JP3212157B2 - 論理回路検証装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、ＣＡＤシステムを用
いて設計したＡＳＩＣやプリント基板等の論理回路を検
証するための論理回路検証装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、論理回路検証装置によるＡＳＩＣ
等の論理回路の論理検証は、論理シミュレータにより論
理回路についてテストパターンでシミュレーションを行
ない、そのシミュレーション結果を波形等で表示し、そ
の波形等が予め期待した通りの結果になっているか否か
をオペレータが目視によって確認する方法が取られてお
り、現在も有効な方法となっている。

【０００３】また、最近ではＡＳＩＣ等の論理回路設計
におけるテスタの制限などにより、論理回路検証装置に
おいてシミュレーション結果とオペレータの期待してい
る値とが同じであるか否かを自動的にチェックするた
め、シミュレーション用のテストパターンにサイクリッ
クな考えを用いてそのサイクル毎の期待値を入力し、そ
の期待値とシミュレーション結果を比較（コンペア）す
る期待値コンペアもよく行なわれるようになっている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような期待値コンペアでは、テストパターンの修正前後
のシミュレーション結果を直接比較することができない
ため、修正前のシミュレーション結果と修正後のシミュ
レーション結果のディレイ差をとらえたり波形の違いを
検証することが困難であるという問題があった。また、
従来の論理回路検証装置のエラー検出制御方法でも、テ
ストパターン修正前のシミュレーション結果までは考慮
されていない。

【０００５】そのため、オペレータがシミュレーション
時に以下の項目をチェックできないという問題があっ
た。 （１）サイクル幅に対してストローブポイント位置での
１サイクル１点のチェックなので、ショートパルス等の
波形違いが発見出来ない。

【０００６】（２）再シミュレーションにてどのくらい
のディレイが変わったかをとらえられない。 （３）期待値とのコンペアなのでテストパターン修正前
のシミュレーションで発生したエラーが修正後のシミュ
レーションで再度発生してしまう。

【０００７】この発明は上記の点に鑑みてなされたもの
であり、オペレータが論理回路シミュレーション時のテ
ストパターン修正前後のシミュレーション結果を容易に
比較できるようにすることを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】この発明による論理回路
検証装置は、上記の目的を達成するため、ＡＳＩＣ等の
論理回路をシミュレーションするためのテストパターン
を入力又は修正するテストパターン入力・修正手段と、
その手段によって入力又は修正されたテストパターンの
データを保持するテストパターンデータ保持手段と、テ
ストパターン入力・修正手段によるテストパターンの修
正位置を保持するテストパターン修正位置保持手段と、
テストパターンデータ保持手段に保持されているテスト
パターンのデータによって上記論理回路のシミュレーシ
ョンを実行するシミュレーション実行手段と、その手段
によるシミュレーション結果を保持するシミュレーショ
ン結果保持手段を備えている。

【０００９】さらに、テストパターンデータ保持手段に
保持されている修正前テストパターンのデータをシミュ
レーション実行手段によってシミュレーションした修正
前シミュレーション結果と、テストパターン修正位置保
持手段に保持されているテストパターンの修正位置に基
づいて上記修正前テストパターンのデータを修正した修
正後テストパターンのデータをシミュレーション実行手
段によってシミュレーションした修正後シミュレーショ
ン結果とを比較して変化したデータを抽出する修正前後
シミュレーション結果変化データ抽出手段と、上記修正
後シミュレーション結果の波形に対して修正前後シミュ
レーション結果変化データ抽出手段によって抽出した変
化データに基づいた波形変化及びディレイ変化を表示す
る修正後シミュレーション結果変化状況表示手段を設け
たものである。

【００１０】また、修正前後シミュレーション結果変化
データ抽出手段によって変化データを抽出するテストパ
ターンを指定する変化データ抽出テストパターン指定手
段を設けるとよい。

【００１１】さらに、修正前後シミュレーション結果変
化データ抽出手段によって波形変化又はディレイ変化の
いずれか一方又は両方を抽出するように指定する波形変
化・ディレイ変化抽出指定手段を設けるとよい。

