JPH0547060A - 光磁気デイスク装置の光学系 - Google Patents
光磁気デイスク装置の光学系Info
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- JPH0547060A JPH0547060A JP3204228A JP20422891A JPH0547060A JP H0547060 A JPH0547060 A JP H0547060A JP 3204228 A JP3204228 A JP 3204228A JP 20422891 A JP20422891 A JP 20422891A JP H0547060 A JPH0547060 A JP H0547060A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
- G11B11/10541—Heads for reproducing
- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
Abstract
(57)【要約】
【目的】 無位相差コートが施される光学素子の数を減
少できる光磁気ディスク装置の光学系を提供することを
目的としている。 【構成】 光磁気ディスク1で反射された光束の偏光状
態から光磁気ディスク1に記録されている信号を検出す
る信号検出系40と、光磁気ディスク1側からの光束を反
射すると共に、反射した光束の偏光成分に位相差を与え
る第一の光学素子31と、第一の光学素子31からの光束を
信号検出系40側に反射すると共に、反射した光束に前述
の位相差と逆方向で大きさが略等しい位相差を与える第
二の光学素子23とを備えている。
少できる光磁気ディスク装置の光学系を提供することを
目的としている。 【構成】 光磁気ディスク1で反射された光束の偏光状
態から光磁気ディスク1に記録されている信号を検出す
る信号検出系40と、光磁気ディスク1側からの光束を反
射すると共に、反射した光束の偏光成分に位相差を与え
る第一の光学素子31と、第一の光学素子31からの光束を
信号検出系40側に反射すると共に、反射した光束に前述
の位相差と逆方向で大きさが略等しい位相差を与える第
二の光学素子23とを備えている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、偏光光束を用いて光
磁気ディスクから信号を読み出す光磁気ディスク装置の
光学系に関するものである。
磁気ディスクから信号を読み出す光磁気ディスク装置の
光学系に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光磁気ディスク装置は、偏光光束として
のレーザー光をディスク面で反射するときの磁気カー効
果により発生する、レーザー光の偏光面の僅かな回転を
光強度として検出することにより、信号の読み出しを行
っている。使用されるレーザー光は、偏光面の回転が最
も検出し易い直線偏光である。
のレーザー光をディスク面で反射するときの磁気カー効
果により発生する、レーザー光の偏光面の僅かな回転を
光強度として検出することにより、信号の読み出しを行
っている。使用されるレーザー光は、偏光面の回転が最
も検出し易い直線偏光である。
【０００３】一方、一般の光学系に用いられるミラー、
ハーフミラー等の光学素子は、レーザー光を反射すると
きに、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分との間に位相差を発生さ
せ、レーザー光の偏光状態を変化させる。したがって、
偏光面の僅かな回転を検出する光磁気ディスク装置の光
学系に、このような光学素子を用いると、反射されたレ
ーザー光の偏光状態が変化し、ディスク面から読み出し
た信号に、誤りが発生する。
ハーフミラー等の光学素子は、レーザー光を反射すると
きに、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分との間に位相差を発生さ
せ、レーザー光の偏光状態を変化させる。したがって、
偏光面の僅かな回転を検出する光磁気ディスク装置の光
学系に、このような光学素子を用いると、反射されたレ
ーザー光の偏光状態が変化し、ディスク面から読み出し
た信号に、誤りが発生する。
【０００４】この誤りを防止するために、従来、光磁気
ディスク装置の光学系では、ミラー、ハーフミラー等の
光学素子に、偏光光束の入射光と反射光との位相差を無
位相にするための無位相差コートが施されている。
ディスク装置の光学系では、ミラー、ハーフミラー等の
