JPH0736953A - 論理シミュレーション結果解析装置 - Google Patents

論理シミュレーション結果解析装置

Info

Publication number
JPH0736953A
JPH0736953A JP5181712A JP18171293A JPH0736953A JP H0736953 A JPH0736953 A JP H0736953A JP 5181712 A JP5181712 A JP 5181712A JP 18171293 A JP18171293 A JP 18171293A JP H0736953 A JPH0736953 A JP H0736953A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
logic simulation
logic
simulation result
point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5181712A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiro Ninomiya
章弘 二ノ宮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP5181712A priority Critical patent/JPH0736953A/ja
Publication of JPH0736953A publication Critical patent/JPH0736953A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 論理シミュレーション結果解析装置に関し、
内部信号の不一致を生じさせている故障箇所を抽出でき
る論理シミュレーション結果解析装置を提供することを
目的とする。 【構成】 同一設計回路及び同一テストパターンで抽出
した2つの論理シミュレーション結果について、設計回
路のすべてのピリオドのストローブにおいて比較し不一
致点を抽出する不一致点検出手段を備える構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、論理回路設計におけ
る論理シミュレーション結果解析装置に係り、特に、論
理回路設計における配置配線後の論理シミュレーション
結果の解析の際に、その回路のセルの固有遅延のみを考
慮した論理シミュレーション結果あるいは仮想配線容量
を考慮した論理シミュレーション結果などのように論理
及びタイミング共にエラーのない論理シミュレーション
結果と配置配線後の論理シミュレーションとを比較解析
することによりクロックスキューなどによる故障箇所の
検出に利用される論理シミュレーション結果解析装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】論理設計回路において、前回行った論理
シミュレーション時の制約(配線容量や端子容量や配線
抵抗等の付加を意味する。)が少ない場合の論理シミュ
レーション結果では設計回路の出力端子の期待値の不一
致がなかったが、配置配線後のシミュレーション等のよ
うに制約を多く付加した論理シミュレーション結果では
設計回路の出力端子の期待値の不一致が発生する場合が
ある。
【0003】不一致が発生した配置配線後の論理シミュ
レーション結果を解析する際、その不一致の出力端子に
接続される素子から順に、素子の入出力信号にエラーが
ないかを確認して不一致が起こった原因となる素子が見
つかるまで設計回路を手作業でさかのぼって行き、故障
箇所を限定している。
【0004】例えば、特開平4−141775号公報に
は、「論理回路の機能使用を正しく反映した機能記述回
路モデルと論理接続記述された回路モデルとに対して同
一テストパターンでシミュレーションを行い、不一致点
がでた場合、その不一致点を抽出する不一致点抽出手段
と、前記不一致点のみに着眼し、論理バグを解析するた
めのテストパタンを発生するテトスパタン発生手段と、
発生されたテストパタンを使って、機能記述回路モデル
と論理接続回路モデルに対し論理シミュレーションを行
い、論理接続記述モデルに対しての状態値リスト,不一
致点の情報とエラーのなかった入力信号を出力する比較
シミュレーション手段と、エラーのなかった入力信号か
らトレースし、エラー発生の可能性のない部分回路を削
除し、エラー回路を限定する回路削除手段とを備えて成
ること特徴とする論理検証方式。」が開示されている。
【0005】又、例えば、特開平4−165573号公
報には、「論理回路の機能使用を正しく反映した機能記
述を用いてのシミュレーションと、部論理回路の機能使
用を基に設計した論理回路記述を用いてのシミュレーシ
ョンとを行い、両者のシミュレーション結果が一致した
ことを示す一致信号の情報と両者のシミュレーション結
果が不一致したことを示す不一致信号の情報を作成する
比較シミュレーション手段と、前記論理回路記述を入力
し、論理回路の接続情報を作成する回路記述入力手段
