JPH04196530A - 処理装置 - Google Patents
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- JPH04196530A JPH04196530A JP2331311A JP33131190A JPH04196530A JP H04196530 A JPH04196530 A JP H04196530A JP 2331311 A JP2331311 A JP 2331311A JP 33131190 A JP33131190 A JP 33131190A JP H04196530 A JPH04196530 A JP H04196530A
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
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- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
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- H01L21/67167—Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers surrounding a central transfer chamber
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S134/902—Semiconductor wafer
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、処理装置に関し、特に複数の処理部にて被処
理体を連続して処理するための処理装置に関する。
理体を連続して処理するための処理装置に関する。
(従来の技術)
複数の処理部にて被処理体を連続して処理するための処
理装置として、例えば、半導体ウェハ製造装置における
ウェハ洗浄装置がある。
理装置として、例えば、半導体ウェハ製造装置における
ウェハ洗浄装置がある。
この半導体ウェハ製造装置における洗浄処理は、半導体
ウェハに対し例えばアンモニア処理、水洗処理、フッ酸
処理等を連続して施すようにしている。
ウェハに対し例えばアンモニア処理、水洗処理、フッ酸
処理等を連続して施すようにしている。
そのため、従来の洗浄装置は、アンモニア処理槽、水洗
処理槽、フッ酸処理槽等の複数の処理槽を一列線上に配
列し、被処理体である半導体ウェハを上記−列線上の処
理槽に沿って移動可能な搬送装置にて、各処理槽に搬送
供給するようにしていた。
処理槽、フッ酸処理槽等の複数の処理槽を一列線上に配
列し、被処理体である半導体ウェハを上記−列線上の処
理槽に沿って移動可能な搬送装置にて、各処理槽に搬送
供給するようにしていた。
(発明が解決しようとする課題)
上記従来の処理装置としての洗浄装置にあっては、複数
の処理槽を一列線上に配列していたため、複数の処理槽
を配列するための長手方向スペースが大きくなってしま
い、スペースの無駄かある上に、搬送装置も長い距離を
移動しなければならず、搬送装置の移動上の無駄があっ
た。
の処理槽を一列線上に配列していたため、複数の処理槽
を配列するための長手方向スペースが大きくなってしま
い、スペースの無駄かある上に、搬送装置も長い距離を
移動しなければならず、搬送装置の移動上の無駄があっ
た。
また、−列線上配置の複数の処理槽間でウェハの受け渡
しを行うために、各処理槽間に複数の直線搬送部を設け
た場合には、駆動部か多数あるためエネルギー効率が悪
化し、特に半導体製造装置の場合には塵の発生源となっ
て歩留まりが低下してしまう。一方、搬送部を共通化し
た場合にはスルーブツトが低下してしまう。
しを行うために、各処理槽間に複数の直線搬送部を設け
た場合には、駆動部か多数あるためエネルギー効率が悪
化し、特に半導体製造装置の場合には塵の発生源となっ
て歩留まりが低下してしまう。一方、搬送部を共通化し
た場合にはスルーブツトが低下してしまう。
そこで本発明は、複数の処理部を小さなスペース内に・
収めて省スペース化を図り、かつ搬送装置の移動上の無
駄をなくして被処理体の処理効率を向上させることので
きる処理装置を提供することを、その解決課題としてい
る。
収めて省スペース化を図り、かつ搬送装置の移動上の無
駄をなくして被処理体の処理効率を向上させることので
きる処理装置を提供することを、その解決課題としてい
