JP4335798B2 - 検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体 - Google Patents

検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体 Download PDF

Info

Publication number
JP4335798B2
JP4335798B2 JP2004381855A JP2004381855A JP4335798B2 JP 4335798 B2 JP4335798 B2 JP 4335798B2 JP 2004381855 A JP2004381855 A JP 2004381855A JP 2004381855 A JP2004381855 A JP 2004381855A JP 4335798 B2 JP4335798 B2 JP 4335798B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
verification
item list
sequence
verification item
sequence description
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004381855A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006189947A (ja
Inventor
健志 安倍
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Semiconductor Ltd
Original Assignee
Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Semiconductor Ltd filed Critical Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority to JP2004381855A priority Critical patent/JP4335798B2/ja
Priority to US11/101,520 priority patent/US20060156262A1/en
Publication of JP2006189947A publication Critical patent/JP2006189947A/ja
Priority to US11/747,026 priority patent/US7685546B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4335798B2 publication Critical patent/JP4335798B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318342Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences by preliminary fault modelling, e.g. analysis, simulation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318314Tools, e.g. program interfaces, test suite, test bench, simulation hardware, test compiler, test program languages
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318371Methodologies therefor, e.g. algorithms, procedures

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

この発明は、LSI設計における検証作業を支援する検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体に関する。
LSI設計では、従来から設計期間の短縮による作業効率化が要求されている一方、LSIが正しく動作するかどうかを検証する検証作業が必要不可欠であり、特に、大規模化、高機能化、高速化および低消費電力化が要求されているLSIについては、高品質を維持するためにもこの検証作業は重要である。
現状の検証作業においては、フリーフォーマットの検証項目リストが流通している。フリーフォーマットの検証項目リストとは、表形式で作成された検証項目リストであり、他人、他部門、他社などの第三者によってLSIの仕様書から抽出された検証項目がリストアップされている。このフリーフォーマットの検証項目リストは、第三者間でも形式が異なっており、統一されていない。
したがって、このフリーフォーマットで作成された検証項目リスト内の検証項目が、必要十分かどうかを客観的に評価する技術が確立されておらず、この検証項目が必要十分かどうかの数値的根拠は存在しない。このため、現状では、LSIの仕様書から検証が必要なすべての検証項目がピックアップされているかどうかを、検証者(または設計者)本人またはその部門の他のメンバーで、検討(レビュー)することによって検証作業をおこなっている。
一方で、UMLなどのオブジェクト指向を用いたコンピュータリーダブルな電子仕様書から検証項目リストを自動的に得ることによって検証作業を支援する検証支援装置が提案されている(たとえば、下記特許文献1を参照。)。この検証支援装置は、正常に動作するか否かの検証がおこなわれる被検証装置の機能をあらわす機能的構成情報を入力する機能的構成情報入力部と、被検証装置に与える入出力シーケンスに関する条件を入力する条件入力部と、機能的構成情報入力部によって入力された機能的構成情報に基づいて、条件入力部によって入力された入出力シーケンスに関する条件をすべて満足する検証項目関数を生成する検証項目関数生成部と、検証項目関数生成部によって生成された検証項目関数に基づいて、機能的構成情報を構成する構成要素の組み合わせを、検証項目として抽出する検証項目抽出部と、を備える。
特開2004−185592号公報
しかしながら、上述した従来のレビューによる検証作業では、検証項目の品質を検討するレビューの結果が、参加するメンバーの経験や能力に依存してしまうという問題があった。すなわち、上述した従来のレビューによる検証作業では、どの程度まで検証項目を抽出すればよいかという基準が設定されていない。
したがって、必要な検証項目を抽出しなかったり、不必要な検証項目を抽出したりする場合があるため、レビュー結果にバラツキが生じ、レビュー結果による検証網羅性が低下するという問題があった。またこれにより、実際のLSIの製造において歩留まりが低下するという問題があった。
また、通常、レビューには3人から10人以上の参加メンバーが必要であるため、参加するメンバーの日程調整に手間がかかり、調整者にとって煩わしいという問題があった。また、日程調整がうまくいかないと検証期間ひいてはトータルの設計期間が長期化してしまうという問題があった。さらに、レビューは、通常2時間から半日程度要するために検証期間の長期化を招くとともに、参加したメンバーが長時間拘束されるため、他の作業が遅延するという問題もあった。
また、上述した特許文献1の従来技術では、LSIにあらたな機能が追加されたことにより電子仕様書が更新された場合においても、その更新後の電子仕様書から更新後の検証項目リストを自動的に得ることができる。しかしながら、上述した特許文献1の従来技術では、電子仕様書の更新前後の検証項目リストを比較して、更新後の検証項目リストの中からあらたに追加された検証項目をピックアップする作業を、人手によっておこなわなければならない。したがって、検証作業に多大な人的労力および時間的労力が生じ、設計期間の長期化およびLSIの製造コストの増大を招くという問題があった。
この発明は、上述した従来技術による問題点を解消するため、フリーフォーマットの検証項目リストから簡単かつ効率的に検証項目を自動抽出することにより、検証網羅性の向上、人的コストの低減および設計期間の短縮化を図ることができる検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するため、この発明にかかる検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体は、検証対象の検証内容を示す検証項目が任意のフォーマットで記述された第1の検証項目リストと、前記検証対象の機能を示す電子仕様書(以下、「機能仕様書」という)と、前記検証対象のシーケンスを示す電子仕様書(以下、「シーケンス仕様書」という)と、を取得し、取得された第1の検証項目リストの中から、前記検証対象に関する単語を抽出し、取得された機能仕様書の機能記述と、取得されたシーケンス仕様書のうち前記機能記述に対応する前記検証対象の出力動作に関するシーケンス仕様書内の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述と、からなる検証項目をフォーマットとする第2の検証項目リストを生成し、前記シーケンス仕様書の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述の中から、抽出された単語と一致しないシーケンス記述を抽出し、前記第2の検証項目リストに記述されたシーケンス記述の中から、抽出されたシーケンス記述を削除することにより、前記第1の検証項目リストを、前記第2の検証項目リストと同一フォーマットの第3の検証項目リストに変換し、前記第2の検証項目リストの中から、前記第3の検証項目リストに含まれていない検証項目を抽出することを特徴とする。
また、上記発明において、前記第2の検証項目リストと、前記変換手段によって変換された第3の検証項目リストと、に基づいて、前記第2の検証項目リストに対する前記第1の検証項目リストの検証網羅性を示すカバレッジを算出することとしてもよい。