光学素子に、偏光光束の入射光と反射光との位相差を無
位相にするための無位相差コートが施されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光磁気
ディスク装置の光学系中の光学素子に施される無位相差
コートは、コート層数が多くコストがかかるという問題
がある。
ディスク装置の光学系中の光学素子に施される無位相差
コートは、コート層数が多くコストがかかるという問題
がある。
【０００６】
【発明の目的】この発明は、上記事情に鑑みなされたも
のであって、無位相差コートが施される光学素子の数を
減少できる光磁気ディスク装置の光学系を提供すること
を目的とするものである。
のであって、無位相差コートが施される光学素子の数を
減少できる光磁気ディスク装置の光学系を提供すること
を目的とするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明は、その目的を
達成するため、光磁気ディスクで反射された光束の偏光
状態から光磁気ディスクに記録されている信号を検出す
る信号検出系と、光磁気ディスク側からの光束を反射す
ると共に、反射した光束の偏光成分に位相差を与える第
一の光学素子と、第一の光学素子からの光束を信号検出
系側に反射すると共に、反射した光束に前述の位相差と
逆方向で大きさが略等しい位相差を与える第二の光学素
子とを備え、少なくとも1組の第一及び第二の光学素子
により、光磁気ディスクにより反射された光束を信号検
出系に入射させると共に、少なくとも1組の第一の光学
素子の入射面が第二の光学素子の入射面と略直交するこ
とを特徴としている。
達成するため、光磁気ディスクで反射された光束の偏光
状態から光磁気ディスクに記録されている信号を検出す
る信号検出系と、光磁気ディスク側からの光束を反射す
ると共に、反射した光束の偏光成分に位相差を与える第
一の光学素子と、第一の光学素子からの光束を信号検出
系側に反射すると共に、反射した光束に前述の位相差と
逆方向で大きさが略等しい位相差を与える第二の光学素
子とを備え、少なくとも1組の第一及び第二の光学素子
により、光磁気ディスクにより反射された光束を信号検
出系に入射させると共に、少なくとも1組の第一の光学
素子の入射面が第二の光学素子の入射面と略直交するこ
とを特徴としている。
【０００８】
【実施例】以下、この発明を図面に基づいて説明する。
【０００９】
【実施例１】図1は、この発明にかかる光磁気ディスク
装置の光学系の実施例1を示したものである。この光磁
気ディスク装置の光学系は、光源部10と、プリズムブロ
ック20と、対物光学系30と、信号検出系40とを備えてい
る。
装置の光学系の実施例1を示したものである。この光磁
気ディスク装置の光学系は、光源部10と、プリズムブロ
ック20と、対物光学系30と、信号検出系40とを備えてい
る。
【００１０】光源部10は、発散光束を発生する半導体レ
ーザ11と、半導体レーザ11からの発散光束を平行光束に
するコリメータレンズ12と、コリメータレンズ12からの
光束の形状を整形するアナモフィックプリズム13とを備
えている。
ーザ11と、半導体レーザ11からの発散光束を平行光束に
するコリメータレンズ12と、コリメータレンズ12からの
光束の形状を整形するアナモフィックプリズム13とを備
えている。
【００１１】プリズムブロック20は、アナモフィックプ
リズム13からの光束の形状を整形するアナモフィックプ
リズム21と、このアナモフィックプリズム21に接合され
た直角プリズム22と、ルーチンプリズム23とを備えてい
る。
リズム13からの光束の形状を整形するアナモフィックプ
リズム21と、このアナモフィックプリズム21に接合され
た直角プリズム22と、ルーチンプリズム23とを備えてい
る。
【００１２】アナモフィックプリズム21と直角プリズム
22との貼り合わせ面は、無位相差コートが施されたハー
フミラー面22Aとして形成されている。
22との貼り合わせ面は、無位相差コートが施されたハー
フミラー面22Aとして形成されている。
【００１３】対物光学系30は、ルーチンプリズム23と同
一のコートが施された立ち上げルーチンプリズム31と、
光束を光磁気ディスク1に収束させる対物レンズ32とを
備えている。
一のコートが施された立ち上げルーチンプリズム31と、
光束を光磁気ディスク1に収束させる対物レンズ32とを
備えている。
【００１４】立ち上げルーチンプリズム31は、ルーチン
プリズム23からの偏光光束を対物レンズ32に反射し、ま
た逆に、対物レンズ32からの反射光束をルーチンプリズ