と、前記不一致信号の情報を用いて前記論理回路の接続
情報から不一致信号の入力側の論理回路を抽出した不一
致回路情報を作成する不一致回路抽出手段と、前記一致
信号の情報と前記論理回路の接続情報を用いて前記不一
致回路情報から一致信号の入力側の論理回路を排除する
ことで不当な論理回路だけで構成される不当回路情報を
作成する一致回路排除手段と、前記不当回路情報を用い
て不当な論理回路だけで構成される論理回路を前記論理
回路記述と同一形式で出力する不当回路出力手段とを具
備することを特徴とする論理検証装置。」が開示されて
いる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】手作業で論理シミュレ
ーション結果を解析する方法では、故障箇所が見つかる
までの素子の入出力信号の是非を繰り返し確認してさか
のぼらなければならず、多大な時間を要するという問題
がある。
【0007】又、上記の各先願発明では、機能記述の論
理シミュレーション結果と設計回路の論理シミュレーシ
ョン結果を比較しているので、設計回路の外部信号のみ
が比較され、内部信号は比較されていない。すなわち、
故障に関係している回路部分を抽出しているので、故障
に関係している回路部分に含まれている故障箇所及びそ
の数を解析できない。従って、内部信号の不一致が発生
している箇所を1つずつ見出すためには、更に不一致が
検出された回路部分について手作業による解析をする必
要があり、解析時間を短縮するという観点からは大きな
不満が残されている。
【0008】特に、大規模回路では、故障に関係してい
る回路部分を全て抽出しているために抽出される回路規
模が全体の回路規模に比例して大きくなり、この問題が
一層深刻になるので、適さない。
【0009】更に、特開平4−165573号公報に開
示された論理検証装置では、各入力信号について活性化
されたテストパターンを作成しなければならないので、
大規模回路には適さない。
【0010】加えて、例えば特開平4−165573号
公報に示されているように、不当な論理回路だけで構成
される論理回路を前記論理回路記述と同一形式で出力す
る場合には、故障に関係している回路部分が全て表示さ
れることになるので、故障箇所を一見して見出すことが
困難な場合が少なくない。
【0011】この発明は、上記の事情を鑑みてなされた
ものであり、内部信号の不一致を生じさせている故障箇
所を抽出できる論理シミュレーション結果解析装置を提
供することを目的とするものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明に係る論理シミュレーション結果解析装置
は、同一設計回路及び同一テストパターンで抽出した2
つの論理シミュレーション結果について、設計回路のす
べてのピリオドのストローブにおいて比較し不一致点を
抽出する不一致点検出手段を備えることを特徴とする。
【0013】
【作用】設計回路のすべてのピリオドのストローブにお
いて、同一設計回路及び同一テストパターンで抽出した
2つの論理シミュレーション結果について比較すると、
外部信号の不一致が検出される回路部分全体を検出でき
るだけでなく、内部信号、即ち、その回路部分に含まれ
る素子の出力の正しいシミュレーション結果と配置配線
後のシミュレーション結果との不一致を検出することが
でき、その回路部分の中の不一致の起源となる箇所を検
出できる。
【0014】この発明において、特に、不一致点検出手
段によって抽出された不一致点の中から回路において他
の上位(入力側)の不一致点が起因しているものを省く
ことにより不一致点の起源となる不一致点を限定し抽出
する故障箇所限定手段を備える場合には、不一致の起源
となる箇所を1つずつ検出することができ、回路の上位
から下位までの間に複数の故障箇所がある場合でも、全
ての故障箇所を別々に検出できる。
【0015】又、この発明において、故障箇所限定手段
によって抽出された不一致点を表示装置の画面上で正常
箇所と異なる表示方法によって表示する故障箇所表示手
段を備える場合には、装置使用者が表示装置の画面上で
故障箇所を見つけ易く、視覚的に故障箇所を捕らえなが
ら設計回路のバグ解析が出来る。
【0016】
【実施例】以下、この発明の一実施例に係る論理シミュ
レーション結果分析装置について図面に基づいて具体的
に説明する。
【0017】図1はこの発明に係る一実施例である論理
シミュレーション結果解析装置の回路ブロック図であ
り、図2はその機能フロー図である。この装置は、図1
に示すように、互いにバスを介して接続されるCPU
1、キーボード2、CRTディスプレイ3、マウス4及
びハードディスク等で構成される記憶装置5を備える。
【0018】上記CPU1は装置のシステムの制御プロ
グムとその制御プログラムを実行するために必要なデー
タとを格納するROMと、ワークエリアとして使用され
るRAMとを含む。又、キーボード2及びマウス4はデ
ータ及び実行制御の指示の入力に用いられ、CRTディ
スプレイ3は制御プログラムの実行途中の経過及び実行
