JP2001101255A - 機能テスト支援システム、機能テスト支援方法およびハードウエア記述モデル - Google Patents
機能テスト支援システム、機能テスト支援方法およびハードウエア記述モデルInfo
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Abstract
スト有無を機械的かつ確実に確認することを可能とする
機能テスト支援システムを提供する。 【解決手段】機能記述記憶部11に記憶されるIEEE
標準ハードウエア記述言語VHDLによる設計対象回路
の記述には、パッケージ記憶部12に記憶されたプロシ
ージャによりテスト項目がテストされたことをメッセー
ジ出力するステートメントが埋め込まれており、機能シ
ミュレーション実行部13がシミュレーションを実行す
ることによって、このメッセージがメッセージ記憶部1
4に記憶される。そして、レポート出力部16は、この
メッセージ記憶部14に記憶されるメッセージとテスト
情報記憶部15に記憶されるテストベクトル名とそれに
よりテストされるテスト項目との対応を示す情報とから
テスト毎にその全てのテストの項目がテストされている
か否かを判定し、その結果をレポート出力する。
Description
用いてハードウエアの設計を支援するCADシステムに
適用される機能テスト支援システム、機能テスト支援方
法およびハードウエア記述モデルに関する。
対象の機能をハードウエア記述言語(HDL)という言
語によって、要素動作の集合として記述し、これを機能
シミュレーションによって検証することが行なわれる。
この機能シミュレーションは、通常、設計対象LSIだ
けでなく、これらに接続する他のLSIのモデル(外部
モデル)を結合した形で行なわれる。たとえば、CPU
バスに接続するバスブリッジLSIの機能シミュレーシ
ョンは、CPUやメモリの外部モデルを結合し、設計対
象LSIのもつ機能や内部状態についてテスト項目を設
定し、このテスト項目を網羅するためのテストベクトル
を作成し、これを用いて、CPUからのメモリ書きこ
み、読み出しなどの動作が正しく行なえることを検証す
る(文献「PCI SourceModel User's Manual」Synopsys,
Inc.February 1999)。ここで、このメモリ書き込み、
読み出しなどの動作が正しく行なえることは、シミュレ
ーションの最後において読み出し、書き込みの値を期待
値比較する記述を外部モデルに書くことなどで容易に行
なうことができる。しかし、「設計者が設定したテスト
項目が満たされているか(テストされているか)」、す
なわち、「テストベクトルによって、シミュレーション
中のある時刻に設計対象LSIのモデルを所望の状態に
することができたか」は、設計対象モデル内の信号値を
トレースし、シミュレーション終了後に、トレース結果
のリストあるいは波形により確認する必要があり(文献
「ModelSim EEリファレンスマニュアル」株
式会社ソリトンシステムズ)、特に、「信号Aが1にな
った3サイクル以内にBが1になる」というような、複
数の信号の異なる時刻における関係を見なければテスト
項目が満たされたかどうかを確認できない場合など、確
認の手間がかかり、誤りが起こり易いという問題があっ
た。また、設計過程における機能記述の変更によって、
いままでのテスト項目が満たされなくなる場合は、テス
トベクトルの修正、追加が必要となるが、前述の波形を
確認するという方法では、これを見つけるのに手間がか
かるという問題もあった。
いては、複数の信号の異なる時刻における関係を見なけ
ればテスト項目が満たされたかどうかを確認できない場
合など、確認の手間がかかり、誤りが起こり易いという
問題があった。また、設計過程における機能記述の変更
によって、いままでのテスト項目が満たされなくなる場
合は、テストベクトルの修正、追加が必要となるが、前
述の波形を確認するという方法では、これを見つけるの
に手間がかかるという問題もあった。
れたものであり、シミュレーションによって設計者が設
定したテスト項目がテストされたかどうかを機械的かつ
確実に確認することを可能とし、また、機能記述の変更
によって意味がなくなったテスト項目や修正を必要とす
るテスト項目を容易に検出することも可能とし、さら
に、機能記述が再利用された場合においても、テストさ
