート24が
ノンアクティブとなるから、上記カウンタ63の出力端子
T2から出力され、この終了回路64の端子T6から入力され
る計数信号S16が、ナンドゲート23,22を介して端子T5よ
り出力されることになる。また、測距モード切換信号S3
の論理レベルが“L"のとき、同信号S3はインバータ25で
反転されてナンドゲート24に供給されるから、ナンドゲ
ート24がアクティブとなり、逆にナンドゲート23がノン
アクティブとなる。これによって、上記カウンタ63の出
力端子T3から出力され、この終了回路64の端子T7より入
力される計数信号S64が、ナンドゲート24,22を介して端
子T5より出力されることになる。
ータ25とで構成され、制御手段7(第1図,第2図参
照)に内蔵されたCPUから端子T4に印加された測距モー
ド切換信号S3(第2図参照)の論理レベルに応動して上
記計数信号S16あるいはS64の何れかを選択し、出力端子
T5より終了信号として出力するようになっている。即
ち、測距モード切換信号S3の論理レベルが“H"のとき、
ナンドゲート23がアクティブとなり、ナンドゲート24が
ノンアクティブとなるから、上記カウンタ63の出力端子
T2から出力され、この終了回路64の端子T6から入力され
る計数信号S16が、ナンドゲート23,22を介して端子T5よ
り出力されることになる。また、測距モード切換信号S3
の論理レベルが“L"のとき、同信号S3はインバータ25で
反転されてナンドゲート24に供給されるから、ナンドゲ
ート24がアクティブとなり、逆にナンドゲート23がノン
アクティブとなる。これによって、上記カウンタ63の出
力端子T3から出力され、この終了回路64の端子T7より入
力される計数信号S64が、ナンドゲート24,22を介して端
子T5より出力されることになる。
即ち、この第10図に示されるカウンタ63と終了回路64
とは、第6図に示す積分タイミングパルス回路70から出
力されるタイミングパルスeを16個計数するか、64個計
数するかを切換えることにより時間幅を設定するもの
で、これにより第2測距モードの測距時間と、第1測距
モードの測距時間との切換えを行なっている。このよう
にして端子T5より出力される終了信号は、制御手段7の
CPUに入力され、同CPUから前記第6図に示すAF用ICの各
部に測距動作を終了させる信号が送出されるようになっ
ている。
とは、第6図に示す積分タイミングパルス回路70から出
力されるタイミングパルスeを16個計数するか、64個計
数するかを切換えることにより時間幅を設定するもの
で、これにより第2測距モードの測距時間と、第1測距
モードの測距時間との切換えを行なっている。このよう
にして端子T5より出力される終了信号は、制御手段7の
CPUに入力され、同CPUから前記第6図に示すAF用ICの各
部に測距動作を終了させる信号が送出されるようになっ
ている。
このように構成された本実施例の動作を第11図に示す
フローチャートで説明する。このフローチャートでは、
測距時間の短かい、例えばN0=16の第2測距モードで測
距ポイントA,B,Cの各点を測距し、その結果、最も至近
寄りの測距ポイントを選択し、今度はその測距ポイント
のみ、例えばN0=64の第1測距モードで測距して合焦レ
ンズを繰り出すようにしている。
フローチャートで説明する。このフローチャートでは、
測距時間の短かい、例えばN0=16の第2測距モードで測
距ポイントA,B,Cの各点を測距し、その結果、最も至近
寄りの測距ポイントを選択し、今度はその測距ポイント
のみ、例えばN0=64の第1測距モードで測距して合焦レ
ンズを繰り出すようにしている。
この際、N0=16の第2測距モードは距離分解能が前述
のように低いので、2つまたは全部の測距データが等し
くなることがある。しかし、この場合は、主要被写体が
存在する確率がより高い画面中央の測距ポイントBを優
先させて、同ポイントBをN0=64の第1測距モードで測
距するようにしている。
のように低いので、2つまたは全部の測距データが等し
くなることがある。しかし、この場合は、主要被写体が
存在する確率がより高い画面中央の測距ポイントBを優
先させて、同ポイントBをN0=64の第1測距モードで測
距するようにしている。
また、測距ポイントBの測距データが最以遠のデータ
で、測距ポイントAの測距データと測距ポイントCの測
距データが等しい場合は、次のようにしている。即ち、