る。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、被処理体を処理する複数の処理部に順次被処
理体を搬送供給して処理する処理装置において、 2以上の前記処理部を、前記被処理体搬送用の回転搬送
アームの受け渡し範囲内に面配置して1組の処理部群を
構成し、 隣接する各組の処理部群間で前記被処理体を搬送可能に
複数組の処理部群を連結したことを特徴と、する。
理体を搬送供給して処理する処理装置において、 2以上の前記処理部を、前記被処理体搬送用の回転搬送
アームの受け渡し範囲内に面配置して1組の処理部群を
構成し、 隣接する各組の処理部群間で前記被処理体を搬送可能に
複数組の処理部群を連結したことを特徴と、する。
(作 用)
本発明では、一つの回転搬送アームの周囲に2以上の処
理部を配置して1組の処理部群とし、各組の処理部群間
で被処理体を搬送可能に複数組を連結しているので、配
置スペースの長手距離か大幅に減少し、省スペース化を
達成できる。また、1組の処理部群に共通な回転搬送ア
ームを設けているので、回転搬送アームの搬送範囲を最
少限にして搬送効率を向上させているので、アームの共
通化により駆動源の数を低減して省エネルギー化を達成
しながらも、スルーブツトを低下することがない。
理部を配置して1組の処理部群とし、各組の処理部群間
で被処理体を搬送可能に複数組を連結しているので、配
置スペースの長手距離か大幅に減少し、省スペース化を
達成できる。また、1組の処理部群に共通な回転搬送ア
ームを設けているので、回転搬送アームの搬送範囲を最
少限にして搬送効率を向上させているので、アームの共
通化により駆動源の数を低減して省エネルギー化を達成
しながらも、スルーブツトを低下することがない。
さらに、各組の処理部群をユニット化しておくことて、
これを組合せることにより、各種の処理装置に適合した
数の処理部を容易に得ることが可能となり、汎用性を高
めることが可能となる。
これを組合せることにより、各種の処理装置に適合した
数の処理部を容易に得ることが可能となり、汎用性を高
めることが可能となる。
(実施例)
以下、本発明の処理装置を半導体ウエノ\製造装置 に
おける洗浄装置に適用した実施例について、図面を参照
して説明する。
おける洗浄装置に適用した実施例について、図面を参照
して説明する。
第1図において、本実施例の半導体ウェハの洗浄装置は
、3つの洗浄処理ユニット10,12゜14を組合せて
構成されている。また、搬入側の処理ユニット10には
ローダ16が接続され、搬出側の処理ユニット14には
アンローダ18が接続されており、さらに洗浄処理ユニ
ット10゜12問および洗浄処理ユニッ)12.14間
は、3ユニツトのいずれかに一体化された水中ローダ2
0で連結されている。
、3つの洗浄処理ユニット10,12゜14を組合せて
構成されている。また、搬入側の処理ユニット10には
ローダ16が接続され、搬出側の処理ユニット14には
アンローダ18が接続されており、さらに洗浄処理ユニ
ット10゜12問および洗浄処理ユニッ)12.14間
は、3ユニツトのいずれかに一体化された水中ローダ2
0で連結されている。
搬入側の洗浄処理ユニット10は、中心位置に半導体ウ
ェハ22搬送用の回転搬送アーム24を配設すると共に
、その周囲でローダ16の正面及び回転搬送アーム24
の左隣に各々2つの洗浄処理槽26.28を配設するよ
うにしている。本実施例においては、洗浄処理槽26は
アンモニア処理を行う薬品処理槽として用いられ、洗浄
処理槽281t7)C+5’i;あッ□□う、イ、y’
) 、i=’、’Jッ7(QDR)処理槽として用いら
れている。
ェハ22搬送用の回転搬送アーム24を配設すると共に
、その周囲でローダ16の正面及び回転搬送アーム24
の左隣に各々2つの洗浄処理槽26.28を配設するよ
うにしている。本実施例においては、洗浄処理槽26は
アンモニア処理を行う薬品処理槽として用いられ、洗浄
処理槽281t7)C+5’i;あッ□□う、イ、y’
) 、i=’、’Jッ7(QDR)処理槽として用いら
れている。
中央の洗浄処理ユニット12は、中心位置に配設した回
転搬送アーム24の周囲で左右両側に水中ローダ20を
位置させ、その間の前後位置に2つの洗浄処理槽30.
32を配設するようにしている。本実施例では、洗浄処
理槽30はフッ酸処理を行う薬品処理槽として用いられ
、洗浄処理槽32は水洗オーバーフロー処理槽として用
いられている。
転搬送アーム24の周囲で左右両側に水中ローダ20を
位置させ、その間の前後位置に2つの洗浄処理槽30.