れたテスト項目を明確にすることを可能とする機能テス
ト支援システム、機能テスト支援方法およびハードウエ
ア記述モデルを提供することを目的とする。
ために、この発明は、集積回路の機能をハードウェア記
述言語により1つまたはそれ以上の要素動作の集合とし
て記述した機能記述の機能テストを支援すべく、機能記
述を検証するための機能シミュレーションのテストベク
トルとそのテストベクトルによりテストされるテスト項
目との対応関係を記憶するとともに、機能シミュレーシ
ョンの実行に伴なって生成される、前記テスト項目の起
動条件が満たされたことを示す少なくともテスト項目名
を含むメッセージを記憶し、この記憶した情報からテス
トベクトル毎に各テスト項目のテスト有無を判定して、
その判定結果をレポート出力するようにしたものであ
る。
されているかどうかがレポート出力されるため、その確
認を機械的かつ確実に行なうことを可能とする。
が満たされたときに、少なくともそのテスト項目名を含
むメッセージを出力するステートメントを機能記述に埋
め込んでおき、このステートメントの実行により出力さ
れたメッセージを記憶するようにしたものである。
目名を埋め込み、これを活用することにより、テスト項
目がテストされているかどうかを容易に確認することを
可能とする。
の実行を監視し、テスト項目の起動条件が満たされたと
きに、少なくともそのテスト項目名を含むメッセージを
出力するモニタを設け、このモニタより出力されたメッ
セージを記憶するようにしたものである。
レーションの実行を監視して出力するメッセージを活用
することにより、テスト項目がテストされているかどう
かを容易に確認することを可能とする。
ドウェア記述言語により1つまたはそれ以上の要素動作
の集合として記述した機能記述の機能テストを支援すべ
く、機能記述を検証するための機能シミュレーションの
実行に伴なって生成される、予め設定されたテスト項目
の起動条件が満たされたことを示す少なくともテスト項
目名とテストベクトル名とを含むメッセージを記憶し、
この記憶した情報からテストベクトル毎に各テスト項目
のテスト有無を判定し、その判定結果をレポート出力す
るようにしたものである。
されているかどうかがレポート出力されるため、その確
認を機械的かつ確実に行なうことを可能とする。
ションの期待値比較結果を記憶し、この記憶した情報と
メッセージとからテストベクトル毎に各テスト項目の合
否を判定し、その判定結果をレポート出力するようにし
たものである。
れたか否かを考慮したシミュレーション結果の合否を容
易に確認することを可能とする。
毎にテスト項目のテスト有無の割合を出力するようにし
たものである。
容易に把握することを可能とする。
ブセットを指定し、この指定したテスト項目が関連する
テストベクトルについてのみ、その結果を出力するよう
にしたものである。
ついてのみのレポートを得ることを可能とする。
されるステートメントからテスト項目の一覧を生成して
表示するようにしたものである。
れたテスト項目を容易に把握することを可能とする。
明の実施形態を説明する。
施形態を説明する。
能テスト支援システムの構成図を示す。
ドウエア記述言語VHDLによる設計対象回路の記述で
あって、テスト項目がテストされたことをメッセージ出
力するステートメントを含む記述を記憶する。図2に機
能記述記憶部11に記憶される機能記述の例を示す。
たことをメッセージ出力するステートメントである。た
とえば、a2は、ステートマシンC_STATE1とC
_STASTE2の状態がそれぞれS11、S23であ
って、外部入力IINT(2)が1のときに、FUNC
001というテスト項目がテストされたことをメッセー
ジ出力する。
ストされたことをメッセージ出力するために使用される
VHDLプロシジャcheck_assertを記憶す
る。図3にcheck_assertの定義を示す。c
heck_assertは、テスト項目を引数に与える
ことによって図4のようなメッセージを標準出力ファイ
ルSTD_OUTに出力する。
記述記憶部11とパッケージ記憶部12に記憶されたV
HDL記述を結合し、シミュレーションを行なう。
ン実行の結果check_assertによって出力さ
れた図4の形式のメッセージをテストベクトル毎に、テ
ストベクトル名.outというファイルに記憶する。
テストベクトル名とそれによりテストされるテスト項目
(複数の場合あり)との対応を記憶する。たとえば、テ