上記第2測距モードによる多点測距では、測距ポイント
A,B,Cの順に測距するようにフローか構成されているの
で、測距時点から実際の撮影までのタイムラグが一番短
いのは測距ポイントCとなることにより、測距ポイント
Cを優先して第1測距モードによる1点測距を行なうよ
うにしている。
で、測距ポイントAの測距データと測距ポイントCの測
距データが等しい場合は、次のようにしている。即ち、
上記第2測距モードによる多点測距では、測距ポイント
A,B,Cの順に測距するようにフローか構成されているの
で、測距時点から実際の撮影までのタイムラグが一番短
いのは測距ポイントCとなることにより、測距ポイント
Cを優先して第1測距モードによる1点測距を行なうよ
うにしている。
まず、ステップS01で測距ポイントAを、ステップS02
で測距ポイントBを、ステップS03で測距ポイントC
を、測距時間の短い第2測距モードでそれぞれ測距して
測距値lA,lB,lCを求める。次いでステップS04では、上
記3つの測距値のうちから測距ポイントAの測距値lAと
測距ポイントBの測距値lBとを比較して“lB<lA"なら
ステップS05へ進む。ステップS05では測距ポイントBの
測距値lBと測距ポイントCの測距値lCとを比較し“lB<
lC"なら、上記ステップS04で“lB<lA"だったので、測
距ポイントBが最も至近寄りであると判断される。
で測距ポイントBを、ステップS03で測距ポイントC
を、測距時間の短い第2測距モードでそれぞれ測距して
測距値lA,lB,lCを求める。次いでステップS04では、上
記3つの測距値のうちから測距ポイントAの測距値lAと
測距ポイントBの測距値lBとを比較して“lB<lA"なら
ステップS05へ進む。ステップS05では測距ポイントBの
測距値lBと測距ポイントCの測距値lCとを比較し“lB<
lC"なら、上記ステップS04で“lB<lA"だったので、測
距ポイントBが最も至近寄りであると判断される。
即ち、測距ポイントA,B,Cの何れが最も至近寄りかを
測距時間の短い第2測距モードで測距できたことにな
り、この場合測距ポイントBが最も至近寄りなので、こ
の測距ポイントBに主要被写体が存在すると考えられ
る。そこで、ステップS10へ進んで、距離分解能の高い
第1測距モードに変えて、測距ポイントBのみを高精度
に測距する。そして、ステップS13に進んでレンズ繰出
し量を決定し、実際に撮影することになる。
測距時間の短い第2測距モードで測距できたことにな
り、この場合測距ポイントBが最も至近寄りなので、こ
の測距ポイントBに主要被写体が存在すると考えられ
る。そこで、ステップS10へ進んで、距離分解能の高い
第1測距モードに変えて、測距ポイントBのみを高精度
に測距する。そして、ステップS13に進んでレンズ繰出
し量を決定し、実際に撮影することになる。
ステップS05に戻って、“lB<lC"でないならlB≧lCの
筈だから、ステップS06へ進んで“lB=lC"が判断され
る。同ステップS06で“lB=lC"でないと判断されるとlB
>lCだから、上記ステップS04で“lB<lA"だったので、
測距ポイントCが最も至近寄りと判断される。そこで、
ステップS11へ進んで、測距ポイントCをN0=64の第1
測距モードで測距し、レンズ繰出し量を決定(ステップ
S13)する。
筈だから、ステップS06へ進んで“lB=lC"が判断され
る。同ステップS06で“lB=lC"でないと判断されるとlB
>lCだから、上記ステップS04で“lB<lA"だったので、
測距ポイントCが最も至近寄りと判断される。そこで、
ステップS11へ進んで、測距ポイントCをN0=64の第1
測距モードで測距し、レンズ繰出し量を決定(ステップ
S13)する。
ステップS06に戻って“lB=lC"なら、既にステップS0
4で“lB<lA"だったので、測距ポイントAが最以遠で測
距ポイントBとCとが第2測距モードで測距すれば同距
離で至近寄りということになる。前述したように、主要
被写体は、画面の中央にある確率が80%以上なので、こ
の場合、測距ポイントBに主要被写体があると考えてス
テップS10,S13へ進む。
4で“lB<lA"だったので、測距ポイントAが最以遠で測
距ポイントBとCとが第2測距モードで測距すれば同距
離で至近寄りということになる。前述したように、主要
被写体は、画面の中央にある確率が80%以上なので、こ
の場合、測距ポイントBに主要被写体があると考えてス