また、上記発明において、抽出された単語の中から、前記シーケンス仕様書に記述されているシーケンス記述と一致しない単語を検出し、前記第1の検証項目リストに記述されている検証内容の中から、検出された単語を含む検証内容を抽出することとしてもよい。
また、上記発明において、前記機能仕様書が更新されたことによって得られた最新の機能仕様書と、前記シーケンス仕様書が更新されたことによって得られた最新のシーケンス仕様書と、を取得し、最新の機能仕様書の機能記述と最新のシーケンス仕様書の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述とからなる検証項目をフォーマットとする第4の検証項目リストを生成することとしてもよい。
また、上記発明において、生成された第4の検証項目リストの中から、前記第2の検証項目リストに含まれていない検証項目を抽出することとしてもよい。
また、上記発明において、前記第4の検証項目リストの検証項目の数と、前記第4の検証項目リストの中から抽出された、前記第2の検証項目リストに含まれていない検証項目の数と、に基づいて、前記機能仕様書および前記シーケンス仕様書に対する、前記最新の機能仕様書および前記最新のシーケンス仕様書の追加検証率を算出することとしてもよい。
これらの発明によれば、第1の検証項目リストと第2の検証項目リストのフォーマットの統一化を図ることができる。そして、第1の検証項目リストから洩れている検証すべきシーケンスを自動的に特定することができる。また、第1の検証項目リストから洩れている検証項目を自動的に特定することができる。さらに、検証作業の完了基準(ゴール基準)を設定することができる。また、抽出された検証内容を確認すべき検証項目の内容として用いることができる。さらに、第4の検証項目リストを、更新前の第2の検証項目リストと同一フォーマットで生成することができる。また、最新の機能仕様書および最新のシーケンス仕様書から、あらたに追加された検証項目を自動的に特定することができる。さらに、追加検証作業の完了基準(ゴール基準)を設定することができる。
この発明にかかる検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体によれば、フリーフォーマットの検証項目リストから簡単かつ効率的に検証項目を自動抽出することにより、検証網羅性の向上、人的コストの低減および設計期間の短縮化を図ることができるという効果を奏する。
(検証支援装置のハードウェア構成)
まず、この発明の実施の形態にかかる検証支援装置のハードウェア構成について説明する。図1は、この発明の実施の形態にかかる検証支援装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
図1において、検証支援装置は、CPU101と、ROM102と、RAM103と、HDD(ハードディスクドライブ)104と、HD(ハードディスク)105と、FDD(フレキシブルディスクドライブ)106と、着脱可能な記録媒体の一例としてのFD(フレキシブルディスク)107と、ディスプレイ108と、I/F(インターフェース)109と、キーボード110と、マウス111と、スキャナ112と、プリンタ113と、を備えている。また、各構成部はバス100によってそれぞれ接続されている。
ここで、CPU101は、検証支援装置の全体の制御を司る。ROM102は、ブートプログラムなどのプログラムを記憶している。RAM103は、CPU101のワークエリアとして使用される。HDD104は、CPU101の制御にしたがってHD105に対するデータのリード/ライトを制御する。HD105は、HDD104の制御で書き込まれたデータを記憶する。
FDD106は、CPU101の制御にしたがってFD107に対するデータのリード/ライトを制御する。FD107は、FDD106の制御で書き込まれたデータを記憶したり、FD107に記憶されたデータを検証支援装置に読み取らせたりする。
また、着脱可能な記録媒体として、FD107のほか、CD−ROM(CD−R、CD−RW)、MO、DVD(Digital Versatile Disk)、メモリーカードなどであってもよい。ディスプレイ108は、カーソル、アイコンあるいはツールボックスをはじめ、文書、画像、機能情報などのデータを表示する。このディスプレイ108は、たとえば、CRT、TFT液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイなどを採用することができる。
I/F109は、通信回線を通じてインターネットなどのネットワーク114に接続され、このネットワーク114を介して他の装置に接続される。そして、I/F109は、ネットワーク114と内部のインターフェースを司り、外部装置からのデータの入出力を制御する。I/F109には、たとえばモデムやLANアダプタなどを採用することができる。
キーボード110は、文字、数字、各種指示などの入力のためのキーを備え、データの入力をおこなう。また、タッチパネル式の入力パッドやテンキーなどであってもよい。マウス111は、カーソルの移動や範囲選択、あるいはウィンドウの移動やサイズの変更などをおこなう。ポインティングデバイスとして同様に機能を備えるものであれば、トラックボールやジョイスティックなどであってもよい。
スキャナ112は、画像を光学的に読み取り、検証支援装置内に画像データを取り込む。なお、スキャナ112は、OCR機能を持たせてもよい。また、プリンタ113は、画像データや文書データを印刷する。プリンタ113には、たとえば、レーザプリンタやインクジェットプリンタを採用することができる。
(検証支援装置の機能的構成)
まず、この発明の実施の形態にかかる検証支援装置の機能的構成について説明する。図2は、この発明の実施の形態にかかる検証支援装置の機能的構成を示すブロック図である。図2において、検証支援装置200は、取得部201と、単語抽出部202と、シーケンス記述抽出部203と、生成部204と、変換部205と、検証項目抽出部206と、算出部207と、検出部208と、検証内容抽出部209と、を備えている。
取得部201は、検証対象の検証内容が任意のフォーマットで記述された第1の検証項目リストと、検証対象の機能を示す電子仕様書(以下、「機能仕様書」という)と、検証対象のシーケンスを示す電子仕様書(以下、「シーケンス仕様書」という)と、を取得する。ここで、検証対象とは、検証を必要としているLSIである。図3は、検証対象を含むシステムLSIの一例を示すブロック図である。
図3において、システムLSI300は、CPU301と、RAM302と、DUT303と、から構成されている。DUT303は検証対象であり、ここでは、CPU301とRAM302との間でデータのやり取りをおこなうRAMインターフェースをあらわしている。
また、第1の検証項目リストとは、検証対象の検証内容が任意のフォーマットで記述された電子情報である。具体的には、上述の背景技術の項で説明したように、表形式で作成された検証項目リストであり、他人、他部門、他社などの第三者によってLSIの仕様書から抽出された検証項目がリストアップされた電子情報である。このフリーフォーマットの検証項目リストは、第三者間でも形式が異なっており、統一されていない。この第1の検証項目リストは、一般的に、不備がないとされるゴールデンの検証項目リストと呼ばれている。
ここで、第1の検証項目リストの一例を示す。図4は、第1の検証項目リストを示す説明図である。この第1の検証項目リスト400は、図3に示したDUT303に対する検証項目の集合であり、各検証項目401〜403の検証内容は下記のとおりである。この検証内容は、第1の検証項目リスト400において、たとえば、テキスト形式で記述されている。
検証項目(1):リードデータがRAMから正しく読めるか?
検証項目(2):ライトデータが正しくRAMに書かれるか?
検証項目(3):リード/ライト中にリセットしてもハングアップしないか?
また、電子仕様書とは、UML(Unified Modeling Language)をはじめとするオブジェクト指向言語など、コンピュータリーダブルな仕様書データである。また、機能仕様書とは、検証対象の機能を示す仕様書データであり、具体的には、たとえば、UMLのユースケース図によって記述することができる。また、シーケンス仕様書とは、検証対象のシーケンスを示す仕様書データであり、具体的には、たとえば、UMLのシーケンス図によって記述することができる。
図5は、検証対象の機能仕様書の一例を示す説明図であり、図6および図7は、検証対象のシーケンス仕様書の一例を示す説明図である。図5には、機能仕様書の一例としてUMLのユースケース図500が示されており、図3に示したDUT303の機能をあらわしている。
図5において、ユースケース図500は、アクター501,502とシステム503から構成されている。アクター501はCPU301を示しており、アクター502はRAM302を示しており、システム503はDUT303を示している。また、システム503は、DUT303の機能を示すユースケース記述を有する。ここでは、DUT303のリード機能を示すユースケース記述531と、DUT303のライト機能を示すユースケース記述532が示されている。
また、図6および図7には、シーケンス仕様書の一例としてUMLのシーケンス図600,700が示されている。図6に示したシーケンス図600は、DUT303のリード動作をあらわしており、図7に示したシーケンス図は、DUT303のライト動作をあらわしている。シーケンス図600は、アクター501,502と、オブジェクト603と、メッセージ611〜616と、が含まれている。アクター501のアクター名「CPU」、アクター502のアクター名「RAM」、オブジェクト603のオブジェクト名「DUT」は、シーケンス図600(またはシーケンス図700、シーケンス図1500においても同じ)の動作対象を示すシーケンス記述である。
メッセージ611は、アクター501からオブジェクト603へリード要求を送信する動作を示すシーケンス記述である。メッセージ612は、アクター501からオブジェクト603へリードアドレスを送信する動作を示すシーケンス記述である。メッセージ613は、オブジェクト603からアクター502へリードアドレスを送信する動作を示すシーケンス記述である。
また、メッセージ614は、アクター502からオブジェクト603へリードデータを送信する動作を示すシーケンス記述である。メッセージ615は、オブジェクト603からアクター501へリード応答を送信する動作を示すシーケンス記述である。メッセージ616は、オブジェクト603からアクター501へリードデータを送信する動作を示すシーケンス記述である。
また、図7に示したシーケンス図700は、アクター501,502と、オブジェクト603と、メッセージ711〜716と、が含まれている。メッセージ711は、アクター501からオブジェクト603へライト要求を送信する動作を示すシーケンス記述である。メッセージ712は、アクター501からオブジェクト603へライトアドレスを送信する動作を示すシーケンス記述である。メッセージ713は、アクター501からオブジェクト603へライトデータを送信する動作を示すシーケンス記述である。
また、メッセージ714は、オブジェクト603からアクター502へライトアドレスを送信する動作を示すシーケンス記述である。メッセージ715は、オブジェクト603からアクター502へライトデータを送信する動作を示すシーケンス記述である。メッセージ716は、オブジェクト603からアクター501へライト応答を送信する動作を示すシーケンス記述である。
なお、図2に示した取得部201は、図1に示したキーボード110やマウス111を操作したり、ネットワーク114を介して外部のサーバから受信したり、データベースから決定したりすることで、第1の検証項目リスト400や電子仕様書を取得することができる。この取得部201は、具体的には、たとえば、図1に示したROM102、RAM103、HD105、FD107などに記録されたプログラムを、CPU101が実行することによって、または、I/F109によって、その機能を実現する。
また、図2において、単語抽出部202は、取得部201によって取得された第1の検証項目リスト400の中から、検証対象に関する単語(以下、「検証キーワード」という)を抽出する。ここで、検証キーワードの具体的な抽出方法について説明する。具体的には、第1の検証項目リスト400の検証項目401〜403内の検証内容の記述から、名詞を切り出すことによって、検証キーワードを抽出する。
たとえば、図4に示した検証項目401の検証内容「リードデータがRAMから正しく読めるか?」から、「リードデータ」および「RAM」を切り出すことができる。また、検証項目402の検証内容「ライトデータが正しくRAMに書かれるか?」から、「ライトデータ」および「RAM」を切り出すことができる。さらに、検証項目403の検証内容「リード/ライト中にリセットしてもハングアップしないか?」から、「リード/ライト」「リセット」および「ハングアップ」を切り出すことができる。
また、図示しない検証キーワードデータベースを用意しておくことによって、単語抽出部202は、検証キーワードデータベース内の検証キーワードと一致する検証キーワードを第1の検証項目リスト400の中から抽出することとしてもよい。たとえば、上述した検証項目401〜403を例に挙げて説明する。
図8は、このようにリストアップされた検証キーワードリストを示す説明図である。検証キーワードデータベースに「リードデータ」、「RAM」、「ライトデータ」、「リセット」および「ハングアップ」がある場合、検証項目401〜403から、「リードデータ」、「RAM」、「ライトデータ」、「リセット」および「ハングアップ」を切り出すことができる。
これらをまとめたのが図8に示した検証キーワードリスト800である。なお、この単語抽出部202は、具体的には、たとえば、図1に示したROM102、RAM103、HD105、FD107などに記録されたプログラムを、CPU101が実行することによってその機能を実現する。
また、シーケンス記述抽出部203は、シーケンス仕様書の中から、単語抽出部202によって抽出された検証キーワードと一致しないシーケンス記述を抽出する。具体的には、図6に示したシーケンス図600および図7に示したシーケンス図700におけるオブジェクト603(DUT303)の出力動作に関するシーケンス記述の中から、単語抽出部202によって抽出された検証キーワードと一致しないシーケンス記述を抽出する。
ここで、シーケンス記述抽出部203によるシーケンス記述の抽出例について具体的に説明する。図9は、リード動作に関するシーケンス図600からシーケンス記述を抽出する例を示す説明図である。図9において、オブジェクト603(DUT303)からの出力動作を示すシーケンス記述は、メッセージ613,615,616である(図9中、太矢印で表示。)。
また、図8に示した検証キーワードリスト800内の検証キーワードと一致するシーケンス記述は、アクター502とメッセージ614,616である(図9中、点線で囲っている。)。したがって、シーケンス記述抽出部203は、図9中、太線で示されたメッセージ613,615,616の中から、点線で囲われていないメッセージ613,615、すなわち、「リードアドレス」および「リード応答」を抽出する。
また、図10は、ライト動作に関するシーケンス図700からシーケンス記述を抽出する例を示す説明図である。同様に、図10において、検証対象であるオブジェクト603(DUT303)からの出力動作を示すシーケンス記述は、メッセージ714〜716である(図10中、太矢印で表示。)。
また、図8に示した検証キーワードリスト800内の検証キーワードと一致するシーケンス記述は、アクター502とメッセージ713,715である(図10中、点線で囲っている。)。したがって、シーケンス記述抽出部203は、図10中、太線で示されたメッセージ714〜716の中から、点線で囲われていないメッセージ714,716、すなわち、「ライトアドレス」および「ライト応答」を抽出する。
なお、このシーケンス記述抽出部203は、具体的には、たとえば、図1に示したROM102、RAM103、HD105、FD107などに記録されたプログラムを、CPU101が実行することによってその機能を実現する。
また、図2において、生成部204は、取得部201によって取得された機能仕様書の機能記述と取得部201によって取得されたシーケンス仕様書の検証対象の出力動作に関するシーケンス記述とに基づいて、第2の検証項目リストを生成する。具体的には、第2の検証項目リストは、機能仕様書の機能記述とシーケンス仕様書の検証対象の出力動作に関するシーケンス記述とからなる検証項目をフォーマットとする。
たとえば、生成される第2の検証項目リストは、図5に示したユースケース図500のユースケース記述と、図6に示したシーケンス図600および図7に示したシーケンス図700のシーケンス記述とからかる検証項目を、フォーマットとすることができる。
ここで、第2の検証項目リストについて具体的に説明する。図11は、第2の検証項目リストを示す説明図である。図11において、第2の検証項目リスト1100は、ユースケース記述と、シーケンス記述(メッセージ)とからなる検証項目をフォーマットとしている。図5に示したユースケース図500を取得した場合、第2の検証項目リスト1100のユースケース記述は、ユースケース記述531の「リード」およびユースケース記述532の「ライト」となる。
同様に、図6に示したシーケンス図600および図7に示したシーケンス図700を取得した場合、第2の検証項目リスト1100のシーケンス記述は、メッセージ613,615,616(「リードアドレス」「リード応答」および「リードデータ」)およびメッセージ714〜716(「ライトアドレス」「ライトデータ」および「ライト応答」)となる。
また、ユースケース記述とシーケンス記述との対応関係は、ユースケース図500のユースケース記述とアクターとの結線関係や、シーケンス図600,700におけるアクターとオブジェクト間のメッセージの入出力から決定することができる。なお、この生成部204は、具体的には、たとえば、図1に示したROM102、RAM103、HD105、FD107などに記録されたプログラムを、CPU101が実行することによってその機能を実現する。
また、図2において、変換部205は、生成部204によって生成された第2の検証項目リスト1100と、単語抽出部202によって抽出された検証キーワードと、に基づいて、第1の検証項目リスト400を、第2の検証項目リスト1100と同一フォーマットの第3の検証項目リストに変換する。具体的には、変換部205は、第2の検証項目リスト1100内のシーケンス記述の中から、シーケンス記述抽出部203によって抽出されたシーケンス記述を削除することにより、第1の検証項目リスト400を、第3の検証項目リストに変換する。
より具体的には、図11に示した第2の検証項目リスト1100内のシーケンス記述、すなわち、メッセージ613,615,616(「リードアドレス」「リード応答」および「リードデータ」)およびメッセージ714〜716(「ライトアドレス」「ライトデータ」および「ライト応答」)から、シーケンス記述抽出部203によって抽出されたシーケンス記述を削除する。またこの場合、削除対象となるシーケンス記述は、メッセージ613の「リードアドレス」、メッセージ615の「リード応答」、メッセージ714の「ライトアドレス」およびメッセージ716の「ライト応答」である。
この場合の第3検証項目リストを示す。図12は、第3の検証項目リストを示す説明図である。図12において、第3の検証項目リスト1200は、ユースケース記述とシーケンス記述とからなる検証項目をフォーマットとしている。この変換部205により、第1の検証項目リスト400と第2の検証項目リスト1100のフォーマットの統一化を図ることができる。なお、この変換部205は、具体的には、たとえば、図1に示したROM102、RAM103、HD105、FD107などに記録されたプログラムを、CPU101が実行することによってその機能を実現する。
また、図2において、検証項目抽出部206は、第2の検証項目リスト1100の中から、第3の検証項目リスト1200に含まれていない検証項目を抽出する。具体的には、図11に示した第2の検証項目リスト1100の中から、図12に示した第3の検証項目リスト1200に含まれていない検証項目、すなわち、検証項目(ユースケース記述,シーケンス記述)として、(リード,リードアドレス)、(リード,リード応答)、(ライト,ライトアドレス)および(ライト,ライト応答)を抽出する。
これにより、第1の検証項目リスト400から洩れていた検証項目を自動的に特定することができる。なお、この検証項目抽出部206は、具体的には、たとえば、図1に示したROM102、RAM103、HD105、FD107などに記録されたプログラムを、CPU101が実行することによってその機能を実現する。
また、算出部207は、第2の検証項目リスト1100と、変換部205によって変換された第3の検証項目リスト1200と、に基づいて、カバレッジを算出する。カバレッジとは、第2の検証項目リスト1100に対する第1の検証項目リスト400の検証網羅性を示す確率情報であり、分数または%によって表現することができる。たとえば、図11に示した第2の検証項目リスト1100の検証項目数は6項目である。また、図12に示した第3の検証項目リスト1200の検証項目数は2項目である。したがって、カバレッジは、2/6、すなわち、33[%]となる。
これにより、検証作業の完了基準を設定することができ、第1の検証項目リスト400の検証網羅性の評価基準として用いることができる。なお、この検証項目抽出部206は、具体的には、たとえば、図1に示したROM102、RAM103、HD105、FD107などに記録されたプログラムを、CPU101が実行することによってその機能を実現する。
また、検出部208は、単語抽出部202によって抽出された検証キーワードの中から、シーケンス仕様書に記述されているシーケンス記述と一致しない検証キーワードを検出する。具体的には、たとえば、図8に示した検証キーワードリスト800から、シーケンス図600,700のシーケンス記述と一致しない検証キーワード、すなわち、「リセット」および「ハングアップ」を検出する。なお、この検出部208は、具体的には、たとえば、図1に示したROM102、RAM103、HD105、FD107などに記録されたプログラムを、CPU101が実行することによってその機能を実現する。
また、検証内容抽出部209は、第1の検証項目リスト400の検証内容の中から、検出部208によって検出された単語を含む検証内容を抽出する。具体的には、たとえば、図4に示した第1の検証項目リスト400の中から、検出部208によって検出された検証キーワード(「リセット」および「ハングアップ」)を含む検証内容、すなわち、検証項目403の「リード/ライト中にリセットしてもハングアップしないか?」を抽出する。
これにより、第1の検証項目リスト400から、確認を要する検証内容を含む検証項目を自動的に特定することができる。すなわち、この検証内容をレビューすることにより、機能仕様書やシーケンス仕様書に不備があるのか、あるいは、第1の検証項目リスト400における検証項目のピックアップに不備があるのかを検討することができる。なお、この検証内容抽出部209は、具体的には、たとえば、図1に示したROM102、RAM103、HD105、FD107などに記録されたプログラムを、CPU101が実行することによってその機能を実現する。
ここで、上述した検証支援装置200によって得られる評価リストについて説明する。図13は、検証支援装置200によって得られる評価リストを示す説明図である。評価リスト1300は、第2の検証項目リスト1100を含んでいる。また、検証内容については、検証項目抽出部206によって抽出された検証項目には[追加]が記述される。
また、検証項目抽出部206によって抽出されなかった検証項目には、第1の検証項目リスト400の中から、第3の検証項目リスト1200のシーケンス記述を含む検証項目の検証内容を記述する。具体的には、図13において、検証項目(ユースケース記述,シーケンス記述)の(リード,リードデータ)については、第1の検証項目リスト400の中から、「リードデータ」を含む検証項目401の検証内容「リードデータがRAMから正しく読めるか?」を記述する。
同様に、検証項目(ユースケース記述,シーケンス記述)の(ライト,ライトデータ)については、第1の検証項目リスト400の中から、「ライトデータ」を含む検証項目402の検証内容「ライトデータが正しくRAMに書かれるか?」を記述する。また、確認項目の検証内容「リード/ライト中にリセットしてもハングアップしないか?」や、算出部207によって算出されたカバレッジ(33[%])も記述する。検証支援装置200は、この評価リスト1300を、検証依頼者のコンピュータ端末に送信したり、図1に示したディスプレイ108に表示したり、プリンタ113で印刷出力することもできる。
つぎに、追加検証について説明する。追加検証とは、上述した検証支援装置200による評価リスト1300の作成後、検証対象に対するあらたな機能やシーケンスの追加などにより電子仕様書が更新されたことによって、再度必要となる検証である。追加検証では、上述した取得部201、生成部204、検証項目抽出部206および算出部207を用いておこなうことができる。
具体的には、取得部201は、上述した機能仕様書が更新(追加、変更、削除)されたことによって得られた最新の機能仕様書と、シーケンス仕様書が更新(追加、変更、削除)されたことによって得られた最新のシーケンス仕様書と、を取得する。図14は、検証対象の最新の機能仕様書の一例を示す説明図であり、図15は、検証対象の最新のシーケンス仕様書の一例を示す説明図である。図14には、最新の機能仕様書としてUMLのユースケース図1400が示されており、図3に示したDUT303の更新後における機能をあらわしている。
図14において、図5に示した構成と同一構成には同一符号を付しその説明を省略する。システム1403は、ユースケース記述531,532のほか、あらたに追加されたDUT303のクリア機能を示すユースケース記述1433が示されている。また、図15には、あらたに追加されたUMLのシーケンス図1500が示されている。図15に示したシーケンス図1500は、DUT303のクリア動作を示しており、アクター501,502と、オブジェクト603と、メッセージ1511〜1513と、が含まれている。
メッセージ1511は、アクター501からオブジェクト603へクリア要求を送信する動作を示すシーケンス記述である。メッセージ1512は、オブジェクト603からアクター502へクリア要求を送信する動作を示すシーケンス記述である。メッセージ1513は、オブジェクト603からアクター501へクリア応答を送信する動作を示すシーケンス記述である。
また、生成部204は、取得部201によって取得された最新の機能仕様書の機能記述と取得部201によって取得された最新のシーケンス仕様書の検証対象の出力動作に関するシーケンス記述に基づいて、第4の検証項目リストを生成する。具体的には、第4の検証項目リストは、最新の機能仕様書の機能記述と最新のシーケンス仕様書の検証対象の出力動作に関するシーケンス記述とからなる検証項目をフォーマットとする。
ここで、本実施の形態で示した例において、最新の機能仕様書とは、図14に示したユースケース図1400であり、最新のシーケンス仕様書とは、図6に示したシーケンス図600、図7に示したシーケンス図700、および図15に示したシーケンス図1500である。
したがって、生成される第4の検証項目リストは、図14に示したユースケース図1400のユースケース記述と、図6に示したシーケンス図600、図7に示したシーケンス図700および図15に示したシーケンス図1500のシーケンス記述とからかる検証項目を、フォーマットとする。これにより、機能仕様書およびシーケンス仕様書が更新された場合であっても、第2の検証項目リストと同一フォーマットによって第4の検証項目リストを生成することができ、更新前後において、フォーマットの統一化を図ることができる。
追加検証においても、生成部204は、第2の検証項目リスト1100を生成した場合と同様の生成処理によって第4の検証項目リストを生成する。図16は、第4の検証項目リストを示す説明図である。図16において、第4の検証項目リスト1600は、ユースケース記述と、シーケンス記述(メッセージ)とからなる検証項目をフォーマットとしている。図14に示したユースケース図1400を取得した場合、第4の検証項目リスト1600のユースケース記述は、ユースケース記述531の「リード」、ユースケース記述532の「ライト」およびユースケース記述1433の「クリア」となる。
同様に、図6に示したシーケンス図600、図7に示したシーケンス図700および図15に示したシーケンス図1500を取得した場合、第4の検証項目リスト1600のシーケンス記述は、メッセージ613,615,616(「リードアドレス」「リード応答」および「リードデータ」)と、メッセージ714〜716(「ライトアドレス」「ライトデータ」および「ライト応答」)と、メッセージ1511〜1513(「クリア要求」および「クリア応答」)となる。
また、ユースケース記述とシーケンス記述との対応関係は、ユースケース図1400のユースケース記述とアクターとの結線関係や、シーケンス図600,700,1500におけるアクターとオブジェクト間のメッセージの入出力から決定することができる。
また、検証項目抽出部206は、生成部204によって生成された第4の検証項目リスト1600の中から、第2の検証項目リスト1100に含まれていない検証項目を抽出する。具体的には、図16に示した第4の検証項目リスト1600の中から、図11に示した第2の検証項目リスト1100に含まれていない検証項目、すなわち、検証項目(ユースケース記述,シーケンス記述)として、(クリア,クリア要求)および(クリア,クリア応答)を抽出する。これにより、電子仕様書にあらたに追加された機能およびシーケンス、これらを含む追加検証項目を自動的に特定することができる。
また、算出部207は、第4の検証項目リスト1600の検証項目数と、検証項目抽出部206によって第4の検証項目リスト1600の中から抽出された、第2の検証項目リスト1100に含まれていない検証項目数と、に基づいて、機能仕様書およびシーケンス仕様書に対する、最新の機能仕様書および最新のシーケンス仕様書の追加検証率を算出する。追加検証率とは、最新の電子仕様書が得られたことによって、どの程度追加検証が必要となったかを示す確率情報であり、分数または%によって表現することができる。
具体的には、本実施の形態で示した例においては、第4の検証項目リスト1600の検証項目数は8項目、検証項目抽出部206によって第4の検証項目リスト1600の中から抽出された検証項目数は2項目である。したがって、追加検証率は、2/8、すなわち、25[%]である。これにより、どの程度検証項目が追加されたかを把握することができ、追加検証作業がどの程度必要であるかを見積もることができる。
ここで、上述した検証支援装置200の追加検証によって得られる評価リストについて説明する。図17は、検証支援装置200の追加検証によって得られる評価リストを示す説明図である。評価リスト1700は、図13に示した評価リスト1300を追加検証によって更新されたリストである。図17において、検証内容が[済]と記述されている検証項目は、追加検証前にすでに検証済みであることを示している。また、[追加]と記述されている検証項目は、この追加検証であらたに追加された検証項目であることを示す。
このように、この検証支援装置200によれば、変換部205により、第2の検証項目リスト1100と、抽出された検証キーワードと、に基づいて、フリーフォーマットの第1の検証項目リスト400を、第2の検証項目リスト1100と同一フォーマットの第3の検証項目リスト1200に変換する。これにより、第1の検証項目リスト400と第2の検証項目リスト1100のフォーマットの統一化を図ることができる。したがって、第1の検証項目リスト400と第2の検証項目リスト1100の比較を容易かつ効率的におこなうことができ、過不足分の検証項目を特定することができる。よって、検証網羅性の向上を図ることができる。
特に、変換部205により、第2の検証項目リスト1100内のシーケンス記述の中から、シーケンス記述抽出部203によって抽出されたシーケンス記述を削除することにより、第1の検証項目リスト400を、第3の検証項目リスト1200に変換する。これにより、第1の検証項目リスト400から洩れている検証すべきシーケンスを自動的に特定することができる。したがって、過不足分の検証項目を高精度に特定することができ、検証網羅性の向上を図ることができる。
また、検証項目抽出部206により、第2の検証項目リスト1100の中から、第3の検証項目リスト1200に含まれていない検証項目を抽出する。これにより、第1の検証項目リスト400から洩れている検証項目を自動的に特定することができる。したがって、過不足分の検証項目を高精度に特定することができ、検証網羅性の向上を図ることができるとともに、人的コストの低減および検証期間ひいては設計期間の短縮化を図ることができる。
また、算出部207により、第1の検証項目リスト400の検証網羅性を示すカバレッジを算出する。これにより、検証作業の完了基準(ゴール基準)を設定することができる。したがって、第1の検証項目リスト400の検証網羅性の評価基準として用いることができる。またこれにより、検証作業の進捗状況も把握することができる。
また、検証内容抽出部209により、第1の検証項目リスト400に記述されている検証内容の中から、検出部208によって検出された検証キーワードを含む検証内容を抽出する。これにより、抽出された検証内容を確認すべき検証項目の内容として用いることができる。したがって、この検証内容を検討することにより、電子仕様書に不備があるか、第1の検証項目リスト400における検証項目のリストアップに不備があるかを特定する手掛かりとして用いることができる。
また、生成部204により、最新の機能仕様書および最新のシーケンス仕様書に基づいて第4の検証項目リスト1600を生成する。これにより、第4の検証項目リスト1600を、第2の検証項目リスト1100と同一フォーマットで生成することができる。したがって、第4の検証項目リスト1600については、追加検証項目のみを検証すればよく、検証作業を容易かつ効率的におこなうことができ、追加検証の検証網羅性の向上を図ることができる。
また、検証項目抽出部206により、第4の検証項目リスト1600の中から、第2の検証項目リスト1100に含まれていない検証項目を抽出する。これにより、最新の機能仕様書および最新のシーケンス仕様書から、あらたに追加された検証項目を自動的に特定することができる。したがって、追加検証の検証網羅性の向上を図ることができるとともに、人的コストの低減および検証期間ひいては設計期間の短縮化を図ることができる。
また、算出部207により、最新の電子仕様書が得られたことによって、どの程度追加検証が必要となったかを示す追加検証率を算出する。これにより、追加検証作業の完了基準(ゴール基準)を設定することができる。したがって、追加検証の検証網羅性の評価基準として用いることができる。
(検証支援処理手順)
つぎに、この発明の実施の形態にかかる検証支援処理手順について説明する。図18および図19は、この発明の実施の形態にかかる検証支援処理手順を示すフローチャートである。図18において、取得部201により、第1の検証項目リスト400が取得された場合(ステップS1801:Yes)、単語抽出部202により、第1の検証項目リスト400から検証キーワードを抽出する(ステップS1802)。
そして、取得部201により、機能仕様書(ユースケース図500)およびシーケンス仕様書(シーケンス図600,700)が取得された場合(ステップS1803:Yes)、シーケンス記述抽出部203により、ユースケース記述ごとに、シーケンス図600,700からDUT303の出力動作に関するシーケンス記述を抽出し(ステップS1804)。そして、生成部204により、第2の検証項目リスト1100を生成する(ステップS1805)。
つぎに、第1の検証項目リスト400を、第2の検証項目リスト1100と同一フォーマットの第3の検証項目リスト1200に変換する(ステップS1806)。これにより、第3の検証項目リスト1200が生成される。この後、検証項目抽出部206により、第2の検証項目リスト1100の中から、第3の検証項目リスト1200に含まれていない検証項目を抽出する(ステップS1807)。
そして、算出部207により、カバレッジを算出するとともに(ステップS1808)、検出部208により、検証キーワードリスト800の中から、シーケンス図600,700のシーケンス記述と一致しない検証キーワード(「リセット」および「ハングアップ」)を検出する(ステップS1809)。
そして、図19において、検証内容抽出部209により、第1の検証項目リスト400に記述されている検証内容の中から、検出部208により検出された検証キーワードを含む検証内容を抽出する(ステップS1810)。この後、評価リスト1300を作成し(ステップS1811)、検証依頼者に提供することができる。評価リスト1300の作成後、DUT303の検証がおこなわれた場合(ステップS1812:Yes)、評価リスト1300を更新する(ステップS1813)。これにより、評価リスト1300において、[追加]と記述されていた検証内容が、検証済みを示す[済]に更新される。
このあと、最新の機能仕様書(ユースケース図1400)および最新のシーケンス仕様書(シーケンス図600,700,1500)が取得されない場合(ステップS1814:No)、一連の処理を終了する。一方、取得部201により、最新の機能仕様書(ユースケース図1400)および最新のシーケンス仕様書(シーケンス図600,700,1500)が取得された場合(ステップS1814:Yes)、生成部204により、第4の検証項目リスト1600を生成する(ステップS1815)。
そして、検証項目抽出部206により、第4の検証項目リスト1600の中から、第2の検証項目リスト1100に含まれていない検証項目、すなわち、検証項目(ユースケース記述,シーケンス記述)として、(クリア,クリア要求)および(クリア,クリア応答)を抽出する(ステップS1816)。そして、算出部207により、追加検証率を算出し(ステップS1817)、評価リスト1300を更新する(ステップS1818)。これにより、図17に示した評価リスト1700を得ることができる。
このように、この検証支援処理手順によれば、従来のレビューのように、複数メンバーによる長時間の検証作業の発生を防止することができる。すなわち、従来のレビューでは、3人から10人以上のメンバーにより2時間から半日程度も要していたが、本発明では、1人の検証処理により、1分程度の短時間でフリーフォーマットの検証項目リストの検証網羅性を判断することができる。
また、従来のレビューのように、検証項目の品質が参加メンバーの経験や能力に依存することがなく、検証項目の品質の向上および均一化を図ることができる。さらに、検証項目の過不足分を自動抽出することができ、検証作業期間の短縮化を図ることができる。
また、検証作業の完了基準(ゴール基準)を設定することができ、検証網羅性を保証することができる。さらに、検証項目抽出サービスにおいて、検証項目の不足分のみの抽出を高精度におこなうことができ、検証項目抽出サービスの信頼性の向上を図ることができる。したがって、当該サービスに見合った対価の請求をおこなうことができる。
また、電子仕様書から自動的に得られた第2の検証項目リスト1100と、評価対象となる第1の検証項目リスト400の比較によって、検証項目の過不足が抽出される。この場合、評価対象となる第1の検証項目リスト400に不備がある場合もあるが、確認項目が抽出されている場合、当該確認項目を検討することによって、過剰記述や記述不足など元となる電子仕様書の不備を検出することもできる。
また、電子仕様書に記述の追加があった場合に、第2の検証項目リスト1100からの追加検証項目を自動抽出することができる。これにより、追加検証項目のみの検証をおこなうことによって検証時間の短縮化を図ることができる。
以上のことから、この発明の実施の形態にかかる検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体によれば、フリーフォーマットの検証項目リストから簡単かつ効率的に検証項目を自動抽出することにより、検証網羅性の向上、人的コストの低減および設計期間の短縮化を図ることができるという効果を奏する。
なお、この実施の形態で説明した検証支援方法は、予め用意されたプログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーションなどのコンピュータで実行することにより実現することができる。このプログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク、CD−ROM、MO、DVDなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。またこのプログラムは、インターネットなどのネットワークを介して配布することが可能な伝送媒体であってもよい。
(付記1)検証対象の検証内容を示す検証項目が任意のフォーマットで記述された第1の検証項目リストと、前記検証対象の機能を示す電子仕様書(以下、「機能仕様書」という)と、前記検証対象のシーケンスを示す電子仕様書(以下、「シーケンス仕様書」という)と、を取得する取得手段と、
前記取得手段によって取得された第1の検証項目リストの中から、前記検証対象に関する単語を抽出する単語抽出手段と、
前記取得手段によって取得された機能仕様書の機能記述と前記取得手段によって取得されたシーケンス仕様書の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述とからなる検証項目をフォーマットとする第2の検証項目リストを生成する生成手段と、
前記生成手段によって生成された第2の検証項目リストと、前記単語抽出手段によって抽出された単語と、に基づいて、前記第1の検証項目リストを、前記第2の検証項目リストと同一フォーマットの第3の検証項目リストに変換する変換手段と、
を備えることを特徴とする検証支援装置。
(付記2)前記シーケンス仕様書の中から、前記単語抽出手段によって抽出された単語と一致しないシーケンス記述を抽出するシーケンス記述抽出手段を備え、
前記変換手段は、
前記第2の検証項目リストに記述されたシーケンス記述の中から、前記シーケンス記述抽出手段によって抽出されたシーケンス記述を削除することにより、前記第1の検証項目リストを前記第3の検証項目リストに変換することを特徴とする付記1に記載の検証支援装置。
(付記3)前記第2の検証項目リストの中から、前記第3の検証項目リストに含まれていない検証項目を抽出する検証項目抽出手段を備えることを特徴とする付記1または2に記載の検証支援装置。
(付記4)前記第2の検証項目リストと、前記変換手段によって変換された第3の検証項目リストと、に基づいて、前記第2の検証項目リストに対する前記第1の検証項目リストの検証網羅性を示すカバレッジを算出する算出手段と、
を備えることを特徴とする付記1〜3のいずれか一つに記載の検証支援装置。
(付記5)前記単語抽出手段によって抽出された単語の中から、前記シーケンス仕様書に記述されているシーケンス記述と一致しない単語を検出する検出手段と、
前記第1の検証項目リストに記述されている検証内容の中から、前記検出手段によって検出された単語を含む検証内容を抽出する検証内容抽出手段と、
を備えることを特徴とする付記1〜4のいずれか一つに記載の検証支援装置。
(付記6)前記取得手段は、
前記機能仕様書が更新されたことによって得られた最新の機能仕様書と、前記シーケンス仕様書が更新されたことによって得られた最新のシーケンス仕様書と、を取得し、
前記生成手段は、
前記取得手段によって取得された最新の機能仕様書の機能記述と前記取得手段によって取得された最新のシーケンス仕様書の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述とからなる検証項目をフォーマットとする第4の検証項目リストを生成することを特徴とする付記3に記載の検証支援装置。
(付記7)前記検証項目抽出手段は、
前記生成手段によって生成された第4の検証項目リストの中から、前記第2の検証項目リストに含まれていない検証項目を抽出することを特徴とする付記6に記載の検証支援装置。
(付記8)前記算出手段は、
前記第4の検証項目リストの検証項目の数と、前記検証項目抽出手段によって前記第4の検証項目リストの中から抽出された、前記第2の検証項目リストに含まれていない検証項目の数と、に基づいて、前記機能仕様書および前記シーケンス仕様書に対する、前記最新の機能仕様書および前記最新のシーケンス仕様書の追加検証率を算出することを特徴とする付記7に記載の検証支援装置。
(付記9)検証対象の検証内容を示す検証項目が任意のフォーマットで記述された第1の検証項目リストと、前記検証対象の機能を示す電子仕様書(以下、「機能仕様書」という)と、前記検証対象のシーケンスを示す電子仕様書(以下、「シーケンス仕様書」という)と、を取得する取得工程と、
前記取得工程によって取得された第1の検証項目リストの中から、前記検証対象に関する単語を抽出する単語抽出工程と、
前記取得工程によって取得された機能仕様書の機能記述と前記取得工程によって取得されたシーケンス仕様書の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述とからなる検証項目をフォーマットとする第2の検証項目リストを生成する生成工程と、
前記生成工程によって生成された第2の検証項目リストと、前記単語抽出工程によって抽出された単語と、に基づいて、前記第1の検証項目リストを、前記第2の検証項目リストと同一フォーマットの第3の検証項目リストに変換する変換工程と、
を含んだことを特徴とする検証支援方法。
(付記10)前記シーケンス仕様書の中から、前記単語抽出工程によって抽出された単語と一致しないシーケンス記述を抽出するシーケンス記述抽出工程を含み、
前記変換工程は、
前記第2の検証項目リストに記述されたシーケンス記述の中から、前記シーケンス記述抽出工程によって抽出されたシーケンス記述を削除することにより、前記第1の検証項目リストを前記第3の検証項目リストに変換することを特徴とする付記9に記載の検証支援方法。
(付記11)前記第2の検証項目リストの中から、前記第3の検証項目リストに含まれていない検証項目を抽出する検証項目抽出工程を含んだことを特徴とする付記9または10に記載の検証支援方法。
(付記12)検証対象の検証内容を示す検証項目が任意のフォーマットで記述された第1の検証項目リストと、前記検証対象の機能を示す電子仕様書(以下、「機能仕様書」という)と、前記検証対象のシーケンスを示す電子仕様書(以下、「シーケンス仕様書」という)と、を取得させる取得工程と、
前記取得工程によって取得された第1の検証項目リストの中から、前記検証対象に関する単語を抽出させる単語抽出工程と、
前記取得工程によって取得された機能仕様書の機能記述と前記取得工程によって取得されたシーケンス仕様書の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述とからなる検証項目をフォーマットとする第2の検証項目リストを生成させる生成工程と、
前記生成工程によって生成された第2の検証項目リストと、前記単語抽出工程によって抽出された単語と、に基づいて、前記第1の検証項目リストを、前記第2の検証項目リストと同一フォーマットの第3の検証項目リストに変換させる変換工程と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする検証支援プログラム。
(付記13)前記シーケンス仕様書の中から、前記単語抽出工程によって抽出された単語と一致しないシーケンス記述を抽出するシーケンス記述抽出工程をコンピュータに実行させ、
前記変換工程は、
前記第2の検証項目リストに記述されたシーケンス記述の中から、前記シーケンス記述抽出工程によって抽出されたシーケンス記述を削除することにより、前記第1の検証項目リストを前記第3の検証項目リストに変換させることを特徴とする付記12に記載の検証支援プログラム。
(付記14)前記第2の検証項目リストの中から、前記第3の検証項目リストに含まれていない検証項目を抽出させる検証項目抽出工程をコンピュータに実行させることを特徴とする付記12または13に記載の検証支援プログラム。
(付記15)付記12〜14のいずれか一つに記載の検証支援プログラムを記録したコンピュータに読み取り可能な記録媒体。
以上のように、本発明にかかる検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体は、LSIの検証作業に有用であり、特に、設計ツールや検証ツールに適している。
この発明の実施の形態にかかる検証支援装置のハードウェア構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態にかかる検証支援装置の機能的構成を示すブロック図である。 検証対象を含むシステムLSIの一例を示すブロック図である。 第1の検証項目リストを示す説明図である。 検証対象の機能仕様書の一例を示す説明図である。 検証対象のリード動作に関するシーケンス仕様書の一例を示す説明図である。 検証対象のライト動作に関するシーケンス仕様書の一例を示す説明図である。 リストアップされた検証キーワードリストを示す説明図である。 リード動作に関するシーケンス図からシーケンス記述を抽出する例を示す説明図である。 ライト動作に関するシーケンス図からシーケンス記述を抽出する例を示す説明図である。 第2の検証項目リストを示す説明図である。 第3の検証項目リストを示す説明図である。 検証支援装置によって得られる評価リストを示す説明図である。 最新の機能仕様書の一例を示す説明図である。 最新のシーケンス仕様書の一例を示す説明図である。 第4の検証項目リストを示す説明図である。 検証支援装置の追加検証によって得られる評価リストを示す説明図である。 この発明の実施の形態にかかる検証支援処理手順を示すフローチャート(その1)である。 この発明の実施の形態にかかる検証支援処理手順を示すフローチャート(その2)である。
符号の説明
200 検証支援装置
201 取得部
202 単語抽出部
203 シーケンス記述抽出部
204 生成部
205 変換部
206 検証項目抽出部
207 算出部
208 検出部
209 検証内容抽出部
400 第1の検証項目リスト
500,1400 ユースケース図
600,700,1500 シーケンス図
800 検証キーワードリスト
1100 第2の検証項目リスト
1200 第3の検証項目リスト
1600 第4の検証項目リスト