ム23に反射する。さらに、立ち上げルーチンプリズム31
の入射面は、ルーチンプリズム23の入射面と直交してい
る。
プリズム23からの偏光光束を対物レンズ32に反射し、ま
た逆に、対物レンズ32からの反射光束をルーチンプリズ
ム23に反射する。さらに、立ち上げルーチンプリズム31
の入射面は、ルーチンプリズム23の入射面と直交してい
る。
【００１５】ルーチンプリズム23と立ち上げルーチンプ
リズム31とのコートを同一にするためには、単に膜厚の
設計値を同一にするのみではなく、同一の蒸着装置で同
時にコーティングすることが望ましい。これにより、蒸
着時の膜厚に誤差が生じたとしても、同一のコートを得
ることができる。
リズム31とのコートを同一にするためには、単に膜厚の
設計値を同一にするのみではなく、同一の蒸着装置で同
時にコーティングすることが望ましい。これにより、蒸
着時の膜厚に誤差が生じたとしても、同一のコートを得
ることができる。
【００１６】対物レンズ32は、立ち上げルーチンプリズ
ム31と共に光磁気ディスク1のラジアル方向Xにスライド
される、図示されていないヘッド内に設けられている。
また、対物レンズ32は、ヘッド内に設けられたアクチュ
エータ上に設けられており、その光軸方向Z及びディス
クの半径方向Xに駆動される。
ム31と共に光磁気ディスク1のラジアル方向Xにスライド
される、図示されていないヘッド内に設けられている。
また、対物レンズ32は、ヘッド内に設けられたアクチュ
エータ上に設けられており、その光軸方向Z及びディス
クの半径方向Xに駆動される。
【００１７】信号検出系40は、ハーフミラー面22Aで反
射された光束の偏光方向を45°回転する1／2波長板41
と、1／2波長板41からの反射光束を集光する集光レンズ
42と、集光レンズ42により集光された反射光束をＰ，Ｓ
偏光成分に分離する偏向ビームスプリッタプリズム（Ｐ
ＢＳプリズム）43と、Ｐ，Ｓ偏光成分をそれぞれ検出す
るセンサ44，45とを備えている。
射された光束の偏光方向を45°回転する1／2波長板41
と、1／2波長板41からの反射光束を集光する集光レンズ
42と、集光レンズ42により集光された反射光束をＰ，Ｓ
偏光成分に分離する偏向ビームスプリッタプリズム（Ｐ
ＢＳプリズム）43と、Ｐ，Ｓ偏光成分をそれぞれ検出す
るセンサ44，45とを備えている。
【００１８】つぎに、実施例1の作用について説明す
る。
る。
【００１９】光源部10により発せられた偏光光束は、プ
リズムブロック20と対物光学系30とにより光磁気ディス
ク1に入射する。光磁気ディスク1により偏光状態が変化
された反射光束は、対物レンズ32を介して立ち上げルー
チンプリズム31に入射する。
リズムブロック20と対物光学系30とにより光磁気ディス
ク1に入射する。光磁気ディスク1により偏光状態が変化
された反射光束は、対物レンズ32を介して立ち上げルー
チンプリズム31に入射する。
【００２０】立ち上げルーチンプリズム31は、対物レン
ズ32からの光束を、ルーチンプリズム23側に反射させ
る。このとき、立ち上げルーチンプリズム31により反射
された光束のＳ偏光成分は、Ｐ偏光成分に対して位相差
αを持つ。このようなＰ偏光成分と、このＰ偏光成分に
対して位相差αを持つＳ偏光成分とから成る反射光束
は、ルーチンプリズム23に入射する。
ズ32からの光束を、ルーチンプリズム23側に反射させ
る。このとき、立ち上げルーチンプリズム31により反射
された光束のＳ偏光成分は、Ｐ偏光成分に対して位相差
αを持つ。このようなＰ偏光成分と、このＰ偏光成分に
対して位相差αを持つＳ偏光成分とから成る反射光束
は、ルーチンプリズム23に入射する。
【００２１】ルーチンプリズム23の入射面が立ち上げル
ーチンプリズム31の入射面と直交しているので、立ち上
げルーチンプリズム31からの反射光束のＰ偏光成分及び
このＰ偏光成分に対して位相差αを持つＳ偏光成分は、
ルーチンプリズム23に対して、それぞれＳ偏光成分及び
Ｐ偏光成分として入射する。
ーチンプリズム31の入射面と直交しているので、立ち上
げルーチンプリズム31からの反射光束のＰ偏光成分及び
このＰ偏光成分に対して位相差αを持つＳ偏光成分は、
ルーチンプリズム23に対して、それぞれＳ偏光成分及び
Ｐ偏光成分として入射する。
【００２２】また、ルーチンプリズム23の反射面23Aに
は、立ち上げルーチンプリズム31の反射面31Aと同一の
コートが施されているので、ルーチンプリズム23は、立
ち上げルーチンプリズム31と同様に光束の偏光状態を変
化させる。これにより、Ｓ偏光成分は、Ｐ偏光成分に対
