JPH0438590Y2 - - Google Patents

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JPH0438590Y2
JPH0438590Y2 JP1985059043U JP5904385U JPH0438590Y2 JP H0438590 Y2 JPH0438590 Y2 JP H0438590Y2 JP 1985059043 U JP1985059043 U JP 1985059043U JP 5904385 U JP5904385 U JP 5904385U JP H0438590 Y2 JPH0438590 Y2 JP H0438590Y2
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JP
Japan
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transistor
base
pulse
delay circuit
delay
Prior art date
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JP1985059043U
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JPS61195121U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本考案は、遅延された出力パルスを発生するこ
との出来る遅延回路に関するもので、特にIC(集
積回路)化に適した遅延回路を提供せんとするも
のである。 (ロ) 従来の技術 入力パルスに対して遅延された出力パルスを得
る場合、通常単安定マルチバイブレータ等の遅延
回路が用いられる。前記単安定マルチバイブレー
タは周知の回路であり、例えば昭和53年6月1日
にCQ出版株式会社より発行された単行本「パル
ス回路の設計」第102頁に記載されている。前記
単安定マルチバイブレータは、通常2個のトラン
ジスタと該トランジスタの一方のベースと他方の
コレクタとの間に挿入されるコンデンサとを備え
ており、トリガパルスに応じて安定状態から準安
定状態に変化し、前記コンデンサの値に応じて決
まる時間の経過後再び安定状態に変化して遅延さ
れたパルスを発生させるものである。 (ハ) 考案が解決しようとする問題点 しかして、単安定マルチバイブレータは、上述
の如くコンデンサの値に応じて遅延時間を設定し
ているので、数十μ秒程度の大なる遅延時間を得
る為には、大きな容量のコンデンサを必要とす
る。そして、前記大きな容量のコンデンサを必要
とする単安定マルチバイブレータをIC内に作成
することは非常に困難である為、前記コンデンサ
をICに外付接続しなければならず、端子ピン数
の増加、外付部品数の増加というIC化に好まし
くない欠点を生じていた。 (ニ) 問題点を解決するための手段 本考案は、上述の点に鑑み成されたもので、コ
ンデンサを必要とせず、IC化に適した遅延回路
を得る為、該遅延回路内にPNP型のトランジス
タを配置し、該トランジスタのベースとIC基板
との間の寄生容量を利用して遅延を生じさせんと
するものである。 (ホ) 作用 本考案に依れば、PNP型のトランジスタのベ
ースとIC基板との間に寄生容量が存在する為、
入力パルスの終端において前記PNPトランジス
タが直ちにオフせず、所定時間の経過後オフする
様に設定出来るので、十分長い遅延時間を得るこ
とが出来る。 (ヘ) 実施例 第1図は、本考案の一実施例を示す回路図で、
1は入力パルスが印加される入力端子、2はベー
スが前記入力端子1に接続されたNPN型の第1
トランジスタ、3はベースが前記第1トランジス
タ2のコレクタに接続されたPNP型の第2トラ
ンジスタ、4はベースがダイオード5を介して前
記第2トランジスタ3のエミツタに接続された
NPN型の第3トランジスタ、及び6は前記第3
トランジスタ4のコレクタに接続された出力端子
である。 しかして第1図の遅延回路における第1及び第
2トランジスタ2及び3は、第2図に示す如く、
単一のIC基板上にIC化される。第2図において、
7はP型のIC基板、はN型のコレクタ領域9
とエミツタ領域10及びP型のベース領域11を
有するNPN型の第1トランジスタ、12はP型
のコレクタ領域13とエミツタ領域14及びN型
のベース領域15を有するPNP型の第2トラン
ジスタである。前記第1トランジスタにおいて
は、P型のIC基板7とN型のコレクタ領域9と
の間に寄生容量が生じ、前記第2のトランジスタ
12においては、P型のIC基板7とN型のベー
ス領域15との間に寄生容量が生じる。その為、
第1図の如く第1トランジスタのコレクタと第
2トランジスタ12のベースとを直接接続すれ
ば、前記寄生容量が並列接続されることになり、
大きな容量をIC内に形成することが出来る。 次に第1図の回路の動作を説明する。入力端子
1に入力信号が印加されない無信号状態において
は、第1トランジスタ2及び第2トランジスタ3
がオフとなつており、電源電圧(+Vcc)が抵抗
16を介してダイオード5のアノードに印加され
るので、第3トランジスタ4がオンになり、出力
端子6は「L」に保たれている。いま、入力端子
1に第3図イに示す入力パルスを印加すると、前
記入力パルスの立上りに応じて第1トランジスタ
2がオンし、第2トランジスタ3もオンする。そ
の為、ダイオード5のアノードが「L」になり第
3トランジスタ4がオフし、出力端子6が略直ち
に「H」になる。 入力パルスのパルス幅で決まる時間(T1)が
経過すると前記入力パルスが立ち下がり、それに
応じて第1トランジスタ2がオフになる。しかし
ながら、第2トランジスタ3のベースとアースと
の間には、寄生容量17及び18が存在し、該寄
生容量17及び18は第1トランジスタ2により
完全放電されているので、前記第2トランジスタ
3のベース電流は前記寄生容量17及び18を介
して流れ続ける。その為、第2トランジスタ3は
入力パルスが立下がつた後もオンし続け、第3ト
ランジスタ4もオフし続ける。 寄生容量17及び18の充電が進むにつれて第
2トランジスタ3のベース電圧が上昇し、それに
応じて前記第2トランジスタ3のエミツタ電圧も
上昇する。そして、前記第2トランジスタ3のベ
ース電圧がVBE(トランジスタのベース・エミツ
タ間立上り電圧)に達すると、前記第2トランジ
スタ3のエミツタ電圧が2VBEに達し、第3トラ
ンジスタ4がオンして出力端子6の端子電圧が再
度「L」になる。従つて、前記出力端子6には、
入力パルスの立上りに応じて「H」となり、寄生
容量17及び18が充電され第2トランジスタ3
のエミツタ電圧が2VBEに達しW第3トランジス
タ4がオンになつたとき「L」になる出力パルス
を発生させることが出来る。尚、第3図ロは第2
