JPS628533Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案はプリント配線基板（PWB）検査用
のチエツカーに関する。

一般にプリント配線基板アセンブリを検査する
とき、このプリント配線基板アセンブリを回路全
体として検査する場合と、プリント配線基板アセ
ンブリ中の個々の部品について検査を必要とする
場合とがある。

しかしながら従来のプリント配線基板用チエツ
カーにあつては、常にプリント配線基板の所要部
位のみに接触する接触ピンだけが備えられていた
ため、１台のチエツカーでは回路検査用または部
品検査用の何れかだけの機能しか発揮し得ず、１
個のプリント配線基板について回路と、個々の部
品とを検査しようとする場合には２台のチエツカ
ーを別途に必要とするので、チエツク能率の低下
ないしは検査コストの上昇を招くという問題点が
あつた。

他方、これに対処して１台のチエツカーに、プ
リント配線基板における回路部に接触する接触ピ
ンと、個々の部品部に接触する接触ピンとを装備
させ、検査時にこれらの接触ピンをプリント配線
基板に同時に接触するようにさせた他の従来例に
あつては、特に高インピーダンス回路等を検査す
る場合において回路側の検査確度が低下してしま
うというような問題点があつた。

この考案は、このような従来の問題点に着目し
てなされたもので、常態におけるピンベースから
の突出長が２以上に異なつている複数個の接触ピ
ンが、当該ピンベースに常時突出傾向が付与され
て配設され、一方、被試験プリント配線基板の前
記ピンベースとの設定間隔が２以上に定められ、
該設定間隔が大なる場合には前記突出長の大なる
接触ピンが前記被試験プリント配線基板の所要部
位に接触し、他方設定間隔が小なる場合には前記
突出長の大なる接触ピンおよび突出長の小なる接
触ピンが前記被試験プリント配線基板の前記所要
部位および他の所要部位にともに接触させること
により上記問題点を解決することを目的としてい
る。

以下この考案を図面に基いて説明する。

第１図はこの考案の実施例を示す図である。

まず構成を説明すると、符号１ａはプリント配
線基板用チエツカー１におけるピンベース部にし
て、このピンベース部１ａには、常態における突
出長が異なつている２種の接触ピン２ａ，２ｂ，
２ｃがそれぞれ装備されている。

図示の例においては符号２ａおよび２ｂの２本
の接触ピンが同一突出長で、且つ他の１本の接触
ピン２ｃよりも大なる突出長とされ、この２本の
接触ピン２ａ，２ｂはピンベース上の離隔した部
位に装備されている。そしてこの２本の接触ピン
２ａ，２ｂの間の部位に突出長の小なる接触ピン
２ｃが１本配設されている。

これらの接触ピン２ａ，２ｂ，２ｃの背面部に
は、ピンベース１ａとの間にそれぞれコイルばね
３が縮設され、このコイルばねの弾力により各接
触ピン２ａ，２ｂ，２ｃには常時突出傾向が付与
されている。

そして突出長の大なる２本の接触ピン２ａ，２
ｂは回路チエツク用とされて、この２本の接触ピ
ン２ａ，２ｂ間には第１試験回路部４ａが接続さ
れている。また突出長の小なる接触ピン２ｃと、
突出長の大なる２本の接触ピン２ａ，２ｂのうち
の一方の接触ピン２ａとは部品チエツク用とされ
て、この両接触ピン２ａ，２ｃ間には第２試験回
路部４ｂが接続されている。即ち接触ピン２ａは
回路チエツク用と部品チエツク用に共用されてい
る。

次に使用方法および作用を説明する。

いまプリント配線基板５には第２図に示すよう
なオペアンプＡを含む高入力インピーダンス回路
が組み込まれているとする。

まずこの回路全体を検査するときは第１図中６
ａで示すようにプリント配線基板５を、ピンベー
ス１ａとの設定間隔が大なる部位にセツトする。
このとき回路チエツク用接触ピン２ａ，２ｂが第
２図に示すように回路の入力端子７ａと出力端子
７ｂとに接触して第１試験回路部４ａにより回路
全体の検査が行なわれる。

次にプリント配線基板５を、コイルばね３の弾
力に抗してピンベース１ａ側に向けて押圧し、設
定間隔を小なる部位６ｂにセツトする。このとき
部品チエツク用接触ピン２ａ，２ｃが抵抗R₁の
両端に接触されて、回路中の部品たる抵抗R₁
が、第２試験回路部４ｂにより検査される。

因みに、上記設定部位６ｂ側にプリント配線基
板５をセツトしたときは、回路チエツク用接触ピ
ン２ａ，２ｂも回路の入、出力端７ａ，７ｂ間に
接触して第１試験回路部４ａも機能しているが、
抵抗R₁の後端部に接触ピン２ｃが接触している
とこれがバイパス路となつて、高入力インピーダ
ンス回路における回路全体の誤検査を招く。この
ため設定部位６ｂにセツトしたときは部品の検査
のみに止めるのを可とする。

そして設定部位を６ｂから６ａに切換えれば再
び回路全体の正確な検査データが得られる。

なお、前記第１図の実施例では接触ピンの配設
数を３本のみとしたが、その配設数はこれに限ら
れるものではなく、被チエツクプリント配線基板
の規模に応じて、適宜増減し得るものであり、ま
たプリント配線基板の設定間隔も２通りのみなら
ず、３通り以上にしてもよい。

以上詳述したようにこの考案によれば、その構
成を、常態におけるピンベースからの突出長が２
以上に異なつている複数個の接触ピンが、当該ピ
ンベースに常時突出傾向が付与されて配設され、
一方、被試験プリント配線基板の前記ピンベース
との設定間隔が２以上に定められ、該設定間隔が
大なる場合には前記突出長の大なる接触ピンが前
記被試験プリント配線基板の所要部位に接触し、
他方設定間隔が小なる場合には前記突出長の大な
る接触ピンおよび突出長の小なる接触ピンが前記
被試験プリント配線基板の前記所要部位および他
の所要部位にともに接触させたから、１台のチエ
ツカーに、プリント配線基板アセンブリの回路チ
エツク用および個々の部品チエツク用の両機能を
装備させたにも拘らず、両チエツクを正確になし
得、さらにはチエツク能率の向上、および検査コ
ストを軽減させることができるという効果が得ら
れる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案に係るプリント配線基板用チ
エツカーの要部を模式的に示す側面図、第２図は
同上チエツカーの適用例の説明図である。 １：プリント配線基板用チエツカー、１ａ：ピ
ンベース、２ａ，２ｂ，２ｃ：接触ピン、３：コ
イルばね、４ａ：第１試験回路部、４ｂ：第２試
験回路部、５：プリント配線基板、６ａ：大なる
設定間隔、６ｂ：小なる設定間隔。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 常態におけるピンベースからの突出長が２以上
   に異なつている複数個の接触ピンが、当該ピンベ
   ースに常時突出傾向が付与されて配設され、一
   方、被試験プリント配線基板の前記ピンベースと
   の設定間隔が２以上に定められ、該設定間隔が大
   なる場合には前記突出長の大なる接触ピンが前記
   被試験プリント配線基板の所要部位に接触し、他
   方設定間隔が小なる場合には前記突出長の大なる
   接触ピンおよび突出長の小なる接触ピンが前記被
   試験プリント配線基板の前記所要部位および他の
   所要部位にともに接触するようにされていること
   を特徴とするプリント配線基板用チエツカー。