スト項目FUNC002とFUNC003に対する条件
が満たされると、テストTEST002が行なわれたこ
とを示す。
ジ記憶部14に記憶された図4の形式のメッセージとテ
スト情報記憶部15に記憶された図5のような情報を入
力することによって、図5のテスト毎にその全てのテス
トの項目がテストされているか否かを判定し、テストさ
れていればcoverを、テストされていなければun
coverを図6の形式で出力する。また、cover
になったテスト率(coverになったテスト数の全テ
スト数に対する割合(パーセント))を表示する。図7
にレポート出力部16の処理フローを示す。
よるシミュレーションの結果、メッセージ記憶部14に
図8(a)〜(d)のメッセージがそれぞれ、TEST
001.out〜TEST004.outという名前の
ファイルで記憶され、テスト情報記憶部15に図5の情
報が記憶されている場合を例にとって説明する。
テスト情報記憶部15の情報を1行ずつ取り出し(ステ
ップS102)、メッセージ記憶部14に記憶されてい
るメッセージに、対応するテスト項目が全て含まれてい
るか否かをチェックし(ステップS105〜ステップS
109)、結果をcover、uncoverで出力す
る(ステップS111)。さらに、coverのテスト
の割合を出力する(ステップS112)。
T001については、テスト項目FUNC001が取り
出され、図8(a)のファイルTEST001.out
は、この項目FUNC001のメッセージを含むため、
図6の1行目のように、TEST001とcoverが
出力される。同様にして、テストTEST002、TE
ST003はcoverとなるが、テストTEST00
4は、テスト項目FUNC005、FUNC006、F
UNC007をもつが、図8(d)のファイルTEST
004.outはFUNC005を含まないため、TE
ST004とuncoverが出力される。さらに、T
EST001〜TEST004のうち、TEST004
を除く3個のテストがcoverであるため、カバレッ
ジとして(3/4)×100=75%が図6のように出
力される。
ト支援システムにおいては、シミュレーションによりテ
スト項目がテストされているかどうかがテスト有無の割
合とともにレポート出力されるために、その確認を機械
的かつ確実に行なうことができる。
施形態を説明する。
能テスト支援システムの構成図を示す。この第2実施形
態の機能テスト支援システムの構成は、図1に示した第
1実施形態の機能テスト支援システムの構成からテスト
情報記憶部15を除いたものである。すなわち、第1実
施形態の機能テスト支援システムでは、テストベクトル
名とテスト項目の対応情報をテスト情報記憶部15によ
って与えていたが、この第2実施形態の機能テスト支援
システムでは、機能記述記憶部21が記憶する設計対象
回路の記述に埋め込まれる、テスト項目がテストされた
ことをメッセージ出力するステートメントにおいて、テ
スト項目とともにテストベクトル名も同時に出力するよ
うにする。また、1つのテストベクトルに関するテスト
項目名を1/n,2/n,…n/n(nは、1つのテス
トベクトルに関するテスト項目の総数)という規則で命
名する。
ロシジャcheck_assertを記憶する。che
ck_assertは、テストベクトル名とテスト項目
とを引数として与えられることによって、図11のよう
なメッセージを標準出力ファイルSTD_OUTに出力
する。機能記述記憶部21に記憶される記述の例を図1
2に示す。さらに、機能シミュレーション実行部23に
よるシミュレーションの結果、メッセージ記憶部24に
記憶されるメッセージを図13に示す。なお、第1実施
形態と同様、メッセージは、テストベクトル名.out
というファイルに記憶されるものとする。
イルにおいて、テストベクトル名:1/n〜テストベク
トル名:n/nの全てのメッセージが含まれていれば、
そのテストをcover、そうでなければuncove
rと判定し、その結果とcoverの割合を第1実施形
態と同様に、図6のように出力する。
ト支援システムにおいても、シミュレーションによりテ
スト項目がテストされているかどうかがテスト有無の割
合とともにレポート出力されるために、その確認を機械
的かつ確実に行なうことができる。
施形態を説明する。
機能テスト支援システムの構成図を示す。この第3実施