32を配設するようにしている。本実施例では、洗浄処
理槽30はフッ酸処理を行う薬品処理槽として用いられ
、洗浄処理槽32は水洗オーバーフロー処理槽として用
いられている。
搬出側の洗浄処理ユニット14は、中心位置に配設した
回転搬送アーム24の周囲で、アンローダ18の正面側
に洗浄処理槽34を配設すると共に、回転搬送アーム2
4の右隣に乾燥処理槽36を配設するようにしている。
回転搬送アーム24の周囲で、アンローダ18の正面側
に洗浄処理槽34を配設すると共に、回転搬送アーム2
4の右隣に乾燥処理槽36を配設するようにしている。
本実施例では、洗浄処理槽34は水洗ファイナルリンス
槽として用いられている。
槽として用いられている。
また、上記各洗浄処理槽26.28.30゜32.34
及び水中ローダ20並びに乾燥処理槽36は、第6図及
び第10図に示すようにそれぞれウェハ22搬入出用の
開口部38を有するケース40内に配設した状態となっ
ている。そして、上記開口部38に、例えば2本のシリ
ンダー42にて上下動し上記開口部38を開閉するシャ
ッター44を配設すると共に、ケース40内の開口部上
方にエア吹出部46を設け、上記エア吹出部46から吹
き出されるエアカーテンとシャッター44にてケース4
0内と外部との雰囲気を遮断するようにしている。なお
、この場合ケース40の下部よりエアを吸込み、ケース
40内を大気圧よりも若干低い圧力に設定してケース4
0内の雰囲気が外部に漏れないように調節している。
及び水中ローダ20並びに乾燥処理槽36は、第6図及
び第10図に示すようにそれぞれウェハ22搬入出用の
開口部38を有するケース40内に配設した状態となっ
ている。そして、上記開口部38に、例えば2本のシリ
ンダー42にて上下動し上記開口部38を開閉するシャ
ッター44を配設すると共に、ケース40内の開口部上
方にエア吹出部46を設け、上記エア吹出部46から吹
き出されるエアカーテンとシャッター44にてケース4
0内と外部との雰囲気を遮断するようにしている。なお
、この場合ケース40の下部よりエアを吸込み、ケース
40内を大気圧よりも若干低い圧力に設定してケース4
0内の雰囲気が外部に漏れないように調節している。
ローダ16は、第2図に示すように例えば2つのキャリ
ア48上に載置された例えば各々25枚ずつの半導体ウ
ェハ22を、第3図に示す所謂オリフラ合せ機構49に
て半導体ウェハ22のオリエンテーションフラットの位
置合せを行った後、2つのキャリア48上の半導体ウェ
ハ22を第4図に示すようにして突き上げ棒51にて上
方に突き上げ、この突き上げ棒51を互に寄せ合った状
態にし、この状態で上記搬入側の搬送アーム24にて5
0枚の半導体ウェハ22のみをすくい上げるようにして
いる。なお、アンローダ18では、上記ローダ16と同
様の機構となっており、上記ローダ16と道順の処理が
なされるようになっている。
ア48上に載置された例えば各々25枚ずつの半導体ウ
ェハ22を、第3図に示す所謂オリフラ合せ機構49に
て半導体ウェハ22のオリエンテーションフラットの位
置合せを行った後、2つのキャリア48上の半導体ウェ
ハ22を第4図に示すようにして突き上げ棒51にて上
方に突き上げ、この突き上げ棒51を互に寄せ合った状
態にし、この状態で上記搬入側の搬送アーム24にて5
0枚の半導体ウェハ22のみをすくい上げるようにして
いる。なお、アンローダ18では、上記ローダ16と同
様の機構となっており、上記ローダ16と道順の処理が
なされるようになっている。
回転搬送アーム24は、第5図に示すように水平回転可
能、かつ伸縮可能な多関節のアーム本体50の先端に、
半導体ウェハ22載置用のウェハフォーク52を有し、
このウェハフォーク52上にキャリア48なしで、50
枚の半導体ウェハ22のみを直接に載置し、ローダ16
、洗浄処理槽26,28,30.32,34、水中ロー
ダ20、乾燥処理槽36及びアンローダ18間で半導体
ウェハ22を受渡しするようになっている。
能、かつ伸縮可能な多関節のアーム本体50の先端に、
半導体ウェハ22載置用のウェハフォーク52を有し、
このウェハフォーク52上にキャリア48なしで、50
枚の半導体ウェハ22のみを直接に載置し、ローダ16
、洗浄処理槽26,28,30.32,34、水中ロー
ダ20、乾燥処理槽36及びアンローダ18間で半導体
ウェハ22を受渡しするようになっている。
具体的には、ウニハフオーク52は、第8図に示すよう