テップS10,S13へ進む。
ステップS04に戻って“lB<lA"でないなら、lB≧lAの
筈だからステップS07へ進んで“lB=lA"が判断される。
“lB=lA"ならステップS08に進んで“lB>lC"が判断さ
れる。“lB>lC"なら、上記ステップS07で“lB=lA"だ
ったので、測距ポイントCが最も至近寄りと判断され
る。従って、ステップS11,S13へ進む。
筈だからステップS07へ進んで“lB=lA"が判断される。
“lB=lA"ならステップS08に進んで“lB>lC"が判断さ
れる。“lB>lC"なら、上記ステップS07で“lB=lA"だ
ったので、測距ポイントCが最も至近寄りと判断され
る。従って、ステップS11,S13へ進む。
ステップS07に戻って、“lB=lA"でないなら、上記ス
テップS04で“lB<lA"でない、つまりlB≧lAだったの
で、lB>lAとなる。そこで、ステップS09に進んで“lA
<lC"が判断され、“lA<lC"なら、上記ステップS07でl
B=lAだったので、測距ポイントAが最も至近寄りとな
る。そこで、ステップS12に進んで、測距ポイントAをN
0=64の第1測距モードで測距し、この測距値に基づい
てステップS13でレンズ繰出し量を決定する。
テップS04で“lB<lA"でない、つまりlB≧lAだったの
で、lB>lAとなる。そこで、ステップS09に進んで“lA
<lC"が判断され、“lA<lC"なら、上記ステップS07でl
B=lAだったので、測距ポイントAが最も至近寄りとな
る。そこで、ステップS12に進んで、測距ポイントAをN
0=64の第1測距モードで測距し、この測距値に基づい
てステップS13でレンズ繰出し量を決定する。
ステップS09に戻って“lA<lC"でないならlA≧lCの筈
である。上記ステップS07でlB>lAだったので、この場
合測距ポイントBが最も以遠で測距ポイントAとCとが
同距離で至近寄りのケースと、測距ポイントCが最も至
近寄りのケースとの2つのケースが考えられる。そこ
で、前者の測距ポイントが最も以遠で測距ポイントAと
Cとが同距離で至近寄りの場合、測距ポイントAは上記
ステップS01で測距されていて、測距ポイントCは上記
ステップS03で測距されている。従って、“繰出し量決
定”(ステップS13)し、実際に撮影するまでのタイム
ラグは、当然のことながらステップS03の方が短い。よ
ってステップS03で得られた測距ポイントCの測距デー
タを優先させるようにすれば、上記2つのケースは測距
ポイントCが最も至近寄りと判断されることになる。そ
こで、ステップS09の“lA<lC"でない場合、ステップS1
1,S13へ進むことになる。
である。上記ステップS07でlB>lAだったので、この場
合測距ポイントBが最も以遠で測距ポイントAとCとが
同距離で至近寄りのケースと、測距ポイントCが最も至
近寄りのケースとの2つのケースが考えられる。そこ
で、前者の測距ポイントが最も以遠で測距ポイントAと
Cとが同距離で至近寄りの場合、測距ポイントAは上記
ステップS01で測距されていて、測距ポイントCは上記
ステップS03で測距されている。従って、“繰出し量決
定”(ステップS13)し、実際に撮影するまでのタイム
ラグは、当然のことながらステップS03の方が短い。よ
ってステップS03で得られた測距ポイントCの測距デー
タを優先させるようにすれば、上記2つのケースは測距
ポイントCが最も至近寄りと判断されることになる。そ
こで、ステップS09の“lA<lC"でない場合、ステップS1
1,S13へ進むことになる。
[発明の効果] 以上述べたように、本発明による多点測距カメラは、
撮影画枠内の複数の測距ポイントに向けて測距用光を投
光する投光手段と、上記測距用光の被写体からの反射光
を受光し、それぞれ測距ポイント毎に光電変換信号を出
力する受光手段と、上記受光手段の出力信号を、上記投
光手段の投光動作の度に積分する積分手段と、この積分
手段の出力信号に基づいて測距を行う測距手段と、上記
投光手段によって各測距ポイントに向けて上記測距用光
を投光し、上記複数の測距ポイントの全てを測距する場
合と、この結果に基づいて測距ポイントを選択し、続い
てこの選択した測距ポイントに向けて上記測距用光を投
光し、上記選択した測距ポイントを測距する場合とで、
上記投光手段による投光回数を切り換える切換手段とを
具備し、上記選択した測距ポイントに向けての投光回数