【００１２】

【００１３】そしてまた、修正前後シミュレーション結
果変化データ抽出手段によって抽出した変化データを同
じタイミング毎にその発生回数を集計する変化データ集
計手段と、その手段によって集計した発生回数を表示す
る集計結果表示手段を設けるとよい。

【００１４】

【作用】この発明による論理回路検証装置は、ＡＳＩＣ
等の論理回路をシミュレーションするためのテストパタ
ーンを入力又は修正すると、その入力又は修正されたテ
ストパターンのデータ及びテストパターンの修正位置を
保持し、その保持されているテストパターンのデータに
よって論理回路のシミュレーションを実行してそのシミ
ュレーション結果を保持する。

【００１５】そして、その保持されている修正前テスト
パターンのデータをシミュレーションした修正前シミュ
レーション結果と、保持されているテストパターンの修
正位置に基づいて修正前テストパターンのデータを修正
した修正後テストパターンのデータをシミュレーション
した修正後シミュレーション結果とを比較して変化した
データを抽出し、修正後シミュレーション結果の波形に
対してその抽出した変化データに基づいた波形変化及び
ディレイ変化を表示する。

【００１６】したがって、修正前テストパターンによる
修正前シミュレーション結果と修正後テストパターンに
よる修正後シミュレーション結果との波形変化及びディ
レイ変化を表示することができる。

【００１７】また、修正前シミュレーション結果と修正
後シミュレーション結果とを比較して変化データを抽出
するテストパターンを指定するようにすれば、指定され
たテストパターンについてのみ修正前後テストパターン
のシミュレーション結果の比較による波形変化及びディ
レイ変化を表示することができる。

【００１８】さらに、修正前シミュレーション結果と修
正後シミュレーション結果とを比較して波形変化又はデ
ィレイ変化のいずれか一方又は両方を抽出するように指
定するようにすれば、修正前後テストパターンのシミュ
レーション結果の比較による波形変化又はディレイ変化
のいずれか一方又は両方を表示することができる

【００１９】

【００２０】そしてまた、修正前シミュレーション結果
と修正後シミュレーション結果とを比較して抽出した変
化データを、同じタイミング毎にその発生回数を集計し
てその集計した発生回数を表示するようにすれば、同じ
タイミングの発生回数を集計して表示することができ
る。

【００２１】

【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて具
体的に説明する。図２はこの発明による論理回路検証装
置の一構成例を示すブロック図である。この論理回路検
証装置は、キーボード装置１，マウス２，画面表示装置
３，記憶装置４，及びデータ処理装置５からなる。

【００２２】キーボード装置１は各種の入力キーを備え
た入力装置であり、論理回路検証時の各種の操作指示等
を入力する。マウス２は画面表示装置３に表示されるマ
ウスカーソルの位置情報を入力する入力装置であり、キ
ーボード装置１と同様に論理回路検証時の各種の操作指
示等を入力する。

【００２３】画面表示装置３はＣＲＴやＬＣＤ等のディ
スプレイ装置であり、論理回路検証のときのテストパタ
ーン，シミュレーション結果，及び各種メッセージ等を
表示する。記憶装置４はフロッピディスク装置又はハー
ドディスク装置等のメモリであり、論理回路，テストパ
ターン，シミュレーション結果等の各種データを記憶す
る。

【００２４】データ処理装置５はＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡ
Ｍ等からなるマイクロコンピュータを内蔵し、この論理
回路検証装置全体の制御処理を司ると共に、論理回路検
証にかかわる各種の処理を実行する。

【００２５】図１は図２に示した論理回路検証装置の機
能を示すブロック図である。この論理回路検証装置は、
テストパターン入力・修正手段１０，テストパターンデ
ータ保持手段１１，テストパターン修正位置保持手段１
２，シミュレーション実行手段１３，シミュレーション
結果保持手段１４，再シミュレーション結果・前シミュ
レーション結果変化データ抽出手段１５，及び再シミュ
レーション結果波形・変化データ表示手段１６の各機能
を備えている。