に半導体ウェハ22を載置位置決めする多数の支持溝を
有する2本の平行な支持棒54を水平方向で移動可能に
有し、ローダ16、アンローダ18との間では、上記2
本の支持棒54間で上下動する突き上げ棒51から半導
体ウエノ\22を受け取り、あるいは上記突き上げ棒5
1に対して半導体ウェハ22を受け渡すようにしている
。
に半導体ウェハ22を載置位置決めする多数の支持溝を
有する2本の平行な支持棒54を水平方向で移動可能に
有し、ローダ16、アンローダ18との間では、上記2
本の支持棒54間で上下動する突き上げ棒51から半導
体ウエノ\22を受け取り、あるいは上記突き上げ棒5
1に対して半導体ウェハ22を受け渡すようにしている
。
また、水中ローダ20、洗浄処理槽26.28゜30.
32.34及び乾燥処理槽36との間では、第7図に示
すように各槽専用に設けられたボート56を上下動させ
ることにより、各槽専用のボート56から半導体ウェハ
22を受け取りあるいはボート56に対して半導体ウェ
ハ22を受け渡すようになっている。
32.34及び乾燥処理槽36との間では、第7図に示
すように各槽専用に設けられたボート56を上下動させ
ることにより、各槽専用のボート56から半導体ウェハ
22を受け取りあるいはボート56に対して半導体ウェ
ハ22を受け渡すようになっている。
各槽専用のボート56は、第9図に示すように半導体ウ
ェハ22を載置位置決めする多数の支持溝を有する3本
の平行な支持棒58を有し、アーム60によって上述の
ように上下動可能に支持されている。この3本の支持棒
58は、上記回転搬送アーム24のウェハフォーク52
の2本の支持棒54と干渉しない位置に設けられ、かつ
半導体ウェハ22の外形に沿うように配設されている。
ェハ22を載置位置決めする多数の支持溝を有する3本
の平行な支持棒58を有し、アーム60によって上述の
ように上下動可能に支持されている。この3本の支持棒
58は、上記回転搬送アーム24のウェハフォーク52
の2本の支持棒54と干渉しない位置に設けられ、かつ
半導体ウェハ22の外形に沿うように配設されている。
また、このボート56は、半導体ウェハ22を直接載置
位置決めするようになっており、キャリア48は使用し
ていない。そして、回転搬送アーム24のウェハフォー
ク52上に半導体ウェハ22を載置し、このウェハフォ
ーク52が開口部38より各槽内に入り込んだ状態で、
アーム60を伸ばしボート56を上昇させると、ウェハ
フォーク52上の半導体ウェハ22がボート56上に載
置されることとなる。逆に、ボート56上に半導体ウェ
ハ22を載置した状態で、ボート56を上昇させ、その
下に回転搬送アーム24のウェハフォーク52を挿入し
、ボート56を下降させればボート56上の半導体ウェ
ハ22が回転搬送アーム24のウェハフォーク52上に
載置されることとなる。また、上記ボート56を支持す
るアーム60は、上下動する駆動原で、塵埃を発生する
原因となる部分であり、しかも薬品を扱う槽内に設けら
れているので薬品によって腐食する虞があるため、筒を
複数層にして塵埃の外部への漏れを防止すると共に、筒
内部を陽圧にし、かつその外周カバー内を排気すること
により、槽内の薬品雰囲気がアーム60内に入り込んで
腐食させるのを防止するようにしている。
位置決めするようになっており、キャリア48は使用し
ていない。そして、回転搬送アーム24のウェハフォー
ク52上に半導体ウェハ22を載置し、このウェハフォ
ーク52が開口部38より各槽内に入り込んだ状態で、
アーム60を伸ばしボート56を上昇させると、ウェハ
フォーク52上の半導体ウェハ22がボート56上に載
置されることとなる。逆に、ボート56上に半導体ウェ
ハ22を載置した状態で、ボート56を上昇させ、その
下に回転搬送アーム24のウェハフォーク52を挿入し
、ボート56を下降させればボート56上の半導体ウェ
ハ22が回転搬送アーム24のウェハフォーク52上に
載置されることとなる。また、上記ボート56を支持す
るアーム60は、上下動する駆動原で、塵埃を発生する
原因となる部分であり、しかも薬品を扱う槽内に設けら
れているので薬品によって腐食する虞があるため、筒を
複数層にして塵埃の外部への漏れを防止すると共に、筒
内部を陽圧にし、かつその外周カバー内を排気すること
により、槽内の薬品雰囲気がアーム60内に入り込んで
腐食させるのを防止するようにしている。
次に、本実施例の作用を説明する。