Claims (9)

  1. 検証対象の検証内容を示す検証項目が任意のフォーマットで記述された第1の検証項目リストと、前記検証対象の機能を示す電子仕様書(以下、「機能仕様書」という)と、前記検証対象のシーケンスを示す電子仕様書(以下、「シーケンス仕様書」という)と、を取得する取得手段と、
    前記取得手段によって取得された第1の検証項目リストの中から、前記検証対象に関する単語を抽出する単語抽出手段と、
    前記取得手段によって取得された機能仕様書の機能記述と、前記取得手段によって取得されたシーケンス仕様書のうち前記機能記述に対応する前記検証対象の出力動作に関するシーケンス仕様書内の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述と、からなる検証項目をフォーマットとする第2の検証項目リストを生成する生成手段と、
    前記シーケンス仕様書の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述の中から、前記単語抽出手段によって抽出された単語と一致しないシーケンス記述を抽出するシーケンス記述抽出手段と、
    前記第2の検証項目リストに記述されたシーケンス記述の中から、前記シーケンス記述抽出手段によって抽出されたシーケンス記述を削除することにより、前記第1の検証項目リストを、前記第2の検証項目リストと同一フォーマットの第3の検証項目リストに変換する変換手段と、
    前記第2の検証項目リストの中から、前記第3の検証項目リストに含まれていない検証項目を抽出する検証項目抽出手段と、
    を備えることを特徴とする検証支援装置。
  2. 前記第2の検証項目リストと、前記変換手段によって変換された第3の検証項目リストと、に基づいて、前記第2の検証項目リストに対する前記第1の検証項目リストの検証網羅性を示すカバレッジを算出する算出手段と、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の検証支援装置。
  3. 前記単語抽出手段によって抽出された単語の中から、前記シーケンス仕様書に記述されているシーケンス記述と一致しない単語を検出する検出手段と、
    前記第1の検証項目リストに記述されている検証内容の中から、前記検出手段によって検出された単語を含む検証内容を抽出する検証内容抽出手段と、
    を備えることを特徴とする請求項1または2に記載の検証支援装置。
  4. 前記取得手段は、
    前記機能仕様書が更新されたことによって得られた最新の機能仕様書と、前記シーケンス仕様書が更新されたことによって得られた最新のシーケンス仕様書と、を取得し、
    前記生成手段は、
    前記第2の検証項目リストの検証項目と、前記取得手段によって取得された最新の機能仕様書の機能記述と前記取得手段によって取得された最新のシーケンス仕様書の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述とからなる検証項目と、をフォーマットとする第4の検証項目リストを生成することを特徴とする請求項1に記載の検証支援装置。
  5. 前記検証項目抽出手段は、
    前記生成手段によって生成された第4の検証項目リストの中から、前記第2の検証項目リストに含まれていない検証項目を抽出することを特徴とする請求項4に記載の検証支援装置。
  6. 前記算出手段は、
    前記第4の検証項目リストの検証項目の数と、前記検証項目抽出手段によって前記第4の検証項目リストの中から抽出された、前記第2の検証項目リストに含まれていない検証項目の数と、に基づいて、前記機能仕様書および前記シーケンス仕様書に対する、前記最新の機能仕様書および前記最新のシーケンス仕様書の追加検証率を算出することを特徴とする請求項5に記載の検証支援装置。
  7. 取得手段、単語抽出手段、生成手段、シーケンス記述抽出手段、変換手段および検証項目抽出手段を備えるコンピュータが、
    前記取得手段により、検証対象の検証内容を示す検証項目が任意のフォーマットで記述された第1の検証項目リストと、前記検証対象の機能を示す電子仕様書(以下、「機能仕様書」という)と、前記検証対象のシーケンスを示す電子仕様書(以下、「シーケンス仕様書」という)と、を取得する取得工程と、
    前記単語抽出手段により、前記取得工程によって取得された第1の検証項目リストの中から、前記検証対象に関する単語を抽出する単語抽出工程と、
    前記生成手段により、前記取得工程によって取得された機能仕様書の機能記述と、前記取得工程によって取得されたシーケンス仕様書のうち前記機能記述に対応する前記検証対象の出力動作に関するシーケンス仕様書内の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述と、からなる検証項目をフォーマットとする第2の検証項目リストを生成する生成工程と、
    前記シーケンス記述抽出手段により、前記シーケンス仕様書の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述の中から、前記単語抽出工程によって抽出された単語と一致しないシーケンス記述を抽出するシーケンス記述抽出工程と、
    前記変換手段により、前記第2の検証項目リストに記述されたシーケンス記述の中から、前記シーケンス記述抽出工程によって抽出されたシーケンス記述を削除することにより、前記第1の検証項目リストを、前記第2の検証項目リストと同一フォーマットの第3の検証項目リストに変換する変換工程と、
    前記検証項目抽出手段により、前記第2の検証項目リストの中から、前記第3の検証項目リストに含まれていない検証項目を抽出する検証項目抽出工程と、
    を実行することを特徴とする記載の検証支援方法。
  8. 検証対象の検証内容を示す検証項目が任意のフォーマットで記述された第1の検証項目リストと、前記検証対象の機能を示す電子仕様書(以下、「機能仕様書」という)と、前記検証対象のシーケンスを示す電子仕様書(以下、「シーケンス仕様書」という)と、を取得させる取得工程と、
    前記取得工程によって取得された第1の検証項目リストの中から、前記検証対象に関する単語を抽出させる単語抽出工程と、
    前記取得工程によって取得された機能仕様書の機能記述と、前記取得工程によって取得されたシーケンス仕様書のうち前記機能記述に対応する前記検証対象の出力動作に関するシーケンス仕様書内の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述と、からなる検証項目をフォーマットとする第2の検証項目リストを生成する生成工程と、
    前記シーケンス仕様書の前記検証対象の出力動作に関するシーケンス記述の中から、前記単語抽出工程によって抽出された単語と一致しないシーケンス記述を抽出するシーケンス記述抽出工程と、
    前記第2の検証項目リストに記述されたシーケンス記述の中から、前記シーケンス記述抽出工程によって抽出されたシーケンス記述を削除することにより、前記第1の検証項目リストを、前記第2の検証項目リストと同一フォーマットの第3の検証項目リストに変換する変換工程と、
    前記第2の検証項目リストの中から、前記第3の検証項目リストに含まれていない検証項目を抽出する検証項目抽出工程と、
    をコンピュータに実行させることを特徴とする検証支援プログラム。
  9. 請求項8に記載の検証支援プログラムを記録したコンピュータに読み取り可能な記録媒体。
JP2004381855A 2004-12-28 2004-12-28 検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体 Expired - Fee Related JP4335798B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004381855A JP4335798B2 (ja) 2004-12-28 2004-12-28 検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体
US11/101,520 US20060156262A1 (en) 2004-12-28 2005-04-08 Method and apparatus for supporting verification, and computer product
US11/747,026 US7685546B2 (en) 2004-12-28 2007-05-10 Method and apparatus for supporting verification, and computer product

