JPH0474486A - 光半導体素子 - Google Patents

光半導体素子

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JPH0474486A
JPH0474486A JP2187241A JP18724190A JPH0474486A JP H0474486 A JPH0474486 A JP H0474486A JP 2187241 A JP2187241 A JP 2187241A JP 18724190 A JP18724190 A JP 18724190A JP H0474486 A JPH0474486 A JP H0474486A
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quantum well
well layer
superlattice
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、超格子構造を用いた新しい原理による光半導
体素子に係り、特に長波長の発光または受光に適した光
半導体素子に関する。
(従来の技術) 第9図は従来の量子井戸レーザの原理説明図である。図
に示すように従来の量子井戸レーザにおいては、pn接
合の順方向動作を利用して、伝導帯の量子井戸に電子が
入り、価電子帯の量子井戸に正孔が入った反転分布状態
を形成し、伝導帯の電子か価電子帯に遷移する際の発光
を利用している。この場合、光のエネルギーはバンドギ
ヤ、ツブより大きく、通常1,5eVとなっている。
ところで従来の半導体レーザにおいては、量子井戸レー
ザに限らず、発光波長は活性層のノ〈ントギャップによ
り一義的に決まる。したかって用いる材料か決まれば発
光波長は決まり、同じ半導体材料を用いて任意の発振波
長を得るということはできない。受光素子についても同
様である。また、遠赤外〜ミリ波という長波長用の発光
素子や受光素子も望まれなから、これまで適当な材料か
乏しく、十分満足できるものは実現されていない。
(発明か解決しようとする課題) 以上のように従来半導体発光素子や半導体受光素子は、
用いる材料によって波長か決まり、また特に遠赤外〜ミ
リ波という長波長用素子か得難いという問題かあった。
本発明は、幾何学的形状の選択によって任意の波長領域
の発光および受光を可能とした光半導体素子を提供する
ことを目的とする。
本発明はまた、遠赤外〜ミリ波という長波長用の光半導
体素子を提供することを目的とする。
[発明の構成コ (課題を解決するための手段) 本発明に係る光半導体素子は、基板上に、異なる厚みの
量子井戸層を持つ第1の超格子構造部と第2の超格子構
造部が隣接してそれらの量子井戸層が連続するように形
成され、かつ第1.第2の超格子構造部を挾んで量子井
戸層に接続される電極が設けられた構成を基本とする。
この様な基本構成において、第1.第2の超格子構造部
は、それぞれにおいて量子化されるエネルギー準位に関
して、第1の超格子構造部での基底準位が第2の超格子
構造部の励起準位とほぼ一致するように、それぞれの量
子井戸層の厚みか設定される。
(作用) 本発明の素子においては、量子井戸内に形成される所謂
サブバンド間の遷移により発光、受光が行われる。いま
キャリアとして電子を考え、第1の超格子構造部の量子
井戸層から第2の超格子構造部の量子井戸層に電子が流
れるように電極間にバイアスを与えたとき、次のように
して発光が生じる。すなわち運動領域が制限された第1
の超格子構造部の量子井戸層での基底準位にある電子は
、同様に運動領域が制限された第2の超格子構造部では
第1の超格子構造部での基底準位と等しいエネルギーレ
ベルである励起準位に入る。第2の超格子構造部で励起
準位に入った電子は基底準位に空きかできると、励起準
位から基底準位へとサブハンド間遷移をし、そのサブバ
ンド間のエネルギーに相当する波長の発光か得られる。
受光の原理は、発光と逆である。すなわち第1゜第2の
超格子構造部の電極間には発光の場合と逆のバイアスか
与えられる。この状態で第2の超格子構造部にそのサブ
バンドのエネルギーに相当する光か入ると、基底準位の
電子が励起されて上位の励起準位に入り、これが第1の
超格子構造部に流れて、電流として検出される。
この様な原理による本発明の素子では、上述したサブバ
ンド・ギャップが量子井戸層の厚みにより決定される。
したがって第1.第2の超格子構造部の量子井戸層の厚
みを選択することによって、発光波長、受光波長を任意
に設定することができる。また、量子井戸のサブバンド
間遷移を利用しているため、従来にない長波長の発光お
よび受光が可能である。
(実施例) 以下、本発明の詳細な説明する。
第1図は一実施例の半導体レーザを示す断面図であり、
第2図はその平面図である。
GaAs基板1上にAg3.3 G a O,7A S
障壁層2、この上にn型GaAs量子井戸層3、さらに
Aff O,3G a o、7 A s障壁層4が順次
積層形成されている。量子井戸層3は、途中で厚みが変
化している。すなわち第1の超格子構造部Iでの量子井
戸層31は厚みが81であり、第2の超格子構造部■で
の量子井戸層3.の厚みはallであり、この様な超格
子構造部I、IIか隣接して形成された状態になってい
る。たとえば、第1の超格子構造部Iでの量子井戸厚み
a、と第2の超格子構造部■での量子井戸厚みa、の比
はおよそ、a l / a I ” 1 / 2に選ば
れる。これは後に詳細に説明するように、第1の超格子
構造部Iての量子化されたエネルギー・レベルの基底準
位が、第2の超格子構造部■ての量子化されたエネルギ
ー・レベルの励起準位とは等しくなるようにするためで
ある。
これら第1.第2の超格子構造部I、 I[を挟んで両
側に量子井戸層3を露出させて、ここに電極5および6
が設けられている。また基板面に平行でかつ、電極5.
6を結ぶ方向と直交する方向の第2の超格子構造部Hの
端面であるへき開面78を反射面として、光共振器が構
成されている。
このように構成された半導体レーザの動作を次に説明す
る。キャリアは電子の場合を考える。電極5,6間に、
電極6が正となるバイアスを与えると、電極5から第1
の超格子構造部lの量子井戸層3に電子が注入される。
第1の超格子構造部Iの量子井戸層3.に注入された電
子は量子効果によって取り得るエネルギーが制限されお
り、いまの場合基底準位しかとり得ない。電子が第1の
超格子構造部Iから第2の超格子構造部■の量子井戸層
3.に入ると、ここでは励起準位に入る。
第2の超格子構造部■の電子エネルギーの励起準位が第
1の超格子構造部Iでの基底準位と等しく設定されてい
るからである。第2の超格子構造部■の基底準位にある
電子が電極6側に流れてそこに空きができると、第1の
超格子構造部Iから注入されて励起準位に入っている電
子は基底準位に遷移し、そのエネルギー・ギャップに相
当する波長の光が放出される。そしてこの光は光共振器
により増幅され、あるしきい値を越えるとレーザ発振し
てレーザ光として取り出されることになる。
以上の動作を、第3図、第4図を用いてより詳細に説明
すれば、次の通りである。実施例の素子の厚み方向(X
方向)にみた電子のエネルギーバンド構造は、第3図に
示すようになり、量子井戸層3内に量子化されたレベル
E、、E2.・・を作る。前述のように量子井戸層3の
厚みを、第1゜第2の超格子構造部I、IIでそれぞれ
a+、auとしたとき、第1.第2の超格子構造部I、
IIての量子化レベルE。(I)、Eゎ (n)はそれ
ぞれ、次のように表される。
En  (1)= (π’ K272m” a、’ )
n2(n−1,2,・・・) En  (II)−(π2%2/2m’ an 2)n
2(rrl、2.・・・) 一方、第1.第2の超格子構造部■、■の量子井戸層3
内の運動に対する電子のエネルギーε。。
(I)、ε、、、(II)は、不変に保たれる第1図の
紙面に垂直な奉公(2方向)の運動エネルギーを除くと
、X方向の波数をkとしてそれぞれ、εfik(1)−
E。(I) 十(−1′i2/2m’ ) k2ε。h
 (II)−En (II)+ (f2/ 2m” )
k2と表される。
そしてこの実施例では、第4図に示すように、第1の超
格子構造部Iでの基底準位ε1. (I )が、第2の
超格子構造部■での励起準位ε2−(n)と等しくなる
ように各量子井戸層3.,3.の厚みa I r  ”
 Mが設定されている。したがって、第1の超格子構造
部1で状態Aにあった電子は、第2の超格子構造部■で
は状態B1またはB2に移る。
一方、第2の超格子構造部■で基底準位の状態B3にあ
った電子は電極6側に流れてここに空きができるから、
ここに励起準位の状態B2の電子がエネルギーを放出し
て遷移することができる。
このとき出す光のエネルギーは、 (xω−3yr2(i2/2m” a、2となり、波数
kによらない。すなわち一定波長の光を放出する。放出
される光の強さは流す電流に略比例する。
具体的に例えば、第1図において、n型GaAst子井
戸層31.3uの厚みをそれぞれ、a+〜75人、a、
〜150人に設定した場合、得られる光のエネルギーは
およそ75meV(波長16.5μm)であり、遠赤外
領域に属する。
この実施例においては上述のように、量子井戸内の所謂
サブバンド遷移を利用している。したがって光エネルギ
ーは小さく、従来にない長波長の発光が得られる。また
以上の動作原理から明らかなように、発光波長は第2の
超格子構造部■の量子井戸層厚みにより決定される。す
なわち幾何学的形状を選択することによって、任意の発
光波長を得ることができる。
上記実施例では、光共振器を構成して誘導放出によるレ
ーサ発振をさせているか、自然放出光のみでLEDとし
て動作させることもできる。もちろんこの場合には、共
振器は要らない。
上記実施例の素子は、そのまま受光素子ないし光検出器
として用いることができる。受光の動作を第5図を用い
て説明する。受光の場合には、電極5,6間に発光の場
合とは逆のバイアスを与える。光が入射せす、第2の超
格子構造部■の励起準位ε2kに電子かない状態では1
.電極5.6間に電流は流れ得ない。第2の超格子構造
部Hの量子井戸層3jに電子が注入されても、第1の超
格子構造部1には第2の超格子構造部■の基底準位に相
当するエネルギーレベルがないため、第1の超格子構造
部■の量子井戸層31にはその電子が流れ込むことはで
きないからである。第2の超格子構造部■に所定のエネ
ルギーの光が入射すると、第5図に示すように基底準位
ε1.(II)の状態C1にある電子が励起されて、上
位の励起準位ε2.(II)の状態C2に入る。この状
態の電子は、第1の超格子構造部■での基底準位と1.
 (I )の状態りに移り得る。すなわち第2の超格子
構造部■から第1の超格子構造部Iに電子か流れること
ができる。したがって電極5,6間の電流を検出するこ
とによって、光検出ができる。
第6図は、特性を改善した実施例の素子の要部構造を示
す。図に示すようにこの実施例では、第1の超格子構造
部1に隣接して第2の超格子構造部■を形成し、さらに
第2の超格子構造部Hに隣接して第3の超格子構造部■
を形成している。第1、第2の超格子構造部I、■の量
子井戸層33、の厚みaI +  a lは、先の実施
例と同様の関係に設定される。第3の超格子構造部■の
量子井戸層3□の厚みalは、a、<a、<a、を満た
すように設定される。第3の超格子構造部■には、第1
および第2の超格子構造部I、IIとは異なる材料が用
いられる。電極は図では示していないが、第1の超格子
構造部Iの量子井戸層31と第3の超格子構造部■の量
子井戸層3mにそれぞれコンタクトするように設けられ
る。
第7図は、この実施例の素子での各超格子構造部の電子
エネルギー・レベルの関係である。図に示すように、第
3の超格子構造部■の伝導帯の底のレベルか第2の超格
子構造部■のそれからΔEgたけすれている。この結果
、第2の超格子構造部■と第3の超格子構造部■の基底
準位ε、、(II)とε、k(m)が略同じレベルにあ
り、それらの上位の励起準位ε2.(U)とB2−(I
II)かすれた状態になっている。
この実施例の素子での発光動作は次の通りである。先の
実施例と同様にバイアスを与えたとき、第1の超格子構
造部Iの基底準位の状態へにある電子は、先の実施例と
同様に第2の超格子構造部■の励起準位の状態B1また
はB2に入る。しかし第3の超格子構造部■は第2の超
格子構造部■の状態Bl、B2に相当するエネルギーレ
ベルを持たないから、状態Bl、B2にある電子は第3
の超格子構造部■には移り得ない。第2の超格子構造部
■において状態B1から基底準位の状態B3に遷移した
電子は、これと同じエネルギーレベルを持つ第3の超格
子構造部■の基底準位の状!!!Eに移る事かできる。
こうしてこの実施例の素子では、第2の超格子構造部■
て励起準位にある電子はそのまま第3の超格子構造部■
には流れることができず、第2の超格子構造部Hに高密
度に蓄積される。すなわち第3の超格子構造部■を設け
ることによって、実質的に第2の超格子構造部■でキャ
リア閉込めの効果か得られ、レーザ発振に必要な高い電
子密度が容易に得られる。したがって先の実施例と同様
に光共振器を構成することにより、しきい値か低い、発
振効率の高いレーザが得られる。
この実施例の素子が、LEDとして用いられること、ま
た受光素子として用いられることは先の実施例の場合と
同様である。
第8図は、さらに他の実施例での第1.第2の超格子構
造部1.IIの構成を示す。第8図(a)では、第1の
超格子構造部Iの量子井戸層3□が、第2の超格子構造
部■の量子井戸層3゜に対して、上下に段差か形成され
た状態でつながっている。
第8図(b)においては、量子井戸層3..3.の境界
か滑らかに変化している。この様な構成であっても、先
の実施例と同様の発光、受光の動作かできる。
上記実施例では、GaAs/AlGaAs系を用いたか
、他の材料を用いることもできる。
例えば、障壁層としてバンドギャップの大きい5102
等の絶縁膜を用い、量子井戸層のポテンシャル井戸をよ
り深くすれば、よりエネルギーの高い光の発光が可能で
ある。具体的に、障壁層としてSiO2膜を用い、量子
井戸層としてシリコンを用いた場合、量子井戸層のポテ
ンシャル深さは3eV以上になる。第1.第2の超格子
構造部1.IIでの量子井戸層厚みal+affiを、
81〜15人、a、〜30人程形成設定すると、0.6
3eV程度の光の発光、受光ができる素子が得られる。
この材料は、量産技術が確立されているシリコン集積回
路のそれと同じである。したかって、シリコン系のみを
用いた0EIC等が容易に実現できる。
本発明はその他その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形し
て実施することができる。
[発明の効果コ 以上述べたように本発明によれば、量子効果を利用した
新しい原理により、これまでにない長波長領域の発光、
受光か可能であり、また形状の選択によって波長を任意
に選ぶことのできる光半導体素子を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の半導体レーザを示す断面図
、 第2図はその半導体レーザの平面図、 第3図は同じくその量子効果を説明するための図、 第4図は同じく発光の動作原理を説明するための図、 第5図は同じく受光の動作原理を説明するための図、 第6図は他の実施例の半導体レーザの要部構造を示す断
面図、 第7図はその発光動作原理を説明するだめの図、第8図
(a) (b)は他の実施例の素子の要部構造を示す断
面図、 第9図は従来の量子井戸レーザの原理を説明するための
図である。 1−= に a A s基板、2 、4− A Do、
 3G ao、 7A S障壁層、3 (3,,31,
31)・・・量子井戸層、5.6・・・電極、■・・・
第1の超格子構造部、■・・・第2の超格子構造部、■
・・・第3の超格子構造部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 図 ゝ8 第 図 第 図 第 図 起格子檎止1 起絡手構(且 第 図 第 図 産Bオ6ギトオA盪LI kε梧子木ILiIL gm+ati 第 図 x −一十−n 第 図 第 図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板と、 この基板上に形成された所定厚みの量子井戸層を持つ第
    1の超格子構造部と、 前記基板上に前記第1の超格子構造部と隣接して形成さ
    れた、前記第1の超格子構造部の量子井戸層と連続した
    これとは厚みの異なる量子井戸層を持つ第2の超格子構
    造部と、 前記第1および第2の超格子構造部を挟んで前記量子井
    戸層に接続された第1および第2の電極と、 を備えたことを特徴とする光半導体素子。
  2. (2)前記第1の超格子構造部と第2の超格子構造部の
    それぞれにおいて量子化されるエネルギー準位に関して
    、第1の超格子構造部での基底準位が第2の超格子構造
    部の励起準位とほぼ一致するように、それぞれの量子井
    戸層の厚みが設定されていることを特徴とする請求項1
    記載の光半導体素子。
  3. (3)基板と、 この基板上に形成された所定厚みの量子井戸層を持つ第
    1の超格子構造部と、 前記基板上に前記第1の超格子構造部と隣接して形成さ
    れた、前記第1の超格子構造部の量子井戸層と連続した
    これとは厚みの異なる量子井戸層を持つ第2の超格子構
    造部と、 前記基板上に前記第2の超格子構造部と隣接して形成さ
    れて、前記第2の超格子構造部の量子井戸層と連続しか
    つその厚みが第1の超格子構造部の量子井戸層と第2の
    超格子構造部の量子井戸層の間に設定された量子井戸層
    を持つ第3の超格子構造部と、 前記第1ないし第3の超格子構造部を挟んで前記量子井
    戸層に接続された第1および第2の電極と、 を備えたことを特徴とする光半導体素子。
  4. (4)前記第1、第2および第3の超格子構造部のそれ
    ぞれにおいて量子化されるエネルギー準位に関して、第
    1の超格子構造部での基底準位が第2の超格子構造部の
    励起準位とほぼ一致し、第3の超格子構造部の励起準位
    が第2の超格子構造部のそれより上位にあるように、そ
    れぞれの材料と量子井戸層の厚みが設定されていること
    を特徴とする請求項3記載の光半導体素子。
  5. (5)前記基板面に平行で、かつ前記第1、第2の電極
    を結ぶ方向と直交する方向の端面を反射面として光共振
    器が構成されていることを特徴とする請求項1または3
    記載の光半導体素子。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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