JPH10232795A - ソフトウェア部品組み合わせテスト方法 - Google Patents

ソフトウェア部品組み合わせテスト方法

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JPH10232795A
JPH10232795A JP9034629A JP3462997A JPH10232795A JP H10232795 A JPH10232795 A JP H10232795A JP 9034629 A JP9034629 A JP 9034629A JP 3462997 A JP3462997 A JP 3462997A JP H10232795 A JPH10232795 A JP H10232795A
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JP
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software component
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test
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JP9034629A
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Nobuo Saeki
信夫 佐伯
Chiaki Hirai
千秋 平井
Osamu Yano
理 矢野
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ソフトウェア部品内の構造を調べずに網羅性を
保証した組み合わせテストができるようにすることを目
的とする。 【解決手段】網羅性を保証できる単体テスト用データを
持つソフトウェア部品を使い作成したプログラムの組み
合わせテストを行う組み合わせテスト方法において、単
体テスト用データを単体テスト用データ格納ファイルに
予め格納し、プログラムをプログラム格納ファイルに予
め格納しておき、組み合わせテスト用データを入力し、
組み合わせテストを行う際に、ソフトウェア部品ヘ入力
された入力データを入力データ格納ファイルに格納し、
単体テスト用データ格納ファイルに格納された単体テス
ト用データと、入力データ格納ファイルに格納された入
力データを比較していないパスの入力データを得ること
で、ソフトウェア部品内の構造を調べずに網羅性を保証
した組み合わせテストを可能にする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はソフトウェア部品組
み合わせテスト方法に係わり、例えば、流通しているソ
フトウェア部品を組み合わせて作成したプログラムの組
み合わせテストに用いて好適なものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、迅速な開発、コスト削減、信
頼性向上のためにプログラムを部品化し再利用すること
が望まれてきていた。
【0003】ソフトウェア部品とは、他のプログラムか
ら呼び出すことができるプログラムのことである。 例
えば、Fortranのサブルーチン、Cの関数、Javaのアプレ
ット、IntelligentPadのパッド、OLE、DDE、CORBA対応
のプログラム等を指す。
【0004】従来においてもCやFortranを使い、ソフト
ウェア部品を利用できたが、特に近年、OLE、 DDE、 CO
RBA、Java等の技術により、ソフトウェア部品の組み合
わせが容易になってきた。即ち、ソフトウェア部品を作
るメーカーが、作ったソフトウェア部品を流通させ、ソ
フトウェア部品の組み合わせをユーザ側が行うことが容
易になってきた。そうなると、ソフトウェア部品を作成
する人と、ソフトウェア部品を組み合わせてプログラム
を作成する人が異なることになる。また、ソフトウェア
部品を組み合わせて作成したプログラムのテストを行な
う人は、ソフトウェア部品の中身の全てを知ることが困
難となる。
【0005】ところで、テストとは、バグが無いことを
保証するものではなく、バグを見つけやすくするように
テストデータを作成し、プログラムを実行するすること
である。バグが無いことを保証することはできないの
で、テストにおける信頼性の保証は、故障検出曲線によ
る判断が行われてきた。しかし、網羅性が保証されない
と、その曲線からの判断を間違えることになる。(「ワ
