JPH1115864A - イベント発生原因解析装置および方法、論理不具合検出装置、ならびにイベント発生原因解析プログラムを記録した媒体 - Google Patents

イベント発生原因解析装置および方法、論理不具合検出装置、ならびにイベント発生原因解析プログラムを記録した媒体

Info

Publication number
JPH1115864A
JPH1115864A JP9167266A JP16726697A JPH1115864A JP H1115864 A JPH1115864 A JP H1115864A JP 9167266 A JP9167266 A JP 9167266A JP 16726697 A JP16726697 A JP 16726697A JP H1115864 A JPH1115864 A JP H1115864A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
event
logic
cause
occurrence cause
occurrence
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP9167266A
Other languages
English (en)
Inventor
Yutaka Seshimo
豊 瀬下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP9167266A priority Critical patent/JPH1115864A/ja
Publication of JPH1115864A publication Critical patent/JPH1115864A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 イリーガルイベントの発生原因と伝搬経路と
を効率的に検出することが可能なイベント発生原因解析
装置を提供すること。 【解決手段】 イベント発生原因解析装置は、指定され
た条件と一致するイベントを検出するための特定イベン
ト検出装置27と、回路の論理シミュレート時に発生す
るイベント伝搬情報を参照し、特定イベント検出装置2
7によって検出されたイベントからバックトレースして
発生原因を特定するためのイベント発生原因特定装置2
8とを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、論理シミュレート
時に発生するイリーガルな信号変化(以後、イベントと
呼ぶ)の発生原因の解析に関し、特に、論理不具合の原
因を容易に解析することができるイベント発生原因解析
装置および方法、論理不具合検出装置、ならびにイベン
ト発生原因解析プログラムを記録した媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体集積回路の高集積化、多機
能化に伴い、その回路規模は増大する傾向にあり、半導
体集積回路の開発に要する時間も長くなりつつある。こ
の開発期間を短縮する方法の1つとして、論理シミュレ
ート時に発生した回路の不具合の原因を早期に検出し、
当該不具合の箇所を修正することが挙げられる。
【0003】一般に、論理回路の論理検証はHDL(Ha
rdware Description Language )記述を論理合成して得
られたゲートレベルネットリスト、またはスケマティッ
クエディタによって作成された論理回路に入力パターン
を入力し、その出力値と期待値とを比較することによっ
て行なわれる。論理不具合により、論理シミュレーショ
ンで得られた出力値と期待値とが一致しない場合には、
HDL記述または論理回路を修正して再度論理シミュレ
ーションを行なう。
【0004】図12は、従来の論理不具合の発生原因を
特定する方法を説明するための図である。図11に示す
回路内のインスタンス101の出力信号線Aにイリーガ
ルなイベントが発生した場合に、インスタンス101の
入力信号線の波形を表示して、イベントがどの入力信号
線によるものかを特定していた。
【0005】たとえば、インスタンス101の出力信号
線Aに図12(a)に示すようなイリーガルイベントが
発生した場合に、インスタンス101の入力信号線B
(図12(b))およびインスタンス101の入力信号
線C(図12(c))を表示し、イリーガルイベントの
伝搬原因である入力信号線Bをイリーガルイベントの発
生要因として特定する。そして、入力信号線Bを出力と
するインスタンス102の入力信号線DおよびEを表示
する。そして、上述した操作を繰返して出力側から入力
側に行なうことにより、イリーガルイベントの発生要因
を特定し、順次イリーガルイベントの伝搬パスを特定し
ていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、イリ
ーガルなイベントが発生した信号線を出力とするインス
タンスの入力信号線を画面上に波形表示し、目視により
イベントの伝搬経路を確認していた。しかし、イベント