まず、ローダ16に25枚ずつ半導体ウェハ22が載置
されたキャリア48が2つ搬送されてくると、オリフラ
機構49が動作してキャリア48内の半導体ウェハ22
を整列させる。次いで、突き上げ棒51が上方に作動し
てキャリア48をそのままに、半導体ウェハ22のみを
上方に取り出す。この後、上記突き上げ棒51が互に寄
合って50枚の半導体ウェハ22を等間隔で位置させる
。
されたキャリア48が2つ搬送されてくると、オリフラ
機構49が動作してキャリア48内の半導体ウェハ22
を整列させる。次いで、突き上げ棒51が上方に作動し
てキャリア48をそのままに、半導体ウェハ22のみを
上方に取り出す。この後、上記突き上げ棒51が互に寄
合って50枚の半導体ウェハ22を等間隔で位置させる
。
次に、回転搬送アーム24が作動して水平回転し、かつ
ローダ16方向に伸びて先端のウェハフォーク52を突
き上げ棒51の下側に位置させる。
ローダ16方向に伸びて先端のウェハフォーク52を突
き上げ棒51の下側に位置させる。
そして、突き上げ棒51が下降し、ウェハフォーク52
上に半導体ウェハ22が載置位置決めされる。
上に半導体ウェハ22が載置位置決めされる。
次いで、ウェハフォーク52上に半導体ウエノ122が
載置された状態で、回転搬送アーム24か水平回転し、
かつ伸縮して洗浄処理槽26のケース40開口部38か
ら半導体ウェハ22を洗浄処理槽26上に挿入位置させ
る。この状態で、洗浄処理槽26専用のボート56がア
ーム60により上昇すると、ウェハフォーク52上の半
導体ウェハ22がボート56上に載置位置決めされる。
載置された状態で、回転搬送アーム24か水平回転し、
かつ伸縮して洗浄処理槽26のケース40開口部38か
ら半導体ウェハ22を洗浄処理槽26上に挿入位置させ
る。この状態で、洗浄処理槽26専用のボート56がア
ーム60により上昇すると、ウェハフォーク52上の半
導体ウェハ22がボート56上に載置位置決めされる。
そして、回転搬送アーム24がケース40の開口部38
から外に出ると、開口部38のシャッター44が閉ると
共に、アーム60によりボート56が洗浄処理槽26内
に下降し、半導体ウェハ22を洗浄処理槽26内の洗浄
液に浸けて洗浄する。
から外に出ると、開口部38のシャッター44が閉ると
共に、アーム60によりボート56が洗浄処理槽26内
に下降し、半導体ウェハ22を洗浄処理槽26内の洗浄
液に浸けて洗浄する。
この場合、洗浄処理WJ26の雰囲気は、上記シャッタ
ー44及びエアー吹出し部46からのエアカーテンによ
って遮断され、かつケース40内が負圧にされているこ
とで外部への漏出が確実に防止されている。
ー44及びエアー吹出し部46からのエアカーテンによ
って遮断され、かつケース40内が負圧にされているこ
とで外部への漏出が確実に防止されている。
そして、洗浄終了後、上述の動作と逆の動作でボート5
6上の半導体ウェハ22を回転搬送アーム24のウェハ
フォーク52上に載置位置決めして、半導体ウェハ22
を洗浄処理槽26のケース40外へ取りだし、次の洗浄
処理槽28へと半導体ウェハ22を搬送するようにして
いる。50枚のウェハ22の洗浄処理槽28への搬送が
終了したら、この処理槽28ての処理中に、前記回転搬
送アーム24を用いて次の新たな50枚のウェハ22を
洗浄処理槽26に搬入可能となる。
6上の半導体ウェハ22を回転搬送アーム24のウェハ
フォーク52上に載置位置決めして、半導体ウェハ22
を洗浄処理槽26のケース40外へ取りだし、次の洗浄
処理槽28へと半導体ウェハ22を搬送するようにして
いる。50枚のウェハ22の洗浄処理槽28への搬送が
終了したら、この処理槽28ての処理中に、前記回転搬
送アーム24を用いて次の新たな50枚のウェハ22を
洗浄処理槽26に搬入可能となる。
このようにして搬入側の洗浄処理ユニット10による洗
浄処理が終了したら、搬入側の洗浄処理ユニット10と
中間の洗浄処理ユニット12との間に配した水中ローダ
20の専用のボート56に半導体ウェハ22が移され、
この水中ローダ56内を移動しつつ中間の洗浄処理ユニ
ット12側へと搬送される。
浄処理が終了したら、搬入側の洗浄処理ユニット10と
中間の洗浄処理ユニット12との間に配した水中ローダ
20の専用のボート56に半導体ウェハ22が移され、
この水中ローダ56内を移動しつつ中間の洗浄処理ユニ
ット12側へと搬送される。
中間の洗浄処理ユニット12ては、回転搬送アーム24
