JPH05274386A - 論理回路シミュレ−ション結果表示装置 - Google Patents
論理回路シミュレ−ション結果表示装置Info
- Publication number
- JPH05274386A JPH05274386A JP4068153A JP6815392A JPH05274386A JP H05274386 A JPH05274386 A JP H05274386A JP 4068153 A JP4068153 A JP 4068153A JP 6815392 A JP6815392 A JP 6815392A JP H05274386 A JPH05274386 A JP H05274386A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 目で見て各ディレイの差が判断でき、かつ人
手による計算や煩雑な作業をなくし、エラ−部分を即座
に判断できるようにし、ショ−トパルスも容易に識別で
きるようにし、人手によるエラ−部分のチェックをなく
し、人手によるデ−タ収集作業や測定、集計作業や管理
作業をなくすことができるようにする。 【構成】 最小、標準、最大を同時にシミュレ−ション
して、同時に表示できるようにする。論理シミュレ−シ
ョン手段と、結果保持手段と、波形整合性チェック手段
と、重ね合わせ表示手段と、波形表示手段とを具備す
る。
手による計算や煩雑な作業をなくし、エラ−部分を即座
に判断できるようにし、ショ−トパルスも容易に識別で
きるようにし、人手によるエラ−部分のチェックをなく
し、人手によるデ−タ収集作業や測定、集計作業や管理
作業をなくすことができるようにする。 【構成】 最小、標準、最大を同時にシミュレ−ション
して、同時に表示できるようにする。論理シミュレ−シ
ョン手段と、結果保持手段と、波形整合性チェック手段
と、重ね合わせ表示手段と、波形表示手段とを具備す
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ASICの設計等にお
ける論理回路のシミュレ−ション結果の波形表示装置に
関するものである。
ける論理回路のシミュレ−ション結果の波形表示装置に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、フルカスタムICとセミカスタ
むIC、およびASSP(特定用途向け標準品)をまと
めてASIC(Application Specific Integrated
Circuit)と呼んでいる。さらに、PLD(プログラ
マブル・ロジック・デバイス)を含めることもある。通
常、論理シミュレ−タを用いて、ASIC等を開発する
場合には、各ASICメ−カが提供したライブラリを利
用して、論理回路のディレイが最小、標準、最大の状態
でシミュレ−ションを行い、3種類のディレイ値で動作
を確認することが必要となる。また、設計する時点で
は、各信号がどの程度のディレイを持っているか、最小
ディレイを設定した場合のシミュレ−ションにおける変
化位置と、最大ディレイを設定した場合のシミュレ−シ
ョンにおける変化位置とでどの程度遅れるか、等を確認
することも通常行われている。しかしながら、これらを
自動的にチェックしたり、目に見えるように表示する装
置や方法は、未だ開発されていなかった。そこで、本願
より先に、本出願人は波形の整合性を自動的にチェック
することが可能な方法を提案した(特願平2−3008
81号明細書および図面『論理回路検証装置のエラ−検
出制御方法』参照)。
むIC、およびASSP(特定用途向け標準品)をまと
めてASIC(Application Specific Integrated
Circuit)と呼んでいる。さらに、PLD(プログラ
マブル・ロジック・デバイス)を含めることもある。通
常、論理シミュレ−タを用いて、ASIC等を開発する
場合には、各ASICメ−カが提供したライブラリを利
用して、論理回路のディレイが最小、標準、最大の状態
でシミュレ−ションを行い、3種類のディレイ値で動作
を確認することが必要となる。また、設計する時点で
は、各信号がどの程度のディレイを持っているか、最小
ディレイを設定した場合のシミュレ−ションにおける変
化位置と、最大ディレイを設定した場合のシミュレ−シ
ョンにおける変化位置とでどの程度遅れるか、等を確認
することも通常行われている。しかしながら、これらを
自動的にチェックしたり、目に見えるように表示する装
置や方法は、未だ開発されていなかった。そこで、本願
より先に、本出願人は波形の整合性を自動的にチェック
することが可能な方法を提案した(特願平2−3008
81号明細書および図面『論理回路検証装置のエラ−検
出制御方法』参照)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前述のように、従来の
シミュレ−タは、最小ディレイ、標準ディレイ、最大デ
ィレイの3種を各ASICメ−カが各シリ−ズ毎に提供
しているが、殆んどのものはそれらのディレイを変化さ
せて3つのシミュレ−ションを全て行うことができる。
しかし、それらのシミュレ−タでは、ディレイ差により
生じた変化の差を波形として見ることはできなかった。
また、一部のメ−カでは、特別のシミュレ−タにより変
化の差を見せるものもあるが、その装置はシミュレ−タ
自体が行う処理によって実現している。従って、どのシ
ミュレ−タを使用してもできるというものではなく、一
部のシミュレ−タの1つの機能であった。従って、その
殆んどのものは、シミュレ−タによる変化の差を出力さ
せようとしても、出力が全てアンノン(不定)となって
しまうという問題があった。本発明の第1の目的は、こ
れら従来の課題を解決し、通常のシミュレ−タを用いて
行ったシミュレ−ション結果より、ディレイの差を見易
く表示することができ、かつ人手による計算や煩雑な作
業をなくすことが可能な論理回路シミュレ−ション結果
表示装置を提供することにある。本発明の第2の目的
は、全信号を対象にする必要がなく、コンピュ−タ上で
の処理が低減され、処理の高速化が可能であり、処理の
待ち時間の短縮が可能な論理回路シミュレ−ション結果
表示装置を提供することにある。本発明の第3の目的
は、各ディレイによる位相が正常となっていないエラ−
部分があるとき、これを波形上で探す煩雑な作業をなく
し、どこがエラ−部分かを即座に判断できるような論理
回路シミュレ−ション結果表示装置を提供することにあ
る。本発明の第4の目的は、波形エラ−となる位相のず
れたショ−トパルスを検出したとき、波形エラ−とは別
に扱うことができ、人目により完全に識別できるように
した論理回路シミュレ−ション結果表示装置を提供する
ことにある。本発明の第5の目的は、エラ−部分の自動
探索ができるようにして、人手による探索作業をなく
し、簡単にエラ−部分のチェックを行うことが可能な論
理回路シミュレ−ション結果表示装置を提供することに
ある。本発明の第6の目的は、エラ−部分の詳細情報を
表示することにより、簡単にエラ−部分の各ディレイ波
形が見れるようにして、人手による煩雑なデ−タ収集作
業をなくすことが可能な論理回路シミュレ−ション結果
表示装置を提供することにある。本発明の第7の目的
は、各変化点が変化の状態によりどのようなディレイで
の差が生じているかを自動集計して、人手による煩雑な
測定、集計作業をなくすことが可能な論理回路シミュレ
