JPH04335556A - 混成集積回路 - Google Patents
混成集積回路Info
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- JPH04335556A JPH04335556A JP13591891A JP13591891A JPH04335556A JP H04335556 A JPH04335556 A JP H04335556A JP 13591891 A JP13591891 A JP 13591891A JP 13591891 A JP13591891 A JP 13591891A JP H04335556 A JPH04335556 A JP H04335556A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/22—Secondary treatment of printed circuits
- H05K3/28—Applying non-metallic protective coatings
- H05K3/284—Applying non-metallic protective coatings for encapsulating mounted components
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は混成集積回路、特にIC
チップを覆うチップコート樹脂に関するものである。
チップを覆うチップコート樹脂に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、高精度トリミング回路や超高周波
回路,LC回路等において、混成集積回路が使用されて
いる。この混成集積回路は、基板上に印刷抵抗や導体と
ともに、ICチップを含むチップ部品を混在実装したも
のであり、ICチップの周囲はチップコート樹脂で覆わ
れ、かつ基板全体が外装樹脂で覆われている。チップコ
ート樹脂はICチップに対する熱的および機械的衝撃を
和らげる保護膜として機能する。
回路,LC回路等において、混成集積回路が使用されて
いる。この混成集積回路は、基板上に印刷抵抗や導体と
ともに、ICチップを含むチップ部品を混在実装したも
のであり、ICチップの周囲はチップコート樹脂で覆わ
れ、かつ基板全体が外装樹脂で覆われている。チップコ
ート樹脂はICチップに対する熱的および機械的衝撃を
和らげる保護膜として機能する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来使用されているチ
ップコート樹脂は、シリコーン樹脂,ポリウレタン樹脂
およびエポキシ樹脂の3種である。ところが、シリコー
ン樹脂はヒートショック性には優れているが、耐湿性お
よび外装樹脂との密着性に劣るという欠点があり、ポリ
ウレタン樹脂は密着性,ヒートショック性,耐湿性は比
較的良好であるが、可使時間が短く、作業性が悪い。ま
た、エポキシ樹脂は耐湿性,密着性は良好であるが、ヒ
ートショック性が劣り、硬化収縮力が大きいという欠点
がある。このように、従来のチップコート樹脂はそれぞ
れが個別の欠点を有するため、チップコート樹脂として
の条件を全て満足する材料がなかった。
ップコート樹脂は、シリコーン樹脂,ポリウレタン樹脂
およびエポキシ樹脂の3種である。ところが、シリコー
ン樹脂はヒートショック性には優れているが、耐湿性お
よび外装樹脂との密着性に劣るという欠点があり、ポリ
ウレタン樹脂は密着性,ヒートショック性,耐湿性は比
較的良好であるが、可使時間が短く、作業性が悪い。ま
た、エポキシ樹脂は耐湿性,密着性は良好であるが、ヒ
ートショック性が劣り、硬化収縮力が大きいという欠点
がある。このように、従来のチップコート樹脂はそれぞ
れが個別の欠点を有するため、チップコート樹脂として
の条件を全て満足する材料がなかった。
【0004】そこで、本発明の目的は、チップコート樹
脂としてヒートショック性,耐湿性,密着性などの諸条
件を満足する材料を用いることにより、信頼性および耐
環境性に優れた混成集積回路を提供することにある。
脂としてヒートショック性,耐湿性,密着性などの諸条
件を満足する材料を用いることにより、信頼性および耐
環境性に優れた混成集積回路を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
、本発明は、チップコート樹脂として反応性液状ゴムに
て変性された可撓性エポキシ樹脂を用いたものである。
、本発明は、チップコート樹脂として反応性液状ゴムに
て変性された可撓性エポキシ樹脂を用いたものである。
【0006】反応性液状ゴムとしては、液状ブタジエン
共重合体やジエン共重合体の末端基を官能基で変性した
共重合体などが用いられる。このうち、液状ブタジエン
共重合体には、例えば液状アクリロニトリルブタジエン
ゴム,液状スチレンブタジエンゴム等がある。また、ジ
エン共重合体の末端基を官能基で変性した共重合体には
、例えば末端カルボキシル基ポリブタジエンや、末端水
酸基ポリブタジエン等がある。
共重合体やジエン共重合体の末端基を官能基で変性した
共重合体などが用いられる。このうち、液状ブタジエン
共重合体には、例えば液状アクリロニトリルブタジエン
ゴム,液状スチレンブタジエンゴム等がある。また、ジ
エン共重合体の末端基を官能基で変性した共重合体には
、例えば末端カルボキシル基ポリブタジエンや、末端水
酸基ポリブタジエン等がある。
【0007】可撓性付与剤にはグリコールジグリシジル
エーテル系エポキシやグリシジルエステル系エポキシ等
があり、前者には例えばポリプロピレングリコールジグ
リシジルエーテルや、ネオペンチルグリコールジグリシ
ジルエーテルがある。また、後者には例えばダイマー酸
(変性)グリシジルエステルがある。
エーテル系エポキシやグリシジルエステル系エポキシ等
があり、前者には例えばポリプロピレングリコールジグ
リシジルエーテルや、ネオペンチルグリコールジグリシ
ジルエーテルがある。また、後者には例えばダイマー酸
(変性)グリシジルエステルがある。
【0008】
【実施例】図1は混成集積回路の一例を示し、1はアル
ミナ等の基板であり、基板1上には印刷抵抗や導体(図
示せず)が形成され、ICチップ2やチップコンデンサ
などのチップ部品3が混在実装されている。ICチップ
2の周囲はチップコート樹脂4で覆われ、かつ基板1全
体がエポキシ樹脂等の外装樹脂5で覆われている。なお
、6はリード端子である。
ミナ等の基板であり、基板1上には印刷抵抗や導体(図
示せず)が形成され、ICチップ2やチップコンデンサ
などのチップ部品3が混在実装されている。ICチップ
2の周囲はチップコート樹脂4で覆われ、かつ基板1全
体がエポキシ樹脂等の外装樹脂5で覆われている。なお
、6はリード端子である。
【0009】上記チップコート樹脂4は表1のような組
成からなる。
成からなる。
【表1】
┌────────────
┬────────┐ │
種 類 │ 重
量 部 │ ├──
──────────┼────────┤
│ エポキシ樹脂
│ 80 │
│ 反応性液状ゴム │
20 │
│ 可撓性付与剤 │
20 │ │
添加剤 │ 0
.01 │ │
球状シリカ │ 240
│ │ 微
粉シリカ │ 5
│ │
硬化剤 │ 60
│ │ 硬化
促進剤 │ 0.9
│ └───────────
─┴────────┘
┬────────┐ │
種 類 │ 重
量 部 │ ├──
──────────┼────────┤
│ エポキシ樹脂
│ 80 │
│ 反応性液状ゴム │
20 │
│ 可撓性付与剤 │
20 │ │
添加剤 │ 0
.01 │ │
球状シリカ │ 240
│ │ 微
粉シリカ │ 5
│ │
硬化剤 │ 60
│ │ 硬化
促進剤 │ 0.9
│ └───────────
─┴────────┘
【0010】上記の組成でミキ
サーを用いて2時間攪拌した。なお、攪拌のために上記
組成に溶剤(ケトン系,エステル系,芳香族系)を入れ
て低粘度化することもある。得られた組成物をICチッ
プ2上にコーティングし、80℃/2.5hおよび15
0℃/5hで硬化させた後、外装樹脂(エポキシ樹脂)
5をコーティングした。表2は、上記のようにして得ら
れた実装品と従来のチップコート樹脂を用いた実装品と
の性能評価を示す。
サーを用いて2時間攪拌した。なお、攪拌のために上記
組成に溶剤(ケトン系,エステル系,芳香族系)を入れ
て低粘度化することもある。得られた組成物をICチッ
プ2上にコーティングし、80℃/2.5hおよび15
0℃/5hで硬化させた後、外装樹脂(エポキシ樹脂)
5をコーティングした。表2は、上記のようにして得ら
れた実装品と従来のチップコート樹脂を用いた実装品と
の性能評価を示す。
【0011】
【表2】
┌────────┬─────┬─────┬─
────┬─────┐ │
│■H.S.│■PCT │■可使時間│
■密着力 │ ├────────┼─────┼
─────┼─────┼─────┤ │シリコー
ン系 │ ○ │ ×
│ ○ │ × │ │
ポリウレタン系 │ △ │ △
│ × │ ○ │
│エポキシ系 │ × │
○ │ ○ │ ○
│ │可撓性エポキシ系│ ○
│ ○ │ ○ │
○ │ └────────┴─────┴
─────┴─────┴─────┘
────┬─────┐ │
│■H.S.│■PCT │■可使時間│
■密着力 │ ├────────┼─────┼
─────┼─────┼─────┤ │シリコー
ン系 │ ○ │ ×
│ ○ │ × │ │
ポリウレタン系 │ △ │ △
│ × │ ○ │
│エポキシ系 │ × │
○ │ ○ │ ○
│ │可撓性エポキシ系│ ○
│ ○ │ ○ │
○ │ └────────┴─────┴
─────┴─────┴─────┘
【0012】表
2において、■H.S.(ヒートショック)とは上記実
装品を−40℃/0.5hと125℃/0.5hの間で
放置した後、ICチップ2の特性変化をみる熱衝撃試験
である。■PCT(プレッシャークッロー)とは121
℃/2気圧/20hで放置した後、ICチップ2の特性
変化をみる耐湿試験である。また、■可使時間(ポット
ライフ)は25℃にて樹脂材料の粘度が初期粘度の2倍
になる時間を測定した。■密着力は碁盤目試験法(JI
K5400)で測定した。上記■,■,■においては、
不良数が0/100の場合を○、1〜10/100の場
合を△、10/100を越えた場合を×とした。また、
■可使時間は4時間以上を○、4時間未満を×とした。
2において、■H.S.(ヒートショック)とは上記実
装品を−40℃/0.5hと125℃/0.5hの間で
放置した後、ICチップ2の特性変化をみる熱衝撃試験
である。■PCT(プレッシャークッロー)とは121
℃/2気圧/20hで放置した後、ICチップ2の特性
変化をみる耐湿試験である。また、■可使時間(ポット
ライフ)は25℃にて樹脂材料の粘度が初期粘度の2倍
になる時間を測定した。■密着力は碁盤目試験法(JI
K5400)で測定した。上記■,■,■においては、
不良数が0/100の場合を○、1〜10/100の場
合を△、10/100を越えた場合を×とした。また、
■可使時間は4時間以上を○、4時間未満を×とした。
【0013】上記評価から明らかなように、チップコー
ト樹脂として可撓性エポキシを使用した場合には、ヒー
トショック性,耐湿性,作業性および外装樹脂5との密
着性の全てについて満足すべき結果が得られた。また、
可撓性エポキシは硬化収縮応力も小さいので、硬化時に
ICチップに与える負荷も小さい。
ト樹脂として可撓性エポキシを使用した場合には、ヒー
トショック性,耐湿性,作業性および外装樹脂5との密
着性の全てについて満足すべき結果が得られた。また、
可撓性エポキシは硬化収縮応力も小さいので、硬化時に
ICチップに与える負荷も小さい。
【0014】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、可撓性エポキシ樹脂をチップコート樹脂として
用いることにより、ヒートショック性,耐湿性,作業性
に優れ、外装樹脂および基板との密着性も良好であるか
ら、混成集積回路の信頼性,耐環境性を向上させること
ができる。
よれば、可撓性エポキシ樹脂をチップコート樹脂として
用いることにより、ヒートショック性,耐湿性,作業性
に優れ、外装樹脂および基板との密着性も良好であるか
ら、混成集積回路の信頼性,耐環境性を向上させること
ができる。
【図1】本発明の一例である混成集積回路の断面図であ
る。
る。
Claims (1)
- 【請求項1】 基板上にICチップを含む部品を搭載
するとともに、上記ICチップをチップコート樹脂で覆
い、かつ基板全体を外装樹脂で覆ってなる混成集積回路
において、上記チップコート樹脂は、反応性液状ゴムに
て変性された可撓性エポキシ樹脂であることを特徴とす
る混成集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13591891A JPH04335556A (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 混成集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13591891A JPH04335556A (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 混成集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04335556A true JPH04335556A (ja) | 1992-11-24 |
Family
ID=15162893
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13591891A Pending JPH04335556A (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 混成集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04335556A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007056255A (ja) * | 2005-07-28 | 2007-03-08 | Nec Corp | 絶縁材料、配線基板及び半導体装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6025259A (ja) * | 1983-07-21 | 1985-02-08 | Nec Corp | 混成集積回路装置 |
JPS61111569A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-29 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 樹脂封止半導体装置 |
JPS62288625A (ja) * | 1986-06-05 | 1987-12-15 | Somar Corp | エポキシ樹脂組成物 |
JPS63207816A (ja) * | 1987-02-23 | 1988-08-29 | Ube Ind Ltd | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
JPS6343445B2 (ja) * | 1978-07-05 | 1988-08-30 | Sumitomo Metal Ind |
-
1991
- 1991-05-10 JP JP13591891A patent/JPH04335556A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6343445B2 (ja) * | 1978-07-05 | 1988-08-30 | Sumitomo Metal Ind | |
JPS6025259A (ja) * | 1983-07-21 | 1985-02-08 | Nec Corp | 混成集積回路装置 |
JPS61111569A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-29 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 樹脂封止半導体装置 |
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Cited By (1)
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---|---|---|---|---|
JP2007056255A (ja) * | 2005-07-28 | 2007-03-08 | Nec Corp | 絶縁材料、配線基板及び半導体装置 |
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