JPH0510366Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は半導体装置に関する。特に半導体素子
を有する本体から外部リードが取り出され、該外
部リードが取り付け面に取り付けられることによ
つて、上記本体が実装される構造の半導体装置に
関する。

〔従来の技術及びその問題点〕

従来のこの種のものとして、第４図に示すよう
に、半導体素子を内蔵する本体１から、該本体１
に対して垂直に外部リード２を取り出す構造の半
導体パツケージが知られている。しかしこの構造
であると、外部リード２はこれを取り付ける基板
等の取り付け面３に対しても垂直におりることに
なり、半田付け性に難点が生ずる。外部リード２
の先端端面２′でのみ、半田接着がなされ、半田
量が不十分なものとなり、接着性が悪いからであ
る。かつ外部リード２の取り付け面３に対しての
接触部が平面でなくなり、更に外部リードの長さ
Ｌがばらついていると、半導体装置自体の取り付
け高低がばらついたり、あるいは接着性もばらつ
き、取り付け性が不安定になることがある。

また、第５図のような従来技術も知られてい
る。この例は本体１から該本体１にほぼ平行に出
た外部リード２を、垂直よりやや緩い角度で折り
曲げ、更にこれを本体１に平行になるようにほぼ
直線状に折り曲げたものである。よつてこの従来
例は、その外部リード２の先端取り付け部２ａが
本体１に平行なので、取り付け面に対しても平行
にできる。よつて基板等に対して安定な平面での
取り付け部を形成できる。基板等の取り付け面と
の半田接着性も良い。しかしこの従来例では、該
先端取り付け部２ａの長さはすべて外部リード２
の線幅に対してかなり長いものである。これによ
つて半田量を十分に確保できるものではあるが、
しかし実際には、第５図ｃ，ｄに極端に略示する
ように、半田Ｓが付く部分は、基板との接触部の
両端であつたり（第５図ｃ）、また逆に半田Ｓが
多く付きすぎることがあり（第５図ｄ）、隣のリ
ードとシヨートしてしまうなど信頼性の面でかな
り問題があつた。かつこの従来例は、取り付け部
２ａをかなり長くした結果、実装密度を上げられ
ないという問題があつた。

更に第６図に示すように、外部リード２が半導
体装置本体１に向けて丸みをつけて曲げられた従
来例もある。しかしこの構造は、製造工程が複雑
になる。しかも半田の付き具合を視認しようとし
ても、上方から矢印Ｘの如く見ても半田付け部分
Ｙは隠れてしまい、その付き具合が見られなくな
るという欠点を有している。

本考案は上記従来技術の諸問題点を解決し、取
り付け面への安定な取り付けを確保でき、かつ実
装密度を向上できる半導体装置を提供せんとする
ものである。

〔問題点を解決するための手段〕

本考案は、半導体素子を有する本体から外部リ
ードが取り出され、該外部リードが取り付け面に
取り付けられることによつて上記本体が実装され
る半導体装置において、上記本体は概ね正方形状
の上面及び下面と、４側面とを有する平たい箱型
のパツケージをなしており、上記半導体素子は該
本体内に内蔵されており、上記外部リードは上記
４側面から取り出される構造となつていて、かつ
上記外部リードは上記本体の上・下面とほぼ平行
に取り出され、更に屈曲されて下方かつ本体より
も外方に向つて延びる構成で形成され、更に上記
外部リードの取り付け部が曲面を介して構成され
るとともに、該外部リードの取り付け部は上記取
り付け面に対して平行に形成され、かつ上記外部
リードの線幅が0.3mm以上で、上記取付け部の長
さが、上記外部リードの線幅の３分の１あるいは
それ以下であることを特徴とする半導体装置であ
つて、この構成によつて上述した従来技術の諸問
題点を解決するものである。（なおここで外部リ
ードの取り付け部が取り付け面に平行であるとの
意味は、実装に際して取り付け部が取り付け面に
平行になし得る構成になつているということであ
る）。

上記本考案の半導体装置は、実装密度を上げし
かも安定した取り付けを得るための半田量を確保
すべく種々検討の結果、半田の量は外部リードの
基板等の取り付け面との接触面積に依存するこ
と、リードの線幅はリードの線間距離を決定する
要因であり、それをいかに折り曲げるかで最適な
半田量が決まること等に着目してなされたもので
ある。即ち本考案においては、前記した目的を達
成すべく、外部リードを折り曲げて基板等の取り
付け面に対して安定な平面を形成する構造をとり
ながらも、外部リードの線幅を0.3mm以下とし、
かつ外部リードを曲面を介して折り曲げて、該外
部リードの線幅の３分の１あるいはそれ以下の長
さの取り付け部を形成することにより、安定した
半田量を確保できる上記構成を採用したのであ
る。

〔作用〕

本考案の半導体装置は、外部リードの取り付け
部が取り付け面に対して平行なので、基板等に対
して安定な平面となり得る。かつ該外部リードの
線幅が0.3mm以下で、かつ取り付け部の長さが、
外部リードの線幅の３分の１以下であるので、取
り付けの面積を小さくでき、実装密度を上げるこ
とができる。しかも取り付けのための半田量は外
部リードの取り付け部の長さよりむしろ主にその
線幅に依存するので、本考案の構成により必要最
小限の半田量が再現性よく得られる。更に、外部
リードの取り付け部が曲面を介して構成されるの
で、取り付け面に平行な外部リードの取り付け部
から外部リードの該曲面まで半田がまわり込ん
で、確実で強固な半田付けが達成できる。このよ
うに本考案によれば、再現性よく必要な半田量が
得られ、かつ半田付けが強固に行えるので確実な
取り付けを実現でき、しかも、実装密度が向上す
る。

〔実施例〕

以下、本考案の一実施例を説明する。この実施
例は、本考案を48ピン半導体パツケージの構造に
適用したものである。

本例の半導体装置は、第１図に示す如く半導体
素子を内蔵する本体１から外部リード２が取り出
されて成る。この外部リード２が基板の取り付け
面に取り付けられることにより、本体１が実装さ
れる。外部リード２は第１図ｂ及び第１図ｃに詳
しく示すように、屈曲されて成り、その取り付け
部２ａは基板の取り付け面に対して平行になる構
成となつている。かつ該取り付け部２ａの長さl₁
は、外部リード２の線幅l₂の３分の１もしくはそ
れ以下である。具体的には本例では、l₁は0.1mm、
l₂は0.3mm程度である。

本実施例ではこの外部リード２を、第２図ｃか
ら理解されるように、本体１から出る外部リード
２を曲面Ｒを介してフラツトな取り付け部２ａを
形成する形とし、言わば猫の脚の如き構造
（Cat′s leg構造）にしたので、半田付け性が更に
良好になつている。第１図ｄに略示する如く、こ
の構造だとＲ部に半田がまわり込み、接着性が良
くなるからである。

この半導体装置は、第２図に示す工程で製造で
きる。まずリードカツトし、リードを最終的な長
さよりも長く、つまり第５図の従来例と同様な長
さでカツトする。次に素子特性等の測定を行う。
この測定により特性チエツクして、不良品は除
き、良品のみ外部リードを更にカツトして、所定
の長さl₁のものを得る。即ち本例では、リード線
幅0.3mmに対して、折り曲げた取り付け部２ａを
0.1mmとしてカツトする。その後テーピングして
出荷する。従来、第５図の製品を得る工程では、
第３図のように最終的なリードカツトを行つてか
ら測定を行い、テーピングして出荷するものであ
つた。これに対し本例の工程では、測定後、良品
のみを精密に最終リードカツトすればよいので、
無駄がない。第３図の従来工程では、測定前に最
終リードカツトを行うので、折角リード長につい
て精密なカツテイングを行つても、不良品はその
工程が無駄だつたことになる。その点本例の場
合、最初にそれ程精密性を要さないリードカツト
を行つた後、測定後の良品のみを最終リードカツ
トで精密に扱えばよいのである。なお最初からリ
ードの取り付け部の長さをl₁にカツトしてしまわ
ないのは、測定のためには或る程度の長さでフラ
ツトなリードがあつた方が、その測定の信頼性が
高いからであるが、測定する場合、本例では第５
図の従来例の如きリード長の状態で各リード（ピ
ン）をソケツトに入れ、電気的特性をチエツク
し、良品のみをリードカツトして第１図のように
するため、ソケツトによるリードの浮き、ねじれ
も生じない。第１図のようにリードが短いことか
ら逆にリード先端に加わるモーメント力が小さく
なり、リード変形を抑えることができる。

本考案によれば、半導体装置の搭載面積を小さ
くして実装密度を上げることができる。本実施例
では具体的には、次の通りである。

本例に係る48ピンの装置の場合、例えばパツケ
ージ本体１の一辺を12mm、平面で見た外部リード
２のリード長l₃を1.15mm、リードの列の端から端
までの距離l₄を9.9mmとする（第１図ａ参照）と、
半田部の面積S₁は、前述の如く半田が付く取り付
け部２ａの長さl₁は0.1mmとしたから、S₁＝0.1×
9.9×４であり、パツケージの占める面積S₂＝12
×12であり、半田部以外のリードの占める部分の
面積S₃＝1.05×9.9×４となる（面積の単位は
各々mm²。なお1.05はl₃の長さ1.15からl₁の長さ0.1
を引いたものである）。よつて本例の半導体装置
は、リードを基板に対して平行に折り曲げる構造
をとりながらも、その占有面積は189.5（mm²）であ
る。占有面積の内、リードの取り付け部２ａの占
める面積S₁はS₂，S₃に比して、きわめて小さい。

半田ランドは、 15.2×15.2＝231（mm²） となる（15.2は半田が占める部分の一辺の長さで
ある）。

一方、第５図の従来例では、上記l₃に該当する
リード長が1.9mm（この内半田付けされる取り付
け部は、例えば1.85mm）の如く長くなつているの
で、その分占有面積が大きくなる。半田ランド
は、例えば18.6×18.6＝346mm²となる。

本例では上記の如く占有面積が小さくでき、高
密度化できるので、コストも低減することができ
る。

上述した実施例はICを内蔵した48ピン半導体
パツケージについてであるが、上記構成はその
他、例えば６ピン（またはそれ以上）の他の形式
のパツケージに適用してもよい（ピンの数は任意
である）。モールドパツケージにかぎらずセラミ
ツクパツケージ等に採用してもよい。

外部リードの取り付け部の長さも、リード幅の
３分の１以下でさえあれば任意であり、0.1mm以
下で設定できる。

当然のことではあるが、本考案は図示の実施例
にのみ限定されるものではない。

〔考案の効果〕

上述の如く、本考案の半導体装置は、本体から
取り出された外部リードの取り付け面への取り付
け部が該取り付け面に対して平行であり、かつ該
取り付け部の長さが、上記外部リードの線幅の３
分の１以下であるので、取り付け面への安定な取
り付けを確保でき、かつ実装密度を向上できると
いう効果がある。かつ、取り付けのため半田付け
する場合、その半田量は適量にすることができ、
また半田付け部が、取り付け面に平行な外部リー
ドの取り付け部から、該外部リードの曲面まで半
田がまわり込む構成になり、即ちフラツトな部分
から曲面（図示例で言えば曲面Ｒ部）まで半田が
まわり込む形になるので、接着性が良く、強度の
高い半田付けを達成でき、よつて機械的強度が高
く、更にリードの熱膨張等による応力をも最小限
に抑え得る効果が期待できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例を示し、第１図ａは
平面図、ｂは側面図、ｃはｂにおけるＣ部拡大
図、ｄは半田付け状態説明図である。第２図はこ
の実施例の製造工程図である。第３図は従来例の
製造工程図である。第４図乃至第６図はそれぞれ
従来例を示す。 １……本体、２……外部リード、２ａ……取り
付け部、３……取り付け面。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 半導体素子を有する本体から外部リードが取り
   出され、該外部リードが取り付け面に取り付けら
   れることによつて上記本体が実装される半導体装
   置において、 上記本体は概ね正方形状の上面及び下面と、４
   側面とを有する平たい箱型のパツケージをなして
   おり、上記半導体素子は該本体内に内蔵されてお
   り、 上記外部リードは上記４側面から取り出される
   構造となつていて、 かつ上記外部リードは、上記本体の上・下面と
   ほぼ平行に取り出され、更に屈曲されて下方かつ
   本体よりも外方に向つて延びる構成で形成され、
   更に上記外部リードの取り付け部が曲面を介して
   構成されるとともに、該外部リードの取り付け部
   は上記取り付け面に対して平行に形成され、かつ
   上記外部リードの線幅が0.3mm以下で、上記取り
   付け部の長さが、上記外部リードの線幅の３分の
   １あるいはそれ以下であることを特徴とする半導
   体装置。