が水中ローダ56より半導体ウェハ22を受け取り、洗
浄処理槽30に搬送してフッ酸洗浄処理を行い、さらに
洗浄処理槽32に搬送して水洗オーバーフロー処理を行
い、その後中間の洗浄処理ユニット12と搬出側の洗浄
処理ユニット14との間に配した水中ローダ56に搬送
して搬出側の洗浄処理ユニット14側に移行させるよう
になっている。
が水中ローダ56より半導体ウェハ22を受け取り、洗
浄処理槽30に搬送してフッ酸洗浄処理を行い、さらに
洗浄処理槽32に搬送して水洗オーバーフロー処理を行
い、その後中間の洗浄処理ユニット12と搬出側の洗浄
処理ユニット14との間に配した水中ローダ56に搬送
して搬出側の洗浄処理ユニット14側に移行させるよう
になっている。
搬出側の洗浄処理ユニット14では、回転搬送アーム2
4が水中ローダ56より半導体ウェハ22を受け取り、
洗浄処理+!34に搬送してファイナルリンスを行ない
、さらに乾燥処理I!36に搬送して乾燥処理を行い、
その後アンローダ18に搬送し、このアンローダ18に
て半導体ウェハ22の25枚ずつの分割、オリフラ合せ
を行い、半導体ウェハ22を2つのキャリア48に載置
して搬出するようにしている。
4が水中ローダ56より半導体ウェハ22を受け取り、
洗浄処理+!34に搬送してファイナルリンスを行ない
、さらに乾燥処理I!36に搬送して乾燥処理を行い、
その後アンローダ18に搬送し、このアンローダ18に
て半導体ウェハ22の25枚ずつの分割、オリフラ合せ
を行い、半導体ウェハ22を2つのキャリア48に載置
して搬出するようにしている。
このように、回転搬送アーム24の周囲に複数の洗浄処
理槽26.28.30,32.34及び乾燥処理槽36
を面配置することにより、−列線上に配置するものと比
較して洗浄処理装置をコンパクトに収めて、配設スペー
スを小さくし、省スペース化を図ることが可能となる。
理槽26.28.30,32.34及び乾燥処理槽36
を面配置することにより、−列線上に配置するものと比
較して洗浄処理装置をコンパクトに収めて、配設スペー
スを小さくし、省スペース化を図ることが可能となる。
また、半導体ウェハ22の搬送機構として回転搬送アー
ム24を採用することにより、搬送機構を移動させるこ
となく、効率よく半導体ウェハ22を搬送することか可
能となる。
ム24を採用することにより、搬送機構を移動させるこ
となく、効率よく半導体ウェハ22を搬送することか可
能となる。
さらに、各処理ユニット10,12.14間に水中ロー
ダ20を用いた例について説明したか、この例に限らず
、隣接する各ユニットの2つの回転搬送アーム24が受
け渡しできる位置に、他の処理槽を配置することもでき
る。
ダ20を用いた例について説明したか、この例に限らず
、隣接する各ユニットの2つの回転搬送アーム24が受
け渡しできる位置に、他の処理槽を配置することもでき
る。
なお、上記実施例においては、2つのキャリア48に載
置された50枚の半導体ウェハ22を一度に処理する場
合について説明したが、この例に限らず1つのキャリア
48上の25枚の半導体ウェハ22を一度に処理するよ
うにしてもよいし、被処理体の種類によってはバッチ処
理に限らず単数枚の処理を行うものでも良い。
置された50枚の半導体ウェハ22を一度に処理する場
合について説明したが、この例に限らず1つのキャリア
48上の25枚の半導体ウェハ22を一度に処理するよ
うにしてもよいし、被処理体の種類によってはバッチ処
理に限らず単数枚の処理を行うものでも良い。
また、3つの処理ユニット10.12.14を組合せる
ようにしているが、組合せの個数は任意に変更すること
ができる。特に、本実施例のように面配置される処理槽
を各組錘にユニット化しておくことで、半導体製造メー
カの各種要求に答える処理槽の必要数を容易に実現でき
る。
ようにしているが、組合せの個数は任意に変更すること
ができる。特に、本実施例のように面配置される処理槽
を各組錘にユニット化しておくことで、半導体製造メー
カの各種要求に答える処理槽の必要数を容易に実現でき
る。
なお、本発明は半導体ウェハの洗浄処理装置に適用され
るものではなく、連続処理すべき複数の処理部を備えた
各種処理装置に適用できることはいうまでもない。
るものではなく、連続処理すべき複数の処理部を備えた
各種処理装置に適用できることはいうまでもない。
上記実施例では半導体ウェハの洗浄について説明したが
、液体処理であれば、LCD基板プリント基板など何れ
の工程にも通用できる。