発生原因を特定するためにこの操作を繰返す必要があ
り、非常に効率が悪かった。
【0007】本発明は、上記問題点を解決するためにな
されたものであり、請求項1〜3に記載の発明の目的
は、指定された条件と一致するイベントの発生原因を自
動的に特定することが可能なイベント発生原因解析装置
を提供することである。
【0008】請求項4に記載の発明の目的は、修正後の
論理回路における不具合を自動的に検出することが可能
な論理不具合検出装置を提供することである。
【0009】請求項5に記載の発明の目的は、指定され
た条件と一致するイベントの発生原因を自動的に特定す
ることが可能なイベント発生原因解析方法を提供するこ
とである。
【0010】請求項6に記載の発明の目的は、指定され
た条件と一致するイベントの発生原因を自動的に特定す
ることが可能なイベント発生原因解析プログラムを記録
した媒体を提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載のイベン
ト発生原因解析装置は、回路の論理シミュレート時に発
生するイベント伝搬情報を格納するための格納手段と、
指定された条件と一致するイベントを検出するためのイ
ベント検出手段と、格納手段に格納されたイベント伝搬
情報を参照し、イベント検出手段によって検出されたイ
ベントからバックトレースして発生原因を特定するため
のイベント発生原因特定手段とを含む。
【0012】イベント発生原因特定手段は、回路の論理
シミュレート時に発生するイベント伝搬情報を参照し、
イベント検出手段によって検出されたイベントからバッ
クトレースを繰返して発生原因を特定する。したがっ
て、イベントの発生原因を自動的に特定することが可能
となる。
【0013】請求項2に記載のイベント発生原因解析装
置は、請求項1記載のイベント発生原因解析装置であっ
て、イベント発生原因解析装置はさらに論理回路を表示
するための表示手段を含み、イベント発生原因特定手段
は格納手段に格納されたイベント伝搬情報を参照し、イ
ベント検出手段によって検出されたイベントから順にバ
ックトレースしてイベントの伝搬経路と発生原因を特定
し、表示手段はイベント発生原因特定手段によって特定
された伝搬経路と発生原因とを論理回路内に表示する。
【0014】請求項3に記載のイベント発生原因解析装
置は、請求項1または2記載のイベント発生原因解析装
置であって、イベント検出手段は不定値となるイベント
を検出する。
【0015】請求項4に記載の論理不具合検出装置は、
回路を論理シミュレートするためのシミュレーション手
段と、論理回路内の信号線を指定するための指定手段
と、論理回路の修正を行なうための修正手段と、シミュ
レーション手段による論理シミュレート時に発生する指
定手段により指定された論理回路内の信号線の値と、シ
ミュレーション手段による論理シミュレート時に発生す
る指定手段により指定された信号線の修正後の論理回路
における値とを比較して不具合を検出するための不具合
検出手段とを含む。
【0016】不具合検出手段は、修正前の論理回路にお
ける指定手段により指定された信号線の値と、修正後の
論理回路における指定手段により指定された信号線の値
とを比較することにより不具合を検出している。したが
って、修正前後における論理回路内の同一の信号線の値
が一致しない場合には、修正により論理回路内に不具合
が発生していると判定する。
【0017】請求項5に記載のイベント発生原因解析方
法は、回路の論理シミュレート時に発生するイベント伝
搬情報を格納するステップと、指定された条件と一致す
るイベントを検出するステップと、格納されたイベント
伝搬情報を参照し、検出されたイベントからバックトレ
ースして発生原因を特定するステップとを含む。
【0018】格納されたイベント伝搬情報を参照し、指
定された条件と一致するイベントから順次バックトレー
スすることにより発生原因を特定している。したがっ
て、イベントの発生原因を自動的に特定することが可能
となる。
【0019】請求項6に記載のイベント発生原因解析プ
ログラムを記録した媒体は、回路の論理シミュレート時
に発生するイベント伝搬情報を格納するステップと、指
定された条件と一致するイベントを検出するステップ
と、格納されたイベント伝搬情報を参照し、検出された
イベントからバックトレースして発生原因を特定するス
テップとを含む。
【0020】格納されたイベント伝搬情報を参照し、指
定された条件と一致するイベントから順次バックトレー
スすることにより発生原因を特定している。したがっ
て、イベントの発生原因を自動的に特定することが可能
となる。
【0021】
【発明の実施の形態】図1は、本発明のイベント発生原
因解析装置の外観を示す図である。イベント発生原因解
析装置は、コンピュータ本体1、グラフィックディスプ
レイ装置2、磁気テープ4が装着される磁気テープ装置
3、キーボード5、マウス6、CD−ROM(Compact
Disk-Read Only Memory )8が装着されるCD−ROM