インバーグのシステム思考法」、大野佝郎他、共立出
版、1994、p216〜p232)簡単に言うと、テ
ストでエラーが検出されにくくなってきたら、バグは無
くなってきているだろうと判断するということである。
しかし、プログラム中にテストしていない部分があると
その判断は間違いである。すなわち、網羅性を保証した
テストをおこなう必要がある。
【0006】さて、網羅性を保証した組み合わせテスト
を行うために、従来方法では、未通過ルートの検出を
し、未通過ルートの情報を基に、プログラムを調べ、試
験者がテストデータを作成していた。
【0007】例えば、特開昭62-305435「プログラム試
験装置」では、プログラム構造に関する情報のデータベ
ースを利用してテストパスを作成し、未通過ルートユニ
ットを検索して出力し、出力された未通過ルートユニッ
トを基に、試験者が未通過ルートユニットを走行するテ
ストパスを生成する方法が示されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来方法では、網羅性
を保証した組み合わせテストを行なう為には、ソフトウ
ェア部品内の構造を調べる必要がある。
【0009】例えば、上記特開昭62-305435「プログラ
ム試験装置」で示された方法では、試験者が、未通過ル
ートユニットを走行するテストパスを生成することがで
きるとしているが、与えられる情報は未通過ルートユニ
ットだけであり、プログラム構造を調べて作成する必要
がある。
【0010】しかし、流通されたソフトウェア部品の場
合、ソフトウェア部品を作る人と、それを組み合わせて
プログラムを作成する人は異なり、組み合わせテスト用
データを作成するためにソフトウェア部品の構造を調べ
ることは容易ではない。また、ソフトウェア部品がバイ
ナリ形式であったりプロテクトがかかっている場合、網
羅性を保証した組み合わせテストを行うことは不可能で
ある。
【0011】本発明は上述の問題点にかんがみ、ソフト
ウェア部品内の構造を調べることなく、網羅性を保証し
た組み合わせテストを行うことを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】網羅性を保証できる単体
テスト用データを持つソフトウェア部品を使って作成し
たプログラムの組み合わせテストを行なうソフトウェア
部品組み合わせテスト方法において、上記単体テスト用
データを単体テスト用データ格納ファイルに予め格納
し、上記プログラムをプログラム格納ファイルに予め格
納しておき、組み合わせテストを行なう際に、ソフトウ
ェア部品へ入力された入力データを入力データ格納ファ
イルに格納するテスト処理を行い、単体テスト用データ
格納ファイルに格納された単体テスト用データと、入力
データ格納ファイルに格納された入力データを比較して
テストしていないパスを得る比較処理を行い、テストし
ていないパスを通過するソフトウェア部品への入力デー
タを表示することにより、ソフトウェア部品内の構造を
調べることなく網羅性を保証した組み合わせテストを行
うことができるようにする。
【0013】また、本発明の他の特徴とする所は、上記
単体テスト用データ格納ファイルは、値を範囲で示す単
体テスト用データを格納するすることを特徴とする。
【0014】また、本発明の他の特徴とする所は、上記
単体テスト用データ格納ファイルは、網羅性が保証で
き、機能名が付いた単体テスト用データを格納し、上記
表示処理は、テストしていないパスを通過するソフトウ
ェア部品への入力データと、そのパスの機能名を表示す
ることを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明のソフトウェア部品
組み合わせテスト方法の一実施例を図面を用いて具体的
に説明する。
【0016】なお、本発明は、組み合わせテストにおけ
るソフトウェア部品の網羅性を保証する手段を特徴とす
るものであり、網羅性を保証できる単体テスト用データ
作成方法と、フレームワークのテスト方法は、従来方法
又はそれと同等の方法を用いても構わないため、具体的
な説明は行なわない。また、網羅性を保証できる組み合
わせテスト用データは、ソフトウェア部品と共に、予め
作成されているものとする。
【0017】図1は、本発明の一実施例を示し、本実施
例のソフトウェア部品組み合わせテスト方法の処理概要
を示すフローチャートである。
【0018】図1に示すように、本実施例のソフトウェ
ア部品組み合わせテスト方法は、網羅性を保証できる単
体テスト用データを単体テスト用データ格納ファイル6
