JP6646942B2 - 発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計 - Google Patents

発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計 Download PDF

Info

Publication number
JP6646942B2
JP6646942B2 JP2015067065A JP2015067065A JP6646942B2 JP 6646942 B2 JP6646942 B2 JP 6646942B2 JP 2015067065 A JP2015067065 A JP 2015067065A JP 2015067065 A JP2015067065 A JP 2015067065A JP 6646942 B2 JP6646942 B2 JP 6646942B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
light
quantum well
emission
light emitting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015067065A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015195379A (ja
Inventor
毅 吉岡
毅 吉岡
武志 内田
武志 内田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2015067065A priority Critical patent/JP6646942B2/ja
Publication of JP2015195379A publication Critical patent/JP2015195379A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6646942B2 publication Critical patent/JP6646942B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/0004Devices characterised by their operation
    • H01L33/0045Devices characterised by their operation the devices being superluminescent diodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/0209Low-coherence interferometers
    • G01B9/02091Tomographic interferometers, e.g. based on optical coherence
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/04Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/04Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction
    • H01L33/06Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction within the light emitting region, e.g. quantum confinement structure or tunnel barrier
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/14Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure
    • H01L33/145Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure with a current-blocking structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12041LED
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • H01L33/30Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

本発明は、発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計に関する。
スーパールミネッセントダイオード(Super Luminescent Diode)は発光ダイオードのように広帯域なスペクトル分布を有しながら、半導体レーザ同様に1mW以上の比較的高い光出力を得ることが可能な発光素子である。スーパールミネッセントダイオードを以下ではSLDと略すことがある。
SLDはその特性から医療分野や計測分野で注目されており、例えば、生体組織の断層像を取得できる光干渉断層計(Optical Coherence Tomography、OCT)の光源として用いられる。OCTの光源としては、深さ分解能を高くするために、発光波長帯域が広いものを用いることが好ましい。非特許文献1では、SLDの発光波長帯域を広くするために、活性層として発光スペクトルの異なる複数のエネルギー準位を持つ単量子井戸構造を用いている。そして、そのSLDの活性層に注入する電流を大きくすることで、長波長の発光に対応する基底準位、および短波長の発光に対応する高次準位(1次準位)の発光をさせ、半値幅48nmの発光スペクトルを実現している。
SPIE Vol.3860,pp.480−487
しかし非特許文献1のように、高次準位の発光をさせるためには、活性層への電流注入密度が高い必要がある。電流注入密度が高いと、活性層の発熱量が大きくなり、寿命が短くなるという問題を生じうる。そこで本発明は上記課題に鑑み、活性層への電流注入密度を高くすることなく高次準位の発光をさせることができる発光素子を提供することを目的とする。
本発明に係る発光素子は、上部電極層と、下部電極層と、それらの間に設けられた活性層とを有し、前記上部電極層、および前記下部電極層を介して前記活性層に電流を注入することで発光する発光素子であって、前記活性層が複数の量子閉じ込め構造を有し、第一の量子閉じ込め構造はエネルギー準位がEの基底準位、及びエネルギー準位がEの高次準位を有し、第二の量子閉じ込め構造は前記Eよりも大きいエネルギー準位Eを有し、前記Eと前記Eとが略一致していることを特徴としている。
本発明に係る発光素子によれば、活性層への電流注入密度を高くすることなく高次準位の発光をさせることができる。
本発明の実施形態1に係る発光素子の構成を説明するための図。 本発明の実施形態1に係る光源システムの構成を説明するための図。 本発明の実施形態1における量子井戸構造のバンド図を説明するための図。 本発明の実施形態2に係る発光素子の構成を説明するための図。 本発明の実施形態3に係る発光素子の構成を説明するための図。 本発明の実施形態4に係るOCTの構成を説明するための図。 本発明の実施例1に係る発光素子における量子井戸構造のバンド図と発光スペクトルを示すグラフ。 本発明の比較例1に係る発光素子における量子井戸構造のバンド図。 本発明の比較例1に係る発光素子の発光スペクトルを示すグラフ。 本発明の実施例2における発光素子の量子井戸構造のバンド図と発光スペクトルの計算結果を示すグラフ。 本発明の実施例3における発光素子の量子井戸構造のバンド図と発光スペクトルの計算結果を示すグラフ。 本発明の実施例4における発光素子の発光スペクトルの実測結果を示すグラフ。 本発明の実施例5における発光素子の発光スペクトルの実測結果を示すグラフ。 本発明の実施例6における発光素子の量子井戸構造のバンド図と発光スペクトルの計算結果を示すグラフ。 本発明の比較例2における発光素子の量子井戸構造のバンド図と発光スペクトルの計算結果を示すグラフ。 本発明の比較例2における発光素子の発光スペクトルの計算結果を示すグラフ。 本発明の実施例7における、エネルギー準位差ΔEと発光強度比の関係を示すグラフ。 (a)本発明の実施例8に係る発光素子の構成を説明するための図(b)発光素子の発光スペクトルの実測結果を示すグラフ。 本発明の実施例9に係る発光素子の構成を説明するための図。 本発明の実施例10に係る発光素子の構成を説明するための図。 (a)本発明の実施例11に係る発光素子の構成を説明するための図。(b)〜(d)本発明の実施例11に係る発光素子の別の構成を説明するための図。 (a)本発明の実施例12に係る発光素子の構成を説明するための図(b)本発明の実施例12に係る発光素子の別の構成を説明するための図。 (a)本発明の実施例13に係る発光素子の構成を説明するための図(b)〜(c)本発明の実施例13に係る発光素子の別の構成を説明するための図。
本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれらに限られるものではない。
(発光素子)
(実施形態1)
本発明の実施形態1に係る発光素子および光源システムについて図1、2を用いて説明する。図1(a)、図1(b)はそれぞれ本実施形態に係る発光素子の斜視図、上面図で、図1(c)は図1(a)(b)のA−A’断面における断面図である。
本実施形態に係る発光素子100は、基板(n型基板)101の上に下部クラッド層(n型クラッド層)102、活性層103、上部クラッド層(p型クラッド層)104、上部電極層110が順次形成されている。また、上部クラッド層104と上部電極層110とはリッジ型の導波路構造105を形成している。リッジ型の導波路構造105の上部にはコンタクト層106を介して、上部電極層(p型電極)110が形成されている。また図1(c)のみに示しているが、上部電極層110と上部クラッド層104との間に絶縁層130が設けられており、上部電極層110からコンタクト層106を介して活性層103に電流注入される構成となっている。すなわち、図1で上部電極層110は、半導体素子の上部のほぼ全体にわたって形成されているが、上部電極層110のうち、リッジ導波路構造105の上部から活性層に電流が注入される構成となっている。また、基板101の有する主面のうち下部クラッド層102が設けられていない方の面には下部電極層120が形成されている。
本実施形態に係る発光素子100は上部電極層110と、下部電極層120との間に電圧を印加して活性層103に電流注入して発光させ、リッジ型の導波路構造105の長手方向(活性層内の面内方向)に導波し、図1中の白い矢印の方向に光を出射する。発光素子100の端面のうち、光が出射される面をここでは出射端面と呼ぶ。図1(b)に本実施形態に係る発光素子の出射端面をP、出射端面とは逆の端面をPとして図示している。また、出射端面Pから出射された光は、レンズや光ファイバなどの光学部材へ結合する。また、出射端面とは逆の端面をPには、光が反射して戻らないように、反射防止部材や光を吸収する材料が適宜設けられる。
また、活性層103への電流注入密度を適宜調整することで、出射光の波長帯域の広さや強度、すなわち発光スペクトルの形状を変えることができる。
なお、本実施形態に係る発光素子100は、出射した光の強度を検出する出射光検出部を有していてもよい。
本実施形態に係る発光素子は、従来の端面発光型のレーザと同様な光閉じ込めを行っている。具体的には、後述の関係を有する2つ以上の量子閉じ込め構造を持った活性層、および活性層よりも屈折率の低いクラッド層で活性層を挟んだ半導体層構成である。この活性層とクラッド層の屈折率差で、活性層の面内方向に垂直な方向の光の閉じ込めを実現している。活性層の面内方向に平行な方向の光閉じ込めは、等価的に屈折率が変わる構造を導入し、その屈折率の高い部分をストライプ状にすることで光導波構造を実現している。そして、この光導波路部分に電流を注入し、活性層に反転分布を起こすことにより、誘導増幅を実現することができる。端面Pと端面Pとの間を光が(基本的には)1回だけ通過して誘導増幅を起こして出射される発光素子はスーパールミネッセントダイオード(SLD)と呼ばれる。SLDは、このような誘導増幅を起こすことで、数十nmから100nm以上もの広い波長帯域の光を、数mWから数十mW以上もの高出力で出射させることができる。
(光源システム)
次に本実施形態に係る光源システムについて図2を用いて説明する。図2は、本実施形態に係る光源システムを示すブロック図であり、図2中で発光素子100は上面図を示している。
本実施形態に係る光源システム160は、上部電極層110、下部電極層120への電流注入密度を制御する制御部150を有する。また、本実施形態に係る光源システム160は、出射した光の強度を検出する出射光検出部140を有し、制御部150は出射光検出部140で検出される光の強度に応じて各電極への電流注入密度を制御可能に構成されていてもよい。
(量子閉じ込め構造)