、液体処理であれば、LCD基板プリント基板など何れ
の工程にも通用できる。
[発明の効果コ
以上説明したように、本発−明の処理装置は、回転搬送
アームの周囲に2以上の処理部を面配置して1組の処理
部群を構成し、隣接する各組処理部間で被処理体の搬送
を可能とするように複数組の処理部群を連結しているの
で、省スペース化が達成できると共に、少ない搬送駆動
源でありながら回転搬送アームの最小限の動きで効率よ
く搬送でき、短時間でかつ処理効率を高めることができ
るという効果がある。
アームの周囲に2以上の処理部を面配置して1組の処理
部群を構成し、隣接する各組処理部間で被処理体の搬送
を可能とするように複数組の処理部群を連結しているの
で、省スペース化が達成できると共に、少ない搬送駆動
源でありながら回転搬送アームの最小限の動きで効率よ
く搬送でき、短時間でかつ処理効率を高めることができ
るという効果がある。
さらに、各組の処理部群をユニット化しておけば、これ
を組合せることにより、各種の処理装置に適合した数の
処理装置を容易に得ることができ、汎用性を高めること
ができるという効果がある。
を組合せることにより、各種の処理装置に適合した数の
処理装置を容易に得ることができ、汎用性を高めること
ができるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例に係る処理装置の全体的構成
を示す平面図、 第2図は第1図のローダ部分を示す平面図、第3図は第
2図のオリフラ合せ機構を示す断面図、 第4図(a)、(b)は第2図の突き上げ棒の作動状態
を示す断面図、 第5図は第1図の入側の処理ユニットを示す拡の状態を
示す斜視図、 第7図は従アームとボートの状態を示す側′面図、第8
図(a)はウェハフォークの平面図、同図(b)はその
側面図、同図(c)は同図(b)のA−A線部分断面図
、 第9図(a)はボートの側面図、同図(b、)はその正
面図、同図(c)は同図(b)のB−B線部分断面図、 第10図はシャッター及びエアカーテン部分を示す斜視
図、 第11図は第10図の開口部横断面図である。 10.12.14・・・洗浄処理ユニット、22・・・
半導体ウェハ、24・・・回転搬送アーム、26.28
,30,32.34・・・洗浄処理槽、36・・・乾燥
処理槽。 代理人 弁理士 井 上 −(他1名)第 2
図 第3図 (b) 第6図 第7図 第 8 図 第 10 図 第11図
を示す平面図、 第2図は第1図のローダ部分を示す平面図、第3図は第
2図のオリフラ合せ機構を示す断面図、 第4図(a)、(b)は第2図の突き上げ棒の作動状態
を示す断面図、 第5図は第1図の入側の処理ユニットを示す拡の状態を
示す斜視図、 第7図は従アームとボートの状態を示す側′面図、第8
図(a)はウェハフォークの平面図、同図(b)はその
側面図、同図(c)は同図(b)のA−A線部分断面図
、 第9図(a)はボートの側面図、同図(b、)はその正
面図、同図(c)は同図(b)のB−B線部分断面図、 第10図はシャッター及びエアカーテン部分を示す斜視
図、 第11図は第10図の開口部横断面図である。 10.12.14・・・洗浄処理ユニット、22・・・
半導体ウェハ、24・・・回転搬送アーム、26.28
,30,32.34・・・洗浄処理槽、36・・・乾燥
処理槽。 代理人 弁理士 井 上 −(他1名)第 2
図 第3図 (b) 第6図 第7図 第 8 図 第 10 図 第11図
Claims (2)
- (1)被処理体を処理する複数の処理部に順次被処理体
を搬送供給して処理する処理装置において、2以上の前
記処理部を、前記被処理体搬送用の回転搬送アームの受
け渡し範囲内に面配置して1組の処理部群を構成し、 隣接する各組の処理部群間で前記被処理体を搬送可能に
複数組の処理部群を連結したことを特徴とする処理装置
。 - (2)請求項1において、各組の処理槽群をユニット化
したことを特徴とする処理装置。(3)請求項1または
2において、処理部群の少なくとも1つの雰囲気を減圧
雰囲気にしたことを特徴とする処理装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33131190A JP3162704B2 (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | 処理装置 |