−ション結果表示装置を提供することにある。本発明の
第8の目的は、エラ−部分をチェック後、マスク設定で
きるようにして、これを色を変えて表示でき、どこまで
チェックしたか等のエラ−の管理を行うことにより、煩
雑な管理作業をなくすことが可能な論理回路シミュレ−
ション結果表示装置を提供することにある。
シミュレ−タは、最小ディレイ、標準ディレイ、最大デ
ィレイの3種を各ASICメ−カが各シリ−ズ毎に提供
しているが、殆んどのものはそれらのディレイを変化さ
せて3つのシミュレ−ションを全て行うことができる。
しかし、それらのシミュレ−タでは、ディレイ差により
生じた変化の差を波形として見ることはできなかった。
また、一部のメ−カでは、特別のシミュレ−タにより変
化の差を見せるものもあるが、その装置はシミュレ−タ
自体が行う処理によって実現している。従って、どのシ
ミュレ−タを使用してもできるというものではなく、一
部のシミュレ−タの1つの機能であった。従って、その
殆んどのものは、シミュレ−タによる変化の差を出力さ
せようとしても、出力が全てアンノン(不定)となって
しまうという問題があった。本発明の第1の目的は、こ
れら従来の課題を解決し、通常のシミュレ−タを用いて
行ったシミュレ−ション結果より、ディレイの差を見易
く表示することができ、かつ人手による計算や煩雑な作
業をなくすことが可能な論理回路シミュレ−ション結果
表示装置を提供することにある。本発明の第2の目的
は、全信号を対象にする必要がなく、コンピュ−タ上で
の処理が低減され、処理の高速化が可能であり、処理の
待ち時間の短縮が可能な論理回路シミュレ−ション結果
表示装置を提供することにある。本発明の第3の目的
は、各ディレイによる位相が正常となっていないエラ−
部分があるとき、これを波形上で探す煩雑な作業をなく
し、どこがエラ−部分かを即座に判断できるような論理
回路シミュレ−ション結果表示装置を提供することにあ
る。本発明の第4の目的は、波形エラ−となる位相のず
れたショ−トパルスを検出したとき、波形エラ−とは別
に扱うことができ、人目により完全に識別できるように
した論理回路シミュレ−ション結果表示装置を提供する
ことにある。本発明の第5の目的は、エラ−部分の自動
探索ができるようにして、人手による探索作業をなく
し、簡単にエラ−部分のチェックを行うことが可能な論
理回路シミュレ−ション結果表示装置を提供することに
ある。本発明の第6の目的は、エラ−部分の詳細情報を
表示することにより、簡単にエラ−部分の各ディレイ波
形が見れるようにして、人手による煩雑なデ−タ収集作
業をなくすことが可能な論理回路シミュレ−ション結果
表示装置を提供することにある。本発明の第7の目的
は、各変化点が変化の状態によりどのようなディレイで
の差が生じているかを自動集計して、人手による煩雑な
測定、集計作業をなくすことが可能な論理回路シミュレ
−ション結果表示装置を提供することにある。本発明の
第8の目的は、エラ−部分をチェック後、マスク設定で
きるようにして、これを色を変えて表示でき、どこまで
チェックしたか等のエラ−の管理を行うことにより、煩
雑な管理作業をなくすことが可能な論理回路シミュレ−
ション結果表示装置を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の論理回路シミュレ−ション結果表示装置
は、(イ)ASIC等の設計する論理回路をシミュレ−
ションするために、コンピュ−タ上に入力する論理回路
入力手段と、論理回路をシミュレ−ションする際に必要
となる入力パタ−ンを作成するテストパタ−ン入力手段
と、論理回路とテストパタ−ンとを用いてシミュレ−シ
ョンを実行する論理シミュレ−ション手段と、最小、標
準、最大の3種のディレイでのシミュレ−ション結果を
各々保持する各ディレイ別論理シミュレ−ション結果保
持手段と、3種のディレイでの波形の位勤が合っている
か否かをチェックする波形整合性チェック手段と、波形
表示手段とを有することを特徴としている。また、
(ロ)波形表示手段として、3種類のディレイでの波形
を重ね合わせて表示する重ね合わせ表示手段と、全信号
のうちの必要な信号を指定する重ね合わせ表示信号指定
手段とを具備し、重ね合わせ表示信号指定手段により指
定された一部の信号に対して波形を重ね合わせて表示す
ることを特徴としている。また、(ハ)波形表示手段と
して、波形の整合性チェックでエラ−となったり、ショ
−トパルスエラ−となった部分に対して、背景色や信号
線の色で各エラ−を表示する各種エラ−等の色表示手段
を具備したことを特徴としている。また、(ニ)波形整
合性チェック手段によるチェックの結果、波形エラ−が
検出された場合、波形エラ−の中より安定幅が短いため
に位相がずれてしまったショ−トパルスエラ−を検出す
るショ−トパルス検出手段と、ショ−トパルスを上記波
形エラ−とは別に扱えるように、波形エラ−とは別の色
で表示する各種エラ−等の色表示手段とを具備すること
を特徴としている。また、(ホ)波形表示手段として、
シミュレ−ション結果重ね合わせエラ−表示上の波形群
より、波形エラ−を時間順にサ−チすることにより、前
後のエラ−発生位置の波形画面に表示する波形エラ−サ
−チ表示手段を具備したことを特徴としている。また、
(ヘ)波形表示手段として、波形のエラ−部分を指示す
ることにより、波形の各ディレイ毎の詳細波形情報を表
示するエラ−部分の各ディレイ詳細波形表示手段を具備
したことを特徴としている。さらに、(ト)各ディレイ
別論理シミュレ−ション結果保持手段に保持されている
各信号における各変化点のディレイによる立ち上り、立
ち下り等の遅れ幅の最小、平均、最大を集計するディレ
イ差での変化の幅測定手段を具備したことを特徴として
いる。さらに、(チ)波形表示手段により重ね合わされ
た波形が表示された場合、各位置のエラ−に対して問題
がないことを確認したときに、エラ−をマスク設定する
エラ−部分マスク設定手段と、マスクが設定されたとき
に色を変える各種エラ−等の色表示手段とを具備したこ
とを特徴としている。
め、本発明の論理回路シミュレ−ション結果表示装置
は、(イ)ASIC等の設計する論理回路をシミュレ−
ションするために、コンピュ−タ上に入力する論理回路
入力手段と、論理回路をシミュレ−ションする際に必要
となる入力パタ−ンを作成するテストパタ−ン入力手段
と、論理回路とテストパタ−ンとを用いてシミュレ−シ
ョンを実行する論理シミュレ−ション手段と、最小、標
準、最大の3種のディレイでのシミュレ−ション結果を
各々保持する各ディレイ別論理シミュレ−ション結果保
持手段と、3種のディレイでの波形の位勤が合っている
か否かをチェックする波形整合性チェック手段と、波形
表示手段とを有することを特徴としている。また、
(ロ)波形表示手段として、3種類のディレイでの波形
を重ね合わせて表示する重ね合わせ表示手段と、全信号
のうちの必要な信号を指定する重ね合わせ表示信号指定
手段とを具備し、重ね合わせ表示信号指定手段により指
定された一部の信号に対して波形を重ね合わせて表示す
ることを特徴としている。また、(ハ)波形表示手段と
して、波形の整合性チェックでエラ−となったり、ショ
−トパルスエラ−となった部分に対して、背景色や信号
線の色で各エラ−を表示する各種エラ−等の色表示手段
を具備したことを特徴としている。また、(ニ)波形整
合性チェック手段によるチェックの結果、波形エラ−が