本実施形態に係る発光素子は、その活性層が量子井戸構造、量子細線構造、または量子ドット構造の少なくともいずれか一種で構成されている。量子井戸構造、量子細線構造、量子ドット構造を総称して量子閉じ込め構造と呼ぶ。本実施形態に係る発光素子は、複数の量子閉じ込め構造を有する。第一の量子閉じ込め構造はエネルギー準位がEの基底準位、及びエネルギー準位がEの高次準位を有する。そして、第二の量子閉じ込め構造はEよりも大きいエネルギー準位Eの基底準位を有する。そして、EとEとが略一致している。なお、本明細書において高次準位とは、基底準位のヘビーホール以外の、ライトホール、及び1次準位以上のエネルギー準位を指す。
以下では、主に、量子閉じ込め構造の一種である量子井戸構造を例として説明する。
本実施形態における量子井戸構造を用いることによる効果について図3に示すバンド図を用いて詳細に説明する。また、以下では、発光とは特に説明がない場合、自然放出光と誘導放出光との両方を含む。
本実施形態において、活性層103は第一の量子井戸構造171と第二の量子井戸構造172とを有する多重量子井戸構造170を有する。本実施形態において、第一の量子井戸構造171はエネルギー準位がEの基底準位と、エネルギー準位Eの高次準位とを有する。第二の量子井戸172構造はエネルギー準位がEの基底準位を有する。そして、EとEとが略一致している。なお、本明細書及び図面におけるホールの基底準位はヘビーホールである。
エネルギー準位EとEとが略一致していることで、第二の量子井戸構造172の基底準位Eおよび第一の量子井戸構造171の高次準位Eからの自然放出による発光が、第二の量子井戸構造172の基底準位Eおよび第一の量子井戸構造171の高次準位Eで誘導増幅を引き起こし、高次準位(短波長)の発光強度を大きくできる。Eは高次準位であるため、この準位から発光および誘導増幅をさせるために高い電流注入密度を必要とする。しかし、EはEと同じエネルギー準位であるが、基底準位であるため、Eを発光させるよりも低い電流注入密度で発光および誘導放出をさせることができる。そのため、第一の量子井戸構造171のみを含む量子井戸構造と比較すると、量子井戸172を加えることで、必要とするキャリア密度は2倍以下に抑えながら、準位2つ分の発光および利得が生じる。そのため、量子井戸171が1つのみで構成される構造と同じ大きさの発光および利得を生じさせるだけで良い場合、それを実現するのに必要なキャリア密度は小さくなり、結果として、低い電流注入密度で発光させることができる。
また、図3(a)のように第二の量子井戸構造172の深さが、第二の量子井戸構造171の深さよりも浅い場合、第二の量子井戸構造の基底準位の発光をさせやすいため好ましい。
なお、上記では活性層の多重量子井戸構造170は第一の量子井戸構造171、第二の量子井戸構造172を有する2量子井戸構造を用いた例の説明をしたが、3つ以上の量子井戸構造を有する多重量子井戸構造を用いてもよい。
例えば、図3(b)のように、多重量子井戸構造170が第一の量子井戸構造171、第二の量子井戸構造172に加えて、第三の量子井戸構造173を有していてもよい。第三の量子井戸構造173はエネルギー準位Eの基底準位と、エネルギー準位Eの高次準位とを有する。EとE、及びEとEとEはエネルギー準位が略一致している。そのため、第一の量子井戸構造171の基底準位Eからの発光が、第一量子井戸構造のEの発光による誘導増幅に加えて、第三量子井戸構造Eの発光による誘導増幅も起きるため高次準位からの短波長帯域の発光強度がさらに大きくなりやすい。言い換えると、所定の発光強度を得るために必要な電流注入密度がより低くてすむ。したがって、活性層が第三の量子井戸構造を有し、第三の量子井戸構造は、第一の量子閉じ込め構造と同じであることが好ましい。
また、図3(c)のように、第三の量子井戸構造174がエネルギー準位Eの基底準位を有し、エネルギー準位EがE及びEと略一致する構成であってもよい。
本明細書において、EとEのエネルギー準位が略一致しているとは、誘導増幅が生じる程度に一致していればよく、完全一致していなくてもよい。以下に示すエネルギー準位差ΔE(=E−E)の数値範囲は一例であり、量子井戸構造におけるバリア層の幅や、井戸層の幅、井戸層の深さやその他の条件に応じて、最適な範囲に設定することができる。例えば、エネルギー準位差ΔEが−110meV以上、25meV以下であることが好ましく、−45meV以上であることがさらに好ましい。
またΔEの絶対値が20meV以下であることが好ましい。以下、その理由を説明する。状態密度がデルタ関数状の量子ドットの様な構造であっても、室温付近の温度では、利得スペクトルはある幅を持つことが知られている。そして、この幅は、室温付近では20meV程度であることが知られている。つまり、ある2つの準位が存在する場合、その準位で発光するフォトンのエネルギー差が20meV以下であれば、それら2つの準位から生じる利得は重なることとなる。
また、ΔEを0meV以下とすることが好ましく、−21meV以下とすることがさらに好ましい。ΔEがこのような範囲である場合、発光素子の製造の過程でEの値が設計値より大きくなったとしても、発光強度の大きさを保つことができる。これは、後述するように、ΔEの値がプラスの方向に大きくなっていく場合、ΔEの値がマイナスの方向に大きくなっていく場合に比べて、発光強度が急激に小さくなる傾向がある。もし、Eの値が発光素子の製造の過程でプラスの方向に大きくなった場合、上記のような発光強度の減少傾向があるために、発光強度が急激に小さくなる。一方、ΔEを0meV以下としておけば、Eが大きくなった場合でも、発光強度を大きいまま維持することができる。
本実施形態では、第二の量子閉じ込め構造の基底準位と、第一の量子閉じ込め構造のうち、短波長帯域の発光に対応する高次準位とが略一致しているため、短波長帯域の発光に必要な電流注入密度が低い。このメカニズムを以下に詳細に説明する。
第1のポイントは、第一の量子閉じ込め構造の短波長の発光準位に略一致する基底準位を持つ第二の量子閉じ込め構造を量子閉じ込め構造に導入することにより、短波長帯域の発光のみを選択的に増強している点である。
そして、その増強の度合いは、単なる発光強度の足し合わせではない。例えば、活性層を構成する量子閉じ込め構造として、量子閉じ込め構造1つのみの場合と比較して、量子閉じ込め構造2つの場合は、短波長帯域の発光強度は、2倍ではなく、それ以上の大きな値となる。
このように発光強度が、単なる足し合わせ以上の大きな値となる理由は、上記の通り誘導増幅を利用し、かつレーザとは異なり、ワンパスで誘導増幅により光を出力しているためである。以下、より詳細にこのメカニズムを説明する。
量子閉じ込め構造の数に応じて変化するのは、発光量ではなく、光が発光素子の導波路構造を導波する際に得られる誘導増幅の大きさ、つまり利得gである。そして、この利得g、導波する長さL、光閉じ込め係数Γ、導波路の始点での光強度をPとすると、長さLを導波した後の光強度Pは、下記式(1)で表わされる。
=P×Exp(ΓgL) (1)
上記式(1)より、利得gが指数関数内のあるため、gが2倍になると、Pの大きさは、2倍ではなく、それ以上の大きさとなることが理解できる。上記式(1)の関係が成立する発光素子としてSLDが挙げられる。以下、比較のために、SLDと類似のデバイスとして、半導体レーザ(LD)および発光ダイオード(LED)の場合に、上記と同じ活性層構造を導入した際の発光強度の変化について考察する。
LDの場合、共振器の共振波長、または活性層の利得のピーク波長で発振する。発振している光は誘導増幅により発光した光である。誘導増幅を主に利用しているという点はSLDと同じである。しかし、LDの場合、量子閉じ込め構造の数を増やしてもそれによる発光強度は、量子閉じ込め構造の数に比例して大きくはならない。それは、LDの発光効率がgとは関係が小さく、主に内部量子効率(注入されたキャリア数のうち、内部でフォトンに変わる割合)と、取り出し効率(内部で発生したフォトンが共振器外部に取りだされる割合)の積で決まるためである。そして、利得gは内部量子効率に影響を与えるのだが、一般的に知られている構造であっても既に70〜90%といった高い値であることが知られている。そのため、量子閉じ込め構造を改善することにより内部量子効率を上げることができても、最大でも100%となるため、2倍以上といった大きな効果が得られる可能性は低い。
LEDの場合、自然放出により光が発生している。そのため、各量子閉じ込め構造からの発光量が同じと仮定すると、量子閉じ込め構造の数を増やすと、単純にその数に比例して発光強度が増加する。つまり、発光強度の総和は各量子閉じ込め構造からの発光の足し合わせである。しかし、実際には量子閉じ込め構造の数が増えると、注入された電流は量子閉じ込め構造の数で割られるため、1つの量子閉じ込め構造からの発光強度は下がる傾向にある。その結果、量子閉じ込め構造の数が2倍になっても発光量の増加分は、2倍以下である。
第2のポイントは、第一の量子閉じ込め構造の短波長の発光準位に略一致させる準位として、第二の量子閉じ込め構造の基底準位を使用している点である。上述のように、基底準位に反転分布を実現するために必要な電流注入密度は、短波長の発光準位(高次準位)に反転分布を起こさせるために必要な電流注入密度よりも低くなる。
また、第二の量子閉じ込め構造が増えたことによる必要な電流値の増加分は、量子閉じ込め構造が2つになった場合でも2倍ではなく、それよりも低い値となる。すなわち、第一の量子閉じ込め構造を1つのみ含む量子井戸構造に、第二の量子閉じ込め構造を追加した場合、必要な電流量は2倍より小さい。一方、第二の量子閉じ込め構造を追加して利得が増加することによって発光強度は2倍より大きくなる。以上により、同じ駆動条件であれば、短波長帯域の発光強度が大きくなり、言い換えれば、短波長帯域の発光強度を同じにするために必要な電流注入密度は低くなる。一方、短波長帯域の光を発するエネルギー準位は、基底準位よりエネルギー準位の高い高次準位の発光を起こす。そのため、キャリアが存在できる矩形の状態密度の底、つまり基底準位の位置から、発光させたい短波長帯域の準位が位置する高いエネルギーの位置までキャリアを蓄積させることで発光させている。
キャリアが矩形の状態密度を埋めていく様子は、発光素子に注入する電流量を増やした時のスペクトルの変化に現れる。電流注入密度が低い時には、量子井戸構造の基底準位の付近にキャリアがたまるため、発光スペクトルを見ると、基底準位からの長波長帯域の発光が主である。その状態から電流注入密度を高くすると、基底準位よりもエネルギーが高い準位にもキャリアが存在するようになるため、発光波長帯域が徐々に短波長側へ拡大するとともに、スペクトルのピーク(極大値)として現れる。さらに電流注入密度を高くすると、より高次の準位のエネルギーの位置にもキャリアが多く存在するようになり、高次準位の発光の強さが基底準位の波長の発光の強さと同等になる。非特許文献1でスペクトル幅が広い状態(Fig.3)の駆動条件は、この、基底準位(非特許文献1中でn=0と表記)と高次準位(n=1)の発光の強さが同じレベルの状態である。
高いエネルギー準位までキャリアが蓄積している状態では、自然放出による再結合や活性層からのオーバーフローが、基底準位のみで発光している場合と比較して大きくなる。つまり、高いエネルギー準位までキャリアを蓄積している状態では、誘導増幅以外のキャリアの消費が大きく、その分、余計に電流注入密度を高くする必要がある。
(特に効果が大きい範囲について)
本発明では、発光を大きくする準位は、浅い量子井戸の基底準位をその波長に合わせるだけで、比較的簡易に、任意の波長を選ぶことができる。
非特許文献1のように、量子井戸の基底準位かおよび高次準位からのみ発光させる場合、基底準位からあるエネルギー高さ以上にキャリアを注入することで基本的には可能である。しかし、現実的には基底準位からのエネルギー差が大きい位置にある高次準位で発光させることは難しくなる。それは、上述の通り、キャリアの畜積が大きく(=キャリア密度が高く)なると、誘導放出以外でのキャリアの消費も大きくなるためである。
そのような、離れた位置にある準位からの発光を大きくする場合には、本発明は特に効果が大きい。それは、浅い量子井戸の側の発光は基底準位を使用するため、こちらについては、基底準位から誘導放出を起こす量のキャリアが蓄積すればよく、それ以上は必要としないためである。その準位間のエネルギー差の目安としては、100meV以上の範囲である。例えば、発光波長としては、850nm帯では、60nm以上に相当する。このような場合には、本発明は大きな効果を奏する。
そして、増幅させる準位は、基底準位のすぐ上の準位である必要はなく、その上(基底準位の上の高次準位の、さらに一つ上の高次準位)を選択することもできる。このような準位は、同じ量子井戸でキャリア密度を上げることで発光させようとした場合、下に2つの準位があるため、それらでキャリアが消費してしまう。結果として、下の2つの準位からの発光が強く、それによりこの準位からの発光が弱くなる。一方、本発明では選択的にこの準位の発光を増強することができるため、基底準位の2つ上の準位からの発光を選択的に増強させ、準位間の強度差を補正できる。それにより、より幅の広いスペクトル帯域での発光を実現でき、本発明は効果を大きな効果を奏する。
そして、これら2つの条件が重なった場合、具体的には、100meV以上の範囲であり、かつ発光を増やす波長(=浅い順位の基底準位の波長)と、深い井戸の基底準位との間に1つ以上の準位がある場合には、本発明の増強の効果が特に大きい。
(上部電極層)
本実施形態に係る発光素子において上部電極層は特に限定されないが、Tiを有する第一のp型電極層の上にAuを有する第二のp型電極層が形成された電極層を用いることができる。また、電極の導波方向の長さは、実現したい発光スペクトルによって適切に設定する。