して位相差αを持つ。したがって、立ち上げルーチンプ
リズム31からの反射光束がルーチンプリズム23で反射さ
れると、位相差αはキャンセルされる。
は、立ち上げルーチンプリズム31の反射面31Aと同一の
コートが施されているので、ルーチンプリズム23は、立
ち上げルーチンプリズム31と同様に光束の偏光状態を変
化させる。これにより、Ｓ偏光成分は、Ｐ偏光成分に対
して位相差αを持つ。したがって、立ち上げルーチンプ
リズム31からの反射光束がルーチンプリズム23で反射さ
れると、位相差αはキャンセルされる。
【００２３】位相差αがキャンセルされた反射光束は、
無位相差コートが施されたハーフミラー面22Aにより信
号検出系40に反射される。信号検出系40は、反射光束の
Ｐ，Ｓ偏光成分をそれぞれ検出する。
無位相差コートが施されたハーフミラー面22Aにより信
号検出系40に反射される。信号検出系40は、反射光束の
Ｐ，Ｓ偏光成分をそれぞれ検出する。
【００２４】このように、従来であれば、アナモフィッ
クプリズムと直角プリズムとの貼り合わせ面、ルーチン
プリズム及び立ち上げルーチンプリズムに無位相差コー
トが必要であったが、実施例1により、ルーチンプリズ
ム及び立ち上げルーチンプリズムに対し、無位相差コー
トを施す必要がなくなる。
クプリズムと直角プリズムとの貼り合わせ面、ルーチン
プリズム及び立ち上げルーチンプリズムに無位相差コー
トが必要であったが、実施例1により、ルーチンプリズ
ム及び立ち上げルーチンプリズムに対し、無位相差コー
トを施す必要がなくなる。
【００２５】なお、実施例1では、ルーチンプリズム23
と立ち上げルーチンプリズム31とに、同一のコートを施
して光束を反射させたが、図2に示されるように、ルー
チンプリズム23と立ち上げルーチンプリズム31とを配置
し、各プリズムにコートを施さずに、各プリズムの反射
面23A，31Aでの全反射を利用して光束を反射してもよ
い。また、実施例1では、1組のルーチンプリズム及び立
ち上げルーチンプリズムを用いたが、2組以上のルーチ
ンプリズム及び立ち上げルーチンプリズムを用いて、光
束を反射すると共に、位相差のキャンセルを行ってもよ
い。
と立ち上げルーチンプリズム31とに、同一のコートを施
して光束を反射させたが、図2に示されるように、ルー
チンプリズム23と立ち上げルーチンプリズム31とを配置
し、各プリズムにコートを施さずに、各プリズムの反射
面23A，31Aでの全反射を利用して光束を反射してもよ
い。また、実施例1では、1組のルーチンプリズム及び立
ち上げルーチンプリズムを用いたが、2組以上のルーチ
ンプリズム及び立ち上げルーチンプリズムを用いて、光
束を反射すると共に、位相差のキャンセルを行ってもよ
い。
【００２６】
【実施例２】図3は、この発明にかかる光磁気ディスク
装置の光学系の実施例2を示したものである。この光磁
気ディスク装置の光学系は、光源部10と、プリズムブロ
ック50と、対物光学系30と、信号検出系40とを備えてい
る。なお、図3において、図1と同一の部材には同じ番号
を付し、これらの部材の説明を省略する。
装置の光学系の実施例2を示したものである。この光磁
気ディスク装置の光学系は、光源部10と、プリズムブロ
ック50と、対物光学系30と、信号検出系40とを備えてい
る。なお、図3において、図1と同一の部材には同じ番号
を付し、これらの部材の説明を省略する。
【００２７】プリズムブロック50は、アナモフィックプ
リズム51と、直角プリズム52と、集光レンズ53と、ＡＰ
Ｃセンサー54とを備えている。
リズム51と、直角プリズム52と、集光レンズ53と、ＡＰ
Ｃセンサー54とを備えている。
【００２８】集光レンズ53は、直角プリズム52のハーフ
ミラー面52Aにより一部が反射された、光源部10からの
偏光光束を、半導体レーザ11の自動出力調整用のＡＰＣ
センサー54に集光させる。
ミラー面52Aにより一部が反射された、光源部10からの
偏光光束を、半導体レーザ11の自動出力調整用のＡＰＣ
センサー54に集光させる。
【００２９】アナモフィックプリズム51と直角プリズム
52との貼り合わせ面は、立ち上げルーチンプリズム31に
施されたコートとは異なるが、立ち上げルーチンプリズ
ム31による位相差αと略同じ位相差を与えるようなコー
トが施されて、ハーフミラー面52Aを形成する。このハ
ーフミラー面52Aが立ち上げルーチンプリズム31からの
光束を反射すると、反射された光束の偏光成分に対し
て、立ち上げルーチンプリズム31の位相差αと略同じ位
相差が与えられる。また、ハーフミラー面52Aの入射面
