JPH0417134A - 光ディスク - Google Patents

光ディスク

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Publication number
JPH0417134A
JPH0417134A JP2120076A JP12007690A JPH0417134A JP H0417134 A JPH0417134 A JP H0417134A JP 2120076 A JP2120076 A JP 2120076A JP 12007690 A JP12007690 A JP 12007690A JP H0417134 A JPH0417134 A JP H0417134A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disk
thermal expansion
protective layer
substrate
resin protective
Prior art date
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Pending
Application number
JP2120076A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuo Hosokawa
哲夫 細川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2120076A priority Critical patent/JPH0417134A/ja
Publication of JPH0417134A publication Critical patent/JPH0417134A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は光を用いて情報の記録、再生または消去を行な
う光ディスクに関する。
[従来の技術] 従来の光ディスクはメモリ方式の違いによつって再生専
用型、追加記録型、書き換え型の3種類に大別される。
再生専用型の片面使用光ディスクの基本的な構成はプラ
スチック基板の上にアルミニウム反射膜を積層し、この
上に樹脂保護層をコーティングするものである。追加記
録型、書き換え型ではアルミニウム反射膜の代りに記録
膜が積層される。
書き換え型の光磁気ディスクは例えば、第3図のように
構成されている。エポキシ樹脂等のプラスチック基板(
1)上に非晶質膜材料等の光磁気記録膜(3)を積層し
、該記録膜の酸化劣化を防ぐため、この上にS、+O、
SI3N4などの誘電体保護層(2)を積層する。さら
にその上に紫外線硬化樹脂等の樹脂保護層(6)を形成
する。
その他の構造としては、第4図に示すように、誘電体保
護層(2)の上にさらに接着層を介して案内溝付き基板
(1)と同一材料のダミー板(lo)を保護層としては
り合わせるような構造がある。
[発明か解決しようとする課題] 通常の光デイスクドライブ装置内では第5図のように、
ディスク装着部下部には非常に大きな発熱源となるディ
スク回転モーター、ビック・アップ・ヘッドポジショナ
等かある。また、ドライブ装置をコンパクトにするため
隙間部を少なくしであるのでモーター等の熱かディスク
に伝わりやすくなっている。したがって一般にドライブ
作動時にはモーターに対向するディスク面が反対側の面
に比へ高温となる。特に、長時間ドライブを使用した場
合にこの傾向は顕著なものとなる。このような環境に光
ディスクがおかれると、ディスク上面と下面で温度差か
生じる結果、上下面で熱による膨張量に差が生しく下部
の方が熱膨張量が大きい)、ディスクに反りが生じてし
まうという問題が発生ずる。特に、OA用クシステムに
使用される大直径のディスクでは大きな反りが生じる。
ディスクの反りが増大すると、トラッキングエラー信号
にオフセットが生しるため制御が不安定となり、最悪の
場合はトラッキングはずれを起してしまうこともありえ
る。特に光ディスクを情報の書き込みに用いるような場
合には高精度のトラッキングか要求されるので大きな問
題となる。
本発明は温度勾配のあるドライブ内においても大きな反
りが生しることなく安定にトラッキング制御ができるよ
うな光ディスクを提供することを目的としたものである
[課題を解決するための手段] 本発明に係る光ディスクはプラスチック基板と、該基板
上に積層した記録膜または反射膜と、該記録膜または反
射膜上に積層した樹脂保護層からなるものであって、上
記課題を達成するために、前記基板と前記樹脂保護層の
うち、ディスク回転モーターに対向する側を低い熱膨張
係数の材料で構成し、反対側を高い熱膨張係数の材料て
構成したものである。
[作用] 本発明の光ディスクにおいては、プラスチック基板と樹
脂保護層のうち、ディスク回転モーターに対向する側を
反対側よりも低い熱膨張係数の材料で構成したため、光
デイスクドライブ作動時にディスク回転モーターに対向
するディスク面が、他のディスク面よりも高温となった
場合でも上記プラスチック基板と樹脂保護層の熱膨張量
が路数するため、反りか生じにくく、安定にトラッキン
グ制御ができるようになる。
[実施例] 実施例1 第1図は本発明の実施例1て用いた光磁気ディスクの断
面図である。(1)は1.2mm厚のポリカーボネート
基板であり、熱膨張係数は6.OX 1O−5(/で)
で片面にトラッキング用の溝が設けられている。その上
に膜厚1000人の窒化シリコン膜(2)、膜厚700
人のTbFeCo光磁気記録膜(3)、膜厚1000人
の窒化シリコン膜(2)の三層をスパッタリングにて順
次積層し、その上に接着剤(4)を介して熱膨張係数1
5xlO−5(/l) 、膜厚500μmのポリエステ
ル樹脂板(5)を樹脂保護層として貼りあわせた。
上述のように作成した光ディスクを動作を停止しておい
た通常の光デイスク用ドライブ装置に装着し、ディスク
回転モーターを作動させた。木実施例では(1)のポリ
カーボネート基板がモータに対面し、この基板側からレ
ーザー光が入射し、情報の記録再生動作が行なわれる。
記録再生動作開始直後に、上記ドライブ装置からのプッ
シュプル方式によるトラッキングエラー信号出力を観測
し、そのオフセット量を測定したところ3%であった。
ここでトラッキングエラーオフセット量とは第6図で示
すトラッキングエラー信号出力におけるA−B 1/ 
(A+B)X100(利で定義する。
さらに、上記記録再生動作を20時間連続させた後に同
様にトラッキングエラー信号を観測し、そのオフセット
量を測定したところ4%であった。
実施例2 熱膨張係数16 X 1O−5(/”C) 、膜厚50
0μmのポリアミド樹脂板(5)を樹脂保護層として用
いた以外は実施例1と同様の方法で第2図に示すディス
クを作成した。このとき、記録再生動作開始直後の、ト
ラッキングエラーオフセット量は3%であった。また、
記録再生動作を2.0時間連続させた後のトラッキング
エラーオフセット量は4%であった。
比較のために、ポリカーボネート基板と同一材料、同一
膜厚のポリカーボネート板を樹脂保護層として貼り合わ
せたディスクを作成し、前述した条件で試験したところ
記録再生動作開始直後の、上記ドライブ装置からのトラ
ッキングエラーオフセット量は3%で、記録再生動作を
20時間連続させた後のトラッキングエラーオフセット
量は8%てあった。
なお、本試験におりるドライブ装置では記録再生動作時
に光ディスクの上下面で約5℃の温度差かあった。
[発明の効果] 以上のように本発明の光ディスクは、プラスチック基板
と樹脂保護層のうち、ディスク回転モーターに対向する
側を低い熱膨張係数の材料で構成し、反対側を高い熱膨
張係数の材料で構成したため、ドライブ作動時にディス
クのモーター側の温度が反対側よりも高くなった場合で
も、ディスクの上下両面での熱膨張量か略一致するため
反りが生しにくく、安定にトラッキング制御できるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の光磁気ディスクの断面
図、第2図は本発明の第2の実施例の光磁気ディスクの
断面図、第3図、第4図は従来例のディスクの断面図、
第5図は一般的なドライブ内構造略図、第6図はトラッ
キングエラーオフセット量を説明する図である。 [主要部分の符号の説明] 1・・・・光透過性ポリカーボネート基板2・・・・窒
化シリコン膜 3・・・・光磁気記録膜 4・・・・接着剤層 5・・・・プラスチックフィルムまたは板6・・・・樹
脂保護層