【００２６】さらに、変化データ抽出信号名指定手段１
７，ディレイ変化・波形変化区分け指定手段１８，グル
ープ指定修正対応グループ化抽出設定手段１９，変化デ
ータ集計手段２０，及び集計結果表示手段２１の各機能
も備えている。

【００２７】テストパターン入力・修正手段１０は、論
理回路のシミュレーション用テストパターンを作成する
ための機能を果たし、ＡＳＩＣ，プリント基板等の論理
回路をシミュレーションするためのテストパターンを入
力又は修正する。テストパターン保持手段１１は、テス
トパターン入力・修正手段１０によって入力又は修正さ
れたテストパターンを保持する。

【００２８】テストパターン修正位置保持手段１２は、
テストパターン入力・修正手段１０によるテストパター
ンの修正位置を保持し、テストパターンのどの位置に修
正が入ったかを保持する機能を果たす。

【００２９】シミュレーション実行手段１３は、テスト
パターンデータ保持手段１１に保持されているテストパ
ターンのデータによって論理回路のシミュレーションを
実行する機能を果たす。シミュレーション結果保持手段
１４は、シミュレーション実行手段１３によるシミュレ
ーション結果を保持する機能を果たす。

【００３０】再シミュレーション結果・前シミュレーシ
ョン結果変化データ抽出手段１５は、再シミュレーショ
ンによる結果（修正後シミュレーション結果）と前シミ
ュレーションの結果（修正前シミュレーション結果）を
比較して変化データを抽出する機能を果たす。

【００３１】すなわち、前述した修正前後シミュレーシ
ョン結果変化データ抽出手段に相当し、テストパターン
データ保持手段１１に保持されている修正前テストパタ
ーンのデータをシミュレーションした修正前シミュレー
ション結果と、テストパターン修正位置保持手段１２に
保持されているテストパターンの修正位置に基づいて修
正前テストパターンのデータを修正した修正後テストパ
ターンのデータをシミュレーションした修正後シミュレ
ーション結果とを比較して変化したデータを抽出する。

【００３２】再シミュレーション結果波形・変化データ
表示手段１６は、再シミュレーション結果（修正後シミ
ュレーション結果）の波形と変化データの表示を行なう
機能を果たす。

【００３３】つまり、前述した再シミュレーション結果
波形・変化データ表示手段に相当し、修正後シミュレー
ション結果の波形に対して再シミュレーション結果・前
シミュレーション結果変化データ抽出手段１５によって
抽出した変化データに基づいた波形変化及びディレイ変
化を表示する。

【００３４】変化データ抽出信号名指定手段１７は、変
化データを抽出する信号名を指定する機能を果たす。つ
まり、前述した変化データ抽出テストパターン指定手段
に相当し、再シミュレーション結果・前シミュレーショ
ン結果変化データ抽出手段１５によって変化データを抽
出するテストパターンを指定する。

【００３５】ディレイ変化・波形変化区分け指定手段１
８は、ディレイの差しかでない変化部分と波形が変わっ
てしまう部分に分けて抽出し、そのどちらか一方又は両
方を抽出するための選択をする機能である。

【００３６】つまり、前述した波形変化・ディレイ変化
抽出指定手段に相当し、再シミュレーション結果・前シ
ミュレーション結果変化データ抽出手段１５によって波
形変化又はディレイ変化のいずれか一方又は両方を抽出
するように指定する。

【００３７】グループ指定修正対応グループ化抽出設定
手段１９は、グループによる修正を行なった部分をその
ままグループでデータ抽出するかを指定するものであ
る。すなわち、前述の修正前テストパターンの同じタイ
ミングの部分をグループ指定して修正する同タイミング
部分グループ指定修正手段と、修正前シミュレーション
結果と修正後シミュレーション結果とを比較したときに
グループ指定して修正した同タイミングの各部分の波形
変化及びディレイ変化が同じか否かを判別可能に表示す
るグループ内同タイミング部分変化状況表示手段とに相
当する。