に予め格納し、網羅性を保証できる単体テスト用データ
を持つソフトウェア部品を使って作成したプログラムを
プログラム格納ファイル5に予め格納しておき、組み合
わせテスト用データを入力し、プログラム格納ファイル
5に格納されているプログラムを、入力された組み合わ
せテスト用データに基づいて組み合わせテストをする際
に、ソフトウェア部品に入力される入力データを入力デ
ータ格納ファイル7に格納するテスト処理1を行い、入
力データ格納ファイル7に格納された入力データと、単
体テスト用データ格納ファイルに格納された単体テスト
用データを比較し、テストしていないパスを得る比較処
理2を行い、テストしていないパスのテストの為に必要
な、ソフトウェア部品への入力データを表示する表示処
理3を行い、テストする必要があるにもかかわらずテス
トしていないパスがあれば、テストしていないパスをテ
ストするような組み合わせテスト用データを作成し、テ
スト処理以下を同様に処理する。
【0019】組み合わせテスト用データを作成する際
に、テストしていないパスのテストの為に必要な、ソフ
トウェア部品への入力データを得ることで、ソフトウェ
ア部品内の構造を調べることなく、組み合わせテスト用
データを作成することができる。
【0020】テストする必要があるパスを全てテストし
ている場合、処理を終了する。
【0021】次に、上記処理を行なう計算機システムの
構成図を図面を用いて説明する。
【0022】図2に示すように、計算機システムは入力
装置201とCPU202と記憶装置203と表示装置
204から構成され、入力装置201は、テスト処理1
において、組み合わせテスト用データを入力し、CPU
202は、テスト処理1、比較処理2を行い、記憶装置
203は、単体テスト用データ格納ファイル6とプログ
ラム格納ファイル5と入力データ格納ファイル7を記憶
し、表示装置204は、表示処理3において、テストし
ていないパス名と、テストしていないパスの入力値を表
示する。
【0023】次に、本発明のソフトウェア部品組み合わ
せテスト方法の処理に必要な各データの詳細説明を行な
う。
【0024】ソフトウェア部品は、他のプログラムから
呼び出すことができるプログラムである。Fortra
n言語で言えばサブルーチンであり、C言語で言えば関
数である。
【0025】ソフトウェア部品を使い作成したプログラ
ムの中で、ソフトウェア部品以外の部分をフレームワー
クと呼ぶことにする。
【0026】単体テスト用データは、例えば、図7に示
すように、部品名701とパス名702と機能名703
と入力変数704と入力値705からなるものである。
【0027】単体テスト用データにおける部品名701
は、単体テスト用データが対象とするソフトウェア部品
の名前であり、パス名702は、ソフトウェア部品内の
パスに対する名前であり、異なるパスに対して異なる名
前が与えられているものであり、機能名703は、ソフ
トウェア部品の機能の名前であり、入力変数704は、
ソフトウェア部品内で使用される変数の中で、ソフトウ
ェア部品の外からの入力を得る変数の名称であり、入力
値705は、変数に入力される値である。特に、機能名
703は、テストしていないパスが必要な機能であるか
を判断するために表示処理で表示するためのものであ
る。テストしていないパスがあった時、それが必要な機
能であるのにテストしていないのか、不要な機能なので
テストしていないのか判断する必要がある。そのため
に、機能名を単体テスト用データに付ける。
【0028】網羅性を保証できる単体テスト用データと
は、ソフトウェア部品の全てのパスについてテストされ
ているならば、テスト中にそのソフトウェア部品の全て
のステップを実行していることが保証できる単体テスト
用データである。
【0029】次に、本発明のソフトウェア部品組み合わ
せテスト方法の処理に必要な各データ格納ファイルの詳
細説明を行なう。
【0030】本実施例のプログラム格納ファイル5は、
ソフトウェア部品を使い作成したプログラムを格納する
ために設けられているものである。プログラムは、フレ
ームワークと、複数のソフトウェア部品からなる。例え
ば、プログラム格納ファイル5は、図3に示すように、
フレームワーク301、ソフトウェア部品A302、ソ
フトウェア部品B303、ソフトウェア部品C304を
格納する。
【0031】また、単体テスト用データ格納ファイル6
は、網羅性を保証できる単体テスト用データを格納する
ために設けられているものである。単体テスト用データ
として、ソフトウェア部品毎にパス名と機能名と入力変