は、立ち上げルーチンプリズム31の入射面と直交してい
る。
52との貼り合わせ面は、立ち上げルーチンプリズム31に
施されたコートとは異なるが、立ち上げルーチンプリズ
ム31による位相差αと略同じ位相差を与えるようなコー
トが施されて、ハーフミラー面52Aを形成する。このハ
ーフミラー面52Aが立ち上げルーチンプリズム31からの
光束を反射すると、反射された光束の偏光成分に対し
て、立ち上げルーチンプリズム31の位相差αと略同じ位
相差が与えられる。また、ハーフミラー面52Aの入射面
は、立ち上げルーチンプリズム31の入射面と直交してい
る。
【００３０】つぎに、実施例2の作用について説明す
る。
る。
【００３１】光磁気ディスク1により偏光状態が変化さ
れた反射光束は、対物レンズ32により立ち上げルーチン
プリズム31に入射する。立ち上げルーチンプリズム31
は、対物レンズ32からの反射光束のＳ偏光成分に位相差
αを与えて、この反射光束をハーフミラー面52Aに反射
する。
れた反射光束は、対物レンズ32により立ち上げルーチン
プリズム31に入射する。立ち上げルーチンプリズム31
は、対物レンズ32からの反射光束のＳ偏光成分に位相差
αを与えて、この反射光束をハーフミラー面52Aに反射
する。
【００３２】ハーフミラー面52Aの入射面は、立ち上げ
ルーチンプリズム31の入射面と直交しているので、立ち
上げルーチンプリズム31からの反射光束のＰ偏光成分及
びＳ偏光成分は、ハーフミラー面52Aに対して、それぞ
れＳ偏光成分及びＰ偏光成分として入射する。
ルーチンプリズム31の入射面と直交しているので、立ち
上げルーチンプリズム31からの反射光束のＰ偏光成分及
びＳ偏光成分は、ハーフミラー面52Aに対して、それぞ
れＳ偏光成分及びＰ偏光成分として入射する。
【００３３】また、ハーフミラー面52Aには、立ち上げ
ルーチンプリズム31の位相差αと略同じ位相差を与える
ようなコートが施されているので、ハーフミラー面52A
は、立ち上げルーチンプリズム31と同じように光束の偏
光状態を変化させる。
ルーチンプリズム31の位相差αと略同じ位相差を与える
ようなコートが施されているので、ハーフミラー面52A
は、立ち上げルーチンプリズム31と同じように光束の偏
光状態を変化させる。
【００３４】たとえば、ハーフミラー面52Aのコートを
表1のようにする。
表1のようにする。
【００３５】
【表１】
【００３６】 また、立ち上げルーチンプリズム31の反射面31Aのコ
ートを表2のようにする。
ートを表2のようにする。
【００３７】
【表２】
【００３８】 なお、表1及び2において、TiO2の屈折率は2.26、MgF2
の屈折率は1.38、ZrO2の屈折率は2.02である。このよう
なコートにより、ハーフミラー面52A及び立ち上げルー
チンプリズム31の位相差は、それぞれ図4にBS、M1で示
されるようになる。したがって、両面で反射された光束
の位相差は、M1ーBSで示されるように、780nm±50nmの
範囲で1°以内に収まる。なお、2つの光学素子の光学的
特性が異なるとき、光磁気ディスク装置において許容さ
れる位相差は、780nm±20nmで5°程度が目安となる。
の屈折率は1.38、ZrO2の屈折率は2.02である。このよう
なコートにより、ハーフミラー面52A及び立ち上げルー
チンプリズム31の位相差は、それぞれ図4にBS、M1で示
されるようになる。したがって、両面で反射された光束
の位相差は、M1ーBSで示されるように、780nm±50nmの
範囲で1°以内に収まる。なお、2つの光学素子の光学的
特性が異なるとき、光磁気ディスク装置において許容さ
れる位相差は、780nm±20nmで5°程度が目安となる。
【００３９】このようなハーフミラー面52Aにより、立
ち上げルーチンプリズム31からの反射光束が反射される
と、位相差αはキャンセルされる。位相差αがキャンセ
ルされた反射光束は、信号検出系40に反射される。信号
検出系40は、反射光束のＰ，Ｓ偏光成分をそれぞれ検出
する。
ち上げルーチンプリズム31からの反射光束が反射される
と、位相差αはキャンセルされる。位相差αがキャンセ
ルされた反射光束は、信号検出系40に反射される。信号
検出系40は、反射光束のＰ，Ｓ偏光成分をそれぞれ検出
する。
【００４０】このように、従来であれば、アナモフィッ
クプリズムと直角プリズムとの貼り合わせ面及び立ち上
げルーチンプリズムに無位相差コートが必要であった
が、実施例2により、これらに対し、無位相差コートを
施す必要がなくなる。なお、ハーフミラー面及び立ち上