検出された場合、波形エラ−の中より安定幅が短いため
に位相がずれてしまったショ−トパルスエラ−を検出す
るショ−トパルス検出手段と、ショ−トパルスを上記波
形エラ−とは別に扱えるように、波形エラ−とは別の色
で表示する各種エラ−等の色表示手段とを具備すること
を特徴としている。また、(ホ)波形表示手段として、
シミュレ−ション結果重ね合わせエラ−表示上の波形群
より、波形エラ−を時間順にサ−チすることにより、前
後のエラ−発生位置の波形画面に表示する波形エラ−サ
−チ表示手段を具備したことを特徴としている。また、
(ヘ)波形表示手段として、波形のエラ−部分を指示す
ることにより、波形の各ディレイ毎の詳細波形情報を表
示するエラ−部分の各ディレイ詳細波形表示手段を具備
したことを特徴としている。さらに、(ト)各ディレイ
別論理シミュレ−ション結果保持手段に保持されている
各信号における各変化点のディレイによる立ち上り、立
ち下り等の遅れ幅の最小、平均、最大を集計するディレ
イ差での変化の幅測定手段を具備したことを特徴として
いる。さらに、(チ)波形表示手段により重ね合わされ
た波形が表示された場合、各位置のエラ−に対して問題
がないことを確認したときに、エラ−をマスク設定する
エラ−部分マスク設定手段と、マスクが設定されたとき
に色を変える各種エラ−等の色表示手段とを具備したこ
とを特徴としている。
【0005】
【作用】本発明においては、最小(MNI)と最大
(MAX)を同時にシミュレ−ションするような特種な
シミュレ−タではなく、通常のシミュレ−タを用いて行
ったシミュレ−ション結果から、ディレイの差を見易く
表示する。そして、最小ディレイと標準ディレイと最大
ディレイでのシミュレ−ション結果より波形の位相のチ
ェックを行い、そのチェックにより正常な位相部分では
各ディレイでの変化点位置の遅れを波形上に表示する。
また、波形の重ね合わせをする信号を指定することに
より、全信号を対象とする必要がなく、コンピュ−タ上
での処理を低減でき、処理の高速化を図ることができる
ので、レスポンスの向上が図れる。また、各ディレイ
による位相が正常となっていないエラ−部分に対して、
その背景色や信号線の色等を変化させることにより、ど
こがエラ−部分かを即座に判断できるようにする。ま
た、ショ−トパルスを検出する機により、波形エラ−
となってしまう位相のずれたショ−トパルスを検出し、
波形エラ−とは別で扱うことにより、波形エラ−の中に
ショ−トパルスが入らないようにして、全体のエラ−を
少なくし、別の色で表示することにより人目での識別を
容易にする。また、エラ−部分のサ−チができるよう
にして、エラ−探索作業をなくし、簡単にエラ−部分の
チェックを行えるようにする。また、エラ−部分の詳
細情報を表示する機能を持つことにより、簡単にエラ−
の部分の各ディレイの波形が見れるようにし、人手によ
る煩雑なデ−タ集め作業をなくす。また、各信号毎に
各変化点が変化の状態により、どのようなディレイでの
差ができいるかを自動集計することによって、集計作業
をなくす。さらに、エラ−部分をチェック後、マスク
を設定して、それにより色を変えて表示することによ
り、どこまでチェックしたか、あるいは重複してチェッ
クしないように、エラ−を管理する。
(MAX)を同時にシミュレ−ションするような特種な
シミュレ−タではなく、通常のシミュレ−タを用いて行
ったシミュレ−ション結果から、ディレイの差を見易く
表示する。そして、最小ディレイと標準ディレイと最大
ディレイでのシミュレ−ション結果より波形の位相のチ
ェックを行い、そのチェックにより正常な位相部分では
各ディレイでの変化点位置の遅れを波形上に表示する。
また、波形の重ね合わせをする信号を指定することに
より、全信号を対象とする必要がなく、コンピュ−タ上
での処理を低減でき、処理の高速化を図ることができる
ので、レスポンスの向上が図れる。また、各ディレイ
による位相が正常となっていないエラ−部分に対して、
その背景色や信号線の色等を変化させることにより、ど
こがエラ−部分かを即座に判断できるようにする。ま
た、ショ−トパルスを検出する機により、波形エラ−
となってしまう位相のずれたショ−トパルスを検出し、
波形エラ−とは別で扱うことにより、波形エラ−の中に
ショ−トパルスが入らないようにして、全体のエラ−を
少なくし、別の色で表示することにより人目での識別を
容易にする。また、エラ−部分のサ−チができるよう
にして、エラ−探索作業をなくし、簡単にエラ−部分の
チェックを行えるようにする。また、エラ−部分の詳
細情報を表示する機能を持つことにより、簡単にエラ−
の部分の各ディレイの波形が見れるようにし、人手によ
る煩雑なデ−タ集め作業をなくす。また、各信号毎に
各変化点が変化の状態により、どのようなディレイでの
差ができいるかを自動集計することによって、集計作業
をなくす。さらに、エラ−部分をチェック後、マスク
を設定して、それにより色を変えて表示することによ
り、どこまでチェックしたか、あるいは重複してチェッ
クしないように、エラ−を管理する。
【0006】
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面により詳細に
説明する。図2は、本発明の論理シミュレ−ション結果
表示装置の全体構成図である。図2において、101は
デ−タ処理部、102はマウス、103はキ−ボ−ド、
104はメモリ、105は画面表示部である。本発明に
おいては、デ−タ処理部101に種々の機能モジュ−ル
を格納することにより、人手による計算や煩雑な作業を
なくし、処理の待ち時間を短縮させる。また、エラ−部
分の色を変えることにより、波形表示を時間スケ−ルを
大きくして圧縮し表示しても、全体の波形上でどの部分
にエラ−があるかを簡単に識別できるようにする。さら
に、煩雑な識別作業、デ−タ収集作業、測定・集計作
業、および管理作業をなくすことができる。
説明する。図2は、本発明の論理シミュレ−ション結果
表示装置の全体構成図である。図2において、101は
デ−タ処理部、102はマウス、103はキ−ボ−ド、
104はメモリ、105は画面表示部である。本発明に
おいては、デ−タ処理部101に種々の機能モジュ−ル
を格納することにより、人手による計算や煩雑な作業を
なくし、処理の待ち時間を短縮させる。また、エラ−部
分の色を変えることにより、波形表示を時間スケ−ルを
大きくして圧縮し表示しても、全体の波形上でどの部分
にエラ−があるかを簡単に識別できるようにする。さら
に、煩雑な識別作業、デ−タ収集作業、測定・集計作
業、および管理作業をなくすことができる。
【0007】図1は、図1におけるデ−タ処理部の機能
ブロック図である。図1に示すように、本発明のデ−タ
処理部101は、論理回路入力手段201とテストパタ
−ン入力手段202、論理シミュレ−ション・保持・整
合性チェック手段200、ショ−トパルスエラ−検出手
段206、ディレイ差での変化の幅測定手段207、波
形表示手段208、およびエラ−部分の各ディレイ詳細
波形表示手段213から構成される。論理回路入力手段
201は、ASIC等の設計する回路をシミュレ−ショ
ンするためにコンピュ−タ上に入力するもの(プログラ
ムモジュ−ル)であって、マウス102と連動して動作
する。テストパタ−ン入力手段202は、その回路をシ
ミュレ−ションする際に必要となる入力パタ−ンを作成