数名と入力値を格納する。例えば、図7に示すように単
体テスト用データを格納する。単体テスト用データの入
力値を範囲で与えることができる。これにより、連続値
についても単体テスト用データを与えることができるよ
うになる。
【0032】また、入力データ格納ファイル7は、テス
ト処理1で得る入力データを格納するために設けられて
いるものである。入力データとして、部品名801と、
入力変数802と、その入力変数に対する入力値803
を格納する。例えば、図8に示すように入力データを格
納する。
【0033】入力データにおける部品名は、テスト処理
実行の際に、入力を受けたソフトウェア部品の名前であ
り、入力変数802は、入力を受けたソフトウェア部品
の変数名であり、入力値803は、テスト処理実行の際
に、ソフトウェア部品に入力された値である。
【0034】次に、本発明のソフトウェア部品組み合わ
せテスト方法の各処理の詳細説明を行なう。
【0035】テスト処理1は、入力変数とその入力変数
に対する入力値からなる組み合わせテスト用データを入
力し、入力された結果と、プログラム格納ファイル5に
格納されたプログラムを基に、次のようにして入力デー
タ格納ファイル7にソフトウェア部品の入力データを格
納する。
【0036】すなわち、図9のフローチャートに示した
ように、処理がスタートすると、先ず、ステップ901
において、組み合わせテスト用データを入力し、ステッ
プ902の処理を行う。例えば、図10に示すように、
入力変数1001、入力個数1002、入力値1003
からなる組み合わせテスト用データが入力される。入力
変数1001は、入力が与えられるフレームワークの変
数で、入力値1003は、入力変数に与えられる値であ
り、入力個数1002は、入力値の個数である。ステッ
プ902において、入力された順に入力値をプログラム
格納ファイル5に格納されたプログラムに入力し、ステ
ップ903の処理を行う。
【0037】ステップ903において、プログラム格納
ファイルに格納されたプログラムを1ステップ毎に実行
し、ソフトウェア部品の実行時に、ソフトウェア部品へ
入力が発生した場合、ソフトウェア部品名と入力変数と
入力値からなる入力データを入力データ格納ファイル7
に格納する。このプログラムの実行が終了すれば、ステ
ップ904の処理を行う。
【0038】例えば、図8に示すように入力データを入
力データ格納ファイルに格納する。この入力データは、
図5に示されたソフトウェア部品Aと図6に示されたソ
フトウェア部品Bと図4に示されたフレームワークから
なるプログラムと図10に示された組み合わせテスト用
データを基に本実施例のテスト処理の処理を実行した結
果である。
【0039】ステップ904において、ステップ901
において入力された全ての組み合わせテスト用データに
対し、ステップ903の処理を行ったならばテスト処理
の処理を終了する。そうでなければ、ステップ902の
処理を行う。
【0040】次に、比較処理2は、入力データ格納ファ
イル7に格納されたソフトウェア部品の入力値と単体テ
スト用データ格納ファイル6に格納された単体テスト用
データを基に、次のようにしてテストされていないパス
名を表示処理に渡す。
【0041】すなわち、図11のフローチャートに示し
たように、処理がスタートすると、先ず、ステップ11
01において、全てのソフトウェア部品の同じ入力変数
の入力データの入力値と単体テスト用データの入力値を
比較し、単体テストデータの中の入力値の範囲に属する
かどうかを判定し、ステップ1102の処理を行う。
【0042】例えば、図8のソフトウェア部品Aの入力
変数vfiの入力値4、8、12、16の入力データに
ついては、すべて、図5のソフトウェア部品Aの単体テ
スト用データにおけるパスtに属することがわかる。ま
た、ソフトウェア部品Bの入力変数vfiの入力値1、
3、5、7の入力データについては、全て、図6のソフ
トウェア部品Bの単体テスト用データにおけるパスvに
属することがわかる。
【0043】ステップ1102において、ステップ11
01の比較結果、単体テスト用データ格納ファイルに格
納された単体テスト用データの入力値の範囲に属する入
力値を持たないパス名を表示処理に渡す。
【0044】例えば、図8のソフトウェア部品Aの入力
変数vfiの入力値4、8、12、16の入力データに
ついては、すべて、図3のソフトウェア部品Aの単体テ
スト用データにおけるパスtに属し、パスsのテストを
していないことがわかる。また、ソフトウェア部品Bの
入力変数vfiの入力値1、3、5、7の入力データに