(下部電極層)
本実施形態に係る発光素子において下部電極層は特に限定されないが、AuGe/Ni/Auを有するn型電極層が形成された電極層を用いることができる。
(活性層)
本実施形態における発光素子の活性層に好適な量子井戸構造は、発光させる波長により異なる。そして量子井戸構造の発光波長は井戸層及び障壁層の材料および井戸層の厚さにより決まる。以下では、活性層の発光波長に好適な量子井戸構造の例として、量子井戸構造の基底準位の発光波長を軸に説明する。
例えば、基底準位からの発光が800nmから850nmの範囲となるようにするためには、井戸層としてAl組成xが0から0.15のAlGa(1−x)Asが好適である。そして障壁層として、その井戸層よりもAl組成の高いAlGaAsが好適である。このときの量子井戸層の厚さは、5nm〜10nmであることが好適である。ただし、発光波長は井戸層の厚さと井戸層を構成する材料で決まるため、厚さを5nmより短くし、その分バンドギャップの小さい波長の材料を使用することでも実現できる。
また、材料も上記に限られたものでなく、GaAs、GaInP、AlGaInN、AlGaInAsP、AlGaAsSb等の発光材料を用いてもよい。
また、基底準位の発光が850nmから900nmの範囲となるようにするためには、In組成xが0から0.1のInGa(1−x)Asが使用できる。障壁層の材料としては、GaAsまたはAlGaAsを使用することが好適である。井戸層の厚さは、5nm〜10nmが好適である。ただし、発光波長は井戸層の厚さと井戸層を構成する材料で決まるため、厚さを5nmより短くし、その分バンドギャップの短い波長の材料を使用することでも実現できる。
また、同じ波長帯(800nmから900nm帯)で発光する材料であれば、上記の材料に限らず、他の材料を用いることもできる。例えば、井戸層にGaInAsPを用いて、上記の思想により量子井戸構造を実現しても良い。
同様に、他の波長帯においても、各波長帯で発光する井戸層とそれよりも広いバンドギャップを持つ材料を障壁層に用い、かつ井戸層の幅を調整することで好適な活性層が実現できる。例えば、980nm帯であれば、井戸層にはIn組成が0.2付近のInGaAsが好適であり、1550nm帯であれば、InP基板と格子整合するIn組成0.68付近のInGaAsを好適に用いることができる。
また、活性層は量子井戸に限らず、量子細線や量子ドットといった量子閉じ込め構造を有していてもよい。
(リッジ型の導波路構造)
本実施形態における発光素子は、リッジ型の導波路構造105を形成することにより発光素子内に光を閉じ込め、活性層内を導波させ、出射端面から出射させることができる。このリッジ型の導波路構造は、一般的な半導体リソグラフィー法および半導体エッチングにより形成することができる。またリッジ型導波路構造の幅(図1(b)のw)は光を閉じ込めることができれば特に限定されないが例えば10μm以下とすることが好ましく、5μm以下とすることが好ましく、3μm以下とすることがさらに好ましい。リッジ型導波路構造の幅、すなわちリッジ幅wは発光素子の発光がマルチモードとならないように狭い方が好ましい。
(光の出射端面の構造)
本実施形態に係る発光素子において、リッジの導波路構造105は、レーザ発振しにくくするために、光の出射端面の垂線に対して活性層の面内方向に傾斜させる。傾斜させることで端面における光の反射した光が導波路へ戻ることを抑制できるため、レーザ発振しにくくなる。例えば、出射端面の垂線に対して活性層の面内方向に傾斜を約7度設けることが好適である。また、端面の反射を抑制するためにSiNのような誘電膜を反射防止膜として設けてもよい。反射防止膜は、出射端面Pと、それと逆側の端面Pのいずれか一方に設けてもよいし、両方に設けてもよい。また、出射端面での劣化を抑制するために出射端面付近に電流が注入されない領域を設けてもよい。
(制御部)
本実施形態における制御部は、各電極に注入する電流注入密度を制御することができるものであれば特に限定されない。また、その電流注入密度は、上記出射光検出部で検出された光の強度の情報を、フィードバック回路を用いて制御部に送り、その情報に基づいて決めることができる。
また、本実施形態における制御部は、1つでもよいし、複数でも良い。制御部を複数有する場合、分割された電極ごとに制御部を有する構成であってもよいし、1つの制御部で複数の電極への電流注入量を制御可能に構成されていてもよい。
例えば、制御部を2つ有する場合、一方は出射端面P側の第一電極111、及び調整電極112の制御をし、他方は端面P側の第二電極113の制御を行ってもよい。
(製造方法)
本実施形態に係る発光素子の製造方法は、特に限定されないが、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法を用いて各半導体層を順次成長させることで製造することができる。
(実施形態2)
実施形態2に係る発光素子について図4を用いて説明する。図4は、本実施形態に係る発光素子の上面図である。本実施形態は、実施形態1と同様の活性層構造を有しているが、光の導波方向に電流注入密度の分布がある点が実施形態1と異なる。このように電流注入密度の分布があることで、全体に均一に電流注入する形態と比較して、より自由に発光スペクトル形状を制御することができる。以下では、実施形態1と異なる点について説明し、同一の点については説明を省略する。
本実施形態に係る発光素子200の素子構成は、上部電極層210が複数の電極に分割されていること以外は実施形態1と同一である。本実施形態では、上部電極層210が、出射端面P側に設けられた第一電極211(フロント電極)と、出射端面Pとは逆側の端面P側に設けられた第二電極212(リア電極)とを有する。第一電極211、第二電極212への電流注入密度を適宜調整することで、出射光の波長帯域の広さや強度、すなわち発光スペクトルの形状を変えることができる。電流注入密度の調整は、上記制御部150が第一電極211、第二電極212に接続され、各々の電極への電流注入密度を個別調節できるように構成されていることが好ましい。例えば、第一電極211には電流注入密度を高くすることで短波長帯域の発光をさせ、第二電極212は電流注入密度を低くすることで長波長帯域の発光をさせる。短波長帯域の発光スペクトルと長波長帯域の発光の両者が合波されることで広い波長帯域の発光スペクトルを実現することができる。第二電極212からの長波長帯域の発光強度は小さいが、第一電極211に対応する活性層領域を通過する際に誘導増幅が生じるため、結果的に、発光素子200から出射される波長帯域は短波長から長波長にわたって、十分な発光強度を有する発光スペクトルとなる。また、発光スペクトルはガウシアン形状であることが好ましく、それを実現するために、各電極への電流注入密度は適宜調整することが好ましい。なお、上記では、上部電極層210が、2つに分割された電極群をなす構成について説明したが、3つ以上に分割されていてもよい。また、上記では、上部電極層210が分割された構成について説明したが、下部電極層120が複数の電極に分割された構成でもよい。また、上部電極層210および下部電極層120の両方の電極層が分割された構成でもよい。
また第一電極211の導波方向の長さL、及び第二電極212の導波方向の長さLは出射させたい発光スペクトルに応じて、適宜設定する。
また、第一電極211と第二電極212との間の電極分割領域215の導波方向の長さDは20μm以下であることが好ましく、10μm以下であることがさらに好ましい。
(実施形態3)
実施形態3に係る発光素子について図5を用いて説明する。本実施形態では、実施形態2と同様に光の導波方向に電流注入密度の分布を持たせるが、電流がほとんど流れていない活性層領域、つまりバンドギャップによる吸収が支配的となる活性層領域(吸収領域)が含まれる。そしてこの吸収領域の前後に発光領域が存在し、この吸収領域の後ろの発光領域から発せられた光が上記吸収が支配的となる領域を透過するときに吸収の影響を受ける。この吸収が波長依存性を持つため、透過後の光のスペクトル形状が制御できる。その結果、実施形態2よりもさらに自由にスペクトル形状を制御できる。以下では、実施形態1、2と異なる点について説明し、同一の点については説明を省略する。
本実施形態に係る発光素子300は、上部電極層310が第一電極311、第二電極312、第三電極313、第四電極314の4つの電極に分割されている。すなわち、上記本発明の実施形態2に係る発光素子の第二電極212よりも、端面P側にさらに2つの電極313、314を有する構成である。このように4つの電極への電流注入密度を適宜調整することで、広い波長帯域の発光スペクトルを実現できる。例えば、第一電極311への電流注入密度を第二電極312への電流注入密度よりも大きく、第四電極314への電流注入密度を第二電極312への電流注入密度よりも大きくし、第三電極313への電流注入密度をゼロとする。このような電流注入条件では、第一電極311による発光スペクトルは短波長帯域(中心波長λ)に表れ、第二電極312による発光スペクトルはλよりも長波長のλの中心波長を有する発光スペクトルとなる。さらに第四電極314による発光スペクトルはλよりも長波長のλの中心波長を有するが、その発光スペクトルは、第三電極に対応する活性層領域(吸収領域)を通過する際に短波長帯域のみ吸収される。その結果、第一電極311、第二電極312、第四電極314の各々に対応する活性層領域からの発光スペクトルが合波されて、広い波長帯域の光が発光素子300から出射される。このように、ある波長帯域を吸収する吸収領域を設けることで、実施形態2に係る発光素子よりもさらに、発光スペクトルの形状を細かく制御できる。なお、吸収領域には、発光スペクトルを所望の形状にするために、逆バイアスの電流を注入してもよい。
なお、上記の各電極に対応する活性層領域は、各電極のうち電流が注入される領域の直下の活性層領域である。図1では、例えば、電極層110とコンタクト層106とが接する面の直下に位置する活性層領域である。
(実施形態4)
(光干渉断層計)
本実施形態では、上記実施形態1乃至3に係る発光素子または、その発光素子を含む光源システムを用いた光干渉断層計(OCT)について図6を用いて説明する。
本実施形態に係るOCT400は、発光素子(光源システム)401、干渉光学系402、分光部403、干渉光検出部404、情報取得部405を少なくとも有する構成であり、光源システム401は上記実施形態1乃至3に係る発光素子(光源システム)である。
干渉光学系402では、発光素子(光源システム)401からの光を物体410へ照射する照射光と、参照光とに分波し、物体410に照射された光の反射光と、参照光とによる干渉光を発生させる。この干渉光は、測定対象の物体410の情報を有する。分光部403で分光された干渉光は、干渉光検出部404の異なる位置に異なる波長の光が照射される形で受光される。情報取得部405では、干渉光検出部404で受光された光の強度の情報から物体410の情報、例えば断層像の情報を取得する。次に、本実施形態に係るOCTの詳細な構成について、図6を用いて説明する。
図6に示すOCTは、発光素子(光源システム)401から出射された光は、干渉光学系402の分波部420によって、照射光と参照光とに分波される。照射光は、照射光学系440を経て測定対象の物体410に反射されて反射光となり、参照光学系430で反射された参照光と干渉部(分波部)420で干渉光を生じる。本実施形態に係るOCTは、干渉部420で生じた干渉光を検出する光検出光学系450、光検出光学系450で検出された光に基づいて断層像に関する情報を得る情報取得部405、断層像を表示する表示部460を有する。
発光素子(光源システム)401は、光ファイバを介して分波部(干渉部)420により参照光と照射光に分波し、分波された光の一部は参照光学系430へ入る。ここでは、分波部420と干渉部420は同一のファイバカプラを用いている。参照光学系430はコリメータレンズ431および432、反射鏡433で構成されており、反射鏡433で反射した参照光は再度光ファイバへ入射する。光ファイバから分波部420で分波されたもう一方の光である照射光は、照射光学系440へ入る。照射光学系440はコリメータレンズ441および442、光路を90°曲げるための反射鏡443で構成されている。照射光学系440は入射した光を測定対象の物体410へ入射するとともに、反射光を再び光ファイバへ結合する役割がある。
そして参照光学系430および照射光学系440から戻ってきた光は干渉部420を通り、光検出光学系450へ入る。光検出光学系450はコリメータレンズ451および452、分光部としての回折格子403を有する。また、回折格子403により分光された光のスペクトル情報を得るためのラインセンサ404を有する。
なお、上記本実施形態に係るOCTにおいて、参照光学系430は反射鏡433を有し、そこで反射した光が干渉部420に戻る構成の例を示した。しかし、反射鏡433を有さず、適切な光路長の光路を経て、干渉部420に至る構成であってもよい。
本実施形態に係るOCTは、眼科、歯科、皮膚科等の分野において、動物や人のような生体の断層像を取得する際に有用である。生体の断層像に関する情報とは、生体の断層像のみならず、断層像を得るために必要な数値データをも含む。特に測定対象を人体の眼底とし、眼底の断層像に関する情報を取得するために用いることが好適である。なお、OCTはOCT装置と呼ぶこともできる。