形態の機能テスト支援システムの構成は、図1に示した
第1実施形態の機能テスト支援システムの構成に期待値
比較結果記憶部37を加えたものである。
レーション実行部33によるシミュレーションの期待値
比較結果を図15のようなフォーマットで記憶する。
ジ記憶部34、テスト情報記憶部35および期待値比較
結果記憶部37の情報を入力して、各テストの合否結果
を判定し、結果とその合格率を図16のように出力す
る。すなわち、各テストは、そのテストに関連するテス
ト項目がすべて満たされ、かつ、期待値比較結果がOK
であるときにOKとなり、そうでないときはNGとす
る。すなわち、メッセージ記憶部34、期待と比較結果
記憶部37、テスト情報記憶部35にそれぞれ図13、
図15、図5の情報が記憶されている場合、前述の第1
実施形態で説明した図6は、各テストのテスト項目が満
たされたか否かを示す情報であり、レポート出力部36
は、この情報と期待値比較結果記憶部37の情報の論理
積をとり、結果をレポート出力する。たとえば、TES
T001、TEST003は、図6と図15よりテスト
項目、期待値比較結果がcover,OKであるから、
図16のようにOKであると出力する。同様に、TES
T002、TEST004は、テスト項目、期待値比較
結果にuncover,NGが含まれるため、NGであ
ると出力する。さらに、合格率(2/4)×100=5
0%を出力する。
ト支援システムにおいては、シミュレーションによりテ
スト項目がテストされているかどうかがシミュレーショ
ン結果の合否とテスト有無の割合とともにレポート出力
されるために、その確認を機械的かつ確実に行なうこと
ができる。
スト支援システムでは、機能記述記憶部に記憶される計
対象回路の記述にテスト項目がテストされたことをメッ
セージ出力するステートメントを埋め込むことにより、
テスト項目がテストされたことを示す情報を取得する例
を説明したが、これに限らず、たとえば図17に示すよ
うに、チェック記述記憶部43に記憶された、テスト有
無をチェックすべき記述を指定する情報にしたがって、
機能シミュレーション実行部42によるシミュレーショ
ンを監視するモニタ部44を設け、このモニタ部44か
らテスト項目がテストされたことを示す情報を取得して
も良い。この場合、機能記述記憶部41に記憶される計
対象回路の記述には、テスト項目がテストされたことを
メッセージ出力するステートメントを埋め込む必要がな
いため、これに伴ない、テスト項目がテストされたこと
をメッセージ出力するために使用されるVHDLプロシ
ジャcheck_assertを記憶するパッケージ記
憶部も不要となる。
機能テスト支援システムに施すことのできる変形例を示
す。
テスト項目指定部を設け、レポート出力部はテスト項目
指定部によって指定されたテスト項目に関連するテスト
ベクトルについてのみの判定結果を出力する。これによ
り、設計者が着目した一部のテスト項目がテストされた
か否かを容易に知ることも可能となる。
な記述を埋め込む際に、シミュレーションにおいて特定
の設計者が記述した、あるいは特定のモジュール内の記
述のみが有効になるようにして、メッセージ記憶部に特
定の設計者が担当するテスト項目や特定のモジュール内
のテスト項目がテストされたことを示す情報のみが出力
されるようにする。これは、たとえば、図2のa3以降
をIF(FOCUS_ID==識別子)thenという条
件文の中に含めることにより実現できる。ここで、FO
UCUS_IDはパッケージ記憶部で定義された整数型
のグローバル信号であり、その値はシミュレーション開
始時に外部ファイルから読み込む。一方、識別子は、整
数の定数値(1,2など)であり、この記述を埋め込ん
だ設計者あるいはモジュール毎にユニークな値とする。
すなわち、たとえば、この外部ファイルに1を設定して
おくことにより、この識別子として1をもつIF文内に
書かれた記述が実行され、chck_assertによ
るメッセージが出力されることになる。これにより、設
計者が着目する一部のテスト項目についての情報を効率
よく得ることができる。
トベクトルに関連するテスト項目ではなく、一部のテス
トベクトルに関連するテスト項目の情報を入れておくこ
とによって、設計者が着目する一部のテストベクトルに
関するテスト項目がテストされたか否かを知ることも可
能となる。
は、図18に示すようなモジュールa_to_bの記述