するもの(プログラムモジュ−ル)であり、論理シミュ
レ−ション手段203は、入力された論理回路とテスト
パタ−ンを用いて実際のシミュレ−ションを行う。この
論理シミュレ−ション手段203では、ASIC設計用
ツ−ルとして、各ASICメ−カが各ASICシリ−ズ
毎にライブラリを提供しており、それを用いることによ
り、素子のディレイを考慮したシミュレ−ションが行え
るようになっている。また、ディレイは、種々の条件か
ら最小ディレイ、標準ディレイ、最大ディレイの3種が
用意されるのが通常である。
ブロック図である。図1に示すように、本発明のデ−タ
処理部101は、論理回路入力手段201とテストパタ
−ン入力手段202、論理シミュレ−ション・保持・整
合性チェック手段200、ショ−トパルスエラ−検出手
段206、ディレイ差での変化の幅測定手段207、波
形表示手段208、およびエラ−部分の各ディレイ詳細
波形表示手段213から構成される。論理回路入力手段
201は、ASIC等の設計する回路をシミュレ−ショ
ンするためにコンピュ−タ上に入力するもの(プログラ
ムモジュ−ル)であって、マウス102と連動して動作
する。テストパタ−ン入力手段202は、その回路をシ
ミュレ−ションする際に必要となる入力パタ−ンを作成
するもの(プログラムモジュ−ル)であり、論理シミュ
レ−ション手段203は、入力された論理回路とテスト
パタ−ンを用いて実際のシミュレ−ションを行う。この
論理シミュレ−ション手段203では、ASIC設計用
ツ−ルとして、各ASICメ−カが各ASICシリ−ズ
毎にライブラリを提供しており、それを用いることによ
り、素子のディレイを考慮したシミュレ−ションが行え
るようになっている。また、ディレイは、種々の条件か
ら最小ディレイ、標準ディレイ、最大ディレイの3種が
用意されるのが通常である。
【0008】各ディレイ別論理シミュレ−ション結果保
持手段204は、3種のディレイでのシミュレ−ション
結果をそれぞれ保持するものであり、また波形整合性チ
ェック手段205は、3種のディレイでの波形の位相が
合致しているか否か等、ディレイ間での波形の整合性チ
ェックを行うものであり、正常な位相の波形と波形エラ
−に分けるものである。ショ−トパルスエラ−検出手段
206は、波形エラ−の中から安定幅が短いために位相
がずれてしまったショ−トパルスエラ−を波形エラ−と
は別に扱えるように分けるものである。ディレイ差での
変化の幅測定手段207は、ディレイが変わったシミュ
レ−ション結果間で正常な位相を持つ波形の変化点の変
化遅れの幅を計算し、集計するものである。これによ
り、各信号の変化でのタイミングマ−ジンを見ることが
できる。波形表示手段208は、従来より行われていた
1種類のディレイでの波形表示機能に加えて、重ね合わ
せ表示手段209、各種エラ−等の色表示手段210、
重ね合わせ表示信号指定手段211、および波形エラ−
サ−チ表示手段212を備えている。このうち、重ね合
わせ表示手段209は、3種のディレイ波形を整合性チ
ェックを行ったデ−タにより重ね合わせて表示するもの
であり、各種エラ−等の色表示手段210は、波形の整
合性チェックでエラ−となったり、ショ−トパルスエラ
−となった部分に対して、背景色や信号線の色で各エラ
−を識別できるようにするものである。また、重ね合わ
せ表示信号指定手段211は、一部分の信号に対して波
形の重ね合わせ表示を行うことを指定するものであり、
波形エラ−サ−チ表示手段212は、長いパタ−ン上で
いくつか発生したエラ−を直ちに探し出して画面に表示
するためのものである。さらに、エラ−部分の各ディレ
イ詳細波形表示手段213が備えられ、各ディレイの詳
細波形が表示される。
持手段204は、3種のディレイでのシミュレ−ション
結果をそれぞれ保持するものであり、また波形整合性チ
ェック手段205は、3種のディレイでの波形の位相が
合致しているか否か等、ディレイ間での波形の整合性チ
ェックを行うものであり、正常な位相の波形と波形エラ
−に分けるものである。ショ−トパルスエラ−検出手段
206は、波形エラ−の中から安定幅が短いために位相
がずれてしまったショ−トパルスエラ−を波形エラ−と
は別に扱えるように分けるものである。ディレイ差での
変化の幅測定手段207は、ディレイが変わったシミュ
レ−ション結果間で正常な位相を持つ波形の変化点の変
化遅れの幅を計算し、集計するものである。これによ
り、各信号の変化でのタイミングマ−ジンを見ることが
できる。波形表示手段208は、従来より行われていた
1種類のディレイでの波形表示機能に加えて、重ね合わ
せ表示手段209、各種エラ−等の色表示手段210、
重ね合わせ表示信号指定手段211、および波形エラ−
サ−チ表示手段212を備えている。このうち、重ね合
わせ表示手段209は、3種のディレイ波形を整合性チ
ェックを行ったデ−タにより重ね合わせて表示するもの
であり、各種エラ−等の色表示手段210は、波形の整
合性チェックでエラ−となったり、ショ−トパルスエラ
−となった部分に対して、背景色や信号線の色で各エラ
−を識別できるようにするものである。また、重ね合わ
せ表示信号指定手段211は、一部分の信号に対して波
形の重ね合わせ表示を行うことを指定するものであり、
波形エラ−サ−チ表示手段212は、長いパタ−ン上で
いくつか発生したエラ−を直ちに探し出して画面に表示
するためのものである。さらに、エラ−部分の各ディレ
イ詳細波形表示手段213が備えられ、各ディレイの詳
細波形が表示される。
【0009】図3は、本発明によりシミュレ−ションを
行うためのディレイ回路の図である。このディレイ回路
を介して信号を流すことにより、種々の条件を与えて、
最小ディレイと標準ディレイと最大ディレイの3種類を
実行する。図4は、本発明による論理回路シミュレ−シ
ョンの概略動作フロ−チャ−トである。先ず、論理回路
入力手段201からコンピュ−タ上に論理回路を入力し
(ステップ401)、次にテストパタ−ン入力手段20
2からテストパタ−ンを作成して入力する(ステップ4
02)。コンピュ−タでシミュレ−ションを実行し(ス
テップ403)、本実施例では、最小ディレイ(MI
N)、標準ディレイ(TYP)、および最大ディレイ
(MAX)の3種のディレイで実行し、それぞれの結果
を残す。この結果を波形表示して(ステップ404)、
タイミング検証を行う(ステップ405)。本発明は、
このフロ−中のステップ404の波形表示とステップ4
05のタイミング検証の一部である。
行うためのディレイ回路の図である。このディレイ回路
を介して信号を流すことにより、種々の条件を与えて、
最小ディレイと標準ディレイと最大ディレイの3種類を
実行する。図4は、本発明による論理回路シミュレ−シ
ョンの概略動作フロ−チャ−トである。先ず、論理回路
入力手段201からコンピュ−タ上に論理回路を入力し
(ステップ401)、次にテストパタ−ン入力手段20
2からテストパタ−ンを作成して入力する(ステップ4
02)。コンピュ−タでシミュレ−ションを実行し(ス
テップ403)、本実施例では、最小ディレイ(MI
N)、標準ディレイ(TYP)、および最大ディレイ
(MAX)の3種のディレイで実行し、それぞれの結果
を残す。この結果を波形表示して(ステップ404)、
タイミング検証を行う(ステップ405)。本発明は、
このフロ−中のステップ404の波形表示とステップ4
05のタイミング検証の一部である。