(他用途)
上記本発明の実施形態に係る発光素子は、上記のOCT以外にも、光通信用光源や光計測用光源として利用できる。
以下に本発明の実施例について説明する。以下の実施例で示す活性層構造や層構造はあくまで一例であり、それらに限定されるものではない。また、発光素子の製造方法は、発光素子の各構成要素の寸法、製造の各工程、装置、各種パラメータは実施例に限定されない。また、半導体材料、電極材料、誘電体材料などに関しても実施例で開示したものに限らない。さらに、各半導体層の導電型は本実施例で例示するものに限らず、p型として例示したものをn型に、p型で例示したものをn型に置き換えることもできる。
(実施例1)
本発明の実施例1に係る発光素子について説明する。本実施例に係る発光素子100の構成は図1に示される。本実施例において、基板としてGaAs基板101、下部クラッド層としてn型Al0.5GaAsクラッド層102、活性層103、上部クラッド層としてp型Al0.5GaAsクラッド層104を用いる。また、コンタクト層としてp型GaAsコンタクト層106、コンタクト層106の上部に上部電極層としてのp型電極110を用い、下部電極層としてのn型電極120を用いる。また、図1のように、リッジ型の導波路構造105を形成する。なお、リッジ型の導波路構造105の幅は出射光をシングルモードとするために3umの幅としている。また、出射端面の垂線と光導波路の角度は、リッジ型の導波路構造105の端面Pでの反射を防止するために約7度傾斜させる。
次に本実施例における活性層103の量子井戸構造の詳細についてバンド図(図7(a))を用いて説明する。本実施例における活性層は、2つの量子井戸構造を含む量子井戸構造Aを有する(図7(a))。第一の量子井戸構造1001は、Al0.2GaAsのガイド層、厚さ8nmのIn0.07GaAs層からなる井戸層、厚さ10nmのAl0.2GaAsのバリア層で挟んだ構造である。また、第二の量子井戸構造1002は、厚さ10nmのAl0.2GaAsのバリア層、厚さ6nmのAl0.03GaAs層からなる井戸層、Al0.2GaAsのガイド層を順次積層したで挟んだ構造である。なお、第一の量子井戸構造と第二の量子井戸構造とは、厚さ10nmのAl0.2GaAsのバリア層を共有している。
この量子井戸構造では第一の量子井戸構造1001(In0.07GaAs/Al0.2GaAs)の1次準位Eと、第二の量子井戸構造1002(Al0.03GaAs/Al0.2GaAs)の基底準位Eとが略一致している。量子井戸構造Aの各準位の発光波長は、第一の量子井戸構造1001の基底準位Eは約880nm、1次準位Eは約800nm、第一の量子井戸構造1002の基底準位Eは約800nmである。すなわち、図10(a)において点線の矢印に付記した波長(nm)は、その矢印の起点のエネルギー準位の電子と終点のエネルギー準位のホールとの再結合による発光の波長である。例えば第一の量子井戸構造の1次準位Eからの発光は800nmである。以下の実施例で示すバンド図も同様である。
図7(b)に、実施例1に係る発光素子において60mAの電流を注入して発光させたときの発光スペクトルの計算結果を示す。第一の量子井戸構造1001の基底準位Eからの発光スペクトルの中心が880nm付近に表れている。そして、第一の量子井戸構造1001の1次準位Eと第二の量子井戸構造1002の基底準位Eからの発光スペクトルの中心が800nm付近に存在し、これら準位からの発光が強いことが分かる。
このように、第一の量子井戸構造1001の1次準位の発光を増大させるために、第二の量子井戸構造1002の基底準位を第一の量子井戸構造1001の1次準位と略一致させた例を示した。短波長帯域において比較的大きな発光強度を得るためには、高い電流注入密度が必要となる。したがって、本実施例のように設計された量子井戸構造を用いることで、電流注入密度が低くても、短波長帯域において比較的大きな発光強度の光を得ることが可能となり、発光素子の長寿命化が期待できる。
(比較例1)
上記実施例1に係る発光素子の比較例について説明する。本比較例で説明する各々の形態は、量子井戸構造以外はすべて実施例1と同じ構成である。本比較例で示す2つの量子井戸構造をB、Cと呼ぶ。
量子井戸構造Bは図8(a)に示すように、量子井戸構造Aの第一の量子井戸構造1001と同じ量子井戸構造を1つ有する単量子井戸構造である。
量子井戸構造Cは図8(b)に示すように、量子井戸構造Aの第二の量子井戸構造1002と同じ量子井戸構造を1つ有する単量子井戸構造である。
量子井戸構造B、Cに、上記実施例1と同じ電流注入密度で電流注入した時の発光スペクトルの計算結果を図9(a)(b)に示す。また、図9(a)と図9(b)の発光スペクトルを足し合わせた発光スペクトルを図9(c)に示す。
図7(b)と図9(c)において、第一の量子井戸構造1001の1次準位からの発光波長である波長約800nmにおけるピーク強度を比較すると、図9(c)の方が約2.9倍の大きさとなっている。これより、複数の量子井戸構造が活性層に含まれていると、単量子井戸構造の活性層の発光スペクトルを単に足し合わせた以上の発光強度となることが分かる。
(実施例2)
本発明の実施例2に係る発光素子について説明する。本実施例に係る発光素子は、実施例1に係る発光素子の量子井戸構造Aに第一の量子井戸構造1001と等しい量子井戸構造を2つ含む活性層構造(ここでは量子井戸構造Dと呼ぶ)である。以下、実施例1と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本実施例の量子井戸構造Dは第一の量子井戸構造1001が2つと、第二の量子井戸構造1002が1つの、計3つの量子井戸構造をもつ(図10(a))。そして、第一の量子井戸構造1001の1次準位と第二の量子井戸構造1002の基底準位は略一致している。量子井戸構造Dをもつ活性層に実施例1および比較例と同じ電流注入密度で電流注入した際の発光スペクトルの計算結果を図10(b)に示す。また、量子井戸構造Dの3つの量子井戸構造1001、1001、1002の各々を、単量子井戸構造として有する活性層からの発光スペクトルを合波した場合の計算結果を図10(c)に示す。
図10(b)と図10(c)の各発光スペクトルにおいて、波長約800nmにおけるピーク強度を比較すると、図10(b)の方が図10(c)に比べて約3.4倍の大きさとなっている。
(実施例3)
本発明の実施例3に係る発光素子について説明する。本実施例に係る発光素子は、実施例1の量子井戸構造Aに、実施例1で用いている第二の量子井戸構造1002と同じ量子井戸構造を1つ追加した活性層構造(活性層構造Eと呼ぶ)である。以下、実施例1と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本実施例の量子井戸構造Eのバンド図を図11(a)に示す。量子層構造Eは、第一の量子井戸構造1001が1つと、第二の量子井戸構造1002が2つの計3つの量子井戸構造をもつ3量子井戸構造である。本実施例の量子井戸構造をもつ活性層に実施例1、2、比較例と同じ電流注入密度で電流注入して発光させた時の発光スペクトルの計算結果を図11(b)に示す。また、量子井戸構造Eの3つの量子井戸構造の1001、1002、1002の各々を、単量子井戸構造として有する活性層からの発光スペクトルを合波した場合の計算結果を図11(c)に示す。図11(b)と図11(c)の各発光スペクトルにおいて、第一の量子井戸構造1001の1次準位の発光波長である波長約800nmにおけるピーク強度を比較すると、図11(b)の方が図11(c)に比べて約2.3倍の大きさとなった。
(実施例4)
本発明の実施例4に係る発光素子について図4を用いて説明する。本発明の実施例4に係る発光素子は上部電極層が2つに分割されていること、活性層の組成が異なること以外は実施例1と同一の構成である。以下、実施例1と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本実施例に係る発光素子の上部電極層210は、第一電極211と第二電極212とに分割され、リッジ導波路構造105を形成している。第一電極211と第二電極212とは電気的に分割され、電極分割領域215は電気抵抗値が高くなっている。ここで、電気抵抗値が高いとは、第一電極211と第二電極212との間の電気抵抗値が、第一電極211と下部電極層120との直列抵抗と比較して10倍以上であることを指す。また、各電極の導波方向の長さは、第一電極211の長さLが0.29mm、第二電極212の長さLが0.3mmである。光は電極211が接している端面(劈開面)Pから出射される。本実施例に係る発光素子における活性層は8nmの厚さのIn0.08GaAs層を井戸層とした第一の量子井戸構造と、6nmの厚さのGaAs層を井戸層とした第二の量子井戸構造とを有する2量子井戸構造をもつ。各井戸層を挟むバリア層は共にAl0.2GaAsである。この量子井戸構造では第一の量子井戸構造(In0.08GaAs/Al0.2GaAs)の1次準位と、第二の量子井戸構造(GaAs/Al0.2GaAs)の基底準位とを略一致させるようにMOCVD法により結晶成長をし、半導体積層体を製作した。本実施例でも、第二の量子井戸構造の基底準位と第一の量子井戸構造の1次準位との発光波長、すなわちエネルギー準位が略一致しているため、実施例1で説明した効果と同じ効果を得ることができる。
図12(a)および(b)に本実施例にかかる発光素子に電流注入して得られた発光スペクトルの実験結果を示す。図12(a)は、第一電極211のみに0mAから120mAまで、20mAステップで電流を注入した時の発光スペクトル変化の実験結果示すグラフである。このグラフより、電流注入量が増加するにつれて、長波長帯域から短波長帯域へピーク波長が移動していることが分かる。このピーク波長の移動は、非特許文献1でも述べているように、量子井戸構造内の基底準位から高次準位へキャリアが蓄積するに従い、利得スペクトルが変化した結果である。
図12(b)は、第一電極211に120mAの電流を注入した状態で、第二電極212へ注入する電流量を増加させた時の発光スペクトル変化の実験結果を示す。図12(b)に示すグラフより、長波長帯域の発光強度が選択的に増加していることが分かる。そして、注入する電流値が3.8mAの時に、発光スペクトルの幅が最も広くなっていることがわかる。
図12(a)に示す、1つの電極のみに電流注入した場合の発光スペクトルでは、発光スペクトルの幅が最も広くなるのは、電流120mAのときである。一方、図12(b)に示すように、2つの電極に電流注入することで、最もスペクトルが広がる条件は、第一電極211に注入する電流が120mA、第二電極212が3.8mAのときである。以上の結果から、本実施例で示した分割した複数の電極を用いた場合に、光出力強度を大きくしつつ、発光スペクトルの幅を広げることができることが分かる。
次に、本実施例で示した、上部電極層を2つに分割した発光素子における発光スペクトル制御のための駆動条件について、より詳細に考察する。
第一電極211への電流注入密度は、第二電極212への電流注入密度よりも32倍大きい。
このように第一電極211への電流注入密度を第二電極212への電流密度と比較して高くする必要がある理由は、以下の2つである。1つ目の理由は、第一電極211での発光ピークの波長が第二電極212での発光ピーク波長よりも短くなる電流密度で駆動する必要があるからである。それは、図12(b)に示すように、第二電極212に電流注入して発光強度を増加できる波長帯域は、発光波長帯域の中心波長(図12(b)では860nm)よりも主に長波長側である。つまり、第一電極211に電流注入して発光強度を増加させたい波長帯域は、上記中心波長よりも短波長側である。したがって、第一電極211への高電流注入による短波長帯域の発光と、第二電極212への電流注入による長波長帯域の発光とを合わせて、発光素子からの発光スペクトルが広い波長帯域となるのである。
2つ目の理由は、第一電極211に対応する活性層領域においては、誘導増幅を起こす必要があるためである。本実施例では、第二電極212の電流注入密度は、第二電極212に対応する活性層において透明キャリア密度に到達しない電流注入密度である。そのため、本実施形に係る発光素子からの短波長帯域の発光の大部分は、第一電極211で誘導増幅により得られる光であるため、第一電極211は誘導増幅を起こすために十分な電流密度で駆動する必要がある。本実施例の第二電極212の駆動条件は、誘導増幅が起きない低電流密度でも効果を奏する。それは、第一電極211で誘導増幅を起こす種光を発生させるだけで良いためである。また、長波長帯域の発光は、比較的低い電流注入密度でも起こる。
図12(b)では、第二電極211に3.8mAの電流を注入すると、第一電極211からの短波長からの発光と同等レベルまで光強度が増加することがわかる。これは、第二電極212からの発光が第一電極211に対応する活性層領域に入り、その光が第一電極211において誘導増幅されるためと考えられる。そのため、第二電極212は所定の波長で発光をしている必要はあるが、発光強度は第一電極211ほど高い必要はない。
第二電極212の電流注入密度は、第一電極211と比べて50%以下の電流注入密度であることが好ましい。それは、上述のように、電流注入密度が高くなると発光波長のピークが短波長側へシフトするため、短波長帯域の発光強度が長波長帯域に比べて大きくなり、発光スペクトルの半値幅が小さくなるためである。