装置7、および通信モデム9を含む。後述するようにイ
ベント発生原因解析プログラムは、磁気テープ4または
CD−ROM8等の記録媒体によって供給される。イベ
ント発生原因解析プログラムはコンピュータ本体1によ
って実行され、操作者はグラフィックディスプレイ装置
2を見ながらキーボード5またはマウス6を操作するこ
とによってイベントの発生原因を解析する。また、イベ
ント発生原因解析プログラムは他のコンピュータにより
通信回線を経由し、通信モデム9を介してコンピュータ
本体1に供給されてもよい。
【0022】図2は、本発明のイベント発生原因解析装
置の構成を示すブロック図である。図1に示すコンピュ
ータ本体1は、CPU(Centeral Processing Unit)1
0、ROM(Read Only Memory)11、RAM(Random
Access Memory)12およびハードディスク13を含
む。CPU10は、グラフィックディスプレイ装置2、
磁気テープ装置3、キーボード5、マウス6、CD−R
OM装置7、通信モデム9、ROM11、RAM12ま
たはハードディスク13との間でデータを入出力しなが
ら処理を行なう。磁気テープ4またはCD−ROM8に
記録されたイベント発生原因解析プログラムは、CPU
10によって磁気テープ装置3またはCD−ROM装置
7を介して一旦ハードディスク13に格納される。CP
U10は、ハードディスク13から適宜イベント発生原
因解析プログラムをRAM12にロードして実行するこ
とによってイベントの発生原因が解析される。以下、本
発明の各実施の形態におけるイベント発生原因解析装置
について説明するが、図1に示すイベント発生原因解析
装置の外観および図2に示すイベント発生原因解析装置
の構成ブロック図は各実施の形態において共通である。
【0023】[実施の形態1]図3は、本発明の実施の
形態におけるイベント発生原因解析装置の概略構成を示
すブロック図である。この装置はHDL記述21を論理
合成(22)することにより得られたネットリスト23
またはスケマティックエディタによって作成された論理
回路24の論理シミュレートを行なうための論理シミュ
レータ25、指定された条件と一致するイベントを検出
するための特定イベント検出装置27、論理シミュレー
タ25により得られたイベント伝搬情報40と特定イベ
ント検出装置27が検出した特定イベントまたはユーザ
により指定されたユーザ指定イベント30とに基づいて
イベントの発生原因を特定するためのイベント発生原因
特定装置28、およびイベント発生原因特定装置28に
よって特定されたイベントの発生原因とイリーガルイベ
ント伝搬パス31とを画面に表示された論理回路上に、
またはテキスト情報として表示するためのイベント伝搬
パス表示装置29を含む。
【0024】図4は、論理シミュレータ25により論理
シミュレート時に生成されるイベント伝搬情報40のデ
ータ構造を示す図である。イベント伝搬情報40は、回
路内で発生したイベントの信号線名41、伝搬元信号線
へのポインタ42、イベント発生時間43、イベントが
発生する前の信号線の値であるイベント前信号線値4
4、イベントが発生した後の信号線の値であるイベント
後信号線値45、当該信号線が入力されるインスタンス
名46−1〜46−n、および伝搬先信号線へのポイン
タ47−1〜47−nを含む。このように、イベント伝
搬情報を双方向リストの形で表現することにより、イベ
ントのバックトレースを容易に行なえるようにしてい
る。
【0025】図5(a)は、論理シミュレータ25によ
って論理シミュレートされる回路図の一例を示してい
る。また、図5(b)は、図5(a)に示す回路図を論
理シミュレートする際に生成されるイベント伝搬情報を
示している。たとえば、図5(a)に示すインスタンス
I1の入力信号線Gが変化することにより、インスタン
スI3の出力信号線Aが変化したとする。この場合、信
号線名Gに関するイベント伝搬情報40−1、信号線名
Dに関するイベント伝搬情報40−2、信号線名Bに関
するイベント伝搬情報40−3、および信号線名Aに関
するイベント伝搬情報40−4が順に生成される。
【0026】また、イベント伝搬情報には、論理シミュ
レート前に指定された特定信号線の全イベントを記憶す
る値変化情報が付加される。この値変化情報は、特定信
号線にイベントが発生した場合の発生時刻とイベント伝
搬情報へのポインタとを含む。たとえば、論理シミュレ
ート前に信号線Aが特定信号線として指定された場合、
図5(c)に示す値変化情報が生成される。この値変化
情報を参照することにより、イベント発生時間103の
イベント伝搬情報が40−4であることがわかり、その
イベント伝搬情報40−4をバックトレースすることに
より、イベントの発生原因が信号線Gの変化によるもの
であることがわかる。
【0027】図6は、論理シミュレータ25および特定
イベント検出装置27をより詳細に説明するための図で
ある。論理シミュレータ25は、図3に示すネットリス
ト23または論理回路24に基づいて論理シミュレート