【0010】図5、図6および図7は、本発明の一実施
例を示す論理回路シミュレ−ション結果表示の動作フロ
−チャ−トである。図5、図6および図7では、図4の
フロ−のステップ404,405を示している。先ず、
MIN、TYP、およびMAXの3種の各ディレイでの
シミュレ−ション結果があるか否かをチェックし(ステ
ップ501)、なければ、TYPのシミュレ−ション結
果があるか否かを判定し(ステップ502)、なけれ
ば、処理を終了する。TYPのシミュレ−ション結果が
あれば、TYPの波形を表示して(ステップ503)、
コマンドの入力を待つ(ステップ517)。一方、MI
N,TYP,MAXのシミュレ−ション結果が全て揃っ
ている場合には、波形の重ね合わせ表示を行うか否かを
チェックして(ステップ504)、行うならば、重ね合
わせを行う対象が全信号であるか否か、信号の指定があ
るか否かをチェックする(ステップ505)。なお、波
形の重ね合われ表示を行わないときには、TYPの波形
を表示して(ステップ503)、コマンドの入力を待つ
(ステップ517)。波形の重ね合わせ表示を行う対象
が全信号の場合には、信号に対して波形の整合性をチェ
ックする(ステップ510)。また、対象が指定された
信号であれば、新規に指定するか、あるいは既存の指定
を利用するかを判定する(ステップ506)。もし、新
規に指定するのであれば、重ね合わせ表示を行う信号を
指定して、それをセ−ブして保存し(スップ508)、
次に重ね合わせ表示を行わない信号に対して、TYPの
デ−タで波形を表示する(ステップ509)。また、既
存の指定を利用する場合には、既存の重ね合わせデ−タ
を読み込んで(ステップ507)、重ね合わせをしない
信号に対し、TYPの波形を表示する(ステップ50
9)。いずれの場合にも、重ね合わせ表示を行う信号に
対しては、波形の整合性チェックを実行する(ステップ
510)。
例を示す論理回路シミュレ−ション結果表示の動作フロ
−チャ−トである。図5、図6および図7では、図4の
フロ−のステップ404,405を示している。先ず、
MIN、TYP、およびMAXの3種の各ディレイでの
シミュレ−ション結果があるか否かをチェックし(ステ
ップ501)、なければ、TYPのシミュレ−ション結
果があるか否かを判定し(ステップ502)、なけれ
ば、処理を終了する。TYPのシミュレ−ション結果が
あれば、TYPの波形を表示して(ステップ503)、
コマンドの入力を待つ(ステップ517)。一方、MI
N,TYP,MAXのシミュレ−ション結果が全て揃っ
ている場合には、波形の重ね合わせ表示を行うか否かを
チェックして(ステップ504)、行うならば、重ね合
わせを行う対象が全信号であるか否か、信号の指定があ
るか否かをチェックする(ステップ505)。なお、波
形の重ね合われ表示を行わないときには、TYPの波形
を表示して(ステップ503)、コマンドの入力を待つ
(ステップ517)。波形の重ね合わせ表示を行う対象
が全信号の場合には、信号に対して波形の整合性をチェ
ックする(ステップ510)。また、対象が指定された
信号であれば、新規に指定するか、あるいは既存の指定
を利用するかを判定する(ステップ506)。もし、新
規に指定するのであれば、重ね合わせ表示を行う信号を
指定して、それをセ−ブして保存し(スップ508)、
次に重ね合わせ表示を行わない信号に対して、TYPの
デ−タで波形を表示する(ステップ509)。また、既
存の指定を利用する場合には、既存の重ね合わせデ−タ
を読み込んで(ステップ507)、重ね合わせをしない
信号に対し、TYPの波形を表示する(ステップ50
9)。いずれの場合にも、重ね合わせ表示を行う信号に
対しては、波形の整合性チェックを実行する(ステップ
510)。
【0011】各信号毎に3種のディレイ間で位相が合っ
ていれば正常波形、位相が合わない部分を波形エラ−と
して全デ−タを処理する。このうち、波形エラ−として
検出されたエラ−の中から、安定幅が短いために位相が
ずれてしまったショ−トパルスを波形エラ−から分ける
(ステップ511)。次に、正常な位相と判断された波
形(変化点)に対して、各変化点での変化遅れの幅(デ
ィレイによる立ち上りの遅れ幅等)を計算し、信号別で
変化内容別(0→1の変化、および1→zの変化等)に
集計を行う。ここで、それぞれの最小の振れ、最大の振
れ、振れの平均を求める(ステップ512)。次に、重
ね合わせ表示する信号に対して、波形の整合性チェック
の結果をもとにして重ね合わせ波形を表示する(ステッ
プ513)。次に、エラ−部分にマスク指定がなされて
いるものがあるか否かをチェックし(ステップ51
4)、なければ、マスクされていないエラ−に対してエ
ラ−と識別できるように、エラ−の色として色付きで表
示する(ステップ516)。また、マスク指定がなされ
ているものがあれば、マスク指定されている部分のエラ
−は、マスクしてあると識別できるように、マスクの色
として色付きで表示する(ステップ515)。
ていれば正常波形、位相が合わない部分を波形エラ−と
して全デ−タを処理する。このうち、波形エラ−として
検出されたエラ−の中から、安定幅が短いために位相が
ずれてしまったショ−トパルスを波形エラ−から分ける
(ステップ511)。次に、正常な位相と判断された波
形(変化点)に対して、各変化点での変化遅れの幅(デ
ィレイによる立ち上りの遅れ幅等)を計算し、信号別で
変化内容別(0→1の変化、および1→zの変化等)に
集計を行う。ここで、それぞれの最小の振れ、最大の振
れ、振れの平均を求める(ステップ512)。次に、重
ね合わせ表示する信号に対して、波形の整合性チェック
の結果をもとにして重ね合わせ波形を表示する(ステッ
プ513)。次に、エラ−部分にマスク指定がなされて
いるものがあるか否かをチェックし(ステップ51
4)、なければ、マスクされていないエラ−に対してエ
ラ−と識別できるように、エラ−の色として色付きで表
示する(ステップ516)。また、マスク指定がなされ
ているものがあれば、マスク指定されている部分のエラ
−は、マスクしてあると識別できるように、マスクの色
として色付きで表示する(ステップ515)。
【0012】図6および図7において、コマンド入力が
あったか否かをチェックして、入力がなければあるまで
待つ(ステップ517)。コマンド入力があれば、エラ
−部分をサ−チし、表示するコマンドであるか否かをチ
ェックする(ステップ518)。そうであれば、前方向
サ−チか、後方向サ−チかをチェックし(ステップ51
9)、前方向であれば、現位置より前にエラ−があるか
否かをチェックして(ステップ520)、エラ−があれ
ば、そのエラ−部分が画面に表示されるようにスクロ−
ルする(ステップ521)。また、後方向サ−チでは、
現位相より後にエラ−があるか否かをチェックして(ス
テップ522)、あれば、同じようにして、エラ−が画
面に表示されるようにスクロ−ルする(ステップ52
1)。次に、コマンド入力がエラ−の詳細情報の表示で
あるか否かをチェックし(ステップ523)、そうであ
れば、エラ−詳細情報表示用のウィンドウを作成して
(ステップ524)、エラ−の詳細情報として、各ディ
レイの波形等を表示する(ステップ525)。エラ−詳
細情報表示のコマンドでない場合、およびエラ−詳細情
報表示が終了した場合には、次にコマンド入力がエラ−
部分に対するマスク指定か否かをチェックし(ステップ