げルーチンプリズムに異なるコートを施して、略同一の
位相差を得ることは、実施例1に比べれば多少、膜構成
が複雑となるが、無位相差コートを施すよりは容易であ
る。
クプリズムと直角プリズムとの貼り合わせ面及び立ち上
げルーチンプリズムに無位相差コートが必要であった
が、実施例2により、これらに対し、無位相差コートを
施す必要がなくなる。なお、ハーフミラー面及び立ち上
げルーチンプリズムに異なるコートを施して、略同一の
位相差を得ることは、実施例1に比べれば多少、膜構成
が複雑となるが、無位相差コートを施すよりは容易であ
る。
【００４１】
【発明の効果】以上説明したように、この発明は、光磁
気ディスクからの光束を第一の光学素子で反射するとき
に発生する位相差を、第二の光学素子を反射することに
よりキャンセルするので、無位相差コートが施される光
学素子の数を減少できる効果がある。
気ディスクからの光束を第一の光学素子で反射するとき
に発生する位相差を、第二の光学素子を反射することに
よりキャンセルするので、無位相差コートが施される光
学素子の数を減少できる効果がある。
【図１】 実施例1にかかる光磁気ディスク装置光学系
の説明図である。
の説明図である。
【図２】 実施例1の他のプリズムの配置を示す図であ
る。
る。
【図３】 実施例2にかかる光磁気ディスク装置光学系
の説明図である。
の説明図である。
【図４】 立ち上げミラー及びビームスプリッタの入射
波長と位相差との関係を示す図である。
波長と位相差との関係を示す図である。
1 光磁気ディスク 23 ルーチンプリズム（第二の光学素子） 31 立ち上げルーチンプリズ（第一の光学素子） 40 信号検出系 50 プリズムブロック（第二の光学素子）
Claims (3)
- 【請求項１】光磁気ディスクで反射された光束の偏光状
態から光磁気ディスクに記録されている信号を検出する
信号検出系と、 光磁気ディスク側からの光束を反射すると共に、反射し
た光束の偏光成分に位相差を与える第一の光学素子と、 前記第一の光学素子からの光束を前記信号検出系側に反
射すると共に、反射した光束に前記位相差と逆方向で大
きさが略等しい位相差を与える第二の光学素子とを備
え、 少なくとも1組の前記第一及び第二の光学素子により、
光磁気ディスクにより反射された光束を前記信号検出系
に入射させると共に、少なくとも1組の前記第一の光学
素子の入射面が前記第二の光学素子の入射面と略直交す
ることを特徴とする光磁気ディスク装置の光学系。 - 【請求項２】少なくとも1組の前記第一の光学素子の反
射面に施されたコートが前記第二の光学素子の反射面に
施されたコートと異なる請求項１に記載の光磁気ディス
ク装置の光学系。 - 【請求項３】少なくとも一組の前記第一の光学素子の反
射面に施されたコートが前記第二の光学素子の反射面に
施されたコートと同一である請求項１に記載の光磁気デ
ィスク装置の光学系。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3204228A JPH0547060A (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | 光磁気デイスク装置の光学系 |
| US07/929,535 US5309423A (en) | 1991-08-14 | 1992-08-14 | Magneto-optical reproducing device with optical system having two reflective elements and providing phase difference cancellation |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3204228A JPH0547060A (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | 光磁気デイスク装置の光学系 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0547060A true JPH0547060A (ja) | 1993-02-26 |
Family
ID=16486966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3204228A Pending JPH0547060A (ja) | 1991-08-14 | 1991-08-14 | 光磁気デイスク装置の光学系 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5309423A (ja) |