を行なう際に、上述したイベント伝搬情報40およびイ
ベント発生情報32を生成する。論理シミュレータ25
は、論理シミュレート時に発生するイベントをRAM1
2内に記憶しており、この記憶されたイベントがイベン
ト発生情報32である。論理シミュレート終了後は、こ
のイベント発生情報32は保持されていない。特定イベ
ント検出装置27は、このイベント発生情報32を監視
しており、指定したイベント発生条件33と一致するイ
ベントが発生した場合そのイベントをトリガし、イベン
ト伝搬情報40を参照して当該イベントへのポインタ3
4を出力する。
【0028】イベント発生条件33としては、たとえば
指定した信号線にイベントが発生した場合、ある信号線
がある値であるときに別の信号線にイベントが発生した
場合、またはこれらの2つのイベントが特定の時間もし
くは時間区間に発生した場合等が挙げられる。特定イベ
ント検出装置27は、イベントをトリガしたときに論理
シミュレータ25に対して論理シミュレートを中断させ
る機能を有する。
【0029】図7は、イベント発生原因特定装置28の
処理手順を示すフローチャートである。まず、イベント
発生原因特定装置28は、ユーザによって指定されたユ
ーザ指定イベント30とイベント伝搬情報40とを参照
し、イベント伝搬情報40内の値変化情報からユーザ指
定イベントへのポインタ35を抽出する(S1)。ユー
ザは、信号線名とイベント発生時間、または画面に表示
された波形図上でイベントを指定することによって、直
接イベントを指定することもできる。指定された信号線
名がイベント伝搬情報40内に値変化情報として存在す
る場合は、当該イベントへのポインタ34が抽出され
る。また指定された信号線名が値変化情報として存在し
ない場合は、イベント伝搬情報40内の全イベントを検
索して当該イベントへのポインタ35が抽出される。
【0030】イベント発生原因特定装置28は、特定イ
ベント検出装置27が検出したイベントへのポインタ3
4またはユーザ指定イベント30から抽出されたイベン
トへのポインタ35を参照して、ポインタが示すイベン
トについてイベント伝搬元方向にバックトレースする
(S2)。そして、伝搬元のイベントのイベント伝搬情
報40を参照し、伝搬元へのポインタ42がnilであ
るか否かを判定する(S3)。
【0031】伝搬元へのポインタ42が、nilでない
場合(S3,not nil)、ステップS2へ戻り処
理を繰返す。
【0032】また、伝搬元へのポインタ42がnilで
ある場合(S3,nil)、このイベントをイベント発
生原因と特定し、イベント発生信号線36およびイベン
ト伝搬パス37を出力する(S4)。
【0033】図3のイベント伝搬パス表示装置29は、
以上の処理により抽出されたイベント発生信号線36と
イベント伝搬パス37とを画面に表示された論理回路図
上にハイライト表示するか、またはテキストデータの形
で表示する。
【0034】以上説明したように、本実施の形態におけ
るイベント発生原因解析装置は、論理回路の不具合等に
よって生じるイリーガルなイベントの発生原因およびイ
ベント伝搬パスを、特定イベントからバックトレースす
ることにより自動的に検出することが可能となる。
【0035】[実施の形態2]実施の形態2におけるイ
ベント発生原因解析装置は、図3に示す実施の形態1に
おけるイベント発生原因解析装置の構成と同じであるの
で詳細な説明は繰返さない。ただし、図3の特定イベン
ト検出装置27、イベント発生原因特定装置28、およ
びイベント伝搬パス表示装置29の機能が異なる。した
がって本実施の形態における特定イベント検出装置の参
照符号を27′、イベント発生原因特定装置の参照符号
を28′、イベント伝搬パス表示装置の参照符号を2
9′として説明する。
【0036】通常の論理シミュレート時において最も多
く発生するのは、入力端子への入力パターンの未設定や
記憶素子の初期化ミス等による不定値である。特定イベ
ント検出装置27′は、このような信号線の不定値を検
出して論理シミュレータ25による論理シミュレートを
停止させる。そして、特定イベント検出装置27′は、
この不定値が発生したイベントへのポインタ34をイベ
ント発生原因特定装置28′へ送出する。
【0037】イベント発生原因特定装置28′は、イベ
ントへのポインタ34とイベント伝搬情報40とを参照
し、バックトレースすることにより最後に不定値となっ
ている信号線をイベント発生信号線36として確定す
る。
【0038】図8は、不定値が発生した場所を判定する
処理手順を説明するためのフローチャートである。ま
ず、イベント発生信号線36の発生場所を判定する(S
5)。発生場所が入力ピンである場合(S6)、イベン
ト伝搬パス表示装置29′は入力ピンデータが未定義で
あることを警告する(S7)。また、不定値の発生場所
が記憶素子の出力端子であれば(S8)、イベント伝搬
パス表示装置29′は当該記憶素子のセット端子、リセ
ット端子またはクロック端子の状態を報告する(S
9)。また、不定値の発生場所が信号線またはバスであ
る場合(S10)、当該信号線またはバスをドライブす
る全インスタンスをネットリスト23または論理回路2
4から抽出しその出力値を表示する(S11)。
【0039】以上説明したように、本実施の形態におけ
るイベント発生原因解析装置は、論理検証の初期段階で
発生する信号線の不定値の原因特定を効率的に行なうこ
とが可能となる。
【0040】[実施の形態3]図9は、実施の形態3に
おける論理不具合検出装置の概略構成を示すブロック図
である。本実施の形態における論理不具合検出装置は、
図3に示す実施の形態1におけるイベント発生原因解析
装置と比較して、論理シミュレータの機能が追加された
点と、不具合検出装置53が付加された点においてのみ
異なる。したがって重複する部分の構成および機能の詳
細な説明は繰返さない。また、論理シミュレータの参照
符号を25′として説明する。
【0041】実施の形態1におけるイベント発生原因解
析装置と同様にして検出されたイリーガルイベントの発
生原因に基づいて、論理回路が修正された場合、当該イ
リーガルイベントの発生原因が解決されるだけであれば
よいば、それまで正常に動作していた論理回路に新たな
イリーガルイベントが発生する可能性がある。これを解
決するために、論理シミュレータ25′は、論理回路の
修正によって影響を受けると予測される信号線(指定信
号線51)が指定され、論理シミュレート時にその信号
線値52を出力する。不具合検出装置53は、修正前の
論理回路における信号線値52と修正後の論理回路にお
ける信号線値52とを比較することにより、論理回路の
不具合を検出する。
【0042】図10は、本実施の形態における論理不具
合検出装置の処理手順を示すフローチャートである。ま
ず、図3を用いて説明した実施の形態1におけるイベン
ト発生原因解析装置と同様にイリーガルイベントを検出
する(S12)。
【0043】論理シミュレータ25′は、イリーガルイ
ベントをトリガした段階で論理シミュレートを中断する
(S13)。そして、ユーザによって指定信号線51が
指定され(S14)、指定信号線51の信号線値52が
不具合検出装置53によって記憶される(S15)。
【0044】ユーザは、イリーガルイベントが発生した
論理回路を修正し(S16)、論理シミュレータ25′
による論理シミュレートが再度行なわれる(S17)。
そして、ステップS13においてイリーガルイベントを
トリガした時間と同じ時間に論理シミュレートを停止さ
せる(S18)。
【0045】論理修正前の信号線値52と論理修正後の
信号線値52とを比較し(S19)、不具合検出装置5
3は値の異なる信号線値を出力する(S20)。
【0046】以上説明したように、本実施の形態におけ
る論理不具合検出装置は、論理修正前後の信号線値を比
較することにより、論理修正により新たに回路の不具合
が発生したか否かを確認することが可能となる。また、
不具合が発生した場合、設計者が不具合の原因を解析し
て原因イベントを特定し、この原因イベントをユーザ指
定イベント30としてイベント発生原因解析装置で解析
することが可能である。さらに、値の不一致が発生した
信号線の発生イベントをイベント発生条件33としてイ
ベント発生原因解析装置で解析することも可能である。
【0047】
【発明の効果】請求項1におけるイベント発生原因解析
装置によれば、指定された条件と一致するイベントから
バックトレースして発生原因を特定するようにしたの
で、イリーガルイベントの発生原因を自動的に検出する
ことが可能になった。
【0048】請求項2におけるイベント発生原因解析装
置によれば、イリーガルイベントの発生原因と伝搬経路
とを論理回路内に表示するので、イリーガルイベントの
発生原因と伝搬経路とを容易に把握することが可能とな
った。
【0049】請求項3におけるイベント発生原因解析装
置によれば、不定値となるイリーガルイベントを検出す
るようにしたので、論理検証の初期段階で発生する不定
値の発生原因および伝搬経路を効率的に特定することが
可能となった。
【0050】請求項4における論理不具合検出装置によ
れば、修正前後の論理回路における信号線値を比較して
不具合を検出するようにしたので、論理回路の修正によ
り新たに発生するイリーガルイベントを容易に確認する
ことが可能となった。
【0051】請求項5におけるイベント発生原因解析方
法によれば、指定された条件と一致するイベントからバ
ックトレースして発生原因を特定するようにしたので、
イリーガルイベントの発生原因を効率的に特定すること
が可能となった。
【0052】請求項6におけるイベント発生原因解析プ
ログラムを記録した媒体によれば、指定された条件と一
致するイベントからバックトレースして発生原因を特定
するようにしたので、イリーガルイベントの発生原因を
効率的に検出することが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のイベント発生原因解析装置の外観を
示す図である。
【図2】 本発明のイベント発生原因解析装置の構成を
示すブロック図である。
【図3】 本発明の実施の形態1におけるイベント発生
原因解析装置の構成を示すブロック図である。
【図4】 本発明のイベント伝搬情報のデータ構造を示
す図である。
【図5】 (a)は、論理回路の一例を示す図である。
(b)は、論理シミュレート時に生成されるイベント伝
搬情報の一例を示す図である。(c)は、値変化情報の
一例を示す図である。
【図6】 本発明の実施の形態1における論理シミュレ
ータ25および特定イベント検出装置27をより詳細に
説明するための図である。
【図7】 イベント発生原因特定装置28の処理手順を
示すフローチャートである。
【図8】 本発明の実施の形態2におけるイベント発生
原因解析装置の処理手順を示すフローチャートである。
【図9】 本発明の実施の形態3における論理不具合検
出装置の概略構成を示すブロック図である。
【図10】 本発明の実施の形態3における論理不具合
検出装置の処理手順を示すフローチャートである。
【図11】 従来の技術を説明するための論理回路の一
例を示す図である。
【図12】 従来のイリーガルイベントの発生原因を特
定する方法を説明するための図である。
【符号の説明】
1 コンピュータ本体、2 グラフィックディスプレイ
装置、3 磁気テープ装置、4 磁気テープ、5 キー
ボード、6 マウス、7 CD−ROM装置、8 CD
−ROM、9 通信モデム、10 CPU、11 RO
M、12 RAM、13 ハードディスク装置、25
論理シミュレータ、27 特定イベント検出装置、28
イベント発生原因特定装置、29 イベント伝搬パス
表示装置、53 不具合検出装置。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回路の論理シミュレート時に発生するイ
    ベント伝搬情報を格納するための格納手段と、 指定された条件と一致するイベントを検出するためのイ
    ベント検出手段と、 前記格納手段に格納されたイベント伝搬情報を参照し、
    前記イベント検出手段によって検出されたイベントから
    バックトレースして発生原因を特定するためのイベント
    発生原因特定手段とを含むイベント発生原因解析装置。
  2. 【請求項2】 前記イベント発生原因解析装置はさら
    に、論理回路を表示するための表示手段を含み、 前記イベント発生原因特定手段は、前記格納手段に格納
    されたイベント伝搬情報を参照し、前記イベント検出手
    段によって検出されたイベントから順にバックトレース
    して該イベントの伝搬経路と発生原因とを特定し、 前記表示手段は、前記イベント発生原因特定手段によっ
    て特定された伝搬経路と発生原因とを前記論理回路内に
    表示する、請求項1記載のイベント発生原因解析装置。
  3. 【請求項3】 前記イベント検出手段は、不定値となる
    イベントを検出する、請求項1または2記載のイベント
    発生原因解析装置。
  4. 【請求項4】 回路を論理シミュレートするためのシミ
    ュレーション手段と、 論理回路内の信号線を指定するための指定手段と、 前記論理回路の修正を行なうための修正手段と、 前記シミュレーション手段による論理シミュレート時に
    発生する前記指定手段により指定された論理回路内の信
    号線の値と、前記シミュレーション手段による論理シミ
    ュレート時に発生する前記指定手段により指定された信
    号線の前記修正後の論理回路における値とを比較して不
    具合を検出するための不具合検出手段とを含む論理不具
    合検出装置。
  5. 【請求項5】 回路の論理シミュレート時に発生するイ
    ベント伝搬情報を格納するステップと、 指定された条件と一致するイベントを検出するステップ
    と、 前記格納されたイベント伝搬情報を参照し、前記検出さ
    れたイベントからバックトレースして発生原因を特定す
    るステップとを含むイベント発生原因解析方法。
  6. 【請求項6】 回路の論理シミュレート時に発生するイ
    ベント伝搬情報を格納するステップと、 指定された条件と一致するイベントを検出するステップ
    と、 前記格納されたイベント伝搬情報を参照し、前記検出さ
    れたイベントからバックトレースして発生原因を特定す
    るステップとを含むイベント発生原因解析プログラムを
    記録した媒体。
JP9167266A 1997-06-24 1997-06-24 イベント発生原因解析装置および方法、論理不具合検出装置、ならびにイベント発生原因解析プログラムを記録した媒体 Withdrawn JPH1115864A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9167266A JPH1115864A (ja) 1997-06-24 1997-06-24 イベント発生原因解析装置および方法、論理不具合検出装置、ならびにイベント発生原因解析プログラムを記録した媒体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9167266A JPH1115864A (ja) 1997-06-24 1997-06-24 イベント発生原因解析装置および方法、論理不具合検出装置、ならびにイベント発生原因解析プログラムを記録した媒体

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1115864A true JPH1115864A (ja) 1999-01-22

Family

ID=15846558

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9167266A Withdrawn JPH1115864A (ja) 1997-06-24 1997-06-24 イベント発生原因解析装置および方法、論理不具合検出装置、ならびにイベント発生原因解析プログラムを記録した媒体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1115864A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010134598A (ja) * 2008-12-03 2010-06-17 Renesas Technology Corp 論理検証装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010134598A (ja) * 2008-12-03 2010-06-17 Renesas Technology Corp 論理検証装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4970664A (en) Critical path analyzer with path context window
US6195629B1 (en) Method and system for selectively disabling simulation model instrumentation
US20060080626A1 (en) Visualization method and apparatus for logic verification and behavioral analysis
JP4657912B2 (ja) 設計装置および設計方法とそのプログラム
US7389482B2 (en) Method and apparatus for analyzing post-layout timing violations
US6934656B2 (en) Auto-linking of function logic state with testcase regression list
US6427233B1 (en) Method for addressing the dynamic windows
JPH1115864A (ja) イベント発生原因解析装置および方法、論理不具合検出装置、ならびにイベント発生原因解析プログラムを記録した媒体
US20070217679A1 (en) Abnormal pattern detection program for function call in source program
JPH0561931A (ja) シミユレーシヨン装置
US7174530B2 (en) System and method of design for testability
US5937182A (en) Design verification system using expect buffers
JP2003271694A (ja) プロセッサを含む論理回路の検証用シミュレーション方法及び装置並びに論理回路検証用エラー検出プログラム
JPH0926897A (ja) プログラム解析装置及びプログラム解析方法
US11782682B2 (en) Providing metric data for patterns usable in a modeling environment
JP2795332B2 (ja) ループ処理誤り検出装置
JP2525393B2 (ja) 論理シミュレ−ションのテストカバレ−ジ方式
JPH07129430A (ja) プログラムの試験方法
JP2001331344A (ja) 組み込みシステムの障害情報トレーサ装置
JP2004145670A (ja) テストベンチ生成方法、テストベンチ生成装置、及びコンピュータプログラム
JP3171236B2 (ja) 入力端子競合パターン検出システム
JPH10232795A (ja) ソフトウェア部品組み合わせテスト方法
JPH0773232A (ja) Hdl解析における回路情報抽出装置
CN117421165A (zh) 一种芯片测试需求分析方法、装置及介质
JPH0736953A (ja) 論理シミュレーション結果解析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20040907