526)、そうであれば、当該エラ−の全変化点および
変化内容をマスク指定するパタ−ンとして、マスク情報
デ−タに登録する(ステップ527)。次に、当該エラ
−部分のエラ−色表示をマスクの色表示に変更する(ス
テップ528)。次に、波形表示および波形解析が終了
のコマンド入力であるか否かをチェックして(ステップ
529)、そうであれば、処理を終了する。また、そう
でないときには、他のコマンドに対する処理を実行して
(ステップ530)、ステップ517に戻り、コマンド
入力を待つ。
あったか否かをチェックして、入力がなければあるまで
待つ(ステップ517)。コマンド入力があれば、エラ
−部分をサ−チし、表示するコマンドであるか否かをチ
ェックする(ステップ518)。そうであれば、前方向
サ−チか、後方向サ−チかをチェックし(ステップ51
9)、前方向であれば、現位置より前にエラ−があるか
否かをチェックして(ステップ520)、エラ−があれ
ば、そのエラ−部分が画面に表示されるようにスクロ−
ルする(ステップ521)。また、後方向サ−チでは、
現位相より後にエラ−があるか否かをチェックして(ス
テップ522)、あれば、同じようにして、エラ−が画
面に表示されるようにスクロ−ルする(ステップ52
1)。次に、コマンド入力がエラ−の詳細情報の表示で
あるか否かをチェックし(ステップ523)、そうであ
れば、エラ−詳細情報表示用のウィンドウを作成して
(ステップ524)、エラ−の詳細情報として、各ディ
レイの波形等を表示する(ステップ525)。エラ−詳
細情報表示のコマンドでない場合、およびエラ−詳細情
報表示が終了した場合には、次にコマンド入力がエラ−
部分に対するマスク指定か否かをチェックし(ステップ
526)、そうであれば、当該エラ−の全変化点および
変化内容をマスク指定するパタ−ンとして、マスク情報
デ−タに登録する(ステップ527)。次に、当該エラ
−部分のエラ−色表示をマスクの色表示に変更する(ス
テップ528)。次に、波形表示および波形解析が終了
のコマンド入力であるか否かをチェックして(ステップ
529)、そうであれば、処理を終了する。また、そう
でないときには、他のコマンドに対する処理を実行して
(ステップ530)、ステップ517に戻り、コマンド
入力を待つ。
【0013】図8は、本発明における画面表示されたパ
ルス波形図である。図8において、は最小ディレイ
(MIN)、は標準ディレイ(TYP)、およびは
最大ディレイ(MAX)における各シミュレ−ション結
果を示す画面である。いずれも、図8では、SIGAと
SIGBのみが示されている。これらの3種のディレイ
波形を波形整合性チェック処理により、各波形間での位
相をチェックして波形を重ね合わせると、図8に示す
ような表示となる。各ディレイの遅れが示される部分は
変化の遅れを示す色で表示され、図では斜線により識別
される。また、エラ−が生じた部分には、エラ−の色を
付けて表示され、識別される。図9は、本発明のエラ−
詳細情報表示の例を示す図である。エラ−部分では、M
IN、TYP、MAXを重ねてしまうと判らなくなるの
で、詳細表示モ−ドにして当該エラ−をセレクトする
(図7におけるステップ523参照)。これにより、図
9に示すようにMIN,TYP,MAXの波形が分離さ
れて表示される。ここでは、MAXのディレイに立上げ
と立下げがない(つまり、信号の復帰がない)。波形チ
ェックでは、NIN,TYP,MAXの順にある場合
で、その変化状態が同じ場合のみ正常波形として処理す
る。図9の場合には、変化点がMIN,TYP,MAX
の順になっていないため、当然エラ−として検出され
る。
ルス波形図である。図8において、は最小ディレイ
(MIN)、は標準ディレイ(TYP)、およびは
最大ディレイ(MAX)における各シミュレ−ション結
果を示す画面である。いずれも、図8では、SIGAと
SIGBのみが示されている。これらの3種のディレイ
波形を波形整合性チェック処理により、各波形間での位
相をチェックして波形を重ね合わせると、図8に示す
ような表示となる。各ディレイの遅れが示される部分は
変化の遅れを示す色で表示され、図では斜線により識別
される。また、エラ−が生じた部分には、エラ−の色を
付けて表示され、識別される。図9は、本発明のエラ−
詳細情報表示の例を示す図である。エラ−部分では、M
IN、TYP、MAXを重ねてしまうと判らなくなるの
で、詳細表示モ−ドにして当該エラ−をセレクトする
(図7におけるステップ523参照)。これにより、図
9に示すようにMIN,TYP,MAXの波形が分離さ
れて表示される。ここでは、MAXのディレイに立上げ
と立下げがない(つまり、信号の復帰がない)。波形チ
ェックでは、NIN,TYP,MAXの順にある場合
で、その変化状態が同じ場合のみ正常波形として処理す
る。図9の場合には、変化点がMIN,TYP,MAX
の順になっていないため、当然エラ−として検出され
る。
【0014】図10は、本発明における波形エラ−中の
ショ−トパルスの図である。波形エラ−中のショ−トパ
ルスは、図9に示すような波形であって、変化点の順が
・・・となっているが、がMAXではないた
め、正常な位相ではなくなっている。しかし、ショ−ト
パルスであるため、別個に扱われる。すなわち、波形エ
ラ−の中で、短いパルスで順番がずれた波形(桁ずれ)
を検出するため、ショ−トパルス検出幅を設定し、これ
を使用して桁ずれを起したショ−トパルスを検出する。
ショ−トパルスであるが、変化点の順序がMINで、
TYPで、MAXで、MINで、TYPで、M
AXでであれば、正常のショ−トパルスである。図1
1は、変化のディレイによる差集計結果を示す図であ
る。各変化点での変化遅れ幅を集計した結果は、図11
に示すように表示される。すなわち、最小、平均、最大
の各々について、変化遅れ幅の中の最小幅と最大幅と平
均を波形と回数で表示している。以上説明した実施例で
は、エラ−は朱色、ショ−トパルスは薄緑色、変化の遅
れ幅は薄青色+斜線をつけている。また、色の代りに揮
度を使用することも可能である。また、本実施例では、
波形の整合性チェックおよび表示を、全て一度に行って
いるが、本発明はこの方法に限定されず、その他にも、
画面に表示する分ずつチェックする方法、あるいは画面
前後の数倍までを1単位としてチェックする方法等が考
えられる。また、画面への表示のタイミングも、本実施
例では、重ね合わせを行わない信号と重ね合わせる信号
の表示は別々になっているが、デ−タを揃えてから最後
に一回で表示する方法も考えられる。さらに、ディレイ
により波形が分れる部分は、各ディレイ毎に色を変化さ
せて表示するようになっている。例えば、MINは濃い
青色、TYPは赤色、MAXは紫色にする。
ショ−トパルスの図である。波形エラ−中のショ−トパ
ルスは、図9に示すような波形であって、変化点の順が
・・・となっているが、がMAXではないた
め、正常な位相ではなくなっている。しかし、ショ−ト
パルスであるため、別個に扱われる。すなわち、波形エ
ラ−の中で、短いパルスで順番がずれた波形(桁ずれ)
を検出するため、ショ−トパルス検出幅を設定し、これ
を使用して桁ずれを起したショ−トパルスを検出する。
ショ−トパルスであるが、変化点の順序がMINで、
TYPで、MAXで、MINで、TYPで、M
AXでであれば、正常のショ−トパルスである。図1
1は、変化のディレイによる差集計結果を示す図であ