トランジスタ3のベース電圧を、第3図ハは前記
第2トランジスタ3のエミツタ電圧を、第3図ニ
は出力端子6に得られる出力パルスをそれぞれ示
すものである。 出力端子5には、T2のパルス幅を有する出力
パルスを発生させることが出来るが、第3図イ及
びニを比較すれば明らかな如く、前記パルス幅
T2を入力パルスのパルス幅T1の数十倍の大きさ
にすることが出来る。従つて、第1図の遅延回路
を用いることにより、遅延量の大なる遅延回路を
得ることが出来る。 寄生容量17及び18の値を所定値とすれば、
前記寄生容量17及び18の充電時間は、第2ト
ランジスタ3のベース電流に応じたものとなる。
そして、前記ベース電流は、電源電圧(+Vcc)
に応じて定まるから、前記電源電圧の設定により
前記寄生容量17及び18の充電時間を設定する
ことが出来る。ちなみに、電源電圧を低くすると
前記寄生容量17及び18の充電に時間がかか
り、第2トランジスタ3のエミツタ電圧がVBE
達する迄の時間が伸びるので、遅延量を大にする
ことが出来る。 第1図の回路においては、第2トランジスタ3
のエミツタと第3トランジスタ4のベースとの間
に1個のダイオード5を挿入している。その為、
第2トランジスタ3のエミツタ電圧が2VBEにな
つたとき第3トランジスタ4がオンし、それよつ
て出力パルスのパルス幅T2が決まる。そして、
前記ダイオード5の数を2個にすれば、前記第2
トランジスタ3のエミツタ電圧が3VBEになつた
とき第3トランジスタ4をオンさせることが出
来、そうすることにより前記出力パルスのパルス
幅T2を拡大させることが出来る。前記ダイオー
ド5の数は、電源電圧及び必要とするパルス幅に
応じて任意に設定される。 (ト) 考案の効果 以上述べた如く、本考案に依れば、コンデンサ
を用いること無く十分な遅延量を得ることが可能
な遅延回路を提供出来る。その為、IC化に際し、
外付端子ピンの減少、外付素子数の減少を計るこ
とが出来る。また、本考案に依れば、電源電圧の
大きさや第2トランジスタのエミツタと第3トラ
ンジスタのベースとの間に挿入されるダイオード
の数に応じて遅延量を調整することが出来るの
で、希望する遅延量を簡単に得ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本考案の一実施例を示す回路図、第
2図はその第1及び第2トランジスタの構造を示
す断面図、及び第3図イ乃至ニは本考案の説明に
供する為の特性図である。 主な図番の説明、2……第1トランジスタ、3
……第2トランジスタ、4……第3トランジス
タ、5……ダイオード、17,18……寄生容
量。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 入力パルスの立上りに応じて立上り、前記入力
    パルスの立下りから所定時間遅延されて立下る出
    力パルスを発生する為の遅延回路であつて、ベー
    スに前記入力パルスが印加されるNPN型の第1
    トランジスタと、ベースが前記第1トランジスタ
    のコレクタと接続されたPNP型の第2トランジ
    スタと、アノードが前記第2トランジスタのエミ
    ツタと接続された少なくとも1段のダイオード
    と、ベースが前記ダイオードのカソードと接続さ
    れたNPN型の第3トランジスタと、を備え、前
    記第1乃至第3トランジスタ、及び、前記ダイオ
    ードを共通の基板上に集積回路化し、前記PNP
    型の第2トランジスタのベースと前記基板との間
    に生じる寄生容量、及び、前記第2トランジスタ
    のエミツタと前記第3トランジスタのベースとの
    間に生じる電位差を利用することにより前記第3
    トランジスタのコレクタに遅延された前記出力パ
    ルスを発生する様にしたことを特徴とする遅延回
    路。
JP1985059043U 1985-04-19 1985-04-19 Expired JPH0438590Y2 (ja)

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JP1985059043U JPH0438590Y2 (ja) 1985-04-19 1985-04-19

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JP1985059043U JPH0438590Y2 (ja) 1985-04-19 1985-04-19

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Publication Number Publication Date
JPS61195121U JPS61195121U (ja) 1986-12-05
JPH0438590Y2 true JPH0438590Y2 (ja) 1992-09-09

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ID=30585101

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JP1985059043U Expired JPH0438590Y2 (ja) 1985-04-19 1985-04-19

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4832455A (ja) * 1971-08-30 1973-04-28
JPS5324763A (en) * 1976-08-20 1978-03-07 Oki Electric Ind Co Ltd Data transmission system
JPS5651662A (en) * 1979-10-05 1981-05-09 Kanto Kagaku Kk Qualitative and quantitative analytical method for saccharides
JPS6068627A (ja) * 1983-09-26 1985-04-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路装置

Patent Citations (4)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JPS6068627A (ja) * 1983-09-26 1985-04-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路装置

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JPS61195121U (ja) 1986-12-05

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