を図19のようにコンポーネントインスタンスとして使
用することによって行なうことも可能である。ここで、
コンポーネントインスタンス名は、テスト項目名とす
る。図18の記述は、信号Aが1になってからWサイク
ル以内にBが1になるときに、図20のようなメッセー
ジを出力する。ここで、図19のbのアサート文の実行
によって、図20の階層パス名が出力され、テスト項目
名を取り出すことができる。このように、図18のよう
な共通のモジュールa_to_bを使用することによっ
て、複数の時刻にわたる信号の関係がテストされたか否
かを容易に調べることができる。また、一つのモジュー
ルが複数インスタンス化された場合は、同一のテスト項
目をもつモジュールが複数存在することになるが、この
方法によれば、インスタンス毎にテスト項目がテストさ
れたか否かを確認することができる。
構成に、期待値比較結果記憶部を付加することによっ
て、レポート出力部25がテストの合否結果を出力する
ようにする。
に、レポート出力部は、最終的なテストの合否結果だけ
でなく、第1実施形態で図6により示したテスト項目が
テストされたか否かという情報をも出力してもよい。
に、テスト項目毎に対応するテストベクトルの情報を記
憶する。同様に、レポート出力部は、図22のように、
テスト項目がそれをテスト対象とするテストベクトル全
てにおいて満たされたか否かを判定した結果を出力す
る。このとき、(1)と同様に、テスト項目のサブセッ
トを指定するテスト項目指定部を設け、レポート出力部
は指定された項目が関連する全てのテストベクトルにお
いて満たされたか否かを判定した結果を出力してもよ
い。これによって、設計者が着目した一部のテスト項目
がテストされたか否かを知ることも可能となる。
ト項目名の一覧を表示する機能を付加し、表示された情
報に、設計者がテストベクトル名を追加して、図5や図
21に示したテスト情報記憶部の情報を作成する。これ
により、テスト情報記憶部の情報の作成が容易になり、
また、埋め込まれたテスト項目を容易に確認することが
可能となる。
れなかったテストベクトル名とその割合を表示する、あ
るいは、項目がテストされたテストベクトル名とその割
合を表示する。
ば、シミュレーションにおいて、テスト項目がテストさ
れているか否かを容易に確認すること、および、シミュ
レーションの結果確認を機械的かつ確実に行なうことが
可能となる。また、設計対象LSIの機能記述を変更し
た場合に、意味がなくなってしまったテストや修正する
必要があるテストを容易に検出することも可能となる。
さらに、機能記述が再利用された場合においても、テス
トされた項目、すなわち使用された機能、要素動作を明
確にすることも可能となる。
システムの構成図。
能記述記憶部に記憶される機能記述の例を示す図。
ロシジャcheck_assertの定義を示す図。
ロシジャcheck_assertにより出力されるメ
ッセージを示す図。
スト情報記憶部に記憶される情報の例を示す図。
ポート出力部16によって出力されるレポートの例を示
す図。
ポート出力部の処理フローを示す図。
ッセージ記憶部に記憶されるメッセージの例を示す図。
の構成図。
パッケージ記憶部に記憶されるプロシジャcheck_
assertの定義を示す図。
check_assertによって出力されるメッセー
ジを示す図。
機能記述記憶部に記憶される記述の例を示す図。
メッセージ記憶部に記憶されるメッセージの例を示す
図。
ムの構成図。
期待値比較結果記憶部に記憶される情報の例を示す図。
レポート出力部による出力結果を示す図。
た場合の機能テスト支援システムの構成図。
使用されるモジュールa_to_bの記述を示す図。
ージ記憶部に記憶されるメッセージの例を示す図。
セージの例を示す図。
情報記憶部に記憶される情報の例を示す図。
ト出力部による出力結果の例を示す図。
Claims (18)
- 【請求項1】 集積回路の機能をハードウェア記述言語
により1つまたはそれ以上の要素動作の集合として記述
した機能記述の機能テストを支援する機能テスト支援シ
ステムであって、 前記機能記述を検証するための機能シミュレーションの
テストベクトルとそのテストベクトルによりテストされ
るテスト項目との対応関係を記憶するテスト情報記憶手
段と、 前記機能シミュレーションの実行に伴なって生成され
る、前記テスト項目の起動条件が満たされたことを示す