| JP (1) | JPH0547060A (ja) |
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|---|---|---|---|---|
| US5408455A (en) * | 1992-04-08 | 1995-04-18 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Control device for head unit having optical head and multiple magnetic heads |
| US5784202A (en) * | 1993-07-08 | 1998-07-21 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushika Kaisha | Apparatus for isometrically splitting beams |
| JP3548259B2 (ja) * | 1994-04-07 | 2004-07-28 | ペンタックス株式会社 | 光磁気ヘッド装置 |
| JP3074554B2 (ja) * | 1994-07-15 | 2000-08-07 | 富士通株式会社 | 光学的情報記録／再生装置及び集積ヘッド |
| US5537383A (en) * | 1995-03-01 | 1996-07-16 | Eastman Kodak Company | Optical data storage system with differential data detection and source noise subtraction for use with magneto-optic, write-once and other optical media |
| JP3670720B2 (ja) * | 1995-07-25 | 2005-07-13 | ペンタックス株式会社 | 情報読み取り装置の製造方法 |
| JP3370487B2 (ja) * | 1995-07-25 | 2003-01-27 | ペンタックス株式会社 | 情報読取装置 |
| JPH0950653A (ja) * | 1995-08-04 | 1997-02-18 | Asahi Optical Co Ltd | 光磁気ヘッド装置 |
| US6038089A (en) | 1996-05-14 | 2000-03-14 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Beam shaping optical system |
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| JPH01176348A (ja) * | 1987-12-29 | 1989-07-12 | Asahi Optical Co Ltd | 光磁気記録再生装置の光学系 |
| JP2786484B2 (ja) * | 1989-01-25 | 1998-08-13 | オリンパス光学工業株式会社 | 光磁気再生装置 |
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| CA2037428C (en) * | 1990-03-05 | 1997-04-01 | Akira Takahashi | Reproducing optical device for a magneto-optical recording medium |
| US5119352A (en) * | 1990-08-17 | 1992-06-02 | Hewlett-Packard Company | Magneto optic data storage read out apparatus and method |
-
1991
- 1991-08-14 JP JP3204228A patent/JPH0547060A/ja active Pending
-
1992
- 1992-08-14 US US07/929,535 patent/US5309423A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5309423A (en) | 1994-05-03 |
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