【００３８】変化データ集計手段２０は、変化データの
集計を行なう機能を果たし、つまり、再シミュレーショ
ン結果・前シミュレーション結果変化データ抽出手段１
５によって抽出した変化データを同じタイミング毎にそ
の発生回数を集計する。集計結果表示手段２１は、その
集計結果を表示する機能を果たし、つまり、変化データ
集計手段２０によって集計した発生回数を表示する。

【００３９】次に、図１に示した各手段間の作用につい
て説明する。テストパターン入力・修正手段１０によっ
て論理回路をシミュレーションするためのテストパター
ンを入力又は修正し、その入力されたテストパターンの
データをテストパターンデータ保持手段１１に保持し、
修正されたテストパターンの修正位置をテストパターン
修正位置保持手段１２に保持する。

【００４０】その後、シミュレーション実行手段１３に
よってテストパターンデータ保持手段１１に保持されて
いるテストパターンのデータによって論理回路のシミュ
レーションを実行し、そのシミュレーション結果をシミ
ュレーション結果保持手段１４に保持する。

【００４１】さらに、再シミュレーション結果・前シミ
ュレーション結果変化データ抽出手段１５によって、テ
ストパターンデータ保持手段１１に保持されている修正
前テストパターンのデータをシミュレーションした修正
前シミュレーション結果と、テストパターン修正位置保
持手段１２に保持されているテストパターンの修正位置
に基づいて修正前テストパターンのデータを修正した修
正後テストパターンのデータをシミュレーションした修
正後シミュレーション結果とを比較して変化したデータ
を抽出する。

【００４２】そして、その抽出した変化データに基づい
て修正後シミュレーション結果の波形に対する波形変化
及びディレイ変化を再シミュレーション結果波形・変化
データ表示手段１６に表示する。このようにして、テス
トパターンの修正前シミュレーション結果と修正後シミ
ュレーション結果との波形変化及びディレイ変化を表示
する。

【００４３】また、変化データ抽出信号名指定手段１７
によって再シミュレーション結果・前シミュレーション
結果変化データ抽出手段１５によって変化データを抽出
するテストパターンを指定して、その指定されたテスト
パターンについてのみ修正前後テストパターンのシミュ
レーション結果の比較による波形変化及びディレイ変化
を表示する。

【００４４】さらに、ディレイ変化・波形変化区分け指
定手段１８によって再シミュレーション結果・前シミュ
レーション結果変化データ抽出手段１５によって波形変
化又はディレイ変化のいずれか一方又は両方を抽出する
ように指定し、修正前後テストパターンのシミュレーシ
ョン結果の比較による波形変化又はディレイ変化のいず
れか一方又は両方を表示する。

【００４５】さらにまた、グループ指定修正対応グルー
プ化抽出設定手段１９によって修正前テストパターンの
同じタイミングの部分をグループ指定して、修正前シミ
ュレーション結果と修正後シミュレーション結果とを比
較したときにグループ指定して修正した同タイミングの
各部分の波形変化及びディレイ変化が同じか否かを判別
可能に表示し、グループ指定された修正前テストパター
ンの同じタイミングの部分について、その修正前後テス
トパターンのシミュレーション結果の比較による波形変
化及びディレイ変化を表示する。

【００４６】そしてまた、変化データ集計手段２０によ
って再シミュレーション結果・前シミュレーション結果
変化データ抽出手段１５によって抽出した変化データを
同じタイミング毎にその発生回数を集計し、その集計し
た発生回数を集計結果表示手段２１によって表示する。
このようにして、同じタイミングの発生回数を集計して
表示する。

【００４７】図３乃至図６はこの論理回路検証装置にお
ける処理を示すフローチャートである。図３に示したよ
うに、テストパターン入力か否かをチェックし、ＹＥＳ
ならテストパターン入力処理をし、ＮＯならそのままテ
ストパターン修正か否かをチェック（判断）する処理へ
進む。