一方、第二電極212からの発光強度は第一電極211ほど大きい必要はないため、電流注入密度の比としては、10倍、またはそれ以上の比でも効果を奏する。
さらに、本実施例の第二電極212には、誘導増幅が起きない電流注入密度の電流注入をした場合でも効果を奏する。
本実施例で増幅する、第一の量子井戸構造の890nm付近の準位と、第二の量子井戸の基底準位の825nmの間には、図12からもわかるように、850nmに準位(第1の量子井戸の基底準位のライトホールからの発光)が存在する。つまり、基底準位(寄り厳密には基底準位のヘビーホールからの発光)と発光を増強する825nmの準位の間には、もう一つの準位が存在している。そして、890nmと825nmの波長差は
65nmである。そのため、本実施例の構成は、実施形態で説明した、本発明の効果が特に大きい範囲に含まれていることが分かる。そして、3つの準位の発光強度をそろえることで、強度が0に近づくような大きなディップ(発光スペクトルにおける溝)がなく、80nmをこえる広い波長帯域にわたる発光を実現することができる。
(実施例5)
本発明の実施例4に係る発光素子について図5を用いて説明する。本発明の実施例5に係る発光素子は上部電極層が4つに分割されていること以外は実施例4と同一の構成である。以下、実施例1、4と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本実施例に係る発光素子は、図5に示すように上部電極層310が、第一電極311、第二電極312、第三電極313、第四電極314に分割されている。各電極の導波方向の長さは、第一電極311の長さLが0.29mm、第二電極312の長さLが0.3mm、第三電極313の長さLが1.5mm、第四電極314の長さLが0.3mmである。
図13に第一電極311に注入する電流が120mA、第二電極312が3.8mAの時に、第四電極314に注入する電流量を変化させた場合の発光スペクトルの変化を示す。この時、第三電極313には電流は注入されない。図13に示す発光スペクトルによると、波長905nm付近に発光ピークが表れ、スペクトルの半値幅が90nm以上となっていることが分かる。波長905nm付近に表われるピークは、第三電極313、および第四電極314を導入したからである。
図13に示すグラフの波長905nm付近のピークの出現のメカニズムは以下のように考えることができる。
電流を注入しない第三電極313に対応する活性層領域は、光を吸収する。そのため、活性層の最も長波長な基底準位より短波側はバンド間吸収が生じる。一方、これより長い波長の光にはバンド間吸収が生じない。一方、電流を流した第四電極314では、活性層は同じであるが、発熱やキャリアの広がり等により、活性層を構成する量子井戸構造の最も長波長な準位(第一の量子井戸構造の基底準位)よりもさらに長波長な発光が、少ないながらも生じる。そのため、第四電極314から出た光が第三電極313を通過すると、第三電極313の第一の量子井戸構造の基底準位のバンドギャップで吸収されなかった長波長の成分の光が出てくると考えられる。
本実施例でも、実施例1で示した短波長側の準位をより低い準位で発光させることができるという効果と、実施例4で示した電極を分割する効果の両方の効果を得ることができる。さらに、本実施例では、吸収領域と、吸収領域よりも出射端とは逆の端面側に発光領域を設けることで、さらにスペクトル幅を広げるという効果を得られる。
(実施例6)
本発明の実施例6に係る発光素子について説明する。本実施例で説明する形態は、量子井戸構造以外はすべて実施例1と同じ構成である。以下、実施例1と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本実施例に係る発光素子における活性層は、図14(a)のバンド図で示される量子井戸構造(量子井戸構造F)を有する。すなわち、実施例1と同じ第一の量子井戸構造1001と第二の量子井戸構造1003とを有する2量子井戸構造である。第二の量子井戸構造1003は、6nmの厚さのAl0.03GaAsからなる井戸層と、この井戸層を挟持する10nmの厚さのAl0.2GaAsからなるバリア層とを有する。この量子井戸構造Fを有する活性層へ実施例1と同じ電流注入密度で電流注入して得られる発光スペクトルの計算結果を図14(b)に示す。実施例1に比べて、第一の量子井戸構造1001の基底準位Eと第二の量子井戸構造の基底準位Eとのエネルギー準位差が大きい(約30meV)ものの、短波長帯域での発光強度が十分であることがわかる。
(比較例2)
上記実施例6に係る発光素子の比較例について説明する。本比較例で説明する形態は、量子井戸構造以外はすべて実施例6と同じ構成である。
量子井戸構造Bは比較例1で示した構造と同一である。
量子井戸構造Gは図15(b)に示すように、量子井戸構造Fの第二の量子井戸構造1003と同じ量子井戸構造を1つ有する単量子井戸構造である。
量子井戸構造B、Gに、上記実施例1と同じ電流注入密度で電流注入した時の発光スペクトルの計算結果を図16(a)(b)に示す。また、図16(a)と図16(b)の発光スペクトルを足し合わせた発光スペクトルを図16(c)に示す。
図14(b)と図16(c)において、第一の量子井戸構造1001の1次準位からの発光波長である波長約800nmにおけるピーク強度を比較すると、図16(c)の方が大きくなっている。これより、複数の量子井戸構造が活性層に含まれていると、単量子井戸構造の活性層の発光スペクトルを単に足し合わせた以上の発光強度となることが分かる。
(実施例7)
本発明の実施例7に係る発光素子について説明する。本実施例では、実施例1に係る発光素子における活性層の第一の量子井戸構造の高次準位Eと第二の量子井戸構造の基底準位Eとのエネルギー差ΔE(=E−E)を変えたときの低波長帯域(834nm)の発光強度の変化の計算例を示す。なお、各量子井戸構造を用いたときの低波長帯域(834nm)の発光強度の変化は、第一の量子井戸構造のみ有する単量子井戸構造の発光強度と第二の量子井戸構造のみを有する単量子井戸構造の発光強度との和を1としたときの発光強度比として算出した。
説明する各々の形態は、量子井戸構造以外は実施例1と同じ構成であり、以下では、実施例1と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本実施例で用いた構成は2つのグループに分かれる。
グループ(I)はバリア層の幅が10nmであり、第一の量子井戸構造が8nmの厚さのIn0.15GaAs層からなる井戸層で、第二の量子井戸構造が6nmの厚さのAlGaAs層、または6nmの厚さのInGaAs層からなる井戸層である。そして第二の量子井戸構造におけるAlGaAs層について、xを0、0.01、0.02、0.03、InGaAs層はyを0.023、0.04、0.06、0.08、0.10、0.12と変えて各々計算した。すなわち、第二の量子井戸構造の組成を変えることで、第一の量子井戸構造の高次準位Eと、第二の基底準位Eとのエネルギー差ΔE(=E−E)が変わるため、ΔEが変わることによって、発光強度がどのように変わるかを計算した。また、発光強度の変化は以下のように発光強度比として算出した。発光強度比は、活性層が、上記第一の量子井戸構造のみ有する場合の834nmの発光強度と、上記各第二の量子井戸構造のみ有する場合の834nmの発光強度との和を1としたときの、上記各2量子井戸構造の834nmにおける発光強度である。
グループ(II)では、バリア層の幅を30nmとしたこと以外は、グループ(I)と同じ計算を行った。
8nmの厚さのIn0.15GaAsの井戸層を有する単量子井戸構造における1次準位の発光波長は834nmであり、これは6nmの厚さのIn0.023GaAsの井戸層を有する単量子井戸構造における基底準位の発光波長に等しい。つまり、この2つの量子井戸構造からなる2量子井戸構造は、8nmの厚さのIn0.15GaAsの井戸の1次準位と、6nmの厚さのIn0.023GaAsの井戸層の基底準位が略一致している。
上記1つ目のグループの計算結果を図17(a)に、2つ目のグループの計算結果を図17(b)に示す。また、用いた量子井戸構造と発光強度比とを表1にまとめた。図17(a)によると、第二の量子井戸構造の井戸層をIn0.023GaAsの組成とすることで発光強度比が最も大きくなるとが分かり、準位が略一致することによる効果が確かめられた。また、エネルギー準位差ΔEが−110meVから25meVにかけて、特にΔEが−45meVから20meVにかけて、発光強度の増大効果が大きいことがわかった。さらに、バリア層の厚さが変わっても発光強度の増大効果があることがわかった。
Figure 0006646942
図17(c)に、2量子井戸構造の単量子井戸構造に対する発光強度比を示す。これは、2量子井戸を構成する2つの量子井戸構造を別々の単量子井戸構造として考え、それらの発光スペクトルの各波長における発光強度の和を計算し、2量子井戸構造の発光スペクトルの各波長における発光強度をその値で割ることで算出する。例として、8nm厚さのIn0.15GaAsと、6nm厚さのIn0.023GaAsとを井戸層とする2量子井戸構造)と、8nm厚さのIn0.15GaAsと、6nm厚さのAl0.03GaAsとを井戸層とする2量子井戸構造における計算例を示す。前者を活性層構造(i)、後者を活性層構造(ii)として、計算結果を図17(c)に示した。
活性層構造(i)はエネルギー準位がほぼ等しい波長834nmにおいて発光強度比が特に大きくそれ以外の波長帯域でもある程度の増強効果が見られることが分かる。一方、活性層構造(ii)は、活性層構造(i)に比べるとエネルギー準位差ΔEが大きいため、活性層構造(i)に比べ発光強度の増強効果は小さい。
(実施例8)
本発明の実施例8に係る発光素子について図18を用いて説明する。
本発明の実施例8に係る発光素子は上部電極層が6つに分割されていること以外は実施例4と同一の構成である。以下、実施例4と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本実施例に係る発光素子は、図18に示すように上部電極層が、第1電極、第2電極、第3電極、第4電極、第5電極、第6電極に分割されている。各電極の導波方向の長さは、第1電極の長さL1が0.3mm、第2電極の長さL2が0.2mm、第3電極の長さL3が0.3mm、第4電極の長さL4が0.4mm、第5電極の長さL5が0.2mm、第6電極の長さL6が0.3mmである。また、第1電極、第2電極、第4電極、第6電極はプラスの電流で駆動させ、第3電極、第5電極はゼロもしくはマイナスの電流で駆動させる。
上部電極側から下部電極側に電流を流す場合をプラス電流駆動、下部電極側から上部電極側に電流を流す場合をマイナス電流駆動とする。
さらに、第3電極での電流密度を第5電極での電流密度以上で駆動させる。こうすることで、第5電極と第6電極で形成された発光ピークの波長における発光が第3電極での吸収を抑制できる。
図18(b)に第1電極に注入する電流を126mA、第2電極を9.8mA、第3電極を0mA、第4電極を20mA、第5電極を−20mA、第6電極を96mAとした場合の、発光素子の出射光の発光スペクトルを示す。
図18(b)に示す発光スペクトルによると、波長900nm付近と波長910nm付近に発光ピークが表れ、スペクトルの半値幅が95nm以上となっていることが分かる。波長900nm付近に表われる発光ピークは第3電極および第4電極、波長910nm付近に表われる発光ピークは第5電極および第6電極を導入し、電極長および駆動状態(電流密度)を適切に調整したからである。
ここで、実施例5に対する本実施例の利点を以下に述べる。
吸収領域、すなわち電流を注入しない、もしくはマイナスの電流が注入(マイナスバイアスの電圧が印加)される領域における吸収量を多くすることで、より長波長側にピークをシフトさせることができ、発光スペクトル帯域を広げることができる。しかし、これによりスペクトル中にディップができやすくなる。ディップを作りにくくするための方法として、(1)誘導放出による増幅効果を小さくすることで、各ピーク幅を広げること、(2)最も短波長のピークと最も長波長のピーク間を狭めること、(3)ディップ部分に新たなピークを作り、ディップを埋めること等が挙げられる。(1)は出力を小さくすることにつながり、(2)は発光スペクトル帯域を狭めることにつながる。したがって、OCT用光源として高出力・広帯域の光が必要であれば、(3)の手法が最も優れていることになる。
電極数を増やすことで、発光スペクトルを構成するピークの数を増やすことができる。そして、上記吸収領域における吸収量の調整により、発光スペクトルのピーク波長を概ね自由に制御できるようになる。したがって、実施例5に対して本実施例のように、第5電極および第6電極を追加することで、よりスペクトル形状を精細に制御できるようになる。本実施例でも、実施例1で示した短波長側の準位をより低い電流密度で発光させることができるという効果と、電極を分割する効果の両方の効果を得ることができる。さらに、本実施例では、吸収領域と、吸収領域よりも出射端(図18における出射光が示された端面と逆側の端面)とは逆の端面側に発光領域を設けることで、実施例5と比べてスペクトル形状をより自由に制御できるという効果を得られる。
(実施例9)
本発明の実施例9に係る発光素子について図19を用いて説明する。