る。各変化点での変化遅れ幅を集計した結果は、図11
に示すように表示される。すなわち、最小、平均、最大
の各々について、変化遅れ幅の中の最小幅と最大幅と平
均を波形と回数で表示している。以上説明した実施例で
は、エラ−は朱色、ショ−トパルスは薄緑色、変化の遅
れ幅は薄青色+斜線をつけている。また、色の代りに揮
度を使用することも可能である。また、本実施例では、
波形の整合性チェックおよび表示を、全て一度に行って
いるが、本発明はこの方法に限定されず、その他にも、
画面に表示する分ずつチェックする方法、あるいは画面
前後の数倍までを1単位としてチェックする方法等が考
えられる。また、画面への表示のタイミングも、本実施
例では、重ね合わせを行わない信号と重ね合わせる信号
の表示は別々になっているが、デ−タを揃えてから最後
に一回で表示する方法も考えられる。さらに、ディレイ
により波形が分れる部分は、各ディレイ毎に色を変化さ
せて表示するようになっている。例えば、MINは濃い
青色、TYPは赤色、MAXは紫色にする。
【0015】本発明においては、論理シミュレ−タに
おいてASIC等を開発する場合に、最小、標準、最大
のディレイを用いたシミュレ−ションの結果から、各信
号の変化点での変化遅れを把えた波形の重ね合わせを表
示ができる。これにより、特別なシミュレ−タを購入す
る必要がなく、かつ従来の人手による計算や煩雑な作業
をなくすことができる。 波形の重ね合わせを行って、表示する信号を指定でき
るので、処理の待ち時間を短縮することができる。 波形表示を時間スケ−ルを大きくし圧縮して表示する
と、波形だけでは細かくなってしまうため、エラ−か否
か判断できなくなるので、エラ−部分の色を変えること
により、全体の波形上でどの部分にエラ−があるかを簡
単に識別することができ、人間による煩雑な識別作業を
減らすことができる。 波形エラ−を解析する際に、多量に発生するショ−ト
パルスが入っていると、作業量が増加してしまうが、シ
ョ−トパルスを波形えラ−とは別にして異なる色で表示
することにより、作業量を減少させ、人の目による識別
を容易にすることができる。 エラ−部分を順次サ−チして表示できるので、長いテ
ストパタ−ン中に点存するエラ−を画面スクロ−ル等を
使用して探す必要がなく、簡単にエラ−部分を見てチェ
ックすることができる。 エラ−部分の詳細波形を見ることができるので、エラ
−の詳細状態を簡単に見ることが可能となり、人手によ
る煩雑なデ−タ集め作業をなくすことができる。 変化のディレイによる差を自動集計することにより、
人手による煩雑な測定、集計作業をなくすことができ
る。 マスク設定ができるようになるので、チェックして問
題がないエラ−と未チェックエラ−を容易に識別できる
ようになり、人による煩雑な管理作業をなくすことがで
きる。
おいてASIC等を開発する場合に、最小、標準、最大
のディレイを用いたシミュレ−ションの結果から、各信
号の変化点での変化遅れを把えた波形の重ね合わせを表
示ができる。これにより、特別なシミュレ−タを購入す
る必要がなく、かつ従来の人手による計算や煩雑な作業
をなくすことができる。 波形の重ね合わせを行って、表示する信号を指定でき
るので、処理の待ち時間を短縮することができる。 波形表示を時間スケ−ルを大きくし圧縮して表示する
と、波形だけでは細かくなってしまうため、エラ−か否
か判断できなくなるので、エラ−部分の色を変えること
により、全体の波形上でどの部分にエラ−があるかを簡
単に識別することができ、人間による煩雑な識別作業を
減らすことができる。 波形エラ−を解析する際に、多量に発生するショ−ト
パルスが入っていると、作業量が増加してしまうが、シ
ョ−トパルスを波形えラ−とは別にして異なる色で表示
することにより、作業量を減少させ、人の目による識別
を容易にすることができる。 エラ−部分を順次サ−チして表示できるので、長いテ
ストパタ−ン中に点存するエラ−を画面スクロ−ル等を
使用して探す必要がなく、簡単にエラ−部分を見てチェ
ックすることができる。 エラ−部分の詳細波形を見ることができるので、エラ
−の詳細状態を簡単に見ることが可能となり、人手によ
る煩雑なデ−タ集め作業をなくすことができる。 変化のディレイによる差を自動集計することにより、
人手による煩雑な測定、集計作業をなくすことができ
る。 マスク設定ができるようになるので、チェックして問
題がないエラ−と未チェックエラ−を容易に識別できる
ようになり、人による煩雑な管理作業をなくすことがで
きる。
【0016】
【発明の効果】このように、本発明によれば、特別なシ
ミュレ−タを購入する必要がなく、処理の待ち時間が短
縮され、人手による計算や煩雑な作業をなくすことがで
き、かつエラ−の識別作業も簡単となり、ショ−トパル
スの識別作業も容易となる。その他に、デ−タ収集作業
や測定、集計作業や管理作業をいずれもなくすことがで
きるという効果がある。
ミュレ−タを購入する必要がなく、処理の待ち時間が短
縮され、人手による計算や煩雑な作業をなくすことがで
き、かつエラ−の識別作業も簡単となり、ショ−トパル
スの識別作業も容易となる。その他に、デ−タ収集作業
や測定、集計作業や管理作業をいずれもなくすことがで
きるという効果がある。
【0017】
【図1】本発明の一実施例を示す論理回路シミュレ−シ
ョンシステムの全体機能ブロック図である。
ョンシステムの全体機能ブロック図である。
【図2】本発明における論理回路シミュレ−ションシス
テムのハ−ドウェア構成図である。
テムのハ−ドウェア構成図である。
【図3】本発明におけるディレイ回路の図である。
【図4】本発明の論理シミュレ−ションシステムの動作
フロ−チャ−トである。
フロ−チャ−トである。
【図5】本発明の論理シミュレ−ション結果表示装置の
動作フロ−チャ−トの一部である。
動作フロ−チャ−トの一部である。
【図6】図5と同じく、論理シミュレ−ション結果表示
装置の動作フロ−チャ−トの他の一部である。
装置の動作フロ−チャ−トの他の一部である。
【図7】図5と同じく、論理シミュレ−ション結果表示
装置の動作フロ−チャ−トの他の一部である。
装置の動作フロ−チャ−トの他の一部である。
【図8】本発明におけるディレイでのシミュレ−ション
結果表示画面の図である。
結果表示画面の図である。
【図9】本発明におけるエラ−の詳細情報表示の図であ
る。
る。
【図10】本発明におけるショ−トパルスの説明図であ
る。
る。
【図11】本発明における変化のディレイによる差集計
結果の図である。
結果の図である。
101 デ−タ処理部 102 マウス 103 キ−ボ−ド 104 メモリ 105 画面表示部 200 論理シミュレ−ション主要部 201 論理回路入力手段 202 テストパタ−ン入力手段 203 論理シミュレ−ション手段 204 各ディレイ別論理シミュレ−ション結果保持手
段 205 波形整合性チェック手段 206 ショ−トパルスエラ−検出手段 207 ディレイ差での変化の幅測定手段 208 波形表示手段 209 重ね合わせ表示手段 210 各種エラ−等の色表示手段 211 重ね合わせ表示信号指定手段 212 波形エラ−サ−チ表示手段 213 エラ−部分の各ディレイ詳細波形表示手段
段 205 波形整合性チェック手段 206 ショ−トパルスエラ−検出手段 207 ディレイ差での変化の幅測定手段 208 波形表示手段 209 重ね合わせ表示手段 210 各種エラ−等の色表示手段 211 重ね合わせ表示信号指定手段 212 波形エラ−サ−チ表示手段 213 エラ−部分の各ディレイ詳細波形表示手段