は、上記複数の測距ポイントに向けての投光回数よりも
多くしたので、背景にピントが合ってしまって肝腎の主
要被写体がピンボケになってしまう、所謂、中抜け現象
が起こりにくく、しかも、レリーズタイムラグが短くな
るという顕著な効果が発揮される。
撮影画枠内の複数の測距ポイントに向けて測距用光を投
光する投光手段と、上記測距用光の被写体からの反射光
を受光し、それぞれ測距ポイント毎に光電変換信号を出
力する受光手段と、上記受光手段の出力信号を、上記投
光手段の投光動作の度に積分する積分手段と、この積分
手段の出力信号に基づいて測距を行う測距手段と、上記
投光手段によって各測距ポイントに向けて上記測距用光
を投光し、上記複数の測距ポイントの全てを測距する場
合と、この結果に基づいて測距ポイントを選択し、続い
てこの選択した測距ポイントに向けて上記測距用光を投
光し、上記選択した測距ポイントを測距する場合とで、
上記投光手段による投光回数を切り換える切換手段とを
具備し、上記選択した測距ポイントに向けての投光回数
は、上記複数の測距ポイントに向けての投光回数よりも
多くしたので、背景にピントが合ってしまって肝腎の主
要被写体がピンボケになってしまう、所謂、中抜け現象
が起こりにくく、しかも、レリーズタイムラグが短くな
るという顕著な効果が発揮される。
第1図は、本発明の一実施例を示す多点測距カメラの要
部のブロック系統図、 第2図は、本発明の概要を示すブロック系統図、 第3図は、ファインダ視野枠の構成を示す正面図、 第4図(A),(B)は、上記第3図中の各測距ポイン
トを測距するに要する測距時間を示す線図で、第4図
(A)は第1測距モードで3点測距した場合、第4図
(B)は本発明によるもので、先ず第2測距モードで3
点測距した後、最も至近寄りを第1測距モードで測距し
た場合をそれぞれ示す線図、 第5図は、上記第1図,第2図中の測距手段における3
点測距の光学系等の配置を示す構成図、 第6図は、上記第1図中のAF用ICの電気回路の構成を示
したブロック図、 第7図は、上記第6図中の各部の波形を示すタイミング
チャート、 第8図と第9図は、上記実施例によって得られる測距デ
ータNSの被写体距離lの逆数に対する関係を示す線図
で、第8図は理論値を、第9図は回路ノズルが重畳され
た場合をそれぞれ示す図、 第10図は、上記第6図中のカウンタ63と終了回路64の具
体的な構成を示す回路図、 第11図は、本実施例の多点測距カメラの測距動作を説明
するためのフローチャートである。 3……被写体 7……制御手段 14……測距手段
部のブロック系統図、 第2図は、本発明の概要を示すブロック系統図、 第3図は、ファインダ視野枠の構成を示す正面図、 第4図(A),(B)は、上記第3図中の各測距ポイン
トを測距するに要する測距時間を示す線図で、第4図
(A)は第1測距モードで3点測距した場合、第4図
(B)は本発明によるもので、先ず第2測距モードで3
点測距した後、最も至近寄りを第1測距モードで測距し
た場合をそれぞれ示す線図、 第5図は、上記第1図,第2図中の測距手段における3
点測距の光学系等の配置を示す構成図、 第6図は、上記第1図中のAF用ICの電気回路の構成を示
したブロック図、 第7図は、上記第6図中の各部の波形を示すタイミング
チャート、 第8図と第9図は、上記実施例によって得られる測距デ
ータNSの被写体距離lの逆数に対する関係を示す線図
で、第8図は理論値を、第9図は回路ノズルが重畳され
た場合をそれぞれ示す図、 第10図は、上記第6図中のカウンタ63と終了回路64の具
体的な構成を示す回路図、 第11図は、本実施例の多点測距カメラの測距動作を説明
するためのフローチャートである。 3……被写体 7……制御手段 14……測距手段
Claims (2)
- 【請求項1】撮影画枠内の複数の測距ポイントに向けて
測距用光を投光する投光手段と、 上記測距用光の被写体からの反射光を受光し、それぞれ
測距ポイント毎に光電変換信号を出力する受光手段と、 上記受光手段の出力信号を、上記投光手段の投光動作の
度に積分する積分手段と、 この積分手段の出力信号に基づいて測距を行う測距手段
と、 上記投光手段によって各測距ポイントに向けて上記測距
用光を投光し、上記複数の測距ポイントの全てを測距す
る場合と、この結果に基づいて測距ポイントを選択し、
続いてこの選択した測距ポイントに向けて上記測距用光
を投光し、上記選択した測距ポイントを測距する場合と