少なくともテスト項目名を含むメッセージを記憶するメ
ッセージ記憶手段と、 前記テスト情報記憶手段および前記メッセージ記憶手段
に記憶された情報から前記テストベクトル毎に各テスト
項目のテスト有無を判定し、その判定結果をレポート出
力するレポート出力手段とを具備することを特徴とする
機能テスト支援システム。 - 【請求項2】 前記機能記述は、前記テスト項目の起動
条件が満たされたときに、少なくともそのテスト項目名
を含むメッセージを出力するステートメントを含んでな
り、 前記メッセージ記憶手段は、前記ステートメントの実行
により出力されたメッセージを記憶することを特徴とす
る請求項1記載の機能テスト支援システム。 - 【請求項3】 前記機能シミュレーションの実行を監視
し、前記テスト項目の起動条件が満たされたときに、少
なくともそのテスト項目名を含むメッセージを出力する
モニタ手段をさらに具備し、 前記メッセージ記憶手段は、前記モニタ手段より出力さ
れたメッセージを記憶することを特徴とする請求項1記
載の機能テスト支援システム。 - 【請求項4】 集積回路の機能をハードウェア記述言語
により1つまたはそれ以上の要素動作の集合として記述
した機能記述の機能テストを支援する機能テスト支援シ
ステムであって、 前記機能記述を検証するための機能シミュレーションの
実行に伴なって生成される、予め設定されたテスト項目
の起動条件が満たされたことを示す少なくともテスト項
目名とテストベクトル名とを含むメッセージを記憶する
メッセージ記憶手段と、 前記メッセージ記憶手段に記憶された情報から前記テス
トベクトル毎に各テスト項目のテスト有無を判定し、そ
の判定結果をレポート出力するレポート出力手段とを具
備することを特徴とする機能テスト支援システム。 - 【請求項5】 前記機能シミュレーションの期待値比較
結果を記憶する期待値比較結果記憶手段をさらに具備
し、 前記レポート出力手段は、前記期待値比較結果記憶手段
に記憶された情報と前記メッセージ記憶手段に記憶され
たメッセージとから前記テストベクトル毎に各テスト項
目の合否を判定し、その判定結果をレポート出力するこ
とを特徴とする請求項1、2、3または4記載の機能テ
スト支援システム。 - 【請求項6】 前記レポート出力手段は、前記テストベ
クトル毎にテスト項目のテスト有無の割合を出力する手
段を有することを特徴とする請求項1、2、3、4また
は5記載の機能テスト支援システム。 - 【請求項7】 前記テスト項目のサブセットを指定する
テスト項目指定手段をさらに具備し、 前記レポート出力手段は、前記テスト項目指定手段によ
り指定されたテスト項目が関連するテストベクトルにつ
いてのみ、その結果を出力する手段を有することを特徴
とする請求項1、2、3、4、5または6記載の機能テ
スト支援システム。 - 【請求項8】 前記機能記述に含まれるステートメント
から前記テスト項目の一覧を生成して表示するテスト項
目表示手段をさらに具備することを特徴とする請求項2
記載の機能テスト支援システム。 - 【請求項9】 集積回路の機能をハードウェア記述言語
により1つまたはそれ以上の要素動作の集合として記述
した機能記述の機能テストを支援する機能テスト支援方
法であって、 予め設定されたテスト項目の起動条件が満たされたとき
に、少なくともそのテスト項目名を含むメッセージを出
力するステートメントを含んでなる機能記述の機能シミ
ュレーションを実行するステップと、 前記ステートメントの実行により出力されたメッセージ
と、前記機能シミュレーションのテストベクトルとその
テストベクトルによりテストされるテスト項目との対応
関係を示すテスト情報とから各テストベクトル毎に各テ
スト項目のテスト有無を判定し、その判定結果をレポー
ト出力するステップとを有することを特徴とする機能テ
スト支援方法。 - 【請求項10】 集積回路の機能をハードウェア記述言
語により1つまたはそれ以上の要素動作の集合として記
述した機能記述の機能テストを支援する機能テスト支援
方法であって、 予め設定されたテスト項目の起動条件が満たされたとき
に、少なくともテスト項目名とテストベクトル名と含む
メッセージを出力するステートメントを含んでなる機能
記述の機能シミュレーションを実行するステップと、 前記ステートメントの実行により出力されたメッセージ
から各テストベクトル毎に各テスト項目のテスト有無を