ついては、全て、図6のソフトウェア部品Bの単体テス
ト用データにおけるパスvに属し、パスwのテストをし
ていないことがわかる。そこで、ソフトウェア部品Aの
バスsとその機能と変数名と入力値と、ソフトウェア部
品Bのバスwとその機能と変数名と入力値を表示処理3
に渡す。
【0045】次に、表示処理3は、比較処理2より渡さ
れたテストしていないパスを得て、テストしていないパ
スを通過するソフトウェア部品への入力値と変数名と機
能を表示する。例えば、図12に示すように機能と変数
名とテストしていないパス名とテストしていないパスの
入力値を表示する。図12のテストしていないパスは、
図8に示された入力データと、図5に示されたソフトウ
ェア部品Aの単体テスト用データと、図6に示されたソ
フトウェア部品Bの単体テスト用データを基に本実施例
の比較処理2を実行した結果である。
【0046】テストしていないパスが無かった場合、表
示処理3は、テストしているパスが無いと表示する。
【0047】表示処理3で表示された機能名によりテス
トしていないパスが必要な機能を含むかを判定すること
ができる。必要な機能があるテストしていないパスが存
在する場合、テストしていないパスに対する変数名と機
能名と入力値を基に、フレームワークを見て、ソフトウ
ェア部品にその入力が行われるように組み合わせテスト
用データを作成する。この際、ソフトウェア部品の入力
値が表示処理で表示されることにより、ソフトウェア部
品のプログラム構造を見ずに組み合わせテスト用データ
を作成する事ができる。
【0048】例えば、図12に示すように、ソフトウェ
ア部品Aに対する機能iの入力変数vfiの入力値20
以上25以下が与えられ、機能jでは入力変数vfiの
入力値25より上30以下が表示されているとする。機
能iが必要な機能で、機能jが使わない機能であるとす
る。その場合、機能iでのソフトウェア部品Aの入力変
数vfiの入力値が20以上25以下となるような組み
合わせテスト用データを一つ作成して追加すればよい。
例えば、20となるようにフレームワークを見ると、ス
テップ403でvfiが20となるようにすればよいの
であるから、ステップ402でvfiが20となるよう
にすればよく、ステップ401では、vfiが10とな
ればよい。即ち、組み合わせテストデータに入力変数v
fiの入力値10を追加すればよい。
【0049】こうして、図13に示すように組み合わせ
テスト用データを作成する。このように、ソフトウェア
部品のプログラム構造を見ずに組み合わせテスト用デー
タを作成する事ができる。
【0050】次に、作成した組み合わせテスト用データ
を入力し、再び本実施例の組み合わせテスト処理を行
う。
【0051】例えば、図13に示す組み合わせテスト用
データのように、新たに追加された組み合わせテスト用
データが10と11の場合、ソフトウェア部品Aに入力
変数vfiに入力値20が入力され、ソフトウェア部品
Bに入力変数vfiに入力値11が入力されるので、入
力データ格納ファイルにソフトウェア部品Aの入力変数
vfiに入力値20が、ソフトウェア部品Bに入力変数
vfiに入力値11が格納される。
【0052】テスト処理の処理の結果は、図14に示す
ソフトウェア部品の入力値の入力データのようになり、
その結果を基にした比較処理の処理の結果、テストされ
ていないパスをなくすことができる。
【0053】このようにして、テストすべき機能のパス
が全てテストされるまで、本実施例のソフトウェア組み
合わせテストを繰り返し行う。
【0054】上述したように、本実施例のソフトウェア
部品組み合わせテスト方法は、ソフトウェア部品の入力
と網羅性を保証した単体テスト用データを比較し、テス
トしていないパスを得る比較処理を設け、各ソフトウェ
ア部品における網羅性が保証されたテストデータが利用
されたかを調べることでソフトウェア部品の網羅性を保
証することにより、ソフトウェア部品の構造を調べるこ
となく網羅性を保証した組み合わせテストを可能にして
いる。ソフトウェア部品内の構造を調べる必要が無いと
いうことは、ソフトウェア部品がブラックボックスであ
っても網羅性が保証されたテストがを行うことができる
ということである。即ち、ソフトウェア部品がバイナリ
形式であったり、プロテクトがかかっている場合でも網
羅性を保証した組み合わせテストが可能になる。
【0055】
【発明の効果】本発明は上述したように、本発明によれ
ば、ソフトウェア部品内の構造を調べることなく、網羅
性を保証した組み合わせテストを行うことができる。こ