Claims (8)
- 【請求項1】 ASIC等の設計する論理回路をシミュ
レ−ションするために、コンピュ−タ上に入力する論理
回路入力手段と、該論理回路をシミュレ−ションする際
に必要となる入力パタ−ンを作成するテストパタ−ン入
力手段と、該論理回路とテストパタ−ンとを用いてシミ
ュレ−ションを実行する論理シミュレ−ション手段と、
最小、標準、最大の3種のディレイでのシミュレ−ショ
ン結果を各々保持する各ディレイ別論理シミュレ−ショ
ン結果保持手段と、上記3種のディレイでの波形の位相
が合っているか否かをチェックする波形整合性チェック
手段と、波形表示手段とを有することを特徴とする論理
回路シミュレ−ション結果表示装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の論理回路シミュレ−シ
ョン結果表示装置において、上記波形表示手段として、
3種類のディレイでの波形を重ね合わせて表示する重ね
合わせ表示手段と、全信号のうちの必要な信号を指定す
る重ね合わせ表示信号指定手段とを具備し、該重ね合わ
せ表示信号指定手段により指定された一部の信号に対し
て波形を重ね合わせて表示することを特徴とする論理回
路シミュレ−ション結果表示装置。 - 【請求項3】 請求項1に記載の論理回路シミュレ−シ
ョン結果表示装置において、上記波形表示手段として、
波形の整合性チェックでエラ−となったり、ショ−トパ
ルスエラ−となった部分に対して、背景色や信号線の色
で各エラ−を表示する各種エラ−等の色表示手段を具備
したことを特徴とする論理回路シミュレ−ション結果表
示装置。 - 【請求項4】 請求項1に記載の論理回路シミュレ−シ
ョン結果表示装置において、上記波形整合性チェック手
段によるチェックの結果、波形エラ−が検出された場
合、該波形エラ−の中より安定幅が短いために位相がず
れてしまったショ−トパルスエラ−を検出するショ−ト
パルス検出手段と、該ショ−トパルスを上記波形エラ−
とは別に扱えるように、波形エラ−とは別の色で表示す
る各種エラ−等の色表示手段とを具備することを特徴と
する論理回路シミュレ−ション結果表示装置。 - 【請求項5】 請求項1に記載の論理回路シミュレ−シ
ョン結果表示装置において、上記波形表示手段として、
シミュレ−ション結果重ね合わせエラ−表示上の波形群
より、波形エラ−を時間順にサ−チすることにより、前
後のエラ−発生位置の波形画面に表示する波形エラ−サ
−チ表示手段を具備したことを特徴とする論理回路シミ
ュレ−ション結果表示装置。 - 【請求項6】 請求項1に記載の論理回路シミュレ−シ
ョン結果表示装置において、上記波形表示手段として、
波形のエラ−部分を指示することにより、波形の各ディ
レイ毎の詳細波形情報を表示するエラ−部分の各ディレ
イ詳細波形表示手段を具備したことを特徴とする論理回
路シミュレ−ション結果表示装置。 - 【請求項7】 請求項1に記載の論理回路シミュレ−シ
ョン結果表示装置において、上記各ディレイ別論理シミ
ュレ−ション結果保持手段に保持されている各信号にお
ける各変化点のディレイによる立ち上り、立ち下り等の
遅れ幅の最小、平均、最大を集計するディレイ差での変
化の幅測定手段を具備したことを特徴とする論理回路シ
ミュレ−ション結果表示装置。 - 【請求項8】 請求項1に記載の論理回路シミュレ−シ
ョン結果表示装置において、上記波形表示手段により重
ね合わされた波形が表示された場合、各位置のエラ−に
対して問題がないことを確認したときに、該エラ−をマ
スク設定するエラ−部分マスク設定手段と、該マスクが
設定されたときに色を変える各種エラ−等の色表示手段
とを具備したことを特徴とする論理回路シミュレ−ショ
ン結果表示装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06815392A JP3146254B2 (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 論理回路シミュレ−ション結果表示装置 |
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---|---|---|---|
JP06815392A JP3146254B2 (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 論理回路シミュレ−ション結果表示装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05274386A true JPH05274386A (ja) | 1993-10-22 |
JP3146254B2 JP3146254B2 (ja) | 2001-03-12 |
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ID=13365515
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP06815392A Expired - Fee Related JP3146254B2 (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 論理回路シミュレ−ション結果表示装置 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP3146254B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09153075A (ja) * | 1995-11-29 | 1997-06-10 | Nec Corp | 画面照合方法 |
JP2003028929A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Advantest Corp | 半導体試験装置のシーケンスモニタ |
WO2009047844A1 (ja) * | 2007-10-10 | 2009-04-16 | Advantest Corporation | 試験装置、試験方法、およびプログラム |
-
1992
- 1992-03-26 JP JP06815392A patent/JP3146254B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH09153075A (ja) * | 1995-11-29 | 1997-06-10 | Nec Corp | 画面照合方法 |
JP2003028929A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Advantest Corp | 半導体試験装置のシーケンスモニタ |
WO2009047844A1 (ja) * | 2007-10-10 | 2009-04-16 | Advantest Corporation | 試験装置、試験方法、およびプログラム |
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---|---|
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