本発明の実施例9に係る発光素子は上部電極層が8つに分割されていること以外は実施例4と同一の構成である。以下、実施例4と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本実施例に係る発光素子は、図19に示すように上部電極層が、第1電極、第2電極、第3電極、第4電極、第5電極、第6電極、第7電極、第8電極に分割されている。各電極の導波方向の長さは、第1電極の長さL1が0.3mm、第2電極の長さL2が0.2mm、第3電極の長さL3が0.3mm、第4電極の長さL4が0.4mm、第5電極の長さL5が0.2mm、第6電極の長さL6が0.3mm、第7電極の長さL7が0.2mm、第8電極の長さL8が0.3mmである。また、第1電極、第2電極、第4電極、第6電極、第8電極はプラスの電流で駆動させ、第3電極、第5電極、第7電極はゼロもしくはマイナスの電流で駆動させる。さらに、第3電極での電流密度を第5電極での電流密度以上、第5電極での電流密度を第7電極での電流密度以上で駆動させる。
こうすることで、第5電極と第6電極で形成された発光ピークが第3電極、第7電極と第8電極で形成された発光ピークが第3電極および第5電極で吸収されてしまうことを防ぐことができる。
実施例8でも述べたように電極数を多くすることによって、出せるピーク数を増やすことができる。本実施例の場合は、それに加えて、逆バイアス(マイナス電流)で駆動させて短波長成分を吸収する領域(第7電極)と発光領域(第8電極)を第6電極の後方(図面上、出射光が示される側の端面と逆の端面側、以下同様)に追加して配置している。したがって、これらの電極により作られるピークを、実施例8のようにスペクトル帯域を広げたり、スペクトル中のディップを埋める用途として利用することもできるが、第5電極および第6電極のサポートとして利用してもよい。たとえば、第5電極と第7電極の長さと駆動状態、第6電極と第8電極の長さと駆動状態を同一とし、それにより発生するピークの大きさを大きくする、もしくはその大きさを制御しやすくする、もしくはそれらの電極領域の劣化速度を遅くするなどの目的として利用することも考えられる。
本実施例でも、実施例1で示した短波長側の準位をより低い電流密度で発光させることができるという効果と、電極を分割する効果の両方の効果を得ることができる。さらに、本実施例では、吸収領域と、吸収領域よりも出射端とは逆の端面側に発光領域を設けることで、実施例5や実施例8と比べてスペクトル形状の制御性や光学特性の安定性を向上させることができるという効果を得られる。
(実施例10)
本発明の実施例10に係る発光素子について図20を用いて説明する。
本発明の実施例10に係る発光素子は上部電極層が4つに分割されており、光導波路が第1電極領域内で2つに分岐されていることを特徴とするが、それ以外は実施例4と同一の構成である。以下、実施例4と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本実施例に係る発光素子は、図20に示すように上部電極層が、第1電極、第2電極、第3電極、第4電極に分割されている。各電極の導波方向の長さは、第1電極の長さL1が0.3mm、第2電極の長さL2が0.3mm、第3電極の長さL3が0.1mm、第4電極の長さL4が0.3mmである。分岐部分における光導波路の曲率半径1mmとし、出射端近傍の光導波路は、出射端面の垂線に対して活性層の面内方向に傾斜を約7度設けることが好適である。また、第1電極、第2電極、第4電極はプラスの電流で駆動させ、第3電極はゼロもしくはマイナスの電流で駆動させる。
第1電極に注入する電流が120mA、第2電極が3.8mA、第3電極が0mAの時に、第4電極に注入する電流量を変化させた場合の発光スペクトルは、導波損失を考えなければ、図13のものとほぼ等しくなることが想定される。
光導波路を分岐することによって、同じ光学特性を得るにも分岐されていない導波路のサンプルに比べてサンプル長を短くできる効果がある。さらに、電極構成や駆動状態の自由度を上げる効果がある。
ここで、本発明における活性層構造と、本実施例の光導波路および電極構成を組み合わせることで得られる利点を以下に述べる。
たとえば、本実施例とほぼ同様のスペクトル制御性、光学特性が得られる分岐されていない導波路をもつ構成として実施例5が挙げられる。実施例5における第3電極および第4電極により発生する発光ピークは、本実施例における第3電極と第4電極により発生する発光ピークに相当し、これらの発光ピークは吸収領域(実施例5における第3電極、本実施例における第3電極)より前方の発光領域において十分に増幅される必要がある。実施例5の場合には、増幅させる発光領域は第1電極および第2電極であるが、実施例10の場合には第1電極のみとなる。したがって、後方からのピークの大きさを維持するためには第1電極が劣化しにくいことが重要である。つまり、本発明における活性層構造により活性層への電流注入密度を高くすることなく高次準位の発光をさせることができるという効果により、第1電極への負荷が小さくなるため劣化が抑えられ、安定して後方からの光を増幅させることができるようになる。
本実施例における光導波路では曲線部分の曲率半径を1mmとしたが、曲線部分および曲線と直線のつなぎの部分において光学特性が極端に劣化しない範囲であればこれに限られない。
分岐部分を始点として2つの直線導波路を形成する導波路構造であってもよい。
分岐の始点が第1電極領域内でなくてもよい。たとえば、第2電極領域内であっても同様の効果が期待できる。
本実施例でも、実施例1で示した短波長側の準位をより低い電流密度で発光させることができるという効果、電極を分割する効果、光導波路を分岐することによる効果を得ることができる。さらに、本実施例では、吸収領域と、吸収領域よりも出射端とは逆の端面側に発光領域を設けることで、実施例5と比べてスペクトル形状の制御性や導波路の分岐部分、電極構成の自由度を向上させることができるという効果を得られる。
(実施例11)
本発明の実施例11に係る発光素子について図21(a)を用いて説明する。
本発明の実施例11に係る発光素子は上部電極層が6つに分割されており、光導波路が第1電極領域内で2つに分岐されていることを特徴とするが、それ以外は実施例10と同一の構成である。以下、実施例10と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本実施例に係る発光素子は、図21(a)に示すように上部電極層が、第1電極、第2電極、第3電極、第4電極、第5電極、第6電極に分割されている。各電極の導波方向の長さは、第1電極の長さL1が0.3mm、第2電極の長さL2が0.2mm、第3電極の長さL3が0.3mm、第4電極の長さL4が0.4mm、第5電極の長さL5が0.2mm、第6電極の長さL6が0.3mmである。また、第1電極、第2電極、第4電極、第6電極はプラスの電流で駆動させ、第3電極、第5電極はゼロもしくはマイナスの電流で駆動させる。なお、第3電極と第5電極、第4電極と第6電極は電極構成上入れ替えてもかまわない。
光導波路を分岐することによって、同じ光学特性を得るにも分岐されていない導波路のサンプルに比べてサンプル長(サンプルの出射端面とその反対側端面の間の長さ)を短くできる効果がある。さらに、電極構成や駆動状態の自由度を上げる効果がある。たとえば、図21(a)において第3電極長と長くする必要がある場合には、図21(b)ではなく、図21(c)のような構成とすることで、制御性や光学特性を悪化させることなくサンプル長を短くする構成とすることもできる。
また、図21(d)のように、第2電極を分岐された両方の導波路上にまたがっている構成としてもよい。こうすることで、第2電極で発生するピークの大きさを大きくすることができる効果や、電流密度を同じくするために電極長を短くできる効果がある。
本実施例でも、実施例1で示した短波長側の準位をより低い電流密度で発光させることができるという効果、電極を分割する効果、光導波路を分岐することによる効果を得ることができる。さらに、本実施例では、吸収領域と、吸収領域よりも出射端とは逆の端面側に発光領域を設けることで、実施例10と比べてスペクトル形状の制御性や導波路の分岐部分、電極構成の自由度を向上させることができるという効果を得られる。
(実施例12)
本発明の実施例12に係る発光素子について図22(a)を用いて説明する。
本発明の実施例12に係る発光素子は上部電極層が8つに分割されており、光導波路が第1電極領域内で2つに分岐されていることを特徴とするが、それ以外は実施例10と同一の構成である。以下、実施例10と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。本実施例に係る発光素子は、図22(a)に示すように上部電極層が、第1電極、第2電極、第3電極、第4電極、第5電極、第6電極、第7電極、第8電極に分割されている。各電極の導波方向の長さは、第1電極の長さL1が0.3mm、第2電極の長さL2が0.2mm、第3電極の長さL3が0.3mm、第4電極の長さL4が0.4mm、第5電極の長さL5が0.2mm、第6電極の長さL6が0.3mm、第7電極の長さL7が0.2mm、第8電極の長さL8が0.3mmである。また、第1電極、第2電極、第4電極、第6電極、第8電極はプラスの電流で駆動させ、第3電極、第5電極、第7電極はゼロもしくはマイナスの電流で駆動させる。第5電極での電流密度を第7電極での電流密度以上で駆動させる。こうすることで、第7電極と第8電極で形成された発光ピークが第5電極で吸収されてしまうことを防ぐことができる。
光導波路を分岐することによって、同じ光学特性を得るにも分岐されていない導波路のサンプルに比べてサンプル長を短くできる効果がある。さらに、電極構成や駆動状態の自由度を上げる効果がある。
また、図22(b)のように、第2電極を分岐された両方の導波路上にまたがっている構成としてもよい。こうすることで、第2電極で発生するピークの大きさを大きくすることができる効果や、電流密度を同じくするために電極長を短くできる効果がある。
本実施例でも、実施例1で示した短波長側の準位をより低い電流密度で発光させることができるという効果、電極を分割する効果、光導波路を分岐することによる効果を得ることができる。さらに、本実施例では、吸収領域と、吸収領域よりも出射端とは逆の端面側に発光領域を設けることで、実施例11と比べてスペクトル形状の制御性や導波路の分岐部分、電極構成の自由度を向上させることができるという効果を得られる。
(実施例13)
本発明の実施例13に係る発光素子について図23(a)を用いて説明する。
本発明の実施例13に係る発光素子は上部電極層が4つに分割されており、光導波路が第1電極領域内で2つに分岐されており、分岐されたどちらの導波路も同じ電極パターンであることを特徴とするが、それ以外は実施例10と同一の構成である。以下、実施例10と異なる事項についてのみ説明し、共通事項は説明を省略する。
本実施例に係る発光素子は、図23(a)に示すように上部電極層が、第1電極、第2電極、第3電極、第4電極に分割されている。各電極の導波方向の長さは、第1電極の長さL1が0.29mm、第2電極の長さL2が0.3mm、第3電極の長さL3が1.5mm、第4電極の長さL4が0.3mmである。また、第1電極、第2電極、第4電極はプラスの電流で駆動させ、第3電極はゼロもしくはマイナスの電流で駆動させる。つまり、実施例5の導波路を第1電極内で2つに分岐させた構造である。第1電極に注入する電流が120mA、第2電極が3.8mA、第3電極が0mAの時に、第4電極に注入する電流量を変化させた場合の発光スペクトルは、導波損失を考えなければ、図13のものとほぼ等しくなることが想定される。
本発明における活性層構造と、本実施例の光導波路および電極構成を組み合わせることで得られる利点は、実施例10の部分で示したとおりであるが、この場合はさらに後方から導波される長波長側の発光強度が大きくなっているので、第1電極における発光量を大きくする必要がある。したがって、本発明における活性層構造により活性層への電流注入密度を高くすることなく高次準位の発光をさせることができるという効果により、第1電極への負荷が小さくなるため劣化が抑えられ、安定して後方からの光を増幅させることができるようになるとともに、短波長側の発光量を長波長側の発光量と同程度に調整することができるようになる。
図23(a)では、1つの電極が2つの光導波路にまたがっている構造であるが、サンプル上で電気的につながっている構成でなくてもよく、たとえば、分離された電極を金属ワイヤでつなげる構成であってもよい。または、ある一部の電極同士のみ電気的につなげる構成であってもよい。
また、分岐数は3つ以上であってもかまわない。
図5の光導波路を2つに分岐した図23(a)の構造のほかに、図18の光導波路を2つに分岐した図23(b)、図20の光導波路を2つに分岐した図23(c)の構造も同様の効果が得られる。
本実施例でも、実施例1で示した短波長側の準位をより低い電流密度で発光させることができるという効果、電極を分割する効果、光導波路を分岐することによる効果を得ることができる。さらに、本実施例では、導波路を分岐させることでスペクトル形状を維持したまま発光量を増強できるという効果を得られる。
100 発光素子
103 活性層
110 上部電極層
120 下部電極層
170 量子井戸構造
171 第一の量子井戸構造
172 第二の量子井戸構造

