JP2872076B2 - 論理検証装置およびその方法 - Google Patents

論理検証装置およびその方法

Info

Publication number
JP2872076B2
JP2872076B2 JP7103754A JP10375495A JP2872076B2 JP 2872076 B2 JP2872076 B2 JP 2872076B2 JP 7103754 A JP7103754 A JP 7103754A JP 10375495 A JP10375495 A JP 10375495A JP 2872076 B2 JP2872076 B2 JP 2872076B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
path
information
gate
logic
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP7103754A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH08297686A (ja
Inventor
俊和 千葉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIPPON DENKI AISHII MAIKON SHISUTEMU KK
Original Assignee
NIPPON DENKI AISHII MAIKON SHISUTEMU KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NIPPON DENKI AISHII MAIKON SHISUTEMU KK filed Critical NIPPON DENKI AISHII MAIKON SHISUTEMU KK
Priority to JP7103754A priority Critical patent/JP2872076B2/ja
Publication of JPH08297686A publication Critical patent/JPH08297686A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2872076B2 publication Critical patent/JP2872076B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はLSIの論理検証装置お
よびその方法に関し、特にクリティカルパスの解析検証
を含む論理検証装置およびその方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、LSIの設計に当たっては論
理シミュレーションを用いた論理検証や、スタティック
・タイミング解析ツールを用いたタイミング解析・検証
が用いられている。
【0003】論理シミュレーションとは、LSIとして
搭載される論理回路などを各種ゲートの論理モデルとそ
の接続情報の記述によりモデル化されたデータである論
理回路接続情報と、論理回路を検査するためのテストパ
タンを用いて、計算機上で演算により論理的に等価な動
作を行わせるものである。論理シミュレーションの実行
結果としては入力テストパタンが論理回路の入力端子に
印加されるのに呼応して動作する論理回路の出力端子の
変化状態が時系列に記憶装置に格納されたり、プリンタ
やCRTなどの出力装置に出力・表示され、これを見る
ことにより論理回路が期待通りに動作するかを確認する
ことができる。
【0004】また、計算機上の論理演算により行われて
いることであるから必要に応じて外部端子のみならず接
続情報の内部の信号を容易にトレース観測することも可
能である。実際の論理回路を構成するゲートや配線は信
号を伝達する際には遅延を生じるが、これもモデル化し
接続情報に持たせることにより、実遅延の論理シミュレ
ーションを行うことが可能である。遅延モデルを持たな
い論理シミュレーションは単に論理回路が論理的に期待
通りの動作をするかを確認すること以上の意味を持たな
いが、実遅延モデルを扱う論理シミュレーションは論理
回路の各信号のタイミングを加味した上でも論理的に期
待した動作をするかを検証することができる。
【0005】一方、スタティック・タイミング解析ツー
ルとは、前述の論理シミュレーションと同様に計算機上
で動作し、遅延情報を含んだ論理回路接続情報から解析
パス条件に基づき端子間あるいはクロックによってタイ
ミングが切られているフリップ・フロップ間やラッチ間
に介在する組み合わせ回路によって構成されるパスの
内、遅延時間が大きくタイミングが厳しいパス、いわゆ
るクリティカルパスの遅延情報を抽出・集計するもので
ある。
【0006】図4、図9および図10のそれぞれを参照
して論理シミュレーションの具体的な例を説明する。図
4に示す論理回路は、クロックCLKの立ち上がりによ
ってデータの取り込み、送出を行うフリップ・フロップ
400と、クロックCLKの立ち下がりでデータの取り
込み、送出を行うフリップ・フロップ405と、組み合
わせ回路として4個の2入力ANDゲート401〜40
4が直列に2つのフリップ・フロップ400、405の
間に介在する構成である。図9に示す論理回路接続情報
111は図4に示した論理回路を内部に含んでいる。ス
タティックタイミング解析ツール902は、前述の論理
回路接続情報111とパス解析条件901を入力しパス
解析を行いパス解析結果115を出力する。ここでパス
解析条件901とは、例えば、端子間のパス解析とかフ
リップ・フロップ間のパス解析とかの解析の種類を指定
したり、抽出するパスの遅延値の下限を指定したり、パ
ス遅延の大きいものから何個まで抽出するかを指定した