【００４８】テストパターン修正か否かをチェックする
処理において、ＮＯならに分岐して図４に示す処理へ
移行するが、ＹＥＳならテストパターン修正処理をし、
修正箇所を格納する処理をしてシミュレーション実行か
否かををチェックする処理へ進む。

【００４９】図４の処理では、まずテストパターングル
ープ指定修正か否かをチェックして、ＹＥＳならグルー
プ指定による修正とグループ修正位置の格納処理をし、
ＮＯならそのまま変化データ抽出信号名指定か否かをチ
ェックする処理へ進む。その変化データ抽出信号名指定
か否かをチェックする処理において、ＹＥＳなら抽出し
たい信号名を指定し、ＮＯならそのままディレイ変化と
波形変化の区分けによる抽出指定か否かをチェックする
処理へ進む。

【００５０】そのディレイ変化と波形変化の区分けによ
る抽出指定か否かをチェックする処理において、ディレ
イによる変化と波形が変わってしまう変化に区分けし
て、どちらか一方又は両方の指定をするのかをチェック
して、ＹＥＳならディレイ変化と波形変化の区分けによ
る抽出方法を指定し、ＮＯならそのままグループ化修正
した修正をグループで処理するか否かをチェックする処
理へ進む。

【００５１】そして、グループ化修正した部分をグルー
プで抽出処理するかをチェックして、ＹＥＳならグルー
プ化抽出フラグをＯＮにして、ＮＯならそのまま変化デ
ータの集計指定か否かをチェックする処理へ進む。その
変化データを集計する指定か否かをチェックする処理に
おいて、ＹＥＳならば集計指定フラグをＯＮとし、ＮＯ
ならばそのまま図３のに戻る。

【００５２】次に、図３に戻るとシミュレーション実行
か否かをチェックし、ＮＯなら最初の処理に戻るがＹＥ
Ｓなら前シミュレーションデータがあるか否かをチェッ
クし、ＹＥＳなら前シミュレーションデータを別エリア
に移動保管し、ＮＯならそのままシミュレーション実行
の処理へ進む。

【００５３】そこで、シミュレーションを実行して、移
動保管した前シミュレーションデータがあるか否かをチ
ェックし、ＮＯならに分岐して図６に示す処理へ移行
し、ＹＥＳなら変化データ抽出信号名の指定があるかを
チェックして、ＮＯなら全信号を指定の対象として、Ｙ
ＥＳならそのままへ進んで図５に示す処理へ移行す
る。

【００５４】図５の処理では、まずディレイ変化と波形
変化区分けによる抽出指定があったか否かをチェック
し、ＮＯならディレイ変化と波形変化の両方を抽出指定
として、ＹＥＳならそのままグループ指定修正対応のグ
ループ化抽出設定があるか否かをチェックする処理へ進
む。

【００５５】そのグループ指定修正対応のグループ化抽
出設定があるか否かのチェックにおいて、ＹＥＳならグ
ループが抽出対象としてセットし、ＮＯならそのまま前
シミュレーション結果データと再シミュレーション結果
データを用いて設定された条件で変化（差）データを解
析する。

【００５６】次に、テストパターン修正箇所があるか否
かをチェックして、ＹＥＳならテストパターン修正箇所
をハイライト表示し、ＮＯならそのままへ進んで図６
に示す処理へ移行する。

【００５７】図６の処理では、まず再シミュレーション
結果を表示して、変化（差）データがあるか否かをチェ
ックし、ＮＯならそのままこの処理を終了する。また、
ＹＥＳなら変化（差）データを波形上にハイライト表示
し、変化（差）データを集計するか否かをチェックし
て、ＮＯならそのままこの処理を終了し、ＹＥＳなら変
化（差）データを集計してその集計結果を表示し、この
処理を終了する。つまり、変化（差）データを集計する
フラグが立っているか否かをチェックして、フラグＯＮ
なら変化（差）データを集計してその集計結果を表示す
る。