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 プラスチック基板と、該基板上に積層した記録膜または
    反射膜と、該記録膜または反射膜上に積層した樹脂保護
    層からなる片面使用の光ディスクにおいて、 前記基板と前記樹脂保護層のうち、ディスク回転モータ
    ーに対面する側を低い熱膨張係数の材料で構成し、反対
    側を高い熱膨張係数の材料で構成したことを特徴とする
    光ディスク。
JP2120076A 1990-05-11 1990-05-11 光ディスク Pending JPH0417134A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2120076A JPH0417134A (ja) 1990-05-11 1990-05-11 光ディスク

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2120076A JPH0417134A (ja) 1990-05-11 1990-05-11 光ディスク

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0417134A true JPH0417134A (ja) 1992-01-21

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ID=14777309

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2120076A Pending JPH0417134A (ja) 1990-05-11 1990-05-11 光ディスク

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0417134A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9779780B2 (en) 2010-06-17 2017-10-03 Teradyne, Inc. Damping vibrations within storage device testing systems
US11754622B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Thermal control system for an automated test system
US11754596B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Test site configuration in an automated test system
US11867749B2 (en) 2020-10-22 2024-01-09 Teradyne, Inc. Vision system for an automated test system
US11899042B2 (en) 2020-10-22 2024-02-13 Teradyne, Inc. Automated test system
US11953519B2 (en) 2020-10-22 2024-04-09 Teradyne, Inc. Modular automated test system

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9779780B2 (en) 2010-06-17 2017-10-03 Teradyne, Inc. Damping vibrations within storage device testing systems
US11754622B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Thermal control system for an automated test system
US11754596B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Test site configuration in an automated test system
US11867749B2 (en) 2020-10-22 2024-01-09 Teradyne, Inc. Vision system for an automated test system
US11899042B2 (en) 2020-10-22 2024-02-13 Teradyne, Inc. Automated test system
US11953519B2 (en) 2020-10-22 2024-04-09 Teradyne, Inc. Modular automated test system

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