結果を表示する。更に、上記記憶装置5は、回路図情報
6、論理シミュレーション結果7、不一致情報8、故障
箇所リスト9の各記憶エリアを備える。
【0019】本実施例の論理シミュレーション結果解析
装置は、図2のフロー図及び図3の動作説明図に示すよ
うに、回路設計S1において設計された回路図は記憶装
置5の回路図情報6に記録され、回路設計S1直後にこ
の回路図情報6のデータと所定のテストパターンTPと
に基づいて論理シミュレーションS2を行い、制約が少
ない場合の論理及びタイミング共に正しい論理シミュレ
ーション結果を論理シミュレーション結果7(7a)に
記録する。そして、論理及びタイミング共に正しい論理
シミュレーション結果7aが得られたことを確認した
後、同じテストパターンTPを用いて配置配線後の論理
シミュレーションS4を行い、その結果を解析したい論
理シミュレーション結果として論理シミュレーション結
果7(7b)に記録する。
【0020】なお、これらの論理シミュレーション結果
7a・7bは、設計された回路の全ての信号線の全ての
ピリオドにおける信号値と、その期待値とを含む。
【0021】更にこの後、これらの論理シミュレーショ
ン結果7a・7bを読み出して、CPU1内に包含され
た不一致点検出手段10で全ての信号線で全てのピリオ
ドのストローブにおいて比較することにより不一致点
(この実施例ではb1,c1,x)を見出して、不一致
情報8を作成する。
【0022】次に、CPU1内に包含された故障箇所限
定手段11で、不一致点情報8と回路図情報6を参照
し、不一致点のうち、解析している回路においてその箇
所よりも上位(入力側)の箇所での故障に起因する箇所
(この実施例ではc1,x)を省き、故障の起源となる
故障箇所(この実施例ではb1)を限定した故障箇所リ
スト9を作成する。
【0023】そして、この故障箇所リスト9を参照し、
例えば上記CRTディスプレイ3を含むスケマティクエ
ディタからなる故障箇所表示手段12に故障箇所とされ
た設計回路図上の素子(この実施例ではb)をハイライ
トさせたり、点滅させたり、表示色を異ならせたりし
て、本装置使用者が見つけ易いように表示する。
【0024】このように、本装置では、論理回路設計に
おいて、設計回路の論理シミュレーション結果7bを解
析する際、現在解析したい論理シミュレーション結果7
bとその論理シミュレーション結果を抽出する際に用い
たテストパターンと同じテストパターンで抽出した論理
及びタイミング共に正しい論理シミュレーション結果7
aの2つの論理シミュレーション結果7a,7bを全て
の信号線について全てのピリオドのストローブで比較
し、不一致の起源となる箇所とその下位(出力側)の箇
所とを含む不一致点を抽出し、又、その抽出された不一
致点のうち解析したい回路における上位(入力側)の箇
所の不一致が起因しているものを省くことにより、故障
のある回路部分のどの素子に起因しているのかを検出で
き、従来では一部又は全部を手作業によって検出してい
た故障箇所を全て自動的に検出することができるので、
解析に要する時間を著しく短縮することができる。
【0025】そして、故障の起源となる故障箇所として
限定して抽出された箇所をスケマックエディタの画面に
表示された回路図上で目立つように表示されるので、装
置使用者が故障箇所を発見し易くなるとともに、故障箇
所を視覚的に捕らえながら設計回路のバグ解析ができる
ようになる。
【0026】
【発明の効果】以上に説明したようにこの発明は、同一
設計回路及び同一テストパターンで抽出した2つの論理
シミュレーション結果について、設計回路の全ての信号
線について、全てのピリオドのストローブにおいて比較
し、不一致点を抽出する不一致点検出手段を備えるの
で、故障に関係する回路の中の故障箇所を自動的に検出
することができ、設計回路のバグを絞り込んで解析でき
る。
【0027】この発明において、特に不一致点からその
回路上の上位の箇所の故障に起因する不一致がある点を
省き、不一致の起源となる不一致点を抽出する故障箇所
限定手段を備える場合には、設計回路のバグを一層絞り
込んで解析できる。
【0028】又、この発明において、上記故障の起源と
なる箇所、或いは、例えば素子をスケマティクエディタ
等の表示装置の画面に表示する回路図の中でハイライ
ト、フラッシングなど他の部分と異なる表示方法で表示
させる場合には、装置使用者が故障箇所を見つけ易く、
視覚的に故障箇所を捕らえながら設計回路のバグ解析が
出来るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例の回路ブロック図である。
【図2】この発明の一実施例の機能フロー図である。
【図3】この発明の一実施例の動作説明図である
【符号の説明】
1 CPU 2 キーボード 3 CRTディスプレイ 4 マウス 5 記憶装置 6 回路図情報 7 論理シミュレーション結果 7a 論理及びタイミング共に正しい論理シミュレーシ
ョン結果 7b 解析したい論理シミュレーション結果 8 不一致情報 9 故障箇所リスト 10 不一致点検出手段 11 故障箇所検出手段