で、上記投光手段による投光回数を切り換える切換手段
とを具備し、 上記選択した測距ポイントに向けての投光回数は、上記
複数の測距ポイントに向けての投光回数よりも多いこと
を特徴とする多点測距カメラ。 - 【請求項2】上記複数の測距ポイントの全てを測距する
場合には、上記投光手段による各測距ポイントへの投光
を順次行うことを特徴とする請求項1に記載の多点測距
カメラ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63314366A JP2749085B2 (ja) | 1988-12-13 | 1988-12-13 | 多点測距カメラ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63314366A JP2749085B2 (ja) | 1988-12-13 | 1988-12-13 | 多点測距カメラ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02158705A JPH02158705A (ja) | 1990-06-19 |
JP2749085B2 true JP2749085B2 (ja) | 1998-05-13 |
Family
ID=18052471
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63314366A Expired - Lifetime JP2749085B2 (ja) | 1988-12-13 | 1988-12-13 | 多点測距カメラ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2749085B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3939828B2 (ja) * | 1996-09-26 | 2007-07-04 | ペンタックス株式会社 | 多点自動焦点検出装置 |
US6411782B1 (en) | 1999-05-20 | 2002-06-25 | Olympus Optical Co., Ltd. | Multi-autofocus distance-measuring system with a wide distance-measuring area |
JP2000330000A (ja) | 1999-05-20 | 2000-11-30 | Olympus Optical Co Ltd | 測距装置 |
JP2000330001A (ja) | 1999-05-20 | 2000-11-30 | Olympus Optical Co Ltd | 測距装置 |
JP2000330002A (ja) | 1999-05-20 | 2000-11-30 | Olympus Optical Co Ltd | 測距装置 |
JP4350207B2 (ja) | 1999-06-01 | 2009-10-21 | オリンパス株式会社 | 測距装置 |
CN106031155B (zh) * | 2014-09-26 | 2018-06-19 | 深圳市大疆创新科技有限公司 | 基于统计数据的自动对焦系统和方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63246730A (ja) * | 1986-05-16 | 1988-10-13 | Minolta Camera Co Ltd | 焦点検出装置 |
-
1988
- 1988-12-13 JP JP63314366A patent/JP2749085B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63246730A (ja) * | 1986-05-16 | 1988-10-13 | Minolta Camera Co Ltd | 焦点検出装置 |
JPS63246712A (ja) * | 1986-05-16 | 1988-10-13 | Minolta Camera Co Ltd | 焦点検出装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02158705A (ja) | 1990-06-19 |
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