JPS6111907Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は集積回路等の電子回路を内蔵するフラ
ツトパツケージのテストソケツトに関する。

電子回路の電気的特性を試験するためのテスト
システムと電子回路間の接続には電子回路が内蔵
されているパツケージの種類に応じて様々のテス
トソケツトが使用される。かかるテストソケツト
のうちのフラツトパツケージ用テストソケツトの
従来例を第１図に示す。図において、１は中継部
材である。中継部材１は電子回路を内蔵するフラ
ツトパツケージの各端子に対向すべくフラツトパ
ツケージの各端子の間隔と同一間隔で配列されか
つ一端においてフラツトパツケージの端子と接触
し他端において電子回路の電気的特性を試験する
テストシステムのプリント基板２と電気的に接続
されている。中継部材１は固定部材３によつて担
持されている。固定部材３には、フラツトパツケ
ージを位置決めする位置決め部材４が中継部材１
と平行に配列されている。固定部材３には押圧部
材５が蝶番結合されている。押圧部材５には蝶番
結合部とは反対の位置にロツク機構６が設けられ
ている。押圧部材５が固定部材３に係合してフラ
ツトパツケージを押圧挾持してフラツトパツケー
ジの端子を中継部材１に押しつけ、この状態がロ
ツク機構６によつて保たれる。押圧挾示されたフ
ラツトパツケージの封止部は押圧部材５の中央部
に設けられた窓７から見られる様になつている。

然るにフラツトパツケージの端子は固定部材３
及び押圧部材５によつて完全に覆われている。

一方、テストシステムで試験出来ない特性を試
験したい場合は他の測定器の併用によつて行なう
必要がある。かかる場合、測定器のプローブを電
気回路が内蔵されているパツケージの端子にテス
トソケツトとは別に電気的に結合せしめる必要が
ある。このような時、上述した様なフラツトパツ
ケージ用テストソケツトの場合は測定器のプロー
ブをフラツトパツケージの端子に直接宛がうこと
が出来ない。そのためテストソケツトが取付けら
れているプリント基板の半田面側に突出したテス
トソケツトの中継部材１の端子に測定器のプロー
ブを宛がわなければならない。プリント基板の半
田面は部品面に比して目標物が少ないことと相ま
つて中継部材１の配列が部品面における場合の裏
返しであることから測定器のプローブを宛がう場
所を見出すのが困難である。さらに測定器のプロ
ーブを宛がうことも中継部材１の半田面へ突出し
た部分に該プローブの尖頭を接触させることにな
るので困難である。

よつて本考案の目的は、電子回路を内蔵するフ
ラツトパツケージの端子に測定器のプローブの電
気的結合が容易になし得る様な電子回路を内蔵す
るフラツトパツケージのテストソケツトを提供す
ることである。

本考案による電子回路を内蔵するフラツトパツ
ケージのテストソケツトにおいては、フラツトパ
ツケージの端子部を覆いかつ各端子をテストソケ
ツトの中継部材１に押し付けている押圧部材５に
フラツトパツケージの各端子に対応した位置に検
査用貫通孔が設けられている。従つて、測定器の
プローブを宛がうべき場所が部品面上となるので
該場所を見出すのが容易となる。検査用貫通孔が
規測的な変化を有する配列をもつて設けられた場
合にはフラツトパツケージの端子を端子番号順に
数える必要はなく配列の規則的に変化する変化点
を捉えてそこから数えることが出来るため測定器
のプローブを宛がう場所を見出すのはさらに容易
となる。測定器のプローブを宛がうことも検査用
貫通孔に該プローブを挿入するだけで済むので電
子回路を内蔵するフラツトパツケージの端子と測
定器のプローブの電気的結合が容易に行なえる。

以下、本考案を第２図を参照して詳細に説明す
る。

第２図ａ，ｂは、本考案による電子回路を内蔵
するフラツトパツケージのテストソケツトの１実
施例を示している。図において、本考案によるテ
ストソケツトは蝶番結合された固定部材３及び押
圧部材５，ロツク機構６，並びに中継部材１から
なり、プリント基板２の銅箔パターンに中継部材
１の端子が電気的結合されて第１図ａ，ｂに示し
た従来例と同様に構成されている。しかし乍ら本
考案のテストソケツトにおいては、押圧部材５の
窓７の周囲に複数の検査用貫通孔８が望ましくは
規則的な配列の下に形成されている。検査用貫通
孔８は図示した如く連続する３個毎に所定の傾斜
で並ぶように配列されている。よつて、検査用貫
通孔８の配列には規則的な変化が３個毎に存在す
るので各検査用貫通孔８に対応したフラツトパツ
ケージの端子の位置の把握が容易である。第２図
ｃは検査用貫通孔８近傍の断面図である。図にお
いて９は電子回路を内蔵するフラツトパツケージ
の端子である。フラツトパツケージの端子９に対
向する所定の位置に検査用貫通孔８が設けられて
いるので、測定器のプローブ１０を検査用貫通孔
８に挿入することによりフラツトパツケージの端
子９に外部から直接接触し得る。従つて、電子回
路を内蔵するフラツトパツケージを本考案による
テストソケツトに挾持すれば、フラツトパツケー
ジの端子に測定器のプローブを電気的に結合せし
めるのは容易なことである。

【図面の簡単な説明】

第１図ａ，ｂは電子回路を内蔵するフラツトパ
ツケージのテストソケツトの従来例を示す平面図
及び側面図、第２図ａ，ｂ，ｃは本考案による電
子回路を内蔵するフラツトパツケージのテストソ
ケツトの１実施例を示す平面図、側面図及び一部
拡大断面図である。 主要部分の符号の説明、１……中継部材、３…
…固定部材、５……押圧部材、８……検査用貫通
孔。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 電子回路を内臓するフラツトパツケージの各
   端子に対向すべく該フラツトパツケージの各端
   子の間隔と同一間隔で配列されかつ一端におい
   て該フラツトパツケージの端子と接触し他端に
   おいて外部と電気的接続をなし得る形状をした
   中継部材と、前記中継部材を担持しかつ前記フ
   ラツトパツケージを位置決めする位置決め部材
   を有する固定部材と、前記フラツトパツケージ
   の封止部を見られる様にした窓を備え前記固定
   部材と係合して前記フラツトパツケージを押圧
   挾持して前記フラツトパツケージの端子を前記
   中継部材に押し付ける押圧部材とからなる電子
   回路を内臓するフラツトパツケージのテストソ
   ケツトであつて、前記押圧部材には前記フラツ
   トパツケージの各端子に対応した前記窓の外側
   の位置に検査用貫通孔が設けられていることを
   特徴とする電子回路を内臓するフラツトパツケ
   ージのテストソケツト。 (2) 前記検査用貫通孔は規則的な変化を有する配
   列をもつて設けられていることを特徴とする実
   用新案登録請求の範囲第１項記載の電子回路を
   内臓するフラツトパツケージのテストソケツ
   ト。