JPH04176285A - 時間軸補正装置 - Google Patents

時間軸補正装置

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Publication number
JPH04176285A
JPH04176285A JP2305116A JP30511690A JPH04176285A JP H04176285 A JPH04176285 A JP H04176285A JP 2305116 A JP2305116 A JP 2305116A JP 30511690 A JP30511690 A JP 30511690A JP H04176285 A JPH04176285 A JP H04176285A
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JP
Japan
Prior art keywords
circuit
output
delay
time axis
clock
Prior art date
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Pending
Application number
JP2305116A
Other languages
English (en)
Inventor
Tokuji Kuroda
篤司 黒田
Takeshi Otsuka
健 大塚
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2305116A priority Critical patent/JPH04176285A/ja
Publication of JPH04176285A publication Critical patent/JPH04176285A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Television Signal Processing For Recording (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、再生映像信号に含まれる時間軸変動を除去す
る時間軸補正装置に関するものである。
従来の技術 従来の時間軸補正装置について第3図を参照しながら説
明する。
VTR等の再生映像信号の時間軸変動を除去するために
、同期信号分離回路2は再生映像信号1から水平同期信
号あるいはバースト信号等の基準信号を抜き出し、AF
C回路(自動周波数制御回路)、APC回路(自動位相
制御回路)等から構成される書き込みクロック発生回路
3は、再生映像信号1の水平同期信号あるいはバースト
信号に位相同期した書き込みクロック信号19を発生す
る。そして書き込みクロック信号19によって再生映像
信号1をA/D変換回路12においてA/D変換し、書
き込みクロック信号19をクロックとしてメモリ13に
書き込む。書き込みクロック信号19は再生信号の水平
同期信号あるいはバースト信号に位相同期しているため
、再生映像信号1に含まれる時間軸変動はメモリ13に
書きこまれた時点である程度除去される。しかしながら
、時間軸誤差は再生信号から分離した水平同期信号ある
いはバースト信号を用いて検出されるので、1水平走査
期間毎にしか時間軸誤差の検出が行えないため、1水平
走査期間内における時間軸変動は残るこ、とになる。特
に、テープとヘッドが接触するときに生じる大きな時間
軸変動が除去されないで残ってしまう。そこで、次に示
す手順によって1水平走査期間内における時間軸変動が
除去される。
すなわち、H長さ検出用パルス発生回路4は1水平走査
期間の長さを計測するために、同期信号分離回路2で分
離された水平同期信号あるいはバースト信号を基準とし
て、1水平走査期間長より若干短いパルスを発生する。
そして、第1の遅延回路5はシフトレジスタ等で構成さ
れ、H長さ検出回路4の出力を1クロツク単位で遅延し
、複数相のパルスをつくる。第2の遅延回路17は第1
の遅延回路5の複数相の出力をゲート遅延する。
第2の遅延回路17の構成例を第4図に示す。第2の遅
延回路17には第4図に示すようにそれぞれ1クロツク
ずつ遅れたパルスが入力され、それぞれはゲート遅延さ
れる。そして、第4図に示す遅延回路のそれぞれのゲー
トの出力を、同期信号分離回路2によって分離された水
平同期信号あるいはバースト信号のタイミングでラッチ
することにより、1水平走査期間長が1クロツク周期よ
りもさらに高い精度で計測できる。時間軸誤差検出回路
18は第2の遅延回路17において計測された1水平走
査期間長と基準値との差をとることにより時間軸誤差を
検出する。基準クロック発生回路9は外部入力同期信号
10に同期した基準クロックを発生し、位相変調回路1
1は1水平走査期間内での時間軸誤差を補正するために
基準クロック発生回路9の出力を位相変調し、読み出し
クロック20を得る。映像信号は読み出しクロック2、
Oをクロックとしてメモリ13から読み出され、D/A
変換回路14てD/A変換される。映像信号は1水平走
査期間内での時間軸誤差を補正するように変調された読
み出しクロック20でD/A変換されるため、D/A変
換された映像信号は、■水平走査期間内での時間軸誤差
も除去されたものとなる。
発明が解決しようとする課題 しかしながら上記従来の方法では、1水平走査期間長の
検出を行うとき、クロック周期より小さな時間の測定は
、第4図に示すようなゲート遅延で行うため、温度や素
子のばらつきにより測定される1水平走査期間長に大き
なばらつきがあった。
なぜなら、第2の遅延回路17は同期信号のタイミング
と最も一致するゲートの番号を出力し、次段の時間軸誤
差検出回路18は第2の遅延回路17の出力と基準値上
の差をとるだけなので、特に、例えば第4図において各
相が1クロツク周期内に通過できるゲートの数が温度等
の理由によりばらつくと、大きな誤差を生じてしまう。
本発明は、温度や素子のばらつきがあっても、時間軸誤
差を正確に測定し、時間軸誤差を正確に補正することを
技術的課題とする。
課題を解決するための手段 上記の課題を解決するために本発明の時間軸補正装置は
、時間軸変動を含む再生映像信号から水平同期信号ある
いはバースト信号を分離する同期信号分離回路と、前記
同期信号分離回路の出力を用いて1水平走査期間長を検
出するために再生映像信号の1水平走査期間よりも少し
短いパルスを発生するH長さ検出用パルス発生回路と、
前記H長さ検出用パルス発生回路の出力を1クロツタ単
位で遅延し複数のパルスを作る第1の遅延回路と、前記
第1の遅延回路の複数の出力をそれぞれゲート遅延する
第2の遅延回路と、前記第2の遅延回路の各段の1クロ
ツタ期間内の遅延段数を検出する遅延段数検出回路と、
前記第2の遅延回路の出力と前記遅延段数検出回路の出
力を用い、適応的に時間軸誤差を検出する適応型時間軸
誤差検出回路と、外部から入力される同期信号から基準
クロックを発生する基準クロック発生回路と、前記適応
型時間軸誤差検出回路の出力を用い前記基準クロック発
生回路の出力を位相変調する位相変調回路と、前記同期
信号分離回路の出力を用いメモリ書き込みクロックを作
る書き込みクロック発生回路と、前記再生映像信号をア
ナログディジタル変換するA/D変換回路と、前記A/
D変換回路の出力を記憶するメモリと、前記位相変調回
路の出力をクロックとして前記メモリから読み出された
映像信号をディジタルアナログ変換するD/A変換回路
とによって構成される。
作用 本発明によって、温度や素子のばらつきがあっても、時
間軸誤差を正確に測定することができ、その結果、時間
軸誤差を正確に補正することが可能となった。また、従
来ゲート遅延回路を用いた長さ測定回路のLSI化は、
素子のばらつきゃ温度特性等の理由によって不可能であ
ったが、本発明によりLSI化が可能となった。
実施例 以下、本発明の時間軸補正装置の実施例について説明す
る。第1図は本発明の実施例を示したブロック図である
。以下、第1図を参照しながら説明する。同期信号分離
回路2は再生映像信号1がら水平同期信号あるいはバー
スト信号等を分離する。書き込みクロック発生回路3は
AFC回路(自動周波数制御回路)、APC回路(自動
位相制御回路)等から構成され、再生映像信号の水平同
期信号あるいはバースト信号に位相同期した書き込みク
ロック15を発生する。H長さ検出用パルス発生回路4
は1水平走査期間の長さを計測するために、同期信号分
離回路2て分離された水平同期信号あるいはバースト信
号を基準として、1水平走査期間長より若干短いパルス
を発生する。そして、第1の遅延回路5はンフトレジス
タ等で構成され、H長さ検出用パルス発生回路4の出力
を1クロツタ単位で遅延し、複数相のパルスを作る。
第2の遅延回路6は前記第1の遅延回路5の複数相の出
力をゲート遅延する。第2の遅延回路6および遅延段数
検出回路7の構成例を第2図に示す。
第2の遅延回路6には第2図に示すようにそれぞれ1ク
ロツタずつ遅れたパルスが入力され、それぞれはゲート
遅延される。そして、第2図に示す遅延回路のそれぞれ
のゲートの出力を同期信号分離回路2によって分離され
た水平同期信号あるいはバースト信号のタイミングでラ
ンチし比較する。
遅延段数検出回路7は第2の遅延回路6の各相の一〇− 遅延段数を検出する。これには、例えば第2図において
、A相の遅延段数はA相の各ゲートの出力をB相の入力
パルスによってラッチし比較することによって行われる
。そして、適応型時間軸誤差検出回路8はROM等によ
って構成され、第2の遅延回路6の出力と遅延段数検出
回路7の出力とによって正確に時間軸誤差を検出する。
例えば、第2図において、同期信号分離回路2によって
分離された水平同期信号あるいはバースト信号のタイミ
ングがA相の第4段目の出力と最も近いとき、A相の1
クロツタ以内に通過するゲート数がN個であるとすると
、検出される時間はA相の開始時間+1クロック周期*
4/Nと正確に求められる。この値と基準値との差が時
間軸誤差となる。基準クロック発生回路9は外部入力同
期信号10に同期した基準クロックを発生し、位相変調
回路11は基準クロック発生回路9の出力を適応型時間
軸誤差検出回路8の出方に応じて変調し、読み出しクロ
ック16を発生する。
A/D変換回路12は書き込みクロック発生回路IO− 3で発生した書き込みクロック15で再生映像信号1を
A/D変換し、A/D変換された映像信号はメモリ13
に書き込まれる。そして、映像信号は、読み出しクロッ
ク16でメモリ13から読み出され、D/A変換回路1
4によってD/A変換される。D/A変換された映像信
号は1水平走査期間内においても、時間軸誤差が除去さ
れたものとなる。
発明の効果 本発明によって、温度や素子のばらつきがあっても、時
間軸誤差を正確に測定することができ、その結果、時間
軸誤差を正確に補正することが可能となった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例における時間軸補正装置の構成
を示したブロック図、第2図は第1図の第2の遅延回路
と遅延段数検出回路の構成を示したブロック図、第3図
は従来例の時間軸補正装置の構成を示したブロック図、
第4図は第3図の第2の遅延回路の内部構成例を示した
ブロック図である。 4・・・H長さ検出用パルス発生回路、  5・・・第
1の遅延回路、  6・・・第2の遅延回路、  7・
・・遅延段数検出回路、訃・・適応型時間軸誤差検出回
路、11・・・位相変調回路。 代理人の氏名 弁理士 小鍜冶 明 ばか2名第4図 入力へ°ノしス イCLK  ICLK 6不H :栓 牧         挾

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 時間軸変動を含む再生映像信号から水平同期信号あるい
    はバースト信号を分離する同期信号分離回路と、 前記同期信号分離回路の出力を用いて1水平走査期間長
    を検出するために再生映像信号の1水平走査期間よりも
    少し短いパルスを発生するH長さ検出用パルス発生回路
    と、 前記H長さ検出用パルス発生回路の出力を1クロック単
    位で遅延し、複数のパルスを作る第1の遅延回路と、 前記第1の遅延回路の複数の出力をそれぞれゲート遅延
    する第2の遅延回路と、 前記第2の遅延回路の各段の1クロック期間内の遅延段
    数を検出する遅延段数検出回路と、前記第2の遅延回路
    の出力と前記遅延段数検出回路の出力を用いて適応的に
    時間軸誤差を検出する適応型時間軸誤差検出回路と、 外部から入力される同期信号から基準クロックを発生す
    る基準クロック発生回路と、 前記適応型時間軸誤差検出回路の出力を用い前記基準ク
    ロック発生回路の出力を位相変調する位相変調回路と、 前記同期信号分離回路の出力を用いメモリ書き込みクロ
    ックを作る書き込みクロック発生回路と、前記再生映像
    信号をアナログディジタル変換するA/D変換回路と、 前記A/D変換回路の出力を記憶するメモリと、前記位
    相変調回路の出力をクロックとして前記メモリから読み
    出された映像信号をディジタルアナログ変換するD/A
    変換回路とを具備してなる時間軸補正装置。
JP2305116A 1990-11-09 1990-11-09 時間軸補正装置 Pending JPH04176285A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014233873A (ja) * 2013-05-31 2014-12-15 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 画像処理装置、画像形成装置、駆動パルス生成方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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