Claims (18)

  1. 上部電極層と、下部電極層と、それらの間に設けられた活性層とを有し、
    前記上部電極層、および前記下部電極層を介して前記活性層に電流を注入することで発光するスーパールミネッセントダイオードであって、
    前記活性層が複数の量子閉じ込め構造を有し、第一の量子閉じ込め構造はエネルギー準位がEの基底準位、及びエネルギー準位がEの高次準位を有し、前記第一の量子閉じ込め構造とは異なる第二の量子閉じ込め構造は、エネルギー準位がEの基底準位を有し、前記Eと前記Eとが略一致しており、
    前記スーパールミネッセントダイオードは、前記Eのエネルギー準位からの発光が、前記Eのエネルギー準位における誘導増幅を引き起こすことで発生した光を出力するように構成されているスーパールミネッセントダイオード。
  2. 前記量子閉じ込め構造が量子井戸構造である請求項1に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  3. 前記Eから前記Eを引いたエネルギー準位差ΔEが−110meV以上、25meV以下である請求項1または2に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  4. 前記Eから前記Eを引いたエネルギー準位差ΔEが−45meV以上である請求項1乃至3のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  5. 前記Eから前記Eを引いたエネルギー準位差ΔEの絶対値が20meV以下である請求項1乃至4のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  6. 前記Eから前記Eを引いたエネルギー準位差ΔEが0meV以下である請求項1乃至5のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  7. 前記Eから前記Eを引いたエネルギー準位差ΔEが−21meV以下である請求項1乃至のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  8. 前記第二の量子閉じ込め構造の深さは、前記第一の量子閉じ込め構造の深さよりも浅い、請求項1乃至7のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  9. 前記活性層は3つ以上の量子閉じ込め構造を有する請求項1乃至8のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  10. 前記活性層はさらに第三の量子閉じ込め構造を有し、前記第三の量子閉じ込め構造は、前記第一の量子閉じ込め構造と同じである請求項1乃至9のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  11. 前記上部電極層と前記下部電極層の少なくともいずれか一方の電極層が、複数の電極に分割されている、請求項1乃至10のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  12. 前記複数の電極の少なくとも1つには電流を注入しないように構成されている、請求項11に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  13. 前記上部電極層と前記下部電極層の少なくともいずれか一方の電極層が、4つの電極に分割されている、請求項1乃至12のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  14. 前記量子閉じ込め構造が前記第一の量子閉じ込め構造と同じ量子閉じ込め構造を有する第三の量子閉じ込め構造をさらに有する請求項1乃至13のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  15. 前記スーパールミネッセントダイオードがリッジ型の導波路構造を有する請求項1乃至14のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  16. 前記導波路構造は、前記スーパールミネッセントダイオードの出射端面の垂線に対して前記活性層の面内方向に傾斜している請求項15に記載のスーパールミネッセントダイオード。
  17. 請求項1乃至16のいずれか一項に記載のスーパールミネッセントダイオードと、前記上部電極層及び前記下部電極層への電流注入量を制御する制御部と、
    を有する光源システム。
  18. 請求項17に記載の光源システムと、
    前記光源システムからの光を物体へ照射する照射光と参照光とに分波し、前記物体に照射された光の反射光と前記参照光による干渉光を発生させる干渉光学系と、
    前記干渉光を分光させる分光部と、
    分光された前記干渉光を受光する干渉光検出部と、
    前記干渉光の強度に基づいて、前記物体の情報を取得する情報取得部と、
    を有することを特徴とする光干渉断層計。
JP2015067065A 2014-03-27 2015-03-27 発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計 Active JP6646942B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015067065A JP6646942B2 (ja) 2014-03-27 2015-03-27 発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014067023 2014-03-27
JP2014067023 2014-03-27
JP2015067065A JP6646942B2 (ja) 2014-03-27 2015-03-27 発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015195379A JP2015195379A (ja) 2015-11-05
JP6646942B2 true JP6646942B2 (ja) 2020-02-14