【００５８】次に、この論理回路検証装置におけるシミ
ュレーション結果の表示例について説明する。図７及び
図８はある論理回路のシミュレーション結果を表示した
画面の一例を示す図である。

【００５９】図７は修正前テストパターンによるシミュ
レーション結果の表示例を示す図、図８は修正後テスト
パターンによるシミュレーション結果の表示例を示す図
であり、図８には修正前後テストパターンによるシミュ
レーション結果の比較結果が表示されている。

【００６０】これらの画面３０には、ある論理回路に対
して修正前又は修正後のテストパターンによってシミュ
レーションした結果として、入力信号ＩＮ１，ＩＮ２、
テスト信号ＴＥＳＴ、クロック信号ＣＬＫ、出力信号Ｏ
ＵＴ１，ＯＵＴ２，ＯＵＴ３のそれぞれの波形Ｗ１〜Ｗ
７が表示されている。

【００６１】そして、図８に示す表示例では、入力波形
Ｗ２にはテストパターン変更位置（修正した部分）を示
す波形３１が異なる色で表示される。また、出力波形Ｗ
５には修正前のシミュレーション結果と修正後のシミュ
レーション結果を比較して波形が変化した部分を示す波
形３２が異なる色で表示される。

【００６２】さらに、出力波形Ｗ６には修正前のシミュ
レーション結果と修正後のシミュレーション結果を比較
してディレイが変化した部分を示す波形３３が異なる色
で表示される。したがって、テストパターンの修正や論
理回路の修正によって変化した部分について、その修正
前後シミュレーション結果を容易に比較することができ
る。

【００６３】次に、図９及び図１０はテストパターン修
正前後におけるシミュレーション結果を比較する信号を
指定した場合の表示画面の一例を示す図である。図９は
信号を指定しなかった場合の表示画面の一例を示す図、
図１０は信号を指定した場合の表示画面の一例を示す図
である。

【００６４】図９に示すように、信号を指定しないと全
ての信号について修正前後のシミュレーション結果の比
較、つまり波形変化及びディレイ変化である波形３２，
３３，３５を表示する。

【００６５】例えば、予め入力信号ＩＮ１を指定した場
合、図１０に示すように、入力信号ＩＮ１に対するテス
トパターン修正前後のシミュレーション結果の比較によ
る波形変化及びディレイ変化である波形３５を除いて、
波形３２，３３のみが表示される。したがって、修正前
後のシミュレーション結果の変化を解析する信号を一部
に限定して比較することができる。

【００６６】次に、図１１及び図１２は波形変化又はデ
ィレイ変化のいずれか一方又は両方を表示させる指定を
行なったときの表示画面の一例を示す図である。例え
ば、予め波形変化のみを表示させる指定をした場合、図
１１に示すように、波形Ｗ５の変化波形部分を示す波形
３２のみが表示される。

【００６７】また、ディレイ変化のみを表示させる指定
をした場合、図１２に示すように、波形Ｗ６のディレイ
変化部分を示す波形３３のみが表示される。あるいはま
た、波形変化及びディレイ変化の両方を表示させる指定
をした場合、図８に示したように表示される。

【００６８】次に、図１３はグループ指定した同タイミ
ングの各部分の波形変化及びディレイ変化を判別可能に
表示したときの表示画面の一例を示す図である。画面３
６には、入力信号Ｉ１，Ｉ２，及び出力信号Ｏ１の各シ
ミュレーション結果として、波形Ｗ１０，Ｗ１１，Ｗ１
２が表示されている。

【００６９】その波形Ｗ１０の波形部分３７，３８が同
タイミングとしてグループ指定されており、その波形部
分３７，３８をグループとして変更した後のシミュレー
ション結果がどのように変化したかが波形Ｗ１２の波形
部分３９，４０に判別可能に異なる色（図中では斜線を
施した部分）で表示されている。