判定し、その判定結果をレポート出力するステップとを
有することを特徴とする機能テスト支援方法。 - 【請求項11】 前記レポート出力するステップにおい
て、前記テストベクトル毎にテスト項目のテスト有無の
割合を出力することを特徴とする請求項9または10記
載の機能テスト支援方法。 - 【請求項12】 前記テスト項目のサブセットを指定す
るステップをさらに有し、 前記レポート出力するステップにおいて、前記指定され
たテスト項目が関連するテストベクトルについてのみ、
その結果を出力することを特徴とする請求項9、10ま
たは11記載の機能テスト支援方法。 - 【請求項13】 集積回路の機能をハードウェア記述言
語により1つまたはそれ以上の要素動作の集合として記
述した機能記述の機能テストを支援すべくコンピュータ
を動作させるためのプログラムであって、 予め設定されたテスト項目の起動条件が満たされたとき
に、少なくともそのテスト項目名を含むメッセージを出
力するステートメントを含んでなる機能記述の機能シミ
ュレーションを実行し、 前記ステートメントの実行により出力されたメッセージ
と、前記機能シミュレーションのテストベクトルとその
テストベクトルによりテストされるテスト項目との対応
関係を示すテスト情報とから各テストベクトル毎に各テ
スト項目のテスト有無を判定し、その判定結果をレポー
ト出力するようにコンピュータを動作させるプログラム
を記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。 - 【請求項14】 集積回路の機能をハードウェア記述言
語により1つまたはそれ以上の要素動作の集合として記
述した機能記述の機能テストを支援すべくコンピュータ
を動作させるためのプログラムであって、 予め設定されたテスト項目の起動条件が満たされたとき
に、少なくともテスト項目名とテストベクトル名と含む
メッセージを出力するステートメントを含んでなる機能
記述の機能シミュレーションを実行し、 前記ステートメントの実行により出力されたメッセージ
から各テストベクトル毎に各テスト項目のテスト有無を
判定し、その判定結果をレポート出力するようにコンピ
ュータを動作させるプログラムを記憶したコンピュータ
読み取り可能な記憶媒体。 - 【請求項15】 前記プログラムは、前記レポート出力
の際、前記テストベクトル毎にテスト項目のテスト有無
の割合を出力することを特徴とする請求項13または1
4記載の記憶媒体。 - 【請求項16】 前記プログラムは、さらにテスト項目
のサブセットを指定し、 前記レポート出力の際、前記指定されたテスト項目が関
連するテストベクトルについてのみ、その結果を出力す
ることを特徴とする請求項13、14または15記載の
記憶媒体。 - 【請求項17】 集積回路の機能を1つまたはその以上
の要素動作の集合として記述したシミュレーション実行
可能なハードウエア記述モデルであって、 前記要素動作の起動条件が満たされたときに、その旨を
示す情報を出力する記述を含んでなることを特徴とする
ハードウエア記述モデル。 - 【請求項18】 集積回路の機能を1つまたはその以上
の要素動作の集合として記述したシミュレーション実行
可能なハードウエア記述モデルであって、 前記要素動作の起動条件が満たされたときに、その旨を
示す情報を出力する記述を含んでなるハードウエア記述
モデルを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒
体。
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JP28183699A JP2001101255A (ja) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | 機能テスト支援システム、機能テスト支援方法およびハードウエア記述モデル |
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JP2001101255A5 JP2001101255A5 (ja) | 2005-02-24 |
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2000
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