Family

ID=54195834

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015067065A Active JP6646942B2 (ja) 2014-03-27 2015-03-27 発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9929307B2 (ja)
JP (1) JP6646942B2 (ja)
KR (1) KR20160135801A (ja)
CN (1) CN106165124B (ja)
WO (1) WO2015147334A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6622510B2 (ja) * 2015-08-13 2019-12-18 キヤノン株式会社 発光素子、その制御方法、及びそれを用いた光干渉断層計
JP6551672B2 (ja) * 2015-08-17 2019-07-31 セイコーエプソン株式会社 発光装置およびプロジェクター
CN113594313B (zh) * 2021-07-26 2023-06-02 扬州乾照光电有限公司 一种led芯片及其制备方法

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5033053A (en) 1989-03-30 1991-07-16 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor laser device having plurality of layers for emitting lights of different wavelengths and method of driving the same
JPH03228380A (ja) * 1990-02-02 1991-10-09 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体発光素子
JP2958465B2 (ja) * 1990-05-14 1999-10-06 日本電信電話株式会社 スーパールミネッセンスダイオード
JPH0474486A (ja) * 1990-07-17 1992-03-09 Toshiba Corp 光半導体素子
JP2957264B2 (ja) 1990-11-11 1999-10-04 キヤノン株式会社 半導体レーザ素子及びその駆動方法
JPH07202260A (ja) 1993-12-27 1995-08-04 Furukawa Electric Co Ltd:The 歪超格子発光素子
JPH1084130A (ja) * 1996-09-06 1998-03-31 Hamamatsu Photonics Kk 発光素子
US6600169B2 (en) 2000-09-22 2003-07-29 Andreas Stintz Quantum dash device
JP4557111B2 (ja) * 2000-10-25 2010-10-06 日本電気株式会社 量子ドット半導体レーザ
JP3845613B2 (ja) * 2002-11-06 2006-11-15 独立行政法人科学技術振興機構 量子ドットによる伝送路
KR100644967B1 (ko) * 2004-10-27 2006-11-15 한국과학기술연구원 다양한 크기의 양자점으로 이루어진 활성층을 이용하는고휘도 발광소자 및 그 제조 방법
EP1840978A4 (en) 2005-01-17 2014-06-25 Anritsu Corp SEMICONDUCTOR OPTICAL ELEMENT HAVING OPTICAL LARGE SPECTRUM TRANSMISSION CHARACTERISTICS, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND EXTERNAL RESONATOR TYPE SEMICONDUCTOR LASER
JP2007149808A (ja) 2005-11-25 2007-06-14 Fujifilm Corp スーパールミネッセントダイオード
JP2007184557A (ja) * 2005-12-05 2007-07-19 Fujifilm Corp 半導体発光素子および該素子を備えた光源装置および光断層画像化装置
US7944567B2 (en) 2005-12-05 2011-05-17 Fujifilm Corporation Semiconductor light emitting element, light source using the semiconductor light emitting element, and optical tomography imaging apparatus
JP2010525583A (ja) * 2007-05-01 2010-07-22 エグザロス・アクチェンゲゼルシャフト 光源および装置
JP2009283736A (ja) 2008-05-23 2009-12-03 Fujifilm Corp 光半導体素子および光半導体素子を用いた光干渉断層画像装置
JP5576367B2 (ja) * 2008-07-16 2014-08-20 カール ツアイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト 光コヒーレンストモグラフィ方法およびシステム
JP4538516B2 (ja) * 2008-08-08 2010-09-08 防衛省技術研究本部長 光半導体装置
US7960743B2 (en) * 2008-12-05 2011-06-14 Jds Uniphase Corporation Multi-electrode light emitting device
TWI566429B (zh) 2010-07-09 2017-01-11 Lg伊諾特股份有限公司 發光裝置
JP5645525B2 (ja) * 2010-07-23 2014-12-24 キヤノン株式会社 スーパールミネッセントダイオードおよびスーパールミネッセントダイオードを光源とするoct装置
JP2013004903A (ja) 2011-06-21 2013-01-07 Canon Inc 半導体光集積素子及び該半導体光集積素子を備えた光断層撮像装置
JP5950551B2 (ja) * 2011-11-30 2016-07-13 キヤノン株式会社 Sd−octシステムの駆動制御方法
JP2013197237A (ja) 2012-03-19 2013-09-30 Canon Inc スーパールミネッセントダイオードを備えた光源装置とその駆動方法、及び光断層画像撮像装置
WO2014006813A1 (ja) * 2012-07-06 2014-01-09 パナソニック株式会社 半導体発光素子
US20150263231A1 (en) 2012-09-28 2015-09-17 Canon Kabushiki Kaisha Optical semiconductor device, driving method thereof, and optical coherence tomography apparatus having the optical semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2015195379A (ja) 2015-11-05
WO2015147334A1 (en) 2015-10-01
KR20160135801A (ko) 2016-11-28
CN106165124B (zh) 2018-10-02
US9929307B2 (en) 2018-03-27
CN106165124A (zh) 2016-11-23
US20170125629A1 (en) 2017-05-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6429442B2 (ja) 光源及び前記光源を用いた光干渉断層撮像装置
US7671997B2 (en) High power broadband superluminescent diode
JP6646942B2 (ja) 発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計
US20130242310A1 (en) Light source device including super luminescent diodes, method of driving the same, and optical tomography imaging apparatus
US9451672B2 (en) Light source and optical coherence tomography apparatus using the same
US9543731B2 (en) Method and device for generating short optical pulses
US20150263231A1 (en) Optical semiconductor device, driving method thereof, and optical coherence tomography apparatus having the optical semiconductor device
US9124070B2 (en) Superluminescent diode and optical coherence tomography apparatus including the superluminescent diode
Khan et al. High-Performance 1.55-$\mu\hbox {m} $ Superluminescent Diode Based on Broad Gain InAs/InGaAlAs/InP Quantum Dash Active Region
JP2015194496A (ja) 光源システム、及び前記光源システムを用いた光干渉断層計
Faugeron et al. Wide optical bandwidth and high output power superluminescent diode covering C and L band
WO2014137886A1 (en) High-power low-loss grinsch laser
Allen et al. External cavity quantum dot tunable laser through 1.55 μm
Zolotarev et al. Semiconductor lasers with internal wavelength selection
WO2016098273A1 (ja) 活性層構造、半導体発光素子および表示装置
WO2010022526A2 (en) Superluminescent diode, or amplifier chip
JP2015191973A (ja) 発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計
Judson et al. Maximising performance of optical coherence tomography systems using a multi-section chirped quantum dot superluminescent diode
JP7147560B2 (ja) スーパールミネッセンスダイオード及び表示装置
JP5193836B2 (ja) スーパールミネッセントダイオード
Wang et al. Design considerations for asymmetric multiple quantum well broad spectral width superluminescent diodes
JP2015198137A (ja) 発光素子、前記発光素子を有する光源システム、及び前記光源システムを有する光干渉断層計
US6807212B2 (en) Semiconductor laser
Matuschek et al. Modeling and simulation of reflecting SLEDs
JP2017112292A (ja) 発光素子及びそれを有する光干渉断層計

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180326

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190123

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190129

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190401

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20191008

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191209

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191217

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200114

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6646942

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151