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 同一設計回路及び同一テストパターンで
    抽出した2つの論理シミュレーション結果について、設
    計回路のすべてのピリオドのストローブにおいて比較し
    不一致点を抽出する不一致点検出手段を備えることを特
    徴とする論理シミュレーション結果解析装置。
  2. 【請求項2】 上記不一致点検出手段によって抽出され
    た不一致点の中から回路において他の上位(入力側)の
    不一致点が起因しているものを省くことにより不一致点
    の起源となる不一致点を限定し抽出する故障箇所限定手
    段を備えることを特徴とする論理シミュレーション結果
    解析装置。
  3. 【請求項3】 故障箇所限定手段によって抽出された不
    一致点を表示装置の画面上で正常箇所と異なる表示方法
    によって表示する故障箇所表示手段を備えることを特徴
    とする論理シミュレーション結果解析装置。
JP5181712A 1993-07-22 1993-07-22 論理シミュレーション結果解析装置 Pending JPH0736953A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5181712A JPH0736953A (ja) 1993-07-22 1993-07-22 論理シミュレーション結果解析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5181712A JPH0736953A (ja) 1993-07-22 1993-07-22 論理シミュレーション結果解析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0736953A true JPH0736953A (ja) 1995-02-07

Family

ID=16105543

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5181712A Pending JPH0736953A (ja) 1993-07-22 1993-07-22 論理シミュレーション結果解析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0736953A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000082094A (ja) 半導体集積回路設計検証システム
Wang et al. Practical FSM analysis for Verilog
JPH0736953A (ja) 論理シミュレーション結果解析装置
JP4652317B2 (ja) 論理回路の機能検証装置、機能カバレッジアイテムの検証方法及びプログラム
JP3428313B2 (ja) 大規模集積回路装置の故障シミュレーション方法及び故障解析方法
JPH1185828A (ja) 順序回路機能検証方法および順序回路機能検証システム
JPH07121576A (ja) 故障シミュレーション装置
JP3028589B2 (ja) 論理回路検証装置のエラー検出制御方法
JP3212157B2 (ja) 論理回路検証装置
JP4194959B2 (ja) シミュレーション解析システム、アクセラレータ装置及びエミュレータ装置
JPH04260941A (ja) テストデータの自動生成装置
JP2523692B2 (ja) 電子計算機調整不良解析支援システム
JPH0561935A (ja) 論理シミユレーシヨン方式
JP2872076B2 (ja) 論理検証装置およびその方法
JP3464855B2 (ja) テスト回路の接続検証方法および接続検証装置
US20080162096A1 (en) Signal waveform analyzing device
JP2870735B2 (ja) デバッガにおけるデータの値の自動チェック方式
JPS61241672A (ja) Ic試験装置
JP2749749B2 (ja) 論理回路の遅延検証方法
JPH0391846A (ja) 障害検出回路の相互関係図生成方式
JPH1115864A (ja) イベント発生原因解析装置および方法、論理不具合検出装置、ならびにイベント発生原因解析プログラムを記録した媒体
JPH05324756A (ja) 論理シミュレーション結果表示システム
JP2563583B2 (ja) 論理回路の機能検証方法
JP3140230B2 (ja) 信号伝播経路解析装置
JPH07105256A (ja) 論理シミュレーション方式