JPH0414705A - 透明導電膜およびその製造方法 - Google Patents

透明導電膜およびその製造方法

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JPH0414705A
JPH0414705A JP11812490A JP11812490A JPH0414705A JP H0414705 A JPH0414705 A JP H0414705A JP 11812490 A JP11812490 A JP 11812490A JP 11812490 A JP11812490 A JP 11812490A JP H0414705 A JPH0414705 A JP H0414705A
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JP
Japan
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film
transparent conductive
conductive film
transparent
laser
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Application number
JP11812490A
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English (en)
Inventor
Naganari Matsuda
修成 松田
Seiji Izeki
清司 伊関
Tadahito Kanaizuka
唯人 金井塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyobo Co Ltd
Original Assignee
Toyobo Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本究明は、透明かつ低抵抗な透明高分子フィルムLの導
電膜とその製造方法に関する。
(従来の技術) ガラス或は、プラスチック基材、高分子フイルムトに透
明かつ低抵抗な酸化物を付着させた透明導電膜は、その
導電性を利用した用途、例えば、液晶デイスプレィ、E
Lデイスプレィといったフラットデイスプレィや、太陽
電池等の透明電極、ブラウン管の窓の透明静電、或は、
電磁シールド板、発熱体等の電気、電子分野の用途に広
く利用されている。又、このような酸化物透明導電膜の
中で、選択透過性を有するものは、その赤外光反射特性
を利用して、太陽エネルギー利用のためのコレクター用
窓材や建物、自動車等の熱線反射材としても、利用され
ている。
これらの透明導電膜としては、通常、酸化すす(SnO
□)、酸化インジウム(ln2o、J)或は酸化亜鉛(
ZnO)を中心としたものが一般的であり、真空蒸着法
、スパッター法、CVD法、スプレー法等により作成で
きることが知られている。これらの酸化物膜は、厳密な
作成条件とすることで、実用可能な特性(表面抵抗数Ω
/口〜数MΩ/口、可視光透過率70〜95%)をもつ
透明導電膜とできることが知られている。
(発明が解決しようとする課)ifi)このような、透
明性と導電性を兼ねそなえた材料を得ることは、どのよ
うな製作法であっても、作製条件の細かいコントロール
が必要である。しかしながら、厳密にコントロールした
場合でも、通常の温度で成膜すると充分に高い導電性が
得られず、作製時に温度を上げるか、後工程で、熱処理
を施す必要があるのが現杖である。この際の温度特性と
しては、250℃以上好ましくは、400℃以上が必要
である。また、このような方法は下地基板の温度も−L
昇させてしまうためガラス、セラミクスといった耐熱性
の基板を用いる場合には、有効であるが、PET等のプ
ラスチック基材、高分子フィルムといった材料には適用
できない。そのため、高分子フィルム上の透明導電膜で
は、耐熱性基板りのものほど特性のよいものが得られず
、その応用範囲も限られた物となっていた。
また、成膜後熱処理をおこなうには、別工程が必要とな
り、熱処理温度までの上昇、下降、そして、保持時間も
かかる上、雰囲気フントロール等もあり、かなり煩雑で
ある。このようなことからも、短時間の処理で十分な特
性をもつ高分子フィルム上の透明導電膜が望まれていた
さらには、従来の熱処理においては、透明導電膜の部分
的、かつ選択的な特性(導電性、透明性)の改善はきわ
めて困難であった。
(課題を解決するための手段) 本発明は前記従来方法における諸問題を解決すべく検討
した結果到達したものである。すなわち本発明は、透明
な高分子フィルム上に設けられた透明導電膜であって、
該透明導電膜がレーザー照射処理されたものであること
を特徴とする透明導電膜であり、また透明な高分子フィ
ルム上に設けられた透明導電膜であって、該透明導電膜
が波長550 nmの光透過率が70%未滴の部分と8
0%以[−の部分とをaすることを特徴とする透明導電
膜であり、また透明な高分子フィルム上に導電膜を設け
、該導電膜に対してレーザー照射処理を行い、透明性が
波長5500mの光透過率で80%以Fの透明導電膜と
なすことを特徴とする透明導電膜の製造方法である。
本発明は、透明性や、導電性の梢劣る高分子フィルムL
の膜にレーザーを照射処理することで、基材である透明
な高分子フィルムに損傷を与えることなく、該膜の透明
性を極たんに向上させまた導電性をも向上さすことを見
い出してなしえたものである。
本発明における透明導電膜としては、特に限定されるも
のでなく、金属薄II(AU、等)タイプ、金属酸化物
薄膜(ITO、SuO□IT 102等)タイプ、多層
薄膜(Ag/T+o□等)が挙げられるが、透明性、導
電性、機械的特性等から、金属酸化物薄膜タイプが好ま
しい。
上記酸化物膜としては、酸化インジウム、酸化インジウ
ムスズ(ITO)、酸化スズ、酸化亜鉛等がある。透明
導電膜の作成法としては真空蒸着、スパッター、CVD
1スプレー法等が知られているが、本発明では、その作
成法を限定するものではない。
また、これらの酸化物膜は、厳密な作成条件とすること
でのみ、実用可能な特性(表面抵抗数十Ω/口〜数MΩ
/口、可視光透過率70〜95%)をもつ透明導電膜と
できることが知られているが、本発明のレーザー処理前
の材料特性としては、例えば酸化不足で透明でない材料
や、過酸化状態で導電性のない材料に特に好ましく適用