US07/791,137 US5213118A (en) | 1990-11-28 | 1991-11-13 | Treatment apparatus |
KR1019910020992A KR0167479B1 (ko) | 1990-11-28 | 1991-11-23 | 처리장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33131190A JP3162704B2 (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | 処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04196530A true JPH04196530A (ja) | 1992-07-16 |
JP3162704B2 JP3162704B2 (ja) | 2001-05-08 |
Family
ID=18242267
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33131190A Expired - Fee Related JP3162704B2 (ja) | 1990-11-28 | 1990-11-28 | 処理装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5213118A (ja) |
JP (1) | JP3162704B2 (ja) |
KR (1) | KR0167479B1 (ja) |
Cited By (3)
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---|---|---|---|---|
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US7314345B2 (en) | 1999-07-27 | 2008-01-01 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor container opening/closing apparatus and semiconductor device manufacturing method |
JP2012186289A (ja) * | 2011-03-04 | 2012-09-27 | Tech In Tech Co Ltd | 基板処理装置 |
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EP0898301B1 (en) | 1997-08-18 | 2006-09-27 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for cleaning both sides of a substrate |
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US20210407824A1 (en) | 2020-06-30 | 2021-12-30 | Applied Materials, Inc. | Spm processing of substrates |
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-
1990
- 1990-11-28 JP JP33131190A patent/JP3162704B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-11-13 US US07/791,137 patent/US5213118A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-11-23 KR KR1019910020992A patent/KR0167479B1/ko not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR920010783A (ko) | 1992-06-27 |
US5213118A (en) | 1993-05-25 |
JP3162704B2 (ja) | 2001-05-08 |
KR0167479B1 (ko) | 1999-02-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |