JP2015195379A - 発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 上部電極層と、下部電極層と、それらの間に設けられた活性層とを有し、前記上部電極層、および前記下部電極層を介して前記活性層に電流を注入することで発光する発光素子であって、
前記活性層が複数の量子閉じ込め構造を有し、第一の量子閉じ込め構造はエネルギー準位がE0の基底準位、及びエネルギー準位がE1の高次準位を有し、第二の量子閉じ込め構造は前記E0よりも大きいエネルギー準位E2を有し、前記E1と前記E2とが略一致している発光素子。
【選択図】 図3
Description
(実施形態1)
本発明の実施形態1に係る発光素子および光源システムについて図1、2を用いて説明する。図1(a)、図1(b)はそれぞれ本実施形態に係る発光素子の斜視図、上面図で、図1(c)は図1(a)(b)のA−A’断面における断面図である。
次に本実施形態に係る光源システムについて図2を用いて説明する。図2は、本実施形態に係る光源システムを示すブロック図であり、図2中で発光素子100は上面図を示している。
本実施形態に係る発光素子は、その活性層が量子井戸構造、量子細線構造、または量子ドット構造の少なくともいずれか一種で構成されている。量子井戸構造、量子細線構造、量子ドット構造を総称して量子閉じ込め構造と呼ぶ。本実施形態に係る発光素子は、複数の量子閉じ込め構造を有する。第一の量子閉じ込め構造はエネルギー準位がE0の基底準位、及びエネルギー準位がE1の高次準位を有する。そして、第二の量子閉じ込め構造はE0よりも大きいエネルギー準位E2の基底準位を有する。そして、E1とE2とが略一致している。なお、本明細書において高次準位とは、基底準位のヘビーホール以外の、ライトホール、及び1次準位以上のエネルギー準位を指す。
上記式(1)より、利得gが指数関数内のあるため、gが2倍になると、P2の大きさは、2倍ではなく、それ以上の大きさとなることが理解できる。上記式(1)の関係が成立する発光素子としてSLDが挙げられる。以下、比較のために、SLDと類似のデバイスとして、半導体レーザ(LD)および発光ダイオード(LED)の場合に、上記と同じ活性層構造を導入した際の発光強度の変化について考察する。
本発明では、発光を大きくする準位は、浅い量子井戸の基底準位をその波長に合わせるだけで、比較的簡易に、任意の波長を選ぶことができる。
本実施形態に係る発光素子において上部電極層は特に限定されないが、Tiを有する第一のp型電極層の上にAuを有する第二のp型電極層が形成された電極層を用いることができる。また、電極の導波方向の長さは、実現したい発光スペクトルによって適切に設定する。
本実施形態に係る発光素子において下部電極層は特に限定されないが、AuGe/Ni/Auを有するn型電極層が形成された電極層を用いることができる。
本実施形態における発光素子の活性層に好適な量子井戸構造は、発光させる波長により異なる。そして量子井戸構造の発光波長は井戸層及び障壁層の材料および井戸層の厚さにより決まる。以下では、活性層の発光波長に好適な量子井戸構造の例として、量子井戸構造の基底準位の発光波長を軸に説明する。
本実施形態における発光素子は、リッジ型の導波路構造105を形成することにより発光素子内に光を閉じ込め、活性層内を導波させ、出射端面から出射させることができる。このリッジ型の導波路構造は、一般的な半導体リソグラフィー法および半導体エッチングにより形成することができる。またリッジ型導波路構造の幅(図1(b)のw)は光を閉じ込めることができれば特に限定されないが例えば10μm以下とすることが好ましく、5μm以下とすることが好ましく、3μm以下とすることがさらに好ましい。リッジ型導波路構造の幅、すなわちリッジ幅wは発光素子の発光がマルチモードとならないように狭い方が好ましい。
本実施形態に係る発光素子において、リッジの導波路構造105は、レーザ発振しにくくするために、光の出射端面の垂線に対して活性層の面内方向に傾斜させる。傾斜させることで端面における光の反射した光が導波路へ戻ることを抑制できるため、レーザ発振しにくくなる。例えば、出射端面の垂線に対して活性層の面内方向に傾斜を約7度設けることが好適である。また、端面の反射を抑制するためにSiNのような誘電膜を反射防止膜として設けてもよい。反射防止膜は、出射端面P1と、それと逆側の端面P2のいずれか一方に設けてもよいし、両方に設けてもよい。また、出射端面での劣化を抑制するために出射端面付近に電流が注入されない領域を設けてもよい。
本実施形態における制御部は、各電極に注入する電流注入密度を制御することができるものであれば特に限定されない。また、その電流注入密度は、上記出射光検出部で検出された光の強度の情報を、フィードバック回路を用いて制御部に送り、その情報に基づいて決めることができる。
本実施形態に係る発光素子の製造方法は、特に限定されないが、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法を用いて各半導体層を順次成長させることで製造することができる。
実施形態2に係る発光素子について図4を用いて説明する。図4は、本実施形態に係る発光素子の上面図である。本実施形態は、実施形態1と同様の活性層構造を有しているが、光の導波方向に電流注入密度の分布がある点が実施形態1と異なる。このように電流注入密度の分布があることで、全体に均一に電流注入する形態と比較して、より自由に発光スペクトル形状を制御することができる。以下では、実施形態1と異なる点について説明し、同一の点については説明を省略する。
実施形態3に係る発光素子について図5を用いて説明する。本実施形態では、実施形態2と同様に光の導波方向に電流注入密度の分布を持たせるが、電流がほとんど流れていない活性層領域、つまりバンドギャップによる吸収が支配的となる活性層領域(吸収領域)が含まれる。そしてこの吸収領域の前後に発光領域が存在し、この吸収領域の後ろの発光領域から発せられた光が上記吸収が支配的となる領域を透過するときに吸収の影響を受ける。この吸収が波長依存性を持つため、透過後の光のスペクトル形状が制御できる。その結果、実施形態2よりもさらに自由にスペクトル形状を制御できる。以下では、実施形態1、2と異なる点について説明し、同一の点については説明を省略する。
(光干渉断層計)
本実施形態では、上記実施形態1乃至3に係る発光素子または、その発光素子を含む光源システムを用いた光干渉断層計(OCT)について図6を用いて説明する。
上記本発明の実施形態に係る発光素子は、上記のOCT以外にも、光通信用光源や光計測用光源として利用できる。
本発明の実施例1に係る発光素子について説明する。本実施例に係る発光素子100の構成は図1に示される。本実施例において、基板としてGaAs基板101、下部クラッド層としてn型Al0.5GaAsクラッド層102、活性層103、上部クラッド層としてp型Al0.5GaAsクラッド層104を用いる。また、コンタクト層としてp型GaAsコンタクト層106、コンタクト層106の上部に上部電極層としてのp型電極110を用い、下部電極層としてのn型電極120を用いる。また、図1のように、リッジ型の導波路構造105を形成する。なお、リッジ型の導波路構造105の幅は出射光をシングルモードとするために3umの幅としている。また、出射端面の垂線と光導波路の角度は、リッジ型の導波路構造105の端面P1での反射を防止するために約7度傾斜させる。
上記実施例1に係る発光素子の比較例について説明する。本比較例で説明する各々の形態は、量子井戸構造以外はすべて実施例1と同じ構成である。本比較例で示す2つの量子井戸構造をB、Cと呼ぶ。
量子井戸構造Cは図8(b)に示すように、量子井戸構造Aの第二の量子井戸構造1002と同じ量子井戸構造を1つ有する単量子井戸構造である。
量子井戸構造B、Cに、上記実施例1と同じ電流注入密度で電流注入した時の発光スペクトルの計算結果を図9(a)(b)に示す。また、図9(a)と図9(b)の発光スペクトルを足し合わせた発光スペクトルを図9(c)に示す。
本発明の実施例2に係る発光素子について説明する。本実施例に係る発光素子は、実施例1に係る発光素子の量子井戸構造Aに第一の量子井戸構造1001と等しい量子井戸構造を2つ含む活性層構造(ここでは量子井戸構造Dと呼ぶ)である。以下、実施例1と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本発明の実施例3に係る発光素子について説明する。本実施例に係る発光素子は、実施例1の量子井戸構造Aに、実施例1で用いている第二の量子井戸構造1002と同じ量子井戸構造を1つ追加した活性層構造(活性層構造Eと呼ぶ)である。以下、実施例1と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本発明の実施例4に係る発光素子について図4を用いて説明する。本発明の実施例4に係る発光素子は上部電極層が2つに分割されていること、活性層の組成が異なること以外は実施例1と同一の構成である。以下、実施例1と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
65nmである。そのため、本実施例の構成は、実施形態で説明した、本発明の効果が特に大きい範囲に含まれていることが分かる。そして、3つの準位の発光強度をそろえることで、強度が0に近づくような大きなディップ(発光スペクトルにおける溝)がなく、80nmをこえる広い波長帯域にわたる発光を実現することができる。
本発明の実施例4に係る発光素子について図5を用いて説明する。本発明の実施例5に係る発光素子は上部電極層が4つに分割されていること以外は実施例4と同一の構成である。以下、実施例1、4と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本発明の実施例6に係る発光素子について説明する。本実施例で説明する形態は、量子井戸構造以外はすべて実施例1と同じ構成である。以下、実施例1と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
上記実施例6に係る発光素子の比較例について説明する。本比較例で説明する形態は、量子井戸構造以外はすべて実施例6と同じ構成である。
量子井戸構造Bは比較例1で示した構造と同一である。
量子井戸構造Gは図15(b)に示すように、量子井戸構造Fの第二の量子井戸構造1003と同じ量子井戸構造を1つ有する単量子井戸構造である。
量子井戸構造B、Gに、上記実施例1と同じ電流注入密度で電流注入した時の発光スペクトルの計算結果を図16(a)(b)に示す。また、図16(a)と図16(b)の発光スペクトルを足し合わせた発光スペクトルを図16(c)に示す。
本発明の実施例7に係る発光素子について説明する。本実施例では、実施例1に係る発光素子における活性層の第一の量子井戸構造の高次準位E1と第二の量子井戸構造の基底準位E2とのエネルギー差ΔE(=E2−E1)を変えたときの低波長帯域(834nm)の発光強度の変化の計算例を示す。なお、各量子井戸構造を用いたときの低波長帯域(834nm)の発光強度の変化は、第一の量子井戸構造のみ有する単量子井戸構造の発光強度と第二の量子井戸構造のみを有する単量子井戸構造の発光強度との和を1としたときの発光強度比として算出した。
本発明の実施例8に係る発光素子について図18を用いて説明する。
本発明の実施例8に係る発光素子は上部電極層が6つに分割されていること以外は実施例4と同一の構成である。以下、実施例4と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本発明の実施例9に係る発光素子について図19を用いて説明する。
本発明の実施例10に係る発光素子について図20を用いて説明する。
本発明の実施例11に係る発光素子について図21(a)を用いて説明する。
本発明の実施例12に係る発光素子について図22(a)を用いて説明する。
本発明の実施例13に係る発光素子について図23(a)を用いて説明する。
103 活性層
110 上部電極層
120 下部電極層
170 量子井戸構造
171 第一の量子井戸構造
172 第二の量子井戸構造
Claims (18)
- 上部電極層と、下部電極層と、それらの間に設けられた活性層とを有し、
前記上部電極層、および前記下部電極層を介して前記活性層に電流を注入することで発光する発光素子であって、
前記活性層が複数の量子閉じ込め構造を有し、第一の量子閉じ込め構造はエネルギー準位がE0の基底準位、及びエネルギー準位がE1の高次準位を有し、前記第一の量子閉じ込め構造とは異なる
第二の量子閉じ込め構造は前記E0よりも大きいエネルギー準位E2を有し、前記E1と前記E2とが略一致している発光素子。 - 前記量子閉じ込め構造が量子井戸構造である請求項1に記載の発光素子。
- 前記E2から前記E1を引いたエネルギー準位差ΔEが−110meV以上、25meV以下である請求項1または2に記載の発光素子。
- 前記E2から前記E1を引いたエネルギー準位差ΔEが−45meV以上である請求項1乃至3のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記E2から前記E1を引いたエネルギー準位差ΔEの絶対値が20meV以下である請求項1乃至4のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記E2から前記E1を引いたエネルギー準位差ΔEが0meV以上である請求項1乃至5のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記E2から前記E1を引いたエネルギー準位差ΔEが−21meV以下である請求項1乃至6のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記第二の量子閉じ込め構造の深さは、前記第一の量子閉じ込め構造の深さよりも浅い、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記活性層は3つ以上の量子閉じ込め構造を有する請求項1乃至8のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記活性層はさらに第三の量子閉じ込め構造を有し、前記第三の量子閉じ込め構造は、前記第一の量子閉じ込め構造と同じである請求項1乃至9のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記上部電極層と前記下部電極層の少なくともいずれか一方の電極層が、複数の電極に分割されている、請求項1乃至10のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記複数の電極の少なくとも1つには電流を注入しないように構成されている、請求項1乃至11のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記上部電極層と前記下部電極層の少なくともいずれか一方の電極層が、4つの電極に分割されている、請求項1乃至12のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記量子閉じ込め構造が前記第一の量子閉じ込め構造と、同じ量子閉じ込め構造を有する第三の量子閉じ込め構造をさらに有する請求項1乃至13のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記発光素子がリッジ型の導波路構造を有する請求項1乃至14のいずれか一項に記載の発光素子。
- 前記導波路構造は、前記発光素子の出射端面の垂線に対して前記活性層の面内方向に傾斜している請求項1乃至15のいずれか一項に記載の発光素子。
- 請求項1乃至16のいずれか一項に記載の発光素子と、
前記上部電極層及び前記下部電極層への電流注入量を制御する制御部と、
を有する光源システム。 - 請求項17に記載の光源システムと、
前記光源システムからの光を物体へ照射する照射光と参照光とに分波し、前記物体に照射された光の反射光と前記参照光による干渉光を発生させる干渉光学系と、
前記干渉光を分光させる分光部と、
分光された前記干渉光を受光する干渉光検出部と、
前記干渉光の強度に基づいて、前記物体の情報を取得する情報取得部と、
を有することを特徴とする光干渉断層計。
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