できる。
これらの材料に照射するレーザーとしては、アルゴンレ
ーザー、He−Neレーザー 、He −Cdレーザー
、ルビーレーザー、チッソレーザーC02レーザー、Y
AGレーザ−、ガラスレーザ、金属蒸気レーザー、エキ
シマレーザ−等、特に限定するものではない。しがし、
実用上、波長域、出ツバ価格の点からは、YAGレーザ
−、C02L/−f−等が好ましいといえる。レーザー
の出力のト限(1としては、酸化物透明導電膜の導電、
透光特性を改善、例えば、透過率80%以ト、表面抵抗
数自−〇/ロ以ドにするのに必要なパワーであり、更に
、特性をある範囲内に制御することも可能である値であ
る。また、上限値としては、プラスチック基材、高分子
フィルム基板が熱的に損傷を受けない範囲が望ましい。
本発明の高分子フィルムとしては、可撓性を有しかつ透
明であれば特に限定されることはなく、種々の材料のも
のが利用できる。高分子フィルムの具体例としては、ポ
リエチレンテレフタレート、ポリエチレンナレフタレー
ト等のポリエステル類、ビスフェノールA系ポリカーボ
ネイト類のようなポリカーボネイト類、ポリエチレン、
ポリプロピレン等のポリオレフィン類セルローストリア
セテート、セルロースジアセテート等のセルロース誂導
体類、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン等のビニル
系樹脂、ポリイミド類、ポリアミド類のフィルムをあげ
ることができる。これらのフィルムの厚さは、普通約3
〜300戸程度であり、好ましくは、15〜150IU
Iである。
なお、実用トの観点からは一゛軸延伸されたポリエチレ
ンテレフタレート(PET)を用いるのが、好適である
レーザーの照射により、良好な導電特性と透明性を合わ
せもつ透明導電膜を作成でき、膜特性の改りか口f能と
なる。史に、レーザー照射の場合、熱処理と異なり、基
板の温度をほとんど−Lげずに材料のみの温度を上げる
ことが可能である。そのため、高分子フィルムのような
熱に弱い基板対しても、適用可能であり、ガラス基板等
と同等以上の特性をもつ透明導電膜の作成が可能となる
(実施例) 〈実施例1〉 反応性スパッターによって作成したPETフイ実効出力
は3W1加工速度は0.5m/winである。
照射前は、表面抵抗数十MΩ/ロ以上、550nm波長
光の透過率65%の材料特性をもつものであったが、照
射後には、表面抵抗20Ω/口、比抵抗率2.lX10
−’ΩC−1透過率95%と導電性と透明性を合わせも
つ膜になった。
〈比較例1〉 実施例1とほぼ同等の特性をもっPETフィルムLのI
TO膜に対し、電気炉で熱処理を行った。
条件は、150℃、30分保持とし、Arガス雰囲気と
した。その結果、得られたITOIIの特性は、表面抵
抗300Ω/口、比抵抗’ll0XIO−’Ocm、透
過率85%となった。この処理後のものは、部分的に、
そりやしわが見られた。
〈実施例2〉 ポリプロピレンフィルム上に真空蒸着で作成したS n
 02(S b 5W t%)に対し、部分的にYAツ
゛。
Gレーダーを照射した。その結果、照射前数Mo2口で
あった表面抵抗が照射部分において200Ω/口と大幅
に改善された。可視透過率(550制光)も照射前55
%であったものが、照射部分においては89%の透過率
であった。
(発明の効果) 本発明の高分子フィルム■−の透明導電膜は、成膜速度
等の生産性を大幅に1釘させて得た。それによって透明
性、導電性の劣る導電膜に、レーザーを処理することに
より、基材としてのフィルムを損傷することなく透明性
、導電性の実用性をもった値にまで改とされたものであ
り、さらには、部分的な処理が=jT能となり、必要部
分のみを透明性、導電性を向りさすことのできた膜とな
すこともできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の透明導電膜を作成する、レーザー処理
装置の概略図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)透明な高分子フィルム上に設けられた透明導電膜
    であって、該透明導電膜がレーザー照射処理されたもの
    であることを特徴とする透明導電膜。(2)透明な高分
    子フィルム上に設けられた透明導電膜であって、該透明
    導電膜が波長550nmの光透過率が70%未満の部分
    と、80%以上の部分とを有することを特徴とする透明
    導電膜。(3)透明な高分子フィルム上に導電膜を設け
    、該導電膜に対し、レーザー照射処理を行い、透明性が
    波長550nm光透過率で80%以上の透明導電膜とな
    すことを特徴とする透明導電膜の製造方法。
JP11812490A 1990-05-07 1990-05-07 透明導電膜およびその製造方法 Pending JPH0414705A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0843344A1 (en) * 1996-11-15 1998-05-20 Canon Kabushiki Kaisha Process for transferring a semiconductor layer using silicon on insulator (SOI) technology
JP2012528779A (ja) * 2009-06-05 2012-11-15 サン−ゴバン グラス フランス 薄膜層堆積方法及び得られる製品
JP2016510297A (ja) * 2013-01-18 2016-04-07 サン−ゴバン グラス フランス コーティングを備えた基材を得る方法

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EP0843344A1 (en) * 1996-11-15 1998-05-20 Canon Kabushiki Kaisha Process for transferring a semiconductor layer using silicon on insulator (SOI) technology
JP2012528779A (ja) * 2009-06-05 2012-11-15 サン−ゴバン グラス フランス 薄膜層堆積方法及び得られる製品
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