JPH0557873U - 直接描画装置 - Google Patents

直接描画装置

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JPH0557873U
JPH0557873U JP46692U JP46692U JPH0557873U JP H0557873 U JPH0557873 U JP H0557873U JP 46692 U JP46692 U JP 46692U JP 46692 U JP46692 U JP 46692U JP H0557873 U JPH0557873 U JP H0557873U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
paste
temperature
cross
substrate
pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP46692U
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English (en)
Inventor
裕治 柳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 各種ペーストをディスペンサ方式により、基
板に直接描画する装置において、描画後のペーストのダ
レ(裾野)を抑え、かつ、断面形状の再現性及び面内均
一性とパターン精度を向上できる。 【構成】 上記、目的を達成するため、従来の直接描画
装置のXYテーブル上に温調ステージを装着し、描画後
のペーストの温度コントロールをできるようにしたの
で、ペーストの粘度及び揺変性(チキソトロピー)がコ
ントロールできる。 【効果】 上記より、ペーストの増粘及び揺変性の向上
をコントロールできるため、描画後のペーストのダレを
抑え、かつ、断面形状の再現性及び面内均一性とパター
ン精度を向上させることができる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、各種ペーストをディスペンサ方式により、基板に直接描画する装 置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図3は、従来の市販されている直接描画装置の描画中の主要部分を示す断面図 であり、図において1はペーストが充填されたディスペンサタンク、2はディス ペンサタンク1より吐出されたペースト、3は基板、5はXYテーブルである。 図4は、図3で描画された一部分を示すB−B断面図である。
【0003】 次に動作について説明する。図3に示す様に、基板3は、XYテーブル5に装 着され、描画されるべき位置がディスペンサタンク1の真下にくるように基板3 はXYテーブル5によってX,Y方向に移動する。次いでXYテーブル5が駆動 スタートすると共に、図示しない圧力コントローラによってディスペンサタンク 1に設定された圧力が付加されてディスペンサタンク内のペーストがディスペン サタンク1の先端ノズルから吐出される。吐出されたペースト2は基板3上に細 長く付着し、パターンとして形成される。全体の動作シーケンスは、図示しない 制御装置によって、ディスペンサタンク1の圧力コントロール及びXYテーブル 5の駆動が制御される。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
従来の直接描画装置は以上のように構成されているので、基板3は温度コント ロールされておらず、常温であり、ペースト2が付着した後、ペーストは流動体 であるため、ペースト2吐出直後の断面形状を維持できず特にパターンの幅方向 にダレ(裾野)を生じる。この現象は、例えば膜厚20μm、パターン100 μmの パターン2本をパターン間隔50μmで描画した場合、図4に示すペースト2bのよ うな断面形状となり、パターン間隔が20μm〜30μmとなる。また、ペーストの ダレにより線幅の規定が難しく、測長も困難である。
【0005】 この考案は上記のような問題点を解消するためになされたもので、ペーストの ダレ(裾野)を抑えるとともに、ペースト断面形状の再現性を向上できる直接描 画装置を得ることを目的としており、さらにこの装置に適した製造方法を提供す ることを目的とする。
【0006】 さらに、ペースト2の断面形状は、ペーストの粘度及び揺変性(チキソトロピ ー)と基板3の表面状態や温度等によって決まり、常に一定の形状を再現させる のは難しい等の問題があった。 また、同一基板上に多くのパターンを描画する場合、最初に描画したパターン と最後に描画したパターンの断面形状は描画されたペーストの経時変化により、 ダレの形状が異なる。つまり、断面形状の面内均一性が悪い。
【0007】
【課題を解決するための手段】
この考案に係る直接描画装置は、基板と吐出描画されたペーストを所望の温度 にコントロールする温度調節ステージを有し、描画されたペーストの断面形状を 制御するものである。
【0008】
【作用】
この考案における直接描画装置は、基板を温度コントロールすることにより、 基板上に吐出描画されたペーストも温度コントロールされる。以上のように吐出 描画されたペーストを温度コントロールするのは、例えばAuペーストの場合、一 般的にペーストの温度が1℃下がれば粘度は約10,000cps 増加し、揺変性(チキ ソトロピー)も向上する。本考案はこの特性に着目し、吐出描画されたペースト を低温に温度コントロールすることにより、ペーストのダレ(裾野)を抑え、か つ、断面形状の再現性を向上させる。 また、この考案の製造方法では、描画作業中、基板はペーストのダレ(裾野) を抑えた温度にコントロールされているため、ペーストの断面形状均一性は従来 よりも向上する。
【0009】
【実施例】
実施例1. 以下、この考案の一実施例を図について説明する。図1において、図3と同一 構成部分には、同一符号を付してその重複説明を省略する。図1において、4は XYステージ5上に装着された温度調節ステージ(以下、温調ステージと称す。 )である。6は温調ステージ4の温度制御を行う温度コントローラである。
【0010】 次に動作について説明する。図1に示す様に、基板3は、XYテーブル5上の 温調ステージ4に装着される。温調ステージ4は例えば、ペルチェ素子を用いた 電子冷却を採用し、予め、温度コントローラ6により例えば15℃に温度コントロ ールされている。基板3は装着後、温調ステージ4と同一温度になるように所定 の時間保持する。この保持時間は基板3がアルミナ基板(厚さ1mm)の場合、10 秒程度である。 次に基板3を描画されるべき位置が、ディスペンサタンク1の真下にくるよう に基板3はXYテーブル5によってX,Y方向に移動する。次いでXYテーブル 5が駆動スタートすると共に、図示しない圧力コントローラーによってディスペ ンサタンク1に設定された圧力が付加されてディスペンサタンク内のペーストが ディスペンサタンク1の先端ノズルから吐出される。吐出されたペースト2は基 板3上に細長く付着しパターンとして形成される。全体のシーケンスは、図示し ない制御装置によって、ディスペンサタンク1の圧力コントロール及びXYテー ブル5の駆動が制御される。
【0011】 図2は本考案により、パターン形成されたペースト2のA−A断面図である。 ペースト2aは従来の説明と同じ仕様の膜厚20μm、パターン幅100 μmのパター ン2本をパターン間隔50μmで描画したパターン断面である。このように、ペー スト2aは図2に示す従来のペースト2bより、ペーストのダレ(裾野)が抑えられ 、断面形状が良くなっており、パターン間隔も充分保たれている。 また、描画中は基板及び描画されたペーストも常に一定温度(低温)に保たれ ているので断面形状の面内均一性も向上する。これによりパターン幅の面内均一 性も向上する。
【0012】 実施例2. なお、上記実施例では、温調ステージ4にペルチェ素子を用いた電子冷却を採 用したが、循環冷却水等の液体を媒体として温度コントローラ6により温度コン トロールしても良く上記実施例と同様の効果を奏する。
【0013】 実施例3. また、上記実施例では、温調ステージ4にペルチェ素子を用いた電子冷却を採 用したが、二酸化炭素などの気体を媒体として温度コントローラー6により温度 コントロールしても良く、上記実施例と同様の効果を奏する。
【0014】 実施例4. また、上記実施例では、温調ステージ4を低温側に温度コントロールしたが、 使用するペーストの種類により、高温側で増粘及び揺変性が向上するものがあり 、この様なペーストの場合は、温度コントローラ6を高温側に設定し温調ステー ジ4をコントロールすれば良い。
【0015】 実施例5. なお、上記実施例では、XYテーブル5上に温調ステージ4を装着したが、X Yテーブル5に温度調節機能を内蔵させても良い。
【0016】
【考案の効果】
以上のように、この考案によれば、基板上に描画されたペーストを温度コント ロールし、ペーストの増粘及び揺変性の向上ができる構成にしたので、ペースト のダレを抑え、かつ、断面形状の再現性と面内均一性が向上でき、また、パター ン幅の精度も向上できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の一実施例による直接描画装置を示す
断面図である。
【図2】この考案における描画後の図1A−A断面図で
ある。
【図3】従来の直接描画装置を示す断面図である。
【図4】従来の描画後の図3B−B断面図である。
【符号の説明】
1 ディスペンサタンク 2 ペースト 3 基板 4 温調ステージ 5 XYテーブル 6 温度コントローラ

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下記の(イ)〜(ハ)を備えた直接描画
    装置 (イ)ペースト吐出用ノズルを有するディスペンサタン
    クと、 (ロ)基板と吐出描画されたペーストを温度コントロー
    ルする温調ステージと、 (ハ)温調ステージを所望の温度にコントロールできる
    温度コントローラと、
JP46692U 1992-01-10 1992-01-10 直接描画装置 Pending JPH0557873U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP46692U JPH0557873U (ja) 1992-01-10 1992-01-10 直接描画装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP46692U JPH0557873U (ja) 1992-01-10 1992-01-10 直接描画装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0557873U true JPH0557873U (ja) 1993-07-30

Family

ID=11474579

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JP46692U Pending JPH0557873U (ja) 1992-01-10 1992-01-10 直接描画装置

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JP (1) JPH0557873U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013150747A1 (ja) * 2012-04-04 2013-10-10 日本特殊陶業株式会社 パターン形成方法及びデバイス、デバイスの製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013150747A1 (ja) * 2012-04-04 2013-10-10 日本特殊陶業株式会社 パターン形成方法及びデバイス、デバイスの製造方法
JPWO2013150747A1 (ja) * 2012-04-04 2015-12-17 日本特殊陶業株式会社 パターン形成方法及びデバイス、デバイスの製造方法
US9455074B2 (en) 2012-04-04 2016-09-27 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Pattern forming method, device, and device manufacturing method

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