JPH05264653A - Ｓｏｊ型ｉｃソケット - Google Patents

Ｓｏｊ型ｉｃソケット

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Publication number
JPH05264653A
JPH05264653A JP4045148A JP4514892A JPH05264653A JP H05264653 A JPH05264653 A JP H05264653A JP 4045148 A JP4045148 A JP 4045148A JP 4514892 A JP4514892 A JP 4514892A JP H05264653 A JPH05264653 A JP H05264653A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
type
lead width
ics
tested
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4045148A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Taya
健一 田屋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ＳＯＪ型ＩＣのリード幅寸法の異なるＩＣを実
装する。 【構成】ＳＯＪ型ＩＣの対向するリード幅寸法に対応
し、ソケット本体１上にＩＣ位置決めストッパー１ａ，
１ｂを有し、信号接続用端子２にも接触部２ａ，２ｂを
有することにより、対向するリード幅寸法の異なる２種
類のＳＯＪ型ＩＣを実装することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明のＳＯＪ型ＩＣソケット、
特に、バーンイン又は試験用に使用されるＳＯＪ型ＩＣ
ソケットに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のＳＯＪ型ＩＣソケット
は、対向する２列の信号接続用端子が、ソケット本体に
所定の間隔で固定されており、使用者側がＳＯＪ型ＩＣ
の対向する２列間のリード幅寸法に適合するソケットを
選んで使用していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のＳＯＪ
型ＩＣソケットは、対向する２列の信号接続用端子がソ
ケット本体に所定の間隔で固定されていたので、ピン
数，機能等が同じであるが、対向するリード幅寸法の異
なるＳＯＪ型ＩＣを実装することができず対向するリー
ド幅寸法の異なるＳＯＪ型ＩＣソケットが必要となっ
て、コストが高くなるという欠点がある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のＳＯＪ型ＩＣソ
ケットは、被試験ＳＯＪ型ＩＣと対向するリード幅寸法
に対応した複数のＩＣ位置決めストッパー及び、接触部
とを備えている。
【０００５】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の一実施例を示す断面図、図２
（ａ），（ｂ）は本発明の一使用例を示す断面図でＳＯ
Ｊ型ＩＣの対向するリード幅寸法の異なる２種類のＳＯ
Ｊ型ＩＣを実装した場合を示す。
【０００６】ＳＯＪ型ＩＣソケットは、箱体状のソケッ
ト本体１と、被試験ＳＯＪ型ＩＣ３の対向するリード３
ａに対応する信号接続用端子２より構成されており、対
向するリード幅寸法の異なる被試験ＳＯＪ型ＩＣ３ａ，
３ｂに対応しソケット本体１上にＩＣ位置決めストッパ
ー１ａ，１ｂを有し、信号接続用端子２にも被試験ＳＯ
Ｊ型ＩＣ３ａ，３ｂ及びソケット本体１上のＩＣ位置決
めストッパー１ａ，１ｂに対応して接続部２ａ，２ｂを
有するものである。
【０００７】このＳＯＪ型ＩＣソケットを使用するとき
には、対向するリード幅寸法の大きい被試験ＳＯＪ型Ｉ
Ｃ３ａの場合は、図２（ａ）に示したように、実装され
た被試験ＳＯＪ型ＩＣ３ａは、ソケット本体１上のＩＣ
位置決めストッパー１ｂにて位置決めがされ信号接続用
端子２上の接触部２ａにて接触状態となり、試験用基板
４に接続され試験可能となる。
【０００８】又、対向するリード幅寸法の小さい被試験
ＳＡＪ型ＩＣ３ｂの場合は、図２（ｂ）に示したよう
に、ＩＣ位置決めストッパー２ｂにて位置決めがされ、
接触部２ｂにて接触状態となり、試験用基板４に接続さ
れ試験可能となる。
【０００９】したがって、対向するリード幅寸法の異な
る２種類のＳＡＪ型ＩＣを実装できるので、リード幅寸
法の異なるＩＣに対応して、ＩＣソケットを交換する必
要がなくなる。
【００１０】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、対向する
リード幅寸法対応したＩＣ位置決めストッパーと、接触
部を有することにより、対向するリード幅寸法の異なる
２種類のＳＯＪ型ＩＣをソケットに実装することができ
るため、試験時のＳＯＪ型ＩＣソケットの交換が不要と
なり、コスト低減及び試験の作業性が向上する効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示す断面図である。
【図２】（ａ），（ｂ）は本発明の一使用例を示す断面
図である。
【符号の説明】
１ ソケット本体 １ａ，１ｂ ＩＣ位置決めストッパー ２ 信号接続用端子 ２ａ，２ｂ 接触部 ３ａ，３ｂ被試験ＳＯＪ型ＩＣ ４ 試験用基板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 バーンイン又は、試験用に使用されるＳ
    ＯＪ型ＩＣソケットにおいて、被試験ＳＯＪ型ＩＣの対
    向するリード幅寸法に対応し、複数種のＩＣを実装する
    ことを可能とするため、複数のＩＣ位決めストッパー及
    び、接触部を有することを特徴とするＳＯＪ型ＩＣソケ
    ット。
JP4045148A 1992-03-03 1992-03-03 Ｓｏｊ型ｉｃソケット Withdrawn JPH05264653A (ja)

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ID=12711202

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0673190A1 (en) * 1994-03-16 1995-09-20 Texas Instruments Incorporated IC socket

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0673190A1 (en) * 1994-03-16 1995-09-20 Texas Instruments Incorporated IC socket
US5628635A (en) * 1994-03-16 1997-05-13 Texas Instruments Incorporated Test socket for an integrated circuit

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