りする情報である。パス解析結果115はここでは記憶
装置にデータとして格納される例を示しているが、当然
プリンタやCRTなどの出力装置にも出力・表示が可能
である。図10を参照すると、前述の図4に示した論理
回路部分のパス解析結果例が示されており、フリップ・
フロップ400の出力からフリップ・フロップ405の
データ入力、すなわちANDゲート404の出力までの
情報が抽出されている。情報1001は当該行がパスを
構成する何番目の要素であるかを識別するための番号で
あり、情報1002はパスの始まりから識別番号部まで
の遅延時間でありパスを構成するゲート名情報1005
の各ゲートの単独遅延時間情報1003を累積したもの
である。情報1004はこのパスを伝搬する信号の各ゲ
ートでの変化の方向であり“R”とは信号の立ち上がり
変化を示している。また情報1006はパスを構成する
各ANDゲート401から404までを信号が滞ること
なく伝搬するために必要な他の入力の状態であり、AN
Dゲート401を例に取れば、ANDゲート401から
ANDゲート404によって構成されるパスに関与しな
い入力信号N1は論理値1でなければならない。理由は
ANDゲートの真理値より自明である。
【0007】以上述べたようなスタティック・タイミン
グ解析から得られたパス解析情報により、論理回路設計
時にクリティカルパスを把握し必要に応じて論理変更や
タイミング変更を行うことにより動作性能を向上させた
り、また設計された論理回路が含むクリティカルパス
が、所定のタイミングに対してどの程度のマージンを持
っているかなどを検証している。スタティック・タイミ
ング解析は論理動作を伴わず、入力された論理回路接続
情報のみからパス情報の抽出を行うため、使用上はあり
得ないパスを抽出してしまうこともある。しかしその反
面、設計者が論理回路の動作を想定して作成したテスト
パタンによらないため、使用上あり得るが意図していな
かったクリティカルパスを検出できる場合もある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】これら従来の論理回路
のタイミング解析および論理検証方法は、それぞれ目的
が異なり、また設計活動の中で適用される局面も異な
る。従って、論理シミュレーションにおいて論理回路の
論理動作の検査を行うために作成するテストパタンは、
設計過程でスタティック・タイミング解析により解析・
検証されたクリティカルパスの情報とは直接的には関与
していない。
【0009】しかしながら、一般的に論理シミュレーシ
ョンで用いたテストパタンは製造されたLSIをLSI
試験装置により検査するためにも使用されるため、LS
Iのタイミング規格や動作性能を保証するためには、そ
れらを決定しているクリティカルパスをアクセスするテ
ストパタンが含まれていなければならない。テストパタ
ンが所定のクリティカルパスをアクセスしているかを判
断するためには、論理シミュレーションにおいてクリテ
ィカルパスを構成するゲートに関する内部信号のトレー
スを指示し、その結果を目視によって確認しなければな
らない。通常の論理シミュレーションにおいて論理動作
を確認する論理検証の場合は、特定の端子に着目して時
間軸に変化する信号変化を見たり、特定の時刻に内部機
能ブロックの切り口の信号の状態を見たりと、観測ポイ
ントや、観測時刻が固定されているのに対して、クリテ
ィカルパスがアクセスされたかを確認するためには、ク
リティカルパスを構成するゲート列を滞ることなく伝搬
する信号変化、つまり時間と場所を変えながら移動する
信号変化を追跡する必要があり、これを論理シミュレー
ションの結果からCRT上あるいは出力したリスト上で
目視により確認することは効率や判断の確からしさの点
で問題があった。
【0010】また、テストパタンは上述したように製造
されたLSIの検査にも使用されることから、テスト時
間を短縮し生産性を向上させるためにテストパタンの中
の冗長な部分を削除してパタン長を短くしたり、検査さ
れたLSIの信頼性を向上させるために、LSI内部の
論理回路の故障検出率を向上させるための改良などが通
常に行われる。このようなテストパタンの加工を経た後
は、当初の所定のクリティカルパスがアクセスされてい
る保証が無くなり、その都度上述の目視による確認が必
要となっていた。
【0011】したがって、本発明の目的は、論理シミュ
レーションにおいてテストパタンが所定のクリティカル
パスをアクセスしているかを検出する論理検証装置を提
供し、上述した問題点を解決することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の論理検証装置
は、論理回路の接続情報と、前記論理回路の論理動作を
検証するためのテストパタン情報と、前記接続情報と前
記テストパタン情報とを入力する第1のデータ入力部
と、この第1のデータ入力部に入力された前記接続情報
の論理動作を前記テストパタン情報を用いてシミュレー
ションする論理シミュレーション実行手段と、前記論理
シミュレーションの実行結果を出力するデータ出力部
と、このデータ出力部より出力される前記論理シミュレ
ーションの実行結果を記憶する実行結果記憶手段および
実行結果を表示する出力装置とを有する論理検証装置に
おいて、前記論理回路の特定信号経路を示すパス構成ゲ
ート情報と、このパス構成ゲート情報における信号変化
が途切れること無く伝搬するために前記パス構成ゲート
以外のゲート論理に必要な条件を記憶するパス通過条件
記憶手段と、前記パス構成ゲート情報と前記パス通過条
件記憶手段とを入力する第2のデータ入力部と、前記論
理シミュレーション実行手段における論理回路接続情報
内の信号変化情報により前記第2のデータ入力部により
入力された前記パス構成ゲートと前記パス通過条件に基
づき前記パス構成ゲートのゲート列を信号変化が途切れ
ること無く伝搬したかを検出するパスアクセス検出手段
とを備え、前記データ出力部はさらに前記パスアクセス
検出手段の出力結果を出力する構成である。
【0013】また、本発明の論理検証装置の前記パス構
成ゲート情報は前記論理回路の接続情報の特定信号経路
およびこの特定信号経路を構成するゲートの信号の立上
がり・立下がり変化の方向を記憶する構成とすることも
できる。
【0014】さらにまた、本発明の論理検証装置は、少
なくともパス構成ゲートおよびパス通過条件を含むパス
解析結果の情報を記憶するパス解析結果記憶手段を備
え、前記第2のデータ入力部は前記パス解析結果記憶手
段よりパス解析結果情報を入力し、前記パス解析結果情
報より前記パス構成ゲート情報を抽出するパス構成ゲー
ト抽出手段と、前記パス通過条件の情報を抽出するパス
通過条件抽出手段とを備える構成とすることもできる。
【0015】またさらに、本発明の論理検証装置の前記
パス解析結果記憶手段が記憶している情報はさらにゲー
トごとの信号の立上がり・立下がり変化の方向を含み、
前記パス構成ゲート抽出手段はさらに前記信号の立上が
り・立下がり変化の方向も抽出する構成とすることもで
きる。
【0016】また、本発明の論理検証装置を用いた論理
検証方法のパスアクセス検出方法は、前記パス構成ゲー
ト情報に格納されたゲート列の何番目のゲートであるか
を示すポインタを1番目のゲートに初期化するポインタ
初期化ステップを経て、論理シミュレーションが終了し
たかを判定する終了判定ステップに進み、前記終了判定
が成立の場合は処理を終了し、不成立の場合は前記論理
シミュレーション実行手段から接続情報内の信号変化情
報を取り込む信号変化取り込みステップへ進み、取り込
んだ信号変化が前記ポインタが示すゲートによるもので
あるかを判定するゲート変化判定ステップにおいて前記
ゲート変化判定が不成立の場合は前記終了判定ステップ
に戻り、成立の場合は前記ポインタが示すゲートは前記
パス構成ゲート情報に格納されたゲート列の最後のゲー
トであるかを判定する最終ゲート判定ステップへ進み、
前記最終ゲート判定が成立の場合は前記パスを構成する
ゲート列を信号変化が途切れること無く伝搬したこと示
すパスアクセス検出設定ステップへ進んだ後に前記ポイ
ンタ初期化ステップに戻り、不成立の場合は前記ポイン
タを次のゲートに進めるポインタ移動ステップを経た上
で、前記ポインタが示すゲートの前記パス構成に関与し
ない他の入力が前記パス通過条件を満足しているかを判
定するパス通過判定ステップへ進み、判定が成立の場合
は前記終了判定ステップに戻り、不成立の場合は前記ポ
インタ初期化ステップに戻る構成である。
【0017】さらに本発明の論理検証方法の前記ゲート
変化判定ステップは、前記信号取り込みステップにおい
て取り込んだ信号変化が前記ポインタが示すゲートによ
るものでありかつ前記ゲートに付随する情報として有し
ている信号の立上がり・立下がり変化の方向と一致して
いるかを判定する構成とすることもできる。
【0018】
【作用】本発明による論理検証装置は、論理回路の接続
情報のクリティカルパスを構成するゲートおよびその順
序関係を示すパス構成ゲート情報と、パス構成ゲート列
を信号変化が途切れること無く伝搬するためのパス構成
ゲート以外のゲート論理の条件、すなわち各々のゲート
入力の内でクリティカルパスの構成に関与しない他の入
力条件を示すパス通過条件の情報を備え、シミュレーシ
ョン実行手段における接続情報内の信号変化情報から、
パス通過条件に基づきクリティカルパスを構成するゲー
ト列を信号変化が途切れること無く伝搬したかを検出す
る。
【0019】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は、本発明の第1の実施例を示すブロック図で
ある。図1において、論理回路を試験するテストパタン
110と論理回路接続情報111とパス構成ゲート情報
112とパス通過条件113と実行結果114は記憶装
置に格納されたデータである。
【0020】図1を参照すると、本発明の第1の実施例
の論理検証装置のデータ処理装置100は、テストパタ
ン110と論理回路接続情報111を入力する第1のデ
ータ入力部101と、入力したテストパタンと論理回路
接続情報に基づき論理動作をシミュレーションする論理
シミュレーション実行手段102と、論理シミュレーシ
ョンの実行結果およびパス検出結果を出力するデータ出
力部103と、パス構成ゲート情報112とパス通過条
件113を入力する第2のデータ入力部を受け、入力さ
れたパス構成ゲートとパス通過条件に基づきパスを構成
するゲート列を信号変化が途切れることなく伝搬したか
を検出するパスアクセス検出手段105とを備える。出
力装置120はプリンタやCRTなどよりなり、データ
処理装置100のデータ出力部103から送出されるデ
ータの出力・表示を行う。
【0021】次に、図1に示す論理検証装置の動作につ
いて他の図を併せて参照しながら説明する。従来の技術
の説明の中でも触れたように、図4に示した論理回路は
簡単な例として、クロックCLKの立ち上がりによって
データの取り込み、送出を行うフリップ・フロップ40
0と、クロックCLKの立ち下がりでデータの取り込
み、送出を行うフリップ・フロップ405と、組み合わ
せ回路として4個の2入力ANDゲート401〜404
が直列に2つのフリップ・フロップ400、405の間
に介在する構成をとっている。図1に示す論理回路接続
情報111は図4に示した論理回路の記述を内部に含ん
でおり、論理回路接続情報111の中のクリティカルパ
スの一つであると仮定する。
【0022】図1に示すパス構成ゲート情報112とは
論理回路接続情報111の中のクリティカルパスがどの
パスであるかを特定するための情報を含んだものであ
り、この例の場合の内容は図5の500で示したよう
な、パスを構成するゲート名を信号が伝搬する順番に4
00、・・・、404と記述したものである。
【0023】また図1に示すパス通過条件情報113と
は、前述のパス構成ゲート情報112によって特定され
たパスが真にクリティカルパスとして構成されるための
各ゲートの信号通過条件、つまり各ゲートの入力信号の
内クリティカルパスの構成に直接関与しない他の入力信
号の条件を示すものである。この例の場合の内容は図7
に示すパス通過条件情報700で示したような、各AN
Dゲート401〜404の入力信号N1〜N4の状態を
順番にN1=1、・・・、N4=1と記述したものであ
る。ここでのN1=1の意味は、フリップ・フロップ4
00の信号変化に呼応してANDゲート401の出力状
態が変化するためには、もう一方の入力信号であるN1
が論理値1である必要があるということである。仮にN
1の論理値が0であるとすると、ANDゲート401の
出力は論理値0に固定され、フリップ・フロップ400
の信号変化はANDゲート401の出力変化として伝搬
する事ができない。つまり、信号変化が途中で途絶えて
しまうことになりクリティカルパスではあるがクリティ
カルパスとしてアクセスされていないことを意味する。
なおここでは2入力ANDが4段続く単純な例を用いて
いるため、各ゲートの通過条件は1つであり論理値も全
て1となっているが、ゲートの入力数に応じて通過条件
の数は変わるし、ゲートの種類に応じて通過条件となる
論理値も1であったり0であったりする。
【0024】データ処理装置100の第1のデータ入力
部101は、記憶装置よりテストパタン110と論理回
路装置情報111を入力し、論理シミュレーション実行
手段102に渡す。論理シミュレーション実行手段10
2は入力された論理回路接続情報とテストパタンに基づ
いて論理シミュレーションを実行するとともに、論理回
路接続情報内に生じた信号変化情報をパスアクセス検出
手段105に引き渡す。一方、第2のデータ入力部10
4は前述のパス構成ゲート情報112及びパス通過条件
情報113を入力し、パスアクセス検出手段105に引
き渡す。一方、第2のデータ入力部104は前述のパス
構成ゲート情報112及びパス通過条件情報113を入
力し、パスアクセス検出手段105に引き渡す。パスア
クセス検出手段105は、論理シミュレーション実行手
段102からの信号変化情報と第2のデータ入力部10
4を通して入力されたパス構成ゲート情報とパス通過条
件情報に基づいて、所定のクリティカルパスがアクセス
されたか、つまりクリティカルパスを構成するゲート列
信号変化が途切れることなく伝搬したかを検出する。
データ出力部103は、論理シミュレーションの実行結
果及びパスアクセス検出結果をプリンタやCRTなどよ
りなる出力装置120に出力あるいは記憶装置に実行結
果情報114として格納する。
【0025】次に本発明の特徴であり中核となるパスア
クセス検出手段について、以下に具体例を用いながらさ
らに詳細に説明する。
【0026】はじめにクリティカルパスのアクセスとい
うことについて、図4に示したクリティカルパスを構成
する論理回路例の動作タイミング例を示す図8を参照し
て説明する。フリップ・フロップ400のデータ入力信
号DINは時刻t5で論理値0から論理値1へと変化し
ている。クロック信号CLKが時刻t1で論理値0から
論理値1に変化することによって、データ入力信号DI
Nの論理値1がフリップ・フロップ400に取り込まれ
るとともに、時刻t13で論理値0から論理値1への変
化として出力される。この時ANDゲート401〜40
4の一方の入力N1〜N4は、既にそれぞれ時刻t9〜
t12において論理値0から論理値1へと変化している
ため、先のフリップ・フロップ400の時刻t13の立
ち上がり変化は、時刻t14におけるANDゲート40
1の立ち上がり変化から時刻t17のANDゲート40
4の立ち上がり変化までと滞ることなく各ANDゲート
を順次信号変化が伝搬している。この状態をクリティカ
ルパスがアクセスされたと言っている。さらに、クロッ
ク信号CLKの時刻t2での論理値1から論理値0への
変化でANDゲート404の論理値1がフリップ・フロ
ップ405に取り込まれるとともに、時刻t18で論理
値0から論理値1への変化として出力される。ただし、
ANDゲート404の出力変化がフリップ・フロップ4
05のデータと取り込み時刻t2に間に合っているか
は、クリティカルパスがアクセスされたかを検出する上
では重要な意味を持たない。なぜならば、その種の解析
・判定は遅延を考慮した論理シミュレーションやスタテ
ィック・タイミング解析によって通常に行えるためであ
る。従って、パス構成ゲート情報500にもフリップ・
フロップ405の記述は含まれていない。
【0027】クリティカルパスがアクセスされたかを検
出するには、そのパスの通過条件が成立している間にパ
スを構成するゲートが順次変化することを見ることにな
るが、ここで注意しなければならないのは、パス通過条
件の判定は各ゲートの変化時に個々に行わなければなら
ないということである。図8に示す動作タイミングにお
いて、時刻t7〜t8の間は全てのパス構成ゲートのパ
ス通過条件が満たされている期間であるが、単にこの期
間でパス構成ゲートの信号変化を検出しようとすると、
前述した時刻t13〜t17の立ち上がり変化は問題な
く検出可能であるが、時刻t23〜t27の立ち下がり
変化は時刻t8の前後で起っており、パス通過条件が成
立している間にパス構成ゲートが変化したのはフリップ
・フロップ400の時刻t23〜ANDゲート402の
時刻t25の変化までで、クリティカルパルスはアクセ
スされなかったと判定されてしまう。しかし、時刻t2
6のANDゲート403の変化時にはその通過条件N3
および時刻t27のANDゲート403の変化時にはそ
の通過条件N4ともに成立しており、この場合はクリテ
ィカルパスがアクセスされたと判定される。
【0028】次に、パスアクセス検出手段105におい
て、以上のようなことを考慮した上でクリティカルパス
がアクセスされたかを検出する方法について、図3のフ
ローチャートを参照して説明する。
【0029】まずステップ301で、パス構成ゲート情
報500に記述されたようなゲート列の、何番目である
かを示すためのポインタiを1番目のゲートを指すよう
に初期化する。次に、ステップ302で、論理シミュレ
ーションが終了したかを判定する。通常は入力テストパ
タンを全て実行したか、あらかじめ指定されたシミュレ
ーション時刻に達したか等による。ここで論理シミュレ
ーション終了と判定した場合は、本パスアクセス検出の
処理も終了する。
【0030】未終了の場合はステップ303へと進む。
ステップ303は、論理シミュレーション実行手段10
2から送り出されてくる信号変化情報を取り込む。次
に、ステップ304では、取り込んだ信号変化情報から
変化したゲートが前述のポインタiが指し示すゲートと
一致するかを判定し、一致する場合は次のステップ30
5に進み、不一致の場合はステップ302の終了判定に
戻る。ステップ305では、ポインタiが指し示すゲー
トがパス構成ゲート情報に記述された最後のゲートであ
るかを判定し、最後である場合はパス構成ゲート情報に
記述された所定のクリティカルパスのアクセスが検出さ
れたと判定されステップ308へ進み、最後でない場合
はステップ306へ進む。ステップ308は、パスアク
セス検出結果としてデータ出力部103に渡すために、
アクセスが検出されたクリティカルパスや、その時刻な
どの情報を設定する。その後は次のパスアクセスを検出
するためにステップ301へ戻る。ステップ306は、
ポインタiをインクリメントすることによりポインタが
指し示すゲートを1つ移動し、次にステップ307では
ポインタiが指すゲートの通過条件が成立しているかを
判定する。つまり、ポインタiが指すゲートの入力信号
の内クリティカルパスの構成に関与しない他の入力信号
の状態が、対応するパス通過条件情報に設定されている
ものと同一であるかを調べる。通過条件が成立している
場合は、ステップ302に戻り、不成立の場合は信号変
化がポインタiが指すゲートで滞ったことを意味しステ
ップ301に戻りポインタiの初期化を行う。
【0031】なお、検出したいクリティカルパスが複数
ある場合、すなわちパス構成ゲート情報とパス通過条件
情報に複数のパスの記述があるような場合でも、パスの
数に応じてポインタをポインタi,j,k,・・・と増
やすことにより前述したフローと同様の方法で処理可能
である。
【0032】また、クリティカルパスを伝搬する信号変
化の遅延がその変化の方向によって大きく違ってくるよ
うな場合は、その変化の方向を特定した上でクリティカ
ルパスがアクセスされたかを知る必要が出てくる。なぜ
ならば、図4に示す例の場合でフリップ・フロップ40
0、ANDゲート401〜404を立ち上がりの信号変
化の伝搬は1.35nsという遅延時間であるのに対し
て、立ち下がりの信号変化の伝搬は例えば1.0nsと
いうようにより小さい遅延時間であったとすると、立ち
下がりの信号変化の伝搬を検出してクリティカルパスが
アクセスされたとするのは全く無意味なことである、と
言うことが起こり得るためである。このような場合は、
図6に示したようなゲート名に付随する情報として信号
変化の方向が記述されたパス構成ゲート情報600(こ
の例では立ち上がりの変化をキーワード“R”で示して
いる)を用い、前述のクリティカルパスアクセスの検出
方法のステップ304においては、取り込んだ信号変化
情報から変化したゲートがポインタiが指し示すゲート
と一致しかつその信号変化も一致するかを判定し、一致
する場合は次のステップ305に進み、不一致の場合は
ステップ302の終了判定に戻る、といった処理を行わ
せることにより解決することが可能である。
【0033】次に、本発明の第2の実施例について説明
する。図2は、本発明の第2の実施例を示すブロック図
である。図2において、論理回路を試験するテストパタ
ン110と論理回路接続情報111とパス解析結果情報
115と実行結果114は記憶装置に格納されたデータ
である。
【0034】図2を参照すると、本発明の第2の実施例
の論理検証装置のデータ処理装置200は、テストパタ
ン110と論理回路接続情報111を入力する第1のデ
ータ入力部101と、入力したテストパタンと論理回路
接続情報に基づき論理動作をシミュレーションする論理
シミュレーション実行手段102と、論理シミュレーシ
ョンの実行結果およびパス検出結果を出力するデータ出
力部103と、パス解析結果情報115を入力する第2
のデータ入力部104と、入力したパス解析結果よりパ
スを構成するゲート名とその順序を抽出するパス構成ゲ
ート抽出手段106と、同じくパス解析結果よりパス通
過条件情報を抽出するパス通過条件抽出手段と、論理シ
ミュレーション実行手段102より接続情報内の信号変
化情報を受け、抽出されたパス構成ゲート情報とパス通
過条件情報に基づきパスを構成するゲート列を信号変化
が途切れることなく伝搬したかを検出するパスアクセス
検出手段105とを備える。出力装置120はプリンタ
やCRTなどよりなり、データ処理装置100のデータ
出力部103から送出されるデータの出力・表示を行
う。
【0035】すなわち、この実施例は第1の実施例とは
パス解析結果115を入力しパス構成ゲート抽出手段1
06およびパス通過条件抽出手段107とを備えている
点が異なる。
【0036】次に、図2に示す論理検証装置の動作につ
いて説明する。データ処理装置200において、第1の
データ入力部101は、記憶装置よりテストパタン11
0と論理回路接続情報111を入力し、論理シミュレー
ション実行手段102に渡す。論理シミュレーション実
行手段102は入力された論理回路接続情報とテストパ
タンに基づいて論理シミュレーションを実行するととも
に、論理回路接続情報内に生じた信号変化情報をパスア
クセス検出手段105に引き渡す点は第1の実施例と同
様である。
【0037】一方、第2のデータ入力部104は前述の
パス解析結果情報115を入力している。パス解析結果
情報115とは、例として図10に示したようなもので
あり、従来の技術でも触れたようなスタティック・タイ
ミング解析ツールよりクリティカルパスを抽出・解析し
た結果を集計した情報である。パス構成ゲート抽出手段
106は、パス解析結果情報115よりパス構成ゲート
情報を抽出する。ここでのパス構成ゲート情報は、第1
の実施例と同様の図5に示したパス構成ゲート情報50
0に相当するものであり、パス解析結果例1000の情
報1005部分より、文字列の操作により容易に抽出が
可能である。同様に、パス通過条件抽出手段107は、
パス解析結果情報115よりパス通過条件情報を抽出す
る。ここでのパス通過条件情報は、第1の実施例と同様
の図7に示したパス通過条件情報700に相当するもの
であり、パス解析結果例1000の情報1006部分よ
り、文字列の操作により容易に抽出が可能である。以上
のように抽出されたパス構成ゲート情報およびパス通過
条件情報は、パスアクセス検出手段105に引き渡され
る。なお、パスアクセス検出手段105およびデータ出
力部103の動作については第1の実施例と同様である
ので詳細な説明は省略する。
【0038】また、第1の実施例でも説明したように、
クリティカルパスを伝搬する信号変化の遅延がその変化
の方向によって大きく違ってくるような場合は、その変
化の方向を特定した上でクリティカルパスがアクセスさ
れたかを知る必要が出てくる。このような場合、前述の
パス構成ゲート抽出手段106は、第1の実施例と同様
の図6に示したようなゲート名に付随する情報として信
号変化の方向が記述されたパス構成ゲート情報600
(この例では立ち上がりの変化をキーワード“R”で示
している)に相当するパス構成ゲート情報を、パス解析
結果例1000の情報1005および情報1004部分
から文字列の操作により抽出する。なお、クリティカル
パスアクセスの検出方法(ステップ304)において
は、取り込んだ信号変化情報から変化したゲートがポイ
ンタiが指し示すゲートと一致しかつその信号変化も一
致するかを判定し、一致する場合は次のステップ305
に進み、不一致の場合はステップ302の終了判定に戻
る、といった処理を行わせる点は第1の実施例と同様で
ある。
【0039】以上述べたように、第2の実施例ではパス
構成ゲート抽出手段およびパス通過条件抽出手段を設け
ることにより、第1の実施例で示したようなパス構成ゲ
ート情報やパス通過条件情報をあらかじめ用意しておく
必要はなく、スタティック・タイミング解析ツールによ
るパス解析結果を直接入力できる。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の論理検証
装置およびその方法によれば、クリティカルパスに関す
るパス構成ゲート情報およびパス通過条件情報を用い、
あるいはスタティック・タイミング解析によるパス解析
結果情報からパス構成ゲート抽出手段およびパス通過条
件抽出手段による抽出された情報を用い処理を行うパス
アクセス検出手段を備えることにより、容易に所定のク
リティカルパスがアクセスされたか否かが検出可能とな
る。
【0041】従来クリティカルパスのアクセスを検出す
るためには、論理シミュレーションにおいてクリティカ
ルパスを構成するゲートに関する内部信号のトレースを
指示し、その結果から論理回路接続情報内で場所と時間
を変えながら移動する信号変化を目視により追跡しなけ
ればならず、その判定のためには多大の時間を要する上
に信頼性は低いものとなっていたが、本発明によれば前
記の手段を講じることにより計算機上で実現可能となる
ため、効率よくかつ確実にクリティカルパスの検出を判
断できるという効果が得られる。
【0042】また、テストパタン長の短縮化や、故障検
出率向上のためのテストパタンの加工が頻繁に行われる
ような場合でも、パス解析結果やパス構成ゲート、パス
通過条件などの情報を保存しておくのみで、随時何度で
も同様の確認・判定が可能であり、一定のテストパタン
の品質を確保できるという効果が得られる。
【0043】さらに、製造されたLSIの検査に使用さ
れるテストパタンとして、論理回路内の所定のクリティ
カルパスを確実にアクセスしていることが保証されるた
め、検査にあたっては動作周波数などのAC特性不良が
完全に検出され、誤って市場にこの種の不良品が流出す
ることを未然に防止できるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の論理検証装置を示すブ
ロック図である。
【図2】本発明の第2の実施例の論理検証装置を示すブ
ロック図である。
【図3】パスアクセス検出のフローチャートである。
【図4】論理回路の一例を示す図である。
【図5】第1のパス構成ゲート情報を示す図である。
【図6】第2のパス構成ゲート情報を示す図である。
【図7】パス通過条件情報を示す図である。
【図8】図4に示した論理回路例の動作タイミングの一
例を示す図である。
【図9】スタティック・タイミング解析の概要図であ
る。
【図10】スタティック・タイミング解析の出力結果の
例を示す図である。
【符号の説明】
100,200 データ処理装置 101,104 データ入力部 102 論理シミュレーション実行手段 103 データ出力部 105 パスアクセス手段 106 パス構成ゲート抽出手段 107 パス通過条件抽出手段 110 テストパタン 111 論理回路接続情報 112 パス構成ゲート情報 113 パス通過条件情報 114 実行結果情報 115 パス解析結果情報 120 出力装置 301〜308 処理手順(ステップ)を示す番号 400,405 フリップ・フロップ 401〜404 ANDゲート 500,600 パス構成ゲート情報 700 パス通過条件 t1〜t28 信号の変化点を示す番号 901 解析パス条件情報 1000 パス解析結果の出力表示例 1001〜1006 パス解析結果の出力表示内容
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G06F 17/50

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 論理回路の接続情報と、前記論理回路の
    論理動作を検証するためのテストパタン情報と、前記接
    続情報と前記テストパタン情報とを入力する第1のデー
    タ入力部と、この第1のデータ入力部に入力された前記
    接続情報の論理動作を前記テストパタン情報を用いてシ
    ミュレーションする論理シミュレーション実行手段と、
    前記論理シミュレーションの実行結果を出力するデータ
    出力部と、このデータ出力部より出力される前記論理シ
    ミュレーションの実行結果を記憶する実行結果記憶手段
    および実行結果を表示する出力装置とを有する論理検証
    装置において、前記論理回路の特定信号経路を示すパス
    構成ゲート情報と、このパス構成ゲート情報における信
    号変化が途切れること無く伝搬するために前記パス構成
    ゲート以外のゲート論理に必要な条件を記憶するパス通
    過条件記憶手段と、前記パス構成ゲート情報と前記パス
    通過条件記憶手段とを入力する第2のデータ入力部と、
    前記論理シミュレーション実行手段における論理回路接
    続情報内の信号変化情報により前記第2のデータ入力部
    により入力された前記パス構成ゲートと前記パス通過条
    件に基づき前記パス構成ゲートのゲート列を信号変化が
    途切れること無く伝搬したかを検出するパスアクセス検
    出手段とを備え、前記データ出力部はさらに前記パスア
    クセス検出手段の出力結果を出力し、前記パス構成ゲー
    ト情報は前記論理回路の接続情報の特定信号経路および
    この特定信号経路を構成するゲートの信号の立上がり・
    立下がり変化の方向を記憶することを特徴とする論理検
    証装置。
  2. 【請求項2】 論理回路の接続情報と、前記論理回路の
    論理動作を検証するためのテストパタン情報と、前記接
    続情報と前記テストパタン情報とを入力する第1のデー
    タ入力部と、この第1のデータ入力部に入力された前記
    接続情報の論理動作を前記テストパタン情報を用いてシ
    ミュレーションする論理シミュレーション実行手段と、
    前記論理シミュレーションの実行結果を出力するデータ
    出力部と、このデータ出力部より出力される前記論理シ
    ミュレーションの実行結果を記憶する実行結果記憶手段
    および実行結果を表示する出力装置とを有する論理検証
    装置において、前記論理回路の特定信号経路を示すパス
    構成ゲート情報と、このパス構成ゲート情報における信
    号変化が途切れること無く伝搬するために前記パス構成
    ゲート以外のゲート論理に必要な条件を記憶するパス通
    過条件記憶手段と、前記パス構成ゲート情報と前記パス
    通過条件記憶手段とを入力する第2のデータ入力部と、
    前記論理シミュレーション実行手段における論理回路接
    続情報内の信号変化情報により前記第2のデータ入力部
    により入力された前記パス構成ゲートと前記パス通過条
    件に基づき前記パス構成ゲートのゲート列を信号変化が
    途切れること無く伝搬したかを検出するパスアクセス検
    出手段とを備え、前記データ出力部はさらに前記パスア
    クセス検出手段の出力結果を出力し、少なくともパス構
    成ゲートおよびパス通過条件を含むパス解析結果の情報
    を記憶するパス解析結果記憶手段を備え、前記第2のデ
    ータ入力部は前記パス解析結果記憶手段よりパス解析結
    果情報を入力し、前記パス解析結果情報より前記パス構
    成ゲート情報を抽出するパス構成ゲート抽出手段と、前
    記パス通過条件の情報を抽出するパス通過条件抽出手段
    とを備え、前記パス解析結果記憶手段が記憶している情
    報はさらにゲートごとの信号の立上がり・立下がり変化
    の方向を含み、前記パス構成ゲート抽出手段はさらに前
    記信号の立上がり・立下がり変化の方向も抽出する事を
    特徴とする論理検証装置。
JP7103754A 1995-04-27 1995-04-27 論理検証装置およびその方法 Expired - Lifetime JP2872076B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7103754A JP2872076B2 (ja) 1995-04-27 1995-04-27 論理検証装置およびその方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7103754A JP2872076B2 (ja) 1995-04-27 1995-04-27 論理検証装置およびその方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08297686A JPH08297686A (ja) 1996-11-12
JP2872076B2 true JP2872076B2 (ja) 1999-03-17

Family

ID=14362348

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7103754A Expired - Lifetime JP2872076B2 (ja) 1995-04-27 1995-04-27 論理検証装置およびその方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2872076B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4599064B2 (ja) * 2003-01-28 2010-12-15 パナソニック株式会社 遅延故障検査系列の品質評価方法、遅延故障検査系列生成方法および遅延故障シミュレーション方法
CN114548027B (zh) * 2021-12-28 2025-04-15 芯华章科技股份有限公司 在验证系统中追踪信号的方法、电子设备及存储介质

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01197852A (ja) * 1988-02-02 1989-08-09 Fujitsu Ltd クリティカルパス判定器
JP3060612B2 (ja) * 1991-07-12 2000-07-10 日本電気株式会社 論理回路のタイミング仕様検証方法
JPH05342293A (ja) * 1992-06-10 1993-12-24 Mitsubishi Electric Corp タイミング検証装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH08297686A (ja) 1996-11-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Devadas et al. An observability-based code coverage metric for functional simulation
US5475624A (en) Test generation by environment emulation
US6199031B1 (en) HDL simulation interface for testing and verifying an ASIC model
US6754862B1 (en) Gaining access to internal nodes in a PLD
US7188061B2 (en) Simulation monitors based on temporal formulas
US6523149B1 (en) Method and system to improve noise analysis performance of electrical circuits
US10657207B1 (en) Inter-cell bridge defect diagnosis
EP3789780B1 (en) Method to perform hardware safety analysis based on a structural analysis and cones of influence
US5966306A (en) Method for verifying protocol conformance of an electrical interface
US7536662B2 (en) Method for recognizing and verifying FIFO structures in integrated circuit designs
US10635767B2 (en) Glitch detection at clock domain crossing
US6810507B2 (en) Method and apparatus for isolating the root of indeterminate logic values in an HDL simulation
CN117454811A (zh) 待测设计的验证方法及装置
US6934656B2 (en) Auto-linking of function logic state with testcase regression list
JP2872076B2 (ja) 論理検証装置およびその方法
KR101192556B1 (ko) 디지털 회로 검증시스템 설계방법 및 그 검증시스템
CN106546910A (zh) 基于位流回读的fpga测试平台
Nacif et al. The Chip is Ready. Am I done? On-chip Verification using Assertion Processors.
CN110377924B (zh) 硬错误模拟及其使用
US7127691B2 (en) Method and apparatus for manufacturing test generation
US5937182A (en) Design verification system using expect buffers
US20020126581A1 (en) Method of analyzing clock skew between signals
JPH08180095A (ja) 遅延故障シミュレーション方法、及び遅延故障解析装置
JP2891004B2 (ja) 論理icのタイミングチェック方式
JPH10104319A (ja) 大規模集積回路装置の故障シミュレーション方法及び故障解析方法