れにより、網羅性を保証した組み合わせテストを短時間
で実現する。ソフトウェア部品がブラックボックスであ
っても網羅性が保証されたテストがを行うことができ、
ソフトウェア部品がバイナリ形式であったり、プロテク
トがかかっている場合でも網羅性を保証した組み合わせ
テストが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のソフトウェア部品組み合わせテスト方
法の一実施例の処理概要を示すフローチャートである。
【図2】本発明のソフトウェア部品組み合わせテスト処
理を行う計算機システムの構成図である。
【図3】プログラム格納ファイルを詳細に示す図であ
る。
【図4】プログラム格納ファイルに格納されるフレーム
ワークの具体例を示すフローチャートである。
【図5】プログラム格納ファイルに格納されるソフトウ
ェア部品の具体例を示すフローチャートである。
【図6】プログラム格納ファイルに格納されるソフトウ
ェア部品の具体例を示すフローチャートである。
【図7】単体テスト用データ格納ファイルに格納される
単体テスト用データの具体例を示す図である。
【図8】入力データ格納ファイルに格納される入力デー
タの具体例を示す図である。
【図9】テスト処理実行時の処理の流れを示すフローチ
ャートである。
【図10】組み合わせテスト用データの具体例を示す図
である。
【図11】比較処理実行時の処理の流れを示すフローチ
ャートである。
【図12】表示処理に表示されるテストしていないパス
の具体例を示す図である。
【図13】組み合わせテスト用データの具体例を示す図
である。
【図14】表示処理に表示されるテストしていないパス
の具体例を示す図である。
【符号の説明】
1…テスト処理、2…比較処理、3…表示処理、5…プ
ログラム格納ファイル 6…単体テスト用データ格納ファイル、7…入力データ
格納ファイル

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】網羅性を保証できる単体テスト用データを
    持つソフトウェア部品を使って作成したプログラムの組
    み合わせテストを行なうソフトウェア部品組み合わせテ
    スト方法において、 上記単体テスト用データを単体テスト用データ格納ファ
    イルに予め格納し、上記プログラムをプログラム格納フ
    ァイルに予め格納しておき、組み合わせテスト用データ
    を入力し、組み合わせテストを行なう際に、ソフトウェ
    ア部品へ入力された入力データを入力データ格納ファイ
    ルに格納するテスト処理を行い、単体テスト用データ格
    納ファイルに格納された単体テスト用データと、入力デ
    ータ格納ファイルに格納された入力データを比較してテ
    ストしていないパスを得る比較処理を行い、テストして
    いないパスを通過するソフトウェア部品への入力データ
    を表示する表示処理を行なうことを特徴とするソフトウ
    ェア部品組み合わせテスト方法。
  2. 【請求項2】上記単体テスト用データ格納ファイルは、
    値を範囲で示す単体テスト用データを格納する請求項1
    に記載のソフトウェア部品組み合わせテスト方法。
  3. 【請求項3】上記単体テスト用データ格納ファイルは、
    網羅性が保証でき、機能名が付いた単体テスト用データ
    を格納し、上記表示処理は、テストしていないパスを通
    過するソフトウェア部品への入力データと、そのパスの
    機能名を表示することを特徴とする請求項1に記載のソ
    フトウェア部品組み合わせテスト方法。
JP9034629A 1997-02-19 1997-02-19 ソフトウェア部品組み合わせテスト方法 Pending JPH10232795A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007072652A1 (ja) * 2005-12-22 2007-06-28 Syunichi Niihara プログラム処理パターン自動解析処理装置
JP2009116847A (ja) * 2007-11-01 2009-05-28 Korea Electronics Telecommun ソフトウェア脆弱点点検装置及び方法
JP2010072883A (ja) * 2008-09-17 2010-04-02 Nec Corp プログラム検証装置、プログラム検証方法、及びプログラム

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