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004381855A JP4335798B2 (ja) 2004-12-28 2004-12-28 検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006189947A JP2006189947A (ja) 2006-07-20
JP4335798B2 true JP4335798B2 (ja) 2009-09-30

Family

ID=36654797

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004381855A Expired - Fee Related JP4335798B2 (ja) 2004-12-28 2004-12-28 検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体

Country Status (2)

Country Link
US (2) US20060156262A1 (ja)
JP (1) JP4335798B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120197970A1 (en) * 2011-01-28 2012-08-02 Marie Clarke Arturi Method and system for multi-media object creation and social publishing of same
US10719802B2 (en) * 2015-03-19 2020-07-21 United Parcel Service Of America, Inc. Enforcement of shipping rules
US11281850B2 (en) * 2017-12-28 2022-03-22 A9.Com, Inc. System and method for self-filing customs entry forms
KR102563740B1 (ko) * 2021-08-18 2023-08-04 삼성엔지니어링 주식회사 AutoCAD도면자동생성장치 및 방법, 그리고 그 방법이 기록된 컴퓨터 판독매체

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5870308A (en) * 1990-04-06 1999-02-09 Lsi Logic Corporation Method and system for creating and validating low-level description of electronic design
US5751592A (en) * 1993-05-06 1998-05-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus and method of supporting functional design of logic circuit and apparatus and method of verifying functional design of logic circuit
US6182258B1 (en) * 1997-06-03 2001-01-30 Verisity Ltd. Method and apparatus for test generation during circuit design
JP2001101255A (ja) * 1999-10-01 2001-04-13 Toshiba Corp 機能テスト支援システム、機能テスト支援方法およびハードウエア記述モデル
US6718521B1 (en) * 2000-08-14 2004-04-06 International Business Machines Corporation Method and system for measuring and reporting test coverage of logic designs
US6973640B2 (en) * 2000-10-04 2005-12-06 Bea Systems, Inc. System and method for computer code generation
CA2366344A1 (en) * 2001-12-27 2003-06-27 Ibm Canada Limited - Ibm Canada Limitee Organization of test cases
JP4355525B2 (ja) 2002-10-09 2009-11-04 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 検証支援方法、検証支援プログラムおよび検証支援装置
EP1447759A1 (en) * 2003-02-07 2004-08-18 ARM Limited Generation of a testbench for a representation of a device
WO2005033906A2 (en) * 2003-09-30 2005-04-14 Mentor Graphics Corporation System verification using one or more automata

Also Published As

Publication number Publication date
US7685546B2 (en) 2010-03-23
JP2006189947A (ja) 2006-07-20
US20060156262A1 (en) 2006-07-13
US20070234250A1 (en) 2007-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20050268165A1 (en) Method and system for automated testing of web services
JP2007334627A (ja) サービスベースソフトウェア設計支援方法及びそのための装置
WO2021120664A1 (zh) 一种异常inode的动态修复方法、系统及相关组件
JP5701096B2 (ja) ファイル追跡装置及びファイル追跡方法及びファイル追跡プログラム
JP4677486B2 (ja) 返信メールの作成を支援する装置、方法及びコンピュータプログラム
JP4335798B2 (ja) 検証支援装置、検証支援方法、検証支援プログラム、および記録媒体
US20060156264A1 (en) Method and apparatus for supporting verification of system, and computer product
JP2010026849A (ja) 文書管理システム、文書管理プログラム及び文書管理方法
JP5445066B2 (ja) 解析支援プログラム、解析支援装置、および解析支援方法
JP2010113396A (ja) 進捗管理プログラム、進捗管理装置、および進捗管理方法
JP5187113B2 (ja) 情報処理装置及びプログラム
JP2008146182A (ja) プロジェクト管理装置
JP6671649B2 (ja) 情報処理装置
JP5369826B2 (ja) 重要度を加味したスケジュール表示方法及びプログラム
JP6336922B2 (ja) 業務バリエーションに基づく業務影響箇所抽出方法および業務影響箇所抽出装置
JP2004102559A (ja) スケジュール情報抽出編集装置および方法
US10068300B2 (en) Intellectual asset family creation
JP5490509B2 (ja) 工事・業務実績検索システム
JP2009053840A (ja) タスク管理システム、管理サーバ、タスク情報通知方法、及びタスク情報通知プログラム
JP5382303B2 (ja) 情報解析システム、端末装置、サーバ装置、情報解析方法、及びプログラム
JP2005321955A (ja) 被疑部品特定システムおよび被疑部品特定方法
US20210152437A1 (en) Information processing apparatus, data flow editing method, and storage medium
JP4805491B2 (ja) 辞書管理プログラム及びコンピュータシステム
JP2010170455A (ja) 市場品質分析システムおよび市場品質分析方法
JP5412827B2 (ja) 文書管理装置、文書管理プログラム、及び文書管理システム

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080312

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080318

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080519

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20080730

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090623

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090625

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703

Year of fee payment: 3

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130703

Year of fee payment: 4

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees