JPH0432619Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、半導体IC、例えばマイクロコン
ピユータのCPU（中央処理装置）や配線基板上に
構成された論理回路などに試験パターンを与えた
時、その出力が正しい論理レベル、つまり高レベ
ルあるいは低レベルで出力しているか、又、その
出力が高インピーダンス状態であるか否かを試験
する論理回路試験装置に関する。

従来この種の試験装置は、その試験結果が、論
理レベルの試験についても、又高インピーダンス
状態か否かの試験についても同一の出力端子より
出力されるものであつた。従つて、例えば第１図
Ａに示すように一連の試験パターンが順次、被試
験論理回路に供給され、その時の試験出力が正し
い高論理レベルか、或いは低論理レベルか、つま
り正しい論理レベルをもつか否かのテストパター
ンRhlと高インピーダンステスト用試験パターン
Pzが予め決められた順で被試験装置に印加され、
その時の試験結果を出力するが、まず試験パター
ンPhlに対する出力が正しいものであるか否かを
判定し、正しくない場合は不良が存在することを
レジスタに格納し、この試験中において試験パタ
ーンPz印加された時の出力については試験結果
を無視するようにしている。このようにして一連
の試験パターン列を順次与えて試験した後、次に
被試験論理回路が試験パターンに対し、正しい高
出力インピーダンスで出力するか否かの試験を行
う。その試験パターン列は第１図Ｂに示すように
同様のパターンであるが、出力が高論理レベル或
いは低論理レベルとなる試験パターンPhl′の場合
はその出力を無視し、高出力インピーダンス状態
を出力する試験パターンPzについてのみをその
出力が正しい高インピーダンス状態である否かが
判定され、その結果を論理レベル試験の結果の出
力と同一の出力端子に出力し、不良があればそれ
を同一レジスタに格納していた。

このように従来においては論理レベルの試験と
高出力インピーダンスについての試験との２回の
試験を行う必要があり、しかもそのテストパター
ンについても、第１図Ａ及びＢに示すように論理
レベル検査については高インピーダンスの出力状
態を無視するようにするためのパターンPz′を構
成し、高インピーダンス出力状態かどうかのテス
トの場合においては、出力が高論理レベル或いは
低論理レベルの状態を無視するパターンPhl′とす
る。このため第１図に示したように２通りのテス
トパターン列を作る必要があり、その制作に時間
を費すと共にこれらを記憶するメモリの記憶容量
も大きくなり、しかも試験時間が２倍かかるとい
う欠点があつた。

正しい論理レベルであるか否かと、正しい高イ
ンピーダンス出力状態にあるか否かとのテストに
おいてその不良結果が得られた場合に、その原因
となるものであるため、これらを区別してテスト
する必要があり、このため従来においては先に述
べたように２回に分けてテストしており、前述し
た欠点が生じた。

この考案はこのような点より、１回の一連のテ
ストによつて正しい論理レベルについての誤りが
あるか否かを検出すると共に、高インピーダンス
出力についての誤りがあるか否かを検出すること
ができ、それだけ試験時間が短く、且つテストパ
ターン列も１組でよく、これを記憶するメモリの
記憶容量も少なくすることができるようにしよう
とするものである。

例えば第２図に示すように、試験パターン発生
器１１ノ出力端子１２からテストパターンが被試
験論理回路１３に入力される。この被試験論理回
路１３の出力端子１４は、高論理レベルについて
のテストを行う比較回路１５と、低レベルの論理
回路のテストを行う比較回路１６と、更に高イン
ピーダンス出力状態についてのテストを行う比較
器１７とに供給される。一方パターン発生器１１
より各テストパターン毎に、それが高レベルを出
力するべきである場合は、出力端子１８に論理
“１”を期待値として出力し、低レベルを出力す
るべき場合は、端子１９より論理“１”を出力
し、高インピーダンス状態を出力するべきである
場合は、端子２１より論理“１”をそれぞれ期待
値として出力する。

比較回路１５，１６は論理レベル用の比較器２
２を構成しており、比較回路１５においては、被
試験論理回路１３の出力端子１４より比較器２３
の反転入力側に出力が供給されて高論理レベル
Vhと比較される。この出力端子１４の出力レベ
ルが所定の高論理レベルVh（第３図も参照）より
も低い場合は比較器２３の出力は論理“１”とな
り、これと端子１８の期待値の論理“１”との論
理積がアンド回路２４でとられる。従つて正しい
高論理レベルを出力すると比較器２３の出力は低
レベルであつて、アンド回路２４の出力も低レベ
ルである。しかし端子１４の出力が正しい高論理
レベルVhよりも低い場合は、アンド回路２４に
より論理“１”が出力され、オア回路２５を通じ
てフリツプフロツプよりなるレジスタ２６のセツ
ト端子に与えられて、これに不良状態の発生が記
憶される。

一方、低論理レベルについての比較回路器１６
においては、出力端子１４の出力は、比較器２７
の非反転入力側に与えられて、その反転入力側よ
りの正しい論理レベルVl（第３図）と比較され
る。従つて出力端子１４の出力が、正しい低論理
レベル状態、即ち低論理レベルVlよりも小さけ
れば、比較器２７の出力は論理０であるが、この
正しい低論理レベルVlよりも高い場合は比較器
２７の出力は論理“１”となり、これと、端子１
９よりの期待値が低論理レベルの場合に“１”と
なる出力との論理積がアンド回路２８でとられ
て、その出力によりオアゲート２５を通じてフリ
ツプフロツプ２６がセツトされ、不良状態がレジ
スタ２６に格納される。

高インピーダンス出力状態についての比較器１
７においては出力端子１４の出力は比較器３１の
非反転入力側と比較器３２の反転入力側とにそれ
ぞれ供給されて、それぞれレベルVzh及びVzl
（第３図）とそれぞれ比較される。出力端子１４
の出力がレベルVzhよりも高い場合は正しい高イ
ンピーダンス出力状態の範囲外として比較器３１
より出力が論理“１”となつて、これがオア回路
３３を通じてアンド回路３４に与えられる。又、
出力端子１４の出力がレベルVzlよりも低い場合
においても同様に正しい論理レベルの高インピー
ダンスの範囲外とされて比較器３２の出力が論理
“１”となり、これはオア回路３３を通じてアン
ド回路３４に与えられる。アンド回路３４には端
子２１より高インピーダンス出力状態か否かのテ
ストパターンにおいて論理“１”が入力されてお
り、従つてこの時、端子１４の出力が第３図にお
けるレベルVzhとVzlとの間から外れる場合にお
いてはアンド回路３４の出力が論理“１”とな
り、これがフリツプフロツプよりなるレジスタ３
５に格納される。なおフリツプフロツプ２６，３
５は、テスト前に端子３６を通じて予めリセツト
されている。

従つてこの考案の論理回路試験装置によれば、
例えば第１図Ｃに示したテストパターン列をパタ
ーン発生器１１より発生して被論理試験回路１３
へ供給する。テストパターンが論理レベルのテス
トパターンPhlである場合で、被論理試験回路１
３から不良が発生すると、そのことがレジスタ２
６に格納される。テストパターンが高インピーダ
ンス出力状態のテストパターンPzの場合に被論
理試験回路１３が不良であると、そのことがレジ
スタ３５に格納される。

従つて、この一連のテストパターン列を被論理
試験回路１３へ１回供給すればそのテスト終了後
においてレジスタ２６及び３５の状態を調べるこ
とにより、例えばレジスタ２６がセツト状態にあ
れば、被試験論理回路１３には高レベル或いは低
レベルを正しく出力しないことが発生するおそれ
があることが判り、これについての不良解析を行
えば良い。又、レジスタ３５がセツト状態にあれ
ば、これは高インピーダンス出力状態について不
良が発生したことが判り、その為の不良解析を行
えば良い。これらのレジスタ２６，３５が共にリ
セツト状態になれば、被試験論理回路１３は正常
に動作するものであると判定され、レジスタ２
６，３５が共にセツト状態にあれば、その論理レ
ベルについて不良が発生し、かつ高インピーダン
ス出力状態についてのも不良が発生したことが判
り、それぞれについての不良解析を行えば良い。
なお第３図において端子１４の出力が斜線を施し
た領域にあれば正しい出力であり、斜線が施され
ていな領域にあればレジスタ２６，３５の何れか
のセツトされる。

また例えば高論理レベルVhよりも高い、又は
低論理レベルVlよりも低い電圧の範囲で被論理
回路の高インピーダンス出力状態についてテスト
を行う場合は、第３図に示す高論理レベルVh又
は低論理レベルVlの外側、つまり斜線を施した
範囲内のレベルで設定された高インピーダンス出
力状態設定用レベルVzh，Vzlをそれぞれ比較器
１７の第３、第４端子に与えればよい。

以上述べたように、この考案による論理回路試
験装置は１連のテストパターン列を被試験論理回
路に１回供給することによつて論理レベルについ
てのテストと、高インピーダンス出力状態につい
てのテストを行うことが出来、２回にわたるテス
トを行わないで良く、テスト時間が従来の試験装
置と比較して半分で済む。しかも高インピーダン
ス出力状態設定用レベルが、任意に設定できるた
め、高・低論理レベルと関係なく高インピーダン
ス出力状態のテストができる。又そのテストパタ
ーン列も従来の場合の半分で済み、パターンの作
成時間が短くなり、且つこれを記憶するメモリの
記憶容量も半分で済む。

【図面の簡単な説明】

第１図はテストパターン列の例を示す図、第２
図はこの考案による論理回路試験装置の一例を示
すブロツク図、第３図は論理レベルと高インピー
ダンス出力状態のレベルとの関係を示す図であ
る。 １１……テストパターン発生器、１２……テス
トパターン出力端子、１３……被試験論理回路、
１４……被試験論理回路の出力端子、１５……高
論理レベル用比較回路、１６……低論理レベル用
比較回路、１７……高インピーダンス出力用比較
器、１８……高レベル期待値出力端子、１９……
低レベル期待値出力端子、２１……高インピーダ
ンス出力状態期待値出力端子、２２……論理レベ
ル用比較器、２３，２７，３１，３２……比較
器、２６，３５……レジスタ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 被試験論理回路に試験パターンを与え、その被
   試験論理回路からの出力と、期待値とを比較する
   論理回路試験装置において、高論理レベルが与え
   られる第１端子と、低論理レベルが与えられる第
   ２端子とを有し、上記被試験論理回路の出力が高
   論理レベルか、低論理レベルかについて期待値と
   比較する第１比較器と、その第１比較器の比較結
   果が格納される第１レジスタと、高インピーダン
   ス出力状態設定用の第１、第２レベルがそれぞれ
   与えられる第３、第４端子を有し、上記被試験論
   理回路の出力が高インピ−ダンス出力状態である
   かについて期待値と比較する第２比較器と、その
   第２比較器の比較結果が格納される第２レジスタ
   とを具備する論理回路試験装置。