【００７０】その波形部分３７，３８の変化に違いがあ
る場合、その変化部分をさらに異なる色で表示する。例
えば、波形部分３７，３８でディレイ差が違ったとき、
図１４に示すように、波形部分４０の実線４１で示すシ
ミュレーション結果に対して、斜線部分４２で示す修正
前シミュレーション結果の波形を異なる色で表示し、さ
らにクロス斜線部分４３に示す波形部分３９のシミュレ
ーション結果の波形を異なる色で表示する。

【００７１】次に、図１５はシミュレーション結果の同
タイミングの発生回数を表示したときの画面の一例を示
す図である。画面５０には、同タイミングのパターンの
波形とその発生回数「１２」が表示されている。

【００７２】次に、この実施例の論理回路検証装置の効
果を列挙する。 （１）前シミュレーション結果と再シミュレーション結
果の間で波形チェックを行なうことで、前とどのように
波形が変わったかを解析することにより、ディレイが前
とどのぐらい違ったかや、波形が変わったところを抽出
することができるようになり、オペレータの目視による
煩雑な作業をなくすことができる。

【００７３】（２）波形チェックを行なう信号を指定可
能とすることにより、抽出されるデータを絞り込み、本
当に見たいデータにすることが出来るようになり、オペ
レータによる煩雑な作業をなくすことができる。

【００７４】（３）解析されたデータをディレイが変わ
っただけの変化と波形の相互関係が変わってしまうもの
とがあって、それを区別してどちらか一方か又は両方か
を表示させることを指定可能とすることにより、さらに
抽出されるデータを絞り込み、本当に見たいデータにす
ることができるようになる。したがって、オペレータに
よる煩雑な作業をなくすことができる。

【００７５】（４）解析するデータをグループでとらえ
ることを可能とすることで、同じタイミングが実時間が
異なる部分で何回も存在するときに、すべて同じ変化か
をチェックできるようになるので、すべての同じタイミ
ングの入力で同じ結果が出ているかをチェックできるよ
うになって見落としがなくなり、オペレータが正確な判
断をできるようになる。

【００７６】（５）多量に抽出される変化データを、例
えばディレイ変化をまとめて最大変化順に並べるという
ような集計を可能とすることにより、オペレータによる
煩雑な作業をなくすことができる。

【００７７】

【発明の効果】以上説明してきたように、この発明によ
る論理回路検証装置によれば、次のような効果がある。 （１）修正前シミュレーション結果より修正後シミュレ
ーション結果がディレイの変化があった部分、波形が変
わった部分を抽出できるので、オペレータによる煩雑な
作業がなくなる。

【００７８】（２）修正前後のシミュレーション結果の
比較による波形変化やディレイ変化を表示すべき信号名
を指定できるので、抽出データを絞り込めてオペレータ
による煩雑な作業をなくすことができる。 （３）ディレイが変わった部分と波形が変わった部分に
分けて選択して抽出できるので、さらに絞り込んだデー
タとすることができ、オペレータによる煩雑な作業をな
くすことができる。

【００７９】（４）グループ指定により同じタイミング
の入力に対して同じ変化が起きているかを簡単にとらえ
ることにより、見落としやチェックミス等の人為的ミス
がなくなる。

【００８０】（５）従来多量に出る変化データをディレ
イ別等の項目別にて集計することができるようになり、
その結果群で見ることができるようになるため、異常点
を簡単にとらえられるようになるので、見落としやチェ
ックミス等の人為的ミスがなくなる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図２に示した論理回路検証装置の機能を示すブ
ロック図である。

【図２】この発明による論理回路検証装置の一構成例を
示すブロック図である。

【図３】この論理回路検証装置における処理を示すフロ
ーチャートである。

【図４】その続きの処理を示すフローチャートである。

【図５】さらにその続きの処理を示すフローチャートで
ある。

【図６】さらにまたその続きの処理を示すフローチャー
トである。

【図７】修正前テストパターンによるシミュレーション
結果の表示例を示す図である。

【図８】修正後テストパターンによるシミュレーション
結果の表示例を示す図である。

【図９】信号を指定しなかった場合の表示画面の一例を
示す図である。

【図１０】信号を指定した場合の表示画面の一例を示す
図である。

【図１１】波形変化のみを表示させる指定を行なったと
きの表示画面の一例を示す図である。

【図１２】ディレイ変化のみを表示させる指定を行なっ
たときの表示画面の一例を示す図である。

【図１３】グループ指定した同タイミングの各部分の波
形変化及びディレイ変化を判別可能に表示したときの表
示画面の一例を示す図である。

【図１４】その判別可能に表示するときの説明図であ
る。

【図１５】シミュレーション結果の同タイミングの発生
回数を表示したときの画面の一例を示す図である。

【符号の説明】

１ キーボード装置 ２ マウス ３ 画面表示装置 ４ 記憶装置 ５ データ処理装置 １０ テストパ
ターン入力・修正手段 １１ テストパターンデータ保持手段 １２ テストパターン修正位置保持手段 １３ シミュレーション実行手段 １４ シミュレ
ーション結果保持手段 １５ 再シミュレーション結果・前シミュレーション結
果変化データ抽出手段 １６ 再シミュレーション結果波形・変化データ表示手
段 １７ 変化データ抽出信号名指定手段 １８ ディレイ変化・波形変化区分け指定手段 １９ グループ指定修正対応グループ化抽出設定手段 ２０ 変化データ集計手段 ２１ 集計結果
表示手段

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＡＳＩＣ等の論理回路をシミュレーショ
   ンするためのテストパターンを入力又は修正するテスト
   パターン入力・修正手段と、該手段によって入力又は修
   正されたテストパターンのデータを保持するテストパタ
   ーンデータ保持手段と、前記テストパターン入力・修正
   手段によるテストパターンの修正位置を保持するテスト
   パターン修正位置保持手段と、前記テストパターンデー
   タ保持手段に保持されているテストパターンのデータに
   よって前記論理回路のシミュレーションを実行するシミ
   ュレーション実行手段と、該手段によるシミュレーショ
   ン結果を保持するシミュレーション結果保持手段と、前
   記テストパターンデータ保持手段に保持されている修正
   前テストパターンのデータを前記シミュレーション実行
   手段によってシミュレーションした修正前シミュレーシ
   ョン結果と、前記テストパターン修正位置保持手段に保
   持されているテストパターンの修正位置に基づいて前記
   修正前テストパターンのデータを修正した修正後テスト
   パターンのデータを前記シミュレーション実行手段によ
   ってシミュレーションした修正後シミュレーション結果
   とを比較して変化したデータを抽出する修正前後シミュ
   レーション結果変化データ抽出手段と、前記修正後シミ
   ュレーション結果の波形に対して前記修正前後シミュレ
   ーション結果変化データ抽出手段によって抽出した変化
   データに基づいた波形変化及びディレイ変化を表示する
   修正後シミュレーション結果変化状況表示手段とを備え
   た論理回路検証装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の論理回路検証装置におい
   て、前記修正前後シミュレーション結果変化データ抽出
   手段によって変化データを抽出するテストパターンを指
   定する変化データ抽出テストパターン指定手段を設けた
   ことを特徴とする論理回路検証装置。
3. 【請求項３】 請求項１又は２記載の論理回路検証装置
   において、前記修正前後シミュレーション結果変化デー
   タ抽出手段によって波形変化又はディレイ変化のいずれ
   か一方又は両方を抽出するように指定する波形変化・デ
   ィレイ変化抽出指定手段を設けたことを特徴とする論理
   回路検証装置。
4. 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれか一項記載の論
   理回路検証装置において、前記修正前後シミュレーショ
   ン結果変化データ抽出手段によって抽出した変化データ
   を同じタイミング毎にその発生回数を集計する変化デー
   タ集計手段と、該手段によって集計した発生回数を表示
   する集計結果表示手段とを設けたことを特